JP2009264929A - モードホップ検出システム - Google Patents
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Abstract
【課題】単一モードで発振する外部発振器型波長可変光源の波長可変時に発生する可能性があるモードホップを容易に検出できるモードホップ検出システムを提供する。
【解決手段】モードホップ検出システムは、波長可変光源からの出力光の一部が入力され、入力された光を2分岐して出力する光分岐素子と、光分岐素子で分岐された一方の出力光が伝播する第1光路と、第1光路よりも長い光路長を有し、光分岐素子で分岐された他方の出力光が伝播する第2光路と、第1光路及び前記第2光路からの光を合波して出力する光合波素子と、光合波素子からの出力光が入力され、これを電気信号に変換して出力する受光素子と、受光素子から出力される電気信号を処理する受光処理回路と、を備える。
受光素子は、波長可変光源による波長可変動作時にビート信号を出力する。そして、受光処理回路は、ビート信号にモードホップに起因する高周波成分が含まれるか否かを検出する。
【選択図】図1
【解決手段】モードホップ検出システムは、波長可変光源からの出力光の一部が入力され、入力された光を2分岐して出力する光分岐素子と、光分岐素子で分岐された一方の出力光が伝播する第1光路と、第1光路よりも長い光路長を有し、光分岐素子で分岐された他方の出力光が伝播する第2光路と、第1光路及び前記第2光路からの光を合波して出力する光合波素子と、光合波素子からの出力光が入力され、これを電気信号に変換して出力する受光素子と、受光素子から出力される電気信号を処理する受光処理回路と、を備える。
受光素子は、波長可変光源による波長可変動作時にビート信号を出力する。そして、受光処理回路は、ビート信号にモードホップに起因する高周波成分が含まれるか否かを検出する。
【選択図】図1
Description
本発明は、光計測技術分野で使用される単一モード発振する外部共振器型波長可変光源の不連続な波長跳び(モードホップ)を検出するシステムに関する。
従来、波長可変光源は、高密度波長多重方式(D−WDM:Dense Wavelength Division Multiplexing)に使用される光学部品の波長特性を評価するのに使用されている。
一般に、波長可変光源の波長確度をよくするために、波長可変光源には波長モニタ(光波長計)と呼ばれるシステムが搭載され、波長測定が要求された時点で、波長モニタからの信号を測定、演算処理して波長値を出力する構成となっている。
一般に、波長可変光源の波長確度をよくするために、波長可変光源には波長モニタ(光波長計)と呼ばれるシステムが搭載され、波長測定が要求された時点で、波長モニタからの信号を測定、演算処理して波長値を出力する構成となっている。
このような波長モニタに関する技術として、例えば、特許文献1〜4がある。
特許文献1に記載の光波長計は、第1と第2の偏光を備えた光のπ/4の位相推移に対応するλ/8の遅延を生じさせる「高速軸」と「低速軸」を備えた遅延板(複屈折部品)を使用し、遅延板を通過したビームを偏光ビームスプリッタで分岐して、π/2位相差のある周期的な2つの干渉信号を取得する。そして、この干渉信号から波長値を演算により求める。特許文献2に記載の波長変化測定器も特許文献1に記載の波長モニタと同様に、π/2位相差のある周期的な2つの干渉信号により、波長値を演算するものである。
特許文献1に記載の光波長計は、第1と第2の偏光を備えた光のπ/4の位相推移に対応するλ/8の遅延を生じさせる「高速軸」と「低速軸」を備えた遅延板(複屈折部品)を使用し、遅延板を通過したビームを偏光ビームスプリッタで分岐して、π/2位相差のある周期的な2つの干渉信号を取得する。そして、この干渉信号から波長値を演算により求める。特許文献2に記載の波長変化測定器も特許文献1に記載の波長モニタと同様に、π/2位相差のある周期的な2つの干渉信号により、波長値を演算するものである。
特許文献3に記載の波長モニタは、レーザ光源からの入射光を光フィルタ(干渉光フィルタ)に入射し、この光フィルタを透過した光と反射した光を夫々第1、第2受光素子で受光する。そして、その出力比を加算器13と減算器14及び割算器15によって算出して、この出力比に基づいてレーザ光源の波長を算出する。
また、特許文献4には、特許文献1、2と同様に干渉光の強度変化を常時測定することによりモードホップを検出できるモードホップ検出装置が開示されている。
特開平10−339668号公報
特開2000−234959号公報
特開平10−253452号公報
特開平10−065265号公報
また、特許文献4には、特許文献1、2と同様に干渉光の強度変化を常時測定することによりモードホップを検出できるモードホップ検出装置が開示されている。
ところで、波長可変光源を使用して、D−WDMに使用される光学部品の波長特性を安定して正確に測定するためには、波長可変動作(波長掃引)時にモードホップ(不連続な波長跳び)が発生しないことが望ましい。しかしながら、実際には、数pmの確度が必要とされる波長可変光源(例えば、光周波数が1550nm帯の波長可変光源)において、数10pmのモードホップが発生することがある。
特許文献1〜4に記載の波長モニタを使用したシステムでは、波長可変光源においてモードホップが発生した場合、演算処理によりモードホップ分を波長補正するか、再度測定し直すこととなる。
しかしながら、特許文献1〜4に記載の波長モニタでは、モードホップが発生しているか否かを容易に確認することができない。つまり、モードホップの発生を検出しようとすると、波長可変時の波長を随時測定しておく必要があるため、波長測定点が増大してしまう。そして、膨大な測定データを演算して、ソフト的にモードホップの有無を検出するため、データ処理により演算処理部にかかる負担が増大する。
しかしながら、特許文献1〜4に記載の波長モニタでは、モードホップが発生しているか否かを容易に確認することができない。つまり、モードホップの発生を検出しようとすると、波長可変時の波長を随時測定しておく必要があるため、波長測定点が増大してしまう。そして、膨大な測定データを演算して、ソフト的にモードホップの有無を検出するため、データ処理により演算処理部にかかる負担が増大する。
本発明は、単一モードで発振する外部発振器型波長可変光源の波長可変時に発生する可能性があるモードホップを容易に検出できるモードホップ検出システムを提供することを目的とする。
上記目的を達成するため、請求項1に記載の発明は、
波長可変光源からの出力光の一部が入力され、入力された光を2分岐して出力する光分岐素子と、
前記光分岐素子で分岐された一方の出力光が伝播する第1光路と、
前記第1光路よりも長い光路長を有し、前記光分岐素子で分岐された他方の出力光が伝播する第2光路と、
前記第1光路及び前記第2光路からの光を合波して出力する光合波素子と、
前記光合波素子からの出力光が入力され、これを電気信号に変換して出力する受光素子と、
前記受光素子から出力される電気信号を処理する受光処理回路と、を備え、
前記受光素子は、前記波長可変光源による波長可変動作時にビート信号を出力し、
前記受光処理回路は、前記ビート信号にモードホップに起因する高周波成分が含まれるか否かを検出することを特徴とするモードホップ検出システムである。
波長可変光源からの出力光の一部が入力され、入力された光を2分岐して出力する光分岐素子と、
前記光分岐素子で分岐された一方の出力光が伝播する第1光路と、
前記第1光路よりも長い光路長を有し、前記光分岐素子で分岐された他方の出力光が伝播する第2光路と、
前記第1光路及び前記第2光路からの光を合波して出力する光合波素子と、
前記光合波素子からの出力光が入力され、これを電気信号に変換して出力する受光素子と、
前記受光素子から出力される電気信号を処理する受光処理回路と、を備え、
前記受光素子は、前記波長可変光源による波長可変動作時にビート信号を出力し、
前記受光処理回路は、前記ビート信号にモードホップに起因する高周波成分が含まれるか否かを検出することを特徴とするモードホップ検出システムである。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載のモードホップ検出システムにおいて、
前記受光処理回路は、
前記受光素子から出力されるビート信号を増幅する増幅部と、
前記増幅部からの出力の特定周波数(遮断周波数)以上の高周波成分だけを通過させるハイパスフィルタと、
前記ハイパスフィルタからの出力を検波する検波部と、
前記検波部からの出力をラッチするラッチ部と、を備えて構成されることを特徴とする。
前記受光処理回路は、
前記受光素子から出力されるビート信号を増幅する増幅部と、
前記増幅部からの出力の特定周波数(遮断周波数)以上の高周波成分だけを通過させるハイパスフィルタと、
前記ハイパスフィルタからの出力を検波する検波部と、
前記検波部からの出力をラッチするラッチ部と、を備えて構成されることを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、請求項1に記載のモードホップ検出システムにおいて、
前記受光処理回路は、
前記受光素子から出力されるビート信号を増幅する増幅部と、
前記増幅部からの出力を遅延する遅延部と、
前記増幅部からの出力と、前記遅延部からの出力の位相を比較する位相比較器と、
前記位相比較器からの出力(比較結果)をラッチするラッチ部と、を備えて構成されることを特徴とする。
前記受光処理回路は、
前記受光素子から出力されるビート信号を増幅する増幅部と、
前記増幅部からの出力を遅延する遅延部と、
前記増幅部からの出力と、前記遅延部からの出力の位相を比較する位相比較器と、
前記位相比較器からの出力(比較結果)をラッチするラッチ部と、を備えて構成されることを特徴とする。
本発明によれば、単一モードで発振する外部発振器型波長可変光源の波長可変時に発生する可能性があるモードホップを容易に検出することができる。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。
図1は、本発明に係るモードホップ検出システム10の概略構成図である。
図1において、モードホップ検出システム10によるモードホップの検出対象となる波長可変光源7は、例えば、単一モードで発振する外部共振器型波長可変光源であり、1550nm帯の光を出射するものとする。
また、波長可変光源7の外部共振器長を40mm、波長可変時の掃引速度を100nm/秒とする。この場合、縦モード間隔(=モードホップによる波長跳び)は波長で約30pmであり、光周波数では約3.75GHzに相当する。
図1において、モードホップ検出システム10によるモードホップの検出対象となる波長可変光源7は、例えば、単一モードで発振する外部共振器型波長可変光源であり、1550nm帯の光を出射するものとする。
また、波長可変光源7の外部共振器長を40mm、波長可変時の掃引速度を100nm/秒とする。この場合、縦モード間隔(=モードホップによる波長跳び)は波長で約30pmであり、光周波数では約3.75GHzに相当する。
図1に示すように、モードホップ検出システム10は、受光処理回路1、受光素子2、光分岐素子3、短ファイバ4、遅延ファイバ5、光合波素子6、を備えて構成される。
光分岐素子3は、波長可変光源7からの出力光の一部が入力され、入力された光を2つに分岐する光カプラである。
短ファイバ4は、光分岐素子3で分岐された一方の出力光が伝播する第1光路である。
遅延ファイバ5は、短ファイバ4よりも長い光路長を有し、光分岐素子3で分岐された他方の出力光が伝播する第2光路である。
光分岐素子3は、波長可変光源7からの出力光の一部が入力され、入力された光を2つに分岐する光カプラである。
短ファイバ4は、光分岐素子3で分岐された一方の出力光が伝播する第1光路である。
遅延ファイバ5は、短ファイバ4よりも長い光路長を有し、光分岐素子3で分岐された他方の出力光が伝播する第2光路である。
ここで、遅延ファイバ5の光路長と短ファイバ4の光路長の差分だけ、遅延ファイバ5を伝播する光は遅延されることとなる。光ファイバ中を光が伝播する時間τは、τ=nL/c(n:屈折率、L:ファイバ長、c:光速)で表されるので、遅延ファイバ5の光路長を1km(短ファイバ4の光路長は1kmに対して無視できる長さ)とすると、光が伝播する時間(遅延時間)τは約5μ秒となる。
光合波素子6は、短ファイバ4及び遅延ファイバ5を伝播した光を合波して受光素子2に出力する光カプラである。このとき、遅延ファイバ5を伝播する光は、短ファイバ4を伝播する光に遅延して光合波素子6に入力されることとなる。
受光素子2は、光合波素子6により合波された光を受光し、これを電気信号に変換する。例えば、高速フォトダイオードで構成される。
受光処理回路1は、受光素子2からの出力信号を増幅/波形処理し、ステータス信号を出力する。このステータス信号は出力装置(図示略)に入力され、出力装置はモードホップが検出されたことをユーザに報知する。受光処理回路1の詳細な構成については後述する。
受光素子2は、光合波素子6により合波された光を受光し、これを電気信号に変換する。例えば、高速フォトダイオードで構成される。
受光処理回路1は、受光素子2からの出力信号を増幅/波形処理し、ステータス信号を出力する。このステータス信号は出力装置(図示略)に入力され、出力装置はモードホップが検出されたことをユーザに報知する。受光処理回路1の詳細な構成については後述する。
上述した構成を有するモードホップ検出システム10において、波長可変光源7からの出力光の一部は、モードホップ検出システム10の入力ファイバに入力され、光分岐素子3で2つに分岐される。
そして、2分岐された一方の光は、遅延ファイバ5を伝播して遅延された後、光合波素子6に入力される。2分岐された他方の光は、短ファイバ4を伝播して光合波素子6に入力される。
遅延ファイバ5を伝播した光と、短ファイバ4を伝播した光は光合波素子6で合波され、光合波素子6の出力側に接続された受光素子2によって出力される。
そして、2分岐された一方の光は、遅延ファイバ5を伝播して遅延された後、光合波素子6に入力される。2分岐された他方の光は、短ファイバ4を伝播して光合波素子6に入力される。
遅延ファイバ5を伝播した光と、短ファイバ4を伝播した光は光合波素子6で合波され、光合波素子6の出力側に接続された受光素子2によって出力される。
このとき、波長可変光源7により波長可変動作が行われていると、短ファイバ4及び遅延ファイバ5を伝播して光合波素子6に同時に到達する2つの光の周波数はわずかにずれるので、合波された光は差周波数に等しい光のうなり(光ビート)を生じる。したがって、波長可変光源7により波長可変動作が行われると、受光素子2からは干渉ビート信号が電気信号として出力される。
図2は、受光素子6で受光される2つの光の波長変化を経時的に示す説明図である。
図2において、符号Aは短ファイバ4を伝播して入力された光の波長で、符号Bは遅延ファイバ5を伝播して入力された光の波長である。
図2に示すように、遅延ファイバ5の光路長を1kmとすると、遅延ファイバ5を伝播した光の遅延時間は約5μ秒となる。
そして、波長可変光源7において100nm/秒の掃引速度で波長可変しているので、遅延ファイバ5を伝播して光合波素子6に入力した光と、短ファイバ4を伝播して光合波素子に入力した光の波長差は、100nm/秒×5μ秒の0.5pmとなる(図2のタイミングt1)。これは、光周波数では62.5MHzに相当する。
したがって、波長可変光源7においてモードホップが発生しなければ、受光素子2からは62.5MHzのビート信号が出力されることとなる。
図2において、符号Aは短ファイバ4を伝播して入力された光の波長で、符号Bは遅延ファイバ5を伝播して入力された光の波長である。
図2に示すように、遅延ファイバ5の光路長を1kmとすると、遅延ファイバ5を伝播した光の遅延時間は約5μ秒となる。
そして、波長可変光源7において100nm/秒の掃引速度で波長可変しているので、遅延ファイバ5を伝播して光合波素子6に入力した光と、短ファイバ4を伝播して光合波素子に入力した光の波長差は、100nm/秒×5μ秒の0.5pmとなる(図2のタイミングt1)。これは、光周波数では62.5MHzに相当する。
したがって、波長可変光源7においてモードホップが発生しなければ、受光素子2からは62.5MHzのビート信号が出力されることとなる。
一方、波長可変光源7においてモードホップが発生すると、受光素子2から出力されたビート信号にはモードホップに起因する高周波成分が現れる。
このビート信号に現れる高周波成分の周波数は、波長可変光源7の共振器長により決定される。本実施形態の場合、モードホップが発生すると縦モード間隔30pmが瞬時に変化する(図2のタイミングt2)ので、遅延ファイバ5を伝播して光合波素子6に入力した光と、短ファイバ4を伝播して光合波素子に入力した光の波長差は30pmとなる(元々の波長差0.5pmは無視している)。これは、光周波数では約3.75GHzに相当する。
したがって、1kmの遅延ファイバ5を光が伝播する約5μ秒の時間(遅延時間)だけ、約3.75GHzのビート信号が出力されることとなる。
このビート信号に現れる高周波成分の周波数は、波長可変光源7の共振器長により決定される。本実施形態の場合、モードホップが発生すると縦モード間隔30pmが瞬時に変化する(図2のタイミングt2)ので、遅延ファイバ5を伝播して光合波素子6に入力した光と、短ファイバ4を伝播して光合波素子に入力した光の波長差は30pmとなる(元々の波長差0.5pmは無視している)。これは、光周波数では約3.75GHzに相当する。
したがって、1kmの遅延ファイバ5を光が伝播する約5μ秒の時間(遅延時間)だけ、約3.75GHzのビート信号が出力されることとなる。
受光処理回路1により、ビート信号に現れる高周波成分(本実施形態の場合、約3.75GHz)を検出することで、波長可変光源7で発生するモードホップを容易に検出することができる。
(第1実施形態)
図3は、第1実施形態に係る受光処理回路1の概略構成を示すブロック図である。
また、図4〜7は、受光素子2において図2に示す光が受光されたときに、受光処理回路1を構成する各ブロックから出力される信号波形を示す説明図である。
図3に示すように、第1実施形態の受光処理回路1は、増幅部101、ハイパスフィルタ(HPF)102、検波部103、ラッチ部104、及びリセット部105、を備えて構成される。
図3は、第1実施形態に係る受光処理回路1の概略構成を示すブロック図である。
また、図4〜7は、受光素子2において図2に示す光が受光されたときに、受光処理回路1を構成する各ブロックから出力される信号波形を示す説明図である。
図3に示すように、第1実施形態の受光処理回路1は、増幅部101、ハイパスフィルタ(HPF)102、検波部103、ラッチ部104、及びリセット部105、を備えて構成される。
増幅部101は、受光素子2から出力されたビート信号を増幅する。増幅部101からの出力信号の波形は、図4に示すものとなる。なお、増幅部101に入力される信号の波形も図4に示す波形と同等であり、振幅が異なるだけである。
図4に示すように、増幅部101から出力されるビート信号は、波長固定時は波長差がないのでDC成分のみとなり、波長可変中はモードホップ発生点(タイミングt2)までビート周波数が約62.5MHzのビート信号となる。その後、遅延時間(約5μ秒)に相当する時間はビート周波数が約3.75GHzとなり、遅延時間を経過するとビート周波数は約62.5MHzに戻る。なお、波長可変光源7においてモードホップが発生しなければ、掃引時間を通じて約62.5MHzのビート信号となる。
図4に示すように、増幅部101から出力されるビート信号は、波長固定時は波長差がないのでDC成分のみとなり、波長可変中はモードホップ発生点(タイミングt2)までビート周波数が約62.5MHzのビート信号となる。その後、遅延時間(約5μ秒)に相当する時間はビート周波数が約3.75GHzとなり、遅延時間を経過するとビート周波数は約62.5MHzに戻る。なお、波長可変光源7においてモードホップが発生しなければ、掃引時間を通じて約62.5MHzのビート信号となる。
ハイパスフィルタ102は、例えば、百MHz程度以下のビート信号のみを通過出力させない回路であり、2桁程度の周波数の異なるビート信号(約62.5MHzと約3.75GHzのビート信号)の内、約3.75GHzの信号のみを通過出力させる。つまり、ビート信号から特定周波数(遮断周波数)以上の高周波成分だけを抽出して通過させる。
ハイパスフィルタ102に図4に示すビート信号が入力されると、図5に示すように、約3.75GHzの高周波成分のみが抽出されたビート信号(HPF出力信号)が出力される。
ハイパスフィルタ102に図4に示すビート信号が入力されると、図5に示すように、約3.75GHzの高周波成分のみが抽出されたビート信号(HPF出力信号)が出力される。
検波部103は、約3.75GHzのビート信号を波形処理して遅延時間に相当する約5μ秒幅の矩形信号を出力する。
検波部103に図5に示すHPF出力信号が入力されると、図6に示すような矩形信号が出力される。
検波部103に図5に示すHPF出力信号が入力されると、図6に示すような矩形信号が出力される。
ラッチ部104は、波長可変開始前にリセットされ、検波部103から出力された矩形信号の発生に従い、出力状態(ステータス信号)をLowからHighに変化させたまま保持する。このステータス信号は出力装置に出力される。
ラッチ部104に図6に示す検波出力信号が入力されると、図7に示すようなステータス信号が出力される。
ラッチ部104に図6に示す検波出力信号が入力されると、図7に示すようなステータス信号が出力される。
波長可変光源7で発生するモードホップは、瞬時的な変化であるため直接の検出は極めて困難であるが、第1実施形態によれば、簡単なシステム構成で波長可変後にラッチ部104の出力レベルを確認すればモードホップが発生したか否かを検出できる。例えば、図示しない出力装置において、ラッチ部104からのステータス信号に基づいて、出力レベルがHighのときにLEDを点灯させる等すれば、ユーザはモードホップの発生を認識できる。
(第2実施形態)
図8は、第2実施形態に係る受光処理回路1の概略構成を示すブロック図である。
図8に示すように、第2実施形態の受光処理回路1は、増幅部111、遅延部112、位相比較器113、ラッチ部114、及びリセット部115、を備えて構成される。
(第2実施形態)
図8は、第2実施形態に係る受光処理回路1の概略構成を示すブロック図である。
図8に示すように、第2実施形態の受光処理回路1は、増幅部111、遅延部112、位相比較器113、ラッチ部114、及びリセット部115、を備えて構成される。
増幅部111は、受光素子2から出力されたビート信号を増幅する。増幅部111からの出力(ビート信号)は分岐され、それぞれ遅延部112、位相比較器113に入力される。
遅延部112は、増幅部111から出力されたビート信号を所定時間だけ遅延する。
位相比較器113は、増幅部111から直接入力されるビート信号と、遅延部112で所定時間遅延されて入力されるビート信号の位相差を比較する。そして、2つのビート信号の位相差が、例えばπ/2となる場合に信号の出力レベルをHighとする。
ラッチ部114は、波長可変開始前にリセットされ、位相比較器113から出力された出力レベルに従い、出力状態(ステータス信号)をLowからHighに変化させたまま保持する。このステータス信号は出力装置に出力される。
遅延部112は、増幅部111から出力されたビート信号を所定時間だけ遅延する。
位相比較器113は、増幅部111から直接入力されるビート信号と、遅延部112で所定時間遅延されて入力されるビート信号の位相差を比較する。そして、2つのビート信号の位相差が、例えばπ/2となる場合に信号の出力レベルをHighとする。
ラッチ部114は、波長可変開始前にリセットされ、位相比較器113から出力された出力レベルに従い、出力状態(ステータス信号)をLowからHighに変化させたまま保持する。このステータス信号は出力装置に出力される。
本実施形態では、モードホップが発生すると、遅延ファイバ5による遅延時間(約5μ秒)に相当する時間だけビート周波数が約3.75GHzのビート信号となる。そこで、遅延部112において遅延される時間を0.07n秒程度に設定すれば、位相比較器113に入力される2つのビート信号の位相差はπ/2程度となる。
そうすると、位相比較器113からは、約3.75GHzのビート信号が入力されたときに、Highレベルの信号が出力される。一方、約62.5MHzのビート信号が入力されているときは、位相差はほぼない(π/2とならない)ので、Lowレベルの信号が出力されることになる。
そうすると、位相比較器113からは、約3.75GHzのビート信号が入力されたときに、Highレベルの信号が出力される。一方、約62.5MHzのビート信号が入力されているときは、位相差はほぼない(π/2とならない)ので、Lowレベルの信号が出力されることになる。
このように、第2実施形態では、モードホップが発生したときにだけ位相比較器113からの出力レベルがHighになり、ラッチ部114ではこのときに出力状態をHighとしたまま保持するので、簡単なシステム構成で波長可変後にラッチ部114の出力レベルを確認すればモードホップが発生したか否かを検出できる。
第1,第2実施形態に係るモードホップ検出システム10によれば、従来の波長モニタのように波長を随時測定してデータ処理することなく簡単にモードホップを検出できる。したがって、波長可変光源にモードホップ検出システム10が搭載されていれば、波長掃引が正常に掃引されたかをエラー信号として出力できる。また、波長可変光源の製造調整時に使用すれば、モードホップ発生の確認が容易になり、波長可変光源の調整工程の低減が可能になる。
以上、本発明者によってなされた発明を実施形態に基づいて具体的に説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で変更可能である。
例えば、上記実施形態では、外部共振器長が40mmの外部共振器型波長可変光源7を使用した場合について説明したが、外部共振器型波長可変光源7の外部共振器長に応じて、適宜設定を変更することで、上記実施形態と同様にモードホップを検出することは可能である。
例えば、上記実施形態では、外部共振器長が40mmの外部共振器型波長可変光源7を使用した場合について説明したが、外部共振器型波長可変光源7の外部共振器長に応じて、適宜設定を変更することで、上記実施形態と同様にモードホップを検出することは可能である。
一般に、外部共振器型波長可変光源7は、数10mmの外部共振器長を有していることが多い。例えば、外部共振器長が30mmの波長可変光源7の場合、縦モード間隔は波長で約40pmであり、光周波数で約5GHzに相当する。すなわち、このような波長可変光源7においてモードホップが発生すると、受光素子から出力されるビート信号には、約5GHzの高周波成分が現れることになる。
この場合、受光処理回路1において、ビート信号に含まれる約5GHzの高周波成分を検出できる構成とすればよい。例えば、第1実施形態においてはハイパスフィルタの遮断周波数の設定が変更される。また、第2実施形態においては、遅延部112における遅延時間の設定が変更される。
この場合、受光処理回路1において、ビート信号に含まれる約5GHzの高周波成分を検出できる構成とすればよい。例えば、第1実施形態においてはハイパスフィルタの遮断周波数の設定が変更される。また、第2実施形態においては、遅延部112における遅延時間の設定が変更される。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
1 受光処理回路
2 受光素子
3 光分岐素子
4 短ファイバ(第1光路)
5 遅延ファイバ(第2光路)
6 光合波素子
7 波長可変光源
10 モードホップ検出システム
2 受光素子
3 光分岐素子
4 短ファイバ(第1光路)
5 遅延ファイバ(第2光路)
6 光合波素子
7 波長可変光源
10 モードホップ検出システム
Claims (3)
- 波長可変光源からの出力光の一部が入力され、入力された光を2分岐して出力する光分岐素子と、
前記光分岐素子で分岐された一方の出力光が伝播する第1光路と、
前記第1光路よりも長い光路長を有し、前記光分岐素子で分岐された他方の出力光が伝播する第2光路と、
前記第1光路及び前記第2光路からの光を合波して出力する光合波素子と、
前記光合波素子からの出力光が入力され、これを電気信号に変換して出力する受光素子と、
前記受光素子から出力される電気信号を処理する受光処理回路と、を備え、
前記受光素子は、前記波長可変光源による波長可変動作時にビート信号を出力し、
前記受光処理回路は、前記ビート信号にモードホップに起因する高周波成分が含まれるか否かを検出することを特徴とするモードホップ検出システム。 - 前記受光処理回路は、
前記受光素子から出力されるビート信号を増幅する増幅部と、
前記増幅部からの出力の特定周波数以上の高周波成分だけを通過させるハイパスフィルタと、
前記ハイパスフィルタからの出力を検波する検波部と、
前記検波部からの出力をラッチするラッチ部と、
を備えて構成されることを特徴とする請求項1に記載のモードホップ検出システム。 - 前記受光処理回路は、
前記受光素子から出力されるビート信号を増幅する増幅部と、
前記増幅部からの出力を遅延する遅延部と、
前記増幅部からの出力と、前記遅延部からの出力の位相を比較する位相比較器と、
前記位相比較器からの出力をラッチするラッチ部と、
を備えて構成されることを特徴とする請求項1に記載のモードホップ検出システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008114955A JP2009264929A (ja) | 2008-04-25 | 2008-04-25 | モードホップ検出システム |
Applications Claiming Priority (1)
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ID=41390962
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
2008
- 2008-04-25 JP JP2008114955A patent/JP2009264929A/ja active Pending
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