JP2002367396A - リダンダンシ演算装置、リダンダンシ演算方法、リダンダンシ演算プログラム、リダンダンシ演算プログラムを記録した記録媒体 - Google Patents
リダンダンシ演算装置、リダンダンシ演算方法、リダンダンシ演算プログラム、リダンダンシ演算プログラムを記録した記録媒体Info
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- JP2002367396A JP2002367396A JP2001170024A JP2001170024A JP2002367396A JP 2002367396 A JP2002367396 A JP 2002367396A JP 2001170024 A JP2001170024 A JP 2001170024A JP 2001170024 A JP2001170024 A JP 2001170024A JP 2002367396 A JP2002367396 A JP 2002367396A
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Abstract
ることが可能なリダンダンシ演算装置を提供する。 【解決手段】 被試験メモリデバイス5のフェイル救済
演算を行うリダンダンシ演算装置3に、フェイルにスペ
アを割り当てた後に、未救済フェイルおよび未使用スペ
アが残された場合に、割り当て済みのスペアを、反対方
向の未使用のスペアで置き換え可能か否かを検証する第
1の検証手段と、この第1の検証手段が、割り当て済み
のスペアを、反対方向の未使用のスペアで置き換え可能
であることを検証した場合に、割り当て済みのスペア
を、反対方向の未使用のスペアで置き換え、この置き換
えによって開放されたスペアを、前記未救済フェイルに
割り当てる第1の置き換え手段とを設けた。
Description
有するICの不良を救済するためのデータを発生するリ
ダンダンシ演算を行うリダンダンシ演算装置、リダンダ
ンシ演算方法、リダンダンシ演算プログラム、リダンダ
ンシ演算プログラムを記録した記録媒体に関する。
モリセル(スペア)が用意されており、IC試験装置に
よる試験で不良(フェイル)が検出された場合に、レー
ザ等を用いてIC内の所定のパターンを切断し、不良セ
ルを予備セルに置き換えることにより、不良を救済する
ようにしている。こうした不良救済に必要となるデータ
を作成するユニットをリダンダンシ演算装置と呼ぶこと
とする。
デバイスから得られるフェイル情報に基づき、不良救済
演算(リダンダンシ演算)と呼ばれる処理が行われる。
また、不良救済演算を用いたデバイス測定をリダンダン
シ測定と呼ぶ。
内に専用に設けられたCPUにより、所定の規則的な処
理に基づいたアルゴリズムに従って行われ、被試験メモ
リデバイスから検出された各々のフェイルに、予備回路
の列予備セル(列スペア)、行予備セル(行スペア)を
組み合わせて割り当て、全てのフェイルを救済できるか
否かを判断し、救済可と判断した場合には、割り当てた
アドレス情報(置換アドレス)をIC試験装置の制御部
に対して出力する。
ゴリズムを示すフローチャートである。なお、以下の説
明におけるS101等の符号は、フローチャート中のス
テップを表す。
リから、リダンダンシ演算装置内のバッファメモリに、
フェイルデータが転送される(S101)。
て、フェイル数が、絶対的な救済可能数を超えていない
かどうかが確認される(S102)。フェイル数が、絶
対的な救済可能数を超えている場合(YES)には、救
済不可と判定される。フェイル数が、絶対的な救済可能
数を超えていない場合(NO)には、次のステップS1
03へ進む。
格納されたフェイルアドレスに基づいて、確定ラインフ
ェイルが検出され、検出された確定ラインフェイルに、
予備のメモリセル(スペア)が割り当てられる(S10
3)。ここで、確定ラインフェイルとは、同一アドレス
ライン上に、その反対方向のスペア(列アドレスライン
なら行スペア、行アドレスラインなら列スペア)の本数
を超えるフェイル数が存在し、そのアドレスラインと同
一方向のスペアで割り当てざるを得ないフェイルを意味
する。
または行のラインフェイル数が、列または行のスペアの
本数を超えたか否かが検出される(S104)。超えた
場合(YES)には、救済不可と判定される。越えてい
ない場合(NO)には、次のステップS105へ進む。
対し、残った列または行のスペアの組合せによる割り当
てが行われる。一般的には、以下のような規則的なアル
ゴリズムに従って救済処理が行われる。
が行われる。すなわち、確定ラインフェイルではないラ
インフェイルに、残りのスペアを割り当てる。ここで、
ラインフェイルとは、同一アドレスライン上に、2個以
上のフェイルが存在するフェイルを意味する。
れる。ここで、ビットフェイルとは、同一アドレスライ
ン上に1個しかないフェイルを意味する。ビットフェイ
ル数が、列/行のスペアの救済範囲毎のグループ(列セ
ルアレイグループまたは行セルアレイグループ)毎にカ
ウントされ、ビットフェイル数の多いセルアレイグルー
プから順に、残りのスペアによる割り当てが行われる。
この処理は、ビットフェイルが存在する全てのセルアレ
イにおいて割り当てが実行されるまで、対象のセルアレ
イグループを換えて繰り返される。
済フェイルが存在するか否かが調べられ(S106)、
未救済フェイルが存在しなければ(NO)、救済可とさ
れ、存在していれば(YES)、救済不可とされる。
の予備回路(予備セル)構成は、メモリデバイスの種類
によって異なり、また、複雑化する傾向にある。リダン
ダンシ演算の最小処理単位であるセルアレイは、細分化
される傾向にあり、それに伴って、1本の予備セルが救
済すべき範囲は広がっている。すなわち、1本の予備セ
ルが救済すべきセルアレイの数は増加する傾向にある。
列/行ともに見られるデバイスも増えてきており、この
結果、多数のセルアレイの間をぬって、予備セルが碁盤
の目のように備えられた予備回路構成も目立ってきてい
る。
で区切られる演算ブロック毎に行われるが、上述したよ
うな複雑な予備回路構成の場合、各々の演算ブロックに
おいて発生した個々のフェイルに割り当てる列スペア/
行スペアの組合せ数は、膨大な組合せ数となる。
たリダンダンシ演算のアルゴリズムに従って、フェイル
を救済しようとすると、全てのスペアを割り当てに使用
し切っていないにも関わらず、スペアを割り当てられな
い未救済のフェイルが残る場合がある。このような場合
にも、これまでのリダンダンシ演算の救済アルゴリズム
においては、救済不可と判定されていた。これにより、
リダンダンシ演算における救済率が向上しないという問
題があった。
されたもので、リダンダンシ演算における救済率を向上
させることが可能なリダンダンシ演算装置、リダンダン
シ演算方法、リダンダンシ演算プログラム、リダンダン
シ演算プログラムを記録した記録媒体を提供するもので
ある。
は、 被試験メモリデバイスのフェイル救済演算を行う
リダンダンシ演算装置であって、フェイルにスペアを割
り当てた後に、未救済フェイルおよび未使用スペアが残
された場合に、割り当て済みのスペアを、反対方向の未
使用のスペアで置き換え可能か否かを検証する第1の検
証手段と、この第1の検証手段が、割り当て済みのスペ
アを、反対方向の未使用のスペアで置き換え可能である
ことを検証した場合に、割り当て済みのスペアを、反対
方向の未使用のスペアで置き換え、この置き換えによっ
て開放されたスペアを、前記未救済フェイルに割り当て
る第1の置き換え手段とを有することを特徴とするリダ
ンダンシ演算装置である。
証手段が、割り当て済みのスペアを、反対方向の未使用
のスペアで置き換え可能でないことを検証した場合に、
前記割り当て済みのスペアと反対方向の割り当て済みの
スペアを、さらに反対方向の未使用のスペアで置き換え
可能か否かを検証する第2の検証手段と、この第2の検
証手段が、前記割り当て済みのスペアと反対方向の割り
当て済みのスペアを、さらに反対方向の未使用のスペア
で置き換え可能であることを検証した場合に、前記割り
当て済みのスペアと反対方向の割り当て済みのスペア
を、さらに反対方向の未使用のスペアで置き換え、この
置き換えによって開放された反対方向のスペアを、前記
割り当て済みのスペアと置き換え、この置き換えによっ
て開放されたスペアを前記未救済フェイルに割り当てる
第2の置き換え手段とを有することを特徴とする請求項
1に記載のリダンダンシ演算装置である。
デバイスのフェイル救済演算を行うリダンダンシ演算方
法であって、フェイルにスペアを割り当てた後に、未救
済フェイルおよび未使用スペアが残された場合に、割り
当て済みのスペアを、反対方向の未使用のスペアで置き
換え可能か否かを検証する第1の検証ステップと、この
第1の検証ステップで、割り当て済みのスペアを、反対
方向の未使用のスペアで置き換え可能であることが検証
された場合に、割り当て済みのスペアを、反対方向の未
使用のスペアで置き換え、この置き換えによって開放さ
れたスペアを、前記未救済フェイルに割り当てる第1の
置き換えステップとを有することを特徴とするリダンダ
ンシ演算方法である。
証ステップで、割り当て済みのスペアを、反対方向の未
使用のスペアで置き換え可能でないことが検証された場
合に、前記割り当て済みのスペアと反対方向の割り当て
済みのスペアを、さらに反対方向の未使用のスペアで置
き換え可能か否かを検証する第2の検証ステップと、こ
の第2の検証ステップで、前記割り当て済みのスペアと
反対方向の割り当て済みのスペアを、さらに反対方向の
未使用のスペアで置き換え可能であることが検証された
場合に、前記割り当て済みのスペアと反対方向の割り当
て済みのスペアを、さらに反対方向の未使用のスペアで
置き換え、この置き換えによって開放された反対方向の
スペアを、前記割り当て済みのスペアと置き換え、この
置き換えによって開放されたスペアを前記未救済フェイ
ルに割り当てる第2の置き換えステップとを有すること
を特徴とする請求項3に記載のリダンダンシ演算方法で
ある。
デバイスのフェイル救済演算をコンピュータに実行させ
るリダンダンシ演算プログラムであって、フェイルにス
ペアを割り当てた後に、未救済フェイルおよび未使用ス
ペアが残された場合に、割り当て済みのスペアを、反対
方向の未使用のスペアで置き換え可能か否かを検証する
第1の検証ステップと、この第1の検証ステップで、割
り当て済みのスペアを、反対方向の未使用のスペアで置
き換え可能であることが検証された場合に、割り当て済
みのスペアを、反対方向の未使用のスペアで置き換え、
この置き換えによって開放されたスペアを、前記未救済
フェイルに割り当てる第1の置き換えステップとをコン
ピュータに実行させることを特徴とするリダンダンシ演
算プログラムである。
デバイスのフェイル救済演算をコンピュータに実行させ
るリダンダンシ演算プログラムを記録したコンピュータ
読み取り可能な記録媒体であって、フェイルにスペアを
割り当てた後に、未救済フェイルおよび未使用スペアが
残された場合に、割り当て済みのスペアを、反対方向の
未使用のスペアで置き換え可能か否かを検証する第1の
検証ステップと、この第1の検証ステップで、割り当て
済みのスペアを、反対方向の未使用のスペアで置き換え
可能であることが検証された場合に、割り当て済みのス
ペアを、反対方向の未使用のスペアで置き換え、この置
き換えによって開放されたスペアを、前記未救済フェイ
ルに割り当てる第1の置き換えステップとをコンピュー
タに実行させることを特徴とするリダンダンシ演算プロ
グラムを記録した記録媒体である。
おけるIC試験装置1 の構成を示すブロック図であ
る。本実施形態におけるIC試験装置1は、フェイル検
出装置2 、リダンダンシ演算装置3 および制御部4
を有する。
験メモリデバイス)5 が有するメモリセルの不良(フ
ェイル)を検出し、フェイルデータをリダンダンシ演算
装置3に送る。
装置2から送られたフェイルデータに基づいて、被試験
IC5の不良救済に必要となるデータを作成し、制御部
4に送る。なお、被試験IC5は、不良を救済するため
の予備のメモリセル(スペア)を内蔵している。
ュータによって構成され、このコンピュータが、ロード
されるリダンダンシ演算プログラムを実行することによ
り、その機能が実現される。
る列フェイルカウンタRC、行フェイルカウンタCC、
列グループフェイルカウンタRGC1、RGC2、RG
C3、RGC4、行グループフェイルカウンタCGC
1、CGC2、CGC3、CGC4を内蔵している。
るためのリダンダンシ演算プログラムをコンピュータ読
み取り可能な記録媒体に記録して、この記録媒体に記録
されたリダンダンシ演算プログラムをコンピュータにロ
ードして実行させてもよい。なお、ここでいう「コンピ
ュータ読み取り可能な記録媒体」とは、フレキシブルデ
ィスク、光磁気ディスク、CD−ROM(CD-Read Only
Memory)、CD−R(CD-Recordable)、CD−RW
(CD-ReWritable)等の可搬媒体や、コンピュータに内
蔵されるハードディスク等の記憶装置のことである。
送られたデータを用いてデバイス測定(リダンダンシ測
定)を行う。
シ演算装置3の動作を示すフローチャートである。な
お、以下の説明におけるS201等の符号は、フローチ
ャート中のステップを表す。
モリから、リダンダンシ演算装置3内のバッファメモリ
に、フェイルデータが転送される(S201)。
て、フェイル数が、絶対的な救済可能数を超えていない
かどうかが確認される(S202)。なお、絶対的な救
済可能数は、以下の式から求められる。救済可能数=列
アドレス最大値×行スペア数+行アドレス最大値×列ス
ペア数フェイル数が、絶対的な救済可能数を超えている
場合(YES)には、救済不可と判定される。フェイル
数が、絶対的な救済可能数を超えていない場合(NO)
には、次のステップS203へ進む。
格納されたフェイルアドレスに基づいて、確定ラインフ
ェイルが検出され、検出された確定ラインフェイルに、
予備のメモリセル(スペア)が割り当てられる(S20
3)。ここで、確定ラインフェイルとは、同一アドレス
ライン上に、その反対方向のスペア(列アドレスライン
なら行スペア、行アドレスラインなら列スペア)の本数
を超えるフェイル数が存在し、そのアドレスラインと同
一方向のスペアで割り当てざるを得ないフェイルを意味
する。
または行のラインフェイル数が、列または行のスペアの
本数を超えたか否かが検出される(S204)。超えた
場合(YES)には、救済不可と判定される。越えてい
ない場合(NO)には、次のステップS205へ進む。
対し、残った列または行のスペアの組合せによる割り当
てが行われる。一般的には、以下のような規則的なアル
ゴリズムに従って救済処理が行われる。
が行われる。すなわち、確定ラインフェイルではないラ
インフェイルに、残りのスペアが割り当てられる。ここ
で、ラインフェイルとは、同一アドレスライン上に、2
個以上のフェイルが存在するフェイルを意味する。
れる。ここで、ビットフェイルとは、同一アドレスライ
ン上に1個しかないフェイルを意味する。ビットフェイ
ル数が、列/行のスペアの救済範囲毎のグループ(列セ
ルアレイグループまたは行セルアレイグループ)毎にカ
ウントされ、ビットフェイル数の多いセルアレイグルー
プから順に、残りのスペアによる割り当てが行われる。
この処理は、ビットフェイルが存在する全てのセルアレ
イにおいて割り当てが実行されるまで、対象のセルアレ
イグループを換えて繰り返される。
済フェイルが存在するか否かが調べられ(S206)、
未救済フェイルが存在しなければ(NO)、救済可とさ
れ、存在していれば(YES)、次のステップS207
へ進む。
含む演算ブロック内に、まだ割り当てに使用していない
未使用のスペアが存在するかどうかが確認される。未使
用のスペアが存在しない場合(NO)には、救済不可と
判定され、未使用のスペアが存在する場合(YES)に
は、次のステップS208へ進む。
き換え処理」が実行される。「1回遡っての置き換え処
理」とは、列/行のスペアの置き換えを1回行うことに
より未救済フェイルを救済する処理を意味する。「1回
遡っての置き換え処理」では、未救済フェイルが存在す
るセルアレイを含む列/行のセルアレイグループに着目
し、そのセルアレイグループ内で、既に割り当てられて
いるスペアについて、反対方向に(列スペアなら行スペ
アに、行スペアなら列スペアに)置き換えが可能かどう
かが検証される。
行セルアレイグループのどちらか一方に着目した処理が
行われ、次に、もう一方のセルアレイグループに着目し
た処理が行われる。
うかが確認され(S209)、救済された場合すなわち
未救済フェイルがない場合(NO)には、救済可と判定
され、救済されていない場合すなわち未救済フェイルが
ある場合(YES)には、次のステップS210へ進
む。
き換え処理」が実行される。「2回遡っての置き換え処
理」とは、2回のスペアの置き換えを行うことによって
未救済フェイルを救済する処理を意味する。「2回遡っ
ての置き換え処理」では、前述した「1回遡っての置き
換え処理」と同様に、まず、いずれか一方のセルアレイ
グループに着目した処理が行われ、次に、もう一方のセ
ルアレイグループに着目した処理が行われる。
認され(S211)、未救済フェイルがある場合(YE
S)には、救済不可と判定され、未救済フェイルがない
場合(NO)には、救済可と判定される。
れたアドレス情報(置換アドレス)を制御部4に対して
出力して処理を完了する。
ダンダンシ演算の手順を詳細に説明する。図3 は、フ
ェイルデータに含まれる情報の一例を図示した概念図で
ある。この図においては、被試験IC(被試験メモリデ
バイス)5の列(Row)アドレスが並べられた方向を
R方向、行(Col)アドレスが並べられた方向をC方
向とする。また、被試験IC(被試験メモリデバイス)
5は、列(Row)アドレスが1−1から4−8まで、
行(Col)アドレスが1−1から4−8までのメモリ
空間を有するものとする。このメモリ空間が、1回のリ
ダンダンシ演算にかけられる。1回のリダンダンシ演算
にかけられるメモリ空間を演算ブロックと呼ぶ。
べられた16個のセルアレイを有する。セルアレイは、
R方向に4個、C方向に4個並べられている。1つのセ
ルアレイは、マトリックス状に並べられた64個のセル
を内蔵している。セルは、1つのセルアレイ内におい
て、R方向に8個、C方向に8個並べられている。例え
ば、セルアレイ(1,1)とは、列(Row)アドレス
が1−1から1−8まで、行(Col)アドレスが1−
1から1−8までのセルを含むものとする。フェイルが
発生したセルには、×印が付されている。
レイの組を、列セルアレイグループと呼ぶこととする。
例えば、列セルアレイグループ(2)とは、4個のセル
アレイ(2,1)、(2,2)、(2,3)、(2,
4)の組である。おのおのの列セルアレイグループに
は、列セルアレイグループ内のフェイルを救済するため
の列スペアが、4本づつ設けられている。例えば、列セ
ルアレイグループ(2)には、4本の列スペアRS2
a、RS2b、RS2c、RS2dが設けられている。
レイの組を、行セルアレイグループと呼ぶこととする。
例えば、行セルアレイグループ(2)とは、4個のセル
アレイ(1,2)、(2,2)、(3,2)、(4,
2)の組である。おのおのの行セルアレイグループに
は、行セルアレイグループ内のフェイルを救済するため
の行スペアが、2本づつ設けられている。例えば、行セ
ルアレイグループ(2)には、2本の行スペアCS2
a、CS2bが設けられている。
内には、列フェイルカウンタRCと、行フェイルカウン
タCCと、列グループフェイルカウンタRGC1、RG
C2、RGC3、RGC4と、行グループフェイルカウ
ンタCGC1、CGC2、CGC3、CGC4とが設け
られている。
アドレスにおけるフェイル数をカウントする。列グルー
プフェイルカウンタは、おのおのの列セルアレイグルー
プに含まれるフェイル数をカウントする。行フェイルカ
ウンタCCは、おのおのの行アドレスにおけるフェイル
数をカウントする。行グループフェイルカウンタは、お
のおのの行セルアレイグループに含まれるフェイル数を
カウントする。カウントは、リダンダンシ演算の各ステ
ップで行われる。
下の式で求められる絶対的な救済可能数を超えている場
合には、救済不可と判定される。救済可能数=列アドレ
ス最大値×行スペア数+行アドレス最大値×列スペア数
スペアが4本用意されている。そして、セルアレイは、
R方向に4個設けられているので、4本の組が4グルー
プ存在し、合計で4×4=16本の列スペアが存在す
る。なお、各列スペアの長さは、行アドレスの全てを救
済可能な長さ、すなわち8セル×4グループ=32セル
分となっている。
2本用意されている。そして、セルアレイは、C方向に
4個設けられているので、2本の組が4グループ存在
し、合計で2×4=8本の行スペアが存在する。なお、
各行スペアの長さは、列アドレスの全てを救済可能な長
さ、すなわち8セル×4グループ=32セル分となって
いる。
可能数は、救済可能数=32×(2×4)+32×(4
×4)=768個となり、768個を超えるフェイル数
の場合は、絶対的に救済不可となる。
計は、例えば、列グループフェイルカウンタRGC1、
RGC2、RGC3、RGC4に格納された値を合計す
ることによって得られる。すなわち、6+3+8+1=
18個である。この値は、絶対的な救済可能数である7
68個を超えていないので、「絶対不可」ではないと判
定される。
的には、まず、列フェイルカウンタRCに格納された値
が参照され、2以上の値となっている列アドレスが検出
される。図3に示した例では、列フェイルカウンタRC
内の列アドレス3−3の位置が「3」、列アドレス3−
4の位置が「2」となっているので、これらの列アドレ
スにおける列ラインフェイルが検出される。そして、検
出された列ラインフェイルに、列スペアが割り当てられ
る。列スペアが割り当てられ、救済されたフェイル数
は、列フェイルカウンタRCおよび列グループフェイル
カウンタRGC1〜4から減算される。
た値が参照され、2以上の値となっている行アドレスが
検出される。図3に示した例では、行フェイルカウンタ
CC内の行アドレス1−6の位置が「2」、行アドレス
4−2の位置が「2」となっているので、これらの行ア
ドレスにおける行ラインフェイルが検出される。そし
て、検出された行ラインフェイルに、行スペアが割り当
てられる。行スペアが割り当てられ、救済されたフェイ
ル数は、行フェイルカウンタCCおよび行グループフェ
イルカウンタCGC1〜4から減算される。
インフェイルが救済された後の状態を示す概念図であ
る。列ラインフェイル(3−4)が、列スペアRS3a
によって置き換えられ、列ラインフェイル(3−4)
が、列スペアRS3bによって置き換えられている。な
お、例えば、列ラインフェイル(3−4)とは、列アド
レス3−4にある列方向のラインフェイルを意味するも
のとする。また、行ラインフェイル(1−6)が、行ス
ペアCS1aによって置き換えられ、行ラインフェイル
(4−2)が、行スペアCS4aによって置き換えられ
ている。なお、×印で示したフェイル上の実線は、ライ
ンフェイルをスペアで置き換え(スペアを割り当て)、
救済したことを表す。割り当てにより使用済みとなった
スペアは、点線で表してある。
フェイルを救済した状態を示す概念図である。ビットフ
ェイルの救済は、グループフェイルカウンタの値が最大
のセルアレイグループから順に行われる。図5では、列
セルアレイグループ(1)および(3)に含まれるビッ
トフェイルが、列スペアによって救済されている。な
お、図5では、割り当てにより使用済みとなった列スペ
アは、図から消去してある。
ビットフェイルを救済した状態を示す概念図である。図
6では、行セルアレイグループ(4)および(1)に含
まれるビットフェイルが、行スペアによって救済されて
いる。なお、図6でも、割り当てにより使用済みとなっ
た列スペアは、図から消去してある。
ル数のカウントには、列フェイルカウンタRC、行フェ
イルカウンタCC、列グループフェイルカウンタRGC
1、RGC2、RGC3、RGC4、行グループフェイ
ルカウンタCGC1、CGC2、CGC3、CGC4が
使用される。フェイルカウンタの値をセルアレイグルー
プ毎に合計したのが、グループフェイルカウンタの値と
なる。フェイルカウンタおよびグループフェイルカウン
タの値は、セルアレイグループ毎のスペアの割り当てが
行われる毎に集計され、割り当て済みのフェイル数はカ
ウント値から減算される。
ットフェイルへの割り当て後の状態を示す概念図であ
る。未救済フェイル(3−2,4−7)のみが残されて
いる。ここで、未救済フェイル(3−2,4−7)と
は、列アドレスが3−2、行アドレスが4−7の未救済
フェイルを意味する。
7)が残された段階で、この未救済フェイル(3−2,
4−7)を含む列セルアレイグループ(3)に着目し
て、「1回遡っての置き換え処理」を実行した状態を示
す概念図である。
に4本の列スペアが割り当て済であるが、列スペア10
0が割り当てられた救済済みフェイル101を含むセル
アレイ(3,3)には、未使用の行スペアが2本残され
ている。従って、このうちの1本である行スペア102
を、列スペア100の代わりに使うことが可能である。
そして、この置き換えにより開放される列スペア100
を、未救済フェイル(3−2,4−7)に割り当てるこ
とで、救済が可能となる。
7)が残された段階で、この未救済フェイル(3−2,
4−7)を含む行セルアレイグループ(4)に着目し
て、「1回遡っての置き換え処理」を実行した状態を示
す概念図である。
に2本の行スペアが割り当て済であるが、行スペア20
0が割り当てられた救済済みフェイル201を含むセル
アレイ(4,4)には、未使用の列スペアが4本残され
ている。従って、このうちの1本である列スペア202
を、行スペア200の代わりに使うことが可能である。
そして、この置き換えにより開放される行スペア200
を、未救済フェイル(3−2,4−7)に割り当てるこ
とで、救済が可能となる。
例とは別の事例について説明する。図10は、この事例
における、「1回遡っての置き換え処理」直前の状態を
示す概念図である。この状態においては、未救済フェイ
ル300のみが残されている。また、残された未使用の
スペアは、行スペア301のみであったとする。なお、
割り当てにより使用済みとなったスペアは図から消去
し、未救済フェイル300の救済に直接関与しないセル
アレイのフェイル分布、割り当ての様子は図から割愛し
てある。
0が存在するセルアレイを含む列セルアレイグループ3
02および行セルアレイグループ303に着目し、これ
らのセルアレイグループ内で、既に割り当てに用いられ
ているスペアについて、反対方向のスペアに置き換えが
可能かどうかが検証される(1回遡っての置き換え処
理)。この例では、置き換え可能なスペアは見つからな
いため、「1回遡っての置き換え処理」後も、未救済フ
ェイル300は、割り当てられない状態のまま残る。
実行される。「2回遡っての置き換え処理」では、ま
ず、「1回遡っての置き換え処理」で着目した列セルア
レイグループ302および行セルアレイグループ303
のうち、行セルアレイグループ303の中から、行スペ
アで救済済みのフェイル304および305が検出され
る。
された救済済みフェイルのうち、救済済みフェイル30
4に着目する。この救済済みフェイル304には、行ス
ペア306が割り当てられている。この行スペア306
を反対方向のスペアである列スペアで置き換えられない
かが、救済済みフェイル304を含む列セルアレイグル
ープ307について検証される。
め持っていた4本の列スペアは既に別のフェイルに割り
当てられているため、行スペア306を列スペアで置き
換えるためには、既に割り当て済みの4本の列スペアの
うち、1本の列スペアを開放することが必要になる。
フェイルを含む反対方向のセルアレイグループ、すなわ
ち行セルアレイグループ308、309に着目し、割り
当て済みの4本の列スペアが、反対方向である行スペア
で置き換えられないかが検証される。すなわち、列スペ
アが割り当て済みの3つのフェイルが存在するセルアレ
イ310を含む行セルアレイグループ308と、列スペ
アが割り当て済みの1つのフェイルが存在するセルアレ
イ311を含む行セルアレイグループ309とに着目す
る。
っていた2本の行スペアは、既に割り当てられており、
列スペアを行スペアと置き換えることはできない。ま
た、行セルアレイグループ309では、未使用の行スペ
ア301が1本残っているが、セルアレイ311にある
フェイルに割り当てられている列スペア312は、2個
のフェイルを同時に救済しており、この列スペア312
を開放させるためには、2本の行スペアが必要になる。
従って、行スペアが1本足りず、列スペア312を開放
させることはできない。
イル305に着目する。この救済済みフェイル305に
は、行スペア313が割り当てられている。この救済済
みフェイル305を含む列セルアレイグループ314内
で、行スペア313を反対方向のスペアである列スペア
で置き換えられないかが検証される。
フェイル315を救済していた列スペア316で置き換
えることが可能であることがわかる。すなわち、救済済
みフェイル315の救済は、残りの行スペア301を用
いて行うことが可能なので、列スペア316を解放し、
解放した列スペア316を救済済みフェイル305に割
り当てることが可能である。すると、これまで救済済み
フェイル305に割り当てられていた行スペア313が
解放されるので、解放された行スペア313を未救済フ
ェイル300に割り当てることにより、救済することが
可能となる。
ってスペアの置き換え処理を行うことにより、リダンダ
ンシ演算における救済率を向上させることが可能とな
る。
の構成を示すブロック図である。
演算装置の動作を示すフローチャートである。
示した概念図である。
済された後の状態を示す概念図である。
を救済した状態を示す概念図である。
ェイルを救済した状態を示す概念図である。
割り当て後の状態を示す概念図である。
救済フェイルを含む列セルアレイグループに着目して、
「1回遡っての置き換え処理」を実行した状態を示す概
念図である。
救済フェイルを含む行セルアレイグループに着目して、
「1回遡っての置き換え処理」を実行した状態を示す概
念図である。
換え処理」直前の状態を示す概念図である。
「2回遡っての置き換え処理」の実行を試みた状態を示
す概念図である。
「2回遡っての置き換え処理」を実行した状態を示す概
念図である。
を示すフローチャートである。
Claims (6)
- 【請求項1】 被試験メモリデバイスのフェイル救済
演算を行うリダンダンシ演算装置であって、 フェイルにスペアを割り当てた後に、未救済フェイルお
よび未使用スペアが残された場合に、割り当て済みのス
ペアを、反対方向の未使用のスペアで置き換え可能か否
かを検証する第1の検証手段と、 この第1の検証手段が、割り当て済みのスペアを、反対
方向の未使用のスペアで置き換え可能であることを検証
した場合に、割り当て済みのスペアを、反対方向の未使
用のスペアで置き換え、この置き換えによって開放され
たスペアを、前記未救済フェイルに割り当てる第1の置
き換え手段とを有することを特徴とするリダンダンシ演
算装置。 - 【請求項2】 前記第1の検証手段が、割り当て済み
のスペアを、反対方向の未使用のスペアで置き換え可能
でないことを検証した場合に、前記割り当て済みのスペ
アと反対方向の割り当て済みのスペアを、さらに反対方
向の未使用のスペアで置き換え可能か否かを検証する第
2の検証手段と、 この第2の検証手段が、前記割り当て済みのスペアと反
対方向の割り当て済みのスペアを、さらに反対方向の未
使用のスペアで置き換え可能であることを検証した場合
に、前記割り当て済みのスペアと反対方向の割り当て済
みのスペアを、さらに反対方向の未使用のスペアで置き
換え、この置き換えによって開放された反対方向のスペ
アを、前記割り当て済みのスペアと置き換え、この置き
換えによって開放されたスペアを前記未救済フェイルに
割り当てる第2の置き換え手段とを有することを特徴と
する請求項1に記載のリダンダンシ演算装置。 - 【請求項3】 被試験メモリデバイスのフェイル救済
演算を行うリダンダンシ演算方法であって、 フェイルにスペアを割り当てた後に、未救済フェイルお
よび未使用スペアが残された場合に、割り当て済みのス
ペアを、反対方向の未使用のスペアで置き換え可能か否
かを検証する第1の検証ステップと、 この第1の検証ステップで、割り当て済みのスペアを、
反対方向の未使用のスペアで置き換え可能であることが
検証された場合に、割り当て済みのスペアを、反対方向
の未使用のスペアで置き換え、この置き換えによって開
放されたスペアを、前記未救済フェイルに割り当てる第
1の置き換えステップとを有することを特徴とするリダ
ンダンシ演算方法。 - 【請求項4】 前記第1の検証ステップで、割り当て
済みのスペアを、反対方向の未使用のスペアで置き換え
可能でないことが検証された場合に、前記割り当て済み
のスペアと反対方向の割り当て済みのスペアを、さらに
反対方向の未使用のスペアで置き換え可能か否かを検証
する第2の検証ステップと、 この第2の検証ステップで、前記割り当て済みのスペア
と反対方向の割り当て済みのスペアを、さらに反対方向
の未使用のスペアで置き換え可能であることが検証され
た場合に、前記割り当て済みのスペアと反対方向の割り
当て済みのスペアを、さらに反対方向の未使用のスペア
で置き換え、この置き換えによって開放された反対方向
のスペアを、前記割り当て済みのスペアと置き換え、こ
の置き換えによって開放されたスペアを前記未救済フェ
イルに割り当てる第2の置き換えステップとを有するこ
とを特徴とする請求項3に記載のリダンダンシ演算方
法。 - 【請求項5】 被試験メモリデバイスのフェイル救済
演算をコンピュータに実行させるリダンダンシ演算プロ
グラムであって、 フェイルにスペアを割り当てた後に、未救済フェイルお
よび未使用スペアが残された場合に、割り当て済みのス
ペアを、反対方向の未使用のスペアで置き換え可能か否
かを検証する第1の検証ステップと、 この第1の検証ステップで、割り当て済みのスペアを、
反対方向の未使用のスペアで置き換え可能であることが
検証された場合に、割り当て済みのスペアを、反対方向
の未使用のスペアで置き換え、この置き換えによって開
放されたスペアを、前記未救済フェイルに割り当てる第
1の置き換えステップとをコンピュータに実行させるこ
とを特徴とするリダンダンシ演算プログラム。 - 【請求項6】 被試験メモリデバイスのフェイル救済
演算をコンピュータに実行させるリダンダンシ演算プロ
グラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
であって、 フェイルにスペアを割り当てた後に、未救済フェイルお
よび未使用スペアが残された場合に、割り当て済みのス
ペアを、反対方向の未使用のスペアで置き換え可能か否
かを検証する第1の検証ステップと、 この第1の検証ステップで、割り当て済みのスペアを、
反対方向の未使用のスペアで置き換え可能であることが
検証された場合に、割り当て済みのスペアを、反対方向
の未使用のスペアで置き換え、この置き換えによって開
放されたスペアを、前記未救済フェイルに割り当てる第
1の置き換えステップとをコンピュータに実行させるこ
とを特徴とするリダンダンシ演算プログラムを記録した
記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001170024A JP4232354B2 (ja) | 2001-06-05 | 2001-06-05 | リダンダンシ演算装置、リダンダンシ演算方法、リダンダンシ演算プログラム、リダンダンシ演算プログラムを記録した記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001170024A JP4232354B2 (ja) | 2001-06-05 | 2001-06-05 | リダンダンシ演算装置、リダンダンシ演算方法、リダンダンシ演算プログラム、リダンダンシ演算プログラムを記録した記録媒体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002367396A true JP2002367396A (ja) | 2002-12-20 |
JP4232354B2 JP4232354B2 (ja) | 2009-03-04 |
Family
ID=19012016
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001170024A Expired - Lifetime JP4232354B2 (ja) | 2001-06-05 | 2001-06-05 | リダンダンシ演算装置、リダンダンシ演算方法、リダンダンシ演算プログラム、リダンダンシ演算プログラムを記録した記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4232354B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008065897A (ja) * | 2006-09-07 | 2008-03-21 | Yokogawa Electric Corp | メモリ検査方法およびメモリ検査装置 |
JP2008108368A (ja) * | 2006-10-26 | 2008-05-08 | Yokogawa Electric Corp | リダンダンシ演算方法及び装置並びにメモリ試験装置 |
JP2008117462A (ja) * | 2006-11-02 | 2008-05-22 | Yokogawa Electric Corp | メモリ救済装置およびメモリ救済方法 |
-
2001
- 2001-06-05 JP JP2001170024A patent/JP4232354B2/ja not_active Expired - Lifetime
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2008065897A (ja) * | 2006-09-07 | 2008-03-21 | Yokogawa Electric Corp | メモリ検査方法およびメモリ検査装置 |
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