JP2002509287A - 顕微鏡の照明ビーム路内の光学装置 - Google Patents

顕微鏡の照明ビーム路内の光学装置

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JP2002509287A JP2000540475A JP2000540475A JP2002509287A JP 2002509287 A JP2002509287 A JP 2002509287A JP 2000540475 A JP2000540475 A JP 2000540475A JP 2000540475 A JP2000540475 A JP 2000540475A JP 2002509287 A JP2002509287 A JP 2002509287A
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エンゲルハルト、ヨハン
ウルリッヒ、ハインリッヒ
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ライカ ミクロジュステムス ハイデルベルク ゲーエムベーハー
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Abstract

(57)【要約】 顕微鏡、とりわけ共焦点レーザ顕微鏡の照明ビーム路(1)中の光学装置が、励起光の損失を低減した光学的照明のために、照明ビーム路(1)に配置された、照明直径(7)を変更するための照明光学系(6)を特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、顕微鏡、とりわけ共焦点レーザ顕微鏡の照明ビーム路中の光学装置
に関する。
【0002】
【従来の技術及び問題点】
共焦点レーザ顕微鏡において、照明ビーム路中でそれ自体ガウス状のレーザビ
ームを適切な光学系を介して、それぞれの対物レンズの入射瞳、ないしそこで使
用可能な対物レンズの入射瞳が基本的に過剰照明(Ueberleuchtung)されるよう
に拡大することは、これまでの従来技術に属することである。過剰照明の程度は
設計上、重要な設定事項である。一方では、入射瞳の過剰照明はこの入射瞳の均
質な照明に用いられる。ここでは理論的解像度が、種々異なるアパーチャを有す
る対物レンズでも保証される。他方では、入射瞳の過剰照明により、とりわけ入
射瞳の小さい対物レンズの場合に励起光が過度に損失されてしまう。しかしこの
ような励起光の損失は、励起光の出力リザーブが小さい適用の場合には甘受でき
るものではない。
【0003】 したがって実際には例えばライカ−レーザ走査顕微鏡TCSが公知であり、こ
の顕微鏡では固定の拡大光学系が設けられている。そこで拡大されるレーザビー
ムの直径は、顕微鏡対物レンズにおいて約25mm(1/e2値)である。
【0004】 励起ピンホールの大きさを変化することにより、レーザ光の発散と、ひいては
励起光に対して作用するアパーチャの照明を制御することができる。このために
単なる例として、Brakenhoff G.J. et al. Confocal Microscopy Handbook 1994
, pp.87-91, ed. J.Pawley を参照されたい。
【0005】 例えば対物レンズPLAPO40×/1.25は、直径約12mmの入射瞳を
有する。これに対して対物レンズPLAPO100×/1.4はわずか直径5m
mの入射瞳を有する。そのためそこでは、励起光はファクタ(12/5)2=5. 76で、不要な過剰照明により失われてしまう。
【0006】 通常は励起ピンホールの前方でビーム路が不変である場合でも、ピンホールの
面積に比例するピンホール透過率は、直径が小さい場合には相応の光損失を示す
。このことも実用では許容できない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の課題は、顕微鏡の照明ビーム路中の光学装置を、励起光の損失を低減
して最適の照明が保証されるように構成することである。
【0008】
【発明による解決手段】
本発明の光学装置は前記課題を、請求項1の特徴部分に記載した構成により解
決する。これによればこのような光学装置は、照明直径を変更する、照明ビーム
路内に配置された照明光学系を有することを特徴とする。
【0009】 本発明によれば、照明ビーム路の照明直径を、光損失の回避のために多かれ少
なかれ正確にそれぞれの対物レンズの入射瞳に適合すべきである。このために照
明ビーム路内に配置された照明光学系が必要であり、これにより照明直径の変更
ないし適合を行うことができる。前に説明した従来技術による光損失はかくてい
ずれにしろ格段に回避される。
【0010】
【発明の実施の形態】
具体的には本発明による照明光学系は、交換可能な固定の光学系の装置として
構成することができる。対物レンズを交換する際には相応にして、固定の光学系
を照明ビーム路中で交換しなければならず、これにより照明直径をそれぞれの対
物レンズの入射瞳に整合する。
【0011】 特に有利には、照明光学系は有利には無段階に動作する可変光学系(Vario-Op
tik)を有し、これにより照明ビーム路での固定の光学系の交換を不要にする。 可変光学系は、有利には電動式のズーム光学系とすることができ、このズーム光
学系は例えば市販のビデオカメラで使用される通常のズーム光学系として構成す
ることができる。
【0012】 照明直径を複数の対物レンズの入射瞳に簡単かつ最適に適合するため、自動調
整部を設けることができる。具体的には照明直径の変更は、所定の有利にはリボ
ルバーに配置された対物レンズの入射瞳に適合することができる。ここではそれ
ぞれの対物レンズの使用に応じて、リボルバーの位置に相応して、変更ないし適
合が自動的に行われる。
【0013】 本発明の光学装置の具体的適用可能性については、照明光学系を点光源ないし
は光ファイバに後置することが考えられる。照明光学系は、固定のバック焦点距
離(Schnittweite)と可変の焦点距離を有する平行光学系として構成することが
でき、ここではビーム直径が対物レンズの入射瞳に適合可能である。
【0014】 同様に、照明光学系を有利には直接入力結合されるレーザビームに対する拡大
光学系として構成することが考えられる。このように構成すれば、ビームを焦点
距離の比f1/f2にしたがって可変に拡大(拡張)することができる。
【0015】 すでに前に例として説明したように、従来技術ではとりわけ対物レンズの入射
瞳が小さい場合に過剰照明を甘受していた。しかしそこでの縁部照明は確かに良
好であった。縁部照明を本発明の装置が適用される場合でも有利にするため、と
りわけ対物レンズの入射瞳が大きい場合には、照明光学系が縁部照明を制御する
、ないしは有利にする別の光学的構成部材を含み、従来技術から公知の過剰照明
をいずれの場合でも回避すると有利である。このような光学的構成部材は、付加
レンズとして、リング絞りとして、またはホログラフ的に形成される光学的要素
として構成することができ、これによりとりわけ通常のガウス状のレーザビーム
が縁部領域へ拡大(拡張)される。例えばこのことにより共焦点レーザ走査顕微
鏡の場合は、一定の強度分布が入射瞳全体にわたって実現でき、対物レンズの入
射瞳を格別に過剰照明する必要がない。これとは異なる強度プロフィールも特殊
適用例に対しては有利であり得る。
【0016】 さらに本発明の装置では、付加的入射口を別の光源を供給するために設けるこ
とも考えられる。ここでは有利にはレーザ光ビームが入射結合される。本来の照
明ビーム路を変更することなしに、このレーザ光ビームは対物レンズの入射瞳に
適合することができ、これによりレーザ光ビームの最適化が本来の照明ビーム路
の適合なしに可能である。
【0017】 最後に前記形式の装置は有利には、マルチフォトンレーザ走査顕微鏡で、また
はマルチフォトン励起のために使用すると有利である。
【0018】 本発明の思想を有利に構成および展開するには種々の手段がある。そのために
一方では請求項1に従属する請求項を、他方では以下の本発明の3つの実施例の
、図面に基づいた説明を参照されたい。本発明の有利な実施例の説明と関連して
、本技術思想の一般的に有利な構成および改善形態を説明する。
【0019】
【実施例】
図1は、共焦点ラスタ顕微鏡のビーム路中に配置された本発明の光学装置の第
1実施例の概略図であり、ここでは光源として点光源が設けられており、ラスタ
顕微鏡は簡単にするためその構成要素により概略的にのみ示されている。
【0020】 図2は、共焦点ラスタ顕微鏡のビーム路中に配置された本発明の光学装置の第
2実施例の概略図であり、ここでは光源として光ファイバが設けられており、ラ
スタ顕微鏡は簡単にするためその構成要素により概略的にのみ示されている。
【0021】 図3は、共焦点ラスタ顕微鏡のビーム路中に配置された本発明の光学装置の第
3実施例の概略図であり、ここでは光源としてレーザ光源ないしはレーザビーム
が設けられており、ラスタ顕微鏡は簡単にするためその構成要素により概略的に
のみ示されている。
【0022】 図1から図3は、それぞれ共焦点ラスタ顕微鏡の照明ビーム路1中に配置され
た光学装置を示す。ここでは簡単にするためラスタ顕微鏡は全体で概略的にのみ
示されている。
【0023】 図1には光源として点光源2が(象徴的に)示されており、図2では光が光フ
ァイバ3を介して入射結合される。図3の実施例では、それに代わる/従来の光
源のレーザビーム4または平行光ビームがレンズ5を介して直接、照明ビーム路
1に入力結合される。
【0024】 本発明では3つ全ての実施例で−図1,2,および3−、照明ビーム路に照明
光学系6が配置されている。この照明光学系6は照明直径7を変更するために使
用され、これにより照明直径7を対物レンズ9の象徴的に示した入射瞳8に適合
することができる。
【0025】 わかりやすくするため図には、対象物10までの照明ビーム路1だけでなく、
照明ビーム路1中に配置されたビーム統合器(入射結合器)11およびスキャナ
12も示されている。
【0026】 検知ビーム路13中には、概略的に示したようにピンホール光学系14と検知
ピンホール15が配置されている。
【0027】 図1と図2に示した実施例では、照明光学系6は無段階に動作する可変光学系
として構成されている。正確に言えばこれは電動式のズーム光学系であるが、単
に象徴的に摺動されるレンズ16により示されている。具体的には、ビデオカメ
ラから公知の通常のズーム光学系である。
【0028】 図3に示された実施例では、照明光学系6にレンズ5が前置されており、この
レンズにレーザビーム4が直接入射結合される。
【0029】 それ以外の図からは分からない特徴については、繰り返しを避けるために明細
書中の一般的説明部分を参照されたい。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、共焦点ラスタ顕微鏡のビーム路中に配置された本発明の光学装置の第
1実施例の概略図である。
【図2】 図2は、共焦点ラスタ顕微鏡のビーム路中に配置された本発明の光学装置の第
2実施例の概略図である。
【図3】 図3は、共焦点ラスタ顕微鏡のビーム路中に配置された本発明の光学装置の第
3実施例の概略図である。
【符号の説明】
1 照明ビーム路 2 点光源 3 光ファイバ 4 レーザビーム 5 レンズ(レーザビームに後置されている) 6 照明光学系 7 照明直径 8 対物レンズの入射瞳 9 対物レンズ 10 対象物 11 ビーム統合器 12 スキャナ 13 検知ビーム路 14 ピンホール光学系 15 検知ピンホール 16 (照明光学系の)レンズ

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 顕微鏡、とりわけ共焦点レーザ顕微鏡の照明ビーム路(1)
    内に配置された光学装置において、 照明ビーム路(1)内に配置され、照明直径(7)を変更するための照明光学
    系(6)を有することを特徴とする光学装置。
  2. 【請求項2】 該照明光学系(6)は交換可能な固定の光学系装置として構
    成されている、請求項1記載の光学装置。
  3. 【請求項3】 該照明光学系(6)は有利には無段階に作動する可変光学系
    を有する、請求項1記載の光学装置。
  4. 【請求項4】 該可変光学系は有利には電動式のズーム光学系である、請求
    項3記載の光学装置。
  5. 【請求項5】 該ズーム光学系はビデオカメラで通常のズーム光学系である
    、請求項4記載の光学装置。
  6. 【請求項6】 該照明直径(7)の変更は、所定の、有利にはリボルバーに
    配置された対物レンズ(9)に整合され、有利には自動的に行われる、請求項1
    から5までのいずれか1項記載の光学装置。
  7. 【請求項7】 該照明光学系(6)は、点光源(2)ないしは光ファイバ(
    3)に後置されている、請求項2から6までのいずれか1項記載の光学装置。
  8. 【請求項8】 該照明光学系(6)は、固定のバック焦点距離と可変の焦点
    距離を有する平行光学系として構成され、該照明直径(7)は対物レンズ(9)
    の入射瞳(8)に適合される、請求項2から7までのいずれか1項記載の光学装
    置。
  9. 【請求項9】 該照明光学系(6)は、有利には直接入射結合されるレーザ
    ビーム(4)に対する拡大光学系として構成されている、請求項2から6までの
    いずれか1項記載の光学装置。
  10. 【請求項10】 ビームは、焦点距離の比f1/f2にしたがって可変に拡張
    可能である、請求項9記載の光学装置。
  11. 【請求項11】 該照明光学系(6)は、とりわけ対物レンズ(9)の入射
    瞳が大きい場合、縁部照明を制御する別の光学的構成部材、ないしは有利な別の
    光学的構成部材を有する、請求項2から10までのいずれか1項記載の光学装置
  12. 【請求項12】 前記別の光学的構成部材は付加レンズとして構成されてい
    る、請求項11記載の光学装置。
  13. 【請求項13】 前記別の光学的構成部材はリング絞りとして構成されてい
    る、請求項11記載の光学装置。
  14. 【請求項14】 前記別の光学的構成部材はホログラフ的に形成される光学
    的要素として構成されている、請求項11記載の光学装置。
  15. 【請求項15】 付加的な入口を介して別の光源、有利にはレーザ光ビーム
    が入射結合され、該別の光源は本来の照明ビーム路(1)を変更することなしに
    、対物レンズ(9)の入射瞳に適合可能である、請求項1から14までのいずれ
    か1項記載の光学装置。
  16. 【請求項16】 マルチフォトンレーザ走査顕微鏡での、請求項1から15
    までのいずれか1項記載の光学装置の使用。
JP2000540475A 1998-01-14 1999-01-14 顕微鏡の照明ビーム路内の光学装置 Pending JP2002509287A (ja)

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DE19801833.9 1998-01-14
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009080502A (ja) * 2008-12-05 2009-04-16 Carl Zeiss Jena Gmbh 走査ユニット付き顕微鏡における放射を走査ヘッドに結合するための配置およびその操作方法

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10139920B4 (de) * 2001-08-14 2008-07-31 Leica Microsystems Cms Gmbh Scanmikroskop und Verfahren zum Scannen eines Objekts
DE102004034966A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Beleuchtungsvorrichtung für ein Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und Verwendung
DE102004034991A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Zoomoptik für ein Lichtrastermikroskop
DE102004034967A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Beleuchtungsvorrichtung für ein Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung
DE102004034990A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-02 Carl Zeiss Jena Gmbh Zoomoptik für ein Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung und Verwendung
DE102004034989A1 (de) * 2004-07-16 2006-02-09 Carl Zeiss Jena Gmbh Zoomoptik für ein Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung und Verwendung
DE102005034441A1 (de) 2005-07-22 2007-02-22 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskopobjektiv
DE102005034442A1 (de) 2005-07-22 2007-02-22 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Mikroskopobjektivsystem
JP5616824B2 (ja) 2011-03-10 2014-10-29 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
DE102011087196A1 (de) 2011-11-28 2013-05-29 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopbeleuchtungssystem und -verfahren

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3679287A (en) 1969-12-16 1972-07-25 Nippon Kogaku Kk Illumination system for light microscopes
JPS49129547U (ja) 1973-03-05 1974-11-07
US3876289A (en) * 1973-03-26 1975-04-08 American Optical Corp Illumination zoom system for microscopes
GB1595422A (en) 1977-04-28 1981-08-12 Nat Res Dev Scaning microscopes
JPS56165111A (en) * 1980-05-26 1981-12-18 Nippon Kogaku Kk <Nikon> Telecentric illuminating system
JPS575024A (en) 1980-06-13 1982-01-11 Olympus Optical Co Ltd Lighting changer for microscope
DE3221804A1 (de) * 1982-06-07 1983-12-08 Leisegang Feinmechanik-Optik Gmbh & Co Kg, 1000 Berlin Beleuchtungseinrichtung
JPS59211014A (ja) 1983-05-16 1984-11-29 Nippon Kogaku Kk <Nikon> 変倍観察装置
US4827125A (en) * 1987-04-29 1989-05-02 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Department Of Health And Human Services Confocal scanning laser microscope having no moving parts
JP2855271B2 (ja) 1987-06-30 1999-02-10 株式会社トプコン 照明・観察光学装置
JPH06100724B2 (ja) 1988-07-04 1994-12-12 大日本スクリーン製造株式会社 顕微鏡の照明光学系
JP2959830B2 (ja) 1990-10-30 1999-10-06 オリンパス光学工業株式会社 光走査装置
DE4301716C2 (de) * 1992-02-04 1999-08-12 Hitachi Ltd Projektionsbelichtungsgerät und -verfahren
JPH05323195A (ja) 1992-05-15 1993-12-07 Casio Comput Co Ltd ズームレンズ
DE4231406A1 (de) * 1992-09-19 1994-03-24 Leica Mikroskopie & Syst Hellfeld-Durchlicht-Beleuchtungseinrichtung für Mikroskope
JPH0815156A (ja) 1993-06-03 1996-01-19 Hamamatsu Photonics Kk レーザスキャン光学系及びレーザスキャン光学装置
DE4404283A1 (de) 1994-02-11 1995-08-17 Leica Mikroskopie & Syst Kondensorsystem für Mikroskope
JPH07234382A (ja) 1994-02-24 1995-09-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 超解像走査光学装置
DE4423705A1 (de) * 1994-06-24 1996-01-04 Frankowski Gottfried Dr Strukturierte Leuchtfeldblende
CH693804A5 (de) * 1994-10-13 2004-02-13 Zeiss Carl Fa Beleuchtungseinrichtung für ein Stereomikroskop.
JPH09318879A (ja) 1996-05-29 1997-12-12 Komatsu Ltd 共焦点光学装置
DE19654211C2 (de) * 1996-12-24 2000-07-06 Leica Microsystems Konfokales Mikroskop

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009080502A (ja) * 2008-12-05 2009-04-16 Carl Zeiss Jena Gmbh 走査ユニット付き顕微鏡における放射を走査ヘッドに結合するための配置およびその操作方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP1046073A1 (de) 2000-10-25
DE19901219A1 (de) 1999-09-09
WO1999036822A1 (de) 1999-07-22
DE19901219B4 (de) 2017-10-19
EP1046073B1 (de) 2015-04-08

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