JP2003050181A - 光ファイバ測定装置 - Google Patents
光ファイバ測定装置Info
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- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
- G01M11/3127—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR using multiple or wavelength variable input source
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/412—Index profiling of optical fibres
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 被測定光ファイバからの複数の異なる波長の
戻り光の測定を短時間に、かつ測定結果の比較を簡単に
する。 【解決手段】 戻り光は、光分波部２０により複数の異
なる波長λ１〜λｎの光として光−電気処理部３０に供
給されて電気信号に変換され、それぞれの処理回路４０
２〜４０ｎによりサンプリングされ所望の測定波形とし
て形成される。その際、発振器５０２〜５０ｎからそれ
ぞれの波長に応じた周波数のサンプリングクロックが供
給されてサンプリングされる。さらに、サンプリングク
ロックの位相差をタイミング制御部６０の位相比較回路
６０４において比較し、タイミング生成回路６０６から
加算処理する際の第２のタイミング信号Ｔ２がそれぞれ
の処理回路４０２〜４０ｎの加算処理回路４１４に供給
されて加算処理される。その結果の測定波形は、対応の
サンプリングポイントが光ファイバの同一距離での測定
データとして表わされる。
戻り光の測定を短時間に、かつ測定結果の比較を簡単に
する。 【解決手段】 戻り光は、光分波部２０により複数の異
なる波長λ１〜λｎの光として光−電気処理部３０に供
給されて電気信号に変換され、それぞれの処理回路４０
２〜４０ｎによりサンプリングされ所望の測定波形とし
て形成される。その際、発振器５０２〜５０ｎからそれ
ぞれの波長に応じた周波数のサンプリングクロックが供
給されてサンプリングされる。さらに、サンプリングク
ロックの位相差をタイミング制御部６０の位相比較回路
６０４において比較し、タイミング生成回路６０６から
加算処理する際の第２のタイミング信号Ｔ２がそれぞれ
の処理回路４０２〜４０ｎの加算処理回路４１４に供給
されて加算処理される。その結果の測定波形は、対応の
サンプリングポイントが光ファイバの同一距離での測定
データとして表わされる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ファイバ測定装
置に係り、特に、たとえば光通信などに適用される光フ
ァイバの特性を測定する際に用いて好適な光ファイバ測
定装置に関するものである。
置に係り、特に、たとえば光通信などに適用される光フ
ァイバの特性を測定する際に用いて好適な光ファイバ測
定装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】たとえば、光ファイバの伝送損失特性ま
たはその接続個所の検出あるいは破断点などの劣化部分
を検出する測定装置として、その後方散乱光および反射
光を検出して測定する、いわゆるＯＴＤＲ(optical tim
e domain reflector) を適用した光ファイバ測定装置が
知られている。
たはその接続個所の検出あるいは破断点などの劣化部分
を検出する測定装置として、その後方散乱光および反射
光を検出して測定する、いわゆるＯＴＤＲ(optical tim
e domain reflector) を適用した光ファイバ測定装置が
知られている。
【０００３】従来、上記のような光ファイバ測定装置
は、被測定対象の光ファイバに入射する所定の光パルス
を発生する光パルス発生源を含む。光パルス発生源は、
所定の波長の光パルスを発生するレーザなどの光源であ
り、所定のタイミングにより繰り返し駆動されて所定の
間隔にて光パルスを発生する。光源から繰り返し発生さ
れた光パルスは光方向性結合器などの光パルス入出力回
路を介して被測定対象の光ファイバの一端部から入射さ
れる。その戻り光は、光方向性結合器を介してフォトダ
イオードなどの受光器により検出される。検出された戻
り光は、フォトダイオードにおいて電気信号に変換され
て出力され、さらに増幅器により増幅されて信号処理回
路に供給される。信号処理回路では、電気信号に変換さ
れて増幅された戻り光の信号を光パルス発生源での繰り
返しタイミングに応動した所定のタイミングによりサン
プリングする。サンプリングされた信号は、光パルスの
繰り返し回数分加算平均されて、その信号レベルに応じ
た損失特性が求められる。さらに、その処理結果は、た
とえば対数変換されて右下がりの損失波形が形成され
て、その波形がディスプレイなどの表示装置により表示
される。
は、被測定対象の光ファイバに入射する所定の光パルス
を発生する光パルス発生源を含む。光パルス発生源は、
所定の波長の光パルスを発生するレーザなどの光源であ
り、所定のタイミングにより繰り返し駆動されて所定の
間隔にて光パルスを発生する。光源から繰り返し発生さ
れた光パルスは光方向性結合器などの光パルス入出力回
路を介して被測定対象の光ファイバの一端部から入射さ
れる。その戻り光は、光方向性結合器を介してフォトダ
イオードなどの受光器により検出される。検出された戻
り光は、フォトダイオードにおいて電気信号に変換され
て出力され、さらに増幅器により増幅されて信号処理回
路に供給される。信号処理回路では、電気信号に変換さ
れて増幅された戻り光の信号を光パルス発生源での繰り
返しタイミングに応動した所定のタイミングによりサン
プリングする。サンプリングされた信号は、光パルスの
繰り返し回数分加算平均されて、その信号レベルに応じ
た損失特性が求められる。さらに、その処理結果は、た
とえば対数変換されて右下がりの損失波形が形成され
て、その波形がディスプレイなどの表示装置により表示
される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の技術では、光ファイバ内において散乱または反
射した異なる複数の波長の戻り光を測定する場合に、測
定したい波長の戻り光毎に光パルス入出力回路において
切り替えて検出して、それぞれの波長毎に測定しなけれ
ばならないので、測定したい複数の波長の戻り光をすべ
て測定するのに時間がかかり、またその切り替え操作な
どに手間がかかるという問題があった。そこで、たとえ
ば、戻り光をフィルタなどを介して複数の波長に分けて
出力し、複数の検出回路によりそれぞれ検出して、さら
に複数の信号処理回路により１度に信号処理することが
考えられる。しかし、この場合、光ファイバ内を進む光
の速度が波長によって異なるために、同時に検出した異
なる波長の戻り光では、その光ファイバ内での反射位
置、つまり、検出端からの距離が異なる信号を検出して
処理するので、その結果から得られるデータの正確な比
較が難しくなる場合があるという問題が生じてくる。
た従来の技術では、光ファイバ内において散乱または反
射した異なる複数の波長の戻り光を測定する場合に、測
定したい波長の戻り光毎に光パルス入出力回路において
切り替えて検出して、それぞれの波長毎に測定しなけれ
ばならないので、測定したい複数の波長の戻り光をすべ
て測定するのに時間がかかり、またその切り替え操作な
どに手間がかかるという問題があった。そこで、たとえ
ば、戻り光をフィルタなどを介して複数の波長に分けて
出力し、複数の検出回路によりそれぞれ検出して、さら
に複数の信号処理回路により１度に信号処理することが
考えられる。しかし、この場合、光ファイバ内を進む光
の速度が波長によって異なるために、同時に検出した異
なる波長の戻り光では、その光ファイバ内での反射位
置、つまり、検出端からの距離が異なる信号を検出して
処理するので、その結果から得られるデータの正確な比
較が難しくなる場合があるという問題が生じてくる。
【０００５】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
であり、複数の異なる波長の戻り光を迅速に、かつ的確
に検出して比較測定することができる光ファイバ測定装
置を提供することを目的とする。
であり、複数の異なる波長の戻り光を迅速に、かつ的確
に検出して比較測定することができる光ファイバ測定装
置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明による光ファイバ
測定装置は、上述した課題を解決するために、被測定対
象の光ファイバ１の一端部から所定の光パルスを入射
し、その戻り光の信号レベルを検出して光ファイバの特
性を測定する光ファイバ測定装置において、被測定対象
の光ファイバ１に入射する所定の光パルスを発生する光
パルス発生手段１０と、被測定対象の光ファイバの一端
部が接続されて、その光ファイバに光パルス発生手段か
らの光パルスを入射してその戻り光を検出する光パルス
入出力手段であって、光ファイバ内部において散乱また
は反射された複数の波長の戻り光をそれぞれ分波して出
力する光パルス入出力手段２０と、光パルス入出力手段
からのそれぞれの波長の光を電気信号に変換して増幅す
る複数の光−電気処理手段３０と、光−電気処理手段か
らのそれぞれの波長の信号をサンプリングして加算処理
し、それぞれの波長の特性を表わす波形を形成する複数
の信号処理手段４０と、信号処理手段にそれぞれの波長
の戻り光の速度に応じたサンプリングクロックを生成し
て供給する複数のクロック生成手段５０と、光パルス発
生手段１０に光パルスの発生タイミングを表わす第１の
タイミング信号Ｔ１を供給し、さらに信号処理手段４０
にそれぞれ加算処理のタイミングを表わす第２のタイミ
ング信号Ｔ２を供給するタイミング制御手段であって、
クロック生成手段５０から発生されるサンプリングクロ
ックの位相差に基づいて、それぞれのタイミング信号を
生成するタイミング制御手段６０とを含むことを特徴と
する。
測定装置は、上述した課題を解決するために、被測定対
象の光ファイバ１の一端部から所定の光パルスを入射
し、その戻り光の信号レベルを検出して光ファイバの特
性を測定する光ファイバ測定装置において、被測定対象
の光ファイバ１に入射する所定の光パルスを発生する光
パルス発生手段１０と、被測定対象の光ファイバの一端
部が接続されて、その光ファイバに光パルス発生手段か
らの光パルスを入射してその戻り光を検出する光パルス
入出力手段であって、光ファイバ内部において散乱また
は反射された複数の波長の戻り光をそれぞれ分波して出
力する光パルス入出力手段２０と、光パルス入出力手段
からのそれぞれの波長の光を電気信号に変換して増幅す
る複数の光−電気処理手段３０と、光−電気処理手段か
らのそれぞれの波長の信号をサンプリングして加算処理
し、それぞれの波長の特性を表わす波形を形成する複数
の信号処理手段４０と、信号処理手段にそれぞれの波長
の戻り光の速度に応じたサンプリングクロックを生成し
て供給する複数のクロック生成手段５０と、光パルス発
生手段１０に光パルスの発生タイミングを表わす第１の
タイミング信号Ｔ１を供給し、さらに信号処理手段４０
にそれぞれ加算処理のタイミングを表わす第２のタイミ
ング信号Ｔ２を供給するタイミング制御手段であって、
クロック生成手段５０から発生されるサンプリングクロ
ックの位相差に基づいて、それぞれのタイミング信号を
生成するタイミング制御手段６０とを含むことを特徴と
する。
【０００７】この場合、信号処理手段４０は、クロック
生成手段５０から供給されるサンプリングクロックに基
づいて光−電気処理手段３０からの戻り光の信号をアナ
ログ−デジタル変換してサンプリングするＡ−Ｄ変換手
段４１２と、Ａ−Ｄ変換手段からの信号をタイミング制
御手段６０からの第２のタイミング信号Ｔ２に基づいて
加算処理する加算処理手段４１４とを含み、クロック生
成手段５０は、Ａ−Ｄ変換手段４１２へのサンプリング
クロックがそれぞれの波長の信号に対してサンプル分解
能が同様な値になるようにそのサンプリング周波数が設
定され、タイミング制御手段６０は、クロック生成手段
５０からのサンプリングクロックの位相差が所定の範囲
内にある場合に加算処理手段４１４への第２のタイミン
グ信号を発生するとよい。
生成手段５０から供給されるサンプリングクロックに基
づいて光−電気処理手段３０からの戻り光の信号をアナ
ログ−デジタル変換してサンプリングするＡ−Ｄ変換手
段４１２と、Ａ−Ｄ変換手段からの信号をタイミング制
御手段６０からの第２のタイミング信号Ｔ２に基づいて
加算処理する加算処理手段４１４とを含み、クロック生
成手段５０は、Ａ−Ｄ変換手段４１２へのサンプリング
クロックがそれぞれの波長の信号に対してサンプル分解
能が同様な値になるようにそのサンプリング周波数が設
定され、タイミング制御手段６０は、クロック生成手段
５０からのサンプリングクロックの位相差が所定の範囲
内にある場合に加算処理手段４１４への第２のタイミン
グ信号を発生するとよい。
【０００８】有利には、タイミング制御手段６０は、ク
ロック生成手段５０から発生されるサンプリングクロッ
クの位相を比較する位相比較手段６０４と、位相比較手
段の比較結果と測定を開始する際の測定開始信号とに基
づいて第１および第２のタイミング信号を生成する際の
スタート信号を発生するスタート信号生成手段６０２
と、スタート信号生成手段からのスタート信号に従って
第１および第２のタイミング信号の生成を開始するタイ
ミング信号生成手段６０６とを含むとよい。
ロック生成手段５０から発生されるサンプリングクロッ
クの位相を比較する位相比較手段６０４と、位相比較手
段の比較結果と測定を開始する際の測定開始信号とに基
づいて第１および第２のタイミング信号を生成する際の
スタート信号を発生するスタート信号生成手段６０２
と、スタート信号生成手段からのスタート信号に従って
第１および第２のタイミング信号の生成を開始するタイ
ミング信号生成手段６０６とを含むとよい。
【０００９】また、信号処理手段４０は、クロック生成
手段５０から供給されるサンプリングクロックに基づい
て光−電気処理手段３０からの戻り光の信号をアナログ
−デジタル変換してサンプリングするＡ−Ｄ変換手段４
１２と、タイミング制御手段６０からの第２のタイミン
グ信号Ｔ２に基づいてＡ−Ｄ変換手段からの信号を加算
処理する加算処理手段４１４とを含み、クロック生成手
段５０は、Ａ−Ｄ変換手段４１２へのサンプリングクロ
ックがそれぞれの波長の信号に対して遅延量を変化自在
な遅延手段８０４〜８０ｎを介してＡ−Ｄ変換手段４１
２に供給し、その遅延手段の遅延量は、クロック生成手
段５０から発生されるサンプリングクロックの位相差に
基づいて算出されるとよい。
手段５０から供給されるサンプリングクロックに基づい
て光−電気処理手段３０からの戻り光の信号をアナログ
−デジタル変換してサンプリングするＡ−Ｄ変換手段４
１２と、タイミング制御手段６０からの第２のタイミン
グ信号Ｔ２に基づいてＡ−Ｄ変換手段からの信号を加算
処理する加算処理手段４１４とを含み、クロック生成手
段５０は、Ａ−Ｄ変換手段４１２へのサンプリングクロ
ックがそれぞれの波長の信号に対して遅延量を変化自在
な遅延手段８０４〜８０ｎを介してＡ−Ｄ変換手段４１
２に供給し、その遅延手段の遅延量は、クロック生成手
段５０から発生されるサンプリングクロックの位相差に
基づいて算出されるとよい。
【００１０】この場合、タイミング制御手段６０は、ク
ロック生成手段５０から発生されるサンプリングクロッ
クの位相を比較する位相比較手段６０４と、測定を開始
する際の測定開始信号を受けてタイミング信号を生成す
る際のスタート信号を発生するスタート信号生成手段６
０２と、スタート信号生成手段からのスタート信号とク
ロック生成手段のいずれかのクロックに基づいてタイミ
ング信号を生成するタイミング信号生成手段６０６と、
タイミング信号生成手段からのタイミング信号と位相比
較手段での比較結果とに基づいて遅延手段の遅延量を制
御する遅延制御手段６０８とを含むとよい。
ロック生成手段５０から発生されるサンプリングクロッ
クの位相を比較する位相比較手段６０４と、測定を開始
する際の測定開始信号を受けてタイミング信号を生成す
る際のスタート信号を発生するスタート信号生成手段６
０２と、スタート信号生成手段からのスタート信号とク
ロック生成手段のいずれかのクロックに基づいてタイミ
ング信号を生成するタイミング信号生成手段６０６と、
タイミング信号生成手段からのタイミング信号と位相比
較手段での比較結果とに基づいて遅延手段の遅延量を制
御する遅延制御手段６０８とを含むとよい。
【００１１】
【発明の実施の形態】次に、添付図面を参照して本発明
による光ファイバ測定装置の実施の形態を詳細に説明す
る。図１には、本発明による光ファイバ測定装置の一実
施形態が示されている。本実施形態による光ファイバ測
定装置は、被測定対象の光ファイバ１の一端部から入射
した所定の波長λ０の光パルスの戻り光をその一端部か
ら検出してその損失波形などを表わす光ファイバ１の特
性を測定する測定装置であり、本実施形態では、光ファ
イバ１の内部において後方散乱または反射した複数の異
なる波長の戻り光λ１〜λn を１度に検出して測定する
多波長対応の光ファイバ測定装置である。特に、本実施
形態では、複数の異なる波長の戻り光λ１〜λnをサン
プリングする際に、それぞれの戻り光λ１〜λn の波長
に応動した周波数のサンプリングクロックを発生する複
数のクロック発生器５０２〜５０n と、それぞれの波長
の戻り光の信号をサンプリングし、それらのサンプリン
グした戻り光の信号を加算平均する際に、発生したサン
プリングクロックの位相差に基づいて加算処理するタイ
ミングを制御するタイミング制御部６０とを含む点が主
な特徴点である。
による光ファイバ測定装置の実施の形態を詳細に説明す
る。図１には、本発明による光ファイバ測定装置の一実
施形態が示されている。本実施形態による光ファイバ測
定装置は、被測定対象の光ファイバ１の一端部から入射
した所定の波長λ０の光パルスの戻り光をその一端部か
ら検出してその損失波形などを表わす光ファイバ１の特
性を測定する測定装置であり、本実施形態では、光ファ
イバ１の内部において後方散乱または反射した複数の異
なる波長の戻り光λ１〜λn を１度に検出して測定する
多波長対応の光ファイバ測定装置である。特に、本実施
形態では、複数の異なる波長の戻り光λ１〜λnをサン
プリングする際に、それぞれの戻り光λ１〜λn の波長
に応動した周波数のサンプリングクロックを発生する複
数のクロック発生器５０２〜５０n と、それぞれの波長
の戻り光の信号をサンプリングし、それらのサンプリン
グした戻り光の信号を加算平均する際に、発生したサン
プリングクロックの位相差に基づいて加算処理するタイ
ミングを制御するタイミング制御部６０とを含む点が主
な特徴点である。
【００１２】より詳細には、本実施形態による光ファイ
バ測定装置は、図１に示すように、光源部１０と、光分
波部２０と、光−電気処理部３０と、信号処理部４０
と、クロック発生部５０と、タイミング制御部６０と、
表示処理部７０とを含む。光源部１０は、所定の波長λ
０の光パルスを発生するレーザおよびこれを駆動する駆
動回路を含む光パルス発生回路であり、本実施形態で
は、タイミング制御部６０からの第１のタイミング信号
Ｔ１に応動して光パルスを繰り返し発生する回路であ
る。光源部１０からの光パルスは、光分波部２０を介し
て光ファイバ１に供給される。
バ測定装置は、図１に示すように、光源部１０と、光分
波部２０と、光−電気処理部３０と、信号処理部４０
と、クロック発生部５０と、タイミング制御部６０と、
表示処理部７０とを含む。光源部１０は、所定の波長λ
０の光パルスを発生するレーザおよびこれを駆動する駆
動回路を含む光パルス発生回路であり、本実施形態で
は、タイミング制御部６０からの第１のタイミング信号
Ｔ１に応動して光パルスを繰り返し発生する回路であ
る。光源部１０からの光パルスは、光分波部２０を介し
て光ファイバ１に供給される。
【００１３】光分波部２０は、光源部１０からの光パル
スを被測定対象の光ファイバ１の一端部から入射して、
その一端部からの戻り光を検出する光パルス入出力回路
であり、本実施形態では、たとえば、光パルスを光ファ
イバに入出力する光方向性結合器と、その戻り光を複数
の波長λ１〜λｎに分波して出力する分光フィルタとを
含む。光分波部２０において検出したそれぞれの波長λ
１〜λｎの戻り光は、それぞれ光−電気処理部３０に供
給される。
スを被測定対象の光ファイバ１の一端部から入射して、
その一端部からの戻り光を検出する光パルス入出力回路
であり、本実施形態では、たとえば、光パルスを光ファ
イバに入出力する光方向性結合器と、その戻り光を複数
の波長λ１〜λｎに分波して出力する分光フィルタとを
含む。光分波部２０において検出したそれぞれの波長λ
１〜λｎの戻り光は、それぞれ光−電気処理部３０に供
給される。
【００１４】光−電気処理部３０は、光分波部２０から
の戻り光を電気信号に変換して所定の値に増幅する回路
であり、本実施形態では、検出した光を電気信号に変換
するフォトダイオードなどの受光器（Ｏ／Ｅ）３１２
と、その出力となる電気信号を増幅する増幅器（ＡＭ
Ｐ）３１４とをそれぞれ含む第１〜第ｎの処理回路３０
２〜３０n により構成されている。電気信号に変換され
て増幅された戻り光の信号は、それぞれ信号処理部４０
に供給される。
の戻り光を電気信号に変換して所定の値に増幅する回路
であり、本実施形態では、検出した光を電気信号に変換
するフォトダイオードなどの受光器（Ｏ／Ｅ）３１２
と、その出力となる電気信号を増幅する増幅器（ＡＭ
Ｐ）３１４とをそれぞれ含む第１〜第ｎの処理回路３０
２〜３０n により構成されている。電気信号に変換され
て増幅された戻り光の信号は、それぞれ信号処理部４０
に供給される。
【００１５】信号処理部４０は、光−電気処理部３０か
らのそれぞれの戻り光の信号により表わされる信号波形
を求める処理回路であり、本実施形態では、Ａ−Ｄ変換
器４１２と、加算処理回路４１４とをそれぞれ含む第１
〜第ｎの処理回路４０２〜４０n により構成されてい
る。Ａ−Ｄ変換器４１２は、光−電気処理部３０からの
戻り光の信号をそれぞれアナログ−デジタル変換する変
換回路であり、本実施形態では、それぞれの戻り光λ１
〜λn の波長に応動した周波数のサンプリングクロック
をクロック発生部５０から受けてそれぞれサンプリング
する。加算処理回路４１４は、Ａ−Ｄ変換器４１２によ
り変換した戻り光のデジタル信号を加算平均して出力す
る演算回路であり、本実施形態では、タイミング制御部
６０からの第２のタイミング信号Ｔ２に応動して演算処
理する。その演算結果は、表示処理部７０に順次供給さ
れる。
らのそれぞれの戻り光の信号により表わされる信号波形
を求める処理回路であり、本実施形態では、Ａ−Ｄ変換
器４１２と、加算処理回路４１４とをそれぞれ含む第１
〜第ｎの処理回路４０２〜４０n により構成されてい
る。Ａ−Ｄ変換器４１２は、光−電気処理部３０からの
戻り光の信号をそれぞれアナログ−デジタル変換する変
換回路であり、本実施形態では、それぞれの戻り光λ１
〜λn の波長に応動した周波数のサンプリングクロック
をクロック発生部５０から受けてそれぞれサンプリング
する。加算処理回路４１４は、Ａ−Ｄ変換器４１２によ
り変換した戻り光のデジタル信号を加算平均して出力す
る演算回路であり、本実施形態では、タイミング制御部
６０からの第２のタイミング信号Ｔ２に応動して演算処
理する。その演算結果は、表示処理部７０に順次供給さ
れる。
【００１６】クロック発生部５０は、上記の信号処理部
４０においてサンプリングする際の所定のサンプリング
クロックを生成する発振回路であり、本実施形態では、
戻り光の波長λ１〜λｎに応じたそれぞれの周波数のサ
ンプリングクロックを発生する第１〜第ｎの発振器５０
２〜５０ｎを含む。これら第１〜第ｎの発振器５０２〜
５０ｎからのサンプリングクロックは、それぞれ信号処
理部４０の対応の処理回路４０２〜４０ｎに供給され
る。
４０においてサンプリングする際の所定のサンプリング
クロックを生成する発振回路であり、本実施形態では、
戻り光の波長λ１〜λｎに応じたそれぞれの周波数のサ
ンプリングクロックを発生する第１〜第ｎの発振器５０
２〜５０ｎを含む。これら第１〜第ｎの発振器５０２〜
５０ｎからのサンプリングクロックは、それぞれ信号処
理部４０の対応の処理回路４０２〜４０ｎに供給され
る。
【００１７】一方、タイミング制御部６０は、光源部１
０および信号処理部４０に所定のタイミング信号を供給
してそのタイミング制御をする制御回路であり、本実施
形態では、同図に示すように、スタート信号生成回路６
０２と、位相比較回路６０４と、タイミング信号生成回
路６０６とを含む。スタート信号生成回路６０２は、図
示しないスタートボタンが押下された際に、これを検出
してタイミング信号を生成する際のスタート信号を生成
する信号生成回路であり、本実施形態では、スタートボ
タンの押下とともに位相比較部６０４からの比較結果に
基づいてスタート信号を生成する。生成されたスタート
信号は、タイミング信号生成回路６０６に供給される。
０および信号処理部４０に所定のタイミング信号を供給
してそのタイミング制御をする制御回路であり、本実施
形態では、同図に示すように、スタート信号生成回路６
０２と、位相比較回路６０４と、タイミング信号生成回
路６０６とを含む。スタート信号生成回路６０２は、図
示しないスタートボタンが押下された際に、これを検出
してタイミング信号を生成する際のスタート信号を生成
する信号生成回路であり、本実施形態では、スタートボ
タンの押下とともに位相比較部６０４からの比較結果に
基づいてスタート信号を生成する。生成されたスタート
信号は、タイミング信号生成回路６０６に供給される。
【００１８】位相比較回路６０４は、クロック発生部５
０のそれぞれの発振器５０２〜５０ｎからのサンプリン
グクロックの位相差を比較して、その結果を出力する回
路であり、本実施形態では、位相差が所定の範囲内にあ
る場合にその結果をスタート信号生成回路６０２に供給
する。タイミング信号生成回路６０６は、光源部１０へ
の第１のタイミング信号Ｔ１と信号処理部４０への第２
のタイミング信号Ｔ２をそれぞれ生成する信号生成回路
であり、本実施形態では、スタート信号生成回路６０２
からのスタート信号を受けてそれぞれのタイミング信号
Ｔ１，Ｔ２の生成を開始する。生成された第１のタイミ
ング信号Ｔ１は所定の間隔により光源部１０に供給さ
れ、第２のタイミング信号Ｔ２は、たとえば第１の発振
器５０２からのサンプリングクロックを基本とした間隔
により信号処理部４０のそれぞれの加算処理回路４０２
〜４０ｎに供給される。
０のそれぞれの発振器５０２〜５０ｎからのサンプリン
グクロックの位相差を比較して、その結果を出力する回
路であり、本実施形態では、位相差が所定の範囲内にあ
る場合にその結果をスタート信号生成回路６０２に供給
する。タイミング信号生成回路６０６は、光源部１０へ
の第１のタイミング信号Ｔ１と信号処理部４０への第２
のタイミング信号Ｔ２をそれぞれ生成する信号生成回路
であり、本実施形態では、スタート信号生成回路６０２
からのスタート信号を受けてそれぞれのタイミング信号
Ｔ１，Ｔ２の生成を開始する。生成された第１のタイミ
ング信号Ｔ１は所定の間隔により光源部１０に供給さ
れ、第２のタイミング信号Ｔ２は、たとえば第１の発振
器５０２からのサンプリングクロックを基本とした間隔
により信号処理部４０のそれぞれの加算処理回路４０２
〜４０ｎに供給される。
【００１９】他方、表示処理部７０は、信号処理部４０
からの戻り光の信号処理結果を所定の形式の信号波形と
して表示処理する処理回路であり、本実施形態では、波
形処理回路７０２と、表示部７０４とを含む。波形処理
回路７０２は、たとえば、平均化処理されて形成された
波形の信号レベルを対数変換する対数変換回路と、その
結果を記憶する記憶回路などを含み、本実施形態では、
対数変換した結果が光ファイバ１の損失特性に比例した
ほぼ右下がりの波形となって記憶回路に記憶されて、そ
れぞれの波長のデータとともに表示部７０４に供給され
る。表示部７０４は、たとえばＣＲＴ(cathode ray tub
e)などの表示装置を含み、その表示した測定波形をハー
ドコピー等により印刷する回路を含むとさらに有利であ
る。
からの戻り光の信号処理結果を所定の形式の信号波形と
して表示処理する処理回路であり、本実施形態では、波
形処理回路７０２と、表示部７０４とを含む。波形処理
回路７０２は、たとえば、平均化処理されて形成された
波形の信号レベルを対数変換する対数変換回路と、その
結果を記憶する記憶回路などを含み、本実施形態では、
対数変換した結果が光ファイバ１の損失特性に比例した
ほぼ右下がりの波形となって記憶回路に記憶されて、そ
れぞれの波長のデータとともに表示部７０４に供給され
る。表示部７０４は、たとえばＣＲＴ(cathode ray tub
e)などの表示装置を含み、その表示した測定波形をハー
ドコピー等により印刷する回路を含むとさらに有利であ
る。
【００２０】以上のような構成において、本実施形態に
よる光ファイバ測定装置の動作を説明すると、まず、電
源をオンとして、測定したい波長λ１〜λｎをそれぞれ
設定する。これにより、クロック発生部５０の設定した
波長に対応する所望の発振器５０２〜５０ｎがそれぞれ
起動して、それぞれの波長に応動した周波数のサンプリ
ングクロックが生成される。生成されたそれぞれのサン
プリングクロックは、信号処理部４０のそれぞれの処理
回路４０２〜４０ｎおよびタイミング制御部６０の位相
比較回路６０４にそれぞれ供給される。
よる光ファイバ測定装置の動作を説明すると、まず、電
源をオンとして、測定したい波長λ１〜λｎをそれぞれ
設定する。これにより、クロック発生部５０の設定した
波長に対応する所望の発振器５０２〜５０ｎがそれぞれ
起動して、それぞれの波長に応動した周波数のサンプリ
ングクロックが生成される。生成されたそれぞれのサン
プリングクロックは、信号処理部４０のそれぞれの処理
回路４０２〜４０ｎおよびタイミング制御部６０の位相
比較回路６０４にそれぞれ供給される。
【００２１】次に、クロック発生部５０からのサンプリ
ングクロックを受けた位相比較回路６０４では、それら
サンプリングクロックの位相差を比較してその比較結果
が所定の範囲内にあるか否かを求める。それぞれのクロ
ックの位相差が所定の範囲内にある場合にその結果をス
タート信号生成回路６０２に順次供給する。この状態に
おいて、スタートボタンが押下されると、これをタイミ
ング制御部６０のスタート信号生成回路６０２により検
出して、さらに位相比較回路６０４からの比較結果が所
定の範囲にあることを表わす場合に、スタート信号生成
回路６０２からタイミング生成回路６０６にスタート信
号が供給される。
ングクロックを受けた位相比較回路６０４では、それら
サンプリングクロックの位相差を比較してその比較結果
が所定の範囲内にあるか否かを求める。それぞれのクロ
ックの位相差が所定の範囲内にある場合にその結果をス
タート信号生成回路６０２に順次供給する。この状態に
おいて、スタートボタンが押下されると、これをタイミ
ング制御部６０のスタート信号生成回路６０２により検
出して、さらに位相比較回路６０４からの比較結果が所
定の範囲にあることを表わす場合に、スタート信号生成
回路６０２からタイミング生成回路６０６にスタート信
号が供給される。
【００２２】次に、スタート信号を受けたタイミング信
号生成回路６０６では、まず、第１のタイミング信号Ｔ
1 を所定の間隔にて生成して光源部１０に順次供給す
る。これにより、光源部１０では、その駆動回路により
第１のタイミング信号Ｔ１を受けると、そのタイミング
信号Ｔ１に応動してレーザに駆動信号を供給する。この
結果、レーザから所定の波長λ０の光パルスが所定の間
隔にて繰り返し発生される。
号生成回路６０６では、まず、第１のタイミング信号Ｔ
1 を所定の間隔にて生成して光源部１０に順次供給す
る。これにより、光源部１０では、その駆動回路により
第１のタイミング信号Ｔ１を受けると、そのタイミング
信号Ｔ１に応動してレーザに駆動信号を供給する。この
結果、レーザから所定の波長λ０の光パルスが所定の間
隔にて繰り返し発生される。
【００２３】次に、光源部１０からの所定の波長の光パ
ルスは、光分波部２０を介して光ファイバ１の一端部か
ら入射されて、コアの屈折率の不均一分布などによりそ
の一部が後方散乱して、または接続部位あるいは劣化部
位などにより反射して複数の異なる波長λ１〜λｎの光
として入射端に戻ってくる。入射端に戻った光は、光分
波部２０を介してそれぞれの波長λ１〜λｎの戻り光に
分波されて、光−電気処理部３０のそれぞれの処理回路
３０２〜３０ｎに供給される。次に、光−電気処理部３
０のそれぞれの処理回路３０２〜３０ｎでは、その受光
器３１２により受光した戻り光を、その検出光の強度に
応じた電気信号に変換して出力する。その結果の信号
は、増幅器３１４により増幅されて信号処理部４０の対
応の処理回路４０２〜４０ｎにそれぞれ供給される。
ルスは、光分波部２０を介して光ファイバ１の一端部か
ら入射されて、コアの屈折率の不均一分布などによりそ
の一部が後方散乱して、または接続部位あるいは劣化部
位などにより反射して複数の異なる波長λ１〜λｎの光
として入射端に戻ってくる。入射端に戻った光は、光分
波部２０を介してそれぞれの波長λ１〜λｎの戻り光に
分波されて、光−電気処理部３０のそれぞれの処理回路
３０２〜３０ｎに供給される。次に、光−電気処理部３
０のそれぞれの処理回路３０２〜３０ｎでは、その受光
器３１２により受光した戻り光を、その検出光の強度に
応じた電気信号に変換して出力する。その結果の信号
は、増幅器３１４により増幅されて信号処理部４０の対
応の処理回路４０２〜４０ｎにそれぞれ供給される。
【００２４】次に、信号処理部４０では、増幅器からの
検出信号をＡ−Ｄ変換回路４１２においてそれぞれクロ
ック発生部５０からのサンプリングクロックに応動して
サンプリングして、その結果を加算処理回路４１４に供
給する。その際、タイミング制御部６０のタイミング信
号生成回路６０６では、第２のタイミング信号Ｔ２を生
成して信号処理部４０のそれぞれの処理回路４０２〜４
０ｎにおける加算処理回路４１４に供給する。これによ
り、サンプリングされた戻り光の信号を受けた加算処理
回路４１４では、それらを加算平均して戻り光の強度に
応じた所定の波形から光ファイバ１の距離に応じた損失
特性のデータを生成する。
検出信号をＡ−Ｄ変換回路４１２においてそれぞれクロ
ック発生部５０からのサンプリングクロックに応動して
サンプリングして、その結果を加算処理回路４１４に供
給する。その際、タイミング制御部６０のタイミング信
号生成回路６０６では、第２のタイミング信号Ｔ２を生
成して信号処理部４０のそれぞれの処理回路４０２〜４
０ｎにおける加算処理回路４１４に供給する。これによ
り、サンプリングされた戻り光の信号を受けた加算処理
回路４１４では、それらを加算平均して戻り光の強度に
応じた所定の波形から光ファイバ１の距離に応じた損失
特性のデータを生成する。
【００２５】次に、生成された測定波形のデータは、そ
れぞれ表示処理部７０の対数変換回路７０２において対
数変換されて、たとえば図２に示すような右下がりの測
定波形が得られる。平均化処理され、対数変換された測
定波形のデータは、順次記憶回路に蓄積されて、表示部
７０４に供給されて所望の測定波形が表示される。
れぞれ表示処理部７０の対数変換回路７０２において対
数変換されて、たとえば図２に示すような右下がりの測
定波形が得られる。平均化処理され、対数変換された測
定波形のデータは、順次記憶回路に蓄積されて、表示部
７０４に供給されて所望の測定波形が表示される。
【００２６】以上のように本実施形態の光ファイバ測定
装置によれば、複数の異なる波長λ１〜λｎの戻り光を
信号処理する際に、それぞれの波長の周波数に応動した
サンプリングクロックによりサンプリングし、そのサン
プリングクロックの位相差が所定の範囲内にある場合に
加算処理して、それぞれの異なる波長λ１〜λｎの戻り
光による信号波形を求めるので、それぞれ加算したｎ番
目のデータは、サンプル分解能が他の波長と同一の値と
なって同じ距離の情報として求めることができる。した
がって、それらの測定波形の対応のサンプリングポイン
トを比較する場合に簡単かつ明確に比較することができ
る。たとえば、図２において、波長λ１とλ２の波形で
は、それぞれＸｍ毎のサンプリングポイントがそれぞれ
のサンプリング周波数ｆ１，ｆ２の逆数のｎ倍となって
表わされて、それらの位置の信号レベルを比較すること
により、それぞれの波長λ１，λｎの光ファイバ内での
伝搬状態を測定することができる。
装置によれば、複数の異なる波長λ１〜λｎの戻り光を
信号処理する際に、それぞれの波長の周波数に応動した
サンプリングクロックによりサンプリングし、そのサン
プリングクロックの位相差が所定の範囲内にある場合に
加算処理して、それぞれの異なる波長λ１〜λｎの戻り
光による信号波形を求めるので、それぞれ加算したｎ番
目のデータは、サンプル分解能が他の波長と同一の値と
なって同じ距離の情報として求めることができる。した
がって、それらの測定波形の対応のサンプリングポイン
トを比較する場合に簡単かつ明確に比較することができ
る。たとえば、図２において、波長λ１とλ２の波形で
は、それぞれＸｍ毎のサンプリングポイントがそれぞれ
のサンプリング周波数ｆ１，ｆ２の逆数のｎ倍となって
表わされて、それらの位置の信号レベルを比較すること
により、それぞれの波長λ１，λｎの光ファイバ内での
伝搬状態を測定することができる。
【００２７】さらに、本実施形態における効果を明確に
するため、図４には光ファイバ測定装置の比較例が示さ
れ、図５にはその結果の測定波形が示されている。図４
において上記実施形態と異なる点は、クロック発生部５
０が単一の発振器５５０により構成されている点と、そ
のサンプリングクロックに基づいてタイミング制御部６
０のタイミング信号生成回路６５０から共通のタイミン
グ信号が信号処理部４０の加算処理回路４１４に供給さ
れている点である。その結果、図５に示す測定波形から
明らかなように、サンプリング周波数ｆの逆数で表され
るそれぞれのサンプリングポイントでは、波長λ１の波
形がＸｍ毎の値となり、これに対応する波長λ２の波形
が（Ｘ＋ａ）ｍ毎の値となって表わされる。そのため、
光ファイバ上での距離が長くなればなるほどａｍ毎の誤
差が生じて、それらを単純に比較することができなくな
る。本実施形態では、それぞれのサンプリングポイント
が光ファイバ内の同一距離での値となって表わされ、そ
れらを的確に比較することができる。
するため、図４には光ファイバ測定装置の比較例が示さ
れ、図５にはその結果の測定波形が示されている。図４
において上記実施形態と異なる点は、クロック発生部５
０が単一の発振器５５０により構成されている点と、そ
のサンプリングクロックに基づいてタイミング制御部６
０のタイミング信号生成回路６５０から共通のタイミン
グ信号が信号処理部４０の加算処理回路４１４に供給さ
れている点である。その結果、図５に示す測定波形から
明らかなように、サンプリング周波数ｆの逆数で表され
るそれぞれのサンプリングポイントでは、波長λ１の波
形がＸｍ毎の値となり、これに対応する波長λ２の波形
が（Ｘ＋ａ）ｍ毎の値となって表わされる。そのため、
光ファイバ上での距離が長くなればなるほどａｍ毎の誤
差が生じて、それらを単純に比較することができなくな
る。本実施形態では、それぞれのサンプリングポイント
が光ファイバ内の同一距離での値となって表わされ、そ
れらを的確に比較することができる。
【００２８】次に、図３には、本発明による光ファイバ
測定装置の他の実施形態が示されている。本実施形態に
おいて、上記実施形態と異なる点は、クロック生成部５
０の第１の発振器５０２を除く第２〜第ｎの発振器５０
４〜５０ｎからのサンプリングクロックがそれぞれ遅延
回路８０４〜８０ｎを介して信号処理部４０のそれぞれ
の処理回路４０４〜４０ｎに供給される点と、それらの
遅延量を制御する遅延制御回路６０８がタイミング制御
部６０に設けられている点である。
測定装置の他の実施形態が示されている。本実施形態に
おいて、上記実施形態と異なる点は、クロック生成部５
０の第１の発振器５０２を除く第２〜第ｎの発振器５０
４〜５０ｎからのサンプリングクロックがそれぞれ遅延
回路８０４〜８０ｎを介して信号処理部４０のそれぞれ
の処理回路４０４〜４０ｎに供給される点と、それらの
遅延量を制御する遅延制御回路６０８がタイミング制御
部６０に設けられている点である。
【００２９】すなわち、本実施形態において、タイミン
グ制御部６０は、上記実施形態と同様に、スタート信号
生成回路６０２と、位相比較回路６０４と、タイミング
信号生成回路６０６とを含み、さらに、遅延制御回路６
０８を有している。本実施形態におけるスタート信号生
成回路６０２は、スタートボタンの押下を検出してその
結果のスタート信号をタイミング信号生成回路６０６お
よび位相比較回路６０４にそれぞれ供給する。位相比較
回路６０４は、スタート信号生成回路６０２からのスタ
ート信号を受けてサンプリングクロックの位相を比較す
る。その比較結果が所定の範囲内にある場合に、その結
果を遅延制御回路６０８に供給する。
グ制御部６０は、上記実施形態と同様に、スタート信号
生成回路６０２と、位相比較回路６０４と、タイミング
信号生成回路６０６とを含み、さらに、遅延制御回路６
０８を有している。本実施形態におけるスタート信号生
成回路６０２は、スタートボタンの押下を検出してその
結果のスタート信号をタイミング信号生成回路６０６お
よび位相比較回路６０４にそれぞれ供給する。位相比較
回路６０４は、スタート信号生成回路６０２からのスタ
ート信号を受けてサンプリングクロックの位相を比較す
る。その比較結果が所定の範囲内にある場合に、その結
果を遅延制御回路６０８に供給する。
【００３０】一方、タイミング信号生成回路６０６は、
スタート信号生成回路６０２からのスタート信号を受け
て第１のタイミング信号Ｔ１を光源部１０に供給し、さ
らに第２のタイミング信号Ｔ２をクロック発生部５０の
第１の発振器５０２からのサンプリングクロックに基づ
いて生成して、これらを信号処理部４０のそれぞれの加
算処理回路４１４および遅延制御回路６０８にそれぞれ
供給する。遅延制御回路６０８は、位相比較回路６０４
からの比較結果とタイミング信号生成回路６０６からの
第２のタイミング信号Ｔ２に基づいて遅延回路８０４〜
８０ｎの遅延量を求めて、それらを遅延回路８０４〜８
０ｎに設定する。
スタート信号生成回路６０２からのスタート信号を受け
て第１のタイミング信号Ｔ１を光源部１０に供給し、さ
らに第２のタイミング信号Ｔ２をクロック発生部５０の
第１の発振器５０２からのサンプリングクロックに基づ
いて生成して、これらを信号処理部４０のそれぞれの加
算処理回路４１４および遅延制御回路６０８にそれぞれ
供給する。遅延制御回路６０８は、位相比較回路６０４
からの比較結果とタイミング信号生成回路６０６からの
第２のタイミング信号Ｔ２に基づいて遅延回路８０４〜
８０ｎの遅延量を求めて、それらを遅延回路８０４〜８
０ｎに設定する。
【００３１】以上のように本実施形態の光ファイバ測定
装置によれば、複数の異なる波長λ１〜λｎの戻り光を
信号処理する際に、クロック生成部５０のそれぞれの発
振器５０２〜５０ｎからのサンプリングクロックの位相
差と、タイミング信号生成回路６０６から信号処理回路
４０のそれぞれの加算処理回路４１４への第２のタイミ
ング信号Ｔ２の発生までの遅延分とを遅延制御回路６０
８により求めて、それぞれの遅延回路８０４〜８０ｎに
求めた遅延量を設定して、それぞれの戻り光の波長に応
じた測定波形を求めるので、上記実施形態における図２
に示す波形と同様のものを得ることができる。したがっ
て、上記実施形態と同様に、それぞれ加算したｎ番目の
データはサンプル分解能が他の波長と同一の値となって
同じ距離の情報として求めることができ、それらの測定
波形の対応のサンプリングポイントを比較する場合に簡
単かつ明確に比較することができる。
装置によれば、複数の異なる波長λ１〜λｎの戻り光を
信号処理する際に、クロック生成部５０のそれぞれの発
振器５０２〜５０ｎからのサンプリングクロックの位相
差と、タイミング信号生成回路６０６から信号処理回路
４０のそれぞれの加算処理回路４１４への第２のタイミ
ング信号Ｔ２の発生までの遅延分とを遅延制御回路６０
８により求めて、それぞれの遅延回路８０４〜８０ｎに
求めた遅延量を設定して、それぞれの戻り光の波長に応
じた測定波形を求めるので、上記実施形態における図２
に示す波形と同様のものを得ることができる。したがっ
て、上記実施形態と同様に、それぞれ加算したｎ番目の
データはサンプル分解能が他の波長と同一の値となって
同じ距離の情報として求めることができ、それらの測定
波形の対応のサンプリングポイントを比較する場合に簡
単かつ明確に比較することができる。
【００３２】以上本発明による光ファイバ測定装置の一
実施形態について説明したが、本発明による光ファイバ
測定装置は上記実施形態に限定されるものではなく、特
許請求の範囲に記載された本発明の要旨を逸脱しない範
囲の変更および改変はもちろん本発明に含まれる。
実施形態について説明したが、本発明による光ファイバ
測定装置は上記実施形態に限定されるものではなく、特
許請求の範囲に記載された本発明の要旨を逸脱しない範
囲の変更および改変はもちろん本発明に含まれる。
【００３３】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の光ファイ
バ測定装置によれば、被測定対象の光ファイバの一端部
から所定の光パルスを入射し、その戻り光の信号レベル
を検出して光ファイバの特性を測定する光ファイバ測定
装置において、被測定対象の光ファイバに入射する所定
の光パルスを発生する光パルス発生手段と、被測定対象
の光ファイバの一端部が接続されて、その光ファイバに
光パルス発生手段からの光パルスを入射してその戻り光
を検出する光パルス入出力手段であって、光ファイバ内
部において散乱または反射された複数の波長の戻り光を
それぞれ分波して出力する光パルス入出力手段と、光パ
ルス入出力手段からのそれぞれの波長の光を電気信号に
変換して増幅する複数の光−電気処理手段と、光−電気
処理手段からのそれぞれの波長の信号をサンプリングし
て加算処理し、それぞれの波長の特性を表わす波形を形
成する複数の信号処理手段と、信号処理手段にそれぞれ
の波長の戻り光の速度に応じたサンプリングクロックを
生成して供給する複数のクロック生成手段と、光パルス
発生手段に光パルスの発生タイミングを表わす第１のタ
イミング信号を供給し、さらに信号処理手段にそれぞれ
加算処理のタイミングを表わす第２のタイミング信号を
供給するタイミング制御手段であって、クロック生成手
段から発生されるサンプリングクロックの位相差に基づ
いて、それぞれのタイミング信号を生成するタイミング
制御手段とを含むので、複数の異なる波長の戻り光を短
時間に測定することができ、さらにそれらの測定波形を
的確に比較することができる。
バ測定装置によれば、被測定対象の光ファイバの一端部
から所定の光パルスを入射し、その戻り光の信号レベル
を検出して光ファイバの特性を測定する光ファイバ測定
装置において、被測定対象の光ファイバに入射する所定
の光パルスを発生する光パルス発生手段と、被測定対象
の光ファイバの一端部が接続されて、その光ファイバに
光パルス発生手段からの光パルスを入射してその戻り光
を検出する光パルス入出力手段であって、光ファイバ内
部において散乱または反射された複数の波長の戻り光を
それぞれ分波して出力する光パルス入出力手段と、光パ
ルス入出力手段からのそれぞれの波長の光を電気信号に
変換して増幅する複数の光−電気処理手段と、光−電気
処理手段からのそれぞれの波長の信号をサンプリングし
て加算処理し、それぞれの波長の特性を表わす波形を形
成する複数の信号処理手段と、信号処理手段にそれぞれ
の波長の戻り光の速度に応じたサンプリングクロックを
生成して供給する複数のクロック生成手段と、光パルス
発生手段に光パルスの発生タイミングを表わす第１のタ
イミング信号を供給し、さらに信号処理手段にそれぞれ
加算処理のタイミングを表わす第２のタイミング信号を
供給するタイミング制御手段であって、クロック生成手
段から発生されるサンプリングクロックの位相差に基づ
いて、それぞれのタイミング信号を生成するタイミング
制御手段とを含むので、複数の異なる波長の戻り光を短
時間に測定することができ、さらにそれらの測定波形を
的確に比較することができる。
【００３４】本発明の請求項２に係る光ファイバ測定装
置によれば、信号処理手段は、クロック生成手段から供
給されるサンプリングクロックに基づいて光−電気処理
手段からの信号をアナログ−デジタル変換してサンプリ
ングするＡ−Ｄ変換手段と、Ａ−Ｄ変換手段からの信号
をタイミング制御手段からの第２のタイミング信号に基
づいて加算処理する加算処理手段とを含み、クロック生
成手段は、Ａ−Ｄ変換手段へのサンプリングクロックが
それぞれの波長の信号に対してサンプル分解能が同様な
値になるようにそのサンプリング周波数が設定され、タ
イミング制御手段は、クロック生成手段からのサンプリ
ングクロックの位相差が所定の範囲内にある場合に加算
処理手段への第２のタイミング信号を発生するので、サ
ンプリングして加算処理した結果のそれぞれの波長の戻
り光の測定波形において、それぞれ同一サンプリングポ
イントのデータが光ファイバの同一距離のデータとして
求めることができるとともに、それらを簡単かつ明確に
比較することができる。
置によれば、信号処理手段は、クロック生成手段から供
給されるサンプリングクロックに基づいて光−電気処理
手段からの信号をアナログ−デジタル変換してサンプリ
ングするＡ−Ｄ変換手段と、Ａ−Ｄ変換手段からの信号
をタイミング制御手段からの第２のタイミング信号に基
づいて加算処理する加算処理手段とを含み、クロック生
成手段は、Ａ−Ｄ変換手段へのサンプリングクロックが
それぞれの波長の信号に対してサンプル分解能が同様な
値になるようにそのサンプリング周波数が設定され、タ
イミング制御手段は、クロック生成手段からのサンプリ
ングクロックの位相差が所定の範囲内にある場合に加算
処理手段への第２のタイミング信号を発生するので、サ
ンプリングして加算処理した結果のそれぞれの波長の戻
り光の測定波形において、それぞれ同一サンプリングポ
イントのデータが光ファイバの同一距離のデータとして
求めることができるとともに、それらを簡単かつ明確に
比較することができる。
【００３５】本発明の請求項３に係る光ファイバ測定装
置によれば、タイミング制御手段は、クロック生成手段
から発生されるサンプリングクロックの位相を比較する
位相比較手段と、位相比較手段の比較結果と測定を開始
する際の測定開始信号とに基づいて第１および第２のタ
イミング信号を生成する際のスタート信号を発生するス
タート信号生成手段と、スタート信号生成手段からのス
タート信号に従って第１および第２のタイミング信号の
生成を開始するタイミング信号生成手段とを含むので、
スタートボタンの押下により複数の戻り光の測定を簡単
かつ的確に実行して、同一サンプリングポイントでの同
一距離のデータを含む測定波形を有利に得ることができ
る。
置によれば、タイミング制御手段は、クロック生成手段
から発生されるサンプリングクロックの位相を比較する
位相比較手段と、位相比較手段の比較結果と測定を開始
する際の測定開始信号とに基づいて第１および第２のタ
イミング信号を生成する際のスタート信号を発生するス
タート信号生成手段と、スタート信号生成手段からのス
タート信号に従って第１および第２のタイミング信号の
生成を開始するタイミング信号生成手段とを含むので、
スタートボタンの押下により複数の戻り光の測定を簡単
かつ的確に実行して、同一サンプリングポイントでの同
一距離のデータを含む測定波形を有利に得ることができ
る。
【００３６】本発明の請求項４に係る光ファイバ測定装
置によれば、信号処理手段は、クロック生成手段から供
給されるサンプリングクロックに基づいて光−電気処理
手段からの信号をアナログ−デジタル変換してサンプリ
ングするＡ−Ｄ変換手段と、タイミング制御手段からの
第２のタイミング信号に基づいてＡ−Ｄ変換手段からの
信号を加算処理する加算処理手段とを含み、クロック生
成手段は、Ａ−Ｄ変換手段へのサンプリングクロックが
それぞれの波長の信号に対して遅延量を変化自在な遅延
手段を介してＡ−Ｄ変換手段に供給し、その遅延手段の
遅延量は、クロック生成手段から発生されるサンプリン
グクロックの位相差に基づいて算出されるので、サンプ
リングして加算処理した結果のそれぞれの波長の戻り光
の測定波形において、それぞれ同一サンプリングポイン
トのデータが光ファイバの同一距離のデータとして求め
ることができ、さらに、それらを簡単かつ明確に比較す
ることができる。
置によれば、信号処理手段は、クロック生成手段から供
給されるサンプリングクロックに基づいて光−電気処理
手段からの信号をアナログ−デジタル変換してサンプリ
ングするＡ−Ｄ変換手段と、タイミング制御手段からの
第２のタイミング信号に基づいてＡ−Ｄ変換手段からの
信号を加算処理する加算処理手段とを含み、クロック生
成手段は、Ａ−Ｄ変換手段へのサンプリングクロックが
それぞれの波長の信号に対して遅延量を変化自在な遅延
手段を介してＡ−Ｄ変換手段に供給し、その遅延手段の
遅延量は、クロック生成手段から発生されるサンプリン
グクロックの位相差に基づいて算出されるので、サンプ
リングして加算処理した結果のそれぞれの波長の戻り光
の測定波形において、それぞれ同一サンプリングポイン
トのデータが光ファイバの同一距離のデータとして求め
ることができ、さらに、それらを簡単かつ明確に比較す
ることができる。
【００３７】本発明の請求項５に係る光ファイバ測定装
置によれば、クロック生成手段から発生されるサンプリ
ングクロックの位相を比較する位相比較手段と、位相比
較手段の比較結果と測定を開始する際の測定開始信号と
に基づいて第１および第２のタイミング信号を生成する
際のスタート信号を発生するスタート信号生成手段と、
スタート信号生成手段からのスタート信号に従って第１
および第２のタイミング信号の生成を開始するタイミン
グ信号生成手段とを含むので、スタートボタンの押下に
より複数の戻り光の測定を簡単かつ的確に実行して、同
一サンプリングポイントでの同一距離のデータを含む測
定波形を有利に得ることができる。
置によれば、クロック生成手段から発生されるサンプリ
ングクロックの位相を比較する位相比較手段と、位相比
較手段の比較結果と測定を開始する際の測定開始信号と
に基づいて第１および第２のタイミング信号を生成する
際のスタート信号を発生するスタート信号生成手段と、
スタート信号生成手段からのスタート信号に従って第１
および第２のタイミング信号の生成を開始するタイミン
グ信号生成手段とを含むので、スタートボタンの押下に
より複数の戻り光の測定を簡単かつ的確に実行して、同
一サンプリングポイントでの同一距離のデータを含む測
定波形を有利に得ることができる。
【図１】本発明による光ファイバ測定装置の一実施形態
を示す機能ブロック図である。
を示す機能ブロック図である。
【図２】図１の実施形態により得られる複数の異なる波
長の測定波形の一例を示す波形図である。
長の測定波形の一例を示す波形図である。
【図３】本発明による光ファイバ測定装置の他の実施形
態を示す機能ブロック図である。
態を示す機能ブロック図である。
【図４】光ファイバ測定装置の比較例を示す機能ブロッ
ク図である。
ク図である。
【図５】図４の比較例により得られた複数の異なる波長
の測定波形の一例を示す波形図である。
の測定波形の一例を示す波形図である。
１０ 光源部（光パルス発生手段）
２０ 光分波部
３０ 光−電気変換部
４０ 信号処理部
５０ クロック生成部
６０ タイミング制御部
７０ 表示処理部
６０４ 位相比較回路
６０８ 遅延制御回路
８０４〜８０ｎ 遅延回路
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 平田 克己
東京都大田区蒲田五丁目29番３号 安藤電
気株式会社内
Ｆターム(参考） 2G086 CC02 CC03 CC04 KK01 KK02
Claims (5)
- 【請求項１】 被測定対象の光ファイバの一端部から所
定の光パルスを入射し、その戻り光の信号レベルを検出
して光ファイバの特性を測定する光ファイバ測定装置に
おいて、 被測定対象の光ファイバに入射する所定の光パルスを発
生する光パルス発生手段と、 被測定対象の光ファイバの一端部が接続されて、該光フ
ァイバに前記光パルス発生手段からの光パルスを入射し
てその戻り光を検出する光パルス入出力手段であって、
光ファイバ内部において散乱または反射された複数の波
長の戻り光をそれぞれ分波して出力する光パルス入出力
手段と、 該光パルス入出力手段からのそれぞれの波長の光を電気
信号に変換して増幅する複数の光−電気処理手段と、 該光−電気処理手段からのそれぞれの波長の信号をサン
プリングして加算処理し、それぞれの波長の特性を表わ
す波形を形成する複数の信号処理手段と、 該信号処理手段にそれぞれの波長の戻り光の速度に応じ
たサンプリングクロックを生成して供給する複数のクロ
ック生成手段と、 前記光パルス発生手段に光パルスの発生タイミングを表
わす第１のタイミング信号を供給し、さらに前記信号処
理手段にそれぞれ加算処理のタイミングを表わす第２の
タイミング信号を供給するタイミング制御手段であっ
て、前記クロック生成手段から発生されるサンプリング
クロックの位相差に基づいてそれぞれのタイミング信号
を生成するタイミング制御手段とを含むことを特徴とす
る光ファイバ測定装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の光ファイバ測定装置に
おいて、前記信号処理手段は、前記クロック生成手段か
ら供給されるサンプリングクロックに基づいて前記光−
電気処理手段からの信号をアナログ−デジタル変換して
サンプリングするＡ−Ｄ変換手段と、該Ａ−Ｄ変換手段
からの信号を前記タイミング制御手段からの第２のタイ
ミング信号に基づいて加算処理する加算処理手段とを含
み、前記クロック生成手段は、前記Ａ−Ｄ変換手段への
サンプリングクロックがそれぞれの波長の信号に対して
サンプル分解能が同様な値になるようにそのサンプリン
グ周波数が設定され、前記タイミング制御手段は、前記
クロック生成手段からのサンプリングクロックの位相差
が所定の範囲内にある場合に前記加算処理手段への第２
のタイミング信号を発生することを特徴とする光ファイ
バ測定装置。 - 【請求項３】 請求項２に記載の光ファイバ測定装置に
おいて、前記タイミング制御手段は、前記クロック生成
手段から発生されるサンプリングクロックの位相を比較
する位相比較手段と、該位相比較手段の比較結果と測定
を開始する際の測定開始信号とに基づいて第１および第
２のタイミング信号を生成する際のスタート信号を発生
するスタート信号生成手段と、該スタート信号生成手段
からのスタート信号に従って第１および第２のタイミン
グ信号の生成を開始するタイミング信号生成手段とを含
むことを特徴とする光ファイバ測定装置。 - 【請求項４】 請求項１に記載の光ファイバ測定装置に
おいて、前記信号処理手段は、前記クロック生成手段か
ら供給されるサンプリングクロックに基づいて前記光−
電気処理手段からの信号をアナログ−デジタル変換して
サンプリングするＡ−Ｄ変換手段と、前記タイミング制
御手段からの第２のタイミング信号に基づいて前記Ａ−
Ｄ変換手段からの信号を加算処理する加算処理手段とを
含み、前記クロック生成手段は、前記Ａ−Ｄ変換手段へ
のサンプリングクロックがそれぞれの波長の信号に対し
て遅延量を変化自在な遅延手段を介して前記Ａ−Ｄ変換
手段に供給し、該遅延手段の遅延量は、前記クロック生
成手段から発生されるサンプリングクロックの位相差に
基づいて算出されることを特徴とする光ファイバ測定装
置。 - 【請求項５】 請求項４に記載の光ファイバ測定装置に
おいて、前記タイミング制御手段は、前記クロック生成
手段から発生されるサンプリングクロックの位相を比較
する位相比較手段と、測定を開始する際の測定開始信号
を受けてタイミング信号を生成する際のスタート信号を
発生するスタート信号生成手段と、該スタート信号生成
手段からのスタート信号と前記クロック生成手段のいず
れかのクロックに基づいてタイミング信号を生成するタ
イミング信号生成手段と、該タイミング信号生成手段か
らのタイミング信号と前記位相比較手段での比較結果と
に基づいて前記遅延手段の遅延量を制御する遅延制御手
段とを含むことを特徴とする光ファイバ測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001236922A JP2003050181A (ja) | 2001-08-03 | 2001-08-03 | 光ファイバ測定装置 |
| US10/211,760 US6839130B2 (en) | 2001-08-03 | 2002-08-02 | Optical fiber measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001236922A JP2003050181A (ja) | 2001-08-03 | 2001-08-03 | 光ファイバ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003050181A true JP2003050181A (ja) | 2003-02-21 |
| JP2003050181A5 JP2003050181A5 (ja) | 2005-09-15 |
Family
ID=19068099
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001236922A Withdrawn JP2003050181A (ja) | 2001-08-03 | 2001-08-03 | 光ファイバ測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6839130B2 (ja) |
| JP (1) | JP2003050181A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003254858A (ja) * | 2002-02-28 | 2003-09-10 | Kyushu Ando Denki Kk | 光パルス試験器 |
| WO2023075008A1 (ko) * | 2021-10-29 | 2023-05-04 | 한국광기술원 | 노이즈 저감형 광섬유 음향 분포센서 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7613402B2 (en) * | 2003-12-08 | 2009-11-03 | Alcatel-Lucent Usa Inc. | Duobinary receiver |
| US7643761B2 (en) | 2004-02-19 | 2010-01-05 | Alcatel-Lucent Usa Inc. | Method and apparatus for processing optical duobinary signals |
| US7330669B2 (en) * | 2004-04-20 | 2008-02-12 | Lucent Technologies Inc. | Optical heterodyne receiver based on oversampling |
| CN102507143A (zh) * | 2011-09-30 | 2012-06-20 | 清华大学 | 波片位相延迟量测量方法及光胶盘 |
| CN108375861B (zh) * | 2018-04-14 | 2020-01-03 | 上海交通大学 | 可实现智能信号处理的高速高精度光模数转换装置和方法 |
| CN111555801A (zh) * | 2020-04-28 | 2020-08-18 | 昂纳信息技术（深圳）有限公司 | 一种用于光时域反射仪的光信号采样装置及其方法和光时域反射仪 |
| US11650128B2 (en) * | 2020-06-30 | 2023-05-16 | Exfo Inc. | Optical fiber recognition using backscattering pattern |
| US11879802B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-23 | Exfo Inc. | Testing optical fiber link continuity using OTDR backscattering patterns |
| JP7320022B2 (ja) * | 2021-04-22 | 2023-08-02 | 横河電機株式会社 | 光パルス試験器 |
| JP2022167095A (ja) * | 2021-04-22 | 2022-11-04 | 横河電機株式会社 | 光パルス試験器 |
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|---|---|---|---|---|
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| JP2909159B2 (ja) * | 1990-07-10 | 1999-06-23 | アンリツ株式会社 | 平滑化処理方法および平滑化処理による雑音除去装置およびそれを用いる光パルス試験装置 |
| JP2968421B2 (ja) * | 1992-09-29 | 1999-10-25 | アンリツ株式会社 | 光パルス試験器 |
| JPH07113723A (ja) * | 1993-10-13 | 1995-05-02 | Ando Electric Co Ltd | Ｏｔｄｒの光マスキング装置 |
-
2001
- 2001-08-03 JP JP2001236922A patent/JP2003050181A/ja not_active Withdrawn
-
2002
- 2002-08-02 US US10/211,760 patent/US6839130B2/en not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6839130B2 (en) | 2005-01-04 |
| US20030025900A1 (en) | 2003-02-06 |
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