JP2003037783A - 撮像装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 画素欠陥補償のための欠陥データ検出によっ
て生じるタイムラグの発生に伴う問題点を生じることな
く、経時的な画素欠陥増加による画質劣化を事実上生じ
ない高性能な撮像装置を提供すること。 【解決手段】 複数の画素を有する撮像素子と、前記撮
像素子に被写体の光学像を入力する撮像光学系１１と、
前記複数の画素における欠陥画素のアドレスを検出する
欠陥データ検出手段４０と、前記撮像素子による前記被
写体像の撮像を実行する撮像制御手段４０と、撮像の実
行が可能な撮像モードと撮像の実行を許可しない非撮像
モードとを選択的に設定するモード制御手段４０とを備
え、前記欠陥データ検出手段が、前記モード制御手段に
よる前記撮像モードから前記非撮像モードへの切り替え
時に、欠陥データを検出する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は撮像装置、特に画素
欠陥補償機能を有した撮像装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】ビデオカメラなどの撮像装置は従来より
広く利用されている。近年静止画を撮像記録する電子ス
チルカメラも特にデジタルカメラとして普及するに至
り、動画記録用であったビデオムービーにおいても静止
画撮影記録機能を有するようになってきた。そして静止
画撮影に際して使用される長時間露光は撮像素子におけ
る電荷蓄積時間を長くすることによって露光時間を長く
し、これによって低照度下でもストロボなどの補助照明
を使用することなく撮影できるようにする技術として知
られている。

【０００３】一方撮像素子においてはいわゆる暗電流の
存在などによる暗出力が存在し、これが画像信号に重畳
されるため、画質劣化をきたす要因になる。この暗出力
レベルが大きい画素が存在する場合は「画素欠陥」と称
され、その画素の出力情報は用いずに、その近隣の画素
の出力情報を用いて情報を補完することが広く実用され
ている。本明細書においてはこのような補完処理を「画
素欠陥の補償」と称する。画素欠陥の検出には、使用フ
レームレートにおける動画駆動を前提に決められる所定
の（例えばＮＴＳＣでは１／６０秒の、あるいはこれに
基づいて所定のマージンを見た例えば４倍マージンだと
１／１５秒の）標準露光時間で暗出力を評価し、そのレ
ベルが大きい画素については欠陥画素とみなすことによ
り検出が行われ、その画素欠陥に対して前記画素欠陥補
償が適用される。

【０００４】また、画素欠陥は温度依存性を有し、更に
経時変化を伴うことから欠陥画素の評価を工場出荷前に
行うだけでは不十分である。この点を考慮して改善をは
かった技術も特開平０６−０３８１１３号公報に記載さ
れており、電源オン直後にアイリスを閉じることで受光
面を遮光し、カメラの使用に先立ってＣＣＤ暗出力を評
価することで欠陥画素を検出して、画素欠陥を補償して
いる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上記のようなカメラの
使用に先立って欠陥画素を検出する方法では、カメラの
電源をオンにするたびに欠陥画素を検出することにな
る。このように、電源をオンにする都度欠陥画素を検出
して欠陥補償を行うことは、カメラの操作上の欠点とな
る場合がある。欠陥画素の検出は、例えば次のように行
われる。アイリスやメカシャッタなどを動作させて遮光
を行い、その後撮像動作（電荷蓄積、転送、信号読み出
し）をさせ、これをデータ解析して求めた欠陥画素アド
レスデータをメモリに書き込むという一連のシーケンス
を実行する。このため、欠陥画素の検出には、或る一定
の時間（例えば数１００ｍｓ〜数ｓ）を要し、欠陥がそ
の検出が終了するまでカメラの使用者は待っている必要
があるから、なぜ撮影可能状態になるのに多くの時間が
かかるのか理解ができず、例えば故障と判断するなど混
乱を生ずるおそれがある。また仮に表示機能に工夫を施
し誤解を避け得たとしても、撮影可能になるまでの間に
撮影の好機を逸するおそれが高い。この問題は、特に一
般に速写性の要求が高い静止画カメラにおいて一層深刻
なものとなることは言うまでも無い。

【０００６】画素欠陥の温度特性については、例えばカ
メラに温度センサを内蔵しカメラ出荷時に各温度毎の欠
陥データを記憶しておくなどの公知の他の手法を用いる
ことで、上記のようなタイムラグを要する方式を回避す
ることも可能である。これに対して、撮像素子の画素欠
陥の製品出荷後の経時劣化に対して欠陥補償を適用する
ためにはカメラ自身による欠陥検出が避け難いことは言
うまでも無い。

【０００７】しかしながら、経時変化による欠陥画素の
発生は短時間の間に激増することは通常考えられず、例
えば宇宙線や自然放射能の影響によって、例えば或る日
に１画素発生し、その数週間後に１画素発生するといっ
た極めて低い確率で生じる。画素欠陥は、一度生じてし
まえば消滅することは基本的にないので、たとえ１画素
レベルであっても放置すれば永久に欠陥が顕在化するこ
とになり、その影響は或る意味故障と同等の意味を持つ
と言えるほど大きい。しかし、画素欠陥が程なく回復す
ることになれば、欠陥の顕在化という被害を使用者に与
える確率は極めて小さいものとなり、また、仮に欠陥が
顕在化することがあったとしてもそれは一時に限られる
からその不利益は事実上微々たるものとなる。

【０００８】本発明は、上記の事情に基づいてなされた
ものであり、その目的は、画素欠陥補償のための欠陥デ
ータ検出によって生じるタイムラグの発生に伴う問題点
を生じることなく、経時的な画素欠陥増加による画質劣
化を事実上生じない高性能な撮像装置を提供することに
ある。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明は、上記の課題を
解決するために次のような手段を講じた。登録データに
基づいて撮像素子の欠陥画素に対して補償を行う構成と
し、画素欠陥検出手段による新規データの取得および登
録データの更新を、記録可能な撮像モードから他のモー
ドに移行する指令が出たときに実行する。またデータの
更新は新規に取得した欠陥データを既存のデータ（また
は初期データ）に追加登録することによって行う。

【００１０】具体的には、本発明に係る撮像装置は、複
数の画素を有する撮像素子と、前記撮像素子に被写体の
光学像を入力する撮像光学系と、前記複数の画素におけ
る欠陥画素のアドレスを検出する欠陥データ検出手段
と、前記撮像素子による前記被写体像の撮像を実行する
撮像制御手段と、撮像の実行が可能な撮像モードと撮像
の実行を許可しない非撮像モードとを選択的に設定する
モード制御手段とを備え、前記欠陥データ検出手段が、
前記モード制御手段による前記撮像モードから前記非撮
像モードへの切り替え時に、欠陥データを検出すること
を特徴とする。

【００１１】本発明に係る他の撮像装置は、複数の画素
を有する撮像素子と、前記撮像素子に被写体の光学像を
入力する撮像光学系と、前記複数の画素における欠陥画
素のアドレスを検出する欠陥データ検出手段と、前記撮
像素子による前記被写体像の撮像を実行する撮像制御手
段と、撮像の実行が可能な撮像モードと撮像の実行を許
可しない非撮像モードとを選択的に設定するモード制御
手段とを備え、前記欠陥データ検出手段が、前記撮像モ
ードにおいては、欠陥アドレスの検出を行わないことを
特徴とする。

【００１２】上記の撮像装置における好ましい実施態様
は以下の通りである。 （１） 前記撮像素子の画素欠陥アドレスを欠陥データ
として登録する記憶手段と、前記記憶手段に登録された
欠陥データに基づいて所定の画素欠陥補償処理を行う欠
陥補償手段と、前記欠陥データ検出手段により新たに検
出された欠陥データに基づいて前記記憶手段に登録され
た欠陥データを更新する欠陥データ管理手段とを更に備
えたこと。 （２） （１）において、前記欠陥データ管理手段が行
う欠陥データの更新は、既に登録されている登録欠陥デ
ータの全ての画素欠陥アドレスに対して、新たに検出さ
れた新規検出欠陥データの画素欠陥アドレスのうち前記
登録欠陥データの画素欠陥アドレスと重複しないものを
追加登録することによって行なわれるように構成されて
いること。 （３） （１）において、前記欠陥データ管理手段が行
う欠陥データの更新は、所定時に登録された初期登録欠
陥データの全ての画素欠陥アドレスに対して、新たに検
出された新規検出欠陥データの画素欠陥アドレスのうち
前記初期登録欠陥データの画素欠陥アドレスと重複しな
いものを追加登録することによって行なわれること。な
お、所定時とは、例えば、工場出荷時及びそれに相当す
る時を云う。 （４） 前記非撮像モードは、画像の再生を行うため設
定された再生モードであること。 （５） 前記非撮像モードは、特定の起動スイッチ操作
を除いて自己の有する操作スイッチの指令受付が禁止さ
れているスタンバイモードであること。なお、上記の各
実施態様は単独で適用してもよいし、適宜組み合わせて
適用してもかまわない。

【００１３】

【発明の実施の形態】図面を参照して本発明の実施の形
態を説明する。図１は、本発明の実施形態に係る撮像装
置（電子カメラ）の概略ブロック図である。

【００１４】図１において、レンズ群１１を通過した被
写体の光学像は、ＣＣＤ等の撮像素子１２で電気信号に
変換され、撮像回路１３でアナログ画像信号に変換され
る。このアナログ画像信号はＡ／Ｄ変換器１４でデジタ
ル画像信号（以下、「画像情報」とも称する）に変換さ
れて、一旦、揮発性の内蔵メモリ２５に記憶される。こ
の内蔵メモリ２５は、高速な、例えばＳＤＲＡＭ（Ｓｙ
ｎｃｈｒｏｎｏｕｓＤｙｎａｍｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａ
ｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）であり、後述する画像処理
用のワークエリアとしても使用される。

【００１５】画像処理回路２１は、内蔵メモリ２５に一
時記憶された画像情報の色情報の変換処理、画素数変換
などの処理を行う。そして、画像処理回路２１でのさま
ざまな画像処理を受けた画像情報は、圧縮伸長部２２で
例えばＪＰＥＧ圧縮されて、スマートメディア等の着脱
メモリ２０に記録される。

【００１６】また、撮影画像を表示する場合には、画像
処理後の画像情報は、ＬＣＤドライバ３１を経由して、
画像表示用ＬＣＤ３０に表示される。

【００１７】着脱メモリ２０に記録された画像を表示す
る場合には、着脱メモリ２０から読み出された画像情報
は圧縮伸長部２２で伸長されて、例えば、画像処理回路
２１で所定の画像処理がなされた後に、撮影の時と同様
に、画像表示用ＬＣＤ３０に画像が表示される。

【００１８】システムコントローラ４０は、フラッシュ
メモリ等の不揮発性メモリ４１から電子カメラの基本制
御プログラムを読み出して電子カメラ全体の制御を行
う。

【００１９】更に、システムコントローラ４０は、操作
部４６（図示しないレリーズボタンや十字キー等を含
む）からの入力を受け付けて、その入力に応じた制御を
行う。また、システムコントローラ４０は、図示しない
電源部を制御して電子カメラ全体の電源管理も行ってい
る。更に、システムコントローラ４０は、レンズ等駆動
回路１５を介してレンズ群１１を駆動制御する。

【００２０】本発明の実施形態の電子カメラでは、特に
レンズ群１１に含まれるシャッタと、撮像素子１２の駆
動を制御して露光（電荷蓄積）および信号の読み出しを
行い、それを撮像回路１３やＡ／Ｄ変換器１４、及び画
像処理回路２１等で処理された情報を用いて、以下で説
明する画素欠陥の検出等を行う。

【００２１】また電子カメラは画素欠陥補償手段２３を
有しており、システムコントローラ４０の指令に基づい
て、不揮発性メモリ４１（電源オフ時にも記憶保持が可
能な記憶手段）に格納されたカメラの工場出荷時に登録
された画素欠陥（以下「登録欠陥」と称する）に関する
欠陥データと、工場出荷後における詳細は後述する欠陥
検出によって検出された画素欠陥（以下「検出欠陥」と
称する）に関する欠陥データとに基づいて画素欠陥補償
処理を施す。なお、この画素欠陥補償手段２３は画像処
理回路２１に含まれていても良い。また、適所に温度セ
ンサ（図示せず）を有している。なお、電子カメラの仕
様保証上限温度は４１℃であり、また最長露出時間Ｔｍ
ａｘは５秒（５ｓ）とする。

【００２２】カメラは記録モード、再生モード、スタン
バイモードの３つの制御状態から為っており、記録モー
ドはレリーズボタンの手動操作によって発生する撮影指
令によって撮像（画像記録）を行うモードである。再生
モードは記録された画像を再生して例えば画像表示用Ｌ
ＣＤ３０に表示するためのモードである。この再生モー
ドではレリーズボタンを操作しても撮像は行なわれな
い。従って、例えば、レリーズボタン操作で再生コマ送
りが行われるように構成しても良い。カメラには例えば
記録／再生を切り換えるためのモード切り替えスイッチ
が設けられており、これにより各モードが切り替え・選
択される。スタンバイモード、は主要な回路への電源を
切断して監視に必要な最低限の回路を動作させておくモ
ードである。カメラは操作スイッチとして電源スイッチ
が設けられており、この電源スイッチの操作により、モ
ード切り替えスイッチの選択に応じた各モードとスタン
バイモードとの間を移行する。また、記録モードあるい
は再生モードにあるとき、各所定時間（例えば１分と３
分など）全く無操作で経過した場合には自動的にスタン
バイモードに移行する。スタンバイモードでは電源スイ
ッチ以外のスイッチ操作は一切受け付けないように構成
されている。なお、レリーズボタンの操作によってもス
タンバイモードから選択されたモードに移行するように
しても良く、スタンバイモードからの各モードへの移行
のための特定スイッチは任意に設定可能である。

【００２３】以下、本発明の画素欠陥の検出と補償に直
接関わる処理を中心にシステムコントローラ４０による
カメラの制御を説明する。ただし、本電子カメラにおい
てデジタル信号のレベル処理は８ビット（０〜２５５）
が適用されているものとする。また特記する部分を除い
て、常温を仮定して説明する。

【００２４】撮像モードにおいては、撮影に先立ってマ
ニュアル設定または測光結果に基づいて撮影に必要な露
光時間が設定される。次に本撮影の撮影指令を待機し、
指令を受けたら所定の露出制御値に基づいた露光を行
い、撮像信号を読み出して所定の信号処理を施した後に
着脱メモリ２０に記録する。その際欠陥画素については
画素欠陥補償を行う。欠陥補償後において記録に至るま
での映像信号処理は、その必要に応じて適宜使用される
公知の処理である、例えば色バランス処理、マトリクス
演算による輝度−色差信号への変換あるいはその逆変換
処理、帯域制限等による偽色除去あるいは低減処理、γ
変換に代表される各種非線型処理、各種情報圧縮処理、
等々である。

【００２５】なお、本発明に係る電子カメラにおいて、
欠陥補償は、公知の欠陥補償方法である「欠陥アドレス
が登録された画素に関しての近隣画素による補完」が採
用されているものとする。具体的には、「最近接同色画
素（同色の画素のうち、当該欠陥画素に最も近い４画
素：ＲＧＢベイヤ配列の場合を例示すればＧに関しては
斜め４方に隣接する４つのＧ画素、Ｒ（またはＢ）に関
しては上下左右の４方向で直接隣接でなく間に１つのＧ
を挟んで次に位置する各４つのＲ（またはＢ）画素）た
る４画素情報の平均値を代替適用する」ことにより欠陥
補償がなされている。

【００２６】登録欠陥として、暗黒中温度２５℃、３３
℃、４１℃のそれぞれの温度下で電子カメラの手ぶれ限
界シャッタ速度の露光時間（例示値：１／６０ｓ）の電
荷蓄積動作において測定された暗出力レベルＳが、例え
ば、 Ｓ＞５（≒２％） であるような画素のアドレスが、それぞれの温度につい
て登録されている（以下、「登録欠陥画素」と称す
る）。この登録された画素のアドレスが欠陥アドレス
（以下、「登録欠陥アドレス」と称し、このデータを
「登録欠陥データ」と称する）である。従って、Ｓ≦５
の時には非欠陥とする。このことは、少なくとも上記手
ぶれ限界シャッタ速度の露光時間（例示値１／６０ｓ）
以下の露光時間を想定したときに、本撮像時の暗出力レ
ベルを最大フルレンジ２５５の約２％までは許容すると
いうことを意味する。ここで出力レベルの約２％という
判定基準レベルは一例であって、設計時に事情に合わせ
て任意に設定し得るものであるが、上記程度の適当な値
（他に例えば約５％や約１％なども有効）を選んでおけ
ば画像に重畳される暗出力の影響の顕在化可能性は充分
低くなる。また、暗出力レベルの判定値を０％とすれば
暗出力が重畳された画素を完全に排除することが可能に
なるので、この点ではこれも一つの好適実施例として挙
げ得る。しかし、このように暗出力レベルの判定値を０
％にすることにより、僅かな暗信号の重畳のために当該
画素情報を欠陥画素であるとみなしてしまうことから、
欠陥画素数の増加により総合的な画質を低下させること
になる場合もある。従って、現実にはこれらのトレード
オフ要素を勘案して暗出力の判定レベルを設定する。

【００２７】本カメラは必要時に欠陥検出を行い、その
結果に基づき上記登録欠陥を追加更新する。欠陥検出は
次のように行なわれる。

【００２８】すなわちレンズ群１１に含まれるシャッタ
で撮像素子の受光面を遮光してから、その遮光状態でテ
スト撮像を行う。すなわち暗黒下で図示しないＣＣＤ駆
動回路により本カメラの最長露出時間Ｔｍａｘ（設定は
任意：ここでの例示値５ｓ）の電荷蓄積動作を行ってテ
スト撮像信号（暗出力信号）を読み出し、内蔵メモリ２
５に一旦格納する。格納された有効出力画素の全データ
に関して各出力レベルを調べて基準レベルとデジタル比
較を行うことで欠陥か否かの判定を行う。

【００２９】撮影時の補償に使用されるべき欠陥画素の
アドレス（最終的な欠陥データ）は、上記登録欠陥画素
および上記の欠陥検出によって検出された欠陥画素のデ
ータ双方を用いて決定される。

【００３０】欠陥データの更新の一例を図２を参照して
説明する。図２は、欠陥データの更新の流れを示すフロ
ーチャートである。

【００３１】まず、カメラのモードが記録モードから他
のモードへ移行しかどうか検知し（ステップＡ１）、記
録モードから他のモードへ移行した時点で欠陥画素の検
出を行う（ステップＡ４）。ここにおいて、記録モード
以外のモードとしては、例えば、再生モードやスタンバ
イモードがある。そして、欠陥画素の検出が終了した
ら、欠陥画素を追加登録する（ステップＡ５）。次に、
現在のモードが記録モードかどうか判定し（ステップＡ
２）、記録モードであれば、欠陥検出を行うことが好ま
しくないので、ステップＡ１に戻り、記録モードから他
のモードへの移行を監視する。ステップＡ２において、
記録モード以外のモードであれば、所定時間経過したか
どうか判定され（ステップＡ３）、所定時間が経過した
ら欠陥画素の検出を行い（ステップＡ４）、欠陥画素を
追加登録する（ステップＡ５）。

【００３２】上記のステップＡ５における欠陥画素の登
録は例えば次のように行われる。基本的に、検出された
欠陥画素のアドレスのうち登録欠陥と重複するものを除
去したものを、不揮発性メモリ４１に追加登録する。こ
のとき検出欠陥のデータを単純に既存の登録データと置
き換えるように構成しても良いが、欠陥画素の検出時に
おいて例えばノイズなど何らかの原因による検出ミスが
生じ、工場出荷時あるいはそれまでの経時劣化によって
欠陥であった画素を非欠陥として扱ってしまい、欠陥を
顕在化させてしまうおそれがある。これに対して本願発
明において発明、検出欠陥から既存の登録欠陥との重複
を除去したものを既存のデータに追加するようにしてい
るので、一旦登録された欠陥が再び顕在化することを防
止できる。

【００３３】上記のように、本発明においては、カメラ
が記録モードから記録以外のモードである再生モードや
スタンバイモードに移行する再に、欠陥画素の検出を行
うようにしている。このモードの移行時は基本的に撮影
を行わない場合であると考えられるので、欠陥画素の検
出にある程度の時間を要したとしても、タイムラグによ
る問題（すなわちシャッターチャンスを逃す等）の問題
が生じることはない。なお、この場合には、記録モード
から欠陥画素の検出・登録を行ってから、所定のモード
に移行することが好ましい。

【００３４】本発明は、上記の発明の実施の形態に限定
されるものではない。上記の実施形態においては、記録
モードから記録モード以外のモードへ移行する際や、記
録モード以外のモードにおいて所定時間経過時点で欠陥
画素の検出を行うようにしたが、記録モード以外のモー
ド間の移行（例えば、再生モードからスタンバイモード
への移行やその逆）の場合に欠陥画素の検出を行うよう
にしても良い。

【００３５】また、工場出荷時（あるいはこれに類する
所定時）に登録されたデータである初期登録データを基
準にして、検出欠陥データのうち初期登録データと異な
るものだけを初期登録データに毎回追加するようにして
も良い。これにより、非欠陥画素を欠陥画素と誤検出し
た場合にも、その結果が蓄積されることを防止できると
ともに、少なくとも初期登録データに関しては誤検出に
よって欠陥画素が非欠陥画素として顕在化することを防
止できるという効果を有している。

【００３６】なお、上記実施例で用いているＡ／Ｄ変換
器の量子化レベルについて、現実には、Ａ／Ｄ変換器の
ハードウェアの有する誤差特性の存在や、仮にそれが無
いとしても原理的に最小量子化レベル付近においては量
子化誤差は相対的には１００％にも相当することを考慮
すれば、上記実施例に関して実際の量子化に用いるＡ／
Ｄ変換器は画像処理系の量子化ビット数（実施例では８
ビット）よりも多い例えば１０ビットあるいは１２ビッ
ト程度（それ以上でも良い）のものを使用することがよ
り好ましく、これによって上記各演算式の演算に際して
誤差の影響を充分低減することができる。

【００３７】また、上記の実施形態では欠陥検出後に検
出欠陥の追加登録を行うようにしているが、これに限ら
ず検出欠陥の追加登録は欠陥画素の検出以後の任意の時
点で実行しても良く、記録モードに設定される以前の任
意の時点とすることが好ましい。

【００３８】上記の実施形態では記録モードから他のモ
ードへの移行時に毎回データの更新を行っているが、モ
ードの移行時毎でなく、例えば所定の数回毎に実行する
ようにしても良い。この場合データの更新回数が減るの
で消費電力を節約できる効果がある。

【００３９】更に、上記の実施形態では、遮光手段を用
いた欠陥検出によりいわゆる白欠陥のみを対象としてい
るが、撮像面への白色光（リファレンス光）の付与手段
を用いた欠陥検出によればいわゆる黒欠陥を含めて対象
とすることができる。

【００４０】その他、本発明の要旨を変更しない範囲で
種々変形して実施できるのは勿論である。

【００４１】

【発明の効果】本発明によれば、撮影機能を使用する可
能性が最も低くなる時に欠陥検出を行うことで、通常の
撮影時には検出動作が不要となるからタイムラグは発生
せず、また定期的に欠陥データが更新されるから欠陥が
放置されず、顕在化を事実上防止できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の実施形態に係る撮像装置の概略ブロ
ック図。

【図２】 欠陥データの更新の流れを示すフローチャー
ト。

【符号の説明】

１１…レンズ群 １２…撮像素子 １３…撮像回路 １４…Ｄ変換器 １５…レンズ等駆動回路 ２０…着脱メモリ ２１…画像処理回路 ２２…圧縮伸長部 ２３…画素欠陥補償手段 ２５…内蔵メモリ ３０…画像表示用ＬＣＤ ３１…ＬＣＤドライバ ４０…システムコントローラ ４１…不揮発性メモリ ４６…操作部

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉田 英明 東京都渋谷区幡ヶ谷２丁目43番２号 オリ ンパス光学工業株式会社内 Ｆターム(参考） 5B047 BA03 BB04 BC05 CB05 CB25 DA06 5C024 AX01 BX01 CX04 CX22 CX23 GY01 HX23 5C077 LL04 MP01 PP10 PP47 PQ12 PQ20 PQ24 SS01

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の画素を有する撮像素子と、 前記撮像素子に被写体の光学像を入力する撮像光学系
   と、 前記複数の画素における欠陥画素のアドレスを検出する
   欠陥データ検出手段と、 前記撮像素子による前記被写体像の撮像を実行する撮像
   制御手段と、 撮像の実行が可能な撮像モードと撮像の実行を許可しな
   い非撮像モードとを選択的に設定するモード制御手段と
   を備え、 前記欠陥データ検出手段が、前記モード制御手段による
   前記撮像モードから前記非撮像モードへの切り替え時
   に、欠陥データを検出することを特徴とする撮像装置。
2. 【請求項２】 複数の画素を有する撮像素子と、 前記撮像素子に被写体の光学像を入力する撮像光学系
   と、 前記複数の画素における欠陥画素のアドレスを検出する
   欠陥データ検出手段と、 前記撮像素子による前記被写体像の撮像を実行する撮像
   制御手段と、 撮像の実行が可能な撮像モードと撮像の実行を許可しな
   い非撮像モードとを選択的に設定するモード制御手段と
   を備え、 前記欠陥データ検出手段が、前記撮像モードにおいて
   は、欠陥アドレスの検出を行わないことを特徴とする撮
   像装置。
3. 【請求項３】 請求項１又は請求項２に記載の撮像装置
   において、 前記撮像素子の画素欠陥アドレスを欠陥データとして登
   録する記憶手段と、 前記記憶手段に登録された欠陥データに基づいて所定の
   画素欠陥補償処理を行う欠陥補償手段と前記欠陥データ
   検出手段により新たに検出された欠陥データに基づいて
   前記記憶手段に登録された欠陥データを更新する欠陥デ
   ータ管理手段とを更に備えたことを特徴とする撮像装
   置。
4. 【請求項４】 請求項３に記載の撮像装置において、 前記欠陥データ管理手段が行う欠陥データの更新は、既
   に登録されている登録欠陥データの全ての画素欠陥アド
   レスに対して、新たに検出された新規検出欠陥データの
   画素欠陥アドレスのうち前記登録欠陥データの画素欠陥
   アドレスと重複しないものを追加登録することによって
   行なわれるように構成されていることを特徴とする撮像
   装置。
5. 【請求項５】 請求項３に記載の撮像装置において、 前記欠陥データ管理手段が行う欠陥データの更新は、所
   定時に登録された初期登録欠陥データの全ての画素欠陥
   アドレスに対して、新たに検出された新規検出欠陥デー
   タの画素欠陥アドレスのうち前記初期登録欠陥データの
   画素欠陥アドレスと重複しないものを追加登録すること
   によって行なわれることを特徴とする撮像装置。
6. 【請求項６】 請求項１から請求項５のいずれか１項に
   記載の撮像装置において、 前記非撮像モードは、画像の再生を行うため設定された
   再生モードであることを特徴とする撮像装置。
7. 【請求項７】 請求項１から請求項６のいずれか１項に
   記載の撮像装置において、 前記非撮像モードは、特定の起動スイッチ操作を除いて
   自己の有する操作スイッチの指令受付が禁止されている
   スタンバイモードであることを特徴とする撮像装置。