JP2002366238A - 回路装置及び回路装置の調整データ設定方法 - Google Patents

回路装置及び回路装置の調整データ設定方法

Info

Publication number
JP2002366238A
JP2002366238A JP2001172494A JP2001172494A JP2002366238A JP 2002366238 A JP2002366238 A JP 2002366238A JP 2001172494 A JP2001172494 A JP 2001172494A JP 2001172494 A JP2001172494 A JP 2001172494A JP 2002366238 A JP2002366238 A JP 2002366238A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reset
circuit
adjustment data
reference voltage
constant voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001172494A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4543582B2 (ja
Inventor
Shigenori Yamauchi
重徳 山内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Denso Corp
Original Assignee
Denso Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Denso Corp filed Critical Denso Corp
Priority to JP2001172494A priority Critical patent/JP4543582B2/ja
Publication of JP2002366238A publication Critical patent/JP2002366238A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4543582B2 publication Critical patent/JP4543582B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 リセット回路についてもリセットしきい値を
調整する場合に、そのための回路面積を余分に必要とす
ることなく、トリミングも別途必要としない回路装置を
提供する。 【解決手段】 半導体センサ21の一部として構成され
る回路装置22の定電圧発生回路4とリセット回路5に
対してトリミング作業でEPROM24に記憶された共
通の調整データを出力する。調整データは、基準電圧V
BRG が標準レベルよりも低い程データ値が小さくなり、
標準レベルよりも高い程データ値が大きくなるように設
定される。定電圧発生回路4は前記データ値の大きさに
伴って電圧増幅率が高くなるように構成され、リセット
回路5は前記データ値の大きさに伴ってリセットオン,
オフの出力しきい値が低くなるように構成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電源電圧に基づい
て基準電圧を発生させる基準電圧発生回路と、前記基準
電圧を増幅することで定電圧を発生させる定電圧発生回
路と、電源の投入または切断に基づく前記定電圧のレベ
ル変化に応じてリセット信号を出力するリセット回路と
を備えて構成される回路装置、及びその回路装置につい
て、定電圧のレベルとリセットオン出力しきい値を調整
するための調整データを設定する設定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、LSIの一部として構成され、例
えば当該LSIの動作用電源を供給する定電圧発生回路
は、基準電圧発生回路が出力する基準電圧を適当な増幅
率で増幅して一定の電圧Vccを発生させるように構成さ
れている。しかし、LSIには製造ばらつきがあること
から、基準電圧自体が必ずしも一定ではない。そのた
め、LSIの製造後において、定電圧発生回路が発生さ
せる電圧Vccが所定の電圧となるように調整を行うトリ
ミング作業が必要となる。
【0003】図3乃至図5は、斯様な回路装置の一構成
例を示すものである。回路装置1は、LSIとして形成
されている半導体センサ2(例えば、Gセンサ)の一部
である。基準電圧発生回路3は、例えばバンドギャップ
レギュレータとして構成されており、2V以上の電源電
圧が外部より供給されると標準で1.25Vの基準電圧
VBGR を発生させるようになっている。その基準電圧V
BGR は、定電圧発生回路4及びパワーオンリセット回路
5に供給されている。
【0004】図4に、基準電圧発生回路3の詳細な構成
を示す。基準電圧発生回路3は、ダイオード接続された
2つのトランジスタ6,7(ダイオードのシンボルで示
す)とオペアンプ8とを中心として構成されている。オ
ペアンプ8の出力端子とグランドとの間には、抵抗9及
びトランジスタ6の直列回路並びに抵抗10,11及び
トランジスタ7の直列回路が接続されている。そして、
抵抗9及びトランジスタ6の共通接続点はオペアンプ8
の非反転入力端子に接続されており、抵抗10及び11
の共通接続点はオペアンプ8の反転入力端子に接続され
ている。尚、抵抗11,トランジスタ7は、温度特性や
トランジスタの特性調整を行うため、即ちトリミング用
に複数個が夫々直列,並列に接続されている場合もあ
る。
【0005】リセット回路5は、基準電圧VBGR と定電
圧発生回路4が発生させる定電圧Vccとを比較して、半
導体センサ2に対する電源の投入または切断に基づいて
定電圧Vccが所定のレベルに変化した場合にリセットオ
ン,オフを行うためのリセット信号(パワーオンリセッ
ト電圧VPOR )を出力する回路である。リセット信号
は、半導体センサ2においてA/D変換されたセンサ信
号の処理を行う論理回路など(図示せず)をリセットす
るために供給される。
【0006】定電圧発生回路4は、図5に示すように非
反転増幅器として構成されており、デコーダ12,セレ
クタ13,直列抵抗回路14,オペアンプ15などを備
えている。直列抵抗回路14は、オペアンプ15の出力
端子とグランドとの間に9個の抵抗14a〜14iが直
列接続されており、両端以外の各接続点は、スイッチア
レイとして構成されるセレクタ13を介してオペアンプ
15の反転入力端子に接続されている。オペアンプ15
の非反転入力端子には、基準電圧発生回路3が発生する
基準電圧VBGR が与えられている。デコーダ12は、後
述するEPROM16より与えられる3ビットの調整デ
ータをデコードしてセレクタ13に出力するものであ
り、セレクタ13は、そのデコード信号に応じて8個の
スイッチ13a〜13hの何れか1つを選択的に閉じる
ようになっている。
【0007】定電圧発生回路4は、基準電圧VBGR が標
準値の1.25Vであればその電圧を4倍程度に増幅し
て5V程度の定電圧Vccを発生させる。その電圧増幅率
は、セレクタ13のスイッチを切り替えて帰還抵抗の抵
抗値を可変することで調整可能となっている。
【0008】EPROM16は、3ビット分ののEPR
OMメモリセルで構成されており、センスアンプの出力
はパラレルデータバスを介して定電圧発生回路4のデコ
ーダ12に直結されている。そして、メモリセルに書き
込まれたデータはEPROM16に電源が投入されてい
る間は定電圧発生回路4に出力され続けるようになって
いる。
【0009】以上の構成において定電圧Vccのトリミン
グを行う場合は、作業者が、基準電圧VBGR の値を電圧
計などを用いて測定し、その電圧に応じた増幅率を定電
圧発生回路4に設定するため、調整データをEPROM
16に書き込む。そして、半導体センサ2を動作させる
ために外部より電源が供給されればEPRPOM16に
書き込まれた調整データは定電圧発生回路4に出力され
るので、定電圧発生回路4はその調整データに応じた増
幅率で定電圧Vccを発生させる。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来は、斯
様な構成の半導体センサ2やマイクロコンピュータなど
では、一般にリセット回路5においてリセットオンの出
力しきい値をトリミングすることはなかった。しかしな
がら、例えば半導体センサ2の仕様などによっては、5
Vの定電圧Vccに対して常に4.5Vでリセットがかか
るようにしたいという要請がある場合も想定される(例
えば、半導体センサとしての動作特性を保証するためな
ど)。
【0011】その場合、上述した定電圧発生回路4と同
様の構成を採用してリセット回路5についてもリセット
しきい値を調整するためのトリミングを行うことを想定
すると、その調整データのビット数だけEPROMを追
加する必要があり、回路面積を余分に必要とすることに
なる。また、トリミング工程も別途必要になることから
作業工数が増加するという問題が予想される。
【0012】本発明は上記事情に鑑みてなされたもので
あり、その目的は、リセット回路についてもリセットし
きい値を調整する場合に、そのための回路面積を余分に
必要とすることなく、トリミングも別途必要としない回
路装置、及びその回路装置に定電圧のレベルとリセット
オン出力しきい値を調整するための調整データを設定す
る設定方法を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の回路装置
によれば、定電圧発生回路及びリセット回路に対して、
調整データ出力部より不揮発性のメモリに記憶されてい
る調整データが共通に出力され、定電圧発生回路とリセ
ット回路とは、何れもその調整データに基づいて増幅
率,リセットオン出力しきい値が調整可能に構成されて
いる。
【0014】即ち、基準電圧が標準レベルよりも高い場
合に定電圧を出力させるには、定電圧発生回路の増幅率
を標準よりも小さくする必要がある。また、リセット回
路は、前記定電圧を基準電圧と比較することでリセット
信号を出力する構成であるから、基準電圧が標準レベル
よりも高い場合に定電圧の同じ変化レベルでリセットが
かかるようにするためには、出力しきい値を高くする必
要がある。また、基準電圧が標準レベルよりも低い場合
には、大小関係について上記と逆のことが言える。
【0015】従って、例えば、調整データ出力部のメモ
リに記憶される調整データを、基準電圧発生回路が発生
する基準電圧が標準レベルよりも低い程データ値が小さ
くなり、前記基準電圧が標準レベルよりも高い程データ
値が大きくなるように設定すると共に、定電圧発生回路
を調整データが大きくなる程増幅率が高くなるように構
成し、リセット回路を調整データの大きくなる程リセッ
トオン出力しきい値が低くなるように構成する。勿論、
上記調整データのデータ値の大小と、増幅率,リセット
オン出力しきい値の高低との関係は逆であっても良い。
【0016】斯様に構成すれば、製造プロセスのばらつ
きなどにより基準電圧が変動する場合でも、調整データ
出力部より出力される共通の調整データによって、定電
圧発生回路より発生される定電圧とリセット回路より出
力されるリセット信号のしきい値とが夫々適切となるよ
うに同時に調整することが可能となる。そして、リセッ
ト回路についても調整が必要である場合に調整データ出
力部を余分に必要とすることがないので、回路装置を小
形かつローコストで構成することができる。また、トリ
ミング作業の工程を別途追加する必要もないことから、
調整を簡単に行うことができる。
【0017】請求項2記載の回路装置によれば、リセッ
ト回路を、調整データ出力部より出力される調整データ
によってリセットオフ出力しきい値も同時に設定可能と
するので、例えば、調整データに基づき、前記基準電圧
が標準レベルよりも低い程リセットオフ出力しきい値が
低くなり、基準電圧が標準レベルよりも高い程リセット
オフ出力しきい値が高くなるように構成すれば、リセッ
トを解除する電圧レベルについても調整する必要がある
場合にも対応することができる。
【0018】請求項3記載の回路装置の調整データ設定
方法によれば、基準電圧発生回路と、定電圧発生回路
と、これらに調整データを共通に出力するように構成さ
れる調整データ出力部とを備え、定電圧発生回路は調整
データに基づいた電圧増幅率が設定されるように構成さ
れ、リセット回路は調整データに基づいたリセットオン
出力しきい値が設定されるように構成されている回路装
置について前記調整データを設定する場合に、基準電圧
発生回路が発生する基準電圧のレベルを測定し、前記基
準電圧が標準レベルよりも高い程前記増幅率が低くなる
と共に前記リセットオン出力しきい値が高くなるように
データ値を設定する。
【0019】この場合、例えば、調整データを、前記基
準電圧が標準レベルよりも低い程データ値が小さくな
り、基準電圧が標準レベルよりも高い程データ値が大き
くなるようにデータ値を設定して、定電圧発生回路とリ
セット回路とを、そのデータ値の大小関係に応じて増幅
率,リセットオン出力しきい値が夫々上記のように調整
される構成にすれば良い。勿論、上記調整データのデー
タ値の大小と、増幅率,リセットオン出力しきい値の高
低との関係は逆であっても良い。
【0020】斯様に調整データを設定することで、製造
プロセスのばらつきなどによって基準電圧が変動する場
合でも、調整データ出力部より出力される共通の調整デ
ータによって、定電圧発生回路より発生される基準電圧
とリセット回路より出力されるリセット信号とを適切に
調整することが可能となり、リセット回路についても調
整が必要である場合でも調整データ出力部を余分に必要
とすることなく、また、トリミング作業の工程を追加す
る必要もないことから、調整を簡単に行うことができ
る。
【0021】請求項4記載の回路装置の調整データ設定
方法によれば、リセット回路は、調整データ出力部より
出力される調整データによってリセットオフ出力しきい
値も同時に設定可能であり、調整データに基づいて、前
記基準電圧が標準レベルよりも低い程リセットオフ出力
しきい値が低くなり、基準電圧が標準レベルよりも高い
程前記リセットオフ出力しきい値が高くなるので、リセ
ットを解除する電圧レベルについても調整する必要があ
る場合にも対応することができる。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、本発明を半導体センサの一
部として構成される回路装置に適用した場合の一実施例
について図1及び図2を参照して説明する。尚、図3乃
至図5と同一部分には同一符号を付して説明を省略し、
以下異なる部分についてのみ説明する。図1において、
半導体センサ21の一部として構成される回路装置22
は、図3に示すパワーオンリセット回路5をパワーオン
リセット回路23に置き換えたものである。そして、リ
セット回路23には、EPROM16に代わるEPRO
M(調整データ出力部)24より出力される調整データ
が、定電圧発生回路4と共通に与えられるようになって
いる。
【0023】図2は、リセット回路23の詳細な電気的
構成を示すものである。リセット回路23は、コンパレ
ータ24,直列抵抗回路25,2組のセレクタ26A,
26B及びデコーダ27などで構成されている。デコー
ダ27は、定電圧発生回路4が備えているデコーダ12
と同様に、3ビットの調整データをデコードしたデコー
ド信号をセレクタ26A,26Bに出力するようになっ
ている。
【0024】直列抵抗回路25は、定電圧Vccとグラン
ドとの間に12個の抵抗25a〜25lを直列接続して
構成されている。セレクタ26A,26Bは、夫々8個
のスイッチを備えており、セレクタ26A,26Bは夫
々リセットオフ,オンのしきい値設定用である。セレク
タ26Aの8個のスイッチ26Aa〜26Ahの一端
は、直列抵抗回路25の抵抗25a〜25i間における
8つの共通接続点に夫々接続されており、セレクタ26
Bの8個のスイッチ26Bd〜26Bkの一端は、抵抗
25d〜25l間における8つの共通接続点に夫々接続
されている。
【0025】そして、セレクタ26Aのスイッチ26A
a〜26Ahの共通に接続されている他端側は、スイッ
チ28Aを介してコンパレータ24の非反転入力端子に
接続されており、セレクタ26Bのスイッチ26Bd〜
26Bkの他端側は、スイッチ28Bを介して前記非反
転入力端子に接続されている。また、コンパレータ24
の反転入力端子には基準電圧VBGR が与えられている。
【0026】デコーダ27は8本のデコード信号をセレ
クタ26A,26Bに出力しているが、それらの信号は
スイッチ26Aa及び26Bd〜スイッチ〜26Ah及
び26Bkに夫々与えられている。即ち、リセットオフ
側のしきい値は、直列抵抗回路25が有している12個
の共通接続点の内、定電圧Vcc側の8個を選択すること
で決定され、リセットオン側のしきい値は、前記12個
の共通接続点の内、グランド側の8個を選択することで
決定されるようになっている。
【0027】また、コンパレータ24の非反転入力端子
に接続されている2つのスイッチ28A,28Bのオン
オフは、シュミットトリガバッファ29が定電圧Vccを
受けて出力する信号によって切り替えられる。即ち、ス
イッチ28Aにはバッファ29の出力信号が直接与えら
れており、スイッチ28Bには前記出力信号がインバー
タゲート30で反転されたものが与えられている。従っ
て、定電圧Vccの立ち上がり時にはスイッチ28Aがオ
フ→オンに切り替わり、立ち下がり時にはスイッチ28
Bがオフ→オンに切り替わる。
【0028】以上の構成において、基準電圧発生回路3
が出力する基準電圧VBGR が標準値の1.25Vである
場合には、3ビットの調整データ(0〜7)のデータ値
を例えば“3”に設定する。そして、定電圧発生回路4
は、データ値“3”が与えられると、デコーダ12より
出力されるデコード信号に応じて電圧増幅率を“4”に
設定し、定電圧Vccを約5Vで出力するようになってい
る。
【0029】一例として、直列抵抗回路14の抵抗14
aの抵抗値が10.25kΩ,14iの抵抗値が3k
Ω,14b〜14hの抵抗値が各0.25kΩであると
する。そして、データ値“3”に対応して出力されるデ
コード信号によりセレクタ13のスイッチ13eが閉じ
て抵抗14e及び14fの共通接続点がオペアンプ15
の反転入力端子に接続されると、非反転増幅器の増幅率
は(1+11.25/3.75=4)となる。
【0030】また、リセット回路23は、データ値
“3”が与えられると、デコーダ27より出力されるデ
コード信号に応じて、リセットオンを出力する(VPOR
をロウレベルにする)しきい値電圧を例えば4.5Vに
設定し、リセットオフを出力する(VPOR をハイレベル
にする)例えばしきい値電圧を4.75Vに設定するよ
うになっている。即ち、デコード信号によってセレクタ
26A,26Bのスイッチ26Ae及び26Bhがオン
されて、夫々の分圧抵抗比により各しきい値が設定され
る。その他の構成については、図3乃至図5に示すもの
と同様である。
【0031】次に、本実施例の作用について説明する。
回路装置22についてトリミングを行う場合は、半導体
センサ21に電源を投入した状態で、作業者が基準電圧
発生回路3が出力する基準電圧VBGR のレベルを測定す
る。そして、基準電圧VBGRが標準値の1.25Vであ
る場合は3ビットの調整データのデータ値を“3”とし
て、作業者は、そのデータ値“3”をEPROM24に
書き込む。即ち、必要な書き込み電圧をEPROM24
に印加した状態で、書き込みデータをデータバスに与え
るようにする。この場合、各電圧は上述したように定ま
ることになる。
【0032】そして、基準電圧VBGR が標準値の1.2
5Vを下回っている場合は、その値に応じて調整データ
のデータ値を“0〜2”の何れかに決定し(例えば
“2”とする)、作業者はその3ビットデータをEPR
OM24に書き込む。トリミング作業が終了し、半導体
センサ21に改めて電源が投入されると、EPROM2
4はセンスアンプを介して3ビットのデータバスに書き
込まれた調整データを出力する。すると、定電圧発生回
路4では、セレクタ13において1つグランド側のスイ
ッチ13fが代わって閉じることになる。この場合、非
反転増幅器の増幅率はデータ値“3”の場合よりも大き
くなるため、基準電圧VBGR の低下を増幅率を上昇させ
て補うことができ、略5Vの定電圧Vccが出力されるよ
うになる。
【0033】この時、リセット回路23では、セレクタ
26A,26Bのスイッチ26Af及び26Biが代わ
って閉じることになる。即ち、基準電圧VBGR の低下に
伴って、比較対象の分圧電位も低下させる必要があるか
らである。その結果、リセットオン,リセットオフの出
力しきい値は、略4.5V,4.75Vに設定されるこ
とになる。
【0034】一方、基準電圧VBGR が標準値の1.25
Vを上回っている場合は、その値に応じて調整データの
データ値を“4〜7”の何れかに決定し(例えば“4”
とする)、作業者はその3ビットデータをEPROM2
4に書き込む。そして、作業終了後半導体センサ21に
改めて電源が投入されると、定電圧発生回路4では、セ
レクタ13において1つ電源側のスイッチ13dが代わ
って閉じることになる。この場合、非反転増幅器の増幅
率はデータ値“3”の場合よりも小さくなるため、基準
電圧VBGR の上昇に対して増幅率を低下させて調整す
る。
【0035】この時、リセット回路23では、セレクタ
26A,26Bのスイッチ26Ad及び26Bgが代わ
って閉じることになる。即ち、基準電圧VBGR の上昇に
伴って、比較対象の分圧電位も上昇させる必要があるか
らである。そして、リセットオン,リセットオフの出力
しきい値は、略所期の値に設定される。
【0036】以上のように本実施例によれば、半導体セ
ンサ21の一部として構成される回路装置22の定電圧
発生回路4とリセット回路5に対し、トリミング作業で
EPROM24に記憶された共通の調整データを出力す
るようにした。そして、その調整データを、基準電圧V
BRG が標準レベルよりも低い程データ値が小さくなり、
基準電圧VBRG が標準レベルよりも高い程データ値が大
きくなるように設定し、定電圧発生回路4を前記データ
値の大きさに伴って電圧増幅率が高くなるように構成
し、リセット回路5を前記データ値の大きさに伴ってリ
セットオン,オフの出力しきい値が低くなるように構成
した。
【0037】従って、製造プロセスのばらつきなどによ
り基準電圧VBGR が変動する場合でも、EPROM24
より出力される共通の調整データに基づいて定電圧発生
回路4より発生される定電圧Vccとリセット回路5より
出力されるリセット信号のしきい値とを適切に調整する
ことが可能となり、リセット回路5についても調整が必
要な場合でもEPROM24を余分に必要とすることが
ないので、回路装置22を小形かつローコストで構成す
ることができる。例えば、0.8μmプロセスの工程で
3ビットのEPROM24を形成するには200μm×
300μm程度の面積が必要となるため、その分のチッ
プ面積を削減することが可能となる。また、トリミング
作業の工程を追加する必要もないことから、調整作業を
簡単に行うことができる。
【0038】更に、本実施例によれば、リセット回路5
を、調整データによってリセットオフ出力しきい値も同
時に調整可能としたので、リセット解除の電圧レベルに
ついても厳密に調整したいという要請がある場合にも対
応することができる。そして、リセットオフ出力しきい
値を調整するために用いる直列抵抗回路25を、リセッ
トオン側に用いるものと共用するように構成したので、
回路面積の増加を極力抑制することができる。
【0039】本発明は上記し且つ図面に記載した実施例
にのみ限定されるものではなく、次のような変形または
拡張が可能である。調整データのビット数は“3”に限
らず、個別の設計に応じて適宜設定すれば良い。また、
各抵抗の抵抗値なども、個別の設計に応じて適宜変更し
て実施すれば良い。測定した基準電圧のレベルに対する
調整データの大小の設定を逆にして、その調整データに
対応する増幅率,リセット信号しきい値の大小に関する
設定を逆にしても良い。即ち、基準電圧が標準レベルよ
りも低い程データ値が大きくなり、基準電圧が標準レベ
ルよりも高い程データ値が小さくなるように設定し、定
電圧発生回路を調整データが大きくなる程増幅率が低く
なるように構成し、リセット回路を調整データの大きく
なる程リセットオン出力しきい値が高くなるように構成
しても良い。
【0040】リセット回路は、リセットオンの出力しき
い値だけを調整可能に構成しても良い。調整データ出力
部を構成する不揮発性のメモリは、EPRPMに限ら
ず、EEPROMやワンタイムPROMなどでも良い。
半導体センサに限らず、CPUやマイクロコンピュー
タ,車両用のECUや通信用IC等に適用しても良い。
また、例えばCPUのように定電圧Vccが定格値に確定
してから数100ms程度の時間が経過した後にリセッ
トオフを行う必要があるものについては、リセット回路
の出力側に適当な遅延回路を付加して対応すれば良い。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を半導体センサに適用した場合の一実施
例であり、電気的構成を示す機能ブロック図
【図2】リセット回路の詳細な電気的構成を示す図
【図3】従来技術を示す図1相当図
【図4】基準電圧発生回路の詳細な電気的構成を示す図
【図5】定電圧発生回路の詳細な電気的構成を示す図
【符号の説明】
3は基準電圧発生回路、4は定電圧発生回路、22は回
路装置、23はパワーオンリセット回路、24はEPR
OM(調整データ出力部)を示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5F038 AR21 AV02 AV13 BB04 BB05 BE03 DF01 DF04 DF05 EZ20 5H420 NA25 NB02 NB16 NB25 NB37 NC06 5J055 AX40 BX41 CX27 DX01 EY01 EY12 EZ10 EZ30 EZ38 EZ56 FX19 FX38 GX01 GX02

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電源電圧に基づいて基準電圧を発生させ
    る基準電圧発生回路と、前記基準電圧を増幅することで
    定電圧を発生させる定電圧発生回路と、前記基準電圧と
    前記定電圧とを比較することで、前記電源の投入または
    切断に基づく前記定電圧のレベル変化に応じてリセット
    信号を出力するリセット回路とを備えて構成される回路
    装置において、 前記定電圧発生回路及び前記リセット回路に対して、不
    揮発性のメモリに記憶されている調整データを共通に出
    力するように構成される調整データ出力部を備え、 前記調整データ出力部のメモリに記憶される調整データ
    は、前記基準電圧発生回路が発生する基準電圧レベルに
    対応した値が設定されており、 前記定電圧発生回路は、前記調整データに基づいた増幅
    率が設定されるように構成され、 前記リセット回路は、前記調整データに基づいたリセッ
    トオン出力しきい値が設定されるように構成されている
    ことを特徴とする回路装置。
  2. 【請求項2】 前記リセット回路は、前記調整データ出
    力部より出力される調整データによってリセットオフ出
    力しきい値も同時に設定されるように構成されているこ
    とを特徴とする請求項1記載の回路装置。
  3. 【請求項3】 電源電圧に基づいて基準電圧を発生させ
    る基準電圧発生回路と、前記基準電圧を増幅することで
    定電圧を発生させる定電圧発生回路と、前記基準電圧と
    前記定電圧とを比較することで、前記電源の投入または
    切断に基づく前記定電圧のレベル変化に応じてリセット
    信号を出力するリセット回路と、前記定電圧発生回路及
    び前記リセット回路に対して不揮発性のメモリに記憶さ
    れている調整データを共通に出力するように構成される
    調整データ出力部とを備え、 前記定電圧発生回路は、前記調整データに基づいた増幅
    率が設定されるように構成されていると共に、前記リセ
    ット回路は、前記調整データに基づいたリセットオン出
    力しきい値が設定されるように構成されている回路装置
    に対して前記調整データを設定するための設定方法であ
    って、 前記基準電圧発生回路が発生する基準電圧のレベルを測
    定し、 前記基準電圧が標準レベルよりも低い程前記増幅率が高
    くなると共に前記リセットオン出力しきい値が低くなる
    ように調整データを設定し、前記基準電圧が標準レベル
    よりも高い程前記増幅率が低くなると共に前記リセット
    オン出力しきい値が高くなるように調整データを設定す
    ることを特徴とする回路装置の調整データ設定方法。
  4. 【請求項4】 前記リセット回路は、前記調整データ出
    力部によって出力される調整データによってリセットオ
    フ出力しきい値も同時に設定可能であり、前記調整デー
    タに基づいて、前記基準電圧が標準レベルよりも低い程
    前記リセットオフ出力しきい値が低くなり、前記基準電
    圧が標準レベルよりも高い程前記リセットオフ出力しき
    い値が高くなることを特徴とする請求項3記載の回路装
    置の調整データ設定方法。
JP2001172494A 2001-06-07 2001-06-07 回路装置及び回路装置の調整データ設定方法 Expired - Fee Related JP4543582B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001172494A JP4543582B2 (ja) 2001-06-07 2001-06-07 回路装置及び回路装置の調整データ設定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001172494A JP4543582B2 (ja) 2001-06-07 2001-06-07 回路装置及び回路装置の調整データ設定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002366238A true JP2002366238A (ja) 2002-12-20
JP4543582B2 JP4543582B2 (ja) 2010-09-15

Family

ID=19014105

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001172494A Expired - Fee Related JP4543582B2 (ja) 2001-06-07 2001-06-07 回路装置及び回路装置の調整データ設定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4543582B2 (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006080204A (ja) * 2004-09-08 2006-03-23 Sony Corp 半導体部品の設計方法及び半導体部品
US7469174B2 (en) 2005-07-15 2008-12-23 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Vehicle-borne electronic control device
US7557459B2 (en) 2005-07-15 2009-07-07 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha In-vehicle electronic control device
WO2012160734A1 (ja) * 2011-05-20 2012-11-29 パナソニック株式会社 基準電圧生成回路および基準電圧源
JP2013196704A (ja) * 2012-03-20 2013-09-30 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd 定電圧生成回路及び定電圧生成方法
US9601987B2 (en) 2013-12-25 2017-03-21 Denso Corporation Power supply apparatus
JP2021510879A (ja) * 2018-01-18 2021-04-30 ロベルト・ボッシュ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツングRobert Bosch Gmbh パワーオンリセットを組み合わせた基準電圧源回路

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09330135A (ja) * 1996-06-07 1997-12-22 Denso Corp 電子回路の動作特性補正装置
JP2001004715A (ja) * 1999-06-23 2001-01-12 Denso Corp 電子回路の動作調整制御装置及び半導体集積回路装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09330135A (ja) * 1996-06-07 1997-12-22 Denso Corp 電子回路の動作特性補正装置
JP2001004715A (ja) * 1999-06-23 2001-01-12 Denso Corp 電子回路の動作調整制御装置及び半導体集積回路装置

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006080204A (ja) * 2004-09-08 2006-03-23 Sony Corp 半導体部品の設計方法及び半導体部品
US7469174B2 (en) 2005-07-15 2008-12-23 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Vehicle-borne electronic control device
US7557459B2 (en) 2005-07-15 2009-07-07 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha In-vehicle electronic control device
DE102006013187B4 (de) * 2005-07-15 2015-11-05 Mitsubishi Denki K.K. Fahrzeugelektronik-Steuereinrichtung
US8779750B2 (en) 2011-05-20 2014-07-15 Panasonic Corporation Reference voltage generating circuit and reference voltage source
CN103026311A (zh) * 2011-05-20 2013-04-03 松下电器产业株式会社 基准电压生成电路及基准电压源
JPWO2012160734A1 (ja) * 2011-05-20 2014-07-31 パナソニック株式会社 基準電圧生成回路および基準電圧源
WO2012160734A1 (ja) * 2011-05-20 2012-11-29 パナソニック株式会社 基準電圧生成回路および基準電圧源
JP5842164B2 (ja) * 2011-05-20 2016-01-13 パナソニックIpマネジメント株式会社 基準電圧生成回路および基準電圧源
JP2013196704A (ja) * 2012-03-20 2013-09-30 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd 定電圧生成回路及び定電圧生成方法
US9601987B2 (en) 2013-12-25 2017-03-21 Denso Corporation Power supply apparatus
JP2021510879A (ja) * 2018-01-18 2021-04-30 ロベルト・ボッシュ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツングRobert Bosch Gmbh パワーオンリセットを組み合わせた基準電圧源回路
JP6990318B2 (ja) 2018-01-18 2022-01-12 ロベルト・ボッシュ・ゲゼルシャフト・ミト・ベシュレンクテル・ハフツング パワーオンリセットを組み合わせた基準電圧源回路

Also Published As

Publication number Publication date
JP4543582B2 (ja) 2010-09-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100792363B1 (ko) 반도체 메모리 장치의 내부전원 생성회로
KR100706239B1 (ko) 대기모드에서 소비 전력을 감소시킬 수 있는 전압레귤레이터
US20070079157A1 (en) Power control circuit for universal serial bus
US7254080B2 (en) Fuse circuit and electronic circuit
JP2005117442A (ja) 半導体集積回路
US8593887B2 (en) Semiconductor device having reference voltage generating unit
JP4767386B2 (ja) 内部電圧発生回路
KR20160121204A (ko) 집적 회로
JP2002366238A (ja) 回路装置及び回路装置の調整データ設定方法
US9385583B2 (en) Circuit and method for operating a circuit
US7057446B2 (en) Reference voltage generating circuit and internal voltage generating circuit for controlling internal voltage level
JP6689152B2 (ja) 半導体装置
US6806691B2 (en) Regulator circuit for independent adjustment of pumps in multiple modes of operation
US20070285142A1 (en) Apparatus for supplying voltage free from noise and method of operation the same
JP2005086108A (ja) 半導体集積回路
US8879338B2 (en) Semiconductor integrated circuit and nonvolatile semiconductor storage device
KR20070025000A (ko) 레퍼런스 전압 트리밍 장치
JP2010282317A (ja) 内部電源回路、半導体装置、及び半導体装置の製造方法
JP2001109530A (ja) 定電圧発生回路および不揮発性メモリ並びに半導体集積回路
US20070258310A1 (en) Semiconductor integrated circuit
KR100788344B1 (ko) 전압 검출회로
US20240004411A1 (en) Voltage supply circuit
JP2022144310A (ja) 電圧生成回路及び半導体装置
JP6394488B2 (ja) センサ装置
JP2022067364A (ja) 半導体集積回路の製造方法、半導体集積回路

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070626

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100225

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100608

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100621

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130709

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130709

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees