JP6653539B2 - 画像測定装置、その制御プログラム及び測定装置 - Google Patents
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Description
次に、本発明の第1の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。
次に、図17を参照して、本発明の第2の実施の形態に係る画像測定装置について説明する。
次に、本発明の第3の実施の形態に係る画像測定装置について説明する。本実施の形態に係る画像測定装置は、基本的には第1の実施の形態に係る画像測定装置と同様に構成されているが、本実施の形態に係る画像測定装置は、カメラ141のオートフォーカス機能を用い、カメラ141の焦点位置をZ方向に移動させつつ、順次ワーク3を撮像して、Z方向位置の異なるワーク3の画像を複数取得する。次に、取得された複数の画像についてエッジ検出を行い、画像毎にエッジ点群を取得する。また、これらエッジ点群をワーク3表面のXY平面における位置と、これらエッジ点群に対応する焦点位置(Z方向位置)を各エッジ点群のZ方向における位置として、ワーク3の三次元形状を示す点群を取得する。更に、このような点群に対して、三次元形状を有する複数の形状要素を順次あてはめてあてはめ誤差の一番小さな形状要素を選択し、この選択された形状要素に基づいて、測定結果を算出する。
第1〜第3の実施の形態においては、本発明を画像測定装置について適用した例について説明した。しかしながら、本発明は、画像測定装置以外の測定装置に適用する事も可能である。このような測定装置は、例えば、ワークを測定して、このワークの位置や形状を示す測定点群を取得する測定機と、取得した測定点群に基づいてワークの寸法測定を行い、測定結果を出力する演算装置とを備えている。このような測定装置としては、例えば、レーザプローブ等を用いた非接触式の測定装置や、タッチプローブ等を用いた接触式の測定装置が挙げられる。
Claims (6)
- ワークを撮像して、前記ワークの画像を取得する撮像装置と、
前記画像に基づいて前記ワークの寸法測定を行い、測定結果を出力する演算装置と
を備え、
前記演算装置は、
前記画像中の一点を指定し、
この指定された一点を通りお互いに交差する複数の第1の線分を前記画像中に配置し、前記複数の第1の線分に沿ってエッジ検出を行い、前記画像に含まれる輪郭線上に位置する第1のエッジ点を取得し、
前記第1のエッジ点から前記輪郭線に沿って、前記輪郭線と交差する複数の第2の線分を順次配置し、前記複数の第2の線分に沿って順次エッジ検出を行い、前記輪郭線上に位置する複数の第2のエッジ点を順次取得して、前記複数の第2のエッジ点を含むエッジ点群を取得し、
前記エッジ点群に対して複数の形状要素を順次あてはめて、あてはめ誤差の一番小さな前記形状要素を選択し、
この選択された形状要素に基づいて前記測定結果を算出する
ことを特徴とする画像測定装置。 - 前記演算装置は、
前記指定された一点を通りお互いに交差する複数の第1の線分に沿って前記画像における濃淡レベルを抽出し、
前記複数の第1の線分に沿った点のうち、前記濃淡レベルの傾きが最も大きくなる点を前記第1のエッジ点として取得する
ことを特徴とする請求項1記載の画像測定装置。 - 前記演算装置は、
前記測定結果を格納する測定結果格納部を備え、
前記測定結果が算出された後、
前記測定結果格納部に測定結果が格納されているか否かを判定し、
前記測定結果格納部に測定結果が格納されていた場合には、前記測定結果格納部に格納されていた前記測定結果と、新たに取得した前記測定結果との間で、組合せ計算を行う
ことを特徴とする請求項1又は2記載の画像測定装置。 - 前記演算装置に接続された表示装置及び操作入力装置を更に備え、
前記演算装置は、
前記撮像装置によって取得された画像に前記操作入力装置によって操作されるポインタが重畳された映像を前記表示装置によって表示し、
前記ポインタによって前記画像中の一点を指定し、
この指定された一点を通りお互いに交差する前記複数の第1の線分を前記画像中に配置する
ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項記載の画像測定装置。 - 前記演算装置は、前記撮像装置によって取得された画像上に前記測定結果を重畳して表示する
ことを特徴とする請求項4記載の画像測定装置。 - ワークを撮像して、前記ワークの画像を取得する撮像装置と、
前記画像に基づいて前記ワークの寸法測定を行い、測定結果を算出する演算装置と
を備えた画像測定装置を制御して、前記測定結果の算出を行う画像測定装置の制御プログラムであって、
前記演算装置に、
前記画像中の一点を指定させ、
この指定された一点を通りお互いに交差する複数の第1の線分を前記画像中に配置させ、前記複数の第1の線分に沿ってエッジ検出を行わせ、前記画像に含まれる輪郭線上に位置する第1のエッジ点を取得させ、
前記第1のエッジ点から前記輪郭線に沿って、前記輪郭線と交差する複数の第2の線分を順次配置させ、前記複数の第2の線分に沿って順次エッジ検出を行わせ、前記輪郭線上に位置する複数の第2のエッジ点を順次取得させて、前記複数の第2のエッジ点を含むエッジ点群を取得させ、
前記エッジ点群に対して複数の形状要素を順次あてはめさせて、あてはめ誤差の一番小さな前記形状要素を選択させ、
この選択された形状要素に基づいて前記測定結果を算出させる
ことを特徴とする画像測定装置の制御プログラム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2015170964A JP6653539B2 (ja) | 2015-08-31 | 2015-08-31 | 画像測定装置、その制御プログラム及び測定装置 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP2015170964A JP6653539B2 (ja) | 2015-08-31 | 2015-08-31 | 画像測定装置、その制御プログラム及び測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2017049050A JP2017049050A (ja) | 2017-03-09 |
| JP6653539B2 true JP6653539B2 (ja) | 2020-02-26 |
Family
ID=58280080
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2015170964A Active JP6653539B2 (ja) | 2015-08-31 | 2015-08-31 | 画像測定装置、その制御プログラム及び測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6653539B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109612390B (zh) * | 2018-12-17 | 2019-11-08 | 江南大学 | 基于机器视觉的大尺寸工件自动测量系统 |
| DE102021204614A1 (de) * | 2021-05-06 | 2022-11-10 | MICRO-EPSILON-MESSTECHNIK GmbH & Co. K.G. | Verfahren und Messsystem zur Durchführung und/oder Darstellung eines Messprozesses |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5581632A (en) * | 1994-05-02 | 1996-12-03 | Cognex Corporation | Method and apparatus for ball bond inspection system |
| JP3608920B2 (ja) * | 1997-10-14 | 2005-01-12 | 株式会社ミツトヨ | 非接触画像計測システム |
| JP2000028350A (ja) * | 1998-07-15 | 2000-01-28 | Fuji Xerox Co Ltd | 形状計測装置 |
| EP1319164B2 (de) * | 2000-09-22 | 2014-01-01 | Werth Messtechnik GmbH | Verfahren zum messen einer objektgeometrie mittels eines koordinationsmessgerätes |
| JP2014197004A (ja) * | 2014-04-21 | 2014-10-16 | 株式会社キーエンス | 画像計測装置 |
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2015
- 2015-08-31 JP JP2015170964A patent/JP6653539B2/ja active Active
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2017049050A (ja) | 2017-03-09 |
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