JP2002531986A - 安全上重要な用途のためのａ／ｄコンバータを備えた回路装置 - Google Patents
安全上重要な用途のためのａ／ｄコンバータを備えた回路装置Info
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Abstract
(57)【要約】
安全上重要な用途のためのＡ／Ｄコンバータを備えた回路装置は、Ａ／Ｄコンバータ（１０）の入力に供給されるランプ波電圧を発生するためのランプ波信号発生器（１１）と、試験サイクルを起動させるための試験回路（１２）とを備え、この試験サイクルはランプ波の第１のランを含み、このランによって、構成要素誤差を補償するための、ランプ波信号発生器の基準測定が行われ、更にランプ波の第２のランを含み、このランの際に、Ａ／Ｄコンバータの伝送特性について計算された値が、伝送特性の測定値の設定誤差範囲の外にあるときに、エラー信号（Ｆ）が出力される。
Description
【０００１】 本発明は、特に安全上重要な要素のためのＡ／Ｄコンバータを備えた回路装置
に関する。
に関する。
【０００２】 安全上重要な用途とシステムのための回路の場合、信頼性と故障のない運転が
きわめて重要である。特に、構成要素の誤動作の場合、全体システムが危険にさ
らされることを防止すべきである。これを達成するためには、当該の構成要素の
欠陥を検出し、適当な手段を講じることが必要である。
きわめて重要である。特に、構成要素の誤動作の場合、全体システムが危険にさ
らされることを防止すべきである。これを達成するためには、当該の構成要素の
欠陥を検出し、適当な手段を講じることが必要である。
【０００３】 故障のない運転の立場から監視すべきであるこのような構成要素は例えばＡ／
Ｄ（アナログ／デジタル）コンバータである。２つの同一のＡ／Ｄコンバータを
平行に運転し、両コンバータの出力信号の同一性を監視し、普通のコンバータ誤
差を考慮して同一性がもはや存在しないときに、エラーメッセージを生じること
が知られている。特に速度と精度に高度の要求がなされる場合、Ａ／Ｄ変換器は
その実現に比較的にコストがかかるので、この解決策はコスト上の理由から一般
的に不利であると見なされる。
Ｄ（アナログ／デジタル）コンバータである。２つの同一のＡ／Ｄコンバータを
平行に運転し、両コンバータの出力信号の同一性を監視し、普通のコンバータ誤
差を考慮して同一性がもはや存在しないときに、エラーメッセージを生じること
が知られている。特に速度と精度に高度の要求がなされる場合、Ａ／Ｄ変換器は
その実現に比較的にコストがかかるので、この解決策はコスト上の理由から一般
的に不利であると見なされる。
【０００４】 そこで、本発明の根底をなす課題は、安全上重要な用途のために必要である、
Ａ／Ｄコンバータの機能の監視が、少ない回路コストで可能である、Ａ／Ｄコン
バータを備えた回路装置を提供することである。
Ａ／Ｄコンバータの機能の監視が、少ない回路コストで可能である、Ａ／Ｄコン
バータを備えた回路装置を提供することである。
【０００５】 この課題は本発明に従い、請求項１に従い、Ａ／Ｄコンバータの入力に供給さ
れるランプ波電圧を発生するためのランプ波信号発生器と、試験サイクルを起動
させるための試験回路とを備え、この試験サイクルがランプ波の第１のランを含
み、このランによって、構成要素誤差を補正するための、ランプ波信号発生器の
基準測定が行われ、更にランプ波の第２のランを含み、このランの際に、Ａ／Ｄ
コンバータの伝送特性について計算された値が、伝送特性の測定値の設定誤差範
囲の外にあるときに、エラーメッセージが出力されることを特徴とする、冒頭に
述べた種類の回路装置によって解決される。
れるランプ波電圧を発生するためのランプ波信号発生器と、試験サイクルを起動
させるための試験回路とを備え、この試験サイクルがランプ波の第１のランを含
み、このランによって、構成要素誤差を補正するための、ランプ波信号発生器の
基準測定が行われ、更にランプ波の第２のランを含み、このランの際に、Ａ／Ｄ
コンバータの伝送特性について計算された値が、伝送特性の測定値の設定誤差範
囲の外にあるときに、エラーメッセージが出力されることを特徴とする、冒頭に
述べた種類の回路装置によって解決される。
【０００６】 この解決策の特別な効果は、第１のランにおける基準測定と、それによって可
能であるランプ波信号発生器の異なる誤差の補償とによって、回路コストが比較
的に少なく抑えられることにある。
能であるランプ波信号発生器の異なる誤差の補償とによって、回路コストが比較
的に少なく抑えられることにある。
【０００７】 従属請求項は本発明の他の有利な実施形に関する。この実施形によれば、伝送
特性は出力電圧でもよいし、サンプリングの数でもよい。
特性は出力電圧でもよいし、サンプリングの数でもよい。
【０００８】 本発明の他の詳細、特徴および効果は、図に基づく好ましい実施の形態の次の
記載から明らかになる。
記載から明らかになる。
【０００９】 本発明の解決策の要部は、普通の運転中にＡ／Ｄコンバータの動作を絶えず監
視することにある。そのために、判定基準が４つまで適用される。これは一方で
は、静的精度の誤差を維持することである。この誤差には、オフセット誤差、増
幅誤差、積分および微分の直線性誤差、量子化誤差およびノイズが含まれる。こ
れらの誤差の量はいわゆる全体変換精度にまとめられる。
視することにある。そのために、判定基準が４つまで適用される。これは一方で
は、静的精度の誤差を維持することである。この誤差には、オフセット誤差、増
幅誤差、積分および微分の直線性誤差、量子化誤差およびノイズが含まれる。こ
れらの誤差の量はいわゆる全体変換精度にまとめられる。
【００１０】 第２の判定基準として、クロック不良の検査が役立つ。第３の判定基準はＡ／
Ｄコンバータの時間的な挙動に関し、しかも許容誤差範囲内のサンプリング周波
数の位置と、通常運転中のサンプル値の正しい検出についてのＡ／Ｄコンバータ
の時間的な挙動に関する。
Ｄコンバータの時間的な挙動に関し、しかも許容誤差範囲内のサンプリング周波
数の位置と、通常運転中のサンプル値の正しい検出についてのＡ／Ｄコンバータ
の時間的な挙動に関する。
【００１１】 第４の判定基準はＡ／Ｄコンバータの基準電圧の監視のために役立つ。 本発明による回路装置の回路が図１に示してある。監視すべきＡ／Ｄコンバー
タ１０の入力部には、ランプ波信号発生器（鋸歯状信号発生器）１１が接続され
ている。Ａ／Ｄコンバータ１０の出力部には試験回路が接続されている。Ａ／Ｄ
コンバータ１０はその入力部に供給される、図２に示すアナログのランプ波電圧
ｕinを、デジタルの出力電圧ｕout に変換する。このデジタルの出力電圧は試験
回路１２によって評価される。その際、試験回路はＡ／Ｄコンバータのサンプリ
ング信号ｆs によってトリガーされ、ランプ波信号発生器の当該のキャパシタの
ための放電信号Ｅを発生する。
タ１０の入力部には、ランプ波信号発生器（鋸歯状信号発生器）１１が接続され
ている。Ａ／Ｄコンバータ１０の出力部には試験回路が接続されている。Ａ／Ｄ
コンバータ１０はその入力部に供給される、図２に示すアナログのランプ波電圧
ｕinを、デジタルの出力電圧ｕout に変換する。このデジタルの出力電圧は試験
回路１２によって評価される。その際、試験回路はＡ／Ｄコンバータのサンプリ
ング信号ｆs によってトリガーされ、ランプ波信号発生器の当該のキャパシタの
ための放電信号Ｅを発生する。
【００１２】 図２に示したランプ波電圧の勾配ｍは、基準電流源の電流Ｉとキャパシタのキ
ャパシタンスＣからｍ＝Ｉ／Ｃとして生じる。構成要素の誤差から、最小のラン
プ波勾配ｍmin ＝Ｉmin ／Ｃmax と、最大ランプ波勾配ｍmax ＝Ｉmax ／Ｃmin が生じる。更に、ｍ＝（ｕmax ×ｆs ）／ｃｌが当てはまる。この場合、ｕmax は最大ランプ波電圧、ｃｌはｕmax が達成されるときのカウントレベルである。
更に、ｍ＝（ｕDelta ×ｆs ）／ｌ＝ｕLSB ／ｔDelta が当てはまる。この場合
、ｕDelta はサンプリングあたりの電圧変化、ｔDelta は１ＬＳＢだけ電圧を変
更するために必要な時間である。この関係は図２にも記入されている。この場合
、図示は勿論、正しい縮尺ではない。
ャパシタンスＣからｍ＝Ｉ／Ｃとして生じる。構成要素の誤差から、最小のラン
プ波勾配ｍmin ＝Ｉmin ／Ｃmax と、最大ランプ波勾配ｍmax ＝Ｉmax ／Ｃmin が生じる。更に、ｍ＝（ｕmax ×ｆs ）／ｃｌが当てはまる。この場合、ｕmax は最大ランプ波電圧、ｃｌはｕmax が達成されるときのカウントレベルである。
更に、ｍ＝（ｕDelta ×ｆs ）／ｌ＝ｕLSB ／ｔDelta が当てはまる。この場合
、ｕDelta はサンプリングあたりの電圧変化、ｔDelta は１ＬＳＢだけ電圧を変
更するために必要な時間である。この関係は図２にも記入されている。この場合
、図示は勿論、正しい縮尺ではない。
【００１３】 本発明による解決策の場合の基本原理は、Ａ／Ｄコンバータ１０の入力部でラ
ンプ波電圧ｕinを２回通過させ、出力信号ｕout に関して異なる測定を行うこと
にある。最初のランによって、時間が測定される。負の基準電圧−ＵRef または
値０（接地）からランプ波ストップ、すなわち正の基準電圧＋ＵRef またはｕma x までのランプ波電圧を高めるために、ランプ波信号発生器は上記時間を必要と
する。この時間はＡ／Ｄコンバータのサンプリング時間の多数倍として検出され
る。
ンプ波電圧ｕinを２回通過させ、出力信号ｕout に関して異なる測定を行うこと
にある。最初のランによって、時間が測定される。負の基準電圧−ＵRef または
値０（接地）からランプ波ストップ、すなわち正の基準電圧＋ＵRef またはｕma x までのランプ波電圧を高めるために、ランプ波信号発生器は上記時間を必要と
する。この時間はＡ／Ｄコンバータのサンプリング時間の多数倍として検出され
る。
【００１４】 この測定は、第２のランの結果から、ランプ波信号発生器１１のいろいろな誤
差を除去するために役立つ。
差を除去するために役立つ。
【００１５】 詳しくは、これは、Ａ／Ｄコンバータの基準電圧ＵRef の誤差、ランプ波の最
終値ｕmax の誤差（ｕmax ＜＞ＵRef である場合）および基準電流源の電流Ｉの
誤差とキャパシタのキャパシタンスによって生じるランプ波勾配の変化である。
更に、この誤差の補正によって、ランプ波発生器の回路コストが許容される限度
内に保たれる。
終値ｕmax の誤差（ｕmax ＜＞ＵRef である場合）および基準電流源の電流Ｉの
誤差とキャパシタのキャパシタンスによって生じるランプ波勾配の変化である。
更に、この誤差の補正によって、ランプ波発生器の回路コストが許容される限度
内に保たれる。
【００１６】 第２のランのときに、Ａ／Ｄコンバータの異なる伝達特性が特別な誤差範囲内
にあるかどうかが検査される。このランのために、３つの異なる方法を説明する
。この方法のうち１つ以上が、所望される精度と信頼性に依存して行われる。
にあるかどうかが検査される。このランのために、３つの異なる方法を説明する
。この方法のうち１つ以上が、所望される精度と信頼性に依存して行われる。
【００１７】 この両ランは図３に示した、試験回路１２の状態遷移図の基本構造によって示
してある。
してある。
【００１８】 第１のランは初期設定（Ｉ）によって開始される。この初期設定によって、ラ
ンプ波信号発生器のキャパシタが放電信号Ｅ（図１）によって放電され、第１の
カウンタがリセットされる。続いて、ランプ波電圧が上昇する間、第１のカウン
タがサンプリング信号をカウントする。所定の時間の後で（最大カウントレベル
ｃｌmax に達した後で）ランプ波ストップが検出されないときには、エラー信号
Ｆが発生させられる。ランプ波ストップが検出されると、試験回路はセットアッ
プ状態（Ｓ）に移行する。この最初のランの終了時に、達成された最大ランプ波
電圧ｕmax が特定の誤差範囲（“フルスケールエラー”）内にあるかどうかが検
査される。そうでない場合には、エラー信号Ｆが発生させられる。
ンプ波信号発生器のキャパシタが放電信号Ｅ（図１）によって放電され、第１の
カウンタがリセットされる。続いて、ランプ波電圧が上昇する間、第１のカウン
タがサンプリング信号をカウントする。所定の時間の後で（最大カウントレベル
ｃｌmax に達した後で）ランプ波ストップが検出されないときには、エラー信号
Ｆが発生させられる。ランプ波ストップが検出されると、試験回路はセットアッ
プ状態（Ｓ）に移行する。この最初のランの終了時に、達成された最大ランプ波
電圧ｕmax が特定の誤差範囲（“フルスケールエラー”）内にあるかどうかが検
査される。そうでない場合には、エラー信号Ｆが発生させられる。
【００１９】 上記のエラー信号ｆが発生しないと、選択された方法ｕDelta またはｔDelta に応じて、ランプ波信号発生器のキャパシタが改めて放電され、Ａ／Ｄコンバー
タがサンプリング時間の計算時間（潜伏期）を有する場合、待機状態（Ｗ）がセ
ットされる。
タがサンプリング時間の計算時間（潜伏期）を有する場合、待機状態（Ｗ）がセ
ットされる。
【００２０】 次の第２のラン（Ｍ）において、上記の３つの方法の１つまたは複数が実施さ
れる。この場合、第１と第２の方法によって、所定の時点で電圧が検査され、第
３の方法によって、所定の電圧変化時の時間が検出される。この電圧または時間
が許容誤差範囲の外にあると、エラー信号が発生させられる。他方では、ランプ
波ストップの検出時に測定が故障なしとして終了させられ、次の測定が初期設定
される（Ｉ）。
れる。この場合、第１と第２の方法によって、所定の時点で電圧が検査され、第
３の方法によって、所定の電圧変化時の時間が検出される。この電圧または時間
が許容誤差範囲の外にあると、エラー信号が発生させられる。他方では、ランプ
波ストップの検出時に測定が故障なしとして終了させられ、次の測定が初期設定
される（Ｉ）。
【００２１】 図４は状態Ｉ（初期設定）とＴ（時間測定）の経過のフローチャートである。
この状態は試験回路によって実施され、３つの方法すべてにとって同じである。 初期設定ＩはステップＳ１においてランプ波信号発生器のキャパシタＣのため
の放電信号の発生によって開始される。続いて、ステップＳ２において、第１の
カウンタのカウントレベルｃ１がリセットされ、しかも−２の値にリセットされ
る。それによって、アルゴリズムとＡ／Ｄコンバータの計算時間（潜伏期）によ
る遅れが補償される。更に、ステップＳ３において、第２のカウンタのカウント
レベルｃ２が零にセットされる。
この状態は試験回路によって実施され、３つの方法すべてにとって同じである。 初期設定ＩはステップＳ１においてランプ波信号発生器のキャパシタＣのため
の放電信号の発生によって開始される。続いて、ステップＳ２において、第１の
カウンタのカウントレベルｃ１がリセットされ、しかも−２の値にリセットされ
る。それによって、アルゴリズムとＡ／Ｄコンバータの計算時間（潜伏期）によ
る遅れが補償される。更に、ステップＳ３において、第２のカウンタのカウント
レベルｃ２が零にセットされる。
【００２２】 それに続いて時間の測定（Ｔ）が２つのループで行われ、ステップＳ４におい
て放電信号Ｅを零にセットすることによって開始される。更に、ステップＳ５に
従って、ランプ波ストップの達成までサンプリングの数を計数する第１のカウン
タのカウントレベルｃ１が値１だけ高められ、ステップＳ６に従ってＡ／Ｄコン
バータの出力電圧ｕout が値ｕold として記憶される。続いて、ステップＳ７に
おいて、出力電圧の新しい値ｕout が古い値ｕold に等しいかどうかが質問され
る。この質問の答が“ノー”であるときには、ステップＳ８に従って第２のカウ
ンタのカウントレベルｃ２が零にセットされ、ステップＳ９において、第１のカ
ウンタのカウントレベルｃ１がその最大値ｃ１max に達したかどうかが質問され
る。達していないときには、この処理手順がステップＳ４において開始されて繰
り返される。なぜなら、一方では出力電圧ｕout がサンプリグの度に変化し、他
方ではランプ波ストップに達するために必要なサンプリングの数ｃ１max がまだ
達成されていないからである。
て放電信号Ｅを零にセットすることによって開始される。更に、ステップＳ５に
従って、ランプ波ストップの達成までサンプリングの数を計数する第１のカウン
タのカウントレベルｃ１が値１だけ高められ、ステップＳ６に従ってＡ／Ｄコン
バータの出力電圧ｕout が値ｕold として記憶される。続いて、ステップＳ７に
おいて、出力電圧の新しい値ｕout が古い値ｕold に等しいかどうかが質問され
る。この質問の答が“ノー”であるときには、ステップＳ８に従って第２のカウ
ンタのカウントレベルｃ２が零にセットされ、ステップＳ９において、第１のカ
ウンタのカウントレベルｃ１がその最大値ｃ１max に達したかどうかが質問され
る。達していないときには、この処理手順がステップＳ４において開始されて繰
り返される。なぜなら、一方では出力電圧ｕout がサンプリグの度に変化し、他
方ではランプ波ストップに達するために必要なサンプリングの数ｃ１max がまだ
達成されていないからである。
【００２３】 これに対して、ステップＳ９の質問の答が“イエス”であるとき、すなわち不
所望な場合に必要がサンプリングの最大数ｃ１max が達成され、故障のないＡ／
Ｄコンバータの場合のランプ波ストップが保証されて達成されているときには、
ステップＳ１０において、ランプ波ストップに達していないことに基づいてエラ
ーの報告がなされ、処理手順が初期設定（Ｉ）によって開始されて繰り返される
。
所望な場合に必要がサンプリングの最大数ｃ１max が達成され、故障のないＡ／
Ｄコンバータの場合のランプ波ストップが保証されて達成されているときには、
ステップＳ１０において、ランプ波ストップに達していないことに基づいてエラ
ーの報告がなされ、処理手順が初期設定（Ｉ）によって開始されて繰り返される
。
【００２４】 Ａ／Ｄコンバータの出力電圧ｕout が前のサンプリングに対して変化しておら
ず、それによってステップＳ７における質問の答が“イエス”であるや否や、ス
テップＳ１１において第２のカウンタのカウントレベルｃ２が値１だけ高められ
、ステップＳ１２においてこの新しいカウントレベルがｔDelta-max の値に等し
いかどうか、すなわちサンプリングの数に等しいかどうかが質問される。不所望
な場合、ランプ波電圧の上昇中出力電圧ｕout が保証されて１ＬＳＢだけ上昇す
る。この質問の答が“ノー”であるときには、時間測定Ｔが繰り返され、ステッ
プＳ４の処理手順に進む。これに対して、質問の答が“イエス”であるとき、す
なわちランプ波ストップが達成されたときには、自動試験が状態Ｓ（“セットア
ップ”）に移行する。
ず、それによってステップＳ７における質問の答が“イエス”であるや否や、ス
テップＳ１１において第２のカウンタのカウントレベルｃ２が値１だけ高められ
、ステップＳ１２においてこの新しいカウントレベルがｔDelta-max の値に等し
いかどうか、すなわちサンプリングの数に等しいかどうかが質問される。不所望
な場合、ランプ波電圧の上昇中出力電圧ｕout が保証されて１ＬＳＢだけ上昇す
る。この質問の答が“ノー”であるときには、時間測定Ｔが繰り返され、ステッ
プＳ４の処理手順に進む。これに対して、質問の答が“イエス”であるとき、す
なわちランプ波ストップが達成されたときには、自動試験が状態Ｓ（“セットア
ップ”）に移行する。
【００２５】 図５は、第１の方法についての他の処理手順の第２の部分（図３による状態Ｓ
．Ｗ，Ｍ）を示している。セットアップ状態Ｓはステップ１３における、測定さ
れたランプ波ストップ電圧ｕout が許容誤差範囲ｕFSの外にあるかどうかの質問
によって開始される。この場合、ｕFSは範囲端部（“フルスケール”）における
Ａ／Ｄコンバータの出力値である。この質問が工程されると、ステップ１４にお
いて、エラー信号Ｆが値１にセットされ、処理手順が図４の初期設定Ｉから繰り
返される。
．Ｗ，Ｍ）を示している。セットアップ状態Ｓはステップ１３における、測定さ
れたランプ波ストップ電圧ｕout が許容誤差範囲ｕFSの外にあるかどうかの質問
によって開始される。この場合、ｕFSは範囲端部（“フルスケール”）における
Ａ／Ｄコンバータの出力値である。この質問が工程されると、ステップ１４にお
いて、エラー信号Ｆが値１にセットされ、処理手順が図４の初期設定Ｉから繰り
返される。
【００２６】 ステップＳ１３の質問の答が“ノー”であると、ステップＳ１５において最大
出力電圧ｕmax の値がこの電圧の最後の値ｕold にセットされ、ステップＳ１６
においてサンプリングあたりの平均の電圧変化ｕDelta が計算される（ｕDelta ＝ｕmax ／ｃ１）。続いて、ステップＳ１７においてランプ波信号発生器のキャ
パシタが放電信号Ｅ＝１を発生することによって放電され、ステップＳ１８にお
いて、計算された電圧として測定すべき電圧と比較される比較電圧ｕplusが零に
セットされる。
出力電圧ｕmax の値がこの電圧の最後の値ｕold にセットされ、ステップＳ１６
においてサンプリングあたりの平均の電圧変化ｕDelta が計算される（ｕDelta ＝ｕmax ／ｃ１）。続いて、ステップＳ１７においてランプ波信号発生器のキャ
パシタが放電信号Ｅ＝１を発生することによって放電され、ステップＳ１８にお
いて、計算された電圧として測定すべき電圧と比較される比較電圧ｕplusが零に
セットされる。
【００２７】 そして、自動試験は待機状態を占め、ステップ１９においてランプ波信号発生
器のキャパシタのための放電信号Ｅを零にセットする。
器のキャパシタのための放電信号Ｅを零にセットする。
【００２８】 続いて、測定状態Ｍで、本来の電圧測定が行われる。そのために、ステップＳ
２０において先ず最初に比較電圧ｕplusが値ｕDelta だけ増分される。そして、
ステップＳ２１において、出力電圧ｕout が比較電圧ｕplusの誤差範囲の外にあ
るかどうかが質問される。誤差範囲の外にある場合には、ステップＳ２２におい
てエラー信号Ｆが値１にセットされ、処理手順が図４の初期設定Ｉによって繰り
返される。
２０において先ず最初に比較電圧ｕplusが値ｕDelta だけ増分される。そして、
ステップＳ２１において、出力電圧ｕout が比較電圧ｕplusの誤差範囲の外にあ
るかどうかが質問される。誤差範囲の外にある場合には、ステップＳ２２におい
てエラー信号Ｆが値１にセットされ、処理手順が図４の初期設定Ｉによって繰り
返される。
【００２９】 ステップＳ２１の質問の答が“ノー”であるときには、ステップＳ２３におい
て、比較電圧ｕplusが最大出力電圧ｕmax の誤差範囲内にあるかどうかが質問さ
れる。この質問の答が“イエス”であるときには、ステップＳ２４に従ってエラ
ー信号Ｆが値０にセットされる。この場合、ランプ波ストップが達成され、故障
がないものとして測定が終了する。なぜなら、ステップＳ２１において測定され
た出力電圧ｕout が計算された比較電圧ｕplusの誤差範囲の外にないからである
。そして、全体の処理手順が図４の初期設定Ｉによって繰り返される。
て、比較電圧ｕplusが最大出力電圧ｕmax の誤差範囲内にあるかどうかが質問さ
れる。この質問の答が“イエス”であるときには、ステップＳ２４に従ってエラ
ー信号Ｆが値０にセットされる。この場合、ランプ波ストップが達成され、故障
がないものとして測定が終了する。なぜなら、ステップＳ２１において測定され
た出力電圧ｕout が計算された比較電圧ｕplusの誤差範囲の外にないからである
。そして、全体の処理手順が図４の初期設定Ｉによって繰り返される。
【００３０】 ステップＳ２３の質問の答が“ノー”であるときには、ランプ波ストップはま
だ達成され、電圧測定は状態Ｍの開始のための処理手順を戻すことによって繰り
返される。
だ達成され、電圧測定は状態Ｍの開始のための処理手順を戻すことによって繰り
返される。
【００３１】 両誤差範囲の場合、Ａ／Ｄコンバータのすべての不正確さを適切に考慮しなけ
ればならない。
ればならない。
【００３２】 図６は上記の第２の方法についての処理手順の第２の部分（状態Ｓ，Ｗ，Ｍ）
を示している。重要な違いは、第１の方法と異なり、セットアップ状態Ｓにおい
てｕDelta の代わりにｔDelta （＝１／ｕDelta ）、すなわち電圧を１ＬＳＢだ
け変化させるために必要な時間が計算される。
を示している。重要な違いは、第１の方法と異なり、セットアップ状態Ｓにおい
てｕDelta の代わりにｔDelta （＝１／ｕDelta ）、すなわち電圧を１ＬＳＢだ
け変化させるために必要な時間が計算される。
【００３３】 この計算は、最大ランプ波電圧ｕmax としてＡ／Ｄコンバータの基準電圧ＵRe f が使用される場合（その際ｕmax の測定を省略することができる。なぜなら、
このｕmax が誤差範囲まで（フルスケールエラー）既に知られているからである
）、割り算によってあるいは右側へｎビットだけスライド操作することによって
行われる。
このｕmax が誤差範囲まで（フルスケールエラー）既に知られているからである
）、割り算によってあるいは右側へｎビットだけスライド操作することによって
行われる。
【００３４】 そして、測定（状態Ｍ）の間、Ａ／Ｄコンバータで測定された出力電圧ｕout が許容誤差範囲内にあるかどうかを、すべてのｔDelta について検査される。こ
の場合、この出力電圧は、すべてのｔDelta を１ＬＳＢ（またはその多数倍）だ
け増分した目標値ｕplusと比較される。その代わりに、この比較をサンプリング
の度に行うことができる。
の場合、この出力電圧は、すべてのｔDelta を１ＬＳＢ（またはその多数倍）だ
け増分した目標値ｕplusと比較される。その代わりに、この比較をサンプリング
の度に行うことができる。
【００３５】 詳細に述べると、状態Ｓにおける処理手順は、ステップＳ２５において、Ａ／
Ｄコンバータの出力電圧が誤差範囲ｕFSの外側にあるかどうかの質問によって開
始される。誤差範囲の外側にあるときには、ステップＳ２６においてエラー信号
Ｆが値１にセットされ、初期設定Ｉに戻すことによって処理手順が続けられる。
質問の答が“ノー”であるときには、ステップＳ２７において値ｔDelta が上述
のように計算される。続いて、ステップＳ２８によって、ランプ波信号発生器の
キャパシタのための放電信号Ｅが値１にセットされ、ステップＳ２９において計
算によって定められた比較電圧ｕplusの値が値０にセットされ、ステップＳ３０
において第２のカウンタのカウントレベルｃ２が同様に値０にセットされる。
Ｄコンバータの出力電圧が誤差範囲ｕFSの外側にあるかどうかの質問によって開
始される。誤差範囲の外側にあるときには、ステップＳ２６においてエラー信号
Ｆが値１にセットされ、初期設定Ｉに戻すことによって処理手順が続けられる。
質問の答が“ノー”であるときには、ステップＳ２７において値ｔDelta が上述
のように計算される。続いて、ステップＳ２８によって、ランプ波信号発生器の
キャパシタのための放電信号Ｅが値１にセットされ、ステップＳ２９において計
算によって定められた比較電圧ｕplusの値が値０にセットされ、ステップＳ３０
において第２のカウンタのカウントレベルｃ２が同様に値０にセットされる。
【００３６】 それに続く待機状態Ｗの間、ステップＳ３１において、ランプ波信号発生器の
キャパシタのための放電信号Ｅが値０にセットされる。
キャパシタのための放電信号Ｅが値０にセットされる。
【００３７】 測定状態Ｍでは、本来の電圧測定が行われる。そのために先ず最初に、ステッ
プＳ３２において、第２のカウンタのカウントレベルｃ２が時間ｔDelta に一致
しているかどうかが質問される。一致していない場合、ステップＳ３６によって
形成されたループにより、ステップＳ３２での質問の答が“イエス”になるまで
、カウントレベルｃ２が１だけ増分される。この場合、カウントレベルはステッ
プＳ３３によって値１にセットされ、ステップＳ３４において比較電圧ｕplusが
値１だけ増分される。
プＳ３２において、第２のカウンタのカウントレベルｃ２が時間ｔDelta に一致
しているかどうかが質問される。一致していない場合、ステップＳ３６によって
形成されたループにより、ステップＳ３２での質問の答が“イエス”になるまで
、カウントレベルｃ２が１だけ増分される。この場合、カウントレベルはステッ
プＳ３３によって値１にセットされ、ステップＳ３４において比較電圧ｕplusが
値１だけ増分される。
【００３８】 続いて、ステップＳ３５におて、出力電圧ｕout が比較電圧ｕplusの誤差範囲
の外にあるかどうか質問される。誤差範囲の外にある場合には、ステップＳ３７
においてエラー信号Ｆが１にセットされ、初期設定Ｉ（図４）に戻すことによっ
て処理手順が繰り返される。
の外にあるかどうか質問される。誤差範囲の外にある場合には、ステップＳ３７
においてエラー信号Ｆが１にセットされ、初期設定Ｉ（図４）に戻すことによっ
て処理手順が繰り返される。
【００３９】 出力電圧ｕout が比較電圧ｕplusの誤差範囲の外にない場合には、ステップＳ
３８において、比較電圧ｕplusがランプ波ストップ電圧ｕFSの誤差範囲の中にあ
るかどうかか質問される。この質問の答が“イエス”であるときには、ステップ
Ｓ３９においてエラー信号Ｆが値０にセットされ、初期設定Ｉに戻すことによっ
て処理手順が続けられる。そうでない場合には、測定状態Ｍのスタートにリセッ
トされる。
３８において、比較電圧ｕplusがランプ波ストップ電圧ｕFSの誤差範囲の中にあ
るかどうかか質問される。この質問の答が“イエス”であるときには、ステップ
Ｓ３９においてエラー信号Ｆが値０にセットされ、初期設定Ｉに戻すことによっ
て処理手順が続けられる。そうでない場合には、測定状態Ｍのスタートにリセッ
トされる。
【００４０】 第１と第２の方法の場合、ｕDelta の加算またはｔDelta の計数によって、エ
ラーが広まる。この理由から、ｕDelta とｔDelta の計算は高い精度、すなわち
大きなワードサイズで割り算することによって行わなけれならない。これは他の
処理についても当てはまる。
ラーが広まる。この理由から、ｕDelta とｔDelta の計算は高い精度、すなわち
大きなワードサイズで割り算することによって行わなけれならない。これは他の
処理についても当てはまる。
【００４１】 第２の方法の利点は、第１の方法と比較して、割り算器を省略できることにあ
る。更に、加算器は小さなワードサイズに設計可能である。
る。更に、加算器は小さなワードサイズに設計可能である。
【００４２】 所定の時点で電圧を測定する上記の第１と第２の方法と異なり、第３の方法の
場合には、所定の電圧変化時に時間が検出され、この時間が誤差範囲内にあるか
どうかが検査される。そのために、第１のカウンタ測定されたカウントレベルｃ
１と最大出力電圧ｕmax （ｕmax ＜＞ＵRef の場合）によって セットアップ状
態Ｓで最小と最大のサンプリング数が計算される。このサンプリング数はコンバ
ータのあらゆる誤差を考慮してＡ／Ｄコンバータの出力部の２つの電圧変化の間
でまだ許容範囲内にある。
場合には、所定の電圧変化時に時間が検出され、この時間が誤差範囲内にあるか
どうかが検査される。そのために、第１のカウンタ測定されたカウントレベルｃ
１と最大出力電圧ｕmax （ｕmax ＜＞ＵRef の場合）によって セットアップ状
態Ｓで最小と最大のサンプリング数が計算される。このサンプリング数はコンバ
ータのあらゆる誤差を考慮してＡ／Ｄコンバータの出力部の２つの電圧変化の間
でまだ許容範囲内にある。
【００４３】 その際、測定状態Ｍにおいて、電圧変化の度に、カウンタがリセットされ、Ａ
／Ｄコンバータの出力部に次の電圧変化が発生するまで増分される。続いて、カ
ウントレベルが電圧変化許容可能である、最小と最大のサンプリング数の間の範
囲内にあるかどうか、そして微分電圧変化が許容範囲内にあるかどうかが検査さ
れる。この第３の方法の場合、カウンタのリセットのために、エラーの広まりが
生じないので、少ないワードサイズで処理可能である。
／Ｄコンバータの出力部に次の電圧変化が発生するまで増分される。続いて、カ
ウントレベルが電圧変化許容可能である、最小と最大のサンプリング数の間の範
囲内にあるかどうか、そして微分電圧変化が許容範囲内にあるかどうかが検査さ
れる。この第３の方法の場合、カウンタのリセットのために、エラーの広まりが
生じないので、少ないワードサイズで処理可能である。
【００４４】 この方法の場合他方では、２つの電圧変化の間の時間がサンプリング時間の複
数倍として測定されることを考慮すべきである。これは定義によれば、２つのサ
ンプリング値の間の相対的な測定の形をした微分の非線形性（ＤＮＬ）の測定だ
けに一致する。その際、積分の非線形性ＩＮＬによって表現される理想的な伝達
特性曲線からの絶対的な偏差は、検出されない。
数倍として測定されることを考慮すべきである。これは定義によれば、２つのサ
ンプリング値の間の相対的な測定の形をした微分の非線形性（ＤＮＬ）の測定だ
けに一致する。その際、積分の非線形性ＩＮＬによって表現される理想的な伝達
特性曲線からの絶対的な偏差は、検出されない。
【００４５】 “．．．ＦＦ”の場合の“．．．００”からランプ波ストップまでのＤＨＬの
加算はＩＮＬを生じる。これに相応して、Ａ／Ｄコンバータの出力の急激な変圧
変化の後でその都度、合計 ｔsum ＝ｔsum ＋ｃ２−ｔDelta （ｕout −ｕold ） が求められる。ｔsum は＋／−１ＬＳＢの場合（例えば）＋／−ｔDelta の範囲
内でのみ移動してもよい。その際、ｃ２はサンプリング操作の整数としての、最
後の急激な電圧変化と現在の急激な電圧変化の間の測定され時間である。理想的
には、すべてのｔDelta について＋１ビットの急激な変化が生じる。しかし、ノ
イズによっても、−１，＋２または＋３ビットの急激な変化が起こり得る。これ
は差分を求めることによって検出される（ｕout −ｕold ）。この加算の場合、
エラーの広まりのために、ｔDelta は（第２の方法の場合よりも）高い分解能で
評価しなければならない。
加算はＩＮＬを生じる。これに相応して、Ａ／Ｄコンバータの出力の急激な変圧
変化の後でその都度、合計 ｔsum ＝ｔsum ＋ｃ２−ｔDelta （ｕout −ｕold ） が求められる。ｔsum は＋／−１ＬＳＢの場合（例えば）＋／−ｔDelta の範囲
内でのみ移動してもよい。その際、ｃ２はサンプリング操作の整数としての、最
後の急激な電圧変化と現在の急激な電圧変化の間の測定され時間である。理想的
には、すべてのｔDelta について＋１ビットの急激な変化が生じる。しかし、ノ
イズによっても、−１，＋２または＋３ビットの急激な変化が起こり得る。これ
は差分を求めることによって検出される（ｕout −ｕold ）。この加算の場合、
エラーの広まりのために、ｔDelta は（第２の方法の場合よりも）高い分解能で
評価しなければならない。
【００４６】 図７は第１の方法を実施するための自動試験のブロック回路図である。回路は
デジタル化され、実質的にコントロールユニット１２１、第１と第２のカウンタ
１２２ａ，１２２ｂ、第１と第２と第３のコンパレータ１２３ａ，１２３ｂ，１
２３ｃ、割り算器１２４、加算器１２５、第１と第２のマルチプレクサ１２６ａ
，１２６ｂおよび第１から第４までのレジスタ１２７ａ，１２７ｂ，１２７ｃ，
１２７ｄを備えている。
デジタル化され、実質的にコントロールユニット１２１、第１と第２のカウンタ
１２２ａ，１２２ｂ、第１と第２と第３のコンパレータ１２３ａ，１２３ｂ，１
２３ｃ、割り算器１２４、加算器１２５、第１と第２のマルチプレクサ１２６ａ
，１２６ｂおよび第１から第４までのレジスタ１２７ａ，１２７ｂ，１２７ｃ，
１２７ｄを備えている。
【００４７】 サンプリング周波数ｆs とクロック周波数ｆ′clk が供給されるコントロール
ユニット１２１は、ランプ波信号発生器のキャパシタのための放電信号Ｅと、エ
ラー信号Ｆと、いろいろな他の制御信号、リセット信号および解除信号を発生す
る。第１のレジスタ１２７ａと、第２のマルチプレクサ１２６ｂの第１の入力部
には、Ａ／Ｄコンバータの出力電圧ｕout が供給される。
ユニット１２１は、ランプ波信号発生器のキャパシタのための放電信号Ｅと、エ
ラー信号Ｆと、いろいろな他の制御信号、リセット信号および解除信号を発生す
る。第１のレジスタ１２７ａと、第２のマルチプレクサ１２６ｂの第１の入力部
には、Ａ／Ｄコンバータの出力電圧ｕout が供給される。
【００４８】 第１のレジスタ１２７ａの出力は電圧値として、第１のマルチプレクサ１２６
ａの第１の入力、第２のレジスタ１２７ｂの入力、および割り算器１２４の第１
の入力に接続されている。第２のレジスタ１２７ｂの出力には、第２のマルチプ
レクサ１２６ｂの第２の入力が供給される。第１と第２のマルチプレクサ１２６
ａ，１２６ｂの出力は第１のコンパレータ１２３ａの各々１つの入力に接続され
ている。誤差範囲を考慮して入力信号がこの入力と一致しているかどうか比較さ
れる。第１のコンパレータ１２３ａの出力はコントロールユニット１２１に接続
されている。
ａの第１の入力、第２のレジスタ１２７ｂの入力、および割り算器１２４の第１
の入力に接続されている。第２のレジスタ１２７ｂの出力には、第２のマルチプ
レクサ１２６ｂの第２の入力が供給される。第１と第２のマルチプレクサ１２６
ａ，１２６ｂの出力は第１のコンパレータ１２３ａの各々１つの入力に接続され
ている。誤差範囲を考慮して入力信号がこの入力と一致しているかどうか比較さ
れる。第１のコンパレータ１２３ａの出力はコントロールユニット１２１に接続
されている。
【００４９】 第１のカウンタ１２２ａの出力はカウントレベルｃ１として、割り算器１２４
の第２の入力および第２のコンパレータ１２３ｂの第１の入力に接続されている
。第２のカウンタ１２２ｂの出力はカウントレベルｃ２として第３のコンパレー
タ１２３ｃの第１の入力に接続されている。第２のコンパレータ１２３ｂの第２
の入力には、最大計数値ｃ１max が供給され、第３のコンパレータ１２３ｃの第
２の入力には値ｔdelta-max が供給される。第２と第３のコンパレータの出力は
コントロールユニット１２１に接続されている。
の第２の入力および第２のコンパレータ１２３ｂの第１の入力に接続されている
。第２のカウンタ１２２ｂの出力はカウントレベルｃ２として第３のコンパレー
タ１２３ｃの第１の入力に接続されている。第２のコンパレータ１２３ｂの第２
の入力には、最大計数値ｃ１max が供給され、第３のコンパレータ１２３ｃの第
２の入力には値ｔdelta-max が供給される。第２と第３のコンパレータの出力は
コントロールユニット１２１に接続されている。
【００５０】 割り算器１２４の出力は第３のレジスタ１２７ｃの入力に供給される。このレ
ジスタの出力は電圧値ｕDelta として加算器１２５の第１の入力に案内される。
このレジスタの出力は電圧値ｕplusとして加算器１２５の第２の入力と第１のマ
ツチプレクサ１２６ａの第２の入力に接続されている。第１のマルチプレクサ１
２６ａの第３の入力には電圧値ｕFSが供給される。
ジスタの出力は電圧値ｕDelta として加算器１２５の第１の入力に案内される。
このレジスタの出力は電圧値ｕplusとして加算器１２５の第２の入力と第１のマ
ツチプレクサ１２６ａの第２の入力に接続されている。第１のマルチプレクサ１
２６ａの第３の入力には電圧値ｕFSが供給される。
【００５１】 ３つのすべての方法の場合、Ａ／Ｄコンバータの伝送特性がランプ波ストップ
の電圧と相対的にのみ測定されるので、伝送特性は２つの絶対値の間の測定だけ
補足しなければならない。この場合、その一つはオフセット電圧である。
の電圧と相対的にのみ測定されるので、伝送特性は２つの絶対値の間の測定だけ
補足しなければならない。この場合、その一つはオフセット電圧である。
【００５２】 自動試験は全体の回路コストを低減するために、コンピュータプログラムによ
っても実施可能である。
っても実施可能である。
【図１】 Ａ／Ｄコンバータを備えた、本発明による回路装置の原理的な回路図である。
【図２】 Ａ／Ｄコンバータを制御するためのランプ波信号を示す図である。
【図３】 Ａ／Ｄコンバータの本発明による運転を示すための状態遷移グラフである。
【図４】 第１、第２および第３の本発明による方法の第１の部分のフローチャートであ
る。
る。
【図５】 本発明による第１の方法の第２の部分のフローチャートである。
【図６】 本発明による第２の方法の第２の部分のフローチャートである。
【図７】 本発明による回路装置のブロック回路図である。
１０ Ａ／Ｄコンパータ １１ ランプ波信号発生器 １２ 試験回路 １２１ コントロールユニット １２２ａ，１２２ｂ 第１または第２のカウンタ １２３ａ，１２３ｂ，１２３ｃ 第１、第２または第３のコンパレータ １２４ 割り算器 １２５ 加算器 １２６ａ，１２６ｂ 第１または第２のマルチプレクサ １２７ａ，１２７ｂ，１２７ｃ，１２７ｄ 第１乃至第４のレジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (81)指定国 ＥＰ(ＡＴ，ＢＥ，ＣＨ，ＣＹ， ＤＥ，ＤＫ，ＥＳ，ＦＩ，ＦＲ，ＧＢ，ＧＲ，ＩＥ，Ｉ Ｔ，ＬＵ，ＭＣ，ＮＬ，ＰＴ，ＳＥ)，ＪＰ，ＵＳ (72)発明者 ファイ・ヴォルフガング ドイツ連邦共和国、65527 ニーデルンハ ウゼン、ネッセルヴェーク、17 Ｆターム(参考） 5J022 AA01 AC04 BA03 BA04 CA10 CB08 CF03 CF04
Claims (6)
- 【請求項１】 Ａ／Ｄコンバータ（１０）の入力に供給されるランプ波電圧
を発生するためのランプ波信号発生器（１１）と、試験サイクルを起動させるた
めの試験回路（１２）とを備え、この試験サイクルがランプ波の第１のランを含
み、このランによって、構成要素誤差を補償するための、ランプ波信号発生器の
基準測定が行われ、更にランプ波の第２のランを含み、このランの際に、Ａ／Ｄ
コンバータ（１０）の伝送特性について計算された値が、伝送特性の測定値の設
定誤差範囲の外にあるときに、エラー信号（Ｆ）が出力されることを特徴とする
、安全上重要な用途のためのＡ／Ｄコンバータを備えた回路装置。 - 【請求項２】 ランプ波の第１のランによって、Ａ／Ｄコンバータの基準電
圧（ＵRef ）の誤差と、最大ランプ波電圧（ｕmax ）の誤差とランプ波信号発生
器のランプ波電圧の勾配（ｍ）の誤差が補償されることを特徴とする請求項１記
載の回路装置。 - 【請求項３】 ランプ波の第１のランによって、ランプ波ランのために必要
な時間が測定され、この時間が最大ランプ波電圧（ｕmax ）に達するまでのサン
プリングの数（ｃ１）として検出されることを特徴とする請求項１または２記載
の回路装置。 - 【請求項４】 伝送特性が１つまたは多数（ｎ）のサンプリング操作につい
て計算された出力電圧（ｕplus＋ｎｕDelta ）であり、出力電圧がこのサンプリ
ングの際に測定された出力電圧（ｕout ）の設定された誤差範囲の外にあるとき
に、エラー信号（Ｆ）が発生させられることを特徴とする請求項１〜３のいずれ
か一つに記載の回路装置。 - 【請求項５】 出力電圧を１ＬＳＢだけ変更するために必要な時間（ｔDelt a ）が試験回路によって計算され、伝送特性が１つまたは多数（ｎ）の時間（ｔ Delta ）のために計算された出力電圧（ｕplus）であり、この出力電圧が当該の
時点（ｎｔDelta ）で測定された出力電圧（ｕout ）の設定された誤差範囲の外
にあるときに、エラー信号（Ｆ）が発生さられれることを特徴とする請求項１〜
４のいずれか一つに記載の回路装置。 - 【請求項６】 伝送特性が出力電圧（ｕout ）を１つまたは多数のＬＳＢだ
け変更するために必要なサンプリングの数であり、この数が計数されたサンプリ
ングの数の設定された誤差範囲の外にあるときに、エラー信号（Ｆ）が発生させ
られることを特徴とする請求項１〜５のいずれか一つに記載の回路装置。
Applications Claiming Priority (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19855743 | 1998-12-03 | ||
| DE19912766A DE19912766A1 (de) | 1998-12-03 | 1999-03-22 | Schaltungsanordnung mit A/D-Wandler für sicherheitskritische Anwendungen |
| DE19912766.2 | 1999-03-22 | ||
| DE19855743.4 | 1999-03-22 | ||
| PCT/EP1999/009249 WO2000033465A1 (de) | 1998-12-03 | 1999-11-29 | Schaltungsanordnung zum testen eines a/d-wandlers für sicherheitskritische anwendungen |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002531986A true JP2002531986A (ja) | 2002-09-24 |
Family
ID=26050531
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000586000A Withdrawn JP2002531986A (ja) | 1998-12-03 | 1999-11-29 | 安全上重要な用途のためのａ／ｄコンバータを備えた回路装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6518900B1 (ja) |
| EP (1) | EP1135860B1 (ja) |
| JP (1) | JP2002531986A (ja) |
| WO (1) | WO2000033465A1 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| DE10314616B3 (de) * | 2003-04-01 | 2004-07-01 | Infineon Technologies Ag | Integrierte Schaltung mit einer Testschaltung |
| DE10335164B4 (de) * | 2003-07-30 | 2007-03-22 | Infineon Technologies Ag | Vorrichtung und Verfahren zum parallelen Testen von mehreren integrierten Schaltkreisen |
| JP3861874B2 (ja) * | 2003-12-16 | 2006-12-27 | 株式会社デンソー | Ａｄ変換器の故障検出装置 |
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| TWI375806B (en) * | 2007-08-07 | 2012-11-01 | Himax Tech Ltd | Apparatus for testing driving circuit in display |
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| US4352160A (en) * | 1980-01-21 | 1982-09-28 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Statistical method of measuring the differential linearity of an analog/digital converter using a pseudo-random triangle wave stimulus |
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| US4989686A (en) | 1988-07-07 | 1991-02-05 | Borg-Warner Automotive, Inc. | System for controlling torque transmission in a four wheel drive vehicle |
| US5017789A (en) | 1989-03-31 | 1991-05-21 | Loma Linda University Medical Center | Raster scan control system for a charged-particle beam |
| EP0420082B1 (en) | 1989-09-29 | 1997-02-19 | Hewlett-Packard Company | Digitally synchronized sweep signal source |
| DE69124709T2 (de) * | 1990-03-15 | 1997-05-28 | At & T Corp | Eingebaute Selbstprüfung für Analog-Digitalumsetzer |
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1999
- 1999-11-29 WO PCT/EP1999/009249 patent/WO2000033465A1/de active IP Right Grant
- 1999-11-29 US US09/857,282 patent/US6518900B1/en not_active Expired - Fee Related
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- 1999-11-29 EP EP99961021A patent/EP1135860B1/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
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|---|---|
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20070206 |