JP2003057263A - 加速度センサおよびその製造方法 - Google Patents

加速度センサおよびその製造方法

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JP2003057263A JP2001242873A JP2001242873A JP2003057263A JP 2003057263 A JP2003057263 A JP 2003057263A JP 2001242873 A JP2001242873 A JP 2001242873A JP 2001242873 A JP2001242873 A JP 2001242873A JP 2003057263 A JP2003057263 A JP 2003057263A
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Michihiko Hayashi
道彦 林
Masaya Nakatani
将也 中谷
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    • G01P15/00Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration
    • G01P15/02Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses
    • G01P15/08Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values
    • G01P2015/0805Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration
    • G01P2015/0822Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass
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    • G01P2015/0828Measuring acceleration; Measuring deceleration; Measuring shock, i.e. sudden change of acceleration by making use of inertia forces using solid seismic masses with conversion into electric or magnetic values being provided with a particular type of spring-mass-system for defining the displacement of a seismic mass due to an external acceleration for defining out-of-plane movement of the mass for one single degree of freedom of movement of the mass the mass being of the paddle type being suspended at one of its longitudinal ends

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 可動基板と固定基板の接合面の表面粗度や洗
浄度合いを厳しく管理することなく、可動基板の支持部
と固定基板とが容易に接合でき、接合歩留まりが向上し
安定生産できる加速度センサおよびその製造方法を提供
することを目的とする。 【解決手段】 少なくとも薄肉の梁部の一方に質量体と
この梁部を支持する支持部とを一体に設けた可動基板
と、前記質量体と対向する位置にそれぞれ設けた第1、
第2の固定電極を有する第1、第2の固定基板とからな
り、前記支持部と前記第1、第2の固定基板との間に絶
縁層を第1、第2の固定基板の表面に絶縁体レジストを
塗布する工程と、絶縁体レジストを支持部と概略同形状
なパターンに露光現像する工程と、第1、第2の固定基
板と支持部とを加熱硬化接合する工程から設け、可動基
板の支持部と第1、第2の固定基板とを接合する構成に
よる製造方法とした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、車両の姿勢制御や
エアバック制御等のシステムに用いられる加速度センサ
およびその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の加速度センサ、特に静電容量式加
速度センサとしては特開平1−152369号公報に開
示されたものが知られている。以下に従来の加速度セン
サについて、図面を参照しながら説明する。図5は従来
の加速度センサの断面図である。図5において、1はシ
リコン材料からなり肉薄の梁部2と梁部2の一端に設け
られた質量体3と梁部2の他端に設けられた支持部4か
らなる可動基板、5,6はガラス材料からなる基板の質
量体3と対向する位置に固定電極7,8をそれぞれ設け
た固定基板である。その製造方法としては、可動基板
1、固定基板5,6は別部材であり、可動基板1はウエ
ットエッチングやドライエッチングなどにより梁部2、
質量体3、支持部4などを所定の形状に加工し、固定基
板5,6は質量体3の対向する位置に固定電極7,8を
真空蒸着により指定の形状に形成し、最後に可動基板1
と固定基板5,6とを陽極接合している。
【0003】以上のように構成された従来の加速度セン
サについて、その動作を説明する。質量体に外部から力
を受けるとき質量体には加速度が発生するが、同時に質
量体には元にあった位置にとどまろうとする慣性力が働
く。この慣性力によって梁部に物理的な歪を発生させ、
このときの歪を検出することで質量体に与えられた加速
度を測定することができる。具体的には、梁が歪むこと
で質量体の位置が上下に変化し、そのとき質量体と固定
電極との間の静電容量が変化するので、上下の静電容量
の差を測定することで加速度の方向と大きさを検出する
ことができる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の構成において、可動基板はウエットエッチングやドラ
イエッチングなどにより梁部、質量体、支持部などを所
定の形状に加工しているが、その工程での残留応力や支
持部表面粗度悪化あるいは加工前の予備基板の反りなど
で、可動基板と固定基板との陽極接合が不充分な場合が
発生する。特に接合工程での歩留まりが悪化し、歩留ま
りを改善するには接合前に接合表面の表面粗度や基板の
洗浄度合いなどを厳しく管理する必要があるという課題
を有していた。また、陽極接合を行うには固定基板のガ
ラス材料に可動イオンとしてNaなどのアルカリ希土類
を含有させる必要があるため、ガラス材料選定が制約さ
れたり、耐酸性と耐アルカリ性の劣化による製造工程で
使用する洗浄液、エッチング液など制約があるという課
題を有していた。
【0005】本発明は上記従来の課題を解決するもの
で、可動基板と固定基板とを接合する工程での歩留まり
を向上し、安定生産できる加速度センサを提供すること
を目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明の加速度センサは、可動基板と固定基板との間
に絶縁層を設けて、この絶縁層にて接合するため加工基
板の残留応力を吸収し、接合面の表面粗度や洗浄度合い
を厳しく管理することなく、接合工程での歩留まりが向
上し、安定生産できる加速度センサを提供することがで
きる。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、少なくとも薄肉の梁部の一方に質量体とこの梁部を
支持する支持部とを一体に設けた可動基板と、前記質量
体と対向する位置にそれぞれ設けた第1、第2の固定電
極を有する第1、第2の固定基板とからなり、前記支持
部と前記第1、第2の固定基板との間に絶縁層を設ける
ことで、可動基板との電気的絶縁性を確保しつつ可動基
板および第1、第2の固定基板のように加工された基板
の残留応力を吸収して接合することができ、加速度セン
サの生産が安定するという作用を有するものである。
【0008】請求項2に記載の発明は、絶縁層の厚みは
質量体と第1、第2の固定基板との距離となるようにす
ることで、第1、第2の固定基板の第1、第2の溝部を
深く加工することなく、質量体が加速度を受けたときに
可動するとき絶縁層の厚みが可動基板と固定基板との間
に生じる静電容量変化の基準となるように可動基板の支
持部とそれぞれの固定基板を接合でき、加速度を検出す
ることができるという作用を有するものである。
【0009】請求項3に記載の発明は、絶縁層と第1、
第2の固定基板との間に導電材料からなる接合補助膜を
設けたことで、絶縁層と固定基板との接合強度を高める
とともに接合補助膜を接地することで加速度検出時にノ
イズを受けにくくなるという作用を有するものである。
【0010】請求項4に記載の発明は、接合補助膜はA
u材料からなることで、絶縁層と固定基板との接合強度
が更に高くなるという作用を有するものである。
【0011】請求項5に記載の発明は、少なくとも可動
基板となる第1の予備基板に薄肉の梁部と質量体と支持
部を加工形成する工程と、第1、第2の固定基板となる
第2,3の予備基板に溝を加工形成する工程と、前記質
量体と対向する溝の表面に第1、第2の固定電極を形成
する工程と、前記第1、第2の固定基板の表面に絶縁体
レジストを塗布する工程と、前記絶縁体レジストを前記
支持部と概略同形状なパターンに露光現像する工程と、
前記第1、第2の固定基板と前記支持部とを加熱硬化接
合する工程からなる加速度センサの製造方法により、少
なくとも可動する梁部と質量体および質量体に対向する
固定電極以外に絶縁層が設けられ、可動基板の支持部と
固定基板が均一な絶縁層の膜厚にて容易に接合できると
いう作用を有するものである。
【0012】以下、本発明の一実施の形態における加速
度センサについて、図面を参照しながら説明する。
【0013】図1は本発明の一実施の形態における静電
容量式加速度センサの断面図、図2は本発明の他の実施
の形態における静電容量式加速度センサの断面図、図3
は本発明の他の実施の形態における静電容量式加速度セ
ンサの断面図、図4は本発明の他の実施の形態における
静電容量式加速度センサの製造工程図である。
【0014】図1〜図4において、11は可動基板、1
2はシリコン材料などの弾性体からなる肉薄の梁部、1
3は梁部11の一方にガラス材料を貼り合せた質量体、
14は梁部12の他方に設けられる支持部、15,16
は質量体13の表面に設けられAuなどの薄膜導電材料
からなる第1、第2の可動電極、17,18はガラス材
料からなる第1、第2の固定基板、19A,19B,2
0A,20Bは質量体13と対向しそれぞれの固定基板
17,18の内壁側に設けられた第1、第2の溝部、2
1,22は第1、第2の溝部19A,19B,20A,
20Bの表面に設けられAuなどの薄膜導電材料からな
る第1、第2の固定電極、23A,23Bは紫外線硬化
と熱硬化の両方を備えたアクリル系樹脂などからなる絶
縁層、24は可動基板11に加工する前の第1の予備基
板、25,26は第1、第2の固定基板17,18に加
工する前の第2、第3の予備基板、27A,27Bは絶
縁体レジスト、28はAu材料などの導電材料からなる
接合補助膜である。
【0015】本発明の実施の形態1の図1において、第
1、第2の溝部19A,20Aは質量体13の可動距離
より深く設け、絶縁層23Aは薄く設け、可動基板11
の支持部14と第1、第2の固定基板、17,18とは
絶縁層23Aにて接合している。本発明の実施の形態2
の図2において、第1、第2の溝部19B,20Bは第
1、第2の固定電極21,22の厚みと概寸法程度に浅
く設け、絶縁層23Bは質量体13の可動距離より厚く
設け、可動基板11の支持部14と第1、第2の固定基
板17,18とは絶縁層23Bにて接合している。ここ
で加速度±19.6m/s2の検出範囲で梁部12と質
量体13を構造設計して質量体13の可動距離を1μm
とした場合、絶縁層23Aはそれより薄く、絶縁層23
Bはそれより厚くする。本発明の実施の形態3の図3に
おいて、絶縁層23の下層に接合補助膜28を設けて、
可動基板11の支持部14と第1、第2の固定基板1
7,18を接合している。これらの構成により、可動基
板11と第1、第2の固定基板17,18が電気的絶縁
性を確保しつつ可動基板および第1、第2の固定基板の
ように加工された基板の残留応力を吸収して接合するこ
とができ、加速度センサの生産が安定するという効果を
有するものである。
【0016】以上のように構成された本発明の実施の形
態2における加速度センサの製造方法を説明する。
【0017】図4において、(a)〜(c)は可動基板
11、(d)〜(h)は第1、第2の固定基板17,1
8の製造工程を示し、(i)は可動基板11と第1、第
2の固定基板17,18を接合した状態を示している。
各製造工程では最終的に加速度センサに個片化するまで
ウエハ状態(図示せず)で製造するが、個片状態の断面
図にて表記している。
【0018】まず、第1の予備基板24は薄肉のシリコ
ン基板24Aとガラス基板24Bが貼り合わされている
(図4(a))。
【0019】次に、ガラス基板24Bの表面にエッチン
グ用レジストをスピンコートで成膜し、露光、現像して
レジストをパターンニングし、ウエットエッチングまた
はドライエッチングにより、質量体13の外周を所定形
状に加工し、梁部12、支持部14を形成し、残存する
レジストを除去する。
【0020】次に、シリコン基板24Aの表面にエッチ
ング用レジストをスピンコートで成膜し、露光、現像し
てレジストをパターンニングし、ウエットエッチングま
たはドライエッチングにより、質量体13が可動できる
ように所定形状に加工し、残存するレジストを除去する
(図4(b))。
【0021】次に、質量体13の表面にメタルマスクを
使用した真空蒸着にてAuなどの導電材料を第1,2の
可動電極15,16として所定形状に薄膜パターンを形
成する(図4(c))。なお、接合補助膜28を形成す
る場合は、第1,2の可動電極15,16とは独立させ
た接合個所のみのパターンにて同時形成する。
【0022】次に第2,3の固定基板25,26(図4
(d))の表面にエッチング用レジストをスピンコート
で成膜し、露光、現像してレジストをパターンニング
し、ウエットエッチングまたはドライエッチングによ
り、質量体13と対向する位置に第1,2の溝部19,
20を形成し、残存するレジストを除去する(図4
(e))。
【0023】次に、第1,2の溝部19,20の表面に
メタルマスクを使用した真空蒸着にてAuなどの導電材
料を第1,2の固定電極21,22として所定形状の薄
膜パターンを形成する(図4(f))。
【0024】次に、ネガ型の絶縁体レジスト27Aをス
ピンコータにて500〜2000/分で回転させて第
1,2の固定基板17,18の表面に成膜し、加熱炉に
て70〜90℃で5〜15分プリベークする(図4
(g))。
【0025】次に、プリベークされた絶縁体レジスト2
7Aの表面に紫外線を5〜30秒露光し、炭酸ナトリウ
ム1%水溶液などのアルカリ系現像液にて1〜3分現像
し、純水にて5分程度リンスすることで紫外線を照射さ
れた部分が可動基板11の支持部13と接合するための
パターンとなり、絶縁体レジスト27Bを形成する(図
4(h))。なお、本実施の形態はネガ型のレジストと
したが、ポジ型の絶縁体レジストを使用した場合は、紫
外線が照射されなかった部分が接合するためのパターン
となる。
【0026】次に、可動基板11と第1,2の固定基板
17,18との接合位置をアライメントして、加熱炉に
て150〜300℃で0.5〜2時間加熱して、絶縁体
レジスト27Bを熱硬化させて、可動基板11の支持部
13と第1,2の固定基板17,18を接着接合する
(図4(i))。
【0027】最後に、ウエハ状態で作成した多数の加速
度センサをダイシングして個片化する(図示せず)。
【0028】このような製造方法により、従来の陽極接
合に対して電圧を印加せずに150〜300℃の低温下
で安定した接合ができ、固定基板のガラス材料の選択性
が広がるという効果を有する。また、接合個所に絶縁レ
ジスト膜厚が均一にパターン形成でき、加速度の検出精
度が向上するという効果を有する。なお、接合補助膜を
形成しても工数は増加することなく実施できる。
【0029】以上のように製造された本発明の一実施の
形態における加速度センサについて、その動作を説明す
る。
【0030】質量体13に外部から力を受けるとき質量
体13には加速度が発生するが、同時に質量体13には
元にあった位置にとどまろうとする慣性力が働く。この
慣性力によって梁部12に物理的な歪を発生させ、この
ときの歪を検出することで質量体13に与えられた加速
度を測定することができる。具体的には、梁部12が歪
むことで質量体13の位置が上下に変化し、そのとき第
1の可動電極15と第1の固定電極21および第2の可
動電極16と第2の固定電極22との間の距離が変化つ
まり静電容量が変化し、上下の静電容量の差を測定する
ことで加速度の方向と大きさを検出することができる。
【0031】実施の形態1では第1,2の固定基板1
7,18の第1,2の溝部19,20の深さと絶縁層2
3Aの厚みを加算した値が、質量体に重力および加速度
が加わらない状態である中立の位置での第1の可動電極
15と第1の固定電極21および第2の可動電極16と
第2の固定電極22との間の概距離となる。実施の形態
2では絶縁層23Bの厚みがそれに相当する。さらに絶
縁層23にて可動基板11の支持部14と第1,2の固
定基板17,18とを接合しており、絶縁層23が均一
に成膜できることで加速度の検出精度が向上し、かつ接
合工程での歩留まりを向上させ、加速度センサを安定生
産することができるという効果を有するものである。実
施の形態3では接合補助膜28を接地することで加速度
検出時にノイズを受けにくくできるという効果を有する
ものである。
【0032】
【発明の効果】以上のように、本発明の加速度センサ
は、少なくとも薄肉の梁部の一方に質量体とこの梁部を
支持する支持部とを一体に設けた可動基板と、前記質量
体と対向する位置にそれぞれ設けた第1、第2の固定電
極を有する第1、第2の固定基板とからなり、前記支持
部と前記第1、第2の固定基板との間に絶縁層を第1、
第2の固定基板の表面に絶縁体レジストを塗布する工程
と、絶縁体レジストを支持部と概略同形状なパターンに
露光現像する工程と、第1、第2の固定基板と支持部と
を加熱硬化接合する工程から設けることで、可動基板の
支持部と第1、第2の固定基板とを接合でき、安定生産
した加速度センサを提供することができるという効果を
有するものである。なお、可動基板は弾性材料のみで構
成したり、導電性を有する可動基板では可動電極を形成
しなくても同様な効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態における静電容量式加速
度センサの断面図
【図2】本発明の他の実施の形態における静電容量式加
速度センサの断面図
【図3】本発明の他の実施の形態における静電容量式加
速度センサの断面図
【図4】本発明の他の実施の形態における静電容量式加
速度センサの製造工程図
【図5】従来の加速度センサの断面図
【符号の説明】
11 可動基板 12 梁部 13 質量体 14 支持部 15,16 可動電極 17,18 固定基板 19,20 溝部 21,22 固定電極 23 絶縁層 24,25,26 予備基板 27 絶縁体レジスト 28 接合補助膜

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも薄肉の梁部の一方に質量体と
    この梁部を支持する支持部とを一体に設けた可動基板
    と、前記質量体と対向する位置にそれぞれ設けた第1、
    第2の固定電極を有する第1、第2の固定基板とからな
    り、前記支持部と前記第1、第2の固定基板との間に絶
    縁層を設けてなる加速度センサ。
  2. 【請求項2】 絶縁層の厚みは質量体と第1、第2の固
    定基板との距離となるように設けた請求項1記載の加速
    度センサ。
  3. 【請求項3】 絶縁層と第1、第2の固定基板との間に
    導電材料からなる接合補助膜を設けた請求項1記載の加
    速度センサ。
  4. 【請求項4】 接合補助膜はAu材料からなる請求項3
    記載の加速度センサ。
  5. 【請求項5】 少なくとも可動基板となる第1の予備基
    板に薄肉の梁部と質量体と支持部を加工形成する工程
    と、第1、第2の固定基板となる第2,3の予備基板に
    溝を加工形成する工程と、前記質量体と対向する溝の表
    面に第1、第2の固定電極を形成する工程と、前記第
    1、第2の固定基板の表面に絶縁体レジストを塗布する
    工程と、前記絶縁体レジストを前記支持部と概略同形状
    なパターンに露光現像する工程と、前記第1、第2の固
    定基板と前記支持部とを加熱硬化接合する工程からなる
    加速度センサの製造方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005227106A (ja) * 2004-02-12 2005-08-25 Seiko Instruments Inc 容量型力学量センサ
JP2006053125A (ja) * 2004-04-05 2006-02-23 Seiko Instruments Inc 容量型力学量センサおよび半導体装置
WO2008102535A1 (ja) * 2007-02-20 2008-08-28 Panasonic Corporation 慣性力センサおよび複合慣性力センサ
US8188555B2 (en) 2007-12-06 2012-05-29 Oki Semiconductor Co., Ltd. Capacitive sensor and manufacturing method therefor
CN108490217A (zh) * 2018-03-26 2018-09-04 温州大学 接触模式微加速度计

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005227106A (ja) * 2004-02-12 2005-08-25 Seiko Instruments Inc 容量型力学量センサ
JP4520752B2 (ja) * 2004-02-12 2010-08-11 セイコーインスツル株式会社 容量型力学量センサの製造方法
JP2006053125A (ja) * 2004-04-05 2006-02-23 Seiko Instruments Inc 容量型力学量センサおよび半導体装置
WO2008102535A1 (ja) * 2007-02-20 2008-08-28 Panasonic Corporation 慣性力センサおよび複合慣性力センサ
US8117914B2 (en) 2007-02-20 2012-02-21 Panasonic Corporation Inertia force sensor and composite sensor for detecting inertia force
US8188555B2 (en) 2007-12-06 2012-05-29 Oki Semiconductor Co., Ltd. Capacitive sensor and manufacturing method therefor
CN108490217A (zh) * 2018-03-26 2018-09-04 温州大学 接触模式微加速度计

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