JP2002353147A - 半導体製造装置 - Google Patents

半導体製造装置

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JP2002353147A
JP2002353147A JP2001154341A JP2001154341A JP2002353147A JP 2002353147 A JP2002353147 A JP 2002353147A JP 2001154341 A JP2001154341 A JP 2001154341A JP 2001154341 A JP2001154341 A JP 2001154341A JP 2002353147 A JP2002353147 A JP 2002353147A
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JP
Japan
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temperature
over
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over temperature
pipe
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JP2001154341A
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English (en)
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Hideto Tateno
秀人 立野
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Hitachi Kokusai Electric Inc
Original Assignee
Hitachi Kokusai Electric Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 配管の過温度を過温度防止回路が一度検出し
たら、リセットされるまで、その検出を保持し、警報を
発生継続する半導体製造装置を提供する。 【解決手段】 本発明の半導体製造装置は、過温度防止
回路10が過温度発生を検出して、配管ヒータ11への
電源供給を停止するとき、過温度発生検出器も過温度発
生を検出し、その検出をインターロック回路20がリセ
ットされるまで保持する。したがって、配管の温度が低
下し、過温度防止回路が過温度を検出しなくなっても、
インターロック回路は、リセットされるまでは過温度が
既に発生したことを保持している。このことにより、例
えば、インターロック回路を警報の発生に利用すれば、
過温度防止回路の動作とは独立して、リセットされるま
で警報を出し続け、オペレータなどが直ちに異常発生を
認識し、適切な処置を行うことを可能にできる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体製造装置に関
し、特に、配管ヒータによる配管の加熱により、配管の
温度が過温度閾値に到達したときには、配管ヒータへの
電源供給を遮断する過温度防止回路を備えた半導体製造
装置に関する。
【0002】
【従来の技術】図2は、この種の半導体製造装置におい
て用いられる従来の過温度防止回路(過温度防止用スイ
ッチ)を示す回路図である。半導体製造装置において、
多くの配管には配管ヒータが用いられており、この配管
ヒータによる加熱は、配管を所望の温度範囲に保つよう
に設計されているが、何らかの原因で配管が所望の温度
範囲を超えて過温度状態になってしまうことがある。そ
こで、図2のように、その過温度を防止するために、配
管ヒータ31の電力(例えば、AC100V)の供給ラ
インに直列に過温度防止回路30のバイメタルスイッチ
32を接続し、配管ヒータ31とともに配管に装着して
いる。上述のような構成により、配管の温度が過温度閾
値に達しないときは、バイメタルスイッチ32はオン状
態で、配管ヒータに通常の制御下の電力が供給され、配
管ヒータ31による配管の加熱が行われる。しかし、配
管の温度が過温度閾値以上であると、バイメタルスイッ
チ32はオフ状態になり、配管ヒータ31への電力供給
が遮断される。したがって、配管は過温度状態から保護
される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、従来
の半導体装置においては、配管ヒータへの電源供給ライ
ンにバイメタルスイッチを接続することにより、配管が
万一過温度状態になった場合には、配管ヒータへの電力
供給を遮断するようにしている。しかし、電力供給の遮
断後に配管温度が低下すると、再びバイメタルスイッチ
は、オン状態になり通常の電力供給が再開され、オペレ
ータが何らかの対応を行わない限り、バイメタルスイッ
チは、オン/オフの切り換え動作を繰り返すことなる。
このように、過温度状態が発生して過温度防止回路のバ
イメタルスイッチがオフとなり、オペレータが配管ヒー
タへの電源供給を停止すべき場合にも、オペレータがそ
れに気付かなければ、配管ヒータへの電源再供給(復
電)およびその遮断が繰り返し行われ、ついには、配管
ヒータの溶断などの重大事故を誘発してしまうことがあ
る。
【0004】本発明は、上記の問題を解決するためにな
されたものであって、配管ヒータによってもたらされた
配管の過温度状態を一度検出したら、リセットされない
限り、警報音などの発生を継続し、オペレータなどによ
る適切な処置を求めることができる半導体製造装置を提
供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】前述した課題を解決する
ために、本発明は、配管ヒータによる配管の加熱によ
り、配管の温度が過温度に到達した場合に、前記配管ヒ
ータへの電源供給を遮断する過温度防止用スイッチを備
えた半導体製造装置において、前記過温度防止用スイッ
チが前記電源供給を遮断すべく作動したことを検出する
ための手段を備えたことを特徴とする。
【0006】なお、本発明の実施の形態では、配管ヒー
タ11による配管の加熱により、配管の温度が過温度閾
値に到達したときには、配管ヒータ11への電源供給を
遮断する過温度防止回路(過温度防止用スイッチ)10
を備えた半導体製造装置において、前記配管の温度が過
温度閾値に到達した過温度発生を検出する過温度発生検
出器21と、過温度発生検出器21が過温度発生を検出
したことをリセットが行われるまで保持するインターロ
ック回路20とを有し、本発明の手段を過温度発生検出
器21と、インターロック回路20とで構成している。
【0007】そして、このような構成によれば、過温度
防止回路(過温度防止用スイッチ)が過温度発生を検出
して、配管ヒータへの電源供給を停止したことを検出で
きるので、初期的な異常状態の発生が容易に検出でき
る。また、実施の形態においては、過温度発生検出器も
過温度発生を検出し、その検出をインターロック回路が
リセットされるまで保持するようにしている。すなわ
ち、過温度防止回路が電源供給を停止して、配管の温度
が低下し、過温度を検出しなくなっても、インターロッ
ク回路は過温度が既に発生したことを保持している。従
って、例えば、インターロック回路を警報の発生に利用
すれば、過温度防止回路の動作とは独立して、インター
ロック回路はリセットされるまで警報を出し続ける。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て添付図面に基づいて説明する。図1は、本発明の半導
体製造装置において用いられる配管ヒータ、過温度防止
回路(過温度防止用スイッチ)、過温度発生検出器、お
よび、インターロック回路を示す回路図である。図1の
過温度防止回路10は、バイメタルスイッチ12を用い
ており、図2の過温度防止回路30と実質的に同じよう
に構成されている。また、過温度防止回路10とは別体
として配置された過温度発生検出器21は、バイメタル
スイッチ22を用いているが、このバイメタルスイッチ
22は、過温度防止回路10のバイメタルスイッチ12
と同じ機能を有し、同じような温度に保たれる環境に配
置されているものとする。また、過温度発生検出器21
のバイメタルスイッチ22は、インターロック回路20
に接続されている。
【0009】図1の回路において、電力(例えば、AC
100V)は、過温度防止回路10のバイメタルスイッ
チ12を介して配管ヒータ11に供給されている。した
がって、配管ヒータ11とバイメタルスイッチ12,2
2とが装着された配管(不図示)の温度が過温度閾値に
達しないときは、バイメタルスイッチ12,22はオン
状態で、配管ヒータ11にはバイメタルスイッチ12を
介して、通常の制御下の電力が供給され、配管が所望の
温度範囲にあるように、配管ヒータ11による配管の加
熱が行われる。配管の温度がこのような状態の場合、イ
ンターロック回路20は、過温度発生検出器21のバイ
メタルスイッチ22がオンであることを検出して配管の
加熱の状態は正常であると判断し、警報は発生しない。
【0010】しかし、何らかの異常が発生して、配管の
温度が過温度閾値以上になると、バイメタルスイッチ1
2,22はともにオフ状態になる。そこで、過温度防止
回路10においては、バイメタルスイッチ12を介して
の配管ヒータ11への電力供給が遮断される。このと
き、インターロック回路20は、過温度発生検出器21
のバイメタルスイッチ22がオフになったことを検出
し、リセットされるまで警報(警報音やディスプレイへ
の表示など)を発生させ、オペレータが直ちに異常発生
を認識し、適切な処置を行うことができるようにする。
したがって、1度でもバイメタルスイッチ22がオフに
なれば、オペレータへの異常発生の通知を確実に行うこ
とができ、異常への早急な対応が可能となる。
【0011】次に、他の実施の形態について説明する。
図1の例においては、過温度状態の検出のためにバイメ
タルスイッチ12とは別体のバイメタルスイッチ22を
用いることにより、簡単な構造で過温度に関連する異常
の発生について警報を発生させているが、これとは異な
り、バイメタルスイッチ12の両端に印加されるAC電
源の電圧を検出し、バイメタルスイッチ12の両端に電
圧が発生したときに、過温度の発生を検出してもよい。
また、配管ヒータ11への電源供給ラインに直列に電流
検出手段を挿入し、電源供給ラインに流れる電流が停止
したことを検出して、過温度の発生を検出してもよい。
【0012】以上に詳述したように、本発明の実施の形
態によれば、過温度防止回路が過温度発生を検出して、
配管ヒータへの電源供給を停止するとき、過温度発生検
出器も過温度発生を検出し、その検出をインターロック
回路がリセットされるまで保持する。したがって、過温
度防止回路が電源供給を停止して、配管の温度が低下
し、過温度を検出しなくなっても、インターロック回路
は過温度が既に発生したことを保持している。このこと
により、例えば、インターロック回路を警報の発生に利
用すれば、過温度防止回路の動作とは独立して、インタ
ーロック回路はリセットされるまで警報を出し続け、オ
ペレータなどが直ちに異常発生を認識し、適切な処置を
行うことを可能にできるという効果がある。
【0013】
【発明の効果】本発明の半導体製造装置は、以上におい
て説明したように構成されているので、過温度防止用ス
イッチが作動し、初期的な異常があったことが容易に知
り得、大きな故障や事故を未然に防止し得るという効果
を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の半導体製造装置において用いられる過
温度防止回路、過温度発生検出器、およびインターロッ
ク回路を示す回路図である。
【図2】従来の半導体製造装置において用いられる過温
度防止回路を示す回路図である。
【符号の説明】
10 過温度防止回路 11 配管ヒータ 12,22 バイメタルスイッチ 20 インターロック回路 21 過温度発生検出器

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 配管ヒータによる配管の加熱により、配
    管の温度が過温度に到達した場合に、前記配管ヒータへ
    の電源供給を遮断する過温度防止用スイッチを備えた半
    導体製造装置において、 前記過温度防止用スイッチが前記電源供給を遮断すべく
    作動したことを検出するための手段を備えたことを特徴
    とする半導体製造装置。
JP2001154341A 2001-05-23 2001-05-23 半導体製造装置 Withdrawn JP2002353147A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009514207A (ja) * 2005-11-01 2009-04-02 スン, ヤン リー, 廃棄ガス誘導装置
CN113767463A (zh) * 2019-04-30 2021-12-07 应用材料公司 低温可偏置基板支撑件

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JP2009514207A (ja) * 2005-11-01 2009-04-02 スン, ヤン リー, 廃棄ガス誘導装置
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