KR101069930B1 - 각막 혼탁도 측정 장치 및 측정 방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 각막의 혼탁도 측정 장치 및 측정 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 펄스 레이저를 생성하여 안구의 각막에 조사하는 광원부; 조사된 펄스 레이저가 반사 또는 산란된 빛을 수광하는 수광부; 수광된 빛을 검출하여 전기신호로 변환하는 광 검출부; 변환된 전기신호를 분석하여 수광된 빛 중 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 광량을 연산하고, 연산된 광량을 기초로 각막의 혼탁도를 연산하는 신호처리부를 포함하는 각막 혼탁도 측정 장치 및 그 측정 방법을 제공하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 의하면, 펄스 레이저를 이용하여 각막 특정부위의 상대적 혼탁도를 정량적으로 측정할 수 있다.
각막, 상대적 혼탁도, 펄스 레이저, 펄스 폭, 가시광선,

Description

각막 혼탁도 측정 장치 및 측정 방법{Apparatus and Method of Measuring the Corneal Opacity}
본 발명은 각막의 혼탁도 측정 장치 및 측정 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 펄스 레이저를 안구의 각막에 조사하고, 각막에서 반사 또는 산란된 빛을 검출하여 그 광량을 연산하고, 연산된 빛의 광량을 기초로 각막의 상대적 혼탁도를 정량적으로 측정하는 각막 혼탁도 측정 장치 및 그 측정 방법에 관한 것이다.
각막 혼탁이란 정상적으로는 투명한 조직인 각막이 선천성 질환, 염증, 외상, 변성 등으로 혼탁한 상태가 되는 것을 의미하며 대개는 백색은 띄게 된다. 한편, 최근 시력 교정을 위한 라식 및 라섹 수술이 많이 행해지는데, 이러한 라식 및 라섹 수술의 후유증으로 각막 혼탁이 발생하기도 한다.
종래에 각막 혼탁을 측정하는 방법에는 진료용 세극등 현미경으로 눈의 각막을 직접 관찰하는 방법과 Scheimpflug Camera를 이용하는 방법, 빛간섭 단층촬영(optical coherence tomography: "OCT")을 이용하여 각막을 관찰하는 방법이 있다.
진료용 세극등 현미경으로 각막을 직접 관찰하면서 그 혼탁의 정도를 측정하 는 방식은 그 측정한 각막의 혼탁 정도가 정량적이지 못하며 진료하는 의사에 따라 주관적이라는 단점이 있다.
Scheimpflug Camera는 Scheimpflug principle을 이용하여 각막의 단층을 촬영할 수 있는 장비로 그림을 통해 각막의 혼탁 정도에 대한 정성적인 정보를 줄 수 있을 뿐 정량적인 각막의 혼탁 정도에 대한 정보를 주지 못하는 문제점이 있다.
빛 간섭 단층촬영(OCT)은 광간섭계를 사용하여 안구에 대한 고해상도의 단층영상을 나타낸느 장비로 이러한 빛 간섭 단층 쵤영(OCT)을 이용하여 각막 혼탁을 측정하는 방법 또한 그림을 통해 각막의 혼탁 정도에 대한 정성적인 정보를 줄 수 있을 뿐 정량적인 각막의 혼탁 정도에 대한 정보를 주지 못하는 문제점이 있다.
따라서 각막 혼탁에 관한 연구에 꼭 필요한 객관적이고 정량적인 각막 혼탁의 측정 장치 및 방법이 점점 더 요구된다.
본 발명은 펄스 레이저를 이용하여 각막의 혼탁도를 정량적으로 측정할 수 있는 각막 혼탁도 측정 장치 및 측정 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
이러한 과제를 해결하기 위해 본 발명의 실시예에 따른 각막 혼탁도 측정 장치는, 펄스 레이저를 생성하여 안구의 각막에 조사하는 광원부; 조사된 펄스 레이저가 반사 또는 산란된 빛을 수광하는 수광부; 수광된 빛을 검출하여 전기신호로 변환하는 광 검출부; 변환된 전기신호를 분석하여 수광된 빛 중 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 광량을 연산하고, 연산된 광량을 기초로 각막의 혼탁도를 연산하는 신호처리부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 광원부에서 생성된 펄스 레이저는 그 펄스 폭이 O ~ 10-12초 일 수 있다.
바람직하게는, 상기 광원부에서 생성된 펄스 레이저는 가시광 레이저로서 적색 또는 황색 가시광 레이저일 수 있다.
바람직하게는, 상기 신호처리부는 변환된 전기신호를 분석하여, 변환된 전기신호 중에서 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 전기신호를 추출하는 추출부; 추출된 전기신호를 기초로 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 광량을 연산하는 광량 연산부; 펄스 레이저의 광량 및 연산된 광량에 기초하여 각막의 혼탁도를 연산하는 혼탁도 연산부를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 각막 혼탁도 측정 방법은, (a) 펄스 레이저를 생성하는 단계; (b) 생성된 펄스 레이저를 안구의 각막에 조사하는 단계; (c) 조사된 펄스 레이저가 반사 또는 산란된 빛을 수광하는 단계; (d) 수광된 빛을 검출하여 전기신호로 변환하는 단계; 및 (e) 변환된 전기신호를 분석하여 각막의 혼탁도를 연산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
바람직하게는, 상기 (e) 단계는, (e1) 변환된 전기신호를 분석하여, 변환된 전기신호 중에서 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 전기신호를 추출하는 단계; (e2) 추출된 전기신호를 기초로 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 광량을 연산하는 단계; 및 (e3) 펄스 레이저의 광량 및 연산된 광량에 기초하여 각막의 혼탁도를 연산하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 펄스 레이저를 이용하여 각막의 특정부위의 혼탁도를 정량적으로 측정할 수 있다.
이하에서 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 각막 혼탁도 측정 장치를 나타낸 블록도이다.
본 발명의 실시예에 따른 각막 혼탁도 측정 장치는 프로브(100), 광 검출 부(200), 및 신호처리부(300)를 포함하며, 추가로 저장부(400) 또는 출력부(500)를 더 포함할 수 있다.
프로브(probe, 100)는 안구의 각막에 빛을 조사하고 각막에서 반사 또는 산란된 빛을 수광하기 위한 기구로서, 광원부(120) 및 수광부(140)를 포함한다.
광원부(120)는 레이저(laser)를 생성하여 생성된 레이저를 안구의 각막에 조사한다. 후술하겠지만 생성된 레이저는 각막(cornea)에서 반사 또는 산란된 빛을 검출하기 위하여 일정한 펄스 폭(pulse duration)을 가지는 펄스 레이저(pulse laser)인 것이 바람직하다.
안구를 통과하는 빛의 성분 중 실제로 인간이 인식할 수 있는 것은 가시광선(visible ray)이므로, 레이저는 그 파장이 가시광선 영역 파장(약 395 ~ 750 nm)을 가지도록 생성되는 것이 바람직하다. 한편, 청색(blue) 레이저는 황반에 맺힐 경우 황반의 손상을 일으킬 수 있으므로, 상기 레이저는 청색을 제외한 적색 또는 황색 레이저로 생성되는 것이 바람직하며, 생성된 레이저의 파장은 약 500 ~ 750 nm가 될 수 있다.
수광부(140)는 안구의 각막에 조사된 레이저가 반사 또는 산란된 빛을 수광한다. 여기서, 반사 또는 산란된 빛이란 안구의 전안부에 조사된 레이저가 안구의 각 부분, 예를 들어 각막(cornea), 수정체(lens), 및 망막(retina) 등에서 반사(reflection), 또는 산란(scattering)되어 수광부로 다시 되돌아오는 모든 빛을 포함하는 개념이다.
도 2a는 본 발명의 실시예에 따른 각막 혼탁 측정 장치에서 프로브를 예시하 는 도면이다.
프로브(probe, 100)는 안구의 각막(50)에 빛을 조사함과 동시에 안구의 각 부분에서 반사 또는 산란되어 안구의 각막(50)로 되돌아오는 빛을 수광하는 기구로서, 광원부(120)와 수광부(140)를 포함한다.
광원부(120)는 소정의 펄스 폭을 가지는 펄스 레이저(10)를 생성하여 안구의 각막(50)에 조사한다.
수광부(140)는 각막(50)에 조사된 펄스 레이저(10)가 각막에서 반사되거나 산란되어 되돌아오는 빛(20, 30)을 수광한다. 점선으로 표시된 것은 각막에서 반사된 빛(20)이며, 물결 모양의 각막에서 산란된 빛(30)이다.
도 2b는 또 다른 실시예에 따른 프로브를 예시하는 도면이다. 안구의 각 부분에서 반사되거나 산란된 빛의 수광률을 높이기 위해, 프로브(100')는 안구에 접촉하여 각막(50)에 빛을 조사하고 수광한다.
프로브(100')의 끝단 부분은 반구 형태로 오목하게 패이도록 형성된다. 오목하게 패인 반구의 중앙에 광원부(120')를 위치시키고, 안구의 각 부분에서 반사되거나 산란된 광을 광원부(120') 주변의 수광부(140')에서 수광하도록 한다.
프로브(100')를 안구에 접촉시켜 수광함으로써, 빛의 수광률을 높일 수 있다.
도 3은 안구의 구조 및 안구에 조사된 펄스 레이저가 반사 또는 산란되어 돌아오는 빛의 광량을 예시하는 도면이다.
도 3의 상부를 참조하면, 안구에는 결막(conjunctiva), 각막(cornea), 공 막(sclera), 맥락막(choroid) 및 망막(retina)이 존재한다. 각막 뒤로는 조리개 역할을 하는 홍채(iris)와 렌즈 역할을 하는 수정체(lens)가 존재한다.
안구의 각막에 펄스 레이저를 조사하면 조사된 펄스 레이저는 각막을 지나쳐 동공(pupil) 및 수정체를 통과하고, 안구 내부의 초자체(vitreous humour)를 거쳐 망막에 도달한다. 조사된 펄스 레이저의 일부는 각막에서 반사되거나 산란되며, 또한 그 일부는 수정체, 초자체, 및 망막에서 반사되거나 산란된다.
도 3의 하부를 참조하면, 안구의 각 부분에서 반사되거나 산란된 빛의 광 강도(세기)가 시간의 흐름에 따라 도시되어 있다.
안구의 각막에 펄스 레이저를 조사하면, 펄스 레이저를 조사한 곳에서는 일정 시간 후에 각막에서 반사 또는 산란된 빛(I)이 되돌아와 감지되고, 잠시 후에 수정체에서 반사되거나 산란된 빛(II)이 되돌아와 감지되며, 마지막으로 망막에서 반사되거나 산란된 빛(III)이 감지된다.
본 발명의 목적은 각막의 혼탁도를 측정하기 위한 것으로서, 후술하겠지만 상기 안구의 각 부분에서 반사되거나 산란된 빛(I, II, III) 중 각막에서 반사되거나 산란된 빛(I)만을 검출하고 검출된 빛(I)을 이용하여 각막의 혼탁도를 측정한다.
다시 도 1로 되돌아가 설명하도록 한다.
광 검출부(200)는 수광부(140)에서 수광된 빛을 검출하여 이를 전기신호로 변환한다.
신호처리부(300)는 광 검출부(200)에서 생성된 전기신호를 분석하여 수광 부(140)에서 수광된 빛 중 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 광량을 연산하고, 연산된 빛의 광량을 기초로 펄스 레이저가 조사된 곳의 각막의 혼탁도를 연산한다.
저장부(400)는 광 검출부(200)에서 생성된 전기신호, 연산된 빛의 광량, 및 연산된 각막의 혼탁도를 저장하는 역할을 한다.
출력부(500)는 광 검출부(200)에서 생성된 전기신호, 연산된 빛의 광량, 및 연산된 각막의 혼탁도를 이용자가 볼 수 있도록 화상정보를 생성하며, 상기 화상정보를 출력하는 LCD(liquid crystal display) 및 CRT(cathod-ray tube) 모니터 등의 외부 디스플레이 장치를 포함한다.
도 4는 도 2에서의 신호처리부를 나타낸 블록도이다.
신호처리부(300)는 추출부(310), 광량 연산부(320), 및 혼탁도 연산부(330)를 포함한다.
추출부(310)는 광 검출부(200)에서 생성된 전기신호를 분석하여, 그 전기신호 중 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 전기신호를 추출한다.
도 3에서 나타난 것처럼, 안구의 각막에 펄스 레이저가 조사되면 안구의 각 부분에서 반사되거나 산란된 빛이 시간의 흐름에 따라 관찰된다. 각막은 안구의 가장 앞쪽에 위치하므로, 제일 먼저 되돌아와 관찰된 빛(I)이 각막(각막의 앞 표면, 실질, 및 뒤 표면)에서 반사되거나 산란된 빛이다.
일반적으로 각막의 두께는 약 550 μm이다. 따라서 각막의 두께를 고려하면, 각막의 앞 표면 및 각막의 실질을 통과한 후 각막의 뒤 표면에서 반사된 빛이 각막 의 앞 표면까지 다시 되돌아오는 데는 약 0.36*10-11 초((550μm*2)/(3*108m/s))가 소요된다. 따라서 각막에서 반사 또는 산란된 빛을 정밀하게 검출하기 위해서는, 안구의 전안부에 조사하는 펄스 레이저의 펄스 폭(duration time)이 0 ~ 10-12초 인 것이 바람직하며, 더욱 바람직하게는 0.36*10-11 초 이하인 것이 바람직하다.
추출부(310)는 광 검출부(200)에서 생성된 전기신호를 분석하여, 전기신호가 제일 먼저 관찰된 시간과 0.36*10-11 초 부근에서 전기신호의 세기가 급감하는 구간을 결정하고, 그 구간 내의 전기신호에 대한 정보를 추출한다. 상기 구간 내의 전기신호는 각막의 앞 표면, 각막의 실질 및 각막의 뒤 표면에서 반사되거나 산란된 빛의 전기신호이다.
광 검출부(200)에서 생성된 전기신호는 반사 또는 산란된 빛의 광 강도(단위:lm)에 비례하므로, 광량 연산부(320)는 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 전기신호를 기초로 하여 광량(quantityof light, 단위:lm·s)을 연산한다. 물론, 광량 연산부(320)는 광 검출부(200)에서 생성된 전기신호를 기초로 안구의 각 부분에서 반사 또는 산란된 빛의 광량을 연산할 수도 있다.
혼탁도 연산부(330)는 펄스 레이저의 광량 및 연산된 빛의 광량에 기초하여 각막의 혼탁도를 연산한다.
Figure 112008070619713-pat00001
여기서, 각막의 혼탁도(opacity)는 상대적인 혼탁도(relative opacity)로서 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 광량 대 입사광(즉, 펄스 레이저)의 광량과의 백분율 비이다. 각막이 혼탁할수록 각막에서 반사나 산란이 잘 일어나므로 각막의 상대적 혼탁도 값이 크게 나타난다.
혼탁이 있는 각막에 빛이 조사되었을 때 반사, 흡수, 산란, 투과는 다음의 [수학식 2]와 같이 표현된다.
입사광 = 반사된 빛 + 흡수된 빛 + 산란된 빛 + 투과된 빛
반사된 빛은 프레넬(Fresnel) 방정식에 의해 단지 약 2% 정도이다. 각막에 혼탁이 있는 경우 대개 흰색을 띄게 되므로 흡수되는 양은 무시될 수 있다. 투명한 각막 또한 각막에 흡수되는 양은 무시될 수 있다. 따라서 반사 또는 산란된 빛의 광량을 측정하면 입사광 중 투과하지 못한 빛의 양을 알 수 있으며 이로 인하여 각막의 혼탁 정도를 정량화 할 수 있다.
각막에 조사되는 입사광, 즉 펄스 레이저는 일정 크기의 광 강도와 일정 크기의 펄스 폭(pulse duration)을 가지도록 생성되므로, 펄스 레이저의 광량은 펄스 레이저가 생성될 때 이미 결정된다. 따라서 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 광량 이 연산되면, 혼탁도 연산부(330)는 정량적인 각막의 혼탁도, 즉 각막의 상대적 혼탁도를 상기 [수학식 1]에 의해 구할 수 있다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 각막 혼탁도 측정 방법을 나타낸 흐름도이다.
본 발명의 실시예에 따른 각막 혼탁도 측정 방법은 상기에서 설명한 각막 혼탁도 측정 장치에 의해서 수행되는 측정 방법으로서, 상기에서 설명한 것과 동일한 내용은 설명을 생략하도록 한다.
우선, 광원부(120)는 일정한 펄스 폭을 가지는 펄스 레이저를 생성하여, 그 펄스 레이저를 각막에 조사한다(S410).
생성된 펄스 레이저는 각막에서 반사 또는 산란된 빛을 검출하기 위하여 그 펄스 폭(pulse duration)이 O ~ 10-12초 인 것이 바람직하다. 또한 눈은 가시광선만을 인식할 수 있으므로, 생성된 펄스 레이저는 가시광 레이저인 것이 바람직하며, 청색 가시광 레이저는 망막에 손상을 줄 우려가 있으므로 생성된 펄스 레이저는 적색 또는 황색 가시광 레이저인 것이 더욱 바람직하다.
수광부(140)는 조사된 펄스 레이저가 안구의 각 부분, 예를 들어 각막, 수정체, 및 망막에서 반사되거나 산란된 빛을 수광한다(S420).
광 검출부(200)는 수광된 빛을 검출하여, 전기신호로 변환한다(S430).
신호처리부(300)는 광 검출부(200)에서 생성된 전기신호를 분석하여 각막의 혼탁도를 연산한다(S460).
신호처리부(300)의 추출부(310)는 광 검출부(200)에서 생성된 전기신호를 분석하여 전기신호 중에서 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 전기신호를 추출한다.
광량 연산부(320)는 추출된 빛의 전기신호를 기초로 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 광량을 연산한다.
혼탁도 연산부(330)는 광원부(120)에서 생성된 펄스 레이저의 광량 및 연산된 빛의 광량에 기초하여 각막의 상대적 혼탁도를 연산한다.
광 검출부(200)에서 생성된 전기신호, 광량 연산부(320)에서 연산된 빛의 광량, 및 혼탁도 연산부(330)에서 연산된 각막의 상대적 혼탁도 중의 적어도 하나는 각각 출력부(500)에 출력되고 저장부(400)에 저장된다.
상기 방법 중 일부 단계, 예를 들어 전기신호를 분석하여 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 전기신호를 추출하고, 추출된 빛의 전기신호를 기초로 광량을 연산하고, 연산된 광량에 기초하여 각막의 혼탁도를 연산하는 단계 등은 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 컴퓨터에 의해 읽혀지는 데이터가 저장되는 모든 기록장치를 포함한다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체의 예로는 ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 광데이터 저장장치 등이 있으며, 또한 캐리어 웨이브(예를 들어 인터넷 통한 전송) 형태로 구현되는 것도 포함한다. 또한 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장되고 실행될 수 있다.
이상에서 실시예를 통해 설명한 본 발명의 기술적 범위는 상기 기재된 실시 예에 한정되는 것은 아니고 본 발명의 사상 및 범위를 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 수정 및 변형될 수 있음은 본 발명이 속한 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명백하다. 따라서 그러한 변형예 또는 수정예들은 본 발명의 특허청구범위에 기재된 발명의 범위에 속한다 해야 할 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 각막 혼탁도 측정 장치를 나타낸 블록도.
도 2a는 본 발명의 실시예에 따른 각막 혼탁 측정 장치에서 프로브를 예시하는 도면.
도 2b는 또 다른 실시예에 따른 프로브를 예시하는 도면.
도 3은 안구의 구조 및 안구에 조사된 펄스 레이저가 반사 또는 산란되어 돌아오는 빛의 광량을 예시하는 도면.
도 4는 도 2에서의 신호처리부를 나타낸 블록도.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 각막 혼탁도 측정 방법을 나타낸 흐름도.

Claims (9)

  1. 펄스 레이저를 생성하여 안구의 각막에 조사하는 광원부와, 상기 조사된 펄스 레이저가 반사 또는 산란된 빛을 수광하는 수광부를 포함하는 프로브;
    상기 수광된 빛을 검출하여 전기신호로 변환하는 광 검출부;
    상기 변환된 전기신호를 분석하여 상기 변환된 전기신호가 제일 먼저 관찰된 시간과 상기 변환된 전기신호가 급감하는 구간을 기초로 상기 변환된 전기신호 중에서 상기 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 전기신호를 추출하는 추출부, 상기 추출된 전기신호를 기초로 상기 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 광량을 연산을 연산하는 광량 연산부, 및 상기 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 광량 대 상기 조사된 펄스 레이저의 광량과의 백분율 비인 각막의 혼탁도를 연산하는 혼탁도 연산부를 포함하는 신호처리부를 포함하는 것을 특징으로 하는 각막 혼탁도 측정 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 광원부에서 생성된 펄스 레이저는 그 펄스 폭이 O ~ 10-12초 인 것을 특징으로 하는 각막 혼탁도 측정 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 광원부에서 생성된 펄스 레이저는 가시광 레이저로서 적색 또는 황색 가시광 레이저인 것을 특징으로 하는 각막 혼탁도 측정 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 프로브는 그 끝단 부분이 반구 형태로 오목하게 패이도록 형성되고,
    상기 광원부는 상기 프로브의 오목하게 패인 반구 중앙 부분에 위치하며,
    상기 수광부는 상기 광원부 주변에 위치하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 각막 혼탁도 측정 장치.
  5. (a) 광원부가 펄스 레이저를 생성하는 단계;
    (b) 상기 광원부가 상기 생성된 펄스 레이저를 안구의 각막에 조사하는 단계;
    (c) 수광부가 상기 조사된 펄스 레이저가 반사 또는 산란된 빛을 수광하는 단계;
    (d) 광 검출부가 상기 수광된 빛을 검출하여 전기신호로 변환하는 단계; 및
    (e) 추출부가 상기 변환된 전기신호가 제일 먼저 관찰된 시간과 상기 변환된 전기신호가 급감하는 구간을 기초로 상기 변환된 전기신호 중에서 상기 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 전기신호를 추출하는 단계;
    (f) 광량 연산부가 상기 추출된 전기신호를 기초로 상기 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 광량을 연산을 연산하는 단계; 및
    (g) 혼탁도 연산부가 상기 각막에서 반사 또는 산란된 빛의 광량 대 상기 조사된 펄스 레이저의 광량과의 백분율 비인 각막의 혼탁도를 연산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 각막 혼탁도 측정 방법.
  6. 제5항에 있어서, 상기 생성된 펄스 레이저는 그 펄스 폭이 O ~ 10-12초 인 것을 특징으로 하는 각막 혼탁도 측정 방법.
  7. 제5항에 있어서, 상기 생성된 펄스 레이저는 가시광 레이저로서 적색 또는 황색 가시광 레이저인 것을 특징으로 하는 각막 혼탁도 측정 방법.
  8. 제5항에 있어서,
    상기 광원부와 상기 수광부가 프로브에 일체로 결합되고,
    상기 프로브는 그 끝단 부분이 반구 형태로 오목하게 패이도록 형성되며,
    상기 광원부는 상기 프로브의 오목하게 패인 반구 중앙 부분에 위치하고,
    상기 수광부는 상기 광원부 주변에 위치하도록 형성되는 것을 특징으로 하는 각막 혼탁도 측정 방법.
  9. 제5항에 있어서, 상기 각막 혼탁도 측정 방법은
    (h) 상기 연산된 각막의 혼탁도를 출력하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 각막 혼탁도 측정 방법.
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