JP2003052631A - 角膜の反射光量比の測定装置 - Google Patents

角膜の反射光量比の測定装置

Info

Publication number
JP2003052631A
JP2003052631A JP2001244063A JP2001244063A JP2003052631A JP 2003052631 A JP2003052631 A JP 2003052631A JP 2001244063 A JP2001244063 A JP 2001244063A JP 2001244063 A JP2001244063 A JP 2001244063A JP 2003052631 A JP2003052631 A JP 2003052631A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slit
optical system
light
measuring
eye
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001244063A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4723131B2 (ja
Inventor
Yasuhiro Sumii
康博 隅井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Konan Medical Inc
Original Assignee
Konan Medical Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Konan Medical Inc filed Critical Konan Medical Inc
Priority to JP2001244063A priority Critical patent/JP4723131B2/ja
Publication of JP2003052631A publication Critical patent/JP2003052631A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4723131B2 publication Critical patent/JP4723131B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Eye Examination Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 被検眼の角膜の狭い特定位置について、測定
しようとする層以外からの反射光を効果的に分離して正
確な反射光量比を測定することができる角膜の反射光量
比の測定装置を提供すること。 【解決手段】 第一スリットと第二スリットとが同一円
周上に形成され、この円周の中心回りに回転し且つ停止
しうるスリット板6と、上記第一スリットと照明光源7
とを有し、第一スリットを通過したスリット照明光によ
って被検眼Eの前眼部をその斜め前方から照明するため
の照明光学系4と、上記第二スリットと、上記スリット
照明光の前眼部で反射された反射光を、停止した第二ス
リットを通して受光してこの光量を測定するための光電
素子28とを有する光量の測定光学系3と、この測定光
学系3に配設された、測定光学系の焦点位置をその光軸
方向に移動させるフォーカシング機構22とを備えてい
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は角膜の反射光量比の
測定装置に関する。さらに詳しくは、角膜の厚さ方向の
各層における反射光量相互の比を測定するための装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】図7には角膜Cの断面が模式的に示され
ている。符号Tは涙液層である。符号Uで示すのは上皮
であり、符号Jで示すのは実質部であり、符号Iで示す
のは内皮である。角膜Cに光を照射したとき、角膜の厚
さ方向における各層の組織の密度の相違によってその反
射光量は異なる。すなわち、角膜の厚さ方向に沿って反
射光量の分布は一定ではない。一方、医療界では糖尿病
等の疾病の初期段階で上記反射光量分布が変化するので
はないかと言う研究が行われている。成人病の早期発見
の手がかりが期待される重要な研究であると言われてい
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来、角膜の
特定位置での厚さ方向に沿って反射光量比を正確に測定
する装置は知られていない。スリット照明光によって角
膜内皮細胞を撮影する装置は公知であるが、この装置に
よる撮影範囲は比較的広いため、光量を測定しても広い
測定範囲の光量の平均値が得られるだけである。しか
も、広い範囲の撮影であるため各層の反射光を分離する
ことが困難である。したがって、特定位置における正確
な反射光量を測定することは困難である。
【0004】本発明はかかる課題を解消するためになさ
れたものであり、被検眼の角膜の狭い特定位置につい
て、測定しようとする層以外からの反射光を効果的に分
離して正確な反射光量比を測定することができる角膜の
反射光量比の測定装置を提供することを目的としてい
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明の角膜の反射光量
比の測定装置は、第一スリットと第二スリットとが同一
円周上に形成され、この円周の中心回りに回転し且つ停
止しうるスリット板と、上記第一スリットと照明光源と
を有し、上記第一スリットを通過したスリット照明光に
よって被検眼の前眼部をその斜め前方から照明するため
の照明光学系と、上記第二スリットと、上記スリット照
明光の前眼部で反射された反射光を、停止した第二スリ
ットを通して受光して当該光の光量を測定するための光
量測定手段とを有する光量測定光学系と、この光量測定
光学系に配設された、光量測定光学系の焦点位置をその
光軸方向に移動させるフォーカシング機構とを備えてい
る。
【0006】かかる測定装置によれば、スリット板の回
転に伴い、一の第一スリットを通過したスリット照明光
は被検眼の角膜で反射されつつその上を移動する。一
方、第二スリットは第一スリットと同一速度で移動する
ので上記スリット照明光は一の第二スリットを通過する
ようにされ得る。幅の狭いスリット照明光であっても、
その角膜における反射光は測定しようとする層以外の層
での反射光も若干含む。しかし、第二スリットを通過る
ときに測定対象層以外の層からの反射光は遮られるため
に、測定対象層での反射光が効果的に切り取られる。そ
して、スリット板の回転を停止させることにより、光量
測定手段が被検眼の角膜上のある位置における幅狭のス
リット反射光を受光する。この状態でフォーカシング機
構が角膜の厚さ方向の各層に焦点を移動させることによ
り、各層での反射光量を測定して正確な反射光量比を得
ることができる。
【0007】そして、上記スリット照明光による前眼部
の像光線を上記第二スリットを通して観察および撮影す
るための撮影手段を有する撮影光学系をさらに備えてい
る測定装置が好ましい。スリット板の回転に伴い、スリ
ット照明光がスキャン(走査)した角膜の範囲の反射光
を撮影手段が受光することができ、その範囲の角膜像を
得ることができる。また、この像は前述した光量測定手
段が得ることのできるスリット反射光の集合であるた
め、スリット板の回転を停止させることによってこの角
膜像の内の一部に反射光量を測定する位置を設定するこ
とが可能である。換言すれば、角膜の象を観察しながら
反射光量を測定する位置を選択することが可能となる。
【0008】また、上記スリット板に形成されたスリッ
トのうちの一を検出するための検出器をさらに備えてお
り、検出器によるスリットの検出信号に基づいてスリッ
ト板の回転が停止するように構成されてなる測定装置に
あっては、常にスリットが停止する角度位置が定まる。
換言すれば、常に角膜上の特定位置の反射光を受光し得
るので正確な反射光量比を測定することができるので好
ましい。
【0009】または、上記スリット板に形成された回転
停止用の被検出マークと、この被検出マークを検出する
ための検出器とをさらに備えており、検出器による被検
出マークの検出信号に基づいてスリット板の回転が停止
するように構成されてなる測定装置にあっては、常にス
リット板がその回転を停止する角度位置が定まることは
もとより、常に特定のスリットが特定の位置に至ったと
きにスリット板が停止するので好ましい。なぜなら、複
数個のスリットに製作誤差があっても、特定のスリット
が常に角膜上の特定位置の反射光を受光し得るので正確
な反射光量比を測定することができる。
【0010】如上の測定装置であって、上記照明光学系
および光量測定光学系の被検眼に至る光軸と共通の光軸
を有し、且つ、接触している被検眼の動きに応じて上記
光軸方向に移動しうる対物光学系と、この対物光学系と
スリット板との間に形成されたアフォーカル光学系とを
備えており、上記対物光学系が、被検眼に当接させうる
対物光学部材と、この対物光学部材の後部に配置され、
その光軸方向に移動することによってフォーカシングを
行う後部レンズ群とを備えており、この後部レンズ群が
上記フォーカシング機構を構成してなる測定装置が好ま
しい。
【0011】この測定装置は、光学系を被検眼に接触さ
せるいわゆる接触型の測定装置として構成したものであ
る。すなわち、被検眼にたとえばコーンレンズと呼ばれ
る対物光学部材を当接させることによって光学系と被検
眼との位置合わせを行い、そのうえで角膜上の特定位置
について反射光量を測定することができる。対物光学系
は接触している被検眼の動きに応じてその光軸方向に移
動することができ、しかもこの対物光学系の後方は平行
光が形成されるアフォーカル系であるため、測定位置や
焦点位置が被検眼の動きに影響されない。接触している
被検眼の動きに応じてその光軸方向に移動することがで
きる対物光学系はフローティング系と呼ばれる。
【0012】または、如上の測定装置であって、被検眼
に向かうZ軸とZ軸に垂直なX軸およびY軸の各方向に
移動しうる対物光学系と、この対物光学系とスリット板
との間に形成されたアフォーカル光学系と、被検眼に対
する対物光学系の上記Z軸方向の位置合わせを行うため
の合焦光学系とを備えており、上記合焦光学系が、合焦
用光源および合焦光用スリットと、被検眼において反射
された合焦光用スリット光を検出するための合焦光検出
器とを備えており、上記フォーカシング機構が、上記合
焦用スリットをその光軸に対して横方向に移動させる機
構、または、上記合焦光検出器における合焦用スリット
光検出位置を変化させる機構から構成されてなる測定装
置が好ましい。
【0013】この測定装置は、光学系を被検眼に接触さ
せない、いわゆる非接触型の測定装置として構成したも
のである。すなわち、装置を被検眼に接触させることな
く、XYZの各方向に移動しうる対物光学系を用いて光
学系を被検眼に位置合わせする。その上で合焦光用スリ
ットをその光軸に対して実質的に垂直方向に移動させる
か、または、合焦光検出器における合焦用スリット光検
出位置を変化させることによってフォーカシングを行
う。すなわち、角膜の厚さ方向に焦点位置を移動させる
ものである。この構成により、被検者に煩わしさを与え
ることなくその被検眼の反射光量比を測定することがで
きる。合焦光検出器における合焦用スリット光検出位置
を変化させることは、たとえばラインセンサやエリアセ
ンサ等の合焦光検出器において、その光検出範囲のうち
の合焦したと判定する位置を変更することにより可能と
なり、また、合焦光検出器に検出用スリットを設けてお
き、このスリットをその光軸に対して横方向に移動させ
ることにより可能となる。
【0014】
【発明の実施の形態】添付図面に示される実施形態に基
づいて本発明の角膜の反射光量比の測定装置を説明す
る。
【0015】図1は本発明の測定装置の一実施形態とし
ての接触型測定装置を示す光路図である。図2は図1の
測定装置の要部斜視図である。
【0016】図1および図2に示す測定装置1は、被検
眼Eに向かって前進後退するZ方向、並びにZ方向に垂
直で且つ互いに垂直なX方向およびY方向に移動させう
る機枠2上に各光学系が搭載されている。この機枠2を
移動させることによって被検眼Eに対する光学系の各方
向の位置決めを行う。
【0017】これら光学系は、被検眼Eに対向する対物
光学系12、対物光学系12を通して被検眼Eの前眼部
をその斜め前方からスリット光によって照明するための
照明光学系4と、被検眼Eの前眼部表面で反射された上
記スリット光を対物光学系12を通して受光し、その反
射光量を測定する測定光学系3、および、この反射光の
像を観察、撮影するための撮影光学系5とを含んでい
る。また、照明光をスリット光とするため、および、前
眼部表面で反射されたスリット状の反射光が通過するた
めの複数のスリット16が形成されたスリット板6を備
えている。
【0018】照明光学系4は照明用光源としてキセノン
ランプ7を有している。照明光学系4における対物光学
系12とキセノンランプ7との間に、後述する傾斜ミラ
ー群18a、18b、18c、18d、照明レンズ9お
よびスリット板6がその順に配設されている。キセノン
ランプ7からの照明光は照明用リレーレンズ19および
上記スリット板6のスリット16を通過し、このスリッ
ト光が照明レンズ9、ミラー群および後述の対物光学系
12を通って被検眼Eの角膜に収束させられる。
【0019】撮影光学系5は角膜細胞を観察、撮影する
ための撮像素子(CCD)10を有している。撮影光学
系5における対物光学系12と撮像素子10との間に
は、撮影レンズ11、スリット板6、視野絞り20、撮
影用リレーレンズ群21がその順に配設されている。角
膜で反射された上記スリット光は、対物光学系12、撮
影レンズ11、スリット板6のスリット16、視野絞り
20、および後述のリレーレンズ群21を通過して撮像
素子10に至る。撮像素子10は、スリット板6の回転
に伴って角膜面をスキャンしたスリット光を視野絞り2
0の範囲で受光して角膜細胞の像を得る。
【0020】本装置1では、上記対物光学系12はいわ
ゆるフローティング式として構成されている。すなわ
ち、対物光学系12は微弱な弾性力によって被検眼に当
接するように構成されており、当接している被検眼のZ
軸方向の変位に応じてZ軸方向に移動できるようにされ
ている。対物光学系12は、被検眼Eの角膜面に当接さ
せるためのコーンレンズ13と、コーンレンズ13の後
方(被検眼とは反対側)のフォーカシングレンズ(後部
レンズ群)14とを有しており、これらは鏡筒12aに
収容されている。
【0021】フォーカシングレンズ14は、駆動装置2
2aと移動距離検出器(エンコーダ)22bとを有する
フォーカシング装置22によって光軸方向(Z方向)に
移動させられる。この移動によって対物光学系12の焦
点が移動する(フォーカシングする)。対物光学系12
の焦点はすなわち測定光学系3の焦点であり、撮影光学
系5の焦点でもある。フォーカシングレンズ14の特定
の基準位置からの移動距離はエンコーダ22bによって
検出される。この基準位置は、図1に示すごとく対物光
学系12の焦点がコーンレンズの先端より若干寸法だけ
内方にある点F(原点)にある位置とされている。フロ
ーティングおよびフォーカシングのためにフォーカシン
グレンズ14から後方に、照明光学系4では照明レンズ
9まで、撮影光学系5では撮影レンズ11までが光束が
平行となるアフォーカル光学系15とされている。かか
る構成により、対物光学系12は当接している被検眼E
の動きに応じてZ方向に追随することができ、この追随
作動の最中にもフォーカシングが可能である。すなわ
ち、上記構成により、コーンレンズ13を被検眼Eに当
接させると対物光学系12のフローティング動作によっ
て被検眼EとのXYZ各方向の位置関係が定まり、これ
が維持され、その状態でフォーカシングレンズ14がZ
方向に移動することによって焦点の移動がなされる。こ
の機能を使用して後述する反射光量比の測定を行う。
【0022】上記スリット板6は対物光学系12の焦点
に対して共役位置に配設されており、モータ17によっ
て正逆方向に回転させられる。図3に示すように、スリ
ット板6上にはその回転中心Oを中心とする円周上に、
半径方向に延びる複数個のスリット16が等間隔で形成
されている。本実施形態では、一のスリット(以下、第
一スリットと呼ぶ)16aを通過したスリット状の照明
光は、被検眼Eの前眼部で反射され、スリット板6上に
結像する。また、このスリット反射光はスリット板6の
回転中心3を挟んで第一スリット16aに対して180
゜方向に位置する他のスリット(以下、第二スリットと
呼ぶ)16bを透過して撮像素子10に至るように、照
明光学系4と撮影光学系5とが配置されている。なお、
スリット板6上にはこのスリット反射光以外の反射光も
来ているが、第二スリット16bによって上記スリット
反射光のみが切り取られ、他の反射光は遮られる。第一
スリット16aおよび第二スリット16bは特定のスリ
ットではない。多数あるスリットのうちの一のスリット
16aを通過した照明光が被検眼で反射したうえで通過
するスリットが第二スリット16bだというだけのこと
である。
【0023】両スリット16a、16bは同一幅に形成
されているのが好ましい。スリット板6の背後から照明
されてスリット16を通過したスリット照明光をレンズ
系9、12によって角膜上で約2.5μm程度の幅のス
リット像となるように縮小する。そして、この反射光を
レンズ系12、11によって拡大する。また、スリット
板6の回転によって第一スリット16aが移動するのに
伴ってスリット照明光は被検眼Eの前眼部上を移動す
る。すなわち、スキャニングが行われる。そして、前眼
部におけるスリット反射光も同様に移動するが、この移
動するスリット反射光の移動方向及び移動速度に一致し
て第二スリット16bが移動している。このように移動
するスリット16aを通過したスリット照明光の反射光
がスリット16bを通過しうるように、照明光学系4に
おけるアフォーカル光学系15の光軸上には、適切に傾
斜させた複数個のミラー18a、18b、18c、18
dが配設されている。これらミラーの傾斜を適宜微変更
することにより、スリット反射光が第二スリット16b
を通過するようにスリット反射光の移動方向および傾斜
方向を調整することができる。
【0024】スリット板6には停止マーク23が付され
ている。さらに、停止マーク23を検出するための検出
器24が配設されている。この検出器24が停止マーク
23を検出した時点でスリット板6の回転を停止するた
めである。こうすることにより、検出器24を作動させ
れば常にスリット板6をその所定の回転角度位置で停止
させることができる。換言すれば、特定のスリットが特
定の位置に来たときにスリット板6を停止させ得る。ま
た、公知の手段により、上記モータ17の回転速度を連
続的に変化させることができ、また、モータ17の出力
を手動制御することによってスリット板6を任意角度に
停止させることができる。このように構成することによ
り、操作者が任意に角膜上のスリット反射光の照射位置
を決定することができる。換言すれば、角膜上の任意の
位置を反射光量比の測定位置として選択することができ
る。
【0025】とくに、スリットを特定せずに、いずれか
のスリットが一定の位置に位置するようにスリット板6
の回転を停止させるには、上記検出器24が不特定のス
リットを検出するようにすればよい。しかし、スリット
板6上に形成されるスリットはどうしてもその形状寸法
や傾き等に製作誤差が生じるため、停止マーク23を配
設して特定のスリットを特定の位置に停止させるのが好
ましい。
【0026】図1に示すごとく、撮影光学系5における
リレーレンズ群21はリレーレンズ間の光束を平行光と
するアフォーカル光路25を構成している。このアフォ
ーカル光路25から分岐して測定光学系3が配設されて
いる。測定光学系3は、上記アフォーカル光路25上に
配置されたハーフミラー26、絞り27および光量測定
手段としての光電素子28がその順に配置されたもので
ある。光電素子としてはフォトマルチプライヤが好適に
用いられる。測定光学系5は、スリット板6の回転を停
止させ、スリット反射光をそのまま光電素子28によっ
て受光して反射光量を測定するものである。したがっ
て、測定時には、スリット反射光が通過する第二スリッ
ト16bがちょうど視野絞り20の範囲内に停止するよ
うに設定される。
【0027】本測定装置1には如上の光学系の作動を制
御する制御部31とこの制御部31を操作するための操
作部32とを備えた制御装置33が配設されている。ま
た、得られた角膜細胞像や反射光量比などを表示するた
めのモニタ34が配設されている。制御部31は、撮像
や光量測定のためのキセノンランプ7の点灯、スリット
板6の回転および回転停止、撮像素子10によって得た
情報の画像処理、光電素子28によって得た情報の定量
化による反射光量比の演算、エンコーダ22bからのフ
ォーカシング位置情報の処理などを行う。
【0028】本測定装置1の作動を説明する。
【0029】まずキセノンランプ7を点灯しておく。つ
ぎに、被検者に図示しない固視灯を固視させて被検眼を
固定する。検査者は手動によって装置1を被検眼に対し
て位置合わせし(アライメント)、コーンレンズ13を
被検眼の角膜面に当接する。ついで、スリット板6を高
速回転する。第一スリット16aを通過したスリット照
明光は被検眼の角膜面をスキャンし、移動するそのスリ
ット反射光は同期して移動する第二スリット16bを通
過する。図4(a)に示すように、その後スリット反射
光Rは視野絞り20を通過して撮像素子10によって受
光される。撮像素子10は高速移動するスリット反射光
を視野絞り20の範囲で受光するので、図4(b)に示
すように視野絞り20の範囲で角膜細胞を撮影する。こ
の角膜細胞像Gはモニタ34の画面上で観察することが
できる。また、角膜細胞像Gは各種医療診断に用いるこ
とができる。
【0030】次に、角膜の反射光量比を測定する。測定
者が反射光量比を測定すべく制御装置33の操作部32
を操作すると、スリット板6はその回転を停止する。こ
の場合、前述した検出器24がスリット板の停止マーク
23を検出することによって回転が停止するので、図4
(c)に示すごとく視野絞り20の範囲内の特定の位置
に特定のスリット16bが停止する。上記特定の停止位
置は、被検眼の角膜面における特定位置と対応してい
る。この角膜面における特定位置が反射光量比を測定し
ようとする位置である。この位置は停止マーク23の位
置を変えることによって任意に選択することができる。
たとえば、対物光学系12の光軸に対応する位置として
もよい。また、検査者が視野絞り20の範囲の上記角膜
細胞像Gをモニタ画面で観察(図5の表示A)してスリ
ットの停止位置を大まかに決めておき、ついで、手動操
作によってスリット板6をゆっくり回転させて所望の上
記位置にスリットを停止させてもよい。
【0031】反射光量の測定に先立って対物光学系12
の焦点の位置は原点Fに復帰している。ついで光電素子
28が作動し、フォーカシングレンズ14が前進する。
すなわち、光量を測定すべき角膜の各層に焦点Fが順次
移動していき、各層におけるスリット反射光が受光され
る。このとき、フォーカシングレンズ14の移動距離は
エンコーダ22bによって測定され、制御部31に位置
情報として記憶される。制御部31においては、かかる
位置情報と各位置に対応する反射光量が演算され、その
結果がモニタ34の画面に表示される。
【0032】図5に示すのが、モニタ34の画面に表示
される測定結果である。表示Aとして、視野絞り20の
範囲内に角膜におけるある層の角膜細胞像Gが表示され
る。さらに、表示Aの枠には測定光学系3の光軸位置を
示すマークDを付している。
【0033】表示Bとして、角膜の厚さ方向に沿った各
層の検出光量が表示される。縦軸は検出光量を示してい
るが、その数値は無単位であるので、表示Bはいわば反
射光量の分布を示すものといえる。反射光量比は各測定
点の光量データを選択して演算される。表示Bにおける
横軸は位置情報であり、焦点の原点Fを0として250
μmまでを表示範囲としている。一般的な人間の角膜厚
さは平均的に500μm程度であり、測定範囲もこれに
応じて増減することができる。250μmを超える測定
結果は画面を横方向にスクロールすることによって表示
が可能である。原点Fは記憶されており、また、原点F
からコーンレンズの先端面(被検眼の角膜表面の位置)
までの距離も既知であるため、角膜の深さ位置とその反
射光量比とを対応させることができる。
【0034】本実施形態ではいわゆる接触型の装置を例
にとって説明したが、本発明では接触型には限定され
ず、下記のいわゆる非接触型の撮影装置に反射光量比測
定機能を備えたものも含む。
【0035】図6に概略的に示すように、非接触式の反
射光量比測定装置41においても制御装置33およびモ
ニタ34を備えている。一方、各光学系はXYZ軸の各
方向に移動させうる機枠42上に搭載されており、後述
するように測定動作に入る前に装置41と被検眼Eとの
位置合わせ(アライメントと合焦)を行うことができ
る。さらに、対物光学系43がXYZの三軸方向それぞ
れに移動しうる追随架台43aに搭載されており、後述
するように、反射光量の測定中に被検眼Eの変位に応じ
てXYそれぞれの方向の位置合わせを維持しながらZ方
向へ移動して対物光学系43の焦点を移動させることが
できる。このように移動対象を軽量化することにより、
反射光量比を測定する際に位置合わせの維持および焦点
移動が迅速になされ得る。
【0036】図1の装置1と同様に、照明光学系44と
撮影光学系45とにまたがる同様のスリット板6が配設
されている。スリット板6の対物光学系側に照明レンズ
9と撮影レンズ11とが配設されており、対物光学系4
3から照明レンズ9および撮影レンズ11にいたる光路
46a、46bはそれぞれアフォーカルにされている。
すなわち、対物光学系43と両レンズ9、11の間の光
学系がアフォーカル光学系である。符号40で示すの
は、スリット反射光が前述の第二スリットを通過するよ
うにスリット反射光の移動方向および傾斜方向を調整す
るためのミラー群である。
【0037】照明光学系44におけるスリット板6から
キセノンランプ7に至る光路および光学機器、並びに、
撮影光学系45および測定光学系47におけるスリット
板6から撮像素子10および光電素子28に至る光路は
それぞれ図1の装置1におけると同様であるためその説
明を省略する。
【0038】機枠42上には図示しないアライメント光
学系が配設されている。また、上記の各アフォーカル光
路46a、46bからそれぞれ分岐して合焦光学系48
が配設されている。アライメント光学系の作動によって
機枠42をXY方向に移動させ、対物光学系43の光軸
を被検眼Eの頂点(被検眼の装置41に最も近い点)に
一致させるのがアライメントである。また、対物光学系
43は固定した焦点を有している。そして、合焦光学系
48の作動によって機枠42をZ軸方向に移動させ、上
記焦点を自動的に被検眼の表面に一致させるのがZ軸方
向の位置合わせ、すなわち合焦である。
【0039】アライメント光学系は、たとえば、アライ
メント指標光を照射する光源と、前眼部を観察撮影する
テレビカメラ等の観察手段を備えたものである。そし
て、上記アライメント用光源からの近赤外光が被検眼の
前眼部にその正面から照射される。アライメント指標光
の被検眼の角膜における反射像たる輝点(プルキンエ
像)は、上記テレビカメラにおいて前眼部像に重ねて撮
影される。フィードバック制御により、被検眼Eの変位
に応じてこのプルキンエ像を撮影光軸、たとえば対物光
学系の光軸に対応する位置に至らせるように上記機枠4
2をXY方向に移動させる。こうすることによって撮影
光軸を被検眼の角膜頂点に一致させる。以上がアライメ
ント機構およびアライメント動作の一例である。
【0040】合焦光学系48は赤外光を発光する合焦用
ランプ49と合焦光用の可動スリット50とを主要構成
要素としている。図中の符号53はミラーである。合焦
光学系48は、合焦用ランプ49から可動スリット50
を通過したスリット光の被検眼Eにおける反射光(合焦
用スリット光)を検出する光センサ51を主要構成要素
としている。光センサ51としてはラインセンサやエリ
アセンサが用いられる。可動スリット50を通過したス
リット光が所定の基準位置にある対物光学系43の焦点
で反射され、この合焦用スリット光が光センサ51にお
ける所定部位に受光されたとき、制御部31において合
焦されたと判断される。この合焦状態を維持すべくフィ
ードバック制御により、被検眼Eの変位に応じて機枠4
2がZ軸方向に移動する。
【0041】通常はアライメント動作と合焦動作とは平
行してなされ、アライメントおよび合焦がなされたあ
と、アライメントおよび合焦を維持しつつ角膜が観察撮
影される。
【0042】ついで、反射光量比の測定作動を説明す
る。反射光量比の測定作動中においてもアライメントお
よび合焦の状態が維持されなければならない。そのため
のXYZ方向の移動対象が機枠42から追随架台43a
に切り替わる。追随架台43aのXYZ方向移動による
アライメントおよび合焦の各動作については前述したと
同じであり、XYZ方向に移動するのが機枠42ではな
く追随架台43aである点が異なるだけであるため、そ
の説明を省略する。追随架台43aには対物光学系43
のみが搭載されているため、反射光量比の測定作動中に
おける被検眼Eの変位に容易に追随することができる。
この追随架台43aの追随移動によってアライメントお
よび合焦がなされたあと、後述する可動スリット50の
移動に基づいて対物光学系43をZ軸方向に移動させる
ことによりその焦点を被検眼Eに向けて移動させ、反射
光量を測定する。もちろん、この測定作動中XYアライ
メントは維持される。
【0043】上記可動スリット50はモータ52によっ
て合焦光学系48の光軸に垂直な方向に移動させられ
る。移動距離は付設されたエンコーダ54によって検出
され、位置情報として制御部31に記憶される。可動ス
リット50をその光軸に対して横方向に移動させること
により、追随架台43aをZ方向に移動させて焦点をZ
軸方向に移動させる。すなわち、可動スリット50を横
方向に移動させることによって合焦用スリット光が光セ
ンサ51から外れるので、フィードバック制御によって
光センサ51が合焦用スリット光を検出するように追随
架台43aがZ方向に移動するのである。その結果、対
物光学系43の焦点がZ軸方向に移動する。このように
して角膜の厚さ方向の各層に焦点が一致していく。かか
る作動によって、図1の装置1と同様の測定結果(図5
に示す)が得られる。
【0044】また、光センサ51は所定の光範囲を有し
ており、そのうちの所定の位置で合焦スリット光を受光
したときに合焦したと判断するものである。したがっ
て、この合焦を判断する受光位置を変えることによって
対物光学系43の焦点をZ軸方向に移動させることが可
能となる。または、光センサ51の前方に上記可動スリ
ット50と同様のスリットを配設しておき、このスリッ
トをその光軸に対して横方向に移動させることによって
も対物光学系43の焦点を移動させることが可能とな
る。
【0045】本装置41では、対物光学系12を一つ共
通光軸を有する対物レンズ群から構成しているが、本発
明ではかかる構成に限定されない。たとえば、特開平1
0−24019号公報に開示されているような、照明光
学系の対物レンズと撮影光学系の対物レンズとを別々に
設け、これをともに追随架台に搭載したものにも適用可
能である。
【0046】
【発明の効果】本発明の角膜の反射光量比の測定装置に
よれば、被検眼の角膜の狭い特定位置について、測定し
ようとする層以外からの反射光を効果的に分離して正確
な反射光量比を測定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の測定装置の一実施形態としての接触型
測定装置を示す光路図である。
【図2】図1の測定装置の要部斜視図である。
【図3】図1の測定装置におけるスリット板の一例を示
す正面図である。
【図4】図4(a)は図1の測定装置におけるスリット
反射光の移動を示す正面図であり、図4(b)は視野絞
りの範囲内で撮像された角膜細胞を正面図であり、図4
(c)は視野絞り内で停止したスリット反射光を示す正
面図である。
【図5】図1の装置におけるモニタの画面表示の一例を
示す図である。
【図6】本発明の測定装置の他の実施形態を示す光路図
である。
【図7】角膜の一例を示す部分断面図である。
【符号の説明】
1 測定装置 2 機枠 3 測定光学系 4 照明光学系 5 撮影光学系 6 スリット板 7 キセノンランプ 9 照明レンズ 10 撮像素子 11 撮影レンズ 12 対物光学系 12a 鏡筒 13 コーンレンズ 14 フォーカシングレンズ 15 アフォーカル光学系 16、16a、16b スリット 17 モータ 18a、18b、18c、18d ミラー 19 照明用リレーレンズ 20 視野絞り 21 撮影用リレーレンズ 22 フォーカシング装置 22a 駆動装置 22b エンコーダ 23 停止マーク 24 検出器 25 アフォーカル光路 26 ハーフミラー 27 絞り 28 光電素子 31 制御部 32 操作部 33 制御装置 34 モニタ 40 ミラー群 41 測定装置 42 機枠 43 対物光学系 43a 追随架台 43b 対物レンズ 44 照明光学系 45 撮影光学系 46a、46b アフォーカル光路 47 測定光学系 48 合焦光学系 49 合焦用ランプ 50 可動スリット 51 光センサ 52 モータ 53 ミラー 54 エンコーダ C 角膜 D 光軸位置マーク E 被検眼 F 基準点 I 内皮 J 実質部 R スリット反射光 U 上皮

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第一スリットと第二スリットとが同一円
    周上に形成され、該円周の中心回りに回転し且つ停止し
    うるスリット板と、 上記第一スリットと照明光源とを有し、上記第一スリッ
    トを通過したスリット照明光によって被検眼の前眼部を
    その斜め前方から照明するための照明光学系と、 上記第二スリットと、上記スリット照明光の前眼部で反
    射された反射光を、停止した第二スリットを通して受光
    して当該光の光量を測定するための光量測定手段とを有
    する光量測定光学系と、 該光量測定光学系に配設された、光量測定光学系の焦点
    位置をその光軸方向に移動させるフォーカシング機構と
    を備えてなる角膜の反射光量比の測定装置。
  2. 【請求項2】 上記スリット照明光による前眼部の像光
    線を上記第二スリットを通して観察および撮影するため
    の撮影手段を有する撮影光学系をさらに備えてなる請求
    項1記載の角膜の反射光量比の測定装置。
  3. 【請求項3】 上記スリット板に形成されたスリットの
    うちの一を検出するための検出器をさらに備えており、
    検出器によるスリットの検出信号に基づいてスリット板
    の回転が停止するように構成されてなる請求項1記載の
    角膜の反射光量比の測定装置。
  4. 【請求項4】 上記スリット板に形成された回転停止用
    の被検出マークと、該被検出マークを検出するための検
    出器とをさらに備えており、検出器による被検出マーク
    の検出信号に基づいてスリット板の回転が停止するよう
    に構成されてなる請求項1記載の角膜の反射光量比の測
    定装置。
  5. 【請求項5】 上記照明光学系および光量測定光学系の
    被検眼に至る光軸と共通の光軸を有し、且つ、接触して
    いる被検眼の動きに応じて上記光軸方向に移動しうる対
    物光学系と、該対物光学系とスリット板との間に形成さ
    れたアフォーカル光学系とを備えており、 上記対物光学系が、被検眼に当接させうる対物光学部材
    と、該対物光学部材の後部に配置され、その光軸方向に
    移動することによってフォーカシングを行う後部レンズ
    群とを備えており、 該後部レンズ群が上記フォーカシング機構を構成してな
    る請求項1記載の角膜の反射光量比の測定装置。
  6. 【請求項6】 被検眼に向かうZ軸とZ軸に垂直なX軸
    およびY軸の各方向に移動しうる対物光学系と、 該対物光学系とスリット板との間に形成されたアフォー
    カル光学系と、 被検眼に対する対物光学系の上記Z軸方向の位置合わせ
    を行うための合焦光学系とを備えており、 上記合焦光学系が、合焦用光源および合焦光用スリット
    と、被検眼において反射された合焦用スリット光を検出
    するための合焦光検出器とを備えており、 上記フォーカシング機構が、上記合焦用スリットをその
    光軸に対して横方向に移動させる機構、または、上記合
    焦光検出器における合焦用スリット光検出位置を変化さ
    せる機構から構成されてなる請求項1記載の角膜の反射
    光量比の測定装置。
JP2001244063A 2001-08-10 2001-08-10 角膜の反射光量比の測定装置 Expired - Lifetime JP4723131B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001244063A JP4723131B2 (ja) 2001-08-10 2001-08-10 角膜の反射光量比の測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001244063A JP4723131B2 (ja) 2001-08-10 2001-08-10 角膜の反射光量比の測定装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003052631A true JP2003052631A (ja) 2003-02-25
JP4723131B2 JP4723131B2 (ja) 2011-07-13

Family

ID=19074058

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001244063A Expired - Lifetime JP4723131B2 (ja) 2001-08-10 2001-08-10 角膜の反射光量比の測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4723131B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101069930B1 (ko) 2008-10-09 2011-10-05 황호식 각막 혼탁도 측정 장치 및 측정 방법
JP2015217140A (ja) * 2014-05-19 2015-12-07 株式会社ニデック 角膜内皮細胞撮影装置
KR20210004655A (ko) * 2019-07-05 2021-01-13 한국광기술원 안구의 혼탁도 감쇄를 위한 광 변조 장치 및 방법
US11911106B2 (en) * 2019-07-05 2024-02-27 Korea Photonics Technology Institute Device and method for reducing eye opacity

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54141147A (en) * 1978-04-25 1979-11-02 Konan Camera Res Inst Optical instrument with floating objective system
JPS57115516A (en) * 1981-01-09 1982-07-19 Konan Camera Kenkyusho:Kk Microscope for eyeball
JPH04193156A (ja) * 1990-11-26 1992-07-13 Konan Camera Kenkyusho:Kk 眼球顕微鏡
JPH0531077A (ja) * 1991-02-15 1993-02-09 Toomee:Kk 眼球観察装置
JPH06327635A (ja) * 1993-05-26 1994-11-29 Topcon Corp 角膜内皮細胞撮影装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS54141147A (en) * 1978-04-25 1979-11-02 Konan Camera Res Inst Optical instrument with floating objective system
JPS57115516A (en) * 1981-01-09 1982-07-19 Konan Camera Kenkyusho:Kk Microscope for eyeball
JPH04193156A (ja) * 1990-11-26 1992-07-13 Konan Camera Kenkyusho:Kk 眼球顕微鏡
JPH0531077A (ja) * 1991-02-15 1993-02-09 Toomee:Kk 眼球観察装置
JPH06327635A (ja) * 1993-05-26 1994-11-29 Topcon Corp 角膜内皮細胞撮影装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101069930B1 (ko) 2008-10-09 2011-10-05 황호식 각막 혼탁도 측정 장치 및 측정 방법
JP2015217140A (ja) * 2014-05-19 2015-12-07 株式会社ニデック 角膜内皮細胞撮影装置
KR20210004655A (ko) * 2019-07-05 2021-01-13 한국광기술원 안구의 혼탁도 감쇄를 위한 광 변조 장치 및 방법
KR102284086B1 (ko) 2019-07-05 2021-07-30 한국광기술원 안구의 혼탁도 감쇄를 위한 광 변조 장치 및 방법
US11911106B2 (en) * 2019-07-05 2024-02-27 Korea Photonics Technology Institute Device and method for reducing eye opacity

Also Published As

Publication number Publication date
JP4723131B2 (ja) 2011-07-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4822331B2 (ja) 眼科装置
JP5038703B2 (ja) 眼科装置
JP4492847B2 (ja) 眼屈折力測定装置
JP4233426B2 (ja) 眼屈折力測定装置
JPH06142044A (ja) 眼科測定装置
US7413305B2 (en) Ophthalmologic apparatus and related positioning method
JPH1075931A (ja) 眼底検査装置
JP2001178678A (ja) 眼科装置
JP3636917B2 (ja) 眼屈折力測定装置
JP5879825B2 (ja) 角膜内皮細胞撮影装置
JP3660145B2 (ja) 眼科装置
JP4469205B2 (ja) 眼科装置
JP4723131B2 (ja) 角膜の反射光量比の測定装置
JP2812421B2 (ja) 角膜細胞撮影装置
JP2008136617A (ja) 眼科装置
JPH0975308A (ja) 角膜内皮細胞撮影装置
JP3779913B2 (ja) 角膜細胞撮影装置
JP4880133B2 (ja) 角膜細胞撮影装置
JP2020179175A (ja) 眼科装置
JPH11235316A (ja) 検眼装置
JP2001037722A (ja) 眼科装置
JPH08289874A (ja) 眼底カメラ
JP2608852B2 (ja) 角膜撮影装置
WO2022030202A1 (ja) 眼科装置、および眼科装置制御プログラム
JP3607773B2 (ja) 眼科撮影装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080722

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110328

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110405

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110407

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140415

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4723131

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140415

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250