JP2002363682A - Mg、NiおよびMnを含有する水素吸蔵合金および水素吸蔵合金粉体並びにその製造方法 - Google Patents

Mg、NiおよびMnを含有する水素吸蔵合金および水素吸蔵合金粉体並びにその製造方法

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JP2002363682A
JP2002363682A JP2001176653A JP2001176653A JP2002363682A JP 2002363682 A JP2002363682 A JP 2002363682A JP 2001176653 A JP2001176653 A JP 2001176653A JP 2001176653 A JP2001176653 A JP 2001176653A JP 2002363682 A JP2002363682 A JP 2002363682A
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storage alloy
hydrogen
phase
alloy powder
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JP2001176653A
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English (en)
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Akitsugu Hirata
晃嗣 平田
Toru Sagawa
徹 佐川
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Dowa Holdings Co Ltd
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Dowa Mining Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 次世代の水素吸蔵合金として期待されなが
ら、常温常圧付近において、水素の吸蔵・放出速度が遅
いという問題点を有しているMg−Ni−Mn系水素吸
蔵合金の水素の吸蔵・放出速度を早める。 【解決手段】 Mg−Ni−Mn系水素吸蔵合金粉体
に、酸またはアルカリ処理を行うことで、粉体X線回折
測定をおこなったとき、Mg相の(101)面の回折線
強度(IMg(101))と、Mg3+aNi2+bMn1+c相(但
し、−1≦a≦1、−1≦b≦2、−0.45≦c≦
2)の(511)面の回折線強度(IMgNiMn(511 ))と
の比(IMgNiMn(511)/IMg(101))が50以上であるこ
とを特徴とするMg−Ni−Mn系水素吸蔵合金粉体を
調製し、常温常圧付近において水素の吸蔵・放出速度を
早めることを実現した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は水素貯蔵、水素輸
送、電池電極、ヒートポンプを用いた熱利用システム、
触媒、センサー材料、水素同位体の分離あるいは水素の
分離・精製等に利用できる水素吸蔵合金に関する。
【0002】
【従来の技術】エネルギー問題や環境問題への有効な対
応手段として、水素の利用が有望視されている。そこで
容易かつ安全に水素を貯蔵、運搬する手段として、水素
吸蔵合金が注目されている。近年、水素吸蔵合金を負極
材料に用いたニッケル−水素二次電池が実用化され、高
容量、クリーン、ニッケル−カドミウム電池との互換性
を有する、リチウムイオン電池より低コストである、等
の特徴により民生用二次電池の1つとして普及が進んで
いる。また最近では、前記ニッケル−水素二次電池以外
の用途としてヒートポンプでの実用化も近いと考えられ
る。
【0003】一般に水素吸蔵合金は、水素と発熱的に反
応する元素とそれ以外の元素とから構成される。そして
この水素と発熱的に反応する金属元素の種類または水素
吸蔵合金の構造に準拠して、希土類元素系、ラーベス相
系、BCC固溶体系、Mg系、等に大別される。
【0004】現在実用化が進んでいる水素吸蔵合金は、
希土類元素系、ラーベス相系、およびBCC固溶体系な
どであり、常温常圧付近で水素を吸蔵放出可能なものが
多く、応用しやすいというメリットがあった。しかし、
原料コストが比較的高価であるとの問題点もあり、コス
ト削減が現在の課題となっている。一方、原料コストが
安価な水素吸蔵合金として、発熱型元素がMgである水
素吸蔵合金がある。このグループの水素吸蔵合金として
は、水素吸蔵量は比較的多いが水素の吸蔵放出に200
℃以上の温度を必要とするMg2Ni系や、水素吸蔵量
はそれ程多くないが、常温常圧付近で水素を吸蔵放出す
ることが可能なMg、NiおよびMnを含有する系、等
がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】前記Mg、Niおよび
Mnを含有する水素吸蔵合金は常温常圧付近で水素を吸
蔵放出することが可能で、原料コストが安価なことか
ら、次世代の水素吸蔵合金として期待されている。しか
しながらこの合金は、水素の吸蔵・放出速度が遅いとい
う問題点を有している。本発明は、前述の背景を基にな
されたものであり、常温常圧付近において水素の吸蔵・
放出速度が速い、Mg、NiおよびMnを含有する水素
吸蔵合金、およびその製造方法を提供することを目的と
する。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明をなすにあたり、
本発明者らは鋭意研究の結果、前記Mg、NiおよびM
nを含有する水素吸蔵合金において、常温常圧付近での
水素の吸蔵・放出速度を遅くしている主要な原因を解明
した。すなわち、前記Mg、NiおよびMnを含有する
水素吸蔵合金を溶解鋳造法で製造する際、合金中にはM
3+aNi2+bMn1+c相(但し、−1≦a≦1、−1≦
b≦2、−0.45≦c≦2)、やMg相、Mg2Ni
相が生成する。このうち、常温常圧付近での水素の吸蔵
・放出をおこなうのはMg3+aNi2+bMn1+c相である
のだが、副生するMg相、Mg2Ni相は水素の放出を
おこなわないばかりか、水素拡散速度も非常に遅い。そ
して、前記Mg、NiおよびMnを含有する水素吸蔵合
金を粉砕して調製したMg、NiおよびMnを含有する
水素吸蔵合金粉体において、このMg3+aNi2+bMn
1+c相はMg相やMg2Ni相に囲まれた包晶構造の合金
となるため、常温常圧付近での水素の吸蔵・放出速度が
遅くなっていることを解明したものである。
【0007】さらに、本発明者らは前記解明に基き、前
記Mg、NiおよびMnを含有する水素吸蔵合金粉体を
酸またはアルカリで処理することにより、Mg3+aNi
2+bMn1+c相を囲んでいたMg相やMg2Ni相を除去
する方法を見出し、その好ましい除去程度をX線回折に
て評価できることにも想到し、遂に、常温常圧付近にお
いて水素の吸蔵・放出速度が速い、Mg、NiおよびM
nを含有する水素吸蔵合金の発明を完成したものであ
る。
【0008】すなわち、第1の発明は、Mg、Niおよ
びMnを含有する水素吸蔵合金であって、X線回折測定
をおこなったとき、Mg相の(101)面の回折線強度
(IMg(1 01))と、Mg3+aNi2+bMn1+c相(但し、−
1≦a≦1、−1≦b≦2、−0.45≦c≦2)の
(511)面の回折線強度(IMgNiMn(511))との比
(IMgN iMn(511)/IMg(101))が50以上であることを
特徴とするMg、NiおよびMnを含有する水素吸蔵合
金である。
【0009】第2の発明は、前記Mg3+aNi2+bMn
1+c相を含む合金に、Li、B、C、Al、Si、C
a、Ti、Cr、Fe、Co、Cu、Zn、Nb、A
g、Sn、Pb、およびミッシュメタル元素のうちから
選ばれる少なくとも1種以上の元素を0.01〜20m
ol%含有することを特徴とする、第1の発明に記載の
Mg、NiおよびMnを含有する水素吸蔵合金である。
【0010】第3の発明は、第1または第2の発明に記
載する水素吸蔵合金を含むことを特徴とするMg、Ni
およびMnを含有する水素吸蔵合金粉体である。
【0011】第4の発明は、前記水素吸蔵合金粉体を構
成する水素吸蔵合金粉体粒子の表面に微粒子が存在して
いることを特徴とする、第3の発明に記載のMg、Ni
およびMnを含有する水素吸蔵合金粉体である。
【0012】第5の発明は、前記微粒子の形状がフレー
ク状であることを特徴とする、第4の発明に記載の水素
吸蔵合金粉体である。
【0013】第6の発明は、レーザー回折法により測定
される水素吸蔵合金粉体の平均粒径と、BET法により
測定される比表面積径との比(水素吸蔵合金粉体の平均
粒径/BET法により測定される比表面積径)が40以
上であることを特徴とする、第3から第5の発明のいず
れかに記載のMg、NiおよびMnを含有する水素吸蔵
合金粉体である。
【0014】第7の発明は、第3から第6発明のいずれ
かに記載のMg、NiおよびMnを含有する水素吸蔵合
金粉体を用いて製造したことを特徴とする、Mg、Ni
およびMnを含有する水素吸蔵合金の造粒粉体である。
【0015】第8の発明は、Mg3+aNi2+bMn1+c
(但し、−1≦a≦1、−1≦b≦2、−0.45≦c
≦2)を有する水素吸蔵合金を、酸またはアルカリで処
理することを特徴とする、Mg、NiおよびMnを含有
する水素吸蔵合金の製造方法である。
【0016】第9の発明は、前記酸処理において、処理
に用いる酸の量が前記水素吸蔵合金中に含まれるMg相
のモル数よりも多いことを特徴とする、第8の発明に記
載のMg、NiおよびMnを含有する水素吸蔵合金の製
造方法である。
【0017】第10の発明は、前記アルカリ処理時また
はアルカリ処理完了時における、前記アルカリ液と、前
記水素吸蔵合金との縣濁液のpHが9以上であることを
特徴とする、第8の発明に記載のMg、NiおよびMn
を含有する水素吸蔵合金の製造方法である。
【0018】第11の発明は、前記酸処理または前記ア
ルカリ処理を、窒素または不活性ガス雰囲気下でおこな
うことを特徴とする、第8から第10発明のいずれかに
記載のMg、NiおよびMnを含有する水素吸蔵合金の
製造方法である。
【0019】第12の発明は、前記酸処理または前記ア
ルカリ処理の後、得られた水素吸蔵合金を、真空下また
は窒素雰囲気下または不活性ガス雰囲気下で乾燥するこ
とを特徴とする、第8から第11の発明のいずれかに記
載のMg、NiおよびMnを含有する水素吸蔵合金の製
造方法である。
【0020】第13の発明は、第1〜第7の発明のいず
れかに記載のMg、NiおよびMnを含有する水素吸蔵
合金または水素吸蔵合金粉体または造粒粉体を用いたこ
とを特徴とする水素吸蔵放出システムである。
【0021】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態にかか
るMg、NiおよびMnを含有する水素吸蔵合金(以
下、Mg−Ni−Mn系水素吸蔵合金と記載する。)
を、溶解鋳造法にて製造する際に用いる真空溶解炉の構
成の一例を示す縦部分断面、図2は本発明の実施の形態
にかかるMg−Ni−Mn系水素吸蔵合金を製造する際
に用いる真空溶解炉の構成の一例を示す横部分断面であ
る。但し、本発明の実施の形態にかかるMg−Ni−M
n系水素吸蔵合金の製造方法としては、溶解鋳造法以外
にも、アーク溶解法、メルトスピニング法、アトマイズ
法およびメカニカルアロイング法、反応焼結法等が可能
である。
【0022】以下これらの図面を参照しながら実施の形
態にかかるMg−Ni−Mn系水素吸蔵合金の製造方法
を説明する。(尚、図1、2において対応する部分には
同一の符号を付して示した。) 図1、2に示されるように、真空溶解炉は、真空チャン
バー1と、この真空チャンバー1内に設けられた高周波
加熱方式のルツボ2、鋳型3、等で構成されている。真
空チャンバー1は、内部を真空排気するための真空ポン
プ11有し、また、ルツボ2に原料を供給したり、鋳型
3から鋳込まれた水素吸蔵合金を取り出したりするため
の開閉自在の扉12を有している。さらに、Ar、等の
不活性ガスを導入できる不活性ガス導入パイプ13およ
び不活性ガス雰囲気を形成するための気体排出パイプ1
4を有している。なお、これらパイプには、パイプの導
通を開閉できるコック13a,14aがそれぞれ設けら
れている。
【0023】ルツボ2は、原料を反応させる加熱炉であ
り、セラミックスの焼結体やカーボン等で構成され上部
に開口部を有する容器であって、外周部には高周波加熱
するための誘導コイル21が設けられている。また、図
2に示されるように、ルツボ2は、支持腕22に取りつ
けられている。支持腕22は真空チャンバー1の壁部を
気密を保ちながら貫通して回転自在に取付られている。
これにより、外部から支持腕22を回転操作することに
より、ルツボ2を回転して内部の溶解物を鋳型3に注ぎ
込むことができるようになっている。
【0024】さらに図1に示されるように、るつぼ2の
上部開口部は、必要に応じて蓋体23によって密閉でき
るようになっている。この蓋体23は、支持棒23aに
取付られ、この支持棒23aは、真空チャンバー1の壁
部を気密を維持しながら貫通しつつ上下動自在に取付ら
れている。これにより、外部から支持棒23aを上下操
作することにより、蓋体23を上下させてルツボ2の上
部開口部を密閉し、また密閉を解除できるようになって
いる。
【0025】鋳型3は、ルツボ2で溶解反応した合金を
鋳込んで所定の形状の水素吸蔵合金に形成するものであ
り、Cu、カーボン、等で構成され、鋳型台31上に設
置される。なお図示していないが、真空チャンバー1に
は、内部を観察しながら、ルツボ2を操作できるよう
に、観察窓が設けられている。
【0026】上述の真空溶解炉を用いて、水素吸蔵合金
を次のようにして製造する。 (1)原料の準備 ルツボ2に原料であるMg、Ni並びにMnを所定の仕
込量に合わせて装填する。なお、後述するように、M
g、Ni、Mn以外の元素を添加する際も、この時、一
緒に装填するのが作業性の点から好ましい。上記原料の
純度は好ましくは99.9%以上で、形状はインゴッ
ト、ショット、粉体、等のいずれでも良い。但し、前記
仕込量とは、原料が合金となったとき、所定の合金組成
となるように適宜調整したものである。
【0027】(2)真空溶解炉内の雰囲気の置換 上記原料の装填が終了したら、真空チャンバー1の扉1
2を閉め、真空チャンバー1内部を真空ポンプ11によ
って真空度が50Pa以下になるまで真空排気する。次
に、コック13aを開き、パイプ13を通じてAr等の
不活性ガスを真空チャンバー1内に導入する。真空チャ
ンバー1内が不活性ガスで満されて大気圧になったら、
コック14aを開き、真空チャンバー1内を不活性ガス
雰囲気にする。ガスフロー量は、雰囲気中の酸素ガス濃
度が50ppm以下に保持できる流量とする。
【0028】(3)加熱反応 上記真空チャンバー1内の雰囲気置換を行なって不活性
ガスフロー雰囲気にしたら、誘導コイル21に高周波電
力を印加し、ルツボ2内の原料を加熱して所定の昇温速
度で設定温度まで昇温する。設定温度は、装填原料の溶
解温度とし、設定温度に到達したら保持時間は20分程
度かそれ以下で良い。
【0029】(4)鋳込み 上記所定の保持時間が過ぎたら、支持腕22を操作し
て、ルツボ2を回転・傾斜させ、ルツボ2内の溶解物を
鋳型3に流し込み、鋳造を行なう。鋳塊の温度が100
℃以下になったのを確認してガスフローを終了し、扉1
2を開け、鋳型3内の合金を取り出す。
【0030】(5)粉砕 上述の方法で得られた水素吸蔵合金の鋳塊を、ディスク
ミル、乳鉢等を用いて所望の粒度に粉砕したものをMg
−Ni−Mn系水素吸蔵合金粉体試料(以下、水素吸蔵
合金粉体試料と記載する。)とする。
【0031】ここで、本発明に係る水素吸蔵合金粉体試
料に含まれる三元系水素吸蔵合金のMg3+aNi2+bMn
1+c相(以下、Mg3Ni2Mn1相と記載する。)につい
て説明する。この合金相におけるa,b,cの好ましい
範囲は、a=−1〜1,b=−1〜2,c=−0.45
〜2である。より好ましくは、a=−0.3〜0.3,
b=−0.35〜0.5,c=−0.35〜0.5の範
囲である。何となれば、a,b,cがこの範囲外である
と、Mg3Ni2Mn1相を構成するMg3Ni2Mn1を基
本組成とする金属間化合物の存在割合が低下し、十分な
水素吸蔵・放出量が得られなかったり、200℃未満に
おいて水素吸蔵は可能だが、水素放出はほとんど起こら
なくなることによる。さらに、このMg3Ni2Mn1
において、Mn成分量(すなわち変数c)を変化させる
ことにより、水素放出平衡圧すなわち水素放出温度を制
御することが可能となる。
【0032】さらに加えて、本発明に係る水素吸蔵合金
に、Li,B,C,Al,Si,Ca,Ti,Cr,F
e,Co,Cu,Zn,Nb,Ag,Sn,Sb,ミッ
シュメタル元素(以下、Mmと記載する。)から選ばれ
る少なくとも1種の元素を0.01〜20mol%添加
することにより、水素放出平衡圧や水素吸蔵・放出速度
を制御することが可能となる。特に、Si,Coを添加
することにより、水素吸蔵・放出速度を上げることがで
きる。
【0033】各元素の添加方法は、前記「(1)原料の
準備」に記載した「Mg,Ni,Mnの各原料の仕込み
時点」において、さらに、それぞれLi,B,C,A
l,Si,Ca,Ti,Cr,Fe,Co,Cu,Z
n,Nb,Ag,Sn,Pb,Mmの各元素を所望量添
加し、水素吸蔵合金を鋳造すればよい。
【0034】ここで、前記金属間化合物Mg3Ni2Mn
1についてさらに説明する。前記金属間化合物Mg3Ni
2Mn1の結晶構造には、吸熱型元素(すなわち水素と発
熱的には反応しない元素)であるNiとMnを有する三
次元的なネットワークが結晶内に張り巡らされている。
そして吸熱型元素は、発熱型元素よりも水素原子との結
合が弱いため、このNiとMnを有するネットワーク
は、水素吸蔵時においては粒子内部への水素拡散を補助
する水素通路となり、水素放出時においては粒子表面へ
の水素拡散を補助する水素通路となることで、200℃
未満での水素の吸蔵・放出を可能にすると推測される。
【0035】この金属間化合物Mg3Ni2Mn1は、室
温において0.01〜1MPa、100℃において0.
1〜10MPaの水素放出平衡圧を示し、Mg2Ni合
金で困難と考えられていた200℃をはるかに下まわる
温度、例えば室温〜90℃においても水素を吸蔵・放出
することができる。この金属間化合物Mg3Ni2Mn 1
を生成させることで、安価なMg−Ni−Mn系水素吸
蔵合金を室温付近で利用することが可能になる。
【0036】この金属間化合物Mg3Ni2Mn1を生成
させたMg−Ni−Mn系水素吸蔵合金は、大気圧力下
における溶解・鋳造法において製造することが可能であ
る。すなわち長時間作業や製造コストを必要とするメカ
ニカル法や反応焼結法等による必要がないため、材料コ
ストだけでなく製造コストまでも安価に抑えることがで
きる。
【0037】しかし、前述したように前記水素吸蔵合金
粉体試料を溶解鋳造法で製造する際、合金中にはMg3
Ni2Mn1相、Mg相、Mg2Ni相が生成し、これ
ら、副生するMg相、Mg2Ni相は水素の放出をおこ
なわないばかりか、水素拡散速度も非常に遅い。その
上、Mg3Ni2Mn1相はMg相やMg2Ni相に囲まれ
た包晶構造の合金となるため、常温常圧付近での水素の
吸蔵・放出速度が遅くなってしまう。ここで、本発明者
らは、前記水素吸蔵合金粉体試料を酸またはアルカリで
処理することにより、Mg3Ni2Mn1相を囲んでいた
Mg相やMg2Ni相を除去することに想到し、この処
理によって、Mg−Ni−Mn系水素吸蔵合金における
水素の吸蔵放出速度を飛躍的に向上させる方法を見出し
た。
【0038】(6)酸処理 まず、前記水素吸蔵合金粉体試料を酸処理する場合につ
いて述べる。窒素ガス雰囲気下にある純水中へ、前記水
素吸蔵合金粉体試料を攪拌しながら加え、縣濁液を調製
する。次に、この縣濁液中へ所定量の酸を徐々に添加す
る。この酸添加の際に、縣濁液の液温が急激に上昇しな
いように注意することが肝要である。何となれば、液温
が急激に変化すると、前記水素吸蔵合金粉体試料に対す
る酸処理が均一に進行しないことが考えられるからであ
る。
【0039】添加する酸の種類に限定はなく、塩酸、硝
酸、硫酸、リン酸、ホウ酸、酢酸、シュウ酸等、適宜な
酸を使用することができる。但し、いずれの酸を用いた
場合でも、縣濁液の液温が反応熱により急激に上昇しな
い速度で添加する。液温は急激な変動がない限り適宜に
設定して良い。添加する酸の量は、前記水素吸蔵合金粉
体試料中におけるMg相中のMgのモル数に対し、1倍
以上、好ましくは1〜1000倍の範囲が好ましい。何
となれば、添加する酸の量がMg相中のMgのモル数の
1倍に満たない場合は、酸処理が十分に進行せず、Mg
相あるいはMg2Ni相が残留してしまう可能性がある
からである。一方、1000倍以上添加した場合、Mg
相あるいはMg2Ni相のみならずMg3Ni2Mn1相ま
で溶解され、水素吸蔵・放出がおこらなくなる可能性が
あるからである。酸添加が終了しても、適宜、攪拌およ
び温度調節を継続し、添加した酸を十分に反応させる。
尚、前記酸処理実施中において窒素ガス雰囲気の代替と
してアルゴンガス等の不活性ガスを用いても良い。
【0040】さらに前記水素吸蔵合金粉体試料中に前記
Li,B,C,Al,Si,Ca,Ti,Cr,Fe,
Co,Cu,Zn,Nb,Ag,Sn,Pb,Mmの各
元素が所望量添加されている場合も上記と同様に酸処理
することができる。これらの元素を添加することによ
り、前記水素吸蔵合金粉体試料の水素吸蔵・放出速度お
よび水素平衡圧をある程度、制御することが可能とな
る。そこでこれらの元素添加と前記酸処理とを併用する
ことで、相乗的な効果を期待することができる。
【0041】(7)アルカリ処理 次に、前記水素吸蔵合金粉体試料をアルカリ処理する場
合について述べる。所定の濃度のアルカリ水溶液を調製
し窒素ガス雰囲気下に置き、前記水素吸蔵合金粉体試料
を攪拌しながら加え、縣濁液を調製する。Mg3Ni2
1相、Mg相、およびMg2Ni相を含む前記試料をア
ルカリで処理すると、水素拡散速度の遅いMg相やMg
2Ni相が先に水酸化物になって除去され、これらMg
相やMg2Ni相に囲まれていた前記水素吸蔵合金粉体
試料の表面が活性化する。
【0042】処理に用いるアルカリとしては水酸化ナト
リウムまたは水酸化カリウムが好ましい。アルカリの濃
度は水溶液のpHが9以上、より好ましくはpH10以
上となるようにする。何となれば、pHが9未満の場
合、Mg相やMg2Ni相だけでなくMg3Ni2Mn1
までもが溶解してしまう可能性があるからである。前記
縣濁液攪拌の保持時間、保持温度の最適範囲は使用する
アルカリ水溶液の濃度により適宜設定しpH9以上を保
持する。アルカリ添加が終了しても、適宜、攪拌を継続
し、添加したアルカリを十分に反応させ、pH9以上を
保持する。尚、前記アルカリ処理実施中において窒素ガ
ス雰囲気の代替としてアルゴンガス等の不活性ガスを用
いても良い。
【0043】さらに前記水素吸蔵合金粉体試料中に前記
Li,B,C,Al,Si,Ca,Ti,Cr,Fe,
Co,Cu,Zn,Nb,Ag,Sn,Pb,Mmの各
元素が所望量添加されている場合も上記と同様にアルカ
リ処理することができる。これらの元素を添加すること
により、前記水素吸蔵合金粉体試料の水素吸蔵・放出速
度および水素平衡圧をある程度、制御することが可能と
なる。そこでこれらの元素添加と前記アルカリ処理とを
併用することで、相乗的な効果を期待することができ
る。
【0044】(8)ろ過、洗浄および乾燥 前記酸処理またはアルカリ処理後の水素吸蔵合金粉体試
料は、極めて酸化し易い状態となっている。そこで前記
酸処理またはアルカリ処理後の際と同様に、窒素ガスま
たは不活性ガス雰囲気下で、ろ過をおこなうことが好ま
しい。ろ過方法は吸引ろ過が適している。ろ過後の水素
吸蔵合金粉体試料は、洗浄を行わなくても酸処理または
アルカリ処理の効果を得ることができるため、洗浄は必
須の工程ではないが、行うなら純水で1〜2回行えばよ
い。酸処理、アルカリ処理または洗浄後の乾燥は、水素
吸蔵合金粉体試料が極めて酸化し易い状態となっている
ことから、室温における、窒素ガスまたは不活性ガス雰
囲気下または真空下でおこなうことが好ましい。このよ
うにして、酸処理またはアルカリ処理後の水素吸蔵合金
粉体試料(以下、処理後の試料と記載する。)を得た。
処理後の試料は、後述する、例えば水素吸蔵タンク、ヒ
ートポンプ、あるいはニッケル水素二次電池等に適用す
る場合、より扱いやすい形態とするために、所望により
造粒処理を加えて造粒粉体としたり、樹脂、溶剤等と混
合してペーストやスラリーにするのも好ましい構成であ
る。
【0045】(9)処理後の試料における水素放出速度
の測定 前記処理後の試料に対し、室温における水素放出速度の
評価をジーベルツ式のPCT測定装置を用いて実施し
た。
【0046】ここで、図5を用いてジーベルツ式のPC
T測定装置について簡単に説明する。図5はジーベルツ
式のPCT測定装置の概念図である。不活性ガスボンベ
101および水素ガスボンベ102より、適宜に取り出
されたガスは各々バルブV1、V2およびV3を通過し
て試料セル104に至る。このガスの圧力は圧力計10
3により測定される。試料セル104には処理後の試料
が設置され、ヒーター105により所望の温度に設定さ
れる。処理後の試料の水素吸蔵量測定時にはバルブV3
およびV8が閉じられ、配管と、試料セル104と、標
準容器セル106、107とにて形成された閉空間中で
の、水素ガスの圧力が前記圧力計103にて測定され
る。尚、この時バルブV6、V7を適宜に開閉すること
で前記閉空間の容積を何段階かに設定することができ
る。一方、試料セル104内を真空にする際はバルブV
3が閉じられ真空系109の端末に設置された真空ポン
プにより真空引きが行われる。真空溜め108は前記真
空引きの際、高圧ガスにより真空ポンプが破壊されるの
を防ぐために設けられている。さらにバルブV2とV3
との間にはバルブV4を介して排気系110が設けら
れ、測定装置内の排気の際に用いられる。
【0047】次にジーベルツ式のPCT測定装置を用い
た、水素の放出速度の評価方法について説明する。 (a)前記処理後の試料1gを試料セル104に装填
し、ジーベルツ式PCT測定装置に取り付ける。 (b)室温下で試料セル104内を100Pa以下まで
真空排気した後、300℃まで昇温し、さらに30分間
脱気処理をおこなう。 (c)真空排気を継続したまま、100℃まで降温す
る。 (d)温度の安定を確認した後、試料セル104内を約
5MPaの水素雰囲気とし、試料に水素を吸蔵させる。 (e)試料セル104内の圧力減少が見られないことを
規準として、処理後の試料が水素吸蔵を完了したことを
確認し、水素雰囲気を保ったまま室温まで放冷する。 (f)室温までの放冷したら、試料セル104内で吸蔵
されずに残留している水素雰囲気を真空排気し、真空度
が1kPaになったら真空排気系につながるバルブV8
を閉じる。これで、試料セル104、標準容器セル10
6、107および配管は閉鎖系となり定容積部とみなす
ことができる。 (g)前記試料セル104、標準容器セル106、10
7および配管が形成する定容積部の圧力変化を観測し、
処理後の試料が吸蔵していた水素を前記定容積部(79
cm3)に水素を放出する水素放出速度を測定した。
【0048】この結果、処理前の試料の水素放出速度が
0.15cm3(STP)/g・min程度であるのに
対し、処理後の試料の水素放出速度は0.6〜1.3c
3(STP)/g・minを示し、水素放出速度が顕
著に向上していることが判明した。
【0049】(10)処理後の試料に対するX線回折測
定 処理後の試料における、Mg相、Mg2Ni相およびM
3Ni2Mn1相の状態を評価するためにX線回折測定
を実施した。X線源はCoKα線(50kV、36m
A)、走査軸は2θ/θ、ゴニオメータの半径は18.
5cm、発散・散乱および受光スリットは各々1/2
°、1/2°、0.15mmを使用して測定する。ステ
ップは0.02°、スムージング(加重平均)の点数は
9とし、回折線の強度はスムージング、ベースライン補
正、Kα2除去を行った後の値を用いる。
【0050】ここでMg相に他元素が固溶していなけれ
ば、Mg相の(101)面の回折線位置(2θ)は4
2.7°(面間隔は約2.45Å)、一方、Mg3Ni2
Mn1相に他元素が固溶していなければ、Mg3Ni2
1相の(511)面の回折線位置(2θ)は47.5
°(面間隔は約2.22Å)となる。Mg相の他の回折
線が観測されないため42.7°付近の回折線がMg相
の(101)面に帰属されるものか否か明確でない場合
は、42.7±0.3°に観測される回折線をMg相の
回折線とみなすことにした
【0051】そして上記測定の結果、Mg相の(10
1)面と、Mg3Ni2Mn1相の(511)面との回折
線強度比(IMgNiMn(511)/IMg(101))は50以上、よ
り好ましくは100以上であることが望ましいことが判
明した。この強度比が小さいということは、常温で水素
を吸蔵放出するMg3Ni2Mn 1相に対して、水素拡散
速度の遅いMg相がまだ多量に存在していることを意味
するため、水素の吸蔵放出速度はあまり向上しないため
であると考えられる。ここで、Mg相の除去が進みMg
相の(101)面の回折線強度が弱すぎて観測できない
ときは、Mg相の(101)面の回折線強度を0とし、
前記回折線強度比(IMgNiMn(511)/IMg(101))は10
0以上であるとした。
【0052】(11)酸処理後の試料の表面状態 前記酸処理後の試料を構成する粉体粒子の表面には、粒
径2μm以下の微粒子が存在していることが判明した。
さらに、この微粒子は、その形状がフレーク状をなして
いることも判明した。そして、試料の表面にフレーク状
の微粒子が存在することで、処理後の試料の比表面積が
増加し表面が活性化することで、さらに試料の水素吸蔵
・放出速度が向上していると考えられる。
【0053】このフレーク状の微粒子が、処理後の試料
の表面を覆う状態や割合は前記酸処理に用いる酸の種
類、濃度により変化するので、所望により適宜、酸の種
類、濃度を選択すればよい。前記フレーク状の微粒子が
存在する処理後の試料の比表面積径は、処理後の試料の
BET値の測定値より、処理後の試料を真球と仮定して
算出した。一方、レーザー回折法により処理後の試料の
平均粒径を測定し、BET値より算出した比表面積径と
比較した。
【0054】すなわち、処理後の試料の粒子形状を真球
と仮定したときの比表面積径x[μm]は、式(1)よ
り算出した。 x=6/ρSBET……(1) 但し、ρ[g/cm3]は水素吸蔵合金の密度、S
BET[m2/g]は処理後の試料の比表面積(BET値)
である。
【0055】この結果、水素吸蔵・放出速度が向上の観
点から、前記処理後の試料の平均粒径は比表面積径の4
0倍以上が好ましく、さらに好ましくは50倍以上であ
ることが判明した。尚、このときのBET値の測定条件
は、処理後の試料を105℃で20分間脱気した後、液
体窒素にて窒素を吸着させ、一点法により測定した値で
ある。
【0056】以上の操作によって得られたMg−Ni−
Mn系水素吸蔵合金粉体は、常温常圧付近において水素
の吸蔵・放出速度が速く、製造コストも安価なことか
ら、ニッケル−水素二次電池、ヒートポンプ等の水素吸
蔵、放出システム用の水素吸蔵合金粉体として好個なも
のである。
【0057】以下、実施例に基づいて、本願発明を更に
詳細に説明する。 (実施例1)純度99.9%以上のMg、Mn、および
Niのショットを準備した。次に、仕込み総量を200
gとして、鋳塊の平均組成がMg3.00Ni2.17Mn1. 37
となるように各原料を秤量後、高周波加熱式ルツボ2内
にMg、Mn、およびNiをそれぞれ装填した。
【0058】真空チャンバー1を密閉後、真空度50P
aまで排気し、Arガス2l/minのガスフロー雰囲
気とした後、加熱を開始した。ルツボ2の温度が300
℃を超えたところで、蓋体23を下げてルツボ2を密閉
した。ルツボ2の温度が980℃になったら、高周波出
力を下げ、980℃で5分間保持した後、ルツボ2内の
溶解物を鋳型3に流し込み鋳造をおこなって、鋳塊を得
た。なお、前記加熱の際の平均昇温速度は21℃/mi
nであった。得られた鋳塊を250μmの篩を通過する
までディスクミルで粉砕し、平均組成がMg3.00Ni
2.17Mn1.37の水素吸蔵合金粉体試料とした。
【0059】純水900mlを準備し、窒素ガスのフロ
ー雰囲気下において攪拌しながら温度を40℃に調節し
た。温度が安定していることを確認して、前記水素吸蔵
合金粉体試料40g(金属原子(Mg,Ni,Mn)の
総数に換算して0.95mol)を前記純水中に導入し
懸濁させた。この前記水素吸蔵合金粉体試料中のMg相
の割合は約0.1mol%であることから、添加する塩
酸量をMg相のモル数(約9.5×10-4mol)を超
える3×10-3molとし、純水を加え100mlに希
釈して塩酸溶液とした。前記水素吸蔵合金粉体試料の懸
濁液にこの塩酸溶液100mlを10ml/minの速
度で添加し、添加完了後も50分間攪拌を続けた。その
後、窒素雰囲気下にて懸濁液を吸引ろ過し、純水で洗浄
後、室温において6時間真空乾燥して処理後の試料を得
た。
【0060】図3は、処理後の試料を構成する粒子の5
万倍のSEM写真である。電子顕微鏡によりこの処理後
の試料を構成する粒子を観察したところ、図3に示すよ
うな、粒径0.01〜0.1μmのフレーク状の微粒子
により覆われていることを確認した。さらに、処理後の
試料の粉体X線回折測定を行ったところ、回折線の強度
比(IMgNiMn(511)/IMg(101))は67であった。ま
た、処理後の試料のBET値は0.638m2/gで、
比表面積径は2.24μmとなった。レーザー回折法に
よる平均粒径はSympatec社製のHELOS&R
ODOS(乾式の測定装置)を使用して、分散圧5ba
rで測定したところ100.4μmとなった。すなわ
ち、平均粒径は比表面積径の45倍と算出された。
【0061】図6は、前記ジーベルツ式PCT測定装置
によって処理後の試料の水素放出速度を測定した結果を
示すグラフであって、縦軸は測定装置の定容積部にて測
定された圧力であり、横軸は時間である。この処理後の
試料について、室温(20±2℃)における水素放出速
度を評価したところ、図6に示す結果を得た。水素放出
開始10分間から算出される水素放出速度は、0.6c
3(S.T.P.)/g・min.であった。この結
果から、塩酸で処理した処理後の試料は、後述する比較
例すなわち未処理の試料と較べて、水素放出速度が約4
倍向上していることが判明した。
【0062】(実施例2)実施例1と同じ水素吸蔵合金
粉体試料を用い、酢酸によって酸処理を行った。実施例
1と同様に純水を900mlを準備し、窒素ガスのフロ
ー雰囲気下において攪拌しながら温度を40℃に調節し
た。温度が安定していることを確認して、水素吸蔵合金
粉体試料40gを純水中に導入し懸濁させた。この水素
吸蔵合金粉体試料中のMg相の割合は約0.1mol%
であることから、添加する酢酸量をMg相のモル数(約
9.5×10-4mol)を超える0.1molとし、純
水を加え100mlに希釈して酢酸溶液とした。前記水
素吸蔵合金粉体試料の懸濁液に希釈した酢酸100ml
を10ml/minの速度で添加し、添加完了後も5時
間攪拌を続けた。その後、窒素雰囲気下にて懸濁液を吸
引ろ過し、純水で洗浄後、室温で6時間真空乾燥して処
理後の試料を得た。
【0063】図4は、処理後の試料を構成する粒子の2
万倍のSEM写真である。電子顕微鏡によりこの処理後
の試料を構成する粒子を観察したところ、図4に示すよ
うな、粒径1μm程度のフレーク状の微粒子により覆わ
れていることを確認した。この処理後の試料の粉体X線
回折測定を行ったところ、Mg相の(101)面の回折
線は観測できなかった。(IMgNiMn(511)/IMg(101)
100以上と見なした。)また、処理後の試料のBET
値は5.24m2/gで、比表面積径は0.27μm、
レーザー回折法による平均粒径は25.2μmであり、
平均粒径は比表面積径の92倍と算出された。
【0064】さらに、この処理後の試料について、室温
における水素放出速度を評価したところ、図6に示す結
果を得た。水素放出開始10分間から算出される水素放
出速度は、1.3cm3(S.T.P.)/g・mi
n.であった。この結果から、酢酸で処理することによ
り、後述する比較例と較べて、水素放出速度が約9倍向
上することが判明した。以上のことから、水素吸蔵合金
粉体試料を酸処理することで、処理する酸の種類によら
ず、試料の水素放出速度を向上させることができると考
えられる。
【0065】(実施例3)実施例1と同じ水素吸蔵合金
粉体試料を用いてアルカリ処理を行った。7.8mol
/lのKOH水溶液100mlを準備し、窒素ガスのフ
ロー雰囲気下において攪拌しながら粉砕した合金5gを
加え懸濁させた。この懸濁したKOH水溶液(pH14
以上)を攪拌し、室温にて60時間保持した。60時間
後、窒素ガスの雰囲気下において吸引ろ過し、純水にて
洗浄後、室温にて10時間真空乾燥し処理後の試料を得
た。
【0066】この処理後の試料に対し、粉体X線回折測
定を行ったところ、回折線の強度比(IMgNiMn(511)
Mg(101))は、60であった。また、処理後の試料の
BET値は1.41m2/gで、比表面積径は1.01
μm、レーザー回折法による平均粒径は102.1μm
であり、平均粒径は比表面積径の101倍と算出され
た。
【0067】図7は、図6と同様に、前記ジーベルツ式
PCT測定装置によって処理後の試料の水素放出速度を
測定した結果を示すグラフである。この処理後の試料に
ついて、室温における水素放出速度を評価したところ、
図7に示す結果を得た。水素放出開始10分間から算出
される水素放出速度は、0.9cm3(S.T.P.)
/g・min.であった。この結果から、水素吸蔵合金
粉体試料をアルカリ水溶液で処理することにより、後述
する比較例と較べて、水素放出速度が約6倍に向上する
ことが判明した。
【0068】(実施例4)実施例1と同じ水素吸蔵合金
粉体試料を用いてアルカリ処理を行った。1.9×10
-3mol/lのNaOH水溶液100mlを準備し、窒
素ガスのフロー雰囲気下において攪拌しながら粉砕した
合金10gを加え懸濁させた。この懸濁したNaOH水
溶液(pH11.7)を攪拌し、60℃に調節し、24
時間保持した。24時間後、窒素ガスの雰囲気下におい
て吸引ろ過し、純水にて洗浄後、室温にて10時間真空
乾燥し処理後の試料の試料を得た。
【0069】この処理後の試料に対し、粉体X線回折測
定を行ったところ、回折線の強度比(IMgNiMn(511)
Mg(101))は、118であった。また、この処理後の
試料のBET値は1.68m2/gで、比表面積径は
0.85μm、レーザー回折法による平均粒径は57.
4μmであり、平均粒径は比表面積径の68倍と算出さ
れた。
【0070】この処理後の試料について、室温における
水素放出速度を評価したところ、図7に示す結果を得
た。水素放出開始10分間から算出される水素放出速度
は、0.9cm3(S.T.P.)/g・min.であ
った。この結果からも、水素吸蔵合金粉体試料をアルカ
リ水溶液で処理することにより、後述する比較例と較べ
て、水素放出速度が約6倍に向上することが判明した。
【0071】(比較例)比較例として、実施例1〜4で
使用した未処理の水素吸蔵合金粉体試料(250μmま
での粉砕のみ)について、実施例1〜4と同様の評価を
行った。粉体X線回折測定を行ったところ、回折線の強
度比(IMgNiMn(511)/IMg(10 1))は、32であった。
また、BET値は0.518m2/gで、比表面積径は
2.76μm、レーザー回折法による平均粒径は10
3.5μmであり、平均粒径は比表面積径の38倍と算
出された。
【0072】室温における水素放出速度を評価したとこ
ろ、図6、7に示す結果を得た。水素放出開始10分間
から算出される水素放出速度は、0.15cm3(S.
T.P.)/g・min.であった。この結果から、酸
またはアルカリで処理していない水素吸蔵合金粉体試料
のままでは、水素放出速度が遅いことを確認した。
【0073】
【発明の効果】次世代の水素吸蔵合金として期待されて
いる、Mg−Ni−Mn系水素吸蔵合金の水素の吸蔵・
放出速度を早めるために、この合金粉体に、粉体X線回
折測定をおこなったとき、Mg相の(101)面の回折
線強度(IMg(101))と、Mg3 +aNi2+bMn1+c相(但
し、−1≦a≦1、−1≦b≦2、−0.45≦c≦
2)の(511)面の回折線強度(IMgNiMn(511))と
の比(IMgNiMn(511)/IMg (101))が50以上であるこ
とを特徴とするMg−Ni−Mn系水素吸蔵合金粉体を
調製し、常温常圧付近において水素の吸蔵・放出速度を
早めることを実現した。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態にかかる水素吸蔵合金を製
造する際に用いる真空溶解炉の一例の構成を示す縦部分
断面である。
【図2】本発明の実施の形態にかかる水素吸蔵合金を製
造する際に用いる真空溶解炉の一例の構成を示す横部分
断面である。
【図3】本発明の実施の形態にかかる水素吸蔵合金粉体
試料の電子顕微鏡写真である。
【図4】本発明の実施の形態にかかる水素吸蔵合金粉体
試料の電子顕微鏡写真である。
【図5】ジーベルツ式PCT測定装置の模式的な概念図
である。
【図6】本発明の実施例1、2にかかる水素吸蔵合金粉
体試料の室温における水素放出速度を示すグラフであ
る。
【図7】本発明の実施例3、4にかかる水素吸蔵合金粉
体試料の室温における水素放出速度を示すグラフであ
る。
【符号の説明】
1.真空チャンバー 2.ルツボ 3.鋳型 11.真空ポンプ 12.扉 13.不活性ガス導入パイプ 14.気体排出パイプ 21.誘導コイル 22.支持腕 23.蓋体 31.鋳型台 101.不活性ガスボンベ 102.水素ガスボンベ 103.圧力計 104.試料セル 105.ヒーター 106.107標準容器セル 108.真空溜め 109.真空系 110.排気系 V1〜V8.バルブ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C22C 23/00 C22C 23/00 H01M 4/38 H01M 4/38 A Fターム(参考) 4G040 AA36 AA44 4K018 AA08 AA13 AA40 BB01 BC09 BC11 BD07 KA38 5H050 AA00 AA19 BA14 CB16 FA17 FA19 GA02 GA05 GA12 GA14 GA27 HA01 HA02 HA05 HA07 HA10 HA13

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 Mg、NiおよびMnを含有する水素吸
    蔵合金であって、 X線回折測定をおこなったとき、Mg相の(101)面
    の回折線強度(IMg(1 01))と、Mg3+aNi2+bMn1+c
    相(但し、−1≦a≦1、−1≦b≦2、−0.45≦
    c≦2)の(511)面の回折線強度
    (IMgNiMn(511))との比(IMgN iMn(511)
    Mg(101))が50以上であることを特徴とするMg、
    NiおよびMnを含有する水素吸蔵合金。
  2. 【請求項2】 前記Mg3+aNi2+bMn1+c相を含む合
    金に、Li、B、C、Al、Si、Ca、Ti、Cr、
    Fe、Co、Cu、Zn、Nb、Ag、Sn、Pb、お
    よびミッシュメタル元素のうちから選ばれる少なくとも
    1種以上の元素を0.01〜20mol%含有すること
    を特徴とする、請求項1に記載のMg、NiおよびMn
    を含有する水素吸蔵合金。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載する水素吸蔵合
    金を含むことを特徴とするMg、NiおよびMnを含有
    する水素吸蔵合金粉体。
  4. 【請求項4】 前記水素吸蔵合金粉体を構成する水素吸
    蔵合金粉体粒子の表面に微粒子が存在していることを特
    徴とする、請求項3に記載のMg、NiおよびMnを含
    有する水素吸蔵合金粉体。
  5. 【請求項5】 前記微粒子の形状がフレーク状であるこ
    とを特徴とする、請求項4に記載の水素吸蔵合金粉体。
  6. 【請求項6】 レーザー回折法により測定される水素吸
    蔵合金粉体の平均粒径と、BET法により測定される比
    表面積径との比(水素吸蔵合金粉体の平均粒径/BET
    法により測定される比表面積径)が40以上であること
    を特徴とする、請求項3から5のいずれかに記載のM
    g、NiおよびMnを含有する水素吸蔵合金粉体。
  7. 【請求項7】 請求項3から6のいずれかに記載のM
    g、NiおよびMnを含有する水素吸蔵合金粉体を用い
    て製造したことを特徴とする、Mg、NiおよびMnを
    含有する水素吸蔵合金の造粒粉体。
  8. 【請求項8】 Mg3+aNi2+bMn1+c相(但し、−1
    ≦a≦1、−1≦b≦2、−0.45≦c≦2)を有す
    る水素吸蔵合金を、酸またはアルカリで処理することを
    特徴とする、Mg、NiおよびMnを含有する水素吸蔵
    合金の製造方法。
  9. 【請求項9】 前記酸処理において、処理に用いる酸の
    量が前記水素吸蔵合金中に含まれるMg相のモル数より
    も多いことを特徴とする、請求項8に記載のMg、Ni
    およびMnを含有する水素吸蔵合金の製造方法。
  10. 【請求項10】 前記アルカリ処理時またはアルカリ処
    理完了時における、前記アルカリ液と、前記水素吸蔵合
    金との縣濁液のpHが9以上であることを特徴とする、
    請求項8に記載のMg、NiおよびMnを含有する水素
    吸蔵合金の製造方法。
  11. 【請求項11】 前記酸処理または前記アルカリ処理
    を、窒素または不活性ガス雰囲気下でおこなうことを特
    徴とする、請求項8から10のいずれかに記載のMg、
    NiおよびMnを含有する水素吸蔵合金の製造方法。
  12. 【請求項12】 前記酸処理または前記アルカリ処理の
    後、得られた水素吸蔵合金を、真空下または窒素雰囲気
    下または不活性ガス雰囲気下で乾燥することを特徴とす
    る、請求項8から11のいずれかに記載のMg、Niお
    よびMnを含有する水素吸蔵合金の製造方法。
  13. 【請求項13】 請求項1〜7のいずれかに記載のM
    g、NiおよびMnを含有する水素吸蔵合金または水素
    吸蔵合金粉体または造粒粉体を用いたことを特徴とする
    水素吸蔵放出システム。
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