JP2003007236A - X線管装置及びx線検査装置 - Google Patents

X線管装置及びx線検査装置

Info

Publication number
JP2003007236A
JP2003007236A JP2001187977A JP2001187977A JP2003007236A JP 2003007236 A JP2003007236 A JP 2003007236A JP 2001187977 A JP2001187977 A JP 2001187977A JP 2001187977 A JP2001187977 A JP 2001187977A JP 2003007236 A JP2003007236 A JP 2003007236A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
anode
electron beam
rays
ray tube
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001187977A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4707268B2 (ja
Inventor
Keiji Koyanagi
慶二 小柳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Medical Corp filed Critical Hitachi Medical Corp
Priority to JP2001187977A priority Critical patent/JP4707268B2/ja
Publication of JP2003007236A publication Critical patent/JP2003007236A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4707268B2 publication Critical patent/JP4707268B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 X線の放射方向に対してX線管装置の横寸法
を小さくし、X線の放射窓の周囲の空間を広くすること
により、X線を被検査物に対して様々な角度や方向から
照射する。 【解決手段】 電子銃1は、電子線を放出する陰極を有
し、陽極ターゲット2へ電子ビームを照射する。陽極タ
ーゲット2は、電子ビームの衝突によりX線を発生す
る。回転機構3は、電子ビームの衝突による発熱で陽極
ターゲット2が溶融するのを防止するため、陽極ターゲ
ット2を回転する。X線の放射方向の中心2aを、陽極
の回転軸2bとほぼ平行とする。または、電子ビームの
照射方向1aを、陽極の回転軸2bとほぼ垂直とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、陽極回転機構を備
えたX線管装置及びそれを用いたX線検査装置に係り、
特に工業用の非破壊検査装置等のようにX線を様々な角
度や方向から照射するのに好適なX線管装置及びそれを
用いたX線検査装置に関する。
【0002】
【従来の技術】一般の医療用あるいは工業用のX線透過
・撮影装置又はX線露光装置等では、多くの場合、X線
発生源としてX線管装置が使用されている。X線管装置
は、陰極から放出した電子線を陽極に照射し、電子線の
衝突により陽極からX線を発生するものである。大出力
のX線管装置には、電子線の衝突による発熱で陽極が溶
融するのを防止するために、陽極を回転する回転機構が
備えられている。
【0003】図4は、従来の陽極回転機構を備えたX線
管装置の概略構成を示す斜視図である。X線管装置40
は、電子線を放出する陰極を有する電子銃41と、電子
ビームの衝突によりX線を発生する陽極ターゲット42
と、陽極ターゲット42を回転する回転機構43とを備
えている。電子銃41、陽極ターゲット42及び回転機
構43の一部は、金属あるいはガラス製の外囲器46内
に真空封入されてX線管管球を構成している。X線管管
球及び回転機構43の一部はさらにシステム容器48内
に収納され、システム容器48にはX線を放射する放射
窓47が設けられている。
【0004】電子銃41は、外囲器46内に固定されて
いる。陽極ターゲット42は円盤状で、そのX線放射面
はX線の放射方向に対して所定角度傾斜している。電子
銃41からの電子ビームが衝突することにより、陽極タ
ーゲット42のX線放射面からX線が発生する。X線は
陽極ターゲット42のX線放射面から所定の角度範囲で
放射されるが、図4に一点鎖線で示したように、X線の
放射方向の中心は電子ビームの照射方向とほぼ垂直とな
る。回転機構43は、ステータコイル44、軸受け45
及び支持部を有し、軸受け45及び支持部により陽極タ
ーゲット42は回転可能に保持されている。ステータコ
イル44は、励磁電流を流したときに発生する磁界の作
用により、陽極ターゲット42を回転させる。
【0005】このように従来の陽極回転機構を備えたX
線管装置は、電子ビームの照射方向が陽極の回転軸方向
と一致し、X線を放射する放射窓47の左右に電子銃4
1及び回転機構43を配置していた。
【0006】図5は、従来の陽極回転機構を備えたX線
管装置を用いたX線検査装置の構成図である。X線検査
装置50は、被検査物を載せるXYテーブル11、X線
管装置40、及びX線検出装置20を含んで構成され
る。X線検出装置20は、X線管装置40から発生して
XYテーブル11上の被検査物を透過したX線を検出
し、画像信号に変換する。X線管装置40及びX線検出
装置20は、それぞれ図示しない移動機構によりX線検
査装置50内を移動可能に構成されている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】工業用の非破壊検査装
置等のX線検査装置では、X線を被検査物に対して様々
な角度や方向から照射することが要求される。しかしな
がら、従来の陽極回転機構を備えたX線管装置は、X線
の放射窓の左右に電子銃及び回転機構を配置していたた
め、放射窓を上に向けた状態で装置が横長の構成とな
り、図5において放射窓47がX線検査装置50内を移
動可能な範囲が限られていた。また、X線の放射窓の周
囲に電子銃及び回転機構があるため、放射窓の周囲の空
間を広く取ることができず、X線を被検査物に対して照
射する角度や方向が限られていた。
【0008】本発明は、X線の放射方向に対して横寸法
が小さく、X線の放射窓の周囲の空間が広いX線管装置
を提供することを目的とする。
【0009】本発明はまた、X線を被検査物に対して様
々な角度や方向から照射することのできるX線検査装置
を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の本発明
に係るX線管装置は、電子線発生源と、電子線発生源か
ら照射される電子線の衝突によりX線を発生する陽極
と、陽極を回転する回転手段とを備えたX線管装置にお
いて、陽極から発生するX線の放射方向の中心を、回転
手段による陽極の回転軸とほぼ平行にしたものである。
【0011】従来、X線の放射方向の中心は、陽極の回
転軸とほぼ垂直であった。このため、陽極を回転する回
転手段は、X線の放射窓の横に配置する必要があった。
請求項1に記載の本発明では、X線の放射方向の中心を
陽極の回転軸とほぼ平行にすることにより、陽極を回転
する回転手段をX線の放射窓の下方に配置することがで
きる。
【0012】請求項2に記載の本発明に係るX線管装置
は、電子線発生源と、電子線発生源から照射される電子
線の衝突によりX線を発生する陽極と、陽極を回転する
回転手段とを備えたX線管装置において、電子線発生源
から陽極へ照射される電子線の照射方向を、回転手段に
よる陽極の回転軸とほぼ垂直にしたものである。
【0013】従来、電子線の照射方向は、陽極の回転軸
方向と一致していた。このため、陽極を回転する回転手
段は、電子線発生源と並んで配置する必要があった。請
求項2に記載の本発明では、電子線の照射方向を陽極の
回転軸とほぼ垂直にすることにより、電子線発生源と陽
極を回転する回転手段とをほぼ垂直に配置することがで
きる。従って、電子線発生源又は回転手段をX線の放射
窓の下方に配置することができる。
【0014】請求項3に記載の本発明に係るX線検査装
置は、X線を発生するX線発生源と、X線発生源から発
生して被検査物を透過したX線を検出するX線検出装置
とを備えたX線検査装置において、X線発生源として、
請求項1又は請求項2に記載のX線管装置を備えたもの
である。
【0015】請求項1又は請求項2に記載のX線管装置
は、X線の放射方向に対して横寸法が小さく、X線の放
射窓の周囲の空間が広い。これをX線発生源として用い
ることにより、X線を被検査物に対して様々な角度や方
向から照射することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を添付
図面に従って説明する。図1(a)は本発明の一実施の
形態によるX線管装置の概略構成を示す斜視図、図1
(b)は電子銃と陽極ターゲットの側面図である。X線
管装置10は、電子ビームを発生する電子銃1と、電子
ビームの衝突によりX線を発生する陽極ターゲット2
と、陽極ターゲット2を回転する回転機構3とを備えて
いる。電子銃1、陽極ターゲット2及び回転機構3の一
部は、金属あるいはガラス製の外囲器6内に真空封入さ
れている。外囲器6には、X線を放射する放射窓7が設
けられている。
【0017】電子銃1は、電子線を放出する陰極と、陰
極から電子線を引き出す引出し電極と、電子線を集束す
る電子集束系とを備えている。陰極は、タングステンや
酸化バリウム等の電子放出特性に優れた材料で構成され
ている。引出し電極及び電子集束系は、数段の電極で電
子レンズを構成したものである。各電極は、電圧を印加
する高電圧発生部(図示省略)及びその制御部(図示省
略)に接続されている。各電極には、所望の焦点寸法を
形成するために、電子ビームが通る穴が設けられてお
り、印加電圧によって集束作用を持つように設計されて
いる。陰極から放出された電子線は、引出し電極で作ら
れる磁界により引き出され、電子集束系で所望の焦点寸
法となるように細く集束されて電子ビームとなり、陽極
ターゲット2へ照射される。
【0018】陽極ターゲット2は、X線発生効率の良い
高原子番号の材料、例えばタングステン、タンタル等で
構成されている。陽極ターゲット2は図1に示すように
円盤状で、そのX線放射面はX線の放射方向に対して所
定角度傾斜している。電子銃1からの電子ビームが衝突
することにより、陽極ターゲット2のX線放射面からX
線が発生する。X線は陽極ターゲット2のX線放射面か
ら所定の角度範囲で放射されるが、図1(b)に一点鎖
線で示したように、X線の放射方向の中心2aは、電子
ビームの照射方向1aとほぼ垂直となる。
【0019】回転機構3は、ステータコイル4、軸受け
5及び支持部を有し、軸受け5及び支持部により陽極タ
ーゲット4は回転可能に保持されている。ステータコイ
ル4は、励磁電流を流したときに発生する磁界の作用に
より、陽極ターゲット2を回転させる。
【0020】本実施の形態によれば、図1(b)に一点
鎖線で示したように、X線の放射方向の中心2aは、陽
極の回転軸2bとほぼ平行となっている。これにより、
回転機構3をX線の放射窓7の下方に配置することがで
きる。従って、X線の放射方向に対して装置の横寸法が
小さくなり、X線の放射窓7の周囲の空間が広くなる。
【0021】また、本実施の形態によれば、図1(b)
に一点鎖線で示したように、電子ビームの照射方向1a
は、陽極の回転軸2bとほぼ垂直となっている。これに
より、電子銃1と回転機構3とをほぼ垂直に配置するこ
とができる。従って、電子銃1又は回転機構3をX線の
放射窓7の下方に配置することができ、X線の放射方向
に対して装置の横寸法が小さくなり、X線の放射窓7の
周囲の空間が広くなる。
【0022】なお、本実施の形態では、陽極を回転する
回転機構3が電子銃1より大きいため、回転機構3の方
をX線の放射窓7の下方に配置しているが、本発明は電
子銃1をX線の放射窓7の下方に配置してもよい。
【0023】図2(a)は本発明の他の実施の形態によ
るX線管装置の概略構成を示す斜視図、図2(b)は電
子銃と陽極ターゲットの側面図である。本実施の形態が
図1に示した実施の形態と異なる点は、電子ビームの照
射方向1aと、陽極ターゲット2のX線放射面の傾斜角
度である。他は、図1に示した実施の形態と同様であ
る。本実施の形態では、図2(b)に一点鎖線で示した
ように、電子ビームの照射方向1aは、陽極の回転軸2
bに対して、垂直より下向きとなっている。一方、陽極
ターゲット2のX線放射面はX線の放射方向の中心2a
に対して傾斜角度が大きくなり、結果として、図2
(b)に一点鎖線で示したように、X線の放射方向の中
心2aは、陽極の回転軸2bとほぼ平行となっている。
【0024】本実施の形態によれば、電子銃1を陽極タ
ーゲット2の斜め上方に配置することができる。従っ
て、X線の放射方向に対して装置の横寸法がさらに小さ
くなる。
【0025】図3は、本発明の一実施の形態によるX線
検査装置の構成図である。X線検査装置30は、被検査
物を載せるXYテーブル11、X線管装置10、及びX
線検出装置20を含んで構成される。X線検出装置20
は、X線管装置10から発生してXYテーブル11上の
被検査物を透過したX線を検出し、画像信号に変換す
る。X線管装置10及びX線検出装置20は、それぞれ
図示しない移動機構によりX線検査装置30内を移動可
能に構成されている。
【0026】図3において、X線管装置10はX線の放
射方向に対して横寸法が小さいため、放射窓7がX線検
査装置30内を移動可能な範囲は図5の場合に比べて広
がっている。また、X線管装置10はX線の放射窓の周
囲の空間が広いため、X線をXYテーブル11上の被検
査物に対して様々な角度や方向から照射することができ
る。
【0027】
【発明の効果】請求項1に記載のX線管装置によれば、
X線の放射方向の中心を陽極の回転軸とほぼ平行にする
ことにより、陽極を回転する回転手段をX線の放射窓の
下方に配置することができる。従って、X線の放射方向
に対して装置の横寸法が小さくなり、X線の放射窓の周
囲の空間が広くなる。
【0028】請求項2に記載のX線管装置によれば、電
子線の照射方向を陽極の回転軸とほぼ垂直にすることに
より、電子線発生源と陽極を回転する回転手段とをほぼ
垂直に配置することができる。従って、電子線発生源又
は回転手段をX線の放射窓の下方に配置することができ
るので、X線の放射方向に対して装置の横寸法が小さく
なり、X線の放射窓の周囲の空間が広くなる。
【0029】請求項3に記載のX線検査装置によれば、
X線発生源として請求項1又は請求項2に記載のX線管
装置を用いることにより、X線を被検査物に対して様々
な角度や方向から照射することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1(a)は本発明の一実施の形態によるX
線管装置の概略構成を示す斜視図、図1(b)は電子銃
と陽極ターゲットの側面図である。
【図2】 図2(a)は本発明の他の実施の形態による
X線管装置の概略構成を示す斜視図、図2(b)は電子
銃と陽極ターゲットの側面図である。
【図3】 本発明の一実施の形態によるX線検査装置の
構成図である。
【図4】 従来の陽極回転機構を備えたX線管装置の概
略構成を示す斜視図である。
【図5】 従来の陽極回転機構を備えたX線管装置を用
いたX線検査装置の構成図である。
【符号の説明】
1…電子銃、2…陽極ターゲット、3…回転機構、4…
ステータコイル、5…軸受け、6…外囲器、7…放射
窓、10…X線管装置、11…XYテーブル、20…X
線検出装置、30…X線検査装置

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電子線発生源と、 前記電子線発生源から照射される電子線の衝突によりX
    線を発生する陽極と、 前記陽極を回転する回転手段とを備えたX線管装置にお
    いて、 前記陽極から発生するX線の放射方向の中心が、前記回
    転手段による前記陽極の回転軸とほぼ平行であることを
    特徴とするX線管装置。
  2. 【請求項2】 電子線発生源と、 前記電子線発生源から照射される電子線の衝突によりX
    線を発生する陽極と、 前記陽極を回転する回転手段とを備えたX線管装置にお
    いて、 前記電子線発生源から前記陽極へ照射される電子線の照
    射方向が、前記回転手段による前記陽極の回転軸とほぼ
    垂直であることを特徴とするX線管装置。
  3. 【請求項3】 X線を発生するX線発生源と、 前記X線発生源から発生して被検査物を透過したX線を
    検出するX線検出装置とを備えたX線検査装置におい
    て、 前記X線発生源として、請求項1又は請求項2に記載の
    X線管装置を備えたことを特徴とするX線検査装置。
JP2001187977A 2001-06-21 2001-06-21 X線管装置及びx線検査装置 Expired - Fee Related JP4707268B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001187977A JP4707268B2 (ja) 2001-06-21 2001-06-21 X線管装置及びx線検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001187977A JP4707268B2 (ja) 2001-06-21 2001-06-21 X線管装置及びx線検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003007236A true JP2003007236A (ja) 2003-01-10
JP4707268B2 JP4707268B2 (ja) 2011-06-22

Family

ID=19027183

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001187977A Expired - Fee Related JP4707268B2 (ja) 2001-06-21 2001-06-21 X線管装置及びx線検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4707268B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111403073A (zh) * 2020-03-19 2020-07-10 哈尔滨工程大学 一种基于电子加速器的多用途终端

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5574048A (en) * 1978-11-20 1980-06-04 Machlett Lab Inc Soft xxray lithographic system
JPH06111741A (ja) * 1992-09-28 1994-04-22 Rigaku Corp 回転対陰極x線発生装置
JPH08162285A (ja) * 1994-10-03 1996-06-21 Rigaku Corp 回転対陰極x線管、x線発生装置、およびx線発生装置の組立方法
JP2000306533A (ja) * 1999-02-19 2000-11-02 Toshiba Corp 透過放射型x線管およびその製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5574048A (en) * 1978-11-20 1980-06-04 Machlett Lab Inc Soft xxray lithographic system
JPH06111741A (ja) * 1992-09-28 1994-04-22 Rigaku Corp 回転対陰極x線発生装置
JPH08162285A (ja) * 1994-10-03 1996-06-21 Rigaku Corp 回転対陰極x線管、x線発生装置、およびx線発生装置の組立方法
JP2000306533A (ja) * 1999-02-19 2000-11-02 Toshiba Corp 透過放射型x線管およびその製造方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111403073A (zh) * 2020-03-19 2020-07-10 哈尔滨工程大学 一种基于电子加速器的多用途终端
CN111403073B (zh) * 2020-03-19 2023-01-03 哈尔滨工程大学 一种基于电子加速器的多用途终端

Also Published As

Publication number Publication date
JP4707268B2 (ja) 2011-06-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7526068B2 (en) X-ray source for materials analysis systems
US20080240344A1 (en) X-ray tomosynthesis device
JP5687001B2 (ja) X線発生装置
JP2004528682A (ja) 2つのフィラメントにより焦点が静電制御されるx線管
JPH10503618A (ja) 微小焦点x線発生装置
JPH11288678A (ja) 蛍光x線源
KR20100071564A (ko) 엑스선 튜브
JP4601994B2 (ja) X線源及びその陽極
JP2007216018A (ja) X線コンピュータ断層撮影装置
JP5486762B2 (ja) 複数焦点x線システムのための方法及びシステム
US10032595B2 (en) Robust electrode with septum rod for biased X-ray tube cathode
US7173999B2 (en) X-ray microscope having an X-ray source for soft X-ray
JP4707268B2 (ja) X線管装置及びx線検査装置
JP5366419B2 (ja) X線装置
RU2161843C2 (ru) Точечный высокоинтенсивный источник рентгеновского излучения
JP2001004559A (ja) X線検査装置
JP4370576B2 (ja) X線発生装置
JP2000340149A (ja) X線管装置
JP2001273860A (ja) マイクロフォーカスx線管装置
US20040120462A1 (en) Method and apparatus for generating x-ray beams
JPH05119199A (ja) レーザプラズマx線源用ターゲツト
JPS5928939B2 (ja) X線発生器
JP2010146992A (ja) 走査型x線管
JP6726788B2 (ja) 荷電粒子装置、構造物の製造方法および構造物製造システム
JP3825933B2 (ja) 電子ビーム照射装置およびこの電子ビーム照射装置を用いた電子ビーム描画装置、走査型電子顕微鏡、点光源型x線照射装置

Legal Events

Date Code Title Description
RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20080221

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080519

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101006

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101019

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101216

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110221

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110315

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees