JP2002329924A - Ｌｄ制御装置及びｌｄの劣化検知方法 - Google Patents
Ｌｄ制御装置及びｌｄの劣化検知方法Info
- Publication number
- JP2002329924A JP2002329924A JP2001100075A JP2001100075A JP2002329924A JP 2002329924 A JP2002329924 A JP 2002329924A JP 2001100075 A JP2001100075 A JP 2001100075A JP 2001100075 A JP2001100075 A JP 2001100075A JP 2002329924 A JP2002329924 A JP 2002329924A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current value
- current
- deterioration
- value
- control device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Laser Beam Printer (AREA)
- Fax Reproducing Arrangements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＬＤの致命的な劣化を事前に予測して、致命
的なＬＤ劣化が発生する前に機械外部にその情報を報告
することにより、ＬＤ劣化を予防する。 【解決手段】 ＬＤの致命的劣化を事前に検知するた
め、前記ＬＤ駆動装置から出力される電流値を検出して
その電流値を記憶しておき、現在の検出値とそれ以前に
記憶した電流値との比較から電流の増加量を算出し（S1
02）、電流増加量が所定の値よりも大の時にＬＤ劣化が
末期に差し掛かっていると判断して（S104）、機械外部
の表示装置または機械診断装置等に対してＬＤが致命的
な劣化に到る危険な状態にあることを知らせる（S10
7）。
的なＬＤ劣化が発生する前に機械外部にその情報を報告
することにより、ＬＤ劣化を予防する。 【解決手段】 ＬＤの致命的劣化を事前に検知するた
め、前記ＬＤ駆動装置から出力される電流値を検出して
その電流値を記憶しておき、現在の検出値とそれ以前に
記憶した電流値との比較から電流の増加量を算出し（S1
02）、電流増加量が所定の値よりも大の時にＬＤ劣化が
末期に差し掛かっていると判断して（S104）、機械外部
の表示装置または機械診断装置等に対してＬＤが致命的
な劣化に到る危険な状態にあることを知らせる（S10
7）。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザーダイオー
ド（以下、ＬＤという）から放射されるレーザー光量を
制御するＬＤ制御装置に係わり、特に、デジタル複写
機、レーザービームプリンター、ファクシミリ等の画像
形成装置において光ビームで画像の書き込みを行なうた
めのＬＤ制御装置に関し、光ディスクや光通信などの情
報・通信分野において使用されるレーザービーム光源に
応用可能なＬＤ制御装置及びＬＤの劣化検知方法及び該
方法を実行するためのプログラム等に関するものであ
る。
ド（以下、ＬＤという）から放射されるレーザー光量を
制御するＬＤ制御装置に係わり、特に、デジタル複写
機、レーザービームプリンター、ファクシミリ等の画像
形成装置において光ビームで画像の書き込みを行なうた
めのＬＤ制御装置に関し、光ディスクや光通信などの情
報・通信分野において使用されるレーザービーム光源に
応用可能なＬＤ制御装置及びＬＤの劣化検知方法及び該
方法を実行するためのプログラム等に関するものであ
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、ＬＤは、ＬＤが置かれた環境、も
しくはＬＤ自体の発熱に起因する温度変動によって、発
光量が変動するという性質を持っている。一方、レーザ
ープリンターのような画像形成装置ではＬＤ光量が一定
であることが望まれる。このため、図１８のＡＰＣ（オ
ートマチック・パワーコントロール）回路ブロックに示
すように、ＬＤに付随したフォトダイオード（ＰＤ）で
ＬＤの発光量を検出して、制御部分にフィードバックす
ることで光量を一定に調節するという制御が一般的に行
なわれている。この制御方法としては、例えば、図１９
に示すように、サンプル＆ホールド信号（Ｓ／Ｈ信号）
に基いて断続的にＡＰＣを行う方法がある。この制御方
法では、待機状態においてサンプル信号に基いてサンプ
ルモードに移行してＡＰＣによる光量調節を行ない、信
号出力時にはホールドモードに移行して、ＬＤ駆動電流
をサンプルモード時と同じ電流値に固定する定電流駆動
を行なっている。
しくはＬＤ自体の発熱に起因する温度変動によって、発
光量が変動するという性質を持っている。一方、レーザ
ープリンターのような画像形成装置ではＬＤ光量が一定
であることが望まれる。このため、図１８のＡＰＣ（オ
ートマチック・パワーコントロール）回路ブロックに示
すように、ＬＤに付随したフォトダイオード（ＰＤ）で
ＬＤの発光量を検出して、制御部分にフィードバックす
ることで光量を一定に調節するという制御が一般的に行
なわれている。この制御方法としては、例えば、図１９
に示すように、サンプル＆ホールド信号（Ｓ／Ｈ信号）
に基いて断続的にＡＰＣを行う方法がある。この制御方
法では、待機状態においてサンプル信号に基いてサンプ
ルモードに移行してＡＰＣによる光量調節を行ない、信
号出力時にはホールドモードに移行して、ＬＤ駆動電流
をサンプルモード時と同じ電流値に固定する定電流駆動
を行なっている。
【０００３】従来のこの種の技術では、ＡＰＣ動作時に
ＬＤ制御装置から制御信号としてサンプル信号と同時に
ＬＤ点灯信号が送出される。サンプル信号は図１８のＳ
／Ｈスイッチを切り替え、ＬＤ点灯信号がＬＤを点灯さ
せる。そして、ＬＤの光強度に比例したＰＤの電流値を
電圧に変換して、その電圧と基準電圧をコンパレータに
よって比較することによってＬＤ光量を一定に制御して
いる。このようにＬＤがＡＰＣ制御によってＬＤの出力
光量が一定に保たれているときにＬＤに劣化が起きる
と、しきい値電流の増大、微分効率の低下等の現象によ
って駆動電流が増大するという現象が発生する。そこ
で、従来のこの種の技術では、ＬＤ駆動電流の大きさを
監視して、ある規定値以上にＬＤ駆動電流が流れた場合
にはＬＤが劣化したと判定して機械を停止したり、機械
外部にＬＤが劣化したという情報を報告又は報知すると
いう制御が行われている。
ＬＤ制御装置から制御信号としてサンプル信号と同時に
ＬＤ点灯信号が送出される。サンプル信号は図１８のＳ
／Ｈスイッチを切り替え、ＬＤ点灯信号がＬＤを点灯さ
せる。そして、ＬＤの光強度に比例したＰＤの電流値を
電圧に変換して、その電圧と基準電圧をコンパレータに
よって比較することによってＬＤ光量を一定に制御して
いる。このようにＬＤがＡＰＣ制御によってＬＤの出力
光量が一定に保たれているときにＬＤに劣化が起きる
と、しきい値電流の増大、微分効率の低下等の現象によ
って駆動電流が増大するという現象が発生する。そこ
で、従来のこの種の技術では、ＬＤ駆動電流の大きさを
監視して、ある規定値以上にＬＤ駆動電流が流れた場合
にはＬＤが劣化したと判定して機械を停止したり、機械
外部にＬＤが劣化したという情報を報告又は報知すると
いう制御が行われている。
【０００４】また、電源、抵抗、サーミスタを用いて、
温度変動に追従して変化する基準電圧を発生させ、これ
とバイアス電流を検出して発生させた電圧を比較するこ
とにより、ＬＤの劣化を広い温度範囲で安定に、且つ高
感度で検出するＬＤ劣化検出回路も例えば特開平０５−
１９０９５０号公報により知られている。
温度変動に追従して変化する基準電圧を発生させ、これ
とバイアス電流を検出して発生させた電圧を比較するこ
とにより、ＬＤの劣化を広い温度範囲で安定に、且つ高
感度で検出するＬＤ劣化検出回路も例えば特開平０５−
１９０９５０号公報により知られている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
技術においては、ＬＤが劣化したことを検出することは
できても、そろそろＬＤが致命的に劣化しそうだという
前兆までは検出することはできない。そこで本発明の目
的は、ＬＤの致命的な劣化を事前に予測して、致命的な
ＬＤ劣化が発生する前に機械外部にその情報を報告又は
報知することにより、ＬＤ劣化を予防するＬＤ制御装置
及びＬＤ劣化検知方法等を提供することにある。また、
従来レーザープリンタ等の画像形成装置において、ＬＤ
劣化に伴うＬＤ放射光の発散角の変化等により異常画像
が発生するという問題がある。そこで本発明の他の目的
は、ＬＤ制御装置を停止することでＬＤ劣化に伴う異常
画像の発生を防止するＬＤ制御装置及びＬＤ劣化検知方
法等を提供することにある。また、本発明の他の目的
は、画像出力を間引くなどして、ＬＤの発光時間を減ら
すことによりＬＤ劣化が発生するのを遅らせるＬＤ制御
装置及びＬＤ劣化検知方法等を提供することにある。
技術においては、ＬＤが劣化したことを検出することは
できても、そろそろＬＤが致命的に劣化しそうだという
前兆までは検出することはできない。そこで本発明の目
的は、ＬＤの致命的な劣化を事前に予測して、致命的な
ＬＤ劣化が発生する前に機械外部にその情報を報告又は
報知することにより、ＬＤ劣化を予防するＬＤ制御装置
及びＬＤ劣化検知方法等を提供することにある。また、
従来レーザープリンタ等の画像形成装置において、ＬＤ
劣化に伴うＬＤ放射光の発散角の変化等により異常画像
が発生するという問題がある。そこで本発明の他の目的
は、ＬＤ制御装置を停止することでＬＤ劣化に伴う異常
画像の発生を防止するＬＤ制御装置及びＬＤ劣化検知方
法等を提供することにある。また、本発明の他の目的
は、画像出力を間引くなどして、ＬＤの発光時間を減ら
すことによりＬＤ劣化が発生するのを遅らせるＬＤ制御
装置及びＬＤ劣化検知方法等を提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明は、受光
素子からの出力電流をフィードバックしてオートマチッ
ク・パワーコントロールを行うＬＤ制御装置において、
ＬＤ駆動装置から出力される電流値を検出する手段、該
電流値を記憶する手段、現時点における検出電流値とそ
れ以前に記憶した電流値との変動量を求める手段、該電
流変動量と所定の値との対比によりＬＤ劣化が末期に差
し掛かっていることを判断する手段を備えていることを
特徴とするＬＤ制御装置である。
素子からの出力電流をフィードバックしてオートマチッ
ク・パワーコントロールを行うＬＤ制御装置において、
ＬＤ駆動装置から出力される電流値を検出する手段、該
電流値を記憶する手段、現時点における検出電流値とそ
れ以前に記憶した電流値との変動量を求める手段、該電
流変動量と所定の値との対比によりＬＤ劣化が末期に差
し掛かっていることを判断する手段を備えていることを
特徴とするＬＤ制御装置である。
【０００７】請求項２の発明は、請求項１に記載された
ＬＤ制御装置において、さらにＬＤの温度を測定する手
段を有し、測定温度によるＬＤ駆動電流値を予め定めた
温度における電流値に補正する手段を有することを特徴
とするＬＤ制御装置である。
ＬＤ制御装置において、さらにＬＤの温度を測定する手
段を有し、測定温度によるＬＤ駆動電流値を予め定めた
温度における電流値に補正する手段を有することを特徴
とするＬＤ制御装置である。
【０００８】請求項３の発明は、請求項１又は２に記載
されたＬＤ制御装置において、前記判断する手段がＬＤ
劣化が末期に差し掛かっていると判断したときに、機械
を停止する手段を備えていることを特徴とするＬＤ制御
装置である。
されたＬＤ制御装置において、前記判断する手段がＬＤ
劣化が末期に差し掛かっていると判断したときに、機械
を停止する手段を備えていることを特徴とするＬＤ制御
装置である。
【０００９】請求項４の発明は、請求項１に記載された
ＬＤ制御装置において、前記判断する手段がＬＤ劣化が
末期に差し掛かっていると判断したとき、ＬＤを変調駆
動するためのデータを間引く手段を備えていることを特
徴とするＬＤ制御装置である。
ＬＤ制御装置において、前記判断する手段がＬＤ劣化が
末期に差し掛かっていると判断したとき、ＬＤを変調駆
動するためのデータを間引く手段を備えていることを特
徴とするＬＤ制御装置である。
【００１０】請求項５の発明は、請求項１に記載された
ＬＤ制御装置において、ＬＤ劣化が末期に差し掛かって
いることを通知する手段を有することを特徴とするＬＤ
制御装置である。
ＬＤ制御装置において、ＬＤ劣化が末期に差し掛かって
いることを通知する手段を有することを特徴とするＬＤ
制御装置である。
【００１１】請求項６の発明は、請求項１乃至５のいず
れかに記載されたＬＤ制御装置を備えたことを特徴とす
る画像記録装置である。
れかに記載されたＬＤ制御装置を備えたことを特徴とす
る画像記録装置である。
【００１２】請求項７の発明は、請求項６に記載された
画像記録装置を備えたことを特徴とする画像形成装置で
ある。
画像記録装置を備えたことを特徴とする画像形成装置で
ある。
【００１３】請求項８の発明は、請求項１乃至７のいず
れかに記載されたＬＤ制御装置において、前記電流値の
変動量は電流値の変化速度であることを特徴とするＬＤ
制御装置である。
れかに記載されたＬＤ制御装置において、前記電流値の
変動量は電流値の変化速度であることを特徴とするＬＤ
制御装置である。
【００１４】請求項９の発明は、請求項１乃至８のいず
れかに記載されたＬＤ制御装置において、前記電流値の
変動量は電流値の変化の加速度であることを特徴とする
ＬＤ制御装置である。
れかに記載されたＬＤ制御装置において、前記電流値の
変動量は電流値の変化の加速度であることを特徴とする
ＬＤ制御装置である。
【００１５】請求項１０の発明は、請求項１乃至９のい
ずれかに記載されたＬＤ制御装置において、前記所定の
値は、致命的劣化に向かって劣化の加速が始まることを
示す値に設定されていることを特徴とするＬＤ制御装置
である。
ずれかに記載されたＬＤ制御装置において、前記所定の
値は、致命的劣化に向かって劣化の加速が始まることを
示す値に設定されていることを特徴とするＬＤ制御装置
である。
【００１６】請求項１１の発明は、受光素子からの出力
電流をフィードバックしてオートマチック・パワーコン
トロールを行うＬＤの劣化検知方法であって、前記ＬＤ
駆動装置から出力される電流量を検出する工程、該電流
値を記憶する工程、現在の検出電流値とそれ以前に記憶
した電流値間の電流値の変動量を求める工程、該電流値
の変動量と所定の値との対比によりＬＤ劣化が末期に差
しかかっていることを判断する工程からなることを特徴
とするＬＤの劣化検知方法である。
電流をフィードバックしてオートマチック・パワーコン
トロールを行うＬＤの劣化検知方法であって、前記ＬＤ
駆動装置から出力される電流量を検出する工程、該電流
値を記憶する工程、現在の検出電流値とそれ以前に記憶
した電流値間の電流値の変動量を求める工程、該電流値
の変動量と所定の値との対比によりＬＤ劣化が末期に差
しかかっていることを判断する工程からなることを特徴
とするＬＤの劣化検知方法である。
【００１７】請求項１２の発明は、請求項１１に記載さ
れたＬＤの劣化検知方法において、さらにＬＤの温度を
測定する工程、測定温度によるＬＤ駆動電流値から予め
定めた温度における電流値を推測する工程、今回推測さ
れた電流値と以前に推測された電流置との対比に基づき
ＬＤ劣化が末期に差し掛かっていることを判断する工程
からなることを特徴とするＬＤの劣化検知方法である。
れたＬＤの劣化検知方法において、さらにＬＤの温度を
測定する工程、測定温度によるＬＤ駆動電流値から予め
定めた温度における電流値を推測する工程、今回推測さ
れた電流値と以前に推測された電流置との対比に基づき
ＬＤ劣化が末期に差し掛かっていることを判断する工程
からなることを特徴とするＬＤの劣化検知方法である。
【００１８】請求項１３の発明は、請求項１１又は１２
に記載されたＬＤの劣化検知方法において、前記電流値
の変動は電流値の変化速度であることを特徴とするＬＤ
の劣化検知方法である。
に記載されたＬＤの劣化検知方法において、前記電流値
の変動は電流値の変化速度であることを特徴とするＬＤ
の劣化検知方法である。
【００１９】請求項１４の発明は、請求項１１又は１２
に記載されたＬＤの劣化検知方法において、前記電流値
の変動は電流値の変化の加速度であることを特徴とする
ＬＤの劣化検知方法である。
に記載されたＬＤの劣化検知方法において、前記電流値
の変動は電流値の変化の加速度であることを特徴とする
ＬＤの劣化検知方法である。
【００２０】請求項１５の発明は、検出されたＬＤを駆
動するための電流置からコンピュータにＬＤの劣化を判
断させるためのプログラムであって、ＬＤ駆動装置から
出力される電流置を検出する手段により検出された電流
置とそれ以前に検出された電流置とから電流置の変動量
を演算させるステップ、該電流置の変動量と所定の値と
の対比によりＬＤの劣化が末期に差し掛かっていること
を判断させるステップからなることを特徴とするプログ
ラムである。
動するための電流置からコンピュータにＬＤの劣化を判
断させるためのプログラムであって、ＬＤ駆動装置から
出力される電流置を検出する手段により検出された電流
置とそれ以前に検出された電流置とから電流置の変動量
を演算させるステップ、該電流置の変動量と所定の値と
の対比によりＬＤの劣化が末期に差し掛かっていること
を判断させるステップからなることを特徴とするプログ
ラムである。
【００２１】請求項１６の発明は、検出されたＬＤを駆
動するための電流値からコンピュータにＬＤの劣化を判
断させるプログラムであって、ＬＤ駆動電流から出力さ
れる電流値を検出する手段により検出された電流値とＬ
Ｄの温度を測定する手段により測定された温度とから予
め定めた温度におけるＬＤ駆動電流値を推測させるステ
ップ、今回推測されたＬＤ駆動電流とそれ以前に推測さ
れたＬＤ駆動電流とからＬＤ駆動電流値の変動量を演算
させるステップ、該ＬＤ駆動電流値の変動量と所定の値
との対比によりＬＤの劣化が末期に差し掛かっているこ
とを判断させるステップからなることを特徴とするプロ
グラムである。
動するための電流値からコンピュータにＬＤの劣化を判
断させるプログラムであって、ＬＤ駆動電流から出力さ
れる電流値を検出する手段により検出された電流値とＬ
Ｄの温度を測定する手段により測定された温度とから予
め定めた温度におけるＬＤ駆動電流値を推測させるステ
ップ、今回推測されたＬＤ駆動電流とそれ以前に推測さ
れたＬＤ駆動電流とからＬＤ駆動電流値の変動量を演算
させるステップ、該ＬＤ駆動電流値の変動量と所定の値
との対比によりＬＤの劣化が末期に差し掛かっているこ
とを判断させるステップからなることを特徴とするプロ
グラムである。
【００２２】請求項１７の発明は、請求項１５又１６に
記載されたプログラムにおいて、前記変動量は電流値の
変化の速度であることを特徴とするプログラムである。
記載されたプログラムにおいて、前記変動量は電流値の
変化の速度であることを特徴とするプログラムである。
【００２３】請求項１８の発明は、請求項１５又は１６
に記載されたプログラムにおいて、前記変動量は電流値
の変化の加速度であることを特徴とするプログラムであ
る。
に記載されたプログラムにおいて、前記変動量は電流値
の変化の加速度であることを特徴とするプログラムであ
る。
【００２４】請求項１９の発明は、請求項１５乃至１８
のいずれかに記載されたプログラムが記録されたコンピ
ュータ読み取り可能な記録媒体である。
のいずれかに記載されたプログラムが記録されたコンピ
ュータ読み取り可能な記録媒体である。
【００２５】
【発明の実施の形態】本発明の実施形態を説明する前
に、図１を参照して、本発明を実施するための画像形成
装置について概略説明する。図中、画像読み取りユニッ
ト２により、原稿を光源により照射しながら原稿を走査
して、原稿からの反射光を３ラインＣＣＤセンサにより
画像を読み取り、画像データを画像処理部１１に送る。
画像処理部１１では、スキャナγ補正、色変換、主走査
変倍、画像分離、加工、エリア処理、階調補正処理など
の画像処理を行なった画像データーを画像記録ユニット
である画像書き込みユニット４へ送る。画像書き込みユ
ニット４では、画像データに応じてＬＤ（レーザーダイ
オード）の駆動を変調する。ドラムユニットでは一様に
帯電された回転する感光体ドラムに前記ＬＤからのレー
ザービームにより潜像を書き込み、現像ユニットにより
トナーを付着させて顕像化させる。
に、図１を参照して、本発明を実施するための画像形成
装置について概略説明する。図中、画像読み取りユニッ
ト２により、原稿を光源により照射しながら原稿を走査
して、原稿からの反射光を３ラインＣＣＤセンサにより
画像を読み取り、画像データを画像処理部１１に送る。
画像処理部１１では、スキャナγ補正、色変換、主走査
変倍、画像分離、加工、エリア処理、階調補正処理など
の画像処理を行なった画像データーを画像記録ユニット
である画像書き込みユニット４へ送る。画像書き込みユ
ニット４では、画像データに応じてＬＤ（レーザーダイ
オード）の駆動を変調する。ドラムユニットでは一様に
帯電された回転する感光体ドラムに前記ＬＤからのレー
ザービームにより潜像を書き込み、現像ユニットにより
トナーを付着させて顕像化させる。
【００２６】ユーザーが希望するモードの設定は操作・
表示部１８によって行われる。設定された操作モードは
システム制御ユニット１に送られ、システム制御ユニッ
ト１では設定されたモードを実行するための制御処理を
行う。この時、システム制御ユニット１から、画像読み
取りユニット２、画像書き込みユニット４、画像処理部
１１、操作・表示部１８等に対して制御指示を行う。
表示部１８によって行われる。設定された操作モードは
システム制御ユニット１に送られ、システム制御ユニッ
ト１では設定されたモードを実行するための制御処理を
行う。この時、システム制御ユニット１から、画像読み
取りユニット２、画像書き込みユニット４、画像処理部
１１、操作・表示部１８等に対して制御指示を行う。
【００２７】次に、本発明の第１の実施形態を図２ない
し図８を参照して説明する。図２は本実施形態に係る画
像形成装置のＬＤを用いた画像書込のための構成を（画
像書き込みユニット４及び感光体）を概略的に示す図で
ある。同図に示すように、この画像形成装置では、ＬＤ
から射出されたレーザービームがレーザーダイオード・
ユニット（ＬＤＵ）内部のコリメートレンズによって平
行光線となり、回転多面鏡（以下ポリゴンミラー）によ
って偏向走査された後、ｆ・θレンズ等から構成される
結像レンズによってドラム状の感光体の帯電した表面に
画像を結像する。この際、レーザービームは画像信号に
基いて変調されて点灯、消灯を繰り返し、ポリゴンミラ
ーの回転に従って主走査方向に反復して走査されると同
時に、感光体が矢印Ａで示す方向に回転して副走査を行
なうことによって感光体上に静電潜像を形成する。形成
された静電潜像は帯電した現像剤（トナー）によって現
像され、さらに現像剤とは反対の電荷を与えられた転写
紙等の転写材が感光体に密着させられることで現像剤が
転写材に転写される。転写材が感光体から分離した後
は、加熱されることにより現像剤が転写材上に融着して
定着が行われる。
し図８を参照して説明する。図２は本実施形態に係る画
像形成装置のＬＤを用いた画像書込のための構成を（画
像書き込みユニット４及び感光体）を概略的に示す図で
ある。同図に示すように、この画像形成装置では、ＬＤ
から射出されたレーザービームがレーザーダイオード・
ユニット（ＬＤＵ）内部のコリメートレンズによって平
行光線となり、回転多面鏡（以下ポリゴンミラー）によ
って偏向走査された後、ｆ・θレンズ等から構成される
結像レンズによってドラム状の感光体の帯電した表面に
画像を結像する。この際、レーザービームは画像信号に
基いて変調されて点灯、消灯を繰り返し、ポリゴンミラ
ーの回転に従って主走査方向に反復して走査されると同
時に、感光体が矢印Ａで示す方向に回転して副走査を行
なうことによって感光体上に静電潜像を形成する。形成
された静電潜像は帯電した現像剤（トナー）によって現
像され、さらに現像剤とは反対の電荷を与えられた転写
紙等の転写材が感光体に密着させられることで現像剤が
転写材に転写される。転写材が感光体から分離した後
は、加熱されることにより現像剤が転写材上に融着して
定着が行われる。
【００２８】ここで、感光体上の走査領域外に配置され
た受光素子はレーザービームを検知し、ＬＤ制御部は、
受光素子によって得られた検知信号を基に、画像が感光
体上に書き込まれる期間である有効走査期間を割り出し
ている。
た受光素子はレーザービームを検知し、ＬＤ制御部は、
受光素子によって得られた検知信号を基に、画像が感光
体上に書き込まれる期間である有効走査期間を割り出し
ている。
【００２９】図３は第１の実施形態に係る書き込み制御
部の回路構成を示すブロック図である。同図において、
１１は画像処理部（以下ＩＰＵ）、１２はパルス幅変調
（以下ＰＷＭ）部、１３はＬＤドライバ、１４は中央演
算処理装置（以下ＣＰＵ）、１５はＡ／Ｄコンバータ、
１６は図２のＬＤＵに組み込まれているＬＤパッケー
ジ、１７はメモリ、ＨＤＤ等の記憶装置、１８は操作・
表示部、１９は電流−電圧変換回路である。同図におい
て、ＣＰＵ１４は画像形成装置（複写機、レーザープリ
ンタ等）全体を制御しており、ＩＰＵ１１は画像データ
を電気的に処理し、ＰＷＭ部１２，ＬＤドライバ１３等
で構成される書き込み部にパラレルで画素クロックと画
像データ（図中一括してＤＡＴＡとして示してある）な
らびに制御信号を送信している。書き込み部に送信され
た画像データはＰＷＭ部１２によって変調され、ＬＤド
ライバ１３に送信される。ＬＤドライバ１３は送信され
た信号をもとにＬＤを駆動している。
部の回路構成を示すブロック図である。同図において、
１１は画像処理部（以下ＩＰＵ）、１２はパルス幅変調
（以下ＰＷＭ）部、１３はＬＤドライバ、１４は中央演
算処理装置（以下ＣＰＵ）、１５はＡ／Ｄコンバータ、
１６は図２のＬＤＵに組み込まれているＬＤパッケー
ジ、１７はメモリ、ＨＤＤ等の記憶装置、１８は操作・
表示部、１９は電流−電圧変換回路である。同図におい
て、ＣＰＵ１４は画像形成装置（複写機、レーザープリ
ンタ等）全体を制御しており、ＩＰＵ１１は画像データ
を電気的に処理し、ＰＷＭ部１２，ＬＤドライバ１３等
で構成される書き込み部にパラレルで画素クロックと画
像データ（図中一括してＤＡＴＡとして示してある）な
らびに制御信号を送信している。書き込み部に送信され
た画像データはＰＷＭ部１２によって変調され、ＬＤド
ライバ１３に送信される。ＬＤドライバ１３は送信され
た信号をもとにＬＤを駆動している。
【００３０】LDの制御は、その有効走査期間外にＡＰＣ
制御用にＬＤを点灯し、サンプル＆ホールド信号（Ｓ／
Ｈ信号）をサンプル状態にすることで、ＬＤパッケージ
１６に内蔵されたフォトダイオード（ＰＤ）で発生する
モニター電流をＡＰＣ回路内蔵のＬＤドライバ１３にフ
ィードバックしてＡＰＣを行ない、有効走査期間内にお
いてはＳ／Ｈ信号をホールド状態にしてドライバの出力
電流を一定値に固定するよう行っている。
制御用にＬＤを点灯し、サンプル＆ホールド信号（Ｓ／
Ｈ信号）をサンプル状態にすることで、ＬＤパッケージ
１６に内蔵されたフォトダイオード（ＰＤ）で発生する
モニター電流をＡＰＣ回路内蔵のＬＤドライバ１３にフ
ィードバックしてＡＰＣを行ない、有効走査期間内にお
いてはＳ／Ｈ信号をホールド状態にしてドライバの出力
電流を一定値に固定するよう行っている。
【００３１】図４は、図３に示すＬＤドライバ１３に内
蔵されたＡＰＣ回路の回路ブロック図である。同図にお
いて、ＡＰＣ回路の動作を説明すると、ＡＰＣ動作時に
ＬＤ制御装置である画像処理部１１から制御信号として
ＬＤ点灯信号とそれに続くサンプル信号が送出される。
ＬＤ点灯信号は図４のスイッチ回路３４をＯＮに切り替
えるとともに、サンプル信号はＳ／ＨスイッチをＯＮに
切り替える。すると、ホールド・コンデンサ２０の電圧
値に基いた電流が電流発生回路からスイッチ回路３４を
介してＬＤに流れ込んでＬＤが発光し、ＬＤの光強度に
比例した電流がＰＤに流れ込む。そして、Ｉ／Ｖ変換回
路３３においてＰＤを流れる電流値が電圧値に変換され
る。その変換後の電圧と基準電圧がコンパレータ３１に
よって比較され、その結果に基いてホールドコンデンサ
２０が充電もしくは放電され、電圧値が変化すること
で、電流発生回路の出力電流がコントロールされＬＤ光
量が一定に制御される。そして画像書込み時には、Ｓ／
Ｈ信号がホールド信号に変って、Ｓ／ＨスイッチがＯＦ
Ｆに切り替わる。その結果ホールドコンデンサ２０の値
が一定値に固定されるため、電流発生回路３２からＬＤ
に流れる電流は一定値に固定される。そしてＰＷＭ部１
２から送出される画像データ信号に基いて、ＬＤドライ
バ１３内部のＬＤ変調用スイッチ回路３４が切り替わ
り、ＬＤ光源を変調して感光体に画像の書き込みが行わ
れる。
蔵されたＡＰＣ回路の回路ブロック図である。同図にお
いて、ＡＰＣ回路の動作を説明すると、ＡＰＣ動作時に
ＬＤ制御装置である画像処理部１１から制御信号として
ＬＤ点灯信号とそれに続くサンプル信号が送出される。
ＬＤ点灯信号は図４のスイッチ回路３４をＯＮに切り替
えるとともに、サンプル信号はＳ／ＨスイッチをＯＮに
切り替える。すると、ホールド・コンデンサ２０の電圧
値に基いた電流が電流発生回路からスイッチ回路３４を
介してＬＤに流れ込んでＬＤが発光し、ＬＤの光強度に
比例した電流がＰＤに流れ込む。そして、Ｉ／Ｖ変換回
路３３においてＰＤを流れる電流値が電圧値に変換され
る。その変換後の電圧と基準電圧がコンパレータ３１に
よって比較され、その結果に基いてホールドコンデンサ
２０が充電もしくは放電され、電圧値が変化すること
で、電流発生回路の出力電流がコントロールされＬＤ光
量が一定に制御される。そして画像書込み時には、Ｓ／
Ｈ信号がホールド信号に変って、Ｓ／ＨスイッチがＯＦ
Ｆに切り替わる。その結果ホールドコンデンサ２０の値
が一定値に固定されるため、電流発生回路３２からＬＤ
に流れる電流は一定値に固定される。そしてＰＷＭ部１
２から送出される画像データ信号に基いて、ＬＤドライ
バ１３内部のＬＤ変調用スイッチ回路３４が切り替わ
り、ＬＤ光源を変調して感光体に画像の書き込みが行わ
れる。
【００３２】ここで、この機械においては、予め設定し
た所定の時期に、図３に示すように、ＡＰＣ駆動中のＬ
Ｄドライバ１３から出力される電流をモニターして、デ
ジタル値に変換し、その値を機械内部の記憶装置１７に
記憶するものである。出力電流をモニターする時期とし
て、例えば機械起動時をモニター時期として設定する。
た所定の時期に、図３に示すように、ＡＰＣ駆動中のＬ
Ｄドライバ１３から出力される電流をモニターして、デ
ジタル値に変換し、その値を機械内部の記憶装置１７に
記憶するものである。出力電流をモニターする時期とし
て、例えば機械起動時をモニター時期として設定する。
【００３３】図５は、ＬＤドライバ１３の出力電流のモ
ニター回路を示す図である。同図において、ＬＤドライ
バ１３から出力された電流は、電流−電圧変換回路１９
によって電位差に変換される。この電位差をＣＰＵ１４
から送信された読み出し信号に基づいてＡＤコンバータ
１５によってシリアルのデジタル値に変換することによ
り、ＣＰＵ１４で値を読みだすことが可能となる。
ニター回路を示す図である。同図において、ＬＤドライ
バ１３から出力された電流は、電流−電圧変換回路１９
によって電位差に変換される。この電位差をＣＰＵ１４
から送信された読み出し信号に基づいてＡＤコンバータ
１５によってシリアルのデジタル値に変換することによ
り、ＣＰＵ１４で値を読みだすことが可能となる。
【００３４】図３においてＣＰＵ１４によって読み出さ
れたＬＤ駆動電流量データは、機械内部の記憶装置１７
に記憶された以前の電流値情報に基づいて、図６のフロ
ーチャートに示す処理が行われる。
れたＬＤ駆動電流量データは、機械内部の記憶装置１７
に記憶された以前の電流値情報に基づいて、図６のフロ
ーチャートに示す処理が行われる。
【００３５】即ち、電流値Ｉを測定し、その測定値を読
み出し（S101）、前回測定時と現在の測定電流値をそれ
ぞれＩｎ−１，Ｉｎとして、電流増加量ΔＩｎ＝Ｉｎ−
Ｉｎ −Ｉを計算する（S102）、続いて、機械内部の記憶
装置１７に記憶されたＬＤ劣化判定用データである上限
電流増加量ΔＩｎmaxを読み出し(S103)、ＬＤ劣化判定
用データΔＩｎmaxとの比較を行なう。つまり電流増加
量ΔＩｎ＜上限電流増加量ΔＩｎmaxかどうか判定し（S
104）、YesであればＬＤに致命的な劣化が迫っていない
として、そのまま測定された電流値Iｎを機械内部の記
憶装置１７に記憶し（S105）、通常動作に移行する。他
方、Noであれば（S104、N）、ＬＤに致命的な劣化が迫
っていると判断して電流値Ｉｎ（Ｔ）を記憶装置１７に
記憶して（S106）、ＣＰＵ１４から、機械の操作・表示
部１８等の外部インターフェイスに対してＬＤ劣化が迫
っている旨を表示する指令を出す（S107）。以上のよう
に機械内部の記憶装置１７に測定された電流値Iｎが記
憶されたことにより、後述する理由によってＬＤの劣化
傾向の判定を行なうことができる。
み出し（S101）、前回測定時と現在の測定電流値をそれ
ぞれＩｎ−１，Ｉｎとして、電流増加量ΔＩｎ＝Ｉｎ−
Ｉｎ −Ｉを計算する（S102）、続いて、機械内部の記憶
装置１７に記憶されたＬＤ劣化判定用データである上限
電流増加量ΔＩｎmaxを読み出し(S103)、ＬＤ劣化判定
用データΔＩｎmaxとの比較を行なう。つまり電流増加
量ΔＩｎ＜上限電流増加量ΔＩｎmaxかどうか判定し（S
104）、YesであればＬＤに致命的な劣化が迫っていない
として、そのまま測定された電流値Iｎを機械内部の記
憶装置１７に記憶し（S105）、通常動作に移行する。他
方、Noであれば（S104、N）、ＬＤに致命的な劣化が迫
っていると判断して電流値Ｉｎ（Ｔ）を記憶装置１７に
記憶して（S106）、ＣＰＵ１４から、機械の操作・表示
部１８等の外部インターフェイスに対してＬＤ劣化が迫
っている旨を表示する指令を出す（S107）。以上のよう
に機械内部の記憶装置１７に測定された電流値Iｎが記
憶されたことにより、後述する理由によってＬＤの劣化
傾向の判定を行なうことができる。
【００３６】次に、図６のフローチャートに沿った処理
を行なうことでＬＤが致命的に劣化する傾向にあること
が判定できる理由を説明する。ＬＤの劣化は通電時の特
性劣化の様相からいくつかのパターンに分類できること
が知られている。たとえば、ＬＤ寿命の長短すなわちＬ
Ｄ劣化速度の違いから急速劣化や緩慢劣化と呼ばれる劣
化モードがあり、前者は高々数十時間、後者は数千時間
以上の動作寿命を支配している。また、その他に光学損
傷（ＣＯＤ）と呼ばれるモードがあり、このモードでは
光出力限界を超えて発光することで瞬時に劣化に到ると
いう様相を示す。これらのモードによる劣化の様子を図
７に示す。同図において、横軸はＬＤ動作時間、縦軸は
ＬＤ駆動電流を示している。
を行なうことでＬＤが致命的に劣化する傾向にあること
が判定できる理由を説明する。ＬＤの劣化は通電時の特
性劣化の様相からいくつかのパターンに分類できること
が知られている。たとえば、ＬＤ寿命の長短すなわちＬ
Ｄ劣化速度の違いから急速劣化や緩慢劣化と呼ばれる劣
化モードがあり、前者は高々数十時間、後者は数千時間
以上の動作寿命を支配している。また、その他に光学損
傷（ＣＯＤ）と呼ばれるモードがあり、このモードでは
光出力限界を超えて発光することで瞬時に劣化に到ると
いう様相を示す。これらのモードによる劣化の様子を図
７に示す。同図において、横軸はＬＤ動作時間、縦軸は
ＬＤ駆動電流を示している。
【００３７】ところで、ＬＤを機械に搭載して駆動する
場合、急速劣化モードに関しては、ＬＤを機械に搭載す
る前に予めＬＤに電流を印加してスクリーニングを施す
ことによって、急速劣化の様相を呈するＬＤを事前に選
別・除去することができる。また、光学損傷に関して
は、静電気や過電流が原因となって引き起こされるが、
ＬＤを一度機械に装着してしまえば、通常ＬＤは機械内
部に内蔵されているので静電気がＬＤに印加される可能
性は少ない。さらに過電流がＬＤに印加される可能性に
ついては、ＬＤ駆動部に電流制限を掛けるように設計す
ることで回避することが可能である。これに対し、緩慢
劣化に関しては、これを回避する決定的な方法はない。
そこで、本発明では緩慢劣化が進行して、致命的な劣化
に到る前に緩慢劣化が進行していることを通知または報
知するよう構成している。
場合、急速劣化モードに関しては、ＬＤを機械に搭載す
る前に予めＬＤに電流を印加してスクリーニングを施す
ことによって、急速劣化の様相を呈するＬＤを事前に選
別・除去することができる。また、光学損傷に関して
は、静電気や過電流が原因となって引き起こされるが、
ＬＤを一度機械に装着してしまえば、通常ＬＤは機械内
部に内蔵されているので静電気がＬＤに印加される可能
性は少ない。さらに過電流がＬＤに印加される可能性に
ついては、ＬＤ駆動部に電流制限を掛けるように設計す
ることで回避することが可能である。これに対し、緩慢
劣化に関しては、これを回避する決定的な方法はない。
そこで、本発明では緩慢劣化が進行して、致命的な劣化
に到る前に緩慢劣化が進行していることを通知または報
知するよう構成している。
【００３８】図８は、ＬＤの光出力が一定なＡＰＣ駆動
下における劣化特性を示す図である。同図において、横
軸は経過時間、縦軸はＬＤ駆動電流量を示している。Ｌ
Ｄが劣化するとしきい値電流の増大や、微分効率の低下
によって、経時的にＬＤ駆動電流が増大していく。図８
に示すように、ＡＰＣ駆動下におけるＬＤの経時的な劣
化の領域は以下の３つの領域に分けられる。 領域１ 初期劣化の後、時間とともに劣化速度が低下す
る遷移領域 領域２ 劣化速度がほぼ一定かつ最小な定常領域 領域３ 電流増加に伴う温度上昇によって劣化が加速さ
れ、ついには致命的劣化に到る加速領域
下における劣化特性を示す図である。同図において、横
軸は経過時間、縦軸はＬＤ駆動電流量を示している。Ｌ
Ｄが劣化するとしきい値電流の増大や、微分効率の低下
によって、経時的にＬＤ駆動電流が増大していく。図８
に示すように、ＡＰＣ駆動下におけるＬＤの経時的な劣
化の領域は以下の３つの領域に分けられる。 領域１ 初期劣化の後、時間とともに劣化速度が低下す
る遷移領域 領域２ 劣化速度がほぼ一定かつ最小な定常領域 領域３ 電流増加に伴う温度上昇によって劣化が加速さ
れ、ついには致命的劣化に到る加速領域
【００３９】ここで、ＬＤがＡＰＣ駆動下において、領
域３の加速領域になると、次第に劣化速度、すなわちＬ
Ｄ駆動電流の増加量が大きくなっていくことが分かる。
つまり、ＬＤ駆動電流を経時的に測定して、その駆動電
流の増加速度を記憶していけば、ＬＤ劣化の末期になる
と駆動電流の増加速度が上昇していくことが読み取れ
る。そこで、ある一定値以上にＬＤ劣化速度が上昇した
場合にはＬＤが致命的劣化に到る加速領域に達したと考
えることができ、近々、ＬＤ劣化が起きることを予測す
る事が出来る。
域３の加速領域になると、次第に劣化速度、すなわちＬ
Ｄ駆動電流の増加量が大きくなっていくことが分かる。
つまり、ＬＤ駆動電流を経時的に測定して、その駆動電
流の増加速度を記憶していけば、ＬＤ劣化の末期になる
と駆動電流の増加速度が上昇していくことが読み取れ
る。そこで、ある一定値以上にＬＤ劣化速度が上昇した
場合にはＬＤが致命的劣化に到る加速領域に達したと考
えることができ、近々、ＬＤ劣化が起きることを予測す
る事が出来る。
【００４０】そこで第１の実施形態では、前述した図６
のフローチャートにおいて示したように、この機械では
一定期間ごとにＬＤの動作電流量をモニターし、その動
作電流値と過去に記憶装置１７に保存した動作電流値と
の差をとることで駆動電流の増加速度を算出し、その増
加速度が、同じく記憶装置１７に内蔵した基準値よりも
大きくなった時に、ＬＤが致命的劣化に到る加速領域に
達したとみなして、ＬＤ劣化の危険性があるという情報
を機械の外部に報告または報知するというものである。
のフローチャートにおいて示したように、この機械では
一定期間ごとにＬＤの動作電流量をモニターし、その動
作電流値と過去に記憶装置１７に保存した動作電流値と
の差をとることで駆動電流の増加速度を算出し、その増
加速度が、同じく記憶装置１７に内蔵した基準値よりも
大きくなった時に、ＬＤが致命的劣化に到る加速領域に
達したとみなして、ＬＤ劣化の危険性があるという情報
を機械の外部に報告または報知するというものである。
【００４１】次に、第２の実施形態を説明する。本実施
形態においても、第１の実施形態と同様にレーザービー
ムで画像書き込みを行う画像形成装置について説明し、
第１の実施形態と同様の箇所は説明を省略する。また光
学系および現像プロセスも第１の実施形態にて説明した
画像形成装置と全く同等であるので、第２の実施形態も
第１の実施形態にて説明した光学系および現像プロセス
と同等のものを使うものとして説明を省略する。また、
書き込み制御部の回路構成も第１の実施形態と基本的に
同等であるので説明を省略する。さらに、本実施形態も
第１の実施形態と同様にして、ＬＤドライバ１３から出
力される電流をモニターして、デジタル値に変換し、そ
の値を機械内部の記憶装置１７に記憶するものとする。
以上の点は、以下順に説明する他の実施形態においても
同様である。
形態においても、第１の実施形態と同様にレーザービー
ムで画像書き込みを行う画像形成装置について説明し、
第１の実施形態と同様の箇所は説明を省略する。また光
学系および現像プロセスも第１の実施形態にて説明した
画像形成装置と全く同等であるので、第２の実施形態も
第１の実施形態にて説明した光学系および現像プロセス
と同等のものを使うものとして説明を省略する。また、
書き込み制御部の回路構成も第１の実施形態と基本的に
同等であるので説明を省略する。さらに、本実施形態も
第１の実施形態と同様にして、ＬＤドライバ１３から出
力される電流をモニターして、デジタル値に変換し、そ
の値を機械内部の記憶装置１７に記憶するものとする。
以上の点は、以下順に説明する他の実施形態においても
同様である。
【００４２】第１の実施形態においては、ＬＤ動作電流
の電流量の経時的変化に着目してＬＤの劣化を検知した
が、この実施形態では電流変化の加速度に着目して、そ
れによってＬＤの劣化を予測するものである。
の電流量の経時的変化に着目してＬＤの劣化を検知した
が、この実施形態では電流変化の加速度に着目して、そ
れによってＬＤの劣化を予測するものである。
【００４３】図９は第２の実施形態によるＬＤの劣化判
断及び通知のための処理フローを示している。処理の開
始に際して、まず、現在のＬＤの電流値Iｎ測定し、そ
の測定値を読み出し（S201）、次に、前回測定時および
前々回の測定時電流値をそれぞれIｎ, Iｎ−１、I
ｎ−２として、電流増加の加速度Δ２IｎをΔ２Iｎ =
(Iｎ − Iｎ −１) − (I ｎ−１− Iｎ−２)= Iｎ−１
− 2Iｎ−１ + Iｎ−２によって計算する（S202）。同
様に機械内部のメモリもしくはハードディスクに記憶さ
れたＬＤ劣化判定用データである上限電流増加加速度Δ
２Iｎ maxを読み出し（S203）、それと比較する。つま
りΔ２Iｎ、＜Δ２Iｎ maxか否かを判定し（S204）、Ye
sつまりＬＤに致命的な劣化が迫っていないと判定され
る場合は（S204、Y）、電流値In（T）を記憶装置１７に
記憶し（205）、そのまま通常動作に移行する。Noつま
りＬＤに致命的な劣化が迫っていると予測される場合は
（S204、N）、電流値Ｉｎを記憶装置１７に記憶し（S20
6）、ＣＰＵ１４から、機械の操作・表示部１８等の外
部インターフェイスに対して、ＬＤ劣化が迫っている旨
を表示する指令を出す（S207）。
断及び通知のための処理フローを示している。処理の開
始に際して、まず、現在のＬＤの電流値Iｎ測定し、そ
の測定値を読み出し（S201）、次に、前回測定時および
前々回の測定時電流値をそれぞれIｎ, Iｎ−１、I
ｎ−２として、電流増加の加速度Δ２IｎをΔ２Iｎ =
(Iｎ − Iｎ −１) − (I ｎ−１− Iｎ−２)= Iｎ−１
− 2Iｎ−１ + Iｎ−２によって計算する（S202）。同
様に機械内部のメモリもしくはハードディスクに記憶さ
れたＬＤ劣化判定用データである上限電流増加加速度Δ
２Iｎ maxを読み出し（S203）、それと比較する。つま
りΔ２Iｎ、＜Δ２Iｎ maxか否かを判定し（S204）、Ye
sつまりＬＤに致命的な劣化が迫っていないと判定され
る場合は（S204、Y）、電流値In（T）を記憶装置１７に
記憶し（205）、そのまま通常動作に移行する。Noつま
りＬＤに致命的な劣化が迫っていると予測される場合は
（S204、N）、電流値Ｉｎを記憶装置１７に記憶し（S20
6）、ＣＰＵ１４から、機械の操作・表示部１８等の外
部インターフェイスに対して、ＬＤ劣化が迫っている旨
を表示する指令を出す（S207）。
【００４４】この場合も第１の実施形態に関連して既に
述べた理由によりＬＤの劣化傾向の判定を行なうことが
できる。つまり、ＬＤ駆動電流を経時的に測定して、そ
の駆動電流の増加速度を記憶していけば、ＬＤ変化の末
期になると駆動電流の増加速度が上昇していくことが読
み取れるはずである。そこで、ＬＤ劣化の加速度つま
り、ＬＤ駆動電流増加量の加速度を算出し、それがある
一定値以上になった場合にはＬＤが致命的劣化に至る加
速領域に達したとみることができ、近いうちにＬＤの劣
化が起きることを予測することができる。
述べた理由によりＬＤの劣化傾向の判定を行なうことが
できる。つまり、ＬＤ駆動電流を経時的に測定して、そ
の駆動電流の増加速度を記憶していけば、ＬＤ変化の末
期になると駆動電流の増加速度が上昇していくことが読
み取れるはずである。そこで、ＬＤ劣化の加速度つま
り、ＬＤ駆動電流増加量の加速度を算出し、それがある
一定値以上になった場合にはＬＤが致命的劣化に至る加
速領域に達したとみることができ、近いうちにＬＤの劣
化が起きることを予測することができる。
【００４５】図９のフローチャートで示したように、こ
の機械では一定時間ごとにＬＤの動作電流量をモニター
し、過去に記憶装置１７に保存した動作電流値を基に前
述の計算を行うことで、駆動電流増加量の加速度を算出
し、その加速度が同じく記憶装置１７に内蔵した基準値
よりも大きくなったときに、ＬＤが致命的劣化に至る加
速領域に達したとみなして、ＬＤ劣化の危険性があると
いう情報を機械の外部に報告又は報知するというもので
ある。
の機械では一定時間ごとにＬＤの動作電流量をモニター
し、過去に記憶装置１７に保存した動作電流値を基に前
述の計算を行うことで、駆動電流増加量の加速度を算出
し、その加速度が同じく記憶装置１７に内蔵した基準値
よりも大きくなったときに、ＬＤが致命的劣化に至る加
速領域に達したとみなして、ＬＤ劣化の危険性があると
いう情報を機械の外部に報告又は報知するというもので
ある。
【００４６】次に本発明の第３の実施形態を図１０ない
し図１１を参照して説明するＬＤの駆動電流は温度の影
響を受けるため、電流値の比較は温度補正を行った方が
より正確であり、それによってより正確なＬＤ劣化の監
視ができる。そこで、本実施形態はこの点に着目しての
である。
し図１１を参照して説明するＬＤの駆動電流は温度の影
響を受けるため、電流値の比較は温度補正を行った方が
より正確であり、それによってより正確なＬＤ劣化の監
視ができる。そこで、本実施形態はこの点に着目しての
である。
【００４７】図１０は本実施形態に係る書き込み制御部
の回路構成を示すブロック図である。同図に示すよう
に、ＬＤドライバ１３の電流をモニターすると同時に、
熱電対などの温度計測手段２１を用いてＬＤの温度測定
を行ない、これをＡＤコンバータ２２によってデジタル
値に変換して、ＣＰＵ１４で読み出しを行なう。ＣＰＵ
１４によって読み出されたＬＤ駆動電流量データおよび
温度データは、機械内部の記憶装置１７に記憶された以
前の電流値情報に基づいて、図１１のフローチャートに
示すように処理される。
の回路構成を示すブロック図である。同図に示すよう
に、ＬＤドライバ１３の電流をモニターすると同時に、
熱電対などの温度計測手段２１を用いてＬＤの温度測定
を行ない、これをＡＤコンバータ２２によってデジタル
値に変換して、ＣＰＵ１４で読み出しを行なう。ＣＰＵ
１４によって読み出されたＬＤ駆動電流量データおよび
温度データは、機械内部の記憶装置１７に記憶された以
前の電流値情報に基づいて、図１１のフローチャートに
示すように処理される。
【００４８】即ち、まず、現在のＬＤ測定電流値を
Ｉｎ、現在の測定温度をＴｎ、かつ予め測定した温度Ｔ
におけるＬＤの初期しきい値電流をIth0として、電流値
Iｎ及び温度Ｔｎを測定し、測定値を読み出す(S301)。
次に、ハードディスク等のメモリーから温度Ｔにおける
初期しきい値電流Itho、温度Ｔ、ＬＤの特性温度Ｔ０の
読み出しを行う（S302）、次に温度TでのＬＤ駆動電流I
ｎ(T)を推測する（S303）。ここで、現状のＬＤの温度
Ｔにおける推定駆動電流値Ｉｎ（Ｔ）は後述するよう
に、 Ｉｎ（Ｔ）＝Ｉｎ−Ｉth0（ｅｘｐ（Ｔｎ−Ｔ）／Ｔ０−１） 式１ で示す演算を実行することで推測することができる。
Ｉｎ、現在の測定温度をＴｎ、かつ予め測定した温度Ｔ
におけるＬＤの初期しきい値電流をIth0として、電流値
Iｎ及び温度Ｔｎを測定し、測定値を読み出す(S301)。
次に、ハードディスク等のメモリーから温度Ｔにおける
初期しきい値電流Itho、温度Ｔ、ＬＤの特性温度Ｔ０の
読み出しを行う（S302）、次に温度TでのＬＤ駆動電流I
ｎ(T)を推測する（S303）。ここで、現状のＬＤの温度
Ｔにおける推定駆動電流値Ｉｎ（Ｔ）は後述するよう
に、 Ｉｎ（Ｔ）＝Ｉｎ−Ｉth0（ｅｘｐ（Ｔｎ−Ｔ）／Ｔ０−１） 式１ で示す演算を実行することで推測することができる。
【００４９】そして、現在のＬＤの温度Ｔにおける推定
電流値をＩｎ（Ｔ）、記憶装置１７から前回の温度Ｔで
の推測駆動電流値Iｎ−１(T)を読み出し（S304）、第１
の実施形態と同様に、温度Ｔにおける電流増加率ΔＩｎ
（Ｔ）＝Ｉｎ（Ｔ）−Ｉｎ− １（Ｔ）を計算して（S30
5）、同じく機械内部の記憶装置１７に記憶されたＬＤ
劣化判定用データΔＩｎｍａｘ（Ｔ）を読み出し（S30
6）、それと比較を行う、つまり電流増加率ΔＩ
ｎ（Ｔ）＜ΔＩｎｍａｘ（Ｔ）か否か判定し（S307）、
YesであればＬＤに致命的な劣化が迫っていないと判定
し（307、Y）、そのときの電流値Ｉｎ（Ｔ）を記憶装置
１７に記憶して（S308）そのまま通常動作に移行する。
NoであればＬＤに致命的な劣化が迫っていると判定し
（S307、N）、電流値Ｉｎ（Ｔ）を記憶装置１７に記憶
して（S309、）、ＣＰＵ１４から、機械の操作・表示部
１８等の外部インターフェイスに対して、ＬＤ劣化が迫
っている旨を表示する指令を出す（S310）。
電流値をＩｎ（Ｔ）、記憶装置１７から前回の温度Ｔで
の推測駆動電流値Iｎ−１(T)を読み出し（S304）、第１
の実施形態と同様に、温度Ｔにおける電流増加率ΔＩｎ
（Ｔ）＝Ｉｎ（Ｔ）−Ｉｎ− １（Ｔ）を計算して（S30
5）、同じく機械内部の記憶装置１７に記憶されたＬＤ
劣化判定用データΔＩｎｍａｘ（Ｔ）を読み出し（S30
6）、それと比較を行う、つまり電流増加率ΔＩ
ｎ（Ｔ）＜ΔＩｎｍａｘ（Ｔ）か否か判定し（S307）、
YesであればＬＤに致命的な劣化が迫っていないと判定
し（307、Y）、そのときの電流値Ｉｎ（Ｔ）を記憶装置
１７に記憶して（S308）そのまま通常動作に移行する。
NoであればＬＤに致命的な劣化が迫っていると判定し
（S307、N）、電流値Ｉｎ（Ｔ）を記憶装置１７に記憶
して（S309、）、ＣＰＵ１４から、機械の操作・表示部
１８等の外部インターフェイスに対して、ＬＤ劣化が迫
っている旨を表示する指令を出す（S310）。
【００５０】続いて、第４の実施形態について図１２を
参考にして説明する。この実施形態は第３の実施形態と
同様にＬＤ動作電流の温度による変動を補正して正確に
ＬＤの劣化を監視できるようにしたものであって、第３
実勢形態と異なる点は、その電流増加率に代えて電流増
加の加速度を指標にしてＬＤの劣化を判定することであ
る。即ち、第４実施形態では、まず、現在のＬＤ測定電
流値をＩｎ、現在の測定温度をＴｎ、及び予め測定した
温度ＴにおけるＬＤの初期しきい値電流をIth0として、
まず、電流値Iｎ及び温度Ｔｎを測定し、測定値を読み
出す(S401)。次に、記憶装置１７から温度Ｔにおける初
期しきい値電流Ith0、温度Ｔ、ＬＤの特性温度Ｔ０の読
み出しを行う（S402）、次に温度TでのＬＤ駆動電流Iｎ
(T)を推測する（S403）。ここで、現状のＬＤの温度Ｔ
における推定駆動電流値をＩｎ（Ｔ）は、 Ｉｎ（Ｔ）＝Ｉｎ−Ｉth0（ｅｘｐ（Ｔｎ−Ｔ）／Ｔ０−１） 式１ で示す演算を実行することで推測する。
参考にして説明する。この実施形態は第３の実施形態と
同様にＬＤ動作電流の温度による変動を補正して正確に
ＬＤの劣化を監視できるようにしたものであって、第３
実勢形態と異なる点は、その電流増加率に代えて電流増
加の加速度を指標にしてＬＤの劣化を判定することであ
る。即ち、第４実施形態では、まず、現在のＬＤ測定電
流値をＩｎ、現在の測定温度をＴｎ、及び予め測定した
温度ＴにおけるＬＤの初期しきい値電流をIth0として、
まず、電流値Iｎ及び温度Ｔｎを測定し、測定値を読み
出す(S401)。次に、記憶装置１７から温度Ｔにおける初
期しきい値電流Ith0、温度Ｔ、ＬＤの特性温度Ｔ０の読
み出しを行う（S402）、次に温度TでのＬＤ駆動電流Iｎ
(T)を推測する（S403）。ここで、現状のＬＤの温度Ｔ
における推定駆動電流値をＩｎ（Ｔ）は、 Ｉｎ（Ｔ）＝Ｉｎ−Ｉth0（ｅｘｐ（Ｔｎ−Ｔ）／Ｔ０−１） 式１ で示す演算を実行することで推測する。
【００５１】そして、現在のＬＤの温度Ｔにおける推定
電流値をＩｎ（Ｔ）とし、記憶装置１７から前回の温度
Ｔでの推測駆動電流値Iｎ−１(T)を読み出し（S404）、
ここで前記第２の実施形態と同様に、前回測定時および
前々回の測定時電流値をそれぞれIｎ , Iｎ−１, I
ｎ−２として、電流増加の加速度Δ２Iｎ(Ｔ）をΔ２I
ｎ= (Iｎ(Ｔ） − Iｎ−１(Ｔ）) − (Iｎ−１(Ｔ）−
Iｎ−２(Ｔ）)= Iｎ−１(Ｔ）− 2Iｎ−１(Ｔ） + I
ｎ−２(Ｔ）によって計算し（S405）、同じく機械内部
の記憶装置１７に記憶されたＬＤ劣化判定用データであ
る上限電流増加加速度Δ２Iｎ maxを読み出し（S40
6）、それと比較を行なう。つまりΔ２Iｎ(Ｔ）＜Δ２I
ｎ max(Ｔ）か否かを判定し（S407）、YesであればＬＤ
に致命的な劣化が迫っていないと判定し（S407、Y）、
電流値In（T）を記憶装置１７に記憶し（408）、そのま
ま通常動作に移行する。NoであればＬＤに致命的な劣化
が迫っていると判定し（S407、Ｎ）、電流値Ｉｎ（Ｔ）
を記憶装置１７に記憶し（S409）、ＣＰＵ１４から、機
械の操作・表示部１８等の外部インターフェイスに対し
て、ＬＤ劣化が迫っている旨を表示する指令を出す（S4
10）。
電流値をＩｎ（Ｔ）とし、記憶装置１７から前回の温度
Ｔでの推測駆動電流値Iｎ−１(T)を読み出し（S404）、
ここで前記第２の実施形態と同様に、前回測定時および
前々回の測定時電流値をそれぞれIｎ , Iｎ−１, I
ｎ−２として、電流増加の加速度Δ２Iｎ(Ｔ）をΔ２I
ｎ= (Iｎ(Ｔ） − Iｎ−１(Ｔ）) − (Iｎ−１(Ｔ）−
Iｎ−２(Ｔ）)= Iｎ−１(Ｔ）− 2Iｎ−１(Ｔ） + I
ｎ−２(Ｔ）によって計算し（S405）、同じく機械内部
の記憶装置１７に記憶されたＬＤ劣化判定用データであ
る上限電流増加加速度Δ２Iｎ maxを読み出し（S40
6）、それと比較を行なう。つまりΔ２Iｎ(Ｔ）＜Δ２I
ｎ max(Ｔ）か否かを判定し（S407）、YesであればＬＤ
に致命的な劣化が迫っていないと判定し（S407、Y）、
電流値In（T）を記憶装置１７に記憶し（408）、そのま
ま通常動作に移行する。NoであればＬＤに致命的な劣化
が迫っていると判定し（S407、Ｎ）、電流値Ｉｎ（Ｔ）
を記憶装置１７に記憶し（S409）、ＣＰＵ１４から、機
械の操作・表示部１８等の外部インターフェイスに対し
て、ＬＤ劣化が迫っている旨を表示する指令を出す（S4
10）。
【００５２】ここで、図１１、１２のフローチャート中
の演算式によって温度Ｔの時の電流値が推測できる理由
を以下に説明する。なお、ここで温度を考慮した演算以
外は第１の実施形態の場合と同様であるので説明は省略
する。図１３は、ＬＤの電流・光出力特性を示す図であ
る。同図において、横軸はＬＤへの注入電流量、縦軸は
ＬＤの発光量を示しており、ＬＤに電流を注入した場
合、しきい値電流と呼ばれる電流値ＩthまではＬＤ発光
を起こさず、Ｉthを超えると微分効率と呼ばれるηの傾
きを持って直線的に発光量が増大していくという性質を
もっている。
の演算式によって温度Ｔの時の電流値が推測できる理由
を以下に説明する。なお、ここで温度を考慮した演算以
外は第１の実施形態の場合と同様であるので説明は省略
する。図１３は、ＬＤの電流・光出力特性を示す図であ
る。同図において、横軸はＬＤへの注入電流量、縦軸は
ＬＤの発光量を示しており、ＬＤに電流を注入した場
合、しきい値電流と呼ばれる電流値ＩthまではＬＤ発光
を起こさず、Ｉthを超えると微分効率と呼ばれるηの傾
きを持って直線的に発光量が増大していくという性質を
もっている。
【００５３】また、図１３に示すようにＬＤはそれが置
かれたところの温度によってしきい値電流Ｉthが変化す
るという性質を持っている。さらにこのしきい値電流Ｉ
thは次に示す式２に従って変化することが知られてい
る。 ＩthＢ＝ＩthＡｅｘｐ（ΔＴ／Ｔ０） ・・・ 式２ ただし、ここで ΔＴ：ＬＤ活性領域の温度変化量 Ｔ０：ＬＤの特性温度 ＩthＢ：温度上昇後のしきい値電流 ＩthＡ：温度上昇前のしきい値電流 である。この式２から、温度がΔＴだけ増加した時のし
きい値電流増加量ΔＩthはΔＩth＝ＩthＢ−ＩthＡを用
いて ΔＩth＝ＩthＡ（ｅｘｐ（ΔＴ／Ｔ０）−１） ・・・ 式３ であることがわかる。このため、ＬＤが置かれたところ
の温度をＴ、その時のしきい値電流をＩth（Ｔ）とした
時に、ＬＤを温度Ｔｎに変化させた場合のしきい値電流
増加量ΔＩthは ΔＩth＝Ｉth（Ｔｎ）−Ｉth（Ｔ） であり、式３を用いて ΔＩth＝Ｉth（Ｔ）×（ｅｘｐ（Ｔｎ−Ｔ）／Ｔ０−１） ・・・ 式４ を導くことができる。
かれたところの温度によってしきい値電流Ｉthが変化す
るという性質を持っている。さらにこのしきい値電流Ｉ
thは次に示す式２に従って変化することが知られてい
る。 ＩthＢ＝ＩthＡｅｘｐ（ΔＴ／Ｔ０） ・・・ 式２ ただし、ここで ΔＴ：ＬＤ活性領域の温度変化量 Ｔ０：ＬＤの特性温度 ＩthＢ：温度上昇後のしきい値電流 ＩthＡ：温度上昇前のしきい値電流 である。この式２から、温度がΔＴだけ増加した時のし
きい値電流増加量ΔＩthはΔＩth＝ＩthＢ−ＩthＡを用
いて ΔＩth＝ＩthＡ（ｅｘｐ（ΔＴ／Ｔ０）−１） ・・・ 式３ であることがわかる。このため、ＬＤが置かれたところ
の温度をＴ、その時のしきい値電流をＩth（Ｔ）とした
時に、ＬＤを温度Ｔｎに変化させた場合のしきい値電流
増加量ΔＩthは ΔＩth＝Ｉth（Ｔｎ）−Ｉth（Ｔ） であり、式３を用いて ΔＩth＝Ｉth（Ｔ）×（ｅｘｐ（Ｔｎ−Ｔ）／Ｔ０−１） ・・・ 式４ を導くことができる。
【００５４】なお、ここで、ηが温度依存性を持たない
と仮定すれば、温度をＴからＴｎに変えた時のＬＤ駆動
電流増加量ΔＩは、しきい値電流増加量ΔＩthに等しい
と考えることができる。つまりＬＤの置かれたところの
温度がＴからＴｎに変化した場合、その時の電流量Ｉ
（Ｔｎ）は Ｉ（Ｔｎ）＝Ｉ（Ｔ）＋ΔＩth であるので式４とあわせて Ｉ（Ｔ）＝Ｉ（Ｔｎ）−Ｉth（Ｔ）×（ｅｘｐ（Ｔｎ−Ｔ）／Ｔ０−１） ・・・ 式５ を導くことができる。ここでさらに、ＬＤに全く劣化が
発生しておらず、しきい値電流が初期状態と変わらない
と考えれば、前述したように温度Ｔでの初期しきい値電
流をＩth０として、 Ｉ（Ｔ）＝Ｉ（Ｔｎ）−Ｉth0×（ｅｘｐ（Ｔｎ−Ｔ）／Ｔ０−１）・・・式 ６ となる。実際に測定を行なった現在の電流値をＩ
（Ｔｎ）とすれば、その時点のＬＤを温度Ｔの環境下に
おいた時のＬＤ駆動電流量Ｉｎ（Ｔ）は Ｉｎ（Ｔ）＝Ｉｎ−Ｉth0（ｅｘｐ（Ｔｎ−Ｔ）／Ｔ０
−１） によって計算することができる。これは式１に他ならな
い。
と仮定すれば、温度をＴからＴｎに変えた時のＬＤ駆動
電流増加量ΔＩは、しきい値電流増加量ΔＩthに等しい
と考えることができる。つまりＬＤの置かれたところの
温度がＴからＴｎに変化した場合、その時の電流量Ｉ
（Ｔｎ）は Ｉ（Ｔｎ）＝Ｉ（Ｔ）＋ΔＩth であるので式４とあわせて Ｉ（Ｔ）＝Ｉ（Ｔｎ）−Ｉth（Ｔ）×（ｅｘｐ（Ｔｎ−Ｔ）／Ｔ０−１） ・・・ 式５ を導くことができる。ここでさらに、ＬＤに全く劣化が
発生しておらず、しきい値電流が初期状態と変わらない
と考えれば、前述したように温度Ｔでの初期しきい値電
流をＩth０として、 Ｉ（Ｔ）＝Ｉ（Ｔｎ）−Ｉth0×（ｅｘｐ（Ｔｎ−Ｔ）／Ｔ０−１）・・・式 ６ となる。実際に測定を行なった現在の電流値をＩ
（Ｔｎ）とすれば、その時点のＬＤを温度Ｔの環境下に
おいた時のＬＤ駆動電流量Ｉｎ（Ｔ）は Ｉｎ（Ｔ）＝Ｉｎ−Ｉth0（ｅｘｐ（Ｔｎ−Ｔ）／Ｔ０
−１） によって計算することができる。これは式１に他ならな
い。
【００５５】次に、本発明の第５の実施形態を説明す
る。本実施形態は、第１の実施形態と同様にＬＤドライ
バ１３から出力される電流をモニターして、デジタル値
に変換し、その値を機械内部の記憶装置１７に記憶して
いるが、ＬＤが劣化していると判定した時に機械を停止
するという点で第１の実施形態と異なる。
る。本実施形態は、第１の実施形態と同様にＬＤドライ
バ１３から出力される電流をモニターして、デジタル値
に変換し、その値を機械内部の記憶装置１７に記憶して
いるが、ＬＤが劣化していると判定した時に機械を停止
するという点で第１の実施形態と異なる。
【００５６】図１４はその処理を説明するためのフロー
チャートである。即ち、ＬＤ動作電流値Ｉを測定し、そ
の測定値を読み出し（S501）、前回測定時と現在の測定
電流値をそれぞれＩｎ−１，Ｉｎとして、電流増加量Δ
Ｉｎ＝Ｉ ｎ−Ｉｎ−Ｉを計算する（S502）、続いて、機
械内部の記憶装置１７に記憶されたＬＤ劣化判定用デー
タである上限電流増加量ΔＩｎｍａｘを読み出し(S50
3)、電流増加量とＬＤ劣化判定用データΔＩｎｍａｘと
比較する。つまり電流増加量ΔＩｎ＜上限電流増加量Δ
Ｉｎｍａｘかどうか判定し（S504）、YesであればＬＤ
に致命的な劣化が迫っていないとして、そのまま測定さ
れた電流値Iｎを機械内部の記憶装置１７に記憶して（S
505）、通常動作に移行する。Noであれば（S504、N）、
ＬＤに致命的な劣化が迫っているとして電流値Ｉｎを記
憶装置１７に記憶して（S506）、ＣＰＵ１４から、エン
ジン制御部などに停止指令を出す（S507）。
チャートである。即ち、ＬＤ動作電流値Ｉを測定し、そ
の測定値を読み出し（S501）、前回測定時と現在の測定
電流値をそれぞれＩｎ−１，Ｉｎとして、電流増加量Δ
Ｉｎ＝Ｉ ｎ−Ｉｎ−Ｉを計算する（S502）、続いて、機
械内部の記憶装置１７に記憶されたＬＤ劣化判定用デー
タである上限電流増加量ΔＩｎｍａｘを読み出し(S50
3)、電流増加量とＬＤ劣化判定用データΔＩｎｍａｘと
比較する。つまり電流増加量ΔＩｎ＜上限電流増加量Δ
Ｉｎｍａｘかどうか判定し（S504）、YesであればＬＤ
に致命的な劣化が迫っていないとして、そのまま測定さ
れた電流値Iｎを機械内部の記憶装置１７に記憶して（S
505）、通常動作に移行する。Noであれば（S504、N）、
ＬＤに致命的な劣化が迫っているとして電流値Ｉｎを記
憶装置１７に記憶して（S506）、ＣＰＵ１４から、エン
ジン制御部などに停止指令を出す（S507）。
【００５７】次に、本発明の第６の実施形態を図１５を
参照して説明する。本実施形態は、第５実施形態におけ
る電流増加率に代えて第２実施形態について説明した電
流増加の加速度を指標にしてＬＤの劣化を判定するもの
である。即ち、処理の開始に際して、まず、現在の電流
値Iｎを測定し、その測定値を読み出し（S601）、次
に、前回測定時および前々回の測定時電流値をそれぞれ
Iｎ , I ｎ−１, Iｎ−２として、電流増加の加速度Δ２
IｎをΔ２Iｎ = (Iｎ − Iｎ− １) − (I ｎ−１− I
ｎ−２)= Iｎ−１− 2Iｎ−１ + Iｎ−２によって計算
し（S602）、同じく機械内部の記憶装置１７に記憶され
たＬＤ劣化判定用データである上限電流増加加速度Δ２
Iｎ maxを読み出し（S603）、それと比較する。つまり
Δ２Iｎ＜Δ２Iｎ maxか否かを判定し（S604）、Yesで
あればＬＤに致命的な劣化が迫っていないと判定し（S6
04、Y）、電流値Iｎを記憶装置１７に記憶し（S605）、
そのまま通常動作に移行する。NoであればＬＤに致命的
な劣化が迫っていると判定し（S604、Ｎ）、電流値Ｉｎ
を記憶装置１７に記憶し（S606）、ＣＰＵ１４から、エ
ンジン制御部などに停止指令を出す（S507）。
参照して説明する。本実施形態は、第５実施形態におけ
る電流増加率に代えて第２実施形態について説明した電
流増加の加速度を指標にしてＬＤの劣化を判定するもの
である。即ち、処理の開始に際して、まず、現在の電流
値Iｎを測定し、その測定値を読み出し（S601）、次
に、前回測定時および前々回の測定時電流値をそれぞれ
Iｎ , I ｎ−１, Iｎ−２として、電流増加の加速度Δ２
IｎをΔ２Iｎ = (Iｎ − Iｎ− １) − (I ｎ−１− I
ｎ−２)= Iｎ−１− 2Iｎ−１ + Iｎ−２によって計算
し（S602）、同じく機械内部の記憶装置１７に記憶され
たＬＤ劣化判定用データである上限電流増加加速度Δ２
Iｎ maxを読み出し（S603）、それと比較する。つまり
Δ２Iｎ＜Δ２Iｎ maxか否かを判定し（S604）、Yesで
あればＬＤに致命的な劣化が迫っていないと判定し（S6
04、Y）、電流値Iｎを記憶装置１７に記憶し（S605）、
そのまま通常動作に移行する。NoであればＬＤに致命的
な劣化が迫っていると判定し（S604、Ｎ）、電流値Ｉｎ
を記憶装置１７に記憶し（S606）、ＣＰＵ１４から、エ
ンジン制御部などに停止指令を出す（S507）。
【００５８】次に、本発明の第７の実施形態を説明す
る。本実施形態も第１の実施形態と同様にレーザービー
ムで画像書き込みを行なう画像形成装置についての実施
形態であり、第１実施形態と重複する部分は説明を省略
する。本実施形態は、第１の実施形態と同様にＬＤドラ
イバ１３から出力される電流をモニターして、デジタル
値に変換し、その値を機械内部の記憶装置１７に記憶す
るが、ＬＤが劣化しているとＣＰＵ１４で判定した時
は、図３に示す回路においてＣＰＵ１４から画像処理部
（ＩＰＵ）１１に対して画像間引きを行なう旨の指令を
送り、ＰＷＭ部１２に送る画像信号を間引くようにする
点で第１の実施形態のものと相違する。
る。本実施形態も第１の実施形態と同様にレーザービー
ムで画像書き込みを行なう画像形成装置についての実施
形態であり、第１実施形態と重複する部分は説明を省略
する。本実施形態は、第１の実施形態と同様にＬＤドラ
イバ１３から出力される電流をモニターして、デジタル
値に変換し、その値を機械内部の記憶装置１７に記憶す
るが、ＬＤが劣化しているとＣＰＵ１４で判定した時
は、図３に示す回路においてＣＰＵ１４から画像処理部
（ＩＰＵ）１１に対して画像間引きを行なう旨の指令を
送り、ＰＷＭ部１２に送る画像信号を間引くようにする
点で第１の実施形態のものと相違する。
【００５９】図１６は第７の実施形態の処理を説明する
フローチャートであって、ＬＤ劣化時に画像処理部の画
像データ間引き指令を行う処理を付加したフローチャー
トである。即ち、ＬＤドライバ１３からの動作電流値Ｉ
を測定し、その測定値を読み出し（S701）、前回測定時
と現在の測定電流値をそれぞれＩｎ−１，Ｉｎとして、
電流増加量ΔＩｎ＝Ｉｎ−Ｉｎ−Ｉを計算する（S70
2）、続いて、機械内部の記憶装置１７に記憶されたＬ
Ｄ劣化判定用データである上限電流増加量ΔＩｎｍａｘ
を読み出し(S703)、ＬＤ劣化判定用データΔＩｎｍａｘ
と比較を行なう、つまり電流増加量ΔＩｎ＜上限電流増
加量ΔＩｎｍａｘかどうか判定し（S704）、Yesであれ
ばＬＤに致命的な劣化が迫っていないとして、そのまま
測定された電流値Iｎを機械内部の記憶装置１７に記憶
し（S705）、通常動作に移行する。Noであれば（S704、
N）、ＬＤに致命的な劣化が迫っているとして電流値Ｉ
ｎを記憶装置１７に記憶して（S706）、ＣＰＵ１４か
ら、画像処理部に画像データ間引き処理を行うよう指令
を出す（S707）。なお、画像間引きを行なう手段として
はトナーセーブモードなどに開示された公知の技術を使
うものであるから、その詳細な方法の説明を割愛する。
フローチャートであって、ＬＤ劣化時に画像処理部の画
像データ間引き指令を行う処理を付加したフローチャー
トである。即ち、ＬＤドライバ１３からの動作電流値Ｉ
を測定し、その測定値を読み出し（S701）、前回測定時
と現在の測定電流値をそれぞれＩｎ−１，Ｉｎとして、
電流増加量ΔＩｎ＝Ｉｎ−Ｉｎ−Ｉを計算する（S70
2）、続いて、機械内部の記憶装置１７に記憶されたＬ
Ｄ劣化判定用データである上限電流増加量ΔＩｎｍａｘ
を読み出し(S703)、ＬＤ劣化判定用データΔＩｎｍａｘ
と比較を行なう、つまり電流増加量ΔＩｎ＜上限電流増
加量ΔＩｎｍａｘかどうか判定し（S704）、Yesであれ
ばＬＤに致命的な劣化が迫っていないとして、そのまま
測定された電流値Iｎを機械内部の記憶装置１７に記憶
し（S705）、通常動作に移行する。Noであれば（S704、
N）、ＬＤに致命的な劣化が迫っているとして電流値Ｉ
ｎを記憶装置１７に記憶して（S706）、ＣＰＵ１４か
ら、画像処理部に画像データ間引き処理を行うよう指令
を出す（S707）。なお、画像間引きを行なう手段として
はトナーセーブモードなどに開示された公知の技術を使
うものであるから、その詳細な方法の説明を割愛する。
【００６０】次に、本発明の第８の実施形態を図１７を
参照して説明する。本実施形態は、第７の実施形態にお
ける電流増加率に代えて電流増加の加速度を指標にして
ＬＤの劣化を判定するものである。即ち、処理の開始に
際して、まず、現在のＬＤドライバ１３からの電流値I
ｎを測定し、その測定値を読み出し（S801）、次に、前
回時測定時および前々回の測定時電流値をそれぞれI
ｎ , Iｎ−１, Iｎ−２として、電流増加の加速度Δ２I
ｎをΔ２Iｎ = (Iｎ − Iｎ−１) − (I ｎ−１− I
ｎ−２)= Iｎ−１− 2Iｎ−１ +Iｎ−２によって計算し
（S802）、同じく機械内部の記憶装置１７に記憶された
ＬＤ劣化判定用データである上限電流増加加速度Δ２I
ｎ maxを読み出し（S803）、それと比較する。つまりΔ
２Iｎ、＜Δ２Iｎ maxか否かを判定し（S804）、Yesつ
まりＬＤに致命的な劣化が迫っていないと判定される場
合は（S804、Y）、電流値Iｎ（T）を記憶装置１７に記
憶し（S805）、そのまま通常動作に移行する。Noつまり
ＬＤに致命的な劣化が迫っていると予測される場合は
（S804、N）、電流値Ｉｎを記憶装置１７に記憶し（S80
6）、ＣＰＵ１４から、画像処理部に画像データ間引き
処理を行うよう指令を出す（S807）。
参照して説明する。本実施形態は、第７の実施形態にお
ける電流増加率に代えて電流増加の加速度を指標にして
ＬＤの劣化を判定するものである。即ち、処理の開始に
際して、まず、現在のＬＤドライバ１３からの電流値I
ｎを測定し、その測定値を読み出し（S801）、次に、前
回時測定時および前々回の測定時電流値をそれぞれI
ｎ , Iｎ−１, Iｎ−２として、電流増加の加速度Δ２I
ｎをΔ２Iｎ = (Iｎ − Iｎ−１) − (I ｎ−１− I
ｎ−２)= Iｎ−１− 2Iｎ−１ +Iｎ−２によって計算し
（S802）、同じく機械内部の記憶装置１７に記憶された
ＬＤ劣化判定用データである上限電流増加加速度Δ２I
ｎ maxを読み出し（S803）、それと比較する。つまりΔ
２Iｎ、＜Δ２Iｎ maxか否かを判定し（S804）、Yesつ
まりＬＤに致命的な劣化が迫っていないと判定される場
合は（S804、Y）、電流値Iｎ（T）を記憶装置１７に記
憶し（S805）、そのまま通常動作に移行する。Noつまり
ＬＤに致命的な劣化が迫っていると予測される場合は
（S804、N）、電流値Ｉｎを記憶装置１７に記憶し（S80
6）、ＣＰＵ１４から、画像処理部に画像データ間引き
処理を行うよう指令を出す（S807）。
【００６１】以上で説明した各実施形態の各処理におい
て、致命的な劣化が迫っていることの通知を、例えば、
インターネット等のネットワークを介して接続された診
断装置に対し行ってもよい。この場合、１台の診断装置
により複数の画像形成装置におけるＬＤＣの致命的劣化
を監視することにより、前記各装置に対し十全な保守管
理を行うことができる。
て、致命的な劣化が迫っていることの通知を、例えば、
インターネット等のネットワークを介して接続された診
断装置に対し行ってもよい。この場合、１台の診断装置
により複数の画像形成装置におけるＬＤＣの致命的劣化
を監視することにより、前記各装置に対し十全な保守管
理を行うことができる。
【００６２】また、前記各実施形態の各処理の実行のた
めのプログラムを例えば、フレキシブルディスク、ＣＤ
ＲＯＭ，ＤＶＤＲＯＭ等の記録媒体に記録しておくか、
又はハードディスク等に記録しておき、かつ前記プログ
ラムをＬＤを搭載した画像形成装置のコンピュータに読
み取らせることにより、前記各処理を容易に実行するこ
とができる。
めのプログラムを例えば、フレキシブルディスク、ＣＤ
ＲＯＭ，ＤＶＤＲＯＭ等の記録媒体に記録しておくか、
又はハードディスク等に記録しておき、かつ前記プログ
ラムをＬＤを搭載した画像形成装置のコンピュータに読
み取らせることにより、前記各処理を容易に実行するこ
とができる。
【００６３】
【発明の効果】請求項１、６、７、１１に対応する効
果：ＬＤに流れる駆動電流量を所定の時期に測定するこ
とで電流の増加量またはその加速度を算出することでＬ
Ｄが劣化する前兆を検出して、致命的なＬＤ劣化が発生
する前にその情報を機械外部に報告するようにしたの
で、致命的なＬＤ劣化が発生する前にＬＤを交換するこ
とが可能となる。 請求項２、１２に対応する効果： ＬＤの温度特性を考
慮にいれ、ＬＤの温度を測定したデータを用いて電流値
に補正を加えるようにしたので、比べてより正確にＬＤ
の劣化判定を行なうことができる。 請求項３に対応する効果： ＬＤに流れる駆動電流量を
所定の時期に測定することで電流の増加量を算出してＬ
Ｄが劣化する前兆を検出し、致命的なＬＤ劣化が発生す
る前にＬＤが劣化する前兆を検出して機械を停止するよ
うにしたので、ＬＤ劣化が進行して、異常画像が発生す
るのを防ぐことができる。 請求項４に対応する効果： ＬＤに流れる駆動電流量を
所定の時期に測定することで電流の増加量を算出してＬ
Ｄが劣化する前兆を検出し、ＬＤから出力される画像出
力を間引くことでＬＤ発光時間を短くするようにしたの
で、ＬＤ劣化が発生するのを遅延させることができる。 請求項５に対応する効果： 複数の画像形成装置におけ
るＬＤの劣化を一台の診断装置で集中管理することがで
きる。 請求項８，９、１３，１４に対応する効果： ＬＤの駆
動電流を所定の時期に測定するだけで、容易にＩＤの致
命的な劣化を検出することができる。 請求項１０に対応する効果： 劣化の加速が始まること
を示す所定の値に設定されているため、ＬＤの致命的な
劣化する前に余裕をもって対処することができる。 請求項１５〜１９に対応する効果：画像形成装置に搭載
したコンピュータに読み取らせることにより、ＬＤの劣
化検知方法を容易に実行することができる。
果：ＬＤに流れる駆動電流量を所定の時期に測定するこ
とで電流の増加量またはその加速度を算出することでＬ
Ｄが劣化する前兆を検出して、致命的なＬＤ劣化が発生
する前にその情報を機械外部に報告するようにしたの
で、致命的なＬＤ劣化が発生する前にＬＤを交換するこ
とが可能となる。 請求項２、１２に対応する効果： ＬＤの温度特性を考
慮にいれ、ＬＤの温度を測定したデータを用いて電流値
に補正を加えるようにしたので、比べてより正確にＬＤ
の劣化判定を行なうことができる。 請求項３に対応する効果： ＬＤに流れる駆動電流量を
所定の時期に測定することで電流の増加量を算出してＬ
Ｄが劣化する前兆を検出し、致命的なＬＤ劣化が発生す
る前にＬＤが劣化する前兆を検出して機械を停止するよ
うにしたので、ＬＤ劣化が進行して、異常画像が発生す
るのを防ぐことができる。 請求項４に対応する効果： ＬＤに流れる駆動電流量を
所定の時期に測定することで電流の増加量を算出してＬ
Ｄが劣化する前兆を検出し、ＬＤから出力される画像出
力を間引くことでＬＤ発光時間を短くするようにしたの
で、ＬＤ劣化が発生するのを遅延させることができる。 請求項５に対応する効果： 複数の画像形成装置におけ
るＬＤの劣化を一台の診断装置で集中管理することがで
きる。 請求項８，９、１３，１４に対応する効果： ＬＤの駆
動電流を所定の時期に測定するだけで、容易にＩＤの致
命的な劣化を検出することができる。 請求項１０に対応する効果： 劣化の加速が始まること
を示す所定の値に設定されているため、ＬＤの致命的な
劣化する前に余裕をもって対処することができる。 請求項１５〜１９に対応する効果：画像形成装置に搭載
したコンピュータに読み取らせることにより、ＬＤの劣
化検知方法を容易に実行することができる。
【図１】 本発明を適用する画像形成装置の一例を概略
的に示した図である。
的に示した図である。
【図２】 各実施形態に係る画像形成装置の光学系の１
例を示す図である。
例を示す図である。
【図３】 第１の実施形態に係る書込み制御部の回路ブ
ロック図である。
ロック図である。
【図４】 第１の実施形態に係るＬＤドライバの内部の
ＡＰＣ回路のブロック図である。
ＡＰＣ回路のブロック図である。
【図５】 第１の実施形態に係るＬＤ駆動電流検出回路
のブロック図である。
のブロック図である。
【図６】 第１の実施形態に係る劣化判断処理手順を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図７】 ＬＤの経時劣化特性を示す図である。
【図８】 緩慢劣化の劣化特性を示す図である。
【図９】 第２の実施形態に係る劣化判断処理手順を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図１０】 第３の実施形態に係る書き込み制御部の回
路ブロック図である。
路ブロック図である。
【図１１】 第３の実施形態に係る劣化判断処理手順を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図１２】 第４の実施形態に係る劣化判断処理手順を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図１３】 ＬＤ電流・光出力特性を示す図である。
【図１４】 第５の実施形態に係る劣化判断処理手順を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図１５】 第６の実施形態に係る劣化判断処理手順を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図１６】 第７の実施形態に係る劣化判断処理手順を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図１７】 第８の実施形態に係る劣化判断処理手順を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図１８】 ＡＰＣ回路ブロック図の１例を示す図であ
る。
る。
【図１９】 断続的ＡＰＣ回路の動作タイムチャートを
示す図である。
示す図である。
１１ 画像処理部（ＩＰＵ） １２ パルス幅変調（ＰＷＭ）部、 １３ ＬＤドライバ １４ 中央演算処理装置（ＣＰＵ） １５ Ａ／Ｄコンバータ １６ ＬＤパッケージ １７ メモリ・ＨＤＤ等の記憶装置 １８ 操作・表示部 １９ 電流−電圧変換回路 ２０ ホールド・コンデンサ ２１ 温度計 ２２ Ａ／Ｄコンバータ ２３ エンジン制御部
Claims (19)
- 【請求項１】 受光素子からの出力電流をフィードバッ
クしてオートマチック・パワーコントロールを行うＬＤ
制御装置において、 ＬＤ駆動装置から出力される電流値を検出する手段、該
電流値を記憶する手段、現時点における検出電流値とそ
れ以前に記憶した電流値との変動量を求める手段、該電
流変動量と所定の値との対比によりＬＤ劣化が末期に差
し掛かっていることを判断する手段を備えていることを
特徴とするＬＤ制御装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載されたＬＤ制御装置にお
いて、さらにＬＤの温度を測定する手段を有し、測定温
度によるＬＤ駆動電流値を予め定めた温度における電流
値に補正する手段を有することを特徴とするＬＤ制御装
置。 - 【請求項３】 請求項１又は２に記載されたＬＤ制御装
置において、前記判断する手段がＬＤ劣化が末期に差し
掛かっていると判断したときに、機械を停止する手段を
備えていることを特徴とするＬＤ制御装置。 - 【請求項４】 請求項１に記載されたＬＤ制御装置にお
いて、前記判断する手段がＬＤ劣化が末期に差し掛かっ
ていると判断したとき、ＬＤを変調駆動するためのデー
タを間引く手段を備えていることを特徴とするＬＤ制御
装置。 - 【請求項５】 請求項１に記載されたＬＤ制御装置にお
いて、ＬＤ劣化が末期に差し掛かっていることを通知す
る手段を有することを特徴とするＬＤ制御装置。 - 【請求項６】 請求項１乃至５のいずれかに記載された
ＬＤ制御装置を備えたことを特徴とする画像記録装置。 - 【請求項７】 請求項６に記載された画像記録装置を備
えたことを特徴とする画像形成装置。 - 【請求項８】 請求項１乃至７のいずれかに記載された
ＬＤ制御装置において、前記電流値の変動量は電流値の
変化速度であることを特徴とするＬＤ制御装置。 - 【請求項９】 請求項１乃至８のいずれかに記載された
ＬＤ制御装置において、前記電流値の変動量は電流値の
変化の加速度であることを特徴とするＬＤ制御装置。 - 【請求項１０】 請求項１乃至９のいずれかに記載され
たＬＤ制御装置において、前記所定の値は、致命的劣化
に向かって劣化の加速が始まることを示す値に設定され
ていることを特徴とするＬＤ制御装置。 - 【請求項１１】 受光素子からの出力電流をフィードバ
ックしてオートマチック・パワーコントロールを行うＬ
Ｄの劣化検知方法であって、 前記ＬＤ駆動装置から出力される電流量を検出する工
程、該電流値を記憶する工程、現在の検出電流値とそれ
以前に記憶した電流値間の電流値の変動量を求める工
程、該電流値の変動量と所定の値との対比によりＬＤ劣
化が末期に差しかかっていることを判断する工程からな
ることを特徴とするＬＤの劣化検知方法。 - 【請求項１２】 請求項１１に記載されたＬＤの劣化検
知方法において、さらにＬＤの温度を測定する工程、測
定温度によるＬＤ駆動電流値から予め定めた温度におけ
る電流値を推測する工程、今回推測された電流値と以前
に推測された電流置との対比に基づきＬＤ劣化が末期に
差し掛かっていることを判断する工程からなることを特
徴とするＬＤの劣化検知方法。 - 【請求項１３】 請求項１１又は１２に記載されたＬＤ
の劣化検知方法において、前記電流値の変動は電流値の
変化速度であることを特徴とするＬＤの劣化検知方法。 - 【請求項１４】 請求項１１又は１２に記載されたＬＤ
の劣化検知方法において、前記電流値の変動は電流値の
変化の加速度であることを特徴とするＬＤの劣化検知方
法。 - 【請求項１５】検出されたＬＤを駆動するための電流置
からコンピュータにＬＤの劣化を判断させるためのプロ
グラムであって、 ＬＤ駆動装置から出力される電流置を検出する手段によ
り検出された電流置とそれ以前に検出された電流置とか
ら電流置の変動量を演算させるステップ、該電流置の変
動量と所定の値との対比によりＬＤの劣化が末期に差し
掛かっていることを判断させるステップからなることを
特徴とするプログラム。 - 【請求項１６】 検出されたＬＤを駆動するための電流
値からコンピュータにＬＤの劣化を判断させるプログラ
ムであって、ＬＤ駆動電流から出力される電流値を検出
する手段により検出された電流値とＬＤの温度を測定す
る手段により測定された温度とから予め定めた温度にお
けるＬＤ駆動電流値を推測させるステップ、今回推測さ
れたＬＤ駆動電流とそれ以前に推測されたＬＤ駆動電流
とからＬＤ駆動電流値の変動量を演算させるステップ、
該ＬＤ駆動電流値の変動量と所定の値との対比によりＬ
Ｄの劣化が末期に差し掛かっていることを判断させるス
テップからなることを特徴とするプログラム。 - 【請求項１７】請求項１５又１６に記載されたプログラ
ムにおいて、前記変動量は電流値の変化の速度であるこ
とを特徴とするプログラム。 - 【請求項１８】請求項１５又は１６に記載されたプログ
ラムにおいて、前記変動量は電流値の変化の加速度であ
ることを特徴とするプログラム。 - 【請求項１９】請求項１５乃至１８のいずれかに記載さ
れたプログラムが記録されたコンピュータ読み取り可能
な記録媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001100075A JP2002329924A (ja) | 2001-03-02 | 2001-03-30 | Ｌｄ制御装置及びｌｄの劣化検知方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001-57870 | 2001-03-02 | ||
| JP2001057870 | 2001-03-02 | ||
| JP2001100075A JP2002329924A (ja) | 2001-03-02 | 2001-03-30 | Ｌｄ制御装置及びｌｄの劣化検知方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002329924A true JP2002329924A (ja) | 2002-11-15 |
Family
ID=26610490
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001100075A Pending JP2002329924A (ja) | 2001-03-02 | 2001-03-30 | Ｌｄ制御装置及びｌｄの劣化検知方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002329924A (ja) |
Cited By (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004221591A (ja) * | 2003-01-10 | 2004-08-05 | Agilent Technol Inc | レーザシステムの較正 |
| JP2004254240A (ja) * | 2003-02-21 | 2004-09-09 | Fujitsu Ltd | レーザダイオード管理装置およびレーザダイオード管理方法 |
| JP2005093455A (ja) * | 2003-09-11 | 2005-04-07 | Ricoh Co Ltd | 集積回路及びマルチビーム・レーザプリンタ |
| JP2006201669A (ja) * | 2005-01-24 | 2006-08-03 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置及び画像形成装置 |
| WO2009084467A1 (en) * | 2007-12-28 | 2009-07-09 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor laser driving device and image forming apparatus having the same |
| JP2009200242A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Fujitsu Ltd | 光送信機および制御方法 |
| JP2011527518A (ja) * | 2008-07-07 | 2011-10-27 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 目に安全なレーザに基づく照明 |
| CN102347588A (zh) * | 2010-07-30 | 2012-02-08 | 株式会社理光 | 半导体激光器驱动装置及设有该驱动装置的图像形成装置 |
| CN102385226A (zh) * | 2010-08-26 | 2012-03-21 | 精工爱普生株式会社 | 光源控制装置以及投影机 |
| JP2014094476A (ja) * | 2012-11-08 | 2014-05-22 | Konica Minolta Inc | 画像形成装置 |
| JP6704534B1 (ja) * | 2019-04-24 | 2020-06-03 | 三菱電機株式会社 | 劣化診断装置および光トランシーバの劣化診断方法 |
-
2001
- 2001-03-30 JP JP2001100075A patent/JP2002329924A/ja active Pending
Cited By (19)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004221591A (ja) * | 2003-01-10 | 2004-08-05 | Agilent Technol Inc | レーザシステムの較正 |
| JP2004254240A (ja) * | 2003-02-21 | 2004-09-09 | Fujitsu Ltd | レーザダイオード管理装置およびレーザダイオード管理方法 |
| JP4557129B2 (ja) * | 2003-09-11 | 2010-10-06 | 株式会社リコー | 集積回路及びマルチビーム・レーザプリンタ |
| JP2005093455A (ja) * | 2003-09-11 | 2005-04-07 | Ricoh Co Ltd | 集積回路及びマルチビーム・レーザプリンタ |
| JP2006201669A (ja) * | 2005-01-24 | 2006-08-03 | Ricoh Co Ltd | 光走査装置及び画像形成装置 |
| US8483250B2 (en) | 2007-12-28 | 2013-07-09 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor laser driving device and image forming apparatus having the same |
| WO2009084467A1 (en) * | 2007-12-28 | 2009-07-09 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor laser driving device and image forming apparatus having the same |
| JP2009200242A (ja) * | 2008-02-21 | 2009-09-03 | Fujitsu Ltd | 光送信機および制御方法 |
| EP2093849A3 (en) * | 2008-02-21 | 2010-03-17 | Fujitsu Limited | Optical transmitter |
| JP2011527518A (ja) * | 2008-07-07 | 2011-10-27 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 目に安全なレーザに基づく照明 |
| US11549651B2 (en) | 2008-07-07 | 2023-01-10 | Signify Holding B.V. | Eye-safe laser-based lighting |
| CN102347588A (zh) * | 2010-07-30 | 2012-02-08 | 株式会社理光 | 半导体激光器驱动装置及设有该驱动装置的图像形成装置 |
| US8630324B2 (en) | 2010-07-30 | 2014-01-14 | Ricoh Company, Ltd. | Semiconductor laser drive device and image forming apparatus incorporating same |
| JP2012033738A (ja) * | 2010-07-30 | 2012-02-16 | Ricoh Co Ltd | 半導体レーザ駆動装置及びその半導体レーザ駆動装置を備えた画像形成装置 |
| CN102385226A (zh) * | 2010-08-26 | 2012-03-21 | 精工爱普生株式会社 | 光源控制装置以及投影机 |
| US8733947B2 (en) | 2010-08-26 | 2014-05-27 | Seiko Epson Corporation | Light source control device and projector |
| JP2014094476A (ja) * | 2012-11-08 | 2014-05-22 | Konica Minolta Inc | 画像形成装置 |
| US9268250B2 (en) | 2012-11-08 | 2016-02-23 | Konica Minolta, Inc. | Image forming apparatus that matches laser light emission time to pulse width of image pulse signal |
| JP6704534B1 (ja) * | 2019-04-24 | 2020-06-03 | 三菱電機株式会社 | 劣化診断装置および光トランシーバの劣化診断方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2002329924A (ja) | Ｌｄ制御装置及びｌｄの劣化検知方法 | |
| JP2015138101A (ja) | 画像形成装置、画像処理装置、画像処理方法およびプログラム | |
| KR100465337B1 (ko) | 전자사진방식 화상형성장치 및 그 대전전압 제어방법 | |
| JP4471597B2 (ja) | 半導体レーザ駆動装置及び半導体レーザ駆動装置を使用した画像形成装置 | |
| JP2019184806A (ja) | 画像形成装置 | |
| US20170351206A1 (en) | Image forming apparatus | |
| JP2017207618A (ja) | 画像形成装置および劣化予測方法 | |
| JP2008273094A (ja) | 画像形成装置，プログラム，および記録媒体 | |
| JP2009128786A (ja) | 光スキャナ及び画像形成装置 | |
| US11119430B2 (en) | Technology for ascertaining state of members constituting image forming apparatus | |
| JP2020076929A (ja) | 定着装置 | |
| JP4391356B2 (ja) | Ｌｄ制御装置及び画像形成装置 | |
| JP2015001566A (ja) | 露光装置及び画像形成装置 | |
| JP2006076216A (ja) | 画像形成装置 | |
| JP2020052249A (ja) | 画像形成装置 | |
| JP2000147923A (ja) | 画像形成装置 | |
| JP2002299756A (ja) | 画像記録装置 | |
| JP2896158B2 (ja) | ビーム光走査装置 | |
| JP2010165981A (ja) | 半導体レーザー駆動装置およびそれを備えた光走査装置ならびに画像形成装置 | |
| JP5012842B2 (ja) | 制御装置、画像形成装置およびプログラム | |
| JP2002307751A (ja) | 画像記録装置 | |
| JP2002190641A (ja) | 画像形成装置 | |
| JP3812190B2 (ja) | 半導体レーザの劣化検出装置 | |
| JPH06166207A (ja) | レーザビームプリンタ | |
| JP2015038933A (ja) | 光源寿命判定装置、画像形成装置、光源寿命判定方法及び光源寿命判定プログラム |