JP2002350659A - 光導波路素子及び光導波路素子の製造方法 - Google Patents
光導波路素子及び光導波路素子の製造方法Info
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Abstract
きる光導波路素子と、この光導波路素子を精度良く製造
することができる光導波路素子の製造方法を提供する。 【解決手段】単結晶基板1上にはバッファ層2及び光導
波路層3が形成され、光導波路層3には単結晶基板1の
長手方向に沿ってリッジ型のチャンネル光導波路4が形
成されている。このチャンネル光導波路4の入射端部上
及び出射端部上には、光導波路層3より小さい屈折率を
有し、チャンネル光導波路4と略同じ幅で且つ端面に向
かって厚さがテーパ状に増加するクラッド層5が形成さ
れている。このクラッド層5を設けたことにより基板面
垂直方向にモードフィールド径が拡大して光ファイバと
の結合損失が大幅に低減される。同時にクラッド層5の
幅をチャンネル光導波路4と略同じ幅としたので、光閉
じ込め効果によってモード不整合による損失の発生が防
止され、光ファイバとの結合損失が更に低減される。
Description
光導波路素子の製造方法に関し、特に、高い結合効率で
光ファイバと結合することができる光導波路素子とその
光導波路素子の製造方法とに関する。
は、石英などのガラス、LiNbO3などの酸化物強誘
電体や電気光学材料、Y3Ga5O12などの磁気光学材
料、PMMAなどのポリマー、及びGaAs系の化合物
半導体が用いられている。酸化物強誘電体材料はこれら
の中でも特に良好な音響光学効果及び電気光学効果を発
揮することが知られているが、これまで実際に作製され
た音響光学素子や電気光学素子のほとんどはLiNbO
3やLiTaO3を用いている。
3、BaTiO3、PbTiO3、Pb1-xLax(ZryT
i1-y)1-x/4O3(xおよびyの値によりPZT、PL
T、PLZTと称される)、Pb(Mg1/3Nb2/3)O
3、KNbO3、LiTaO3、SrxBa1-xNb2O6、
PbxBa1-xNb2O6、Bi4Ti3O12、Pb2KNb5
O15、K3Li2Nb5O15などがあり、これらのうち多
くの材料はLiNbO 3よりも良好な特性を有してい
る。特に、Pb1-xLax(ZryTi1-y)1-x/4O 3はL
iNbO3よりも非常に高い電気光学係数を有する材料
として知られ、LiNbO3単結晶の電気光学係数が3
0.9pm/Vであるのに対し、PLZT(8/65/
35:x=8%,y=65%,1−y=35%)セラミ
ックスの電気光学係数は612pm/Vと大きい。
を有している強誘電体が多いにもかかわらず、実際に作
製された素子のほとんどがLiNbO3やLiTaO3を
用いているのは、LiNbO3及びLiTaO3について
は、単結晶成長技術とウエハへのTi拡散やプロトン交
換による光導波路形成技術とが確立されているのに対
し、LiNbO3及びLiTaO3以外の材料について
は、薄膜をエピタキシャル成長により形成しなければな
らず、従来の気相成長では実用レベルの品質の薄膜光導
波路を作製することができないためである。
問題点を解決するため、酸化物強誘電体材料でも実用レ
ベルの品質の薄膜光導波路を作製することができる固相
エピタキシャル成長技術を提案している(特開平7−7
8508号公報)が、このエピタキシャル成長により形
成された酸化物薄膜光導波路は、シングルモード化の要
請や駆動電圧低減の要請などにより、光ファイバのモー
ドフィールド径と比較して薄い膜厚としなくてはならな
い場合が多く、光ファイバとの結合損失が大きくなる、
という問題があった。
いては、特開平9−61652号公報や特開平5−18
2948号公報等に、テーパ型の光導波路を光ファイバ
との接続位置に設けて、光導波路と光ファイバとの結合
損失を低減する技術が提案されている。
形成した酸化物薄膜光導波路に良好な微細パターンを作
製する技術がなく、光導波路をテーパ形状に作製するこ
とが困難であった。例えば、LiNbO3単結晶ウエハ
などにおいてはTi拡散やプロトン交換技術を応用した
三次元(チャンネル)光導波路やグレーティングの作製
法が西原、春名、栖原が著した「光集積回路」、オーム
社(1993)pp.195〜230.にも示されてい
るが、それら以外の材料、特にPb1-xLax(ZryT
i1-y)1-x/4O3においては他元素を拡散したりイオン
交換をする方法は知られていない。また、石英光導波路
などでは、反応性イオン・エッチングによりチャンネル
光導波路などを作製する方法が河内により「NTT R
&D」、43(1994)1273.などに示されてい
るが、単結晶状のエピタキシャル強誘電体薄膜光導波路
に散乱損失の原因となる表面荒れを与えず、かつ、薄膜
光導波路と同種の酸化物である基板などにダメージを与
えずに選択的にエッチングすることは困難であった。こ
のため、損失の少ないチャンネル光導波路がエピタキシ
ャル強誘電体薄膜光導波路に作製された報告例は見られ
なかった。
酸化物薄膜光導波路をテーパ形状にするだけでは、導波
モードがマルチモード化するのを防止することが難し
い、という問題もある。
れたものであり、本発明の目的は、高い結合効率で光フ
ァイバと結合することができる光導波路素子を提供する
ことにある。また、本発明の他の目的は、高い結合効率
で光ファイバと結合することができる光導波路素子を、
精度良く製造することができる光導波路素子の製造方法
を提供することにある。
に、本発明の光導波路素子は、リッジ型のチャンネル光
導波路を備えた光導波路層と、前記光導波路層表面の前
記チャンネル光導波路の入射端部及び出射端部の少なく
とも一方の上方に前記チャンネル光導波路と略同じ幅で
設けられ、前記光導波路層よりも小さい屈折率を有し、
且つ端面に向かってテーパ状に厚さが増加するテーパ型
のクラッド層と、を含んで構成したことを特徴とする。
のチャンネル光導波路を備えた光導波路層と、前記光導
波路層表面に前記チャンネル光導波路と略同じ幅で設け
られ、前記光導波路層よりも小さい屈折率を有し、且
つ、前記チャンネル光導波路の入射端部及び出射端部の
少なくとも一方の上方において端面に向かってテーパ状
に厚さが増加するテーパ型のクラッド層と、を含む構成
としてもよい。
層とクラッド層との屈折率差を0.001以上0.05
以下とすることが好ましい。
部の少なくとも一方の幅を端面に向かって増加させた構
成とすることができる。この場合、チャンネル光導波路
の端部での幅を5μm以上とすることが好ましい。
るクラッド層の端部での厚さを1μm以上とすることが
好ましく、端面に向かってテーパ状に厚さが増加するク
ラッド層の該テーパ長を50μm以上5000μm以下
とすることが好ましい。
方を、エピタキシャル成長させた酸化物で構成すること
が好ましく、電気光学効果を有する強誘電体で構成する
ことがより好ましく、Pb1-xLax(ZryTi1-y)
1-x/4O3(0<x<0.3、0<y<1.0)で構成す
ることが特に好ましい。
屈折率を有するバッファ層を介して単結晶基板上に形成
することができる。該単結晶基板として、不純物元素を
ドープしたSrTiO3基板を用いることができる。
は、リッジ型のチャンネル光導波路を備え且つエピタキ
シャル成長により形成された光導波路層表面に、エピタ
キシャル成長後の屈折率が該光導波路層よりも小さいア
モルファス薄膜を形成し、該アモルファス薄膜を、前記
チャンネル光導波路の入射端部及び出射端部の少なくと
も一方の上方において、前記チャンネル光導波路と略同
じ幅で且つ端面に向かって厚さが増加するテーパ状部が
残存するように整形し、該整形されたアモルファス薄膜
を、加熱により固相エピタキシャル成長してテーパ型の
クラッド層を形成し、光導波路素子を製造することを特
徴とする。
膜上に特定の開口パターンを有するレジスト膜を形成
し、該レジスト膜を用いてアモルファス薄膜をエッチン
グすることにより、テーパ状部が残存するように整形す
ることができる。この場合、前記アモルファス薄膜と前
記レジスト膜との間に、該アモルファス薄膜より被エッ
チング速度の速いテーパ形成促進層を設けてエッチング
を行うことが好ましい。また、エッチングはウエット・
エッチングが好ましい。
のもう一つの態様は、エピタキシャル成長により形成さ
れたスラブ型の光導波路層表面に、該光導波路層よりも
小さい屈折率を有するスラブ型のクラッド層をエピタキ
シャル成長により形成し、該スラブ型のクラッド層を、
チャンネル光導波路が形成される入射端部及び出射端部
の少なくとも一方の上方において、前記チャンネル光導
波路と略同じ幅で且つ端面に向かって厚さが増加するテ
ーパ状部が残存するように整形してテーパ型のクラッド
層を形成し、スラブ型の光導波路層を所定のチャンネル
パターンに整形してリッジ型のチャンネル光導波路を形
成し、光導波路素子を製造することを特徴とする。
クラッド層上に特定の開口パターンを有し且つ膜厚が徐
々に変化するレジスト膜を形成し、該レジスト膜を用い
てスラブ型のクラッド層をエッチングすることによりテ
ーパ状部が残存するように整形することができる。ま
た、クラッド層及び光導波路層のエッチングはドライ・
エッチングが好ましい。
ンネル光導波路を備えた光導波路層を備えており、チャ
ンネル光導波路の入射端部及び出射端部上には、光導波
路層より小さい屈折率を有するクラッド層が設けられて
いるので、光導波路のモードフィールド径を基板面垂直
方向に拡大することが可能であり、光ファイバと光導波
路素子との結合損失を低減することができる。特に、ク
ラッド層の幅をチャンネル光導波路と略同じ幅としたの
で、モードフィールド径が拡大する際に幅方向の光閉じ
込めの強さが急激に変化することがなく、モード不整合
による損失の発生が防止され、光ファイバとの結合損失
を大幅に低減することができる。
層の厚さを端面に向かってテーパ状に増加させているの
で、徐々にモードフィールド径を拡大することができ、
光導波路内での光伝搬損失も低減することができる。
ラッド層を、アモルファス薄膜とした状態でパターンニ
ングを行い、パターンニングされたアモルファス薄膜を
固相エピタキシャル成長させて形成した場合には、散乱
による光損失が小さい極めて平滑なエッジ、側壁、表面
を得ることができるという利点がある。また、固相エピ
タキシャル成長した薄膜をパターンニングして形成した
場合には、優れた結晶性を有する光導波路層及びクラッ
ド層を得ることができると共に、チャンネル光導波路を
精度良く形成することができるという利点がある。
施の形態について詳細に説明する。 (光導波路素子の構造)図1に本実施の形態に係る光導
波路素子の概略構成を示し、図2に図1に示す光導波路
素子の端面での積層構成を示す。この光導波路素子は、
図1及び図2に示すように、単結晶基板1、該単結晶基
板1上に形成されたバッファ層2、及び該バッファ層2
上に形成された光導波路層3を備えている。光導波路層
3には、単結晶基板1の長手方向に沿って直線状に延び
た所定チャンネル高さのリッジ型チャンネル光導波路4
が形成されている。このチャンネル光導波路4の幅は、
入射端部及び出射端部において端面に向かってテーパ状
に増加している。チャンネル光導波路4のテーパ部は、
例えば、チャンネル光導波路4の直線部でのチャンネル
幅を5μmとすると、長さ1000μmの間にチャンネ
ル幅が5μmから8μmまで広がるテーパ形状とするこ
とができる。なお、テーパ部の端部には、加工しろとな
る直線状チャンネルがさらに接続されていてもよい。そ
して、チャンネル光導波路4の入射端部上及び出射端部
上には、光導波路層3より小さい屈折率を有し、チャン
ネル光導波路4と略同じ幅で且つ端面に向かって厚さが
テーパ状に増加するクラッド層5が形成されている。
例えばマッハツェンダ干渉スイッチ、方向性結合スイッ
チ、全反射型スイッチ、ブラッグ反射型スイッチ、ある
いはデジタル型スイッチなどのスイッチング方式、曲が
りチャンネル導波路の曲率、導波路の材料、及び作製プ
ロセス等に応じて最適な値を選択することができるが、
チャンネル光導波路4の端面でのチャンネル幅(端面チ
ャンネル幅a)、及びチャンネル高さg(端面チャンネ
ル高さg)は、結合する光ファイバのモードフィールド
径に応じて選択される。
a、即ち、チャンネル光導波路4の直線部の両端に接続
されたテーパ部の最大チャンネル幅を、直線部でのチャ
ンネル幅(直線部チャンネル幅b)より大きくすること
により、光導波路のモードフィールド径を基板面に平行
な方向(基板面内方向)に拡大することができる。例え
ば、直線部チャンネル幅bが5μmの場合、端面チャン
ネル幅aは5μm以上が好ましく、更にモードフィール
ド径が9.5μmのシングルモード光ファイバと結合す
る場合には、端面チャンネル幅aは9μm〜20μmが
好ましく、端面チャンネル高さgは4μm〜20μmが
好ましい。
幅が入射端部及び出射端部において端面に向かってテー
パ状に増加する構成としたが、チャンネル幅を増加させ
ずに一定の幅とすることもできる。また、チャンネル光
導波路の微細パターンには、直線型、S字型、Y分岐
型、X交差型、またはそれらの組み合わせ等があり、目
的に応じて所望のパターンのチャンネル光導波路を設け
ることができる。また、湾曲方向の異なるS字型チャン
ネル光導波路間や、S字型チャンネル光導波路と直線型
チャンネル光導波路との間には、光伝搬損失を低下させ
るため、必要に応じてオフセットを設けてもよい。
射端部上及び出射端部上には、光導波路層3より小さい
屈折率を有し、端面に向かって厚さがテーパ状に増加す
るクラッド層5がチャンネル光導波路4と略同じ幅で設
けられている。従って、クラッド層5の端面での幅(端
面クラッド幅c)も端面チャンネル幅aと略同じ大きさ
になる。なお、「略同じ幅」とは、端面クラッド幅cが
端面チャンネル幅a±1μmの範囲内であることを意味
し、この範囲内で端面クラッド幅cが端面チャンネル幅
aよりも大きく、クラッド層5がチャンネル光導波路4
を覆うように形成されていてもよい。
わずかに低下させたクラッド層5を光導波路層3上へ設
けることにより、光導波路のモードフィールド径を基板
面に対して垂直な方向(基板面垂直方向)に拡大するこ
とが可能であり、光ファイバと光導波路素子との結合損
失を大幅に低減することができる。このときクラッド層
5の幅をチャンネル光導波路4と略同じ幅とすることに
より、モードフィールド径が拡大する際に幅方向の光閉
じ込めの強さが急激に変化することがなく、モード不整
合による損失の発生が防止され、光ファイバと光導波路
素子との結合損失を更に低減することができる。また、
クラッド層5の厚さを端面に向かってテーパ状に増加さ
せることにより、徐々にモードフィールド径を拡大する
ことができ、光導波路内での光伝搬損失も低減すること
ができる。
うに、光導波路層3とクラッド層5との屈折率差は0.
001以上、0.05以下であることが好ましい。屈折
率差が0.001より小さいと光導波路層の導波モード
がマルチモードとなりシングルモード光ファイバとの結
合損失が増加する。一方、屈折率差が0.05より大き
いとモードフィールド径の基板面垂直方向への拡大がほ
とんど見られなくなる。なお、光導波路層3の屈折率は
バッファ層2の屈折率より高いが、バッファ層2と光導
波路層3との屈折率差は、0.001〜1.0とするの
が好ましい。
率が2.308の単結晶基板上に、屈折率が2.432
のバッファ層を介して屈折率が2.468のスラブ型の
光導波路層を形成し、このスラブ型の光導波路層上にス
ラブ型のクラッド層を形成した場合において、クラッド
層の屈折率とモードフィールド径との関係を解析した例
を示す。図3から分かるように、クラッド層の屈折率が
光導波路層の屈折率2.468に近づくに従いモードフ
ィールド径が2.420程度から徐々に拡大し、クラッ
ド層の屈折率が2.458程度になるとモードフィール
ド径が急激に拡大する。従って、本実施の形態において
も、光導波路層3とクラッド層5との屈折率差を0.0
5以下とする場合に、拡大したモードフィールド径を得
ることができる。
長1.3μmの光に対する屈折率が2.308の単結晶
基板1上に、屈折率が2.432のバッファ層2を介し
て、端面チャンネル幅aが8μm、端面チャンネル高さ
gが2.2μm、段差fが0.5μmのリッジ型チャン
ネル光導波路4を設けた屈折率が2.468の光導波路
層3上にクラッド層5を形成した光導波路素子(以下、
図4の光導波路素子と称する)において、端面クラッド
厚さdを5μmとしたときのクラッド層5の屈折率とモ
ードフィールド径との関係を解析した例を示す。なお、
光導波路素子の上方は空気層とされている。
折率2.468に対しクラッド層5の屈折率が増加する
に従いモードフィールド径が徐々に拡大するが、クラッ
ド層5の屈折率が2.466程度になるとモードフィー
ルド径の拡大が頭打ちになる。この拡大されたモードフ
ィールド径が一定値に漸近する領域、即ち、光導波路層
3とクラッド層5との屈折率差が0.001より小さい
領域では、光導波路層3への光閉じ込めは非常に弱くな
り、導波モードは、光導波路層3内でのシングルモード
ではなく、光導波路層3からクラッド層5に渡る領域で
のマルチモードへ変化するようになる。このように導波
モードがマルチモードになるとシングルモード光ファイ
バとの結合損失が大きくなり好ましくない。従って、本
実施の形態においても、導波モードをシングルモードに
保つために、光導波路層3とクラッド層5との屈折率差
を0.001以上とすることが好ましい。
面クラッド厚さdを5μmとしたときのクラッド層5の
屈折率と結合損失との関係を解析した例を示す。なお、
結合損失は、モードフィールド径が9.5μmのシング
ルモード光ファイバと結合した場合の結合損失である。
幅が5μmでチャンネル高さが0.5μmのチャンネル
光導波路4のモードフィールド径は、基板面内方向が
6.2μm、基板面垂直方向が2.2μmとなり、モー
ドフィールド径が9.5μmのシングルモード光ファイ
バとの結合損失は理論上4.2dBとなる。図5から分
かるように、いずれの屈折率の場合も、結合損失はクラ
ッド層5が無い場合の4.2dBに対して大幅に低減さ
れ、クラッド層5の屈折率が2.466程度で、光導波
路層3とクラッド層5との屈折率差が0.002となる
領域で、結合損失は0.95dBと最小になる。
ーパ状に増加するが、テーパの最も厚い部分の厚さ、即
ち、クラッド層5の端面での厚さ(端面クラッド厚さ
d)は、所望のモードフィールド径に応じて、1μm以
上、好ましくは2μm〜10μmの範囲から適宜選択す
ることができる。光ファイバの断面形状は通常円形であ
るから、チャンネル光導波路4のモードフィールド径
は、基板面内方向と基板面垂直方向とが略等しいのが好
ましく、基板面内方向の径と基板面垂直方向の径とが略
等しくなるように、端面クラッド厚さdを決定するのが
好ましい。
損失とテーパサイズとのバランスを取る観点から、50
μm〜5000μmの範囲が好ましく、200μm〜2
000μmの範囲がより好ましい。
ラッド層5の屈折率を2.465としたときの端面クラ
ッド厚さdと結合損失との関係を解析した例を示す。な
お、結合損失は、モードフィールド径が9.5μmのシ
ングルモード光ファイバと結合した場合の結合損失であ
る。
チャンネル幅aが8μmで端面チャンネル高さgが2.
2μm、段差fが0.5μmのチャンネル光導波路4上
に、端面クラッド幅cが8μmのクラッド層5を形成す
る場合には、端面クラッド厚さdが厚いほど結合損失が
低減され、端面クラッド厚さdが7μm程度で結合損失
が0.56dBと最小になるが、端面クラッド厚さdが
5μm以上で結合損失が1dBより小さくなるので、作
製に要する時間等を考慮して、5μm以上で適当な端面
厚さを選択することが好ましい。
ル光導波路4と略同じ幅で設けられており、チャンネル
光導波路4の幅が端面に向かってテーパ状に増加する場
合には、クラッド層5の幅は、端面に向かってテーパ状
に増加する。そして、端面クラッド幅cは端面チャンネ
ル幅aと略同じ大きさになる。従って、モードフィール
ド径が9.5μmのシングルモード光ファイバと結合す
る場合には、端面クラッド幅cは5μm以上が好まし
く、9μm〜20μmがより好ましい。
1.3μmの光に対する屈折率である。
面でのモードプロファイルのシミュレーション結果を示
す。モードプロファイルのシミュレーションは、Finite
Difference Methodで行った。このシミュレーションで
は、本実施の形態と同様の構成で、波長1.55μmの
光に対する屈折率が2.284の単結晶基板1上に、屈
折率が2.416のバッファ層2を介して、端面チャン
ネル幅aが12μm、端面チャンネル高さgが2.2μ
m、段差fが0.5μmのリッジ型チャンネル光導波路
4を設けた屈折率が2.442の光導波路層3上にクラ
ッド層5を形成した光導波路素子(以下、図8の光導波
路素子と称する)において、端面クラッド幅cを12μ
m、端面クラッド厚さdを5μmとした。また、光導波
路素子の上方は空気層6とされている。
層上にクラッド層を設けない場合のモードプロファイル
のシミュレーション結果を示す。このシミュレーション
では、端面チャンネル幅aを5μmとした。
るように、本実施の形態の光導波路素子では、端面チャ
ンネル幅aを広げたことによりモードフィールド径が基
板面内方向に拡大すると共に、光導波路層3上にクラッ
ド層5を設けたことによりモードフィールド径が基板面
垂直方向にも拡大する。また、端面チャンネル幅aと端
面クラッド幅cとを略同じ大きさとしたことにより、モ
ードフィールド径が拡大する際に幅方向の光閉じ込めの
強さが急激に変化することがなく、モード不整合による
損失の発生が防止される。この結果、光ファイバと光導
波路素子との結合損失が大幅に低減される。
面クラッド厚さdを5μmとしたときの端面クラッド幅
cと結合損失との関係を解析した例を示す。なお、結合
損失は、モードフィールド径が9.5μmのシングルモ
ード光ファイバと結合した場合の結合損失である。上記
のシミュレーションでは、端面クラッド幅cを12μm
としたが、図9に示すように、端面クラッド幅cが5μ
mとなるところから結合損失が徐々に減少し、端面クラ
ッド幅cが9μm〜20μmの範囲で結合損失が1dB
以下となる。
1.55μmの光に対する屈折率である。
施の形態に係る光導波路素子に使用する材料について説
明する。
3、NbドープSrTiO3、LaドープSrTiO3、
BaTiO3、BaZrO3、LaAlO3、ZrO2、Y
2O38%−ZrO2、MgO、MgAl2O4、LiNb
O3、LiTaO3、Al2O3、ZnO、AlドープZn
O、In2O3、RuO2、BaPbO3、SrRuO3、
YBa2Cu3O7-x、SrVO3、LaNiO3、La0.5
Sr0.5CoO3、ZnGa2O4、CdGa2O4、CdG
a2O4、Mg2TiO4、MgTi2O4などの酸化物のい
ずれかで構成された単結晶基板を用いることができる。
これらの中でも、SrTiO3、NbドープSrTi
O3、及びLaドープSrTiO3など、少なくともSr
TiO3よりなる酸化物の単結晶基板が好ましい。
クラッド層5には、ABO3型のペロブスカイト型の強
誘電体や種々の電気光学材料を用いることができる。正
方晶、三方晶、斜方晶または擬立方晶系の材料として
は、例えばBaTiO3、PbTiO3、Pb1-xLa
x(ZryTi1-y)1-x/4O3(0<x<0.3、0<y
<1.0、xおよびyの値によりPZT、PLT、PL
ZTと称される)、Pb(Mg1/3Nb2/3)O3、KN
bO3などが挙げられる。六方晶または三方晶系の材料
としては、例えばLiNbO3、LiTaO3などに代表
される強誘電体及びこれらにTi拡散またはプロトン交
換を行った強誘電体が挙げられる。タングステンブロン
ズ型の材料としては、SrxBa1-xNb2O6、PbxB
a1-xNb2O6などがあげれ、またこのほかに、Bi4T
i3O12、Pb2KNb5O15、K3Li2Nb5O15、さら
に以上の置換誘導体などが挙げられる。磁気光学材料と
しては、Y3Al5O12、Y3Fe5O12、Y3Ga5O12な
どや、これらにEr、Nd、Prなどをドープした光増
幅材料等が挙げられる。この中でも、高い電気光学係数
を有し良好な電気光学効果を発揮する、酸化物強誘電体
材料が好ましく、Pb1-xLax(ZryTi1-y)1-x/4
O3(0<x<0.3、0<y<1.0)が特に好まし
い。なお、バッファ層2、光導波路層3、及びクラッド
層5を構成する材料は、以上例示した材料に限定される
わけではない。
ビーム蒸着、フラッシュ蒸着、イオン・プレーティン
グ、Rf−マグネトロン・スパッタリング、イオン・ビ
ーム・スパッタリング、レーザ・アブレーション、分子
線エピタキシャル法(MBE)、気相成長法(CV
D)、プラズマCVD、有機金属気相成長法(MOCV
D)などより選ばれる気相成長法、またはゾルゲル法、
金属有機化学塗布法(MOD法)などのウエット・プロ
セスを利用した固相成長法を用いたエピタキシャル成長
により形成することができる。
ウエット・プロセスにより金属アルコキシドや有機金属
塩などの金属有機化合物の溶液を基板に塗布し、塗布膜
を加熱によりアモルファス化し、得られたアモルファス
薄膜をさらに加熱して結晶化する固相エピタキシャル成
長方法が特に好ましい。このように、アモルファス薄膜
を形成後にこれを固相エピタキシャル成長させると、散
乱による光損失が小さい極めて平滑な薄膜を形成するこ
とができる。
ル薄膜を作製する場合には、アモルファス薄膜とした状
態でパターンニングを行い、パターンニングされたアモ
ルファス薄膜を固相エピタキシャル成長させることによ
り、散乱による光損失が小さい極めて平滑なエッジ、側
壁、表面を得ることができる。また、この固相エピタキ
シャル成長方法には、各種気相成長法と比較して設備コ
ストが低く、基板面内での均一性が良いことに加え、金
属有機化合物前駆体の配合組成により薄膜の屈折率を容
易に且つ再現性良く制御することができるという利点も
ある。
物(望ましくは常圧での沸点が80℃以上である有機化
合物)との反応生成物である、金属アルコキシドまたは
金属塩より選択されるが、これに限定されるわけではな
い。金属アルコキシド化合物の有機配位子は、R1O−
またはR2OR3O−より選択される(式中、R1および
R2は脂肪族炭化水素基を表し、R3はエーテル結合を有
してもよい2価の脂肪族炭化水素基を表す)。
成にて、アルコール類、ジケトン類、ケトン酸類、アル
キルエステル類、オキシ酸類、オキシケトン類、及び酢
酸などより選択された溶媒(望ましくは常圧での沸点が
80℃以上である溶媒)と反応され、または溶媒中に溶
解された後、単結晶基板に塗布される。前記の金属有機
化合物は、加水分解した後に塗布をすることも可能であ
るが、良好な特性のエピタキシャル強誘電体薄膜を得る
ためには、加水分解しない方が好ましい。また、得られ
る薄膜の品質の点より、これらの反応は、乾燥した窒素
やアルゴン雰囲気中で行うことが好ましい。
R1OHまたはR2OR3OHで表される有機溶媒中で蒸
留や還流を行うことにより合成することができる。R1
およびR2は脂肪族炭化水素基を表し、R1およびR2と
しては、炭素数1〜4のアルキル基が好ましく、R
3は、炭素数2〜4のアルキレン基、炭素数2〜4のア
ルキレン基がエーテル結合によって結合している全炭素
数4〜8の2価の基が好ましい。
体的には、金属アルコキシドのアルコール交換反応が容
易な、例えば、(CH3)2CHOH(沸点82.3
℃)、CH3(C2H5)CHOH(沸点99.5℃)、
(CH3)2CHCH2OH(沸点108℃)、C4H9O
H(沸点117.7℃)、(CH3)2CHC2H4OH
(沸点130.5℃)、CH3OCH2CH2OH(沸点
124.5℃)、C2H5OCH2CH2OH(沸点135
℃)、C4H9OCH2CH2OH(沸点171℃)などの
アルコール類が最も望ましいが、これらに限定されるも
のではなくC2H5OH(沸点78.3℃)なども使用可
能である。
にスピンコート法、ディッピング法、スプレー法、スク
リーン印刷法、インクジェット法より選ばれた方法にて
塗布する。得られる薄膜の品質の点より、乾燥した窒素
やアルゴン雰囲気中にて塗布することが好ましい。
後、必要に応じて、前処理として酸素を含む雰囲気中
(望ましくは酸素中)にて、0.1〜1000℃/秒の
昇温速度(望ましくは1〜100℃/秒の昇温速度)で
昇温し、100℃〜500℃(望ましくは200℃〜4
00℃)の結晶化の起こらない温度範囲で基板を加熱す
ることにより、塗布層を熱分解してアモルファス薄膜を
形成する。さらに、酸素を含む雰囲気中(望ましくは酸
素中)にて、1〜500℃/秒の昇温速度(望ましくは
10〜100℃/秒の昇温速度)で昇温し、500℃〜
1200℃(望ましくは600℃〜900℃)の温度範
囲で加熱して、アモルファス状の強誘電体薄膜を基板表
面より固相エピタキシャル成長させる。この固相エピタ
キシャル結晶化工程においては、上記の温度範囲におい
て1秒間から24時間、望ましくは10秒間から12時
間の加熱を行う。また、酸素雰囲気としては、得られる
薄膜の品質の点より一定時間乾燥した酸素雰囲気を用い
ることが好ましいが、必要に応じて加湿してもよい。
り形成される薄膜の厚さは、10nmから1000n
m、望ましくは厚さ10nmから200nmであり、上
記固相エピタキシャル成長を繰り返し行い、所望の厚さ
の薄膜を得ることができる。なお、固相エピタキシャル
成長を繰り返し行う場合には、それぞれのエピタキシャ
ル成長工程の後に0.01〜100℃/秒の冷却速度で
冷却を行なうことが望ましい。
導波路素子の製造方法としては、2通りの製造方法を挙
げることができる。以下、その製造方法の概略を説明す
る。
タキシャル成長によりバッファ層を形成し、該バッファ
層上にウエット・プロセスによりアモルファス薄膜を形
成する。その後、エッチングによりアモルファス薄膜を
所定チャンネル・パターンにパターンニングし、パター
ンニング後のアモルファス薄膜を固相エピタキシャル成
長して、リッジ型チャンネル光導波路が形成された光導
波路層を形成する。そして、該光導波路層の表面にウエ
ット・プロセスによりアモルファス薄膜を形成した後、
このアモルファス薄膜を端面に向かって厚さが変化する
テーパ状にエッチングし、テーパ状に整形されたアモル
ファス薄膜を加熱して固相エピタキシャル成長すること
よりテーパ状のクラッド層を形成する。
ング速度が速く、エッチストップも容易であり制御性が
良い。具体的には、アモルファス薄膜の表面に、フォト
レジスト、あるいは電子線レジストを塗布した後、露
光、現像、エッチング、レジスト剥離を順に行うことに
より、アモルファス薄膜をパターンニングする。
F、H2SO4、H3PO4、C2H2O2、NH4Fなどの水
溶液やその混合水溶液によるウエット・エッチング、C
Cl4、CCl2F2、CHClFCF3や、それらのO2
との混合ガスによるリアクティブ・イオン・エッチン
グ、またはイオンビーム・エッチングなどのドライ・エ
ッチングのいずれでもよいが、短時間で、容易に、精度
良く加工することが可能である点で、ウエット・エッチ
ングが好ましい。
クラッド層等、パターンニングされたエピタキシャル薄
膜を作製する場合に、アモルファス状態でパターンニン
グを行い、パターンニングされたアモルファス薄膜を固
相エピタキシャル成長させるので、散乱による光損失が
小さい極めて平滑なエッジ、側壁、表面を得ることがで
きる。
エピタキシャル成長によりバッファ層、スラブ型光導波
路層、スラブ型クラッド層を順に形成する。そして、チ
ャンネル光導波路の形成予定位置の入射端部及び出射端
部の上方に在るスラブ型クラッド層の一部を、エッチン
グにより端面に向かって厚さ(または、厚さ及び幅)が
変化するテーパ状にエッチングした後、同じくエッチン
グによりスラブ型光導波路層を所定チャンネル・パター
ンにパターンニングして、入射端部及び出射端部の上方
にテーパ状のクラッド層が形成されたリッジ型チャンネ
ル光導波路を形成する。
ッチングまたはドライ・エッチングのいずれでもよい
が、エッチング後の表面平滑性に優れる点で、ドライ・
エッチングが好ましい。
ス状態で止めずに、固相エピタキシャル成長させた後に
パターンニングを行うので、優れた結晶性を有する光導
波路層及びクラッド層を得ることができる。また、光導
波路層を所定チャンネル・パターンにパターンニングし
てチャンネル光導波路を形成した後に、クラッド層をテ
ーパ状にエッチングする場合には、クラッド層をエッチ
ングする際に光導波路層までエッチングされてチャンネ
ル光導波路の作製精度が低下する虞があるが、この方法
では、クラッド層をテーパ状にエッチングした後に、光
導波路層を所定チャンネル・パターンにパターンニング
してチャンネル光導波路を形成するので、チャンネル光
導波路を精度良く形成することができる。
は、リッジ型のチャンネル光導波路を備えた光導波路層
を備えており、チャンネル光導波路の入射端部及び出射
端部上には、光導波路層より小さい屈折率を有するクラ
ッド層が設けられているので、光導波路のモードフィー
ルド径を基板面垂直方向に拡大することが可能であり、
光ファイバと光導波路素子との結合損失を低減すること
ができる。特に、本実施の形態の光導波路素子は、クラ
ッド層の幅をチャンネル光導波路と略同じ幅としたの
で、モードフィールド径が拡大する際に幅方向の光閉じ
込めの強さが急激に変化することがなく、モード不整合
による損失の発生が防止され、光ファイバと光導波路素
子との結合損失を大幅に低減することができる。
さを端面に向かってテーパ状に増加させているので、徐
々にモードフィールド径を拡大することができ、光導波
路内での光伝搬損失も低減することができる。また、チ
ャンネル光導波路及びクラッド層の幅を端面に向かって
テーパ状に増加させているので、光導波路のモードフィ
ールド径を基板面内方向にも拡大することが可能であ
る。
波路層及びクラッド層等、パターンニングされたエピタ
キシャル薄膜を作製する方法としては、アモルファス薄
膜とした状態でパターンニングを行い、パターンニング
されたアモルファス薄膜を固相エピタキシャル成長させ
る第1の方法と、固相エピタキシャル成長した薄膜をパ
ターンニングする第2の方法とがある。第1の方法で光
導波路層及びクラッド層を作製した場合には、散乱によ
る光損失が小さい極めて平滑なエッジ、側壁、表面を得
ることができるという利点があり、第2の方法で光導波
路層及びクラッド層を作製した場合には、優れた結晶性
を有する光導波路層及びクラッド層を得ることができる
と共に、チャンネル光導波路を精度良く形成することが
できるという利点がある。
表面のチャンネル光導波路の入射端部及び出射端部の上
方にだけクラッド層を形成する例について説明したが、
図10に示すように、チャンネル光導波路4の全領域の
上方にチャンネル光導波路4と略同じ幅で且つ端面に向
かってテーパ状に厚さが増加するクラッド層5を形成す
ることもできる。
ールド径が9.5μmのシングルモード光ファイバとの
結合損失を低減する場合について説明したが、チャンネ
ル光導波路の幅及び高さ、クラッド層の幅及び厚さは、
光ファイバのモードフィールド径に応じて同様に設計す
ることができる。
するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではな
い。 (実施例1)本実施例では、屈折率が2.308のNb
ドープSrTiO3(100)からなる単結晶基板1上
に、屈折率が2.432のPLZTバッファ層2、屈折
率が2.468のPZT光導波路層3、屈折率が2.4
66のPZTクラッド層5が形成された図1に示す構成
の光導波路素子を製造する例について説明する。なお、
本実施例において、各層の屈折率は波長1.3μmの光
に対する屈折率である。
ン・イソプロポキシドLa(O−i-C3H7)3、ジルコ
ニウム・イソプロポキシドZr(O−i-C3H7)4、お
よびチタン・イソプロポキシドTi(O−i-C3H7)4
を出発原料として用い、これら出発原料を2−メトキシ
エタノールに溶解した後、この溶液について蒸留と還流
とを行い、最終的にPb濃度を0.6Mとして、屈折率
が2.432の組成のPLZTバッファ層を形成するた
めのバッファ層用前駆体溶液を調整した。
たNbドープSrTiO3(100)単結晶基板1の表
面に、このバッファ層用前駆体溶液をスピンコーティン
グする。コーティング後の単結晶基板を、O2雰囲気中
で昇温して350℃にて保持し、さらに800℃にて保
持の後、冷却する。これを数回繰り返すことにより、図
11(A)及び(B)に示すように、単結晶基板1の表
面に、1.9μmの膜厚のPLZTバッファ層2を固相
エピタキシャル成長した。
て、屈折率が2.468の組成のPZT光導波路層3を
形成するための光導波路層用前駆体溶液を調整する。そ
して、PLZTバッファ層2の表面に、この光導波路層
用前駆体溶液をスピンコーティングする。コーティング
後の単結晶基板を、O2雰囲気中で昇温して350℃に
て保持し、さらに800℃にて保持した後、冷却する。
これらコーティング、昇温、及び冷却を数回繰り返すこ
とにより、図12(A)及び(B)に示すように、PL
ZTバッファ層2の表面に、1.7μmの厚さのPZT
光導波路層3Aを固相エピタキシャル成長した。
記光導波路層用前駆体溶液をスピンコーティングする。
コーティング後の単結晶基板を、O2雰囲気中で昇温し
て350℃にて保持した後、冷却する。これらコーティ
ング、昇温、及び冷却を数回繰り返すことにより、図1
3(A)及び(B)に示すように、PZT光導波路層3
Aの表面に、0.5μmの厚さのアモルファス・PZT
光導波路層3Bを形成した。
プリベークの後、露光し、さらに現像を行うことによ
り、素子単位に付いて直線部の両端にテーパ長が100
0μmのテーパ部に接続され、該テーパ部に2000μ
mの加工しろが接続された形状のレジスト・パターンを
形成する。
をマスクとして用い、HCl水溶液によるウエット・エ
ッチングを行い、アモルファス・PZT光導波路層3B
に凸型の直線状パターンを形成する。深さ方向のエッチ
ングは、エピタキシャル化されたPZT光導波路層3A
の表面でストップする。幅方向のエッチングは、マスク
下のアモルファス・PZT光導波路層3Bがアンダー・
エッチされるので、エッチング時間により制御すること
ができる。例えば、0.1μm/分から0.5μm/分
程度のエッチング速度に応じてエッチング時間を調節
し、直線部の幅がレジスト・パターンより狭い5.0μ
mとなるところでエッチングをストップさせることによ
り、高さ0.5μm、直線部での幅5.0μmのリッジ
形状を形成することができる。リッジ形状に整形された
アモルファス・PZT光導波路層3Bを固相エピタキシ
ャル成長することにより、図14(A)及び(B)に示
すように、素子単位に付いて、高さ0.5μmで、幅
5.0μmの直線部の両端に幅が5μmから8μmへ長
さ1000μmに渡って広がるテーパ部が接続され、さ
らに加工しろとなる幅8μmの直線チャンネルが接続さ
れたリッジ型チャンネル光導波路4が形成されたPZT
光導波路層3が完成する。このようにアモルファス状態
で整形を行うことにより、チャンネル光導波路の形状を
精度良く加工することが可能である。なお、素子単位に
切断分離される位置(端面形成位置)を1点鎖線で示
す。
の直線部でのモードフィールド径は、基板面内方向が
6.2μm、基板面垂直方向が2.2μmであり、モー
ドフィールド径が9.5μmのシングルモード光ファイ
バーとの理論上の結合損失は4.2dBである。
て、屈折率が2.466の組成のPZTクラッド層5を
形成するためのクラッド層用前駆体溶液を調整し、PZ
T光導波路層3の表面に、この前駆体溶液をスピンコー
ティングする。O2雰囲気中で昇温して350℃にて保
持した後、冷却する。これらコーティング、昇温、及び
冷却を数回繰り返すことにより、2.4μmの厚さのア
モルファス・PZTクラッド層5Aaを形成する。この
アモルファス・PZTクラッド層5Aaの表面に、アモ
ルファス・PZTクラッド層5Aaの作製に用いた前駆
体溶液と同じ前駆体溶液をスピンコーティングする。コ
ーティング後の単結晶基板を、O2雰囲気中で昇温して
250℃にて保持した後、冷却して、0.1μmの厚さ
のアモルファス・PZTクラッド層5Abを形成する。
より低温でアモルファス化されたこのアモルファス・P
ZTクラッド層5Abは、アモルファス・PZTクラッ
ド層5Aaよりもエッチングされ易く、上層側からエッ
チングが進むので、サイドエッチ効果によるテーパ形成
促進層としての役割を果たす。これにより、図15
(A)及び(B)に示すように、アモルファス・PZT
クラッド層5Aaの表面に、テーパ形成促進層であるア
モルファス・PZTクラッド層5Abが形成される。な
お、アモルファス・PZTクラッド層5Aaとアモルフ
ァス・PZTクラッド層5Abとの総膜厚は2.5μm
である。
が形成される位置から3000μm以内の部分にフォト
レジスト10を形成し、このフォトレジスト10をマス
クとして用いてHCl水溶液によるウエット・エッチン
グを行うと、図16(A)及び(B)に示すように、ア
モルファス・PZTクラッド層5Aa及び5Abのうち
テーパ形成促進層であるアモルファス・PZTクラッド
層5Abが選択的にサイドエッチされて、アモルファス
・PZTクラッド層5Aa及び5Abが端面に向かって
厚さが増加するテーパ形状に整形される。
に、アモルファス・PZTクラッド層5Aa及び5Ab
を固相エピタキシャル成長して、PZTクラッド層5A
とし、一部がサイドエッチされたPZTクラッド層5A
の表面に、アモルファス・PZTクラッド層5Aaの作
製に用いた前駆体溶液と同じ前駆体溶液をスピンコーテ
ィングする。コーティング後の単結晶基板を、O2雰囲
気中で昇温して250℃にて保持した後、冷却して、
2.5μmの厚さのアモルファス・PZTクラッド層5
Baを形成する。その後、チャンネル光導波路4のテー
パ部及び加工しろの上方で且つ基板端面が形成される位
置から3000μm以内の部分にフォトレジスト11を
形成した。
して用いてHCl水溶液によるウエット・エッチングを
行うと、図18(A)及び(B)に示すように、アモル
ファス・PZTクラッド層5Baの一部がサイドエッチ
されて、アモルファス・PZTクラッド層5Baが端面
に向かって厚さが増加すると共に、端面に向かって幅が
増加するテーパ形状に整形される。
に、アモルファス・PZTクラッド層5Baを固相エピ
タキシャル成長することにより、テーパ形状に整形され
たPZTクラッド層5Aと一体化されて、チャンネル光
導波路4と同様に、幅が5μmから8μmへ長さ100
0μmに渡って広がるテーパ部と幅8μmの加工しろと
で構成されたテーパ型のPZTクラッド層5が形成され
る。
に切断し、端面を研磨して、図20(A)及び(B)に
示すように、チャンネル光導波路4の入射端部及び出射
端部の上方に、端面厚さが5μmで、端面クラッド幅8
μmのテーパ型のクラッド層5が形成された光導波路素
子が完成する。
関係が、単一配向のPZT(100)クラッド層//P
ZT(100) 光導波路層//PLZT(100)バ
ッファ層//NbドープSrTiO3(100)基板で
あり、面内方位が、PZT[001]クラッド層//P
ZT[001]光導波路層//PLZT[001]バッ
ファ層//NbドープSrTiO3[001]基板とい
う構造を有している。
フィールド径が9.5μmのシングルモード光ファイバ
を配置し、光ファイバ間の挿入損失を求め、そこからチ
ャンネル光導波路による光伝搬損失を差し引くことによ
って、光導波路と光ファイバとの結合損失を測定したと
ころ、結合損失は1.1dBであり、チャンネル光導波
路の端部にテーパ部が設けられておらず、テーパ型のク
ラッド層が設けられていない場合の結合損失4.2dB
と比較して、大幅に結合損失を低減できることを確認し
た。
284のNbドープSrTiO3(100)からなる単
結晶基板1上に、屈折率が2.416のPLZTバッフ
ァ層2、屈折率が2.442のPZT光導波路層3、屈
折率が2.441のPZTクラッド層5が形成された図
1に示す構成の光導波路素子を製造する例について説明
する。なお、本実施例において、各層の屈折率は波長
1.55μmの光に対する屈折率である。
ン・イソプロポキシドLa(O−i-C3H7)3、ジルコ
ニウム・イソプロポキシドZr(O−i-C3H7)4、お
よびチタン・イソプロポキシドTi(O−i-C3H7)4
を出発原料として用い、これら出発原料を2−メトキシ
エタノールに溶解した後、この溶液について蒸留と還流
とを行い、最終的にPb濃度を0.6Mとして、屈折率
が2.416の組成のPLZTバッファ層を形成するた
めのバッファ層用前駆体溶液を調整した。
たNbドープSrTiO3(100)単結晶基板1の表
面に、このバッファ層用前駆体溶液をスピンコーティン
グする。コーティング後の単結晶基板を、O2雰囲気中
で昇温して350℃にて保持し、さらに800℃にて保
持の後、冷却する。これを数回繰り返すことにより、図
21(A)及び(B)に示すように、単結晶基板1の表
面に2.6μmの膜厚のPLZTバッファ層2を固相エ
ピタキシャル成長した。
て、屈折率が2.442の組成のPZT光導波路層3を
形成するための光導波路層用前駆体溶液を調整する。そ
して、PLZTバッファ層2の表面に、この光導波路層
用前駆体溶液をスピンコーティングする。コーティング
後の単結晶基板を、O2雰囲気中で昇温して350℃に
て保持し、さらに800℃にて保持した後、冷却する。
これらコーティング、昇温、及び冷却を数回繰り返すこ
とにより、図22(A)及び(B)に示すように、PL
ZTバッファ層2の表面に2.2μmの厚さのスラブ型
PZT光導波路層3Cを固相エピタキシャル成長した。
て、屈折率が2.441の組成のPZTクラッド層5を
形成するためのクラッド層用前駆体溶液を調整する。そ
して、スラブ型PZT光導波路層3Cの表面に、このク
ラッド層用前駆体溶液をスピンコーティングする。コー
ティング後の単結晶基板を、O2雰囲気中で昇温して3
50℃にて保持し、さらに800℃にて保持した後、冷
却する。これらコーティング、昇温、及び冷却を数回繰
り返すことにより、図23(A)及び(B)に示すよう
に、スラブ型PZT光導波路層3Cの表面に5.0μm
の厚さのスラブ型PZTクラッド層5Cを固相エピタキ
シャル成長した。
に、素子単位に付いて、チャンネル光導波路4のテーパ
部及び加工しろが形成される予定位置上方に在るスラブ
型PZTクラッド層5C上に、膜厚が端面形成位置から
内側へ向かって減少するフォトレジスト12を形成す
る。なお、チャンネル光導波路4の形成予定位置を2点
鎖線で示し、素子単位に切断分離される位置(端面形成
位置)を1点鎖線で示す。このように膜厚が徐々に変化
するフォトレジストは、レジストの露光量をグレースケ
ールにより変化させて作製することができる。
に、このフォトレジスト12をマスクとして用いたドラ
イエッチングにより、スラブ型PZTクラッド層5Cを
端面に向かって厚さが増加すると共に、端面に向かって
幅が増加するテーパ形状に整形して、素子単位に付い
て、幅5.0μmの直線部の両端に幅が5μmから12
μmへ長さ500μmに渡って広がるテーパ部が接続さ
れ、さらに幅12μmの加工しろが接続されたテーパ型
のPZTクラッド層5を形成する。
面側での幅は12μm、厚さは5μmであり、内部側で
の幅は5μm、厚さは0μmである。これにより、チャ
ンネル光導波路4の形成予定位置の入射端部及び出射端
部上方には、チャンネル光導波路4と略同じ幅のテーパ
型のPZTクラッド層5が形成され、テーパ型のPZT
クラッド層5が形成されない領域では、スラブ型PZT
光導波路層3Cの表面が露出する。
いたエッチングに代えて、クラッド層との間にスペーサ
を介してシャドウマスクを配置し、このシャドウマスク
を徐々に移動させながらドライエッチングを行うことに
よっても、スラブ型PZTクラッド層を端面に向かって
厚さが増加するテーパ形状に整形することができる。
に、チャンネル光導波路4の形成予定位置の上方にフォ
トレジスト13を形成する。そして、図27(A)及び
(B)に示すように、このフォトレジスト13をマスク
として用いてスラブ型PZT光導波路層3Cの表面から
0.5μmの深さまでドライエッチング行い、素子単位
に付いて、高さ0.5μmで、幅5.0μmの直線部の
両端にチャンネル幅が5μmから12μmへ長さ500
μmに渡って広がるテーパ部が接続され、このテーパ部
に更に加工しろとなる幅12μmの直線チャンネルが接
続されたリッジ型のチャンネル光導波路4が形成され
る。
に切断し、端面を研磨して、図28(A)及び(B)に
示すように、チャンネル光導波路4の入射端部及び出射
端部の上方に、端面厚さが5μmで、端面クラッド幅1
2μmのテーパ型のクラッド層5が形成された光導波路
素子が完成する。
関係が、単一配向のPZT(100)クラッド層//P
ZT(100)光導波路層//PLZT(100)バッ
ファ層//NbドープSrTiO3(100)基板であ
り、面内方位が、PZT[001]クラッド層//PZ
T[001]光導波路層//PLZT[001]バッフ
ァ層//NbドープSrTiO3[001]基板という
構造を有している。
の幅12.0μmの入出射端でのモードフィールド径
は、基板面内方向が9.4μm、基板面垂直方向が6.
2μmであり、モードフィールド径が9.5μmのシン
グルモード光ファイバーとの理論上の結合損失は0.7
dBである。一方、クラッド層が無い場合のチャンネル
光導波路4の幅5.0μmの直線部でのモードフィール
ド径は、基板面内方向が7.2μm、基板面垂直方向が
2.6μmであり、モードフィールド径が9.5μmの
シングルモード光ファイバーとの理論上の結合損失は
3.1dBである。
フィールド径が9.5μmのシングルモード光ファイバ
を配置し、光ファイバ間の挿入損失を求め、そこからチ
ャンネル光導波路による光伝搬損失を差し引くことによ
って、光導波路と光ファイバとの結合損失を測定したと
ころ、結合損失は0.8dBであり、チャンネル光導波
路の端部にテーパ部が設けられておらず、テーパ型のク
ラッド層が設けられていない場合の結合損失3.1dB
と比較して、大幅に結合損失を低減できることを確認し
た。
で光ファイバと結合することができる、という効果を奏
する。また、本発明の光導波路素子の製造方法は、高い
結合効率で光ファイバと結合することができる光導波路
素子を、精度良く製造することができる、という効果を
奏する。
斜視図である。
成を示す図である。
関係を示すグラフである。
関係を示すグラフである。
線図である。
を示す線図である。
ルを示す線図である。
を示す線図である。
示す線図である。
示す斜視図である。
におけるバッファ層形成工程を示す光伝搬方向に沿った
断面図であり、(B)は平面図である。
における光導波路層形成工程を示す光伝搬方向に沿った
断面図であり、(B)は平面図である。
における光導波路層形成工程の続きを示す光伝搬方向に
沿った断面図であり、(B)は平面図である。
におけるチャンネル光導波路形成工程を示す光伝搬方向
に沿った断面図であり、(B)は平面図である。
におけるクラッド層形成工程を示す光伝搬方向に沿った
断面図であり、(B)は平面図である。
におけるクラッド層整形工程の続きを示す光伝搬方向に
沿った断面図であり、(B)は平面図である。
におけるクラッド層整形工程の続きを示す光伝搬方向に
沿った断面図であり、(B)は平面図である。
におけるクラッド層整形工程の続きを示す光伝搬方向に
沿った断面図であり、(B)は平面図である。
におけるクラッド層整形工程の続きを示す光伝搬方向に
沿った断面図であり、(B)は平面図である。
における素子分離工程を示す光伝搬方向に沿った断面図
であり、(B)は平面図である。
におけるバッファ層形成工程を示す光伝搬方向に沿った
断面図であり、(B)は平面図である。
における光導波路層形成工程を示す光伝搬方向に沿った
断面図であり、(B)は平面図である。
におけるクラッド層形成工程の続きを示す光伝搬方向に
沿った断面図であり、(B)は平面図である。
におけるクラッド層整形工程を示す光伝搬方向に沿った
断面図であり、(B)は平面図である。
におけるクラッド層整形工程の続きを示す光伝搬方向に
沿った断面図であり、(B)は平面図である。
におけるチャンネル光導波路形成工程を示す光伝搬方向
に沿った断面図であり、(B)は平面図である。
におけるチャンネル光導波路形成工程の続きを示す光伝
搬方向に沿った断面図であり、(B)は平面図である。
における素子分離工程を示す光伝搬方向に沿った断面図
であり、(B)は平面図である。
Claims (19)
- 【請求項1】リッジ型のチャンネル光導波路を備えた光
導波路層と、 前記光導波路層表面の前記チャンネル光導波路の入射端
部及び出射端部の少なくとも一方の上方に前記チャンネ
ル光導波路と略同じ幅で設けられ、前記光導波路層より
も小さい屈折率を有し、且つ端面に向かってテーパ状に
厚さが増加するテーパ型のクラッド層と、 を含む光導波路素子。 - 【請求項2】リッジ型のチャンネル光導波路を備えた光
導波路層と、 前記光導波路層表面に前記チャンネル光導波路と略同じ
幅で設けられ、前記光導波路層よりも小さい屈折率を有
し、且つ、前記チャンネル光導波路の入射端部及び出射
端部の少なくとも一方の上方において端面に向かってテ
ーパ状に厚さが増加するテーパ型のクラッド層と、 を含む光導波路素子。 - 【請求項3】前記光導波路層と前記クラッド層との屈折
率差を0.001以上0.05以下とした請求項1また
は2に記載の光導波路素子。 - 【請求項4】前記チャンネル光導波路の入射端部及び出
射端部の少なくとも一方の幅を端面に向かって増加させ
た請求項1乃至3のいずれか1項に記載の光導波路素
子。 - 【請求項5】前記チャンネル光導波路の端部での幅を5
μm以上とした請求項4に記載の光導波路素子。 - 【請求項6】前記クラッド層の端部での厚さを1μm以
上とした請求項1乃至5のいずれか1項に記載の光導波
路素子。 - 【請求項7】前記端面に向かってテーパ状に厚さが増加
するクラッド層の該テーパ長を50μm以上5000μ
m以下とした請求項1乃至6のいずれか1項に記載の光
導波路素子。 - 【請求項8】前記光導波路層及び前記クラッド層の少な
くとも一方を、エピタキシャル成長させた酸化物で構成
した請求項1乃至7のいずれか1項に記載の光導波路素
子。 - 【請求項9】前記光導波路層及び前記クラッド層の少な
くとも一方を、電気光学効果を有する強誘電体で構成し
た請求項1乃至8のいずれか1項に記載の光導波路素
子。 - 【請求項10】前記光導波路層及び前記クラッド層の少
なくとも一方を、Pb1-xLax(ZryTi1-y)1-x/4
O3(0<x<0.3、0<y<1.0)で構成した請
求項1乃至9のいずれか1項に記載の光導波路素子。 - 【請求項11】前記光導波路層を、該光導波路層よりも
小さい屈折率を有するバッファ層を介して単結晶基板上
に形成した請求項1乃至10のいずれか1項に記載の光
導波路素子。 - 【請求項12】前記単結晶基板を、不純物元素をドープ
したSrTiO3基板で構成した請求項11に記載の光
導波路素子。 - 【請求項13】請求項1〜12のいずれか1項に記載の
光導波路素子を製造する光導波路素子の製造方法であっ
て、 リッジ型のチャンネル光導波路を備え且つエピタキシャ
ル成長により形成された光導波路層表面に、エピタキシ
ャル成長後の屈折率が該光導波路層よりも小さいアモル
ファス薄膜を形成し、 該アモルファス薄膜を、前記チャンネル光導波路の入射
端部及び出射端部の少なくとも一方の上方において、前
記チャンネル光導波路と略同じ幅で且つ端面に向かって
厚さが増加するテーパ状部が残存するように整形し、 該整形されたアモルファス薄膜を、加熱により固相エピ
タキシャル成長してテーパ型のクラッド層を形成し、 光導波路素子を製造する光導波路素子の製造方法。 - 【請求項14】前記アモルファス薄膜上に特定の開口パ
ターンを有するレジスト膜を形成し、該レジスト膜を用
いてアモルファス薄膜をエッチングすることによりテー
パ状部が残存するように整形する請求項13に記載の光
導波路素子の製造方法。 - 【請求項15】前記アモルファス薄膜と前記レジスト膜
との間に、該アモルファス薄膜より被エッチング速度の
速いテーパ形成促進層を設けてエッチングを行う請求項
14に記載の光導波路素子の製造方法。 - 【請求項16】前記エッチングがウエット・エッチング
である請求項14または15に記載の光導波路素子の製
造方法。 - 【請求項17】請求項1〜12のいずれか1項に記載の
光導波路素子を製造する光導波路素子の製造方法であっ
て、 エピタキシャル成長により形成されたスラブ型の光導波
路層表面に、該光導波路層よりも小さい屈折率を有する
スラブ型のクラッド層をエピタキシャル成長により形成
し、 該スラブ型のクラッド層を、チャンネル光導波路が形成
される入射端部及び出射端部の少なくとも一方の上方に
おいて、前記チャンネル光導波路と略同じ幅で且つ端面
に向かって厚さが増加するテーパ状部が残存するように
整形してテーパ型のクラッド層を形成し、 スラブ型の光導波路層を所定のチャンネルパターンに整
形してリッジ型のチャンネル光導波路を形成し、 光導波路素子を製造する光導波路素子の製造方法。 - 【請求項18】前記スラブ型のクラッド層上に特定の開
口パターンを有し且つ膜厚が徐々に変化するレジスト膜
を形成し、該レジスト膜を用いてスラブ型のクラッド層
をエッチングすることによりテーパ状部が残存するよう
に整形する請求項17に記載の光導波路素子の製造方
法。 - 【請求項19】前記エッチングがドライ・エッチングで
ある請求項17または18に記載の光導波路素子の製造
方法。
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