JP2002521228A - 両面をフォーマット化する光データ記憶ディスクを成形するためのアセンブリ - Google Patents

両面をフォーマット化する光データ記憶ディスクを成形するためのアセンブリ

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JP2002521228A
JP2002521228A JP2000561029A JP2000561029A JP2002521228A JP 2002521228 A JP2002521228 A JP 2002521228A JP 2000561029 A JP2000561029 A JP 2000561029A JP 2000561029 A JP2000561029 A JP 2000561029A JP 2002521228 A JP2002521228 A JP 2002521228A
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ダグラス・アール・プルード
ディーン・イー・シッツ
バル・エム・シュミッツ
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Abstract

(57)【要約】 ディスク成形工程で複製ディスクを形成するためのモールドアセンブリ。複製ディスクは、両面にフォーマット化した表面を含む。モールドアセンブリは、第1主表面を有する第1ブロック(26)と、第2主表面を有する第2ブロック(28)と、外縁部とによって画定されたディスク基板キャビティを含む。第1スタンパ(40)は外縁部を有する。第1外部ホルダ(62)は、第1ホルダ縁部を含み、第1ホルダ縁部は第1スタンパの外縁部上に延在し、第1スタンパを第1主表面に結合する。外縁部を有する第2スタンパ(42)は、第2主表面に結合される。チャネルは、ディスク成形材料がディスク基板キャビティ内に入ることができるようにディスク基板キャビティと流体連通して提供される。さらに、ストリッパ機構(66)が、外縁部に設置されて、そのストリッパ機構が第1ブロックと第2ブロックとに対して移動可能であることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 (技術分野) 本発明は、一般に、データ記憶ディスクの製造分野に関し、特に、それらのデ
ィスクが高密度の情報を包含できる両面をフォーマット化した光データ記憶ディ
スクを成形するための方法および装置に関する。
【0002】 (背景技術) データ記憶ディスクはディスク複製法を利用して製造される。内部に形成した
所望の表面レリーフパターンを有するマスタディスクが造られる。その表面レリ
ーフパターンは、典型的に、露光ステップ(例えば、レーザー記録によって)や
後の現像ステップを利用して造られる。そのマスタは、スタンパを造るために使
用され、そのスタンパが、次に、ディスク成形工程の一部として複製ディスク基
板の形に複製品をスタンピングするために使用される。このように、1枚のマス
タの表面レリーフパターン、情報、および精度が数多くの安価な複製ディスク基
板に移される。
【0003】 従来型のモールドアセンブリは、典型的に、固定側と移動側とを含む。スタン
パは、典型的に、所望の表面リリーフパターン(すなわち、ランド、溝、および
/またはピット)を複製ディスク基板に複製するために移動側に取り付けられる
。可動ゲートカットは、複製ディスク基板内の中心開口部を切断するために提供
されても良い。スタンパは、そのスタンパに巧く嵌る内部ホルダを使用して移動
側に固定されても良い。幾つかのさらなる金型部品がモールドアセンブリの中心
に設けられても良い。
【0004】 ディスク成形工程中、樹脂、典型的に光学グレードポリカーボネートは、スプ
ルーチャネル内を通ってモールドアセンブリ内の基板キャビティ内に強制的に送
り込まれ、複製ディスク基板を形成する。その表面レリーフパターンまたはフォ
ーマット化した表面は、キャビティが充填されるとスタンパによって複製ディス
ク基板内で複製される。充填後、ゲートカットは、複製ディスク基板内に中心穴
を切断するために前方に送られる。その複製ディスクが十分に冷却されると、そ
のモールドアセンブリが開かれ、そのゲートカットおよび製品押出とがスタンパ
からフォーマット化した複製ディスク基板を押出すために前方に送られても良い
。内部ホルダは、スタンパの切換えができるように着脱自在であっても良い。
【0005】 樹脂が、成形プレスによってモールドアセンブリの基板キャビティ内に強制的
に充填されるが、射出圧力が型締力に打ち勝って、金型を僅かだけ開かせ(通常
「モールドブロー」と称される)る、それで金型を閉じるようにさらに型締めす
るためにモールドアセンブリへの圧力を増して、その樹脂をスタンパの顕微鏡的
表面レリーフパターン(所望複製ディスク表面レリーフパターンの反転像を含む
)内に強制的に充填する。故に、上記工程は、通常、「射出圧縮」または「微細
圧印加工」と称される。
【0006】 樹脂は、スタンパ表面レリーフパターンの顕微鏡的細部に流入するように大い
に粘性でなければならない。その成形工程は、モールドアセンブリが、ディスク
基板キャビティ内への樹脂の充填後にわずかな量だけ「ガス抜きさせる」または
開かせる能力を有することが必要である。モールドアセンブリが「ガス抜きさせ
る」と、僅かな開口部がモールドアセンブリの周囲にでき、樹脂をそれらの開口
部内に侵入させ、「バリ」として知られる問題の原因となる。樹脂の粘性のため
、たとえそれが非常に小さな開口部であっても樹脂を流出させてしまう。
【0007】 バリは幾つかの問題の原因となる。そのような問題には、規格外不良品、また
はディスクの使用中にバリ部分から発生した塵による汚染を含む。図1は、従来
技術を例示する部分断面図である。示されるように、ある光媒体金型は、モール
ドブローを補償するために入れ子遮断部を採用する。入れ子遮断部を用いると、
金型の一方の側が他方のキャビティ内に入り、そこでは接触表面またはランニン
グ表面が非常に僅少角度(AとBで示されるように)をなす。入れ子遮断部は、
モールドアセンブリを僅かだけ開かせ、最小限のバリを許すが、金型の両半分割
が互いに完全に整列配置していなければならない。
【0008】 片面をフォーマット化した単層光ディスク媒体には、モールドアセンブリは、
バリがディスクの非機能部分でのみ起こるようにバリを制限するように設計され
ている。ディスクの非機能部分にそのバリを制限することによって、バリにより
起こる干渉問題が低減される。
【0009】 光ディスク技術の発展と共に、光ディスクの記憶容量も増大してきている。デ
ィスクの密度がより高くなって、同サイズのディスク表面積内により大きな情報
量が記憶できる(面密度)ようになった。高密度光ディスクフォーマットはより
小さなトラックピッチを有するように製造されなければならない。記憶容量が増
大したために、これらのディスクは、両面にフォーマット化した表面を含む(す
なわち、典型的に両面ディスクを呼ばれる)。両面ディスクは、2枚の片面ディ
スク(すなわち、片面をフォーマット化した2枚の単層ディスク)を背面同士合
わせることによって製造される。これらのより高い面密度のディスクは、より複
雑な成形工程を必要とする、より厳しい条件およびより厳密な設計基準を有する
。データ記憶容量が増大すると、しばしば、バリが原因で起こる問題または他の
モールドブロー問題も拡大する。
【0010】 浮動ヘッド用途で採用されるディスクフォーマットでは、ディスク容量が増大
すると、その所望表面レリーフパターンに対する設計公差もさらに重大となる。
浮動ヘッドは、ディスク基板により近接して通過することが要求され、バリ突出
物など、ディスク表面幾何学的形状の欠陥の低減または排除を含む、より精密な
ディスク仕様が求められる。
【0011】 (発明の開示) 本発明は、ディスク成形工程で光データ記憶ディスクを形成するためのモール
ドアセンブリを提供する。その光データ記憶ディスクは、2つの面にフォーマッ
ト化した表面を有する。モールドアセンブリは、第1主表面を有する第1ブロッ
クと、第2主表面を有する第2ブロックと、外縁部とによって画定されたディス
ク基板キャビティを含む。外縁部を含む第1スタンパが提供される。第1ホルダ
縁部を含む第1ホルダが提供され、ここで第1ホルダ縁部は、第1スタンパの外
縁部の上に延在し、第1主表面に第1スタンパを結合する。第2スタンパは、第
2主表面に結合された外縁部を有する。ディスク成形材料がディスク基板キャビ
ティ内に入ることができるようにするためのチャネルがディスク基板キャビティ
と流体連通して提供される。
【0012】 ストリッパ機構は、外縁部に配置されても良く、そこではストリッパ機構が第
1ブロックおよび第2ブロックに対して移動可能である。さらに、第1ブロック
に対してストリッパ機構を移動するための手段が提供されても良い。第1ブロッ
クに対してストリップ機構を移動するための手段は、第1主表面に略垂直な方向
にストリップ機構を移動しても良い。
【0013】 第2外部ホルダ縁部を含む第2外部ホルダが、提供されても良く、第2外部ホ
ルダ縁部は、第2スタンパを第2主表面に結合するための第2スタンパの外縁部
の上に延在する。1つの態様では、第1ブロックは第2ブロックに対して移動可
能である。
【0014】 第2の具体例では、本発明は、ディスク成形工程で光データ記憶ディスクを形
成するためのモールドアセンブリを提供する。光データ記憶ディスクは、両面を
フォーマット化した表面を含む。モールドアセンブリは、開位置と閉位置との間
で移動可能である。モールドアセンブリは、第1主表面を有する第1ミラーブロ
ックを含む。第2主表面を有する第2ミラーブロックが提供され、そこではモー
ルドアセンブリが閉位置にあるとき、第1主表面と第2主表面とがディスク基板
キャビティを画定し、そのディスク基板キャビティは外縁部を有する。チャネル
は、光データ記憶ディスクを形成するために、ディスク成形材料がディスク基板
キャビティ内に入ることができるようにディスク基板キャビティと流体連通して
いる。第1スタンパは、光データ記憶ディスク内にフォーマット化パターンを形
成するためにディスク基板キャビティの片面に配置される。第1スタンパを第1
主表面に着脱自在に結合するための手段が外縁部に配置される。第2スタンパは
、光データ記憶ディスク内にフォーマット化パターンを形成するために、第1ス
タンパと反対側のディスク基板キャビティの片面に配置される。第2スタンパを
第2主表面に着脱自在に結合するための手段が外縁部に配置される。
【0015】 ストリッパ機構は外縁部に配置され、そのストリッパ機構は、第1ミラーブロ
ックと第2ミラーブロックとに対して移動可能である。1つの態様では、そのス
トリッパ機構は、第1主表面および第2主表面と略垂直をなす方向に移動可能で
ある。
【0016】 第1スタンパを第1主表面に着脱自在に結合する手段は、第1外部ホルダを含
んでも良い。第1外部ホルダは、第1スタンパを第1主表面に結合するために、
第1スタンパの外縁部の上に延在する第1ホルダ縁部を含んでも良い。ストリッ
パ機構は外縁部に配置され、そのストリッパ機構が第1ミラーブロックと第2ミ
ラーブロックとに対して移動可能である。1つの態様では、その外部ホルダが、
ストリップ機構と第1ミラーブロックとの間に配置される。
【0017】 ストリッパ機構はストリッパ機構第1ランニング表面を含み、第1外部ホルダ
は第1外部ホルダランニング表面を含み、ここで、ストリッパ機構第1ランニン
グ表面と第1外部ホルダランニング表面とが機能的に配置されるので、モールド
アセンブリが閉位置にあるとき、およびディスク成形材料がディスク基板キャビ
ティ内に射出されるとき、ストリップ機構第1ランニング表面が第1外部ホルダ
ランニング表面と連続的に接触する。ストリッパ機構は、ストリッパ機構第2ラ
ンニング表面を含み、第2スタンパを第2主表面に着脱自在に結合する手段は結
合手段ランニング表面を含む、ここで、モールドアセンブリが閉位置にあり且つ
ディスク材料がディスク基板キャビティ内に射出されるとき、ストリッパ機構第
2ランニング表面が結合手段ランニング表面と連続的に接するようにストリッパ
機構第2ランニング表面と結合手段ランニング表面とが機能的に配置される。さ
らに、第1スタンパを第1主表面に着脱自在に結合するための手段に対してスト
リッパ機構を移動するための手段がストリッパ機構に結合されても良い。
【0018】 他の態様では、成形材料がディスク基板キャビティ内に射出されるとき外向き
の力がモールドアセンブリに作用する、ここで、モールドアセンブリは、その外
向きの力と反対方向の力をストリッパ機構に加える手段をさらに具備する。
【0019】 第3の具体例では、本発明は、ディスク成形工程で光データ記憶ディスクを形
成するための金型アッセンブリを提供する。光データ記憶ディスクは、両面をフ
ォーマット化した表面を含む。そのモールドアセンブリは、開位置と閉位置との
間で移動可能である。モールドアセンブリは、第1主表面を有する第1ミラーブ
ロックを含む。第2ミラーブロックは、第2主表面を有するように提供される。
モールドアセンブリが閉位置にあるとき、第1主表面と第2主表面とが、外縁部
を有するディスク基板キャビティを画定する。チャネルは、光データ記憶ディス
クを形成するためにディスク成形材料をディスク基板キャビティ内に入れること
ができるようにディスク基板キャビティと流体連通して提供される。第1スタン
パは、フォーマット化したパターンを光データ記憶ディスクに形成するためにデ
ィスク基板キャビティの片側に配置される。第1スタンパ外縁部の上に延在する
縁部を有する第1外部ホルダが提供され、第1スタンパを第1主表面に結合する
。第2スタンパは、フォーマット化したパターンを光データ記憶ディスクに形成
するために、第1スタンパと反対側のディスク基板キャビティの側に配置される
。第2外部ホルダは、第2スタンパの縁部の上に延在する縁部を有するように提
供され、第2スタンパを第2主表面に結合する。ストリッパ機構は外縁部に配置
され、そのストリッパ機構は、第1ミラーブロックと第2ミラーブロックとに対
して移動可能である。
【0020】 (好適な実施態様の説明) 図2において、本発明によるモールドアセンブリにおける1つの代表的実施例
が、概略的に20で示される。モールドアセンブリ20は、ディスク成形工程で
光データ記憶ディスク(すなわち、複製ディスク)を形成するために使用される
。さらに、モールドアセンブリ20は、両面にフォーマット化した表面を有する
複製ディスクを形成することができる。その独特なモールドアセンブリ20は、
高密度の情報を格納することができる複製ディスクを形成でき、しかもモールド
ブローによるバリなど、従来のモールドアセンブリに伴う問題を低減または排除
できる。このように、本発明によるモールドアセンブリ20は、浮動ヘッドがデ
ィスク基板に接近して通過することが要求される浮動ヘッド用途で採用されるデ
ィスクフォーマットを有する複製ディスクを形成するために使用されても良い。
【0021】 モールドアセンブリ20は、固定側22と移動側24とを含む。モールドアセ
ンブリ20の動作中、移動側24は、モールドアセンブリ20が開位置と閉位置
との間で移動されると固定側22に対して移動する。特に、モールドアセンブリ
20は、第1ミラーブロック26と、反対の、第2ミラーブロック28とを含む
。示された代表的実施例では、第1ミラーブロック26は、固定側22に配置さ
れ、第2ミラーブロック28は移動側24に配置される。第1ミラーブロック2
6は、第1主表面30を含み、第2ミラーブロック28は第2主表面32を含む
。そのモールドアセンブリ20が閉位置にあるとき、第1主表面30と第2主表
面32とは、間隔を空けて配置されたディスク基板キャビティ34を画定する、
ここでディスク基板キャビティはほぼ複製ディスクのサイズである。スプルーチ
ャネル36は、ディスク基板キャビティ34と流体連通して、モールドアセンブ
リ22内で長手方向に延在する。このようにして、ディスク基板成形材料(例え
ば、ポリカーボネート樹脂)が、圧力下でスプルーチャネル36を通って、矢印
37A、37B、37Cおよび37Dで示されるように、ディスク基板キャビテ
ィ34内に射出されても良い。
【0022】 本発明による独特なディスクモールドアセンブリ20は、バリを低減または排
除した、両面データ記憶ディスク(すなわち、両面にフォーマット化したディス
ク)の成形を提供する。特に、第1スタンパ40が第1主表面30に配置され、
第2スタンパ42が第2主表面32に配置される。第1スタンパ40および第2
スタンパ42は、モールドアセンブリ20によってディスク基板キャビティ34
内で形成された複製ディスク基板に所望表面レリーフパターンを複製するための
表面リリーフパターン(すなわち、ランド、溝および/またはピット)を含む。
【0023】 付属金型具、示されるようなゲートカット44と内部ホルダ46、および製品
押出部48などが、モールドアセンブリ20の中心領域に配置されても良い。ゲ
ートカット44と製品押出部48とは、第1ミラーブロック26と第2ミラーブ
ロック28とに対して相対的に移動可能である。複製ディスクを形成するために
樹脂でディスク基板キャビティ34を充填後、ゲートカット44が、複製ディス
ク基板内に中心穴を切断するために、矢印50で示されるように前方に送られて
も良い。その複製ディスクが十分に冷却した後、モールドアセンブリ20が開か
れ、ゲートカット44および製品押出部48が、モールドアセンブリ20から、
特に第2スタンパ42からフォーマット化した複製ディスク基板を押出すために
、矢印52で示されるように前方に送られても良い。
【0024】 図3において、モールドアセンブリ20の外縁部を例示する拡大部分断面が示
される。モールドアセンブリ20は、開位置で示される。外縁部60において、
モールドアセンブリ20は、第1外部ホルダ62、第2外部ホルダ64、および
ストリッパ機構66を含む。第1外部ホルダ62は、第1ミラーブロック26の
外縁部65の周りに配置され、ストリッパ機構66と第1ミラーブロック26と
の間に位置決めされる。第1外部ホルダ62は、ディスク成形工程中、第1スタ
ンパ40を第1主表面に対して固定的に(すなわち、確実に)保持するように働
く。同様に、第2外部ホルダ64は、第2ミラーブロック28の外縁部の周りに
位置決めされる。第2外部ホルダ64は、第2スタンパ42を第2主表面32に
対して確実に保持するように働く。さらに、第1外部ホルダ62および第2外部
ホルダ64の両方とも着脱自在であり、第1スタンパ40または第2スタンパ4
2の取り外しおよび他のスタンパとの交換が可能である。示された1つの実施例
では、ストリッパ機構66は、環状であり、第1外部ホルダ62に近接して配置
され、第1外部ホルダ62と第2外部ホルダ68との間に位置決めされている。
【0025】 モールドアセンブリ20は、ディスク成形工程でストリッパ機構66に力を加
えるためのストリッパ機構66に機械的に結合される機構または手段68をさら
に含む。機構68(一部図示)は、空圧アクチュエータ、液圧アクチュエータ、
バネ機構、または力(力の方向を矢印70で示された)をストリッパ機構66に
提供または伝達することができる他の機構であることもある。
【0026】 図4において、閉位置にある本発明によるモールドアセンブリ20を例示する
部分断面図が示される。モールドアセンブリ20は、射出成形法を使用して、複
製ディスクを成形する状態にある。ディスク基板キャビティ34は、モールドア
センブリ20で形成された複製ディスクの形状を画定する。特に、ディスク基板
キャビティ34は、第1スタンパ40と第2スタンパ42とによって画定される
。ディスク基板キャビティ34は、第1外部ホルダ62と、第2外部ホルダ64
と、ストリッパ機構66とによって画定された外縁部を有する。モールドアセン
ブリ20は、矢印72で示された固定側22に対して移動側24を移動すること
によって閉位置に移動される。成形プレス側24が力72で移動する。所望ディ
スク基板材料がディスク基板キャビティ34内に射出されるとき、圧力でディス
ク基板材料が射出され、この圧力が、型締め圧力72に打ち勝ち、矢印74、7
6で示された、モールドアセンブリ20への外向圧力となる。加力機構68が力
(70)をストリッパ機構66に加え、ストリッパ機構66が第2外部ホルダ6
4との連続的接触を維持しつつ、バリの形成の原因となる開口を許さないように
隣接外縁部60を維持することとなる。
【0027】 図5において、外縁部60を取り囲む領域の1つの代表的実施例を示す拡大部
分断面図が例示される。第1外部ホルダ62は、第1主表面82と、第1小表面
84と、第2小表面86とを含む外方延在部材、突出部、またはフランジ80を
含む。レリーフ表面82は外縁部60の一部を形成する。第1外部ホルダ62は
、第1小表面84で第1スタンパ40を第1主表面30の第1ミラーブロックに
対して確実に保持する。外縁部60は、ストリッパ機構第1表面88の一部と、
第1表面90の第2外部ホルダとによってさらに画定される。第1ランニング表
面92は、第1外部ホルダ62とストリッパ機構66との間に存在する。第2ラ
ンニング表面94は、ストリッパ機構66と第2外部ホルダ64との間に存在す
る。第3ランニング表面96は、ストリッパ機構66と第1外部ホルダ62との
間に存在する。その用語「ランニング表面」は、ここで使用される場合、連続的
に互いに接触し、しかも互いに移動可能である2つの近接表面で定義される。
【0028】 特に、樹脂がディスク基板キャビティ34を充填する間の「モールドブロー」
段階中に、その金型が、前述のランニング表面で「ガス抜きする」ので、それら
の表面が互いに移動可能であるが、互いに接触し続け、その結果、バリを起こら
ない。さらに、モールドブロー工程中、加力機構68が、第2ランニング表面9
4でストリッパ機構66の外部ホルダ64に対する連続的接触を維持する。本発
明によるその独特なモールドアセンブリ20は、浮動ヘッド用途に適した表面レ
リーフパターンを有し、小トラックピッチを有する複製ディスクを成形するため
に使用されても良い。
【0029】 外縁部60における第1外部ホルダ62と、第2外部ホルダ64と、ストリッ
パ機構66との間の相互作用は、各面にフォーマット化した表面を有する複製デ
ィスクが成形されるようにすると共に、バリも低減、または完全に排除する。前
述のランニング表面は、バリを発生させる不都合な開口を起こすことなく、モー
ルドアセンブリがディスク成形工程中に「ガス抜き」できるようにする。
【0030】 図6において、本発明によるディスク成形装置の代わりとなるべき実施例を例
示する拡大部分断面図が20Aで概略的に示される。ディスク成形装置20Aは
、開位置で示される。モールドアセンブリ20Aは、片面にフォーマット化した
表面を有する複製ディスクを成形するために使用される。さらに、モールドアセ
ンブリ20Aは、バリを低減または排除した複製ディスクを提供する。
【0031】 モールドアセンブリ20Aは、外部ホルダ64、ストリッパ機構106、およ
び力68を加えるための機構とを含み、これらは、ここで先に説明したように、
第2外部ホルダ64、ストリッパ機構66、および力68を加えるための機構の
それぞれと同様である。ディスク基板キャビティ34は、第1主表面30とスタ
ンパ110とによって画定される。外部ホルダ104は、スタンパ42の上に延
在して、スタンパ42を第2主表面32に対して確実に保持する縁部112を含
む。ストリッパ機構106は、好ましくは環状であり、第1ミラーブロック26
に近接して位置決めされる。
【0032】 図7において、閉位置でのモールドアセンブリ20Aを例示する拡大部分断面
図が示される。移動側24は、固定側22に対して移動されて、モールドアセン
ブリ20Aを図6の開位置から図7の閉位置に移動する。閉位置では、加力機構
68は、ストリッパ機構106を外部ホルダ64に対して維持するために作動さ
れる。特に、加力機構68は、ディスク成形工程中にストリッパ機構106と外
部ホルダ64との間の連続的接触を可能にする。加圧下でディスク成形材料がデ
ィスク基板キャビティ34内に射出され、金型アッセンブリ20Aに型締め力7
2に打ち勝つ外向力(矢印74、76で略示された)が生じることとなると、加
力機構68が、反対力(力方向の矢印70で略示された)を提供して、ディスク
基板キャビティ34の周りの隣接外縁部114を維持する。
【0033】 図8において、図7の外縁部114を取り囲む領域を例示する拡大断面図が示
される。モールドアセンブリ20Aは、第1ランニング表面116と第2ランニ
ング表面118とを含む。ストリッパ機構106は、第1ランニング表面116
で第1ミラーブロック26に対して移動可能である。ストリッパ機構106は、
第2ランニング表面118で外部ホルダ104との接触を維持する。このように
して、モールドアセンブリ20Aがディスク成形工程中にガス抜きをすると、第
1ミラーブロック26が第1ランニング表面116に沿ってストリッパ機構10
6に対して移動し、同時に加力機構68がストリッパ機構106に力を連続的に
加えるので、ストリッパ機構106と第2ランニング表面118との間で連続的
接触となる。これは、ディスク成形工程中での隣接外縁部114の維持が可能と
なる。このようにして、外縁部114に沿って小開口部ができない、それによっ
てバリを低減または排除することができる。
【0034】 動作時、本発明によるモールドアセンブリ20は、ディスク複製工程の一部と
して、両面にフォーマット化されるデータ記憶複製ディスクを形成するために使
用される。それらの複製ディスクは、高密度の情報を包含でき、非常に小さなト
ラックピッチで成形されても良く、バリなど、表面レリーフ欠陥または突出物を
低減または排除したものとなる。
【0035】 図2を参照して、第1スタンパ40は、第1外部ホルダ62を使用して第1ミ
ラーブロック26の第1主表面30に対して固定される。同様に、第2スタンパ
42は、第2外部ホルダ64を使用して第2ミラーブロック28の第2主表面3
2に対して固定される。内部ホルダ46が第2スタンパ42を内縁部で保持して
も良い。移動側24は、固定側22に向かって移動され、モールドアセンブリ2
0を開位置から閉位置に移動する。閉位置では、モールドアセンブリ20は、所
望複製ディスクを成形するためのディスク成形材料をいつでも受け入れる準備が
整っている。閉位置で一旦、ディスク成形材料(例えば、ポリカーボネート樹脂
)が、矢印37A、37B、37Cおよび37Dで示された、スプルーチャネル
36を通して、ディスク基板キャビティ34が満たされるまで、加圧下で射出さ
れる。
【0036】 図4および5を参照して、ディスク基板キャビティ34が満たされると、外向
圧力がディスク基板キャビティ34からモールドアセンブリ20、主表面82、
ストリッパ第1表面88、および第2外部ホルダ第1表面90に生じ(方向矢印
74、76で示された)、型締め力72に打ち勝つ。第1外部ホルダ62は、第
1ランニング表面92と第2ランニング表面96とにおいてストリッパ機構66
に対して移動可能である。ストリッパ機構66は、第2ランニング表面94で第
2外部ホルダ64との接触を維持する。第1ランニング表面92、第2ランニン
グ表面94、および第3ランニング表面96は、隣接表面60を維持することに
よってディスク基板キャビティ34内へのディスク材料の充填または射出中にモ
ールドアセンブリが「ガス抜き」することが可能となる。
【0037】 バリの低減または排除のために隣接外縁部60を維持するべく、第1機構68
はストリッパ機構66に反対力を加える。このようにして、運動がランニング表
面92、96において達成され、しかも圧力および接触も、表面94を含むこれ
らのランニング表面において維持される。全ディスク成形動作中、連続接触がラ
ンニング表面92、94、96に沿って、特にストリッパ機構66と第2外部ホ
ルダ64との間の第2ランニング表面94に沿って維持される。
【0038】 ディスク基板材料がディスク基板キャビティ34内に射出された(さらに、所
望の表面レリーフパターンまたはフォーマット化した表面が第1スタンパ40と
第2スタンパ42とによって複製ディスク基板に複製され)た後に、ゲートカッ
ト44が前方に送られて複製ディスク基板内に中心穴を切断する。複製ディスク
が十分に冷却した後、モールドアセンブリ20が開かれ、ゲートカット44と製
品押出部48とが、フォーマット化した複製ディスク基板を第2スタンパ42お
よびモールドアセンブリ20から取り出すために前方に進められる。本発明によ
る独特なモールドアセンブリのため、従来式の成形工程では固有なバリなど、表
面突出物または欠陥物を排除し、しかも両面にフォーマット化した表面を有する
、ディスク基板がたった1段階で成形されても良い。
【0039】 図6〜8において、本発明による独特なディスク成形方法が片面にフォーマッ
ト化したディスク基板を成形することに適用されても良い。このように、第2外
部ホルダの使用がもはや不要となる。
【0040】 本発明の多数の特性および利点を先の説明で詳述した。当然、この開示が、あ
らゆる面で、説明を目的としただけものであることは理解されよう。細部に、特
に、本発明の範囲を逸脱することなく構成部分の形状、サイズ、および配置構成
に関して変更が行われても良い。本発明の範囲は、添付のクレームが表現される
言語で規定される。
【図面の簡単な説明】
添付図面は本発明のさらなる理解を提供するために包含され、組み込まれ、こ
の明細書の一部を構成する。これらの図は、本発明の実施例を、本発明の主要部
を説明する詳細な説明と共に例示する。本発明の他の実施例、および本発明の多
くの意図した利点は、数図面を通じて同一部分には同一参照番号を付した添付図
面との関連で考えられると以下の詳細な説明を参照することでより良く理解され
るのと同様、容易に理解されよう。
【図1】 入れ子遮断部を有する従来技術モールドアセンブリの部分断面図
である。
【図2】 本発明によるモールドアセンブリの1つの代表的実施例を例示す
る。
【図3】 開位置状態にある本発明によるモールドアセンブリの1つの代表
的実施例を示す部分断面図である。
【図4】 閉位置状態にある図3のモールドアセンブリ1つの代表的実施例
を示す部分断面図である。
【図5】 図4の円形領域の1つの代表的実施例を示す拡大部分断面図であ
る。
【図6】 開位置状態にある本発明によるモールドアセンブリの他の代表的
実施例を示す部分断面図である。
【図7】 閉位置状態にある図6のモールドアセンブリを示す部分断面図で
ある。
【図8】 図7の円形領域の1つの代表的実施例を示す拡大部分断面図であ
る。
【手続補正書】特許協力条約第34条補正の翻訳文提出書
【提出日】平成12年9月14日(2000.9.14)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 バル・エム・シュミッツ アメリカ合衆国55164−0898ミネソタ州セ ント・ポール、ポスト・オフィス・ボック ス64898 Fターム(参考) 4F202 AA28 AH79 AM33 CA11 CB01 CK42 CR06

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ディスク成形工程で両面にフォーマット化した表面を有する
    光データ記憶ディスクを形成するためのモールドアセンブリであって、 第1主表面を有する第1ブロック、第2主表面を有する第2ブロック、および
    外縁部によって画定されたディスク基板キャビティと、 外縁部を有する第1スタンパと、 前記第1スタンパを前記第1主表面に結合する、前記第1スタンパの前記外縁
    部の上に延在する第1ホルダ縁部を含む第1外部ホルダと、 前記第2主表面に結合された、外縁部を有する第2スタンパと、 ディスク成形材料を前記ディスク基板キャビティ内に入れるための、前記ディ
    スク基板キャビティと流体連通しているチャネルとを具備する、アセンブリ。
  2. 【請求項2】 前記外縁部に配置されたストリッパ機構をさらに具備し、前
    記ストリッパ機構が前記第1ブロックと前記第2ブロックとに対して移動可能で
    ある、請求項1に記載のアセンブリ。
  3. 【請求項3】 前記第1ブロックに対して前記ストリッパ機構を前記第1主
    表面と略垂直をなす方向に移動させる手段をさらに具備する、請求項1に記載の
    アセンブリ。
  4. 【請求項4】 第2外部ホルダ縁部を含む第2外部ホルダをさらに具備し、
    前記第2外部ホルダ縁部が、前記第2スタンパを前記第2主表面に結合するため
    に前記第2スタンパの前記外縁部上に延在する、請求項2に記載のアセンブリ。
  5. 【請求項5】 前記第2スタンパを前記第2主表面に結合するための、前記
    第2スタンパの前記外縁部の上に延在する第2外部ホルダ縁部を含む第2外部ホ
    ルダをさらに具備する、請求項1に記載のアセンブリ。
  6. 【請求項6】 前記第1ブロックが前記第2ブロックに対して移動可能であ
    る、請求項1に記載のアセンブリ。
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