JP2003018001A - 位相ロック検出回路およびパワー測定装置 - Google Patents
位相ロック検出回路およびパワー測定装置Info
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- JP2003018001A JP2003018001A JP2001198410A JP2001198410A JP2003018001A JP 2003018001 A JP2003018001 A JP 2003018001A JP 2001198410 A JP2001198410 A JP 2001198410A JP 2001198410 A JP2001198410 A JP 2001198410A JP 2003018001 A JP2003018001 A JP 2003018001A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 周波数変更時に短時間で周波数安定後に測定
開始することのできるパワー測定装置を提供する。 【解決手段】 周波数基準信号の周波数を所定の分周比
で変更する位相同期ループと、この位相同期ループの分
周比を小さくするためのオフセット周波数発生ループ７
と、このオフセット周波数発生ループ７に用いられる電
圧制御発振器の周波数制御電圧レベルを測定する電圧比
較器６と、この電圧比較器の出力レベルを判定し測定開
始させる測定制御部８と、測定開始信号を受け被測定信
号のレベル測定を開始するレベル測定部９とを備え、オ
フセット周波数発生ループ７の周波数制御電圧を監視す
ることで周波数変更時に短時間で周波数安定後に測定開
始する。
開始することのできるパワー測定装置を提供する。 【解決手段】 周波数基準信号の周波数を所定の分周比
で変更する位相同期ループと、この位相同期ループの分
周比を小さくするためのオフセット周波数発生ループ７
と、このオフセット周波数発生ループ７に用いられる電
圧制御発振器の周波数制御電圧レベルを測定する電圧比
較器６と、この電圧比較器の出力レベルを判定し測定開
始させる測定制御部８と、測定開始信号を受け被測定信
号のレベル測定を開始するレベル測定部９とを備え、オ
フセット周波数発生ループ７の周波数制御電圧を監視す
ることで周波数変更時に短時間で周波数安定後に測定開
始する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、位相ロック検出回
路およびこの位相ロック検出回路を用いた広帯域な周波
数のパワー測定を行うパワー測定装置に関するものであ
る。
路およびこの位相ロック検出回路を用いた広帯域な周波
数のパワー測定を行うパワー測定装置に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、位相ロック検出回路は特開平１０
―３２２２００号公報に記載されたものが知られてい
る。図５に示す従来の位相ロック検出回路は、周波数基
準信号ＲＣＬＫはＭ分周器８１に入力され、周波数基準
信号の周波数が１／Ｍに分周され、次いで、位相比較器
８２に入力され、比較される２つの信号の基準信号とな
る。位相比較器８２の出力はチャージポンプ８３を介し
てローパスフィルタ８４で平滑化され、電圧制御発振器
８５の周波数制御電圧となる。この電圧制御発振器８５
の出力はＮ分周器８６で１／Ｎに分周され、位相比較器
８２のもう１つの周波数比較対象信号となる。位相比較
器８２では２つの信号の位相差に応じた誤差信号を出力
することで電圧制御発振器８５の出力周波数を位相ロッ
クするまで変更し、位相ロック後ループが安定し出力周
波数が安定する。Ｎ分周器８６の出力とＭ分周器８１の
出力をそれぞれ分岐し、排他的論理和回路８７に入力さ
れる。排他的論理和回路８７は、位相ロック検出して、
ロックオフ検出信号を出力する。排他的論理和回路８７
は、Ｎ分周器８６の出力とＭ分周器８１の出力の論理レ
ベルが異なる期間発生した場合に、その期間に“ハイ
（以下、Ｈ）”レベルの信号を発生し、論理レベルが同
一の期間発生した場合に“ロー（以下、Ｌ）”レベルの
信号を発生するものである。つまり前述のループにおい
て位相ロックした場合は“Ｌ”レベルの信号が出力され
続けるが、位相ロックしていない場合は“Ｈ”レベルの
信号が発生されるのでロック検出信号を“Ｈ”レベルが
発生しなくなるまで監視し、位相ロックを検出してい
る。
―３２２２００号公報に記載されたものが知られてい
る。図５に示す従来の位相ロック検出回路は、周波数基
準信号ＲＣＬＫはＭ分周器８１に入力され、周波数基準
信号の周波数が１／Ｍに分周され、次いで、位相比較器
８２に入力され、比較される２つの信号の基準信号とな
る。位相比較器８２の出力はチャージポンプ８３を介し
てローパスフィルタ８４で平滑化され、電圧制御発振器
８５の周波数制御電圧となる。この電圧制御発振器８５
の出力はＮ分周器８６で１／Ｎに分周され、位相比較器
８２のもう１つの周波数比較対象信号となる。位相比較
器８２では２つの信号の位相差に応じた誤差信号を出力
することで電圧制御発振器８５の出力周波数を位相ロッ
クするまで変更し、位相ロック後ループが安定し出力周
波数が安定する。Ｎ分周器８６の出力とＭ分周器８１の
出力をそれぞれ分岐し、排他的論理和回路８７に入力さ
れる。排他的論理和回路８７は、位相ロック検出して、
ロックオフ検出信号を出力する。排他的論理和回路８７
は、Ｎ分周器８６の出力とＭ分周器８１の出力の論理レ
ベルが異なる期間発生した場合に、その期間に“ハイ
（以下、Ｈ）”レベルの信号を発生し、論理レベルが同
一の期間発生した場合に“ロー（以下、Ｌ）”レベルの
信号を発生するものである。つまり前述のループにおい
て位相ロックした場合は“Ｌ”レベルの信号が出力され
続けるが、位相ロックしていない場合は“Ｈ”レベルの
信号が発生されるのでロック検出信号を“Ｈ”レベルが
発生しなくなるまで監視し、位相ロックを検出してい
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
位相ロック検出回路においては、位相比較される周波数
が高ければ高いほど、周波数変更時の排他的論理和回路
の出力信号パルス幅が狭くなり、ロック安定状態の判定
が正確に行えなくなる。このため、被測定信号をレベル
測定用のＩＦ周波数にダウンコンバートする目的で位相
ロックループの出力を用いる場合、ロック安定後に測定
を行うためには、実際の位相ロックまでの時間にロック
安定状態の判定が正確に行えない場合でも正確なレベル
測定が行われる必要がある。このため、周波数変更後に
ロック安定までに十分であると考えられるマージン時間
を加えてウエイト時間とし、周波数変更後に毎回ウエイ
ト時間後に測定を開始しなければならない。したがっ
て、本来のロック安定までの時間後に測定開始するより
測定に必要な時間が長くなるという問題があった。ま
た、なんらかの要因で周波数変更時に位相ロックまでの
時間が通常より長くなった場合、ロック安定前に測定を
開始してしまうという問題があった。さらに、位相ロッ
ク回路を用いたパワー測定装置の小型化を図るため位相
比較器、Ｎ分周器、Ｍ分周器をＰＬＬ集積化回路とし
て、一つのパッケージに収納された形態で提供され、こ
れを装置を構成する部品として使用する場合が少なくな
い。このようなＰＬＬ集積化回路において位相ロック検
出は、周波数変更時のロック時間の検出に使用される用
途より、ロック安定後にロック外れの確認に使用される
用途が大きいため、周波数変更時に出力されるロック検
出信号が正確ではなく、周波数変更時ロック検出信号出
力とロック安定状態になる時間が前後する場合があり、
正確な測定を行うためには周波数変更後にロック安定ま
でに十分であると考えられるマージン時間を加えた固定
ウエイト時間を取った後に測定を開始しなければなら
ず、本来のロック安定までの時間後に測定開始するより
測定時間が長くなるという問題があった。本発明は、従
来の問題を解決するためになされたもので、周波数変更
時にＰＬＬロック安定までの時間に応じたロック検出信
号を検出することにより、短時間でレベル測定すること
のできる位相ロック検出回路を用いた選択レベル計のパ
ワー測定装置を提供することを目的とする。
位相ロック検出回路においては、位相比較される周波数
が高ければ高いほど、周波数変更時の排他的論理和回路
の出力信号パルス幅が狭くなり、ロック安定状態の判定
が正確に行えなくなる。このため、被測定信号をレベル
測定用のＩＦ周波数にダウンコンバートする目的で位相
ロックループの出力を用いる場合、ロック安定後に測定
を行うためには、実際の位相ロックまでの時間にロック
安定状態の判定が正確に行えない場合でも正確なレベル
測定が行われる必要がある。このため、周波数変更後に
ロック安定までに十分であると考えられるマージン時間
を加えてウエイト時間とし、周波数変更後に毎回ウエイ
ト時間後に測定を開始しなければならない。したがっ
て、本来のロック安定までの時間後に測定開始するより
測定に必要な時間が長くなるという問題があった。ま
た、なんらかの要因で周波数変更時に位相ロックまでの
時間が通常より長くなった場合、ロック安定前に測定を
開始してしまうという問題があった。さらに、位相ロッ
ク回路を用いたパワー測定装置の小型化を図るため位相
比較器、Ｎ分周器、Ｍ分周器をＰＬＬ集積化回路とし
て、一つのパッケージに収納された形態で提供され、こ
れを装置を構成する部品として使用する場合が少なくな
い。このようなＰＬＬ集積化回路において位相ロック検
出は、周波数変更時のロック時間の検出に使用される用
途より、ロック安定後にロック外れの確認に使用される
用途が大きいため、周波数変更時に出力されるロック検
出信号が正確ではなく、周波数変更時ロック検出信号出
力とロック安定状態になる時間が前後する場合があり、
正確な測定を行うためには周波数変更後にロック安定ま
でに十分であると考えられるマージン時間を加えた固定
ウエイト時間を取った後に測定を開始しなければなら
ず、本来のロック安定までの時間後に測定開始するより
測定時間が長くなるという問題があった。本発明は、従
来の問題を解決するためになされたもので、周波数変更
時にＰＬＬロック安定までの時間に応じたロック検出信
号を検出することにより、短時間でレベル測定すること
のできる位相ロック検出回路を用いた選択レベル計のパ
ワー測定装置を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、周波数基準信
号の周波数を所定の分周比で変更し位相比較する位相比
較部を有する位相同期ループと、位相ロック検出部を有
する位相ロック検出回路において、位相ロック検出部
は、位相同期ループの分周比を小さくするためのオフセ
ット周波数発生ループと、オフセット周波数発生ループ
に用いられる電圧制御発振器の周波数制御電圧レベルを
判定する電圧比較器とを有する位相ロック検出回路であ
る。
号の周波数を所定の分周比で変更し位相比較する位相比
較部を有する位相同期ループと、位相ロック検出部を有
する位相ロック検出回路において、位相ロック検出部
は、位相同期ループの分周比を小さくするためのオフセ
ット周波数発生ループと、オフセット周波数発生ループ
に用いられる電圧制御発振器の周波数制御電圧レベルを
判定する電圧比較器とを有する位相ロック検出回路であ
る。
【０００５】この構成により、オフセット周波数発生ル
ープの周波数制御電圧を監視することで周波数変更時に
短時間で電圧制御発振器の周波数制御電圧レベルを判定
するすることができる。
ープの周波数制御電圧を監視することで周波数変更時に
短時間で電圧制御発振器の周波数制御電圧レベルを判定
するすることができる。
【０００６】また、本発明は、位相同期ループおよび位
相ロック検出部は、一体に集積化される位相ロック検出
回路である。
相ロック検出部は、一体に集積化される位相ロック検出
回路である。
【０００７】この構成により、位相ロック検出回路を小
型化することができる。
型化することができる。
【０００８】さらに、本発明は、位相ロック検出回路
と、位相ロック検出回路が出力する位相ロック判定信号
に基づいて、レベル測定を開始するレベル測定部を有す
るパワー測定装置である。
と、位相ロック検出回路が出力する位相ロック判定信号
に基づいて、レベル測定を開始するレベル測定部を有す
るパワー測定装置である。
【０００９】この構成により、オフセット周波数発生ル
ープの周波数制御電圧を監視することで周波数変更時に
短時間で周波数安定後に測定開始することができる。
ープの周波数制御電圧を監視することで周波数変更時に
短時間で周波数安定後に測定開始することができる。
【００１０】さらに、本発明は、位相ロック検出回路
と、位相ロック検出回路が出力する位相ロック判定信号
に基づいて、パワー測定開始信号を出力する測定制御部
と、被測定信号を位相同期ループ出力を用いて一定の周
波数にダウンコンバートするＩＦ信号発生部と、測定開
始信号に基づいて、ＩＦ信号のレベル測定を開始するレ
ベル測定部と、レベル測定結果を表示する表示部とを有
するパワー測定装置である。
と、位相ロック検出回路が出力する位相ロック判定信号
に基づいて、パワー測定開始信号を出力する測定制御部
と、被測定信号を位相同期ループ出力を用いて一定の周
波数にダウンコンバートするＩＦ信号発生部と、測定開
始信号に基づいて、ＩＦ信号のレベル測定を開始するレ
ベル測定部と、レベル測定結果を表示する表示部とを有
するパワー測定装置である。
【００１１】この構成により、オフセット周波数発生ル
ープの周波数制御電圧を監視することで周波数変更時に
短時間で周波数安定後に測定開始することができる。
ープの周波数制御電圧を監視することで周波数変更時に
短時間で周波数安定後に測定開始することができる。
【００１２】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を用いて説明する。
て、図面を用いて説明する。
【００１３】本発明の第１の実施の形態の位相ロック検
出回路を用いたパワー測定装置を図１に示す。
出回路を用いたパワー測定装置を図１に示す。
【００１４】図１において、位相同期部１は分周器と位
相比較器で構成され、周波数ミキサ５の出力と周波数基
準信号１１をそれぞれ分周し、位相比較し、比較結果で
ある位相誤差信号をローパスフィルタ２に出力する。前
述の位相同期部１、ローパスフィルタ２、電圧制御発振
器３、および周波数ミキサ５から構成される位相同期ル
ープ１４は、被測定信号周波数に応じた周波数を可変に
してＩＦ信号発生部４に被測定信号１３の周波数よりｆ
だけ低い周波数を出力する。これによりＩＦ信号発生部
４の出力周波数は常にｆＨｚになり、レベル測定部９で
は常に同じ周波数の信号のパワー測定を行い、測定結果
を測定制御部８に出力し、被測定信号１３のパワーとし
て表示部１２に数値で表示する。
相比較器で構成され、周波数ミキサ５の出力と周波数基
準信号１１をそれぞれ分周し、位相比較し、比較結果で
ある位相誤差信号をローパスフィルタ２に出力する。前
述の位相同期部１、ローパスフィルタ２、電圧制御発振
器３、および周波数ミキサ５から構成される位相同期ル
ープ１４は、被測定信号周波数に応じた周波数を可変に
してＩＦ信号発生部４に被測定信号１３の周波数よりｆ
だけ低い周波数を出力する。これによりＩＦ信号発生部
４の出力周波数は常にｆＨｚになり、レベル測定部９で
は常に同じ周波数の信号のパワー測定を行い、測定結果
を測定制御部８に出力し、被測定信号１３のパワーとし
て表示部１２に数値で表示する。
【００１５】オフセット周波数発生ループ７は位相同期
ループ１４の分周比を小さくし、位相雑音を低減させる
と共に電圧制御発振器３の出力周波数の可変量に対し、
位相同期部（ＰＬＬ集積回路）１での比較周波数の可変
量を小さくする。例えばオフセット周波数発生ループ７
が無い場合、比較周波数をＡＨｚとし、位相同期ループ
１４の出力周波数をＢＨｚからＣＨｚに変更した場合、
分周比の可変量はＢ／Ａ − Ｃ／Ａとなる。オフセット
周波数発生ループ７を用いてＤＨｚの出力を周波数ミキ
サ５に加えた場合、比較周波数をＡＨｚとし、位相同期
ループ１４の出力周波数をＢＨｚからＣＨｚに変更した
場合、分周比の可変量は（Ｂ−Ｄ）／Ａ−（Ｃ−Ｄ）／
Ａとなり、位相同期ループ１４の出力周波数を変更して
もＤに適切な値を入れることによりループの分周比を小
さくし、可変量も小さくすることができる。
ループ１４の分周比を小さくし、位相雑音を低減させる
と共に電圧制御発振器３の出力周波数の可変量に対し、
位相同期部（ＰＬＬ集積回路）１での比較周波数の可変
量を小さくする。例えばオフセット周波数発生ループ７
が無い場合、比較周波数をＡＨｚとし、位相同期ループ
１４の出力周波数をＢＨｚからＣＨｚに変更した場合、
分周比の可変量はＢ／Ａ − Ｃ／Ａとなる。オフセット
周波数発生ループ７を用いてＤＨｚの出力を周波数ミキ
サ５に加えた場合、比較周波数をＡＨｚとし、位相同期
ループ１４の出力周波数をＢＨｚからＣＨｚに変更した
場合、分周比の可変量は（Ｂ−Ｄ）／Ａ−（Ｃ−Ｄ）／
Ａとなり、位相同期ループ１４の出力周波数を変更して
もＤに適切な値を入れることによりループの分周比を小
さくし、可変量も小さくすることができる。
【００１６】オフセット周波数発生ループ７は分周比の
変化量を小さくするように、位相同期ループ１４の出力
周波数に対応して周波数を切換えて周波数ミキサ５に出
力する。周波数ミキサ５は、オフセット周波数発生ルー
プ７の出力が位相ロックした後、位相比較の対象となる
信号を位相同期部１に出力することにより、位相同期部
１のロックがかかり、位相同期ループ１４の位相ロック
が安定状態となる。位相ロック検出部１０は、オフセッ
ト周波数発生ループ７に用いられる電圧制御発振器の周
波数制御電圧を電圧比較器６で基準電圧と比較すること
により位相ロック検出信号を測定制御部８へ出力する。
測定制御部８は、この位相ロック検出信号を監視するこ
とにより、オフセット周波数発生ループ７の周波数ロッ
クを検知して測定許可信号をレベル測定部９へ出力す
る。
変化量を小さくするように、位相同期ループ１４の出力
周波数に対応して周波数を切換えて周波数ミキサ５に出
力する。周波数ミキサ５は、オフセット周波数発生ルー
プ７の出力が位相ロックした後、位相比較の対象となる
信号を位相同期部１に出力することにより、位相同期部
１のロックがかかり、位相同期ループ１４の位相ロック
が安定状態となる。位相ロック検出部１０は、オフセッ
ト周波数発生ループ７に用いられる電圧制御発振器の周
波数制御電圧を電圧比較器６で基準電圧と比較すること
により位相ロック検出信号を測定制御部８へ出力する。
測定制御部８は、この位相ロック検出信号を監視するこ
とにより、オフセット周波数発生ループ７の周波数ロッ
クを検知して測定許可信号をレベル測定部９へ出力す
る。
【００１７】以上のように構成された位相ロック検出回
路を用いたパワー測定装置の位相ロック検出部１０のブ
ロック図を図２に示す。
路を用いたパワー測定装置の位相ロック検出部１０のブ
ロック図を図２に示す。
【００１８】図２において、オフセット周波数発生ルー
プの基準周波数発生器７１の出力が位相比較器７２の一
方の入力に接続される。位相比較器７２の出力はローパ
ルフィルタに接続され、その出力は入力選択器７４に接
続されている。入力選択器７４の出力は、複数の電圧制
御発信器２７Ａ、２７Ｂ…、２７Ｎを介して出力選択器
７６に接続されている。また、オフセット周波数発生ル
ープ７の出力、すなわち出力選択器７６の出力が位相比
較器７２の他方の入力に接続されている。さらに、ロー
パルフィルタ７３の出力には制御部７７と電圧比較器６
がそれぞれ接続され、制御器７７は入力選択器７４と出
力選択器７６を制御して、Ｎ個の電圧制御発信器２７
Ａ、２７Ｂ、…、２７Ｎの何れか１つを選択するように
なっている。 次に、このオフセット周波数発生ループ
７の動作を説明する。
プの基準周波数発生器７１の出力が位相比較器７２の一
方の入力に接続される。位相比較器７２の出力はローパ
ルフィルタに接続され、その出力は入力選択器７４に接
続されている。入力選択器７４の出力は、複数の電圧制
御発信器２７Ａ、２７Ｂ…、２７Ｎを介して出力選択器
７６に接続されている。また、オフセット周波数発生ル
ープ７の出力、すなわち出力選択器７６の出力が位相比
較器７２の他方の入力に接続されている。さらに、ロー
パルフィルタ７３の出力には制御部７７と電圧比較器６
がそれぞれ接続され、制御器７７は入力選択器７４と出
力選択器７６を制御して、Ｎ個の電圧制御発信器２７
Ａ、２７Ｂ、…、２７Ｎの何れか１つを選択するように
なっている。 次に、このオフセット周波数発生ループ
７の動作を説明する。
【００１９】まず、要求されるオフセット周波数に対応
した電圧制御発振器７５のＮ個の電圧制御発振器７５
Ａ、７５Ｂ、…、７５Ｎの中からいずれか１個の電圧制
御発振器が、制御部７７からの制御信号に応じて入力選
択器７４、出力選択器７６によって選択されると、選択
された電圧制御発振器に周波数制御電圧が加えられて、
選択された周波数の信号が出力される。この選択され他
電圧制御発振器の出力は位相比較器７２に入力されて、
そこで基準周波数発生器７１の出力と位相比較され、ロ
ーパスフィルタ７３をとおり入力選択７４に戻され、位
相比較ループを構成する。
した電圧制御発振器７５のＮ個の電圧制御発振器７５
Ａ、７５Ｂ、…、７５Ｎの中からいずれか１個の電圧制
御発振器が、制御部７７からの制御信号に応じて入力選
択器７４、出力選択器７６によって選択されると、選択
された電圧制御発振器に周波数制御電圧が加えられて、
選択された周波数の信号が出力される。この選択され他
電圧制御発振器の出力は位相比較器７２に入力されて、
そこで基準周波数発生器７１の出力と位相比較され、ロ
ーパスフィルタ７３をとおり入力選択７４に戻され、位
相比較ループを構成する。
【００２０】また、電圧比較器６は、ローパスフィルタ
７３の出力である電圧制御発振器の制御電圧を監視する
ことにより、オフセット周波数の位相ロック状態を検知
するものである。
７３の出力である電圧制御発振器の制御電圧を監視する
ことにより、オフセット周波数の位相ロック状態を検知
するものである。
【００２１】次に、図３を用いて電圧比較器２２の動作
を説明する。
を説明する。
【００２２】まず、電圧制御発振器の電圧はオペアンプ
６６とオペアンプ７７で構成されるコンパレータ６４に
入力され、基準電圧３３に接続される抵抗６０、抵抗６
０に接続される抵抗６１、抵抗６１とグランドに接続さ
れる抵抗６２によって決定される２つのしきい値電圧と
電圧比較される。抵抗６０、抵抗６１間の電圧、抵抗６
１、抵抗６２間の電圧は位相ロック時の電圧制御発振器
の電圧の上限下限が中心になるように設定することによ
り、判定信号出力として位相ロック判定信号を出力す
る。位相ロック時は“Ｈ”レベルの判定信号を出力し、
位相ロックを検出する。また、周波数変更時またはその
他の要因による位相アンロック時は、“Ｌ”レベルの判
定信号を出力し、位相アンロックを検出する。
６６とオペアンプ７７で構成されるコンパレータ６４に
入力され、基準電圧３３に接続される抵抗６０、抵抗６
０に接続される抵抗６１、抵抗６１とグランドに接続さ
れる抵抗６２によって決定される２つのしきい値電圧と
電圧比較される。抵抗６０、抵抗６１間の電圧、抵抗６
１、抵抗６２間の電圧は位相ロック時の電圧制御発振器
の電圧の上限下限が中心になるように設定することによ
り、判定信号出力として位相ロック判定信号を出力す
る。位相ロック時は“Ｈ”レベルの判定信号を出力し、
位相ロックを検出する。また、周波数変更時またはその
他の要因による位相アンロック時は、“Ｌ”レベルの判
定信号を出力し、位相アンロックを検出する。
【００２３】周波数変更時の動作を図４を用いて説明す
る。
る。
【００２４】まず、周波数変更時に電圧制御発振器７５
の電圧制御発振器７５Ａ、７５Ｂ、…、７５Ｎの何れか
選択すると同時に、制御部７７により電圧制御発振器の
電圧を一定電圧にし、必ずしきい値範囲から外れる電圧
にする。この時電圧制御発振器電圧がしきい値から外れ
た電圧となると同時にオフセット周波数発生ループロッ
ク検出信号が“Ｌ”レベルになる。その状態から位相ロ
ックするような動作になり、電圧制御発振器の電圧は位
相ロック安定状態になる電圧に向けて変化し、しきい値
上限、しきい値下限の範囲内に入りオフセット周波数発
生ループのロック検出信号は“Ｈ”レベルになる。この
ように電圧比較器６は、周波数変更時に判定信号は必ず
“Ｌ”レベルになり、オフセット周波数ループ７の位相
ロックと同時に“Ｈ”レベルを出力する。
の電圧制御発振器７５Ａ、７５Ｂ、…、７５Ｎの何れか
選択すると同時に、制御部７７により電圧制御発振器の
電圧を一定電圧にし、必ずしきい値範囲から外れる電圧
にする。この時電圧制御発振器電圧がしきい値から外れ
た電圧となると同時にオフセット周波数発生ループロッ
ク検出信号が“Ｌ”レベルになる。その状態から位相ロ
ックするような動作になり、電圧制御発振器の電圧は位
相ロック安定状態になる電圧に向けて変化し、しきい値
上限、しきい値下限の範囲内に入りオフセット周波数発
生ループのロック検出信号は“Ｈ”レベルになる。この
ように電圧比較器６は、周波数変更時に判定信号は必ず
“Ｌ”レベルになり、オフセット周波数ループ７の位相
ロックと同時に“Ｈ”レベルを出力する。
【００２５】測定制御部８（図１参照）は、この信号を
受け、オフセット周波数発生ループ７の位相ロックを確
認した後、位相同期ループ１４の位相ロックにかかる時
間を加えて、位相同期ループのロックまでの時間として
認識し、レベル測定部９に対して測定開始信号を出力
し、レベル測定部９でレベル測定を行う。また、このよ
うなオフセット周波数発生ループ７を位相ロックループ
に持つことにより、位相ロックループの位相ロックは時
間を短く、変更周波数幅に影響をあまり受けないものに
することができるようになる。したがって、オフセット
周波数発生ループ７の位相ロックを判定信号により検出
した後、一定時間後に位相ロックループのロック安定状
態を知ることとなる。つまり、図１においてオフセット
周波数ループ７の位相ロック検出後に電圧比較器６から
オフセット周波数ループ７の位相ロック判定信号を測定
制御部８に送り、測定制御部８ではループ全体の位相ロ
ックするまでの一定時間を待ち、レベル測定部９に測定
開始命令をおくることにより、短時間で安定した測定を
可能にすることができる。
受け、オフセット周波数発生ループ７の位相ロックを確
認した後、位相同期ループ１４の位相ロックにかかる時
間を加えて、位相同期ループのロックまでの時間として
認識し、レベル測定部９に対して測定開始信号を出力
し、レベル測定部９でレベル測定を行う。また、このよ
うなオフセット周波数発生ループ７を位相ロックループ
に持つことにより、位相ロックループの位相ロックは時
間を短く、変更周波数幅に影響をあまり受けないものに
することができるようになる。したがって、オフセット
周波数発生ループ７の位相ロックを判定信号により検出
した後、一定時間後に位相ロックループのロック安定状
態を知ることとなる。つまり、図１においてオフセット
周波数ループ７の位相ロック検出後に電圧比較器６から
オフセット周波数ループ７の位相ロック判定信号を測定
制御部８に送り、測定制御部８ではループ全体の位相ロ
ックするまでの一定時間を待ち、レベル測定部９に測定
開始命令をおくることにより、短時間で安定した測定を
可能にすることができる。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、周波数
基準信号の周波数を所定の分周比で変更し位相比較する
位相比較部を有する位相同期ループと、位相ロック検出
部を有する位相ロック検出回路において、位相ロック検
出部は、位相同期ループの分周比を小さくするためのオ
フセット周波数発生ループと、オフセット周波数発生ル
ープに用いられる電圧制御発振器の周波数制御電圧レベ
ルを判定する電圧比較器とを有することより、オフセッ
ト周波数発生ループの周波数制御電圧を監視することで
周波数変更時に短時間で電圧制御発振器の周波数制御電
圧レベルを判定するすることができると言う優れた効果
を有する位相ロック検出回路を提供することができるも
のである。
基準信号の周波数を所定の分周比で変更し位相比較する
位相比較部を有する位相同期ループと、位相ロック検出
部を有する位相ロック検出回路において、位相ロック検
出部は、位相同期ループの分周比を小さくするためのオ
フセット周波数発生ループと、オフセット周波数発生ル
ープに用いられる電圧制御発振器の周波数制御電圧レベ
ルを判定する電圧比較器とを有することより、オフセッ
ト周波数発生ループの周波数制御電圧を監視することで
周波数変更時に短時間で電圧制御発振器の周波数制御電
圧レベルを判定するすることができると言う優れた効果
を有する位相ロック検出回路を提供することができるも
のである。
【図１】本発明の実施の形態のパワー測定装置のブロッ
ク図
ク図
【図２】本発明の実施の形態のパワー測定装置の動作説
明のためのブロック図
明のためのブロック図
【図３】本発明の実施の形態のパワー測定装置の動作説
明のための回路図
明のための回路図
【図４】本発明の実施の形態におけるパワー測定装置の
動作説明のためのタイミングチャート図
動作説明のためのタイミングチャート図
【図５】従来の位相ロック検出回路を備えた位相ロック
ループのブロック図
ループのブロック図
１ 位相同期部
２ ローパスフィルタ
３ 電圧制御発振器
４ ＩＦ信号発生部
５ 周波数ミキサ
６ 電圧比較器
７ オフセット周波数発生ループ
８ 測定制御部
９ レベル測定部
１０ 位相ロック検出部
１１ 周波数基準信号
１２ 表示部
１３ 被測定信号
１４ 位相同期ループ
６０ 抵抗
６１ 抵抗
６２ 抵抗
６３ 基準電圧
６４ コンパレータ
６５ プルアップ電圧
６６ オペアンプ
６７ オペアンプ
７１ 基準周波数発生器
７２ 位相比較器
７３ ローパスフィルタ
７４ 入力選択
７５ 電圧制御発振器郡
７６ 出力選択
７７ 制御部
Claims (4)
- 【請求項１】 周波数基準信号の周波数を所定の分周比
で変更し位相比較する位相比較部を有する位相同期ルー
プと、位相ロック検出部を有する位相ロック検出回路に
おいて、前記位相ロック検出部は、前記位相同期ループ
の分周比を小さくするためのオフセット周波数発生ルー
プと、前記オフセット周波数発生ループに用いられる電
圧制御発振器の周波数制御電圧レベルを判定する電圧比
較器とを有する位相ロック検出回路。 - 【請求項２】 前記位相同期ループおよび前記位相ロッ
ク検出部は、一体に集積化されることを特徴とする請求
項１に記載の位相ロック検出回路。 - 【請求項３】 請求項１記載の位相ロック検出回路と、
前記位相ロック検出回路が出力する位相ロック判定信号
に基づいて、レベル測定を開始するレベル測定部を有す
るパワー測定装置。 - 【請求項４】 請求項１記載の位相ロック検出回路と、
前記位相ロック検出回路が出力する位相ロック判定信号
に基づいて、パワー測定開始信号を出力する測定制御部
と、被測定信号を位相同期ループ出力を用いて一定の周
波数にダウンコンバートするＩＦ信号発生部と、前記測
定開始信号に基づいて、ＩＦ信号のレベル測定を開始す
るレベル測定部と、レベル測定結果を表示する表示部と
を有するパワー測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001198410A JP2003018001A (ja) | 2001-06-29 | 2001-06-29 | 位相ロック検出回路およびパワー測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001198410A JP2003018001A (ja) | 2001-06-29 | 2001-06-29 | 位相ロック検出回路およびパワー測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003018001A true JP2003018001A (ja) | 2003-01-17 |
Family
ID=19035866
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001198410A Pending JP2003018001A (ja) | 2001-06-29 | 2001-06-29 | 位相ロック検出回路およびパワー測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003018001A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006246185A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Sharp Corp | 無線映像伝送システム |
| JP2008511006A (ja) * | 2004-08-26 | 2008-04-10 | ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド | レーダ高度計 |
| US8866667B2 (en) | 2012-02-22 | 2014-10-21 | Honeywell International Inc. | High sensitivity single antenna FMCW radar |
| US9297885B2 (en) | 2012-07-27 | 2016-03-29 | Honeywell International Inc. | Method of system compensation to reduce the effects of self interference in frequency modulated continuous wave altimeter systems |
| US9660605B2 (en) | 2014-06-12 | 2017-05-23 | Honeywell International Inc. | Variable delay line using variable capacitors in a maximally flat time delay filter |
| US10018716B2 (en) | 2014-06-26 | 2018-07-10 | Honeywell International Inc. | Systems and methods for calibration and optimization of frequency modulated continuous wave radar altimeters using adjustable self-interference cancellation |
-
2001
- 2001-06-29 JP JP2001198410A patent/JP2003018001A/ja active Pending
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008511006A (ja) * | 2004-08-26 | 2008-04-10 | ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド | レーダ高度計 |
| JP2013064742A (ja) * | 2004-08-26 | 2013-04-11 | Honeywell Internatl Inc | レーダ高度計 |
| JP2015180885A (ja) * | 2004-08-26 | 2015-10-15 | ハネウェル・インターナショナル・インコーポレーテッド | レーダ高度計 |
| JP2006246185A (ja) * | 2005-03-04 | 2006-09-14 | Sharp Corp | 無線映像伝送システム |
| US8866667B2 (en) | 2012-02-22 | 2014-10-21 | Honeywell International Inc. | High sensitivity single antenna FMCW radar |
| US9297885B2 (en) | 2012-07-27 | 2016-03-29 | Honeywell International Inc. | Method of system compensation to reduce the effects of self interference in frequency modulated continuous wave altimeter systems |
| US9557409B2 (en) | 2012-07-27 | 2017-01-31 | Honeywell International Inc. | Method of system compensation to reduce the effects of self interference in frequency modulated continuous wave altimeter systems |
| US9660605B2 (en) | 2014-06-12 | 2017-05-23 | Honeywell International Inc. | Variable delay line using variable capacitors in a maximally flat time delay filter |
| US10018716B2 (en) | 2014-06-26 | 2018-07-10 | Honeywell International Inc. | Systems and methods for calibration and optimization of frequency modulated continuous wave radar altimeters using adjustable self-interference cancellation |
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|---|---|---|---|
| A977 | Report on retrieval |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20060130 |