JP2002318109A - 3次元形状測定方法 - Google Patents

3次元形状測定方法

Info

Publication number
JP2002318109A
JP2002318109A JP2001122723A JP2001122723A JP2002318109A JP 2002318109 A JP2002318109 A JP 2002318109A JP 2001122723 A JP2001122723 A JP 2001122723A JP 2001122723 A JP2001122723 A JP 2001122723A JP 2002318109 A JP2002318109 A JP 2002318109A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dimensional
measured
dimensional shape
lattice
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001122723A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3519698B2 (ja
Inventor
Mitsuo Takeda
光夫 武田
Teruaki Yogo
照明 與語
Hideyuki Tanaka
秀行 田中
Jiyakui Ko
若偉 顧
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to JP2001122723A priority Critical patent/JP3519698B2/ja
Priority to EP01128130A priority patent/EP1251327A3/en
Priority to US09/995,128 priority patent/US6750975B2/en
Priority to KR1020010075435A priority patent/KR100613421B1/ko
Priority to NO20021457A priority patent/NO20021457L/no
Publication of JP2002318109A publication Critical patent/JP2002318109A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3519698B2 publication Critical patent/JP3519698B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G01B11/2509Color coding
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G01B11/2513Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object with several lines being projected in more than one direction, e.g. grids, patterns
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G01B11/2536Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object using several gratings with variable grating pitch, projected on the object with the same angle of incidence
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06TIMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00Image analysis
    • G06T7/50Depth or shape recovery
    • G06T7/521Depth or shape recovery from laser ranging, e.g. using interferometry; from the projection of structured light

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】測定精度の向上を図った3次元形状測定方法を
得る。 【解決手段】周期と向きとが互いに異なる複数の1次元
格子1〜3毎に色を変えて被測定物に格子パターンを同
時に投影する。そして、被測定物の3次元形状に応じて
変形した格子像を撮像し、格子像から各色毎の1次元格
子成分に分離し、各1次元格子成分毎に位相を検出し
て、各位相に基づいて3次元形状の測定値を得る。ま
た、白色光により被測定物を撮像して、被測定物の色情
報をも計測する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、3次元形状の被測
定物に格子パターンを投影し、この投影像から被測定物
の形状を測定する3次元形状測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、被測定物に格子状のパターン
を投影し、被測定物各部の高さ分布に応じて変形した格
子像から3次元形状を測定するモアレ法やヘテロダイン
法が知られている。モアレ法では変形格子像に基準格子
を重ねることにより被測定物の高さ分布の等高線を与え
るモアレ縞を発生させて高さ分布を求めている。ヘテロ
ダイン法では基準格子を無変調の空間的キャリア周波数
信号と考え、変形格子像を空間的に位相変調されたキャ
リア信号とみなして変形量を位相として検出することに
より被測定物の高さ分布を求めている。
【0003】これらの測定方法は、面の形状が滑らかで
各部が相互に連続に接続された被測定物に対しては有効
であるが、大きな不連続段差をもつ被測定物や各部が相
互に接続点をもたない孤立した面から構成されるような
被測定物の形状を測ることができない。モアレ法の場合
は、不連続な等高縞の縞次数を一意に決定できないため
であり、また、ヘテロダイン法の場合は、(−π、π]
の主値の範囲に折り畳まれて検出される位相分布から不
連続物体の高さ分布を一意に決定することができないた
めである。
【0004】このような不連続段差をもつ被測定物を測
定するため、特開平10−246612号公報にあるよ
うに、周期と向きとが互いに異なる複数の1次元格子を
重畳させた2次元格子パターンを被測定物に投影し、被
測定物の3次元形状に応じて変形した2次元格子像を撮
像し、2次元格子像から各1次元格子成分毎に位相を検
出し、各位相に基づいて3次元形状の測定値を得る方法
が提案されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、こうし
た従来の方法では、周期と向きが異なる1次元格子の個
数が多くなるほど、格子像での1次元格子の交差する部
分が多くなり、2次元格子像を撮像後の周波数の分離が
難しくなり、他の1次元格子がノイズ源となり、精度よ
く測定できないという問題があった。
【0006】本発明の課題は、測定精度の向上を図った
3次元形状測定方法を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】かかる課題を達成すべ
く、本発明は課題を解決するため次の手段を取った。即
ち、3次元形状の被測定物に格子パターンを投影し、こ
の格子像から前記被測定物の3次元形状の測定値を得る
3次元形状測定方法において、周期と向きとが互いに異
なる複数の1次元格子毎に色を変えて前記被測定物に前
記格子パターンを同時に投影し、前記被測定物の3次元
形状に応じて変形した格子像を撮像し、該格子像から前
記各色毎の前記1次元格子成分に分離し、前記各1次元
格子成分毎に位相を検出して、該各位相に基づいて前記
測定値を得ることを特徴とする3次元形状測定方法がそ
れである。
【0008】前記1次元格子の色が、赤、緑、青であっ
てもよい。また、前記格子パターンを投影する光源の投
影レンズと前記格子パターンを撮像するイメージセンサ
の結像レンズとの中心を結ぶ直線が、前記被測定物を置
いた参照平面と平行であることが好ましい。更に、白色
光により前記被測定物を撮像して、前記被測定物の色情
報をも計測するようにしてもよい。
【0009】
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態を図面に
基づいて詳細に説明する。図1(a)に示すように、1
は、本実施形態に用いられる赤色の1次元格子1であ
る。この赤色の1次元格子1は、縦方向の赤色の条線の
周期的繰り返し(周期=d1 )により形成されている。
また、図1(b)に示すように、2は、本実施形態に用
いられる緑色の1次元格子2である。この緑色の1次元
格子2は、斜め方向の緑色の条線の周期的繰り返し(周
期=d2 )により形成されている。
【0010】更に、図1(c)に示すように、3は、本
実施形態に用いられる青色の1次元格子3である。この
青色の1次元格子3は、前述した緑色の条線よりも傾斜
角度の大きな斜め方向の青色の条線の周期的繰り返し
(周期=d3 )により形成されている。
【0011】尚、条線に限らず、ドットにより形成して
もよく、また、1次元格子1〜3としては不要な高調波
成分を含まない正弦波格子が理想的であるが、信号処理
の段階で不要な高調波成分を除去することにより、製作
の容易な矩形格子を用いることもできる。
【0012】後述する投影レンズ5と結像レンズ9との
中心を結ぶ直線方向の各1次元格子1〜3の各周期d1
,d2 ,d3 は、物体の高さを位相値に変換する計測
感度に対応するので、これらは異なる値になるようにす
る。例えば、異なる位相感度の複数の計側データを統合
して高さ分布を求める方法として合同法を用いる場合に
は、d1 :d2 :d3 を3:5:7等の素数比とするの
が好ましい。
【0013】この各1次元格子1〜3は、図2に示すよ
うに、それぞれの白色光源4a〜4cでレンズ10〜1
2を介して照明するように構成されている。本実施形態
では、赤色の1次元格子1が、投影レンズ5の光軸と同
軸上に配置され、白色光源4aで赤色の1次元格子1を
照明し、投影レンズ5により参照平面8上に赤色の1次
元格子1の像を投影する。
【0014】また、緑色の1次元格子2は、投影レンズ
5の光軸と平行に配置され、白色光源4bで緑色の1次
元格子2を照明し、プリズム機構16を介して、投影レ
ンズ5により参照平面8上に緑色の1次元格子2の像を
投影する。更に、緑色の1次元格子2と光軸を挟んで対
向して青色の1次元格子3が配置されており、白色光源
4cで青色の1次元格子3を照明し、プリズム機構16
を介して、投影レンズ5により参照平面82上に青色の
1次元格子3の像を投影する。
【0015】本実施形態における図3に示す3個の被測
定物6a,6b,7は、相互に接続点を持たない孤立し
た面からなる物体である。この3個の被測定物6a,6
b,7は、参照平面8上に置かれており、参照平面8は
高さ計測の基準面を与える。結像レンズ9は被測定物6
a,6b,7及び参照平面8上の格子パターンを格子像
20としてイメージセンサ21上に結像する。本実施形
態では、イメージセンサ21に、3板式CCDカメラを
用いており、イメージセンサ21からの画像データは画
像処理回路22に入力される。投影レンズ5と結像レン
ズ9の投影中心を結ぶ直線を参照平面8に平行にして参
照平面8が高さ計測の基準面となるようにする。
【0016】更に、結像レンズ9の光軸は参照平面8に
垂直であり、投影レンズ5と結像レンズ9の投影中心を
結ぶ直線が水平方向になるように配置する。こうするこ
とにより、被測定物6a,6b,7の高さを位相値に変
換する計測感度比が各1次元格子1〜3の水平方向の周
期比d1 :d2 :d3 により決定され、縦方向の周期比
には依存しなくなるので1次元格子1〜3を重畳し多重
化する際の条線の頃き角の選択の自由度が生じる。この
条線の傾き角の選択の自由度を利用して、各1次元格子
1〜3の空間周波数スペクトル成分が互いに分離するよ
うに条線方向を選び、空間周波教フィルタによるスペク
トルの選択的な抽出ができるようにする。
【0017】図3に示すように、本実施形態における一
方の被測定物6aは高さ20mmの円柱体であり、他方
の被測定物6bは高さが30mmの直方体である。これ
らは、縁に沿って大きな不運続段差をもち、両者は相互
に接続点をもたない孤立した面から構成されている。他
の一つの被測定物7は、頂上の高さが25mmの山型の
連続な高さ分布の円錐体である。
【0018】この両被測定物6a,6b,7に、図2に
示すように、各白色光源4a〜4cにより各1次元格子
1〜3の格子パターンを同時に投影する。そして、この
格子像20をイメージセンサ21により撮像する。格子
像20は、図4に示すように、被測定物6a,6b,7
の3次元形状に応じて変形しており、水平方向の周期比
がd1 :d2 :d3 =3:5:7で、縦方向の条線と斜
め方向の条線からなる3つの1次元格子1〜3が多重に
重畳されている。
【0019】被測定物の高さh(x,y) により位相変調さ
れた格子像パターンg(x,y) は下記(1)式で表され
る。ここでfXk,fYkは空間周波数、r(x,y)は被測定物
表面の反射率である。
【0020】
【数1】
【0021】フーリエ変換法の空間周波数フィルタリン
グによりφk(x,y)を分離して個別に取り出すことができ
るが、得られる各々のhk(x,y)は△hk (下記(2)
式)の主値に折り畳まれているのでこれらのデータはそ
れぞれ△hk を法とする合同系を作っている。x方向の
周期比を互いに素で最も簡単な整数mk に対してそれぞ
れ下記(3)式となるように選んでおくと、下記
(4)、(5)式はmk (=△hk /α)を法とする連
立合同系(下記(6)式)を作り上げるので、結局被測
定物の高さh(x,y) はこの連立合同方程式の解法に帰着
される。
【0022】
【数2】
【0023】イメージセンサ21からの格子像パターン
は、画像処理回路22に入力されて、図7に示す処理が
行われる。画像処理回路22では、まず、この重畳され
た格子像20から各色毎に格子像を分離する(ステップ
100)。そして各色毎に分離した格子像に応じた画像
データを2次元フーリエ変換して、空間周波数スペクト
ルの強度分布を得る(ステップ110)。
【0024】図5はこの2次元フーリエ変換することに
より得られた空間周波数スペクトルの強度分布の斜視図
である。赤色の1次元格子1の空間周波数スペクトル1
3、13’と、緑色の1次元格子2の空間周波数スペク
トル14、14’と、青色の1次元格子3の空間周波数
スペクトル15、15’は、2次元空間周波数領域でこ
のように分離されるので、各1次元格子1〜3の空間周
波数に対応したスペクトル成分を空間周波数フィルタに
より選択的に抽出する(ステップ120)。
【0025】次に、選択抽出した空間周波数スペクトル
の2次元フーリエ逆変換を行い(ステップ130)、位
相をヘテロダイン検出する(ステップ140)。本実施
形態では3つの1次元格子1〜3を多重化したが、図5
のスペクトル分布から明らかなように、さらに多くの色
の1次元格子を多重化してスペクトルを分離することも
できる。
【0026】ステップ100〜140の処理を繰り返し
実行して、全ての多重化スペクトルに対して位相の検出
を行い(ステップ150)、全ての多重化スペクトルに
対して位相を得た後は、既存の方法により高さ分布を求
める(ステップ160)。異なる位相感度の複数の計測
データを統合して高さ分布を求める方法としては、多波
長千渉計測における合同法や合致法等の既存の方法を用
いることができる。
【0027】ヘテロダイン検出された位相は(−π、
π]の主値の範囲に折り畳まれているが、被測定物6
a,6b,7の高さを位相値に変換する計側感度が各1
次元格子1〜3の水平方向の周期に応じて3:5:7と
異なるために、図6(a)〜(c)に示すように、各周
波数スペクトル毎に異なる高さ範囲に折り畳まれた3次
元形状分布が得られる。
【0028】図6(a)の3次元形状分布25は条線が
縦方向である赤色の1次元格子1のスペクトル成分13
をフィルタで取り出しヘテロダイン検出して得られた高
さ分布であり、高さが3mmの範囲に折り畳まれてい
る。一方、図6(b)の3次元形状分布26は条線が斜
め方向である緑色の1次元格子2のスペクトル成分14
をフィルタで取り出しヘテロダイン検出して得られた高
さ分布てあり、高さが5mmの範囲に折り畳まれてい
る。
【0029】更に、図6(c)の3次元形状分布27は
条線が斜め方向である青色の1次元格子3のスペクトル
成分15をフィルタで取り出しヘテロダイン検出して得
られた高さ分布てあり、高さが7mmの範囲に折り畳ま
れている。このように、図1に示した各色毎の1次元格
子1〜3の格子像から同時に3つの異なる感度の計測デ
ータを取得することができる。多重化度を高めればさら
に多くの異なる感度の計測データを得ることができる。
【0030】本発明による空間周波数多重化を行わない
従来のヘテロダイン法では、図6(a)〜(c)の折り
畳まれた高さ分布25〜27のいずれか一つのみが得ら
れることになる。図3の被測定物6a,6bのように、
縁に沿って大きな不連続段差をもち、相互に接続点をも
たない孤立した面から構成されている物体の場合は、各
高さ分布25〜27の折り畳まれた高さ分布のいずれか
1つだけからは、その3次元形状を一意に決定すること
ができない。したがって、本発明の方法により、各色の
1次元格子像20から同時に複数の異なる感度の計測デ
ータを取得することが不可欠である。
【0031】3:5:7の高さ感度比で折り畳まれた図
6(a)〜(c)の3つの高さ分布25〜27のデータ
を統合して3次元形状を求める方法として、多波長干渉
計測の分野でよく知られた合同法を用いると図3に示す
被測定物6a,6b,7の3次元形状分布を正しく求め
ることができる。
【0032】また、空間周波数多重化格子像20を2次
元フーリエ変換しフィルタリングして、所望のスペクト
ル成分を選択的に抽出するのと全く等価な処理を格子像
に対する直接演算により実現することもできる。即ち、
図8に示すように、まず、この重畳された格子像20か
ら各色毎に格子像を分離する(ステップ100)。そし
て、所望のスペクトルを選択的に抽出するのに用いた2
次元フィルタ窓関数を逆フーリエ変換して2次元インパ
ルス応答関数を得て(ステップ200)、それを空間周
波数多重化格子像に直接2次元コンボリューション演算
することによっても各1次元格子1〜3の空間周波数に
対応したスペクトル成分を選択的に抽出することができ
る(ステップ210)。尚、以下の処理(ステップ13
0〜150)は、前述した処理と同じであるので、説明
を省略する。
【0033】本発明は、被測定物6a,6b,7の3次
元形状に応じて変形した空間周波数多重化格子像20を
画像処理回路22に取り込み、各色毎に格子像を分離し
てから、各1次元格子1〜3の空間周波数に対応したス
ペクトル成分を空間周波数フィルタにより選択的に抽出
し、その位相を個別にヘテロダイン検出する。
【0034】この空間周波数フィルタリングは、変形格
手像を2次元フーリエ変換した周波数スペクトル領域で
行うか、あるいは、それと同等な2次元コンボリューシ
ョン演算を2次元格子像に対して直接実行する。ヘテロ
ダイン検出されたこれらの位相は(−π、π]の主値の
範囲に折り畳まれているが、被測定物6a,6b,7の
高さを位相値に変換する計測感度が各1次元格子1〜3
の空間周波数に応じて異なるために、各周波数スペクト
ル毎に異なる高さ範囲に折り畳まれた3次元形状分布が
得られる。
【0035】このため、それぞれの1次元格子1〜3の
スペクトル成分から得られる複数の計測データを統合す
ることにより、不連続段差や孤立した物体面の有無に関
わらず、各単独の計測点ごとにその高さを個別に決定す
ることができる。また、1回の格子パターン投影で瞬時
計測することができるため、高速運動中や高速変形中の
不連続物体の瞬時形状の計測を可能にする。
【0036】しかも、赤、緑、青毎の各色に格子像を分
離するので、この格子像には各色毎の格子像が交差する
部分がなく、他の1次元格子1〜3の格子像によるノイ
ズを低減できるので、精度のよい測定ができる。また、
図2に示すように、イメージセンサ21と同軸上に、リ
ング状の白色光源31を設け、この白色光源31からの
白色光を被測定物6a,6b,7に投光して、イメージ
センサ21により被測定物6a,6b,7のカラー画像
を撮る。このカラー画像からピクセル毎の色情報を得
る。これにより、3次元形状の測定データと色情報とを
得ることができる。
【0037】以上本発明はこの様な実施形態に何等限定
されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲に
おいて種々なる態様で実施し得る。
【0038】
【発明の効果】以上詳述したように本発明の3次元形状
測定方法は、大きな不連続段差をもつ被測定物や各部が
相互に接続点をもたない孤立した面から構成されるよう
な被測定物の3次元形状を、1回の格子パターン投影で
瞬時計測することができるため、従来法で困難であった
高速運動中や高速変形中の不連続物体の瞬時形状の計測
を可能にする。しかも、各色に格子像を分離するので、
格子像には各色毎の格子像が交差する部分がなく、他の
1次元格子の格子像によるノイズを低減できるので、精
度のよい測定ができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態としての3次元形状測定方
法に用いる1次元格子の拡大説明図である。
【図2】本実施形態の3次元形状測定方法を用いた装置
の概略構成図である。
【図3】本実施形態の被測定物の斜視図である。
【図4】本実施形態の2次元格子像の説明図である。
【図5】本実施形態の被測定物の空間周波数スペクトル
の強度分布を示す斜視図である。
【図6】本実施形態の異なる感度で折り畳まれた高さ分
布の斜視図である。
【図7】本実施形態の画像処理回路で行われるフーリエ
変換処理の一例を示すフローチャートである。
【図8】本実施形態の画像処理回路で行われるコンボリ
ューション処理の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
1〜3…1次元格子 4a〜4c,31…白色光源 5…投影レンズ 6a,6b,7…被測定物 8…参照平面 9…結像レンズ 16…プリズム機構 20…格子像 21…イメージセンサ 22…画像処理回路
フロントページの続き (72)発明者 田中 秀行 愛知県瀬戸市穴田町970番地の2 株式会 社オプトン内 (72)発明者 顧 若偉 愛知県瀬戸市穴田町970番地の2 株式会 社オプトン内 Fターム(参考) 2F065 AA53 BB05 DD04 DD06 FF07 GG02 HH12 JJ26 LL04 LL41 QQ16 QQ31 QQ33 5B057 AA20 BA02 BA19 CE06 DA17 DB02 DC19 DC36

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 3次元形状の被測定物に格子パターンを
    投影し、この格子像から前記被測定物の3次元形状の測
    定値を得る3次元形状測定方法において、 周期と向きとが互いに異なる複数の1次元格子毎に色を
    変えて前記被測定物に前記格子パターンを同時に投影
    し、前記被測定物の3次元形状に応じて変形した格子像
    を撮像し、該格子像から前記各色毎の前記1次元格子成
    分に分離し、前記各1次元格子成分毎に位相を検出し
    て、該各位相に基づいて前記測定値を得ることを特徴と
    する3次元形状測定方法。
  2. 【請求項2】 前記1次元格子の色が、赤、緑、青であ
    ることを特徴とする請求項1記載の3次元形状測定方
    法。
  3. 【請求項3】 前記格子パターンを投影する光源の投影
    レンズと前記格子パターンを撮像するイメージセンサの
    結像レンズとの中心を結ぶ直線が、前記被測定物を置い
    た参照平面と平行であることを特徴とする請求項1又は
    請求項2記載の3次元形状測定方法。
  4. 【請求項4】 更に、白色光により前記被測定物を撮像
    して、前記被測定物の色情報をも計測することを特徴と
    する請求項1ないし請求項3記載の3次元形状測定方
    法。
JP2001122723A 2001-04-20 2001-04-20 3次元形状測定方法 Expired - Fee Related JP3519698B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001122723A JP3519698B2 (ja) 2001-04-20 2001-04-20 3次元形状測定方法
EP01128130A EP1251327A3 (en) 2001-04-20 2001-11-27 Three-dimensional shape measuring method
US09/995,128 US6750975B2 (en) 2001-04-20 2001-11-27 Three-dimensional shape measuring method
KR1020010075435A KR100613421B1 (ko) 2001-04-20 2001-11-30 3차원 형상 측정 방법
NO20021457A NO20021457L (no) 2001-04-20 2002-03-22 Fremgangsmåte for måling av tredimensjonal form

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001122723A JP3519698B2 (ja) 2001-04-20 2001-04-20 3次元形状測定方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002318109A true JP2002318109A (ja) 2002-10-31
JP3519698B2 JP3519698B2 (ja) 2004-04-19

Family

ID=18972388

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001122723A Expired - Fee Related JP3519698B2 (ja) 2001-04-20 2001-04-20 3次元形状測定方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6750975B2 (ja)
EP (1) EP1251327A3 (ja)
JP (1) JP3519698B2 (ja)
KR (1) KR100613421B1 (ja)
NO (1) NO20021457L (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006214914A (ja) * 2005-02-04 2006-08-17 Asahi Glass Co Ltd 鏡面形状測定方法および装置並びに検査方法および装置
JP2007121291A (ja) * 2005-10-24 2007-05-17 General Electric Co <Ge> 物体を検査する方法および装置
JP2007178426A (ja) * 2005-11-30 2007-07-12 Hamamatsu Univ School Of Medicine 観察装置
JP2009097911A (ja) * 2007-10-15 2009-05-07 Develo Solutions Kk 立体形状計測装置および立体形状計測方法
JP2010532871A (ja) * 2007-07-12 2010-10-14 カールツァイス アーゲー 物体の表面を光学検査するための方法および装置
WO2012050107A1 (ja) * 2010-10-12 2012-04-19 グローリー株式会社 硬貨処理装置及び硬貨処理方法

Families Citing this family (57)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6937348B2 (en) * 2000-01-28 2005-08-30 Genex Technologies, Inc. Method and apparatus for generating structural pattern illumination
KR100406843B1 (ko) * 2001-04-06 2003-11-21 (주) 인텍플러스 색정보를 이용한 실시간 3차원 표면형상 측정방법 및 장치
JP3884321B2 (ja) * 2001-06-26 2007-02-21 オリンパス株式会社 3次元情報取得装置、3次元情報取得における投影パターン、及び、3次元情報取得方法
JP3855756B2 (ja) * 2001-12-07 2006-12-13 ブラザー工業株式会社 3次元色形状検出装置及び3次元スキャナー
DE10254139A1 (de) * 2002-11-15 2004-05-27 Carl Zeiss Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe
SI21521A (sl) * 2003-06-12 2004-12-31 Univerza V Ljubljani Naprava za ugotavljanje oblike in dimenzij trodimenzionalnega merjenca
WO2005031252A1 (ja) * 2003-09-25 2005-04-07 Brother Kogyo Kabushiki Kaisha 3次元形状検出装置、3次元形状検出システム、及び、3次元形状検出プログラム
JP4162095B2 (ja) * 2003-12-11 2008-10-08 ストライダー ラブス,インコーポレイテッド 遮蔽された部分の表面を対称性の算出により見込み復元するための技術
JP2005293075A (ja) * 2004-03-31 2005-10-20 Brother Ind Ltd 3次元形状検出装置、3次元形状検出方法、3次元形状検出プログラム
US20050243330A1 (en) * 2004-04-28 2005-11-03 Simon Magarill Methods and apparatus for determining three dimensional configurations
US7433058B2 (en) * 2004-07-12 2008-10-07 Solvision Inc. System and method for simultaneous 3D height measurements on multiple sides of an object
US20070273894A1 (en) * 2006-05-23 2007-11-29 Johnson James T Method and apparatus for remote spatial calibration and imaging
US7474415B2 (en) * 2006-09-13 2009-01-06 Chung Shan Institute Of Science And Technology, Armaments Bureau, M.N.D. Measurement method of three-dimensional profiles and reconstruction system thereof using subpixel localization with color gratings and picture-in-picture switching on single display
KR100945314B1 (ko) 2007-02-21 2010-03-05 캐논 가부시끼가이샤 형상 측정 장치, 노광 장치 및 컴퓨터
US7768656B2 (en) * 2007-08-28 2010-08-03 Artec Group, Inc. System and method for three-dimensional measurement of the shape of material objects
WO2009038242A1 (en) * 2007-09-18 2009-03-26 Intekplus Co., Ltd. Optical test method
DE102007054907A1 (de) * 2007-11-15 2009-05-28 Sirona Dental Systems Gmbh Verfahren zur optischen Vermessung von Objekten unter Verwendung eines Triangulationsverfahrens
CN103134446B (zh) 2008-02-26 2017-03-01 株式会社高永科技 三维形状测量装置及测量方法
KR100901537B1 (ko) 2008-04-30 2009-06-08 지스캔(주) 칼라격자를 적용한 3차원 측정방법
KR100910573B1 (ko) 2008-05-29 2009-08-04 선문대학교 산학협력단 칼라 다파장 위상을 적용한 3차원 측정방법
WO2010006081A1 (en) * 2008-07-08 2010-01-14 Chiaro Technologies, Inc. Multiple channel locating
KR101001894B1 (ko) 2008-10-13 2010-12-17 한국표준과학연구원 컬러 투사 모아레 기법을 이용한 3차원 형상 측정 장치 및 방법
KR101078876B1 (ko) 2009-02-18 2011-11-01 연세대학교 산학협력단 3차원 형상 측정 장치
KR101078877B1 (ko) 2009-02-18 2011-11-01 연세대학교 산학협력단 3차원 형상 측정 장치
DE102009017464B4 (de) * 2009-04-03 2011-02-17 Carl Zeiss Oim Gmbh Vorrichtung zum optischen Inspizieren einer Oberfläche an einem Gegenstand
KR101088497B1 (ko) 2009-05-21 2011-11-30 주식회사 고영테크놀러지 3차원 형상 측정방법
JP5395507B2 (ja) * 2009-05-21 2014-01-22 キヤノン株式会社 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法及びコンピュータプログラム
CA2771727C (en) * 2009-11-04 2013-01-08 Technologies Numetrix Inc. Device and method for obtaining three-dimensional object surface data
KR101289595B1 (ko) * 2011-02-28 2013-07-24 이경자 격자패턴투영장치
KR101295760B1 (ko) * 2011-03-10 2013-08-13 주식회사 미르기술 다중 격자 무늬를 이용한 비전검사장치
KR101466741B1 (ko) * 2011-06-28 2014-12-01 주식회사 고영테크놀러지 3차원 형상 측정방법
US8964002B2 (en) 2011-07-08 2015-02-24 Carestream Health, Inc. Method and apparatus for mapping in stereo imaging
JP5581282B2 (ja) * 2011-08-31 2014-08-27 株式会社日立ハイテクノロジーズ 表面形状計測装置
US8990682B1 (en) * 2011-10-05 2015-03-24 Google Inc. Methods and devices for rendering interactions between virtual and physical objects on a substantially transparent display
US20150292875A1 (en) * 2011-11-23 2015-10-15 The Trustees of Columbia University in the Coty of New York Systems, methods, and media for performing shape measurement
JPWO2013118543A1 (ja) * 2012-02-09 2015-05-11 株式会社日立ハイテクノロジーズ 表面計測装置
JP5995484B2 (ja) * 2012-03-30 2016-09-21 キヤノン株式会社 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法、及びプログラム
JP6104662B2 (ja) * 2013-03-25 2017-03-29 株式会社東芝 計測装置、方法及びプログラム
US20140293011A1 (en) * 2013-03-28 2014-10-02 Phasica, LLC Scanner System for Determining the Three Dimensional Shape of an Object and Method for Using
KR101606720B1 (ko) * 2013-08-12 2016-03-28 주식회사 수아랩 3차원 표면 측정 장치 및 방법
JP6232829B2 (ja) * 2013-08-13 2017-11-22 横浜ゴム株式会社 形状解析装置及び形状解析方法
WO2015066458A1 (en) * 2013-11-01 2015-05-07 The Research Foundation For The State University Of New York Method for measuring the interior three-dimensional movement, stress and strain of an object
JP2015114309A (ja) 2013-12-16 2015-06-22 株式会社オプトン 計測装置
FR3018621B1 (fr) * 2014-03-12 2017-07-21 Vit Procede de determination d'images tridimensionnelles d'un objet
CH709747A1 (de) * 2014-06-11 2015-12-15 Quarz Partners Ag Verfahren und Vorrichtung zum dreidimensionalen Ausmessen von Zahnreihen.
KR101447645B1 (ko) 2014-07-08 2014-10-08 주식회사 고영테크놀러지 3차원 형상 측정방법
JP6478725B2 (ja) * 2015-03-09 2019-03-06 キヤノン株式会社 計測装置及びロボット
US20160354881A1 (en) * 2015-06-02 2016-12-08 Canon Kabushiki Kaisha Measurement apparatus, system, and method of manufacturing article
KR102482062B1 (ko) * 2016-02-05 2022-12-28 주식회사바텍 컬러 패턴을 이용한 치과용 3차원 스캐너
EP3441715A4 (en) * 2016-04-06 2019-11-13 4d Sensor Inc. MEASURING METHOD, MEASURING DEVICE, MEASURING PROGRAM, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM HAVING THE MEASUREMENT PROGRAM RECORDED THEREON
JP6673266B2 (ja) * 2017-03-08 2020-03-25 オムロン株式会社 相互反射検出装置、相互反射検出方法、およびプログラム
KR102015219B1 (ko) * 2018-04-24 2019-10-22 한국표준과학연구원 복합 패턴을 이용한 초고속 편향 측정법을 이용한 자유곡면의 3차원 형상측정시스템 및 측정방법
US11486700B2 (en) * 2019-07-29 2022-11-01 Korea Research Institute Of Standards And Science System and method for 3D shape measurement of freeform surface based on high-speed deflectometry using composite patterns
KR102218015B1 (ko) * 2019-08-06 2021-02-19 한국표준과학연구원 Fpm에서 켈리브레이션 그레이팅을 이용한 회절격자 위상 측정시스템 및 측정방법
TWI720602B (zh) * 2019-08-27 2021-03-01 國立中央大學 重建物體表面的方法與光學系統
JP2022049269A (ja) * 2020-09-16 2022-03-29 セイコーエプソン株式会社 三次元形状計測方法および三次元形状計測装置
KR102485679B1 (ko) * 2021-03-05 2023-01-10 한국표준과학연구원 측정정확도 향상을 위한 편향측정법의 보정방법

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3944358A (en) * 1974-09-20 1976-03-16 Xerox Corporation Color image reproduction system
JPH061164B2 (ja) * 1985-01-31 1994-01-05 伍良 松本 立体形状測定装置
JPH0615968B2 (ja) * 1986-08-11 1994-03-02 伍良 松本 立体形状測定装置
US5016040A (en) * 1987-05-26 1991-05-14 Silhouette Technology, Inc. Method and apparatus for forming a recording on a recording medium
DE3907430C1 (ja) * 1988-12-23 1991-03-21 Klaus 8206 Bruckmuehl De Pfister
US5489986A (en) * 1989-02-28 1996-02-06 Nikon Corporation Position detecting apparatus
US5343294A (en) * 1990-03-09 1994-08-30 Carl-Zeiss-Stiftung Method for analyzing periodic brightness patterns
DE4007500A1 (de) * 1990-03-09 1991-09-12 Zeiss Carl Fa Verfahren und vorrichtung zur beruehrungslosen vermessung von objektoberflaechen
DE4130237A1 (de) * 1991-09-11 1993-03-18 Zeiss Carl Fa Verfahren und vorrichtung zur dreidimensionalen optischen vermessung von objektoberflaechen
NL9200071A (nl) * 1992-01-15 1993-08-02 Stichting Science Park Maastri Inrichting voor het bepalen van de topografie van een gekromd oppervlak.
US6153886A (en) * 1993-02-19 2000-11-28 Nikon Corporation Alignment apparatus in projection exposure apparatus
US5583609A (en) * 1993-04-23 1996-12-10 Nikon Corporation Projection exposure apparatus
US6028672A (en) * 1996-09-30 2000-02-22 Zheng J. Geng High speed three dimensional imaging method
EP1009969B1 (en) * 1996-06-13 2003-11-05 K.U. Leuven Research & Development Method and system for acquiring a three-dimensional shape description
JP3388684B2 (ja) 1997-03-05 2003-03-24 株式会社オプトン 3次元形状測定方法
GB9713658D0 (en) * 1997-06-28 1997-09-03 Travis Adrian R L View-sequential holographic display
US6438272B1 (en) * 1997-12-31 2002-08-20 The Research Foundation Of State University Of Ny Method and apparatus for three dimensional surface contouring using a digital video projection system
US6252623B1 (en) * 1998-05-15 2001-06-26 3Dmetrics, Incorporated Three dimensional imaging system
JP2000292135A (ja) * 1999-04-07 2000-10-20 Minolta Co Ltd 3次元情報入力カメラ
JP2000292131A (ja) 1999-04-07 2000-10-20 Minolta Co Ltd 3次元情報入力カメラ
US6341016B1 (en) * 1999-08-06 2002-01-22 Michael Malione Method and apparatus for measuring three-dimensional shape of object
JP2001159510A (ja) * 1999-12-01 2001-06-12 Matsushita Electric Ind Co Ltd 三次元形状計測方法及びその装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006214914A (ja) * 2005-02-04 2006-08-17 Asahi Glass Co Ltd 鏡面形状測定方法および装置並びに検査方法および装置
JP4613626B2 (ja) * 2005-02-04 2011-01-19 旭硝子株式会社 鏡面形状測定方法および装置並びに検査方法および装置
JP2007121291A (ja) * 2005-10-24 2007-05-17 General Electric Co <Ge> 物体を検査する方法および装置
JP2007178426A (ja) * 2005-11-30 2007-07-12 Hamamatsu Univ School Of Medicine 観察装置
JP2010532871A (ja) * 2007-07-12 2010-10-14 カールツァイス アーゲー 物体の表面を光学検査するための方法および装置
JP2009097911A (ja) * 2007-10-15 2009-05-07 Develo Solutions Kk 立体形状計測装置および立体形状計測方法
JP4633101B2 (ja) * 2007-10-15 2011-02-16 ビジュアツール株式会社 立体形状計測装置および立体形状計測方法
WO2012050107A1 (ja) * 2010-10-12 2012-04-19 グローリー株式会社 硬貨処理装置及び硬貨処理方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR100613421B1 (ko) 2006-08-17
KR20020082738A (ko) 2002-10-31
EP1251327A3 (en) 2008-01-09
JP3519698B2 (ja) 2004-04-19
EP1251327A2 (en) 2002-10-23
NO20021457L (no) 2002-10-21
US20030016366A1 (en) 2003-01-23
US6750975B2 (en) 2004-06-15
NO20021457D0 (no) 2002-03-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3519698B2 (ja) 3次元形状測定方法
EP1266187B1 (en) System for simultaneous projections of multiple phase-shifted patterns for the three-dimensional inspection of an object
EP3306266B1 (en) Three-dimensional shape measurement apparatus
EP2175232A1 (en) Three-dimensional shape measuring device, three-dimensional shape measuring method, three-dimensional shape measuring program, and recording medium
WO2000070303A1 (en) Color structured light 3d-imaging system
JP2930406B2 (ja) 位相シフトを利用するモアレ法の応用によりテストされるべき表面のモアレパターンを観測するための方法および装置
US20080117438A1 (en) System and method for object inspection using relief determination
JP3388684B2 (ja) 3次元形状測定方法
JP2005520142A (ja) 物体の絶対座標測定方法および装置
JP5122729B2 (ja) 3次元形状測定方法
KR100558325B1 (ko) 스테레오비전과 모아레를 이용한 3차원 검사 방법 및 장치
KR20000053779A (ko) 2차원 격자무늬를 이용한 3차원 형상측정시스템
JP2008170281A (ja) 形状測定装置及び形状測定方法
KR100540192B1 (ko) 3차원 형상 측정 장치 및 측정 방법
JP3921432B2 (ja) モアレ光学系を用いた形状測定装置及び形状測定方法
KR100198527B1 (ko) 규칙적 미세패턴의 결함 검사장치
JP3500430B2 (ja) 単色矩形波格子を用いる形状計測方法及び形状計測装置
JP4858842B2 (ja) 形状測定装置
JP4418651B2 (ja) 欠陥検出方法及びその装置
KR20050057223A (ko) 무영 3d/2d 측정장치 및 방법
CN114264252A (zh) 三维形状测量方法及三维形状测量装置
JP4210236B2 (ja) 光学的形状測定方法
JP2022070697A (ja) 三次元形状計測方法および三次元形状計測装置
CN114166149A (zh) 三维形状测量方法以及三维形状测量装置
CA2402849A1 (en) System for simultaneous projections of multiple phase-shifted patterns for the three-dimensional inspection of an object

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040106

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040129

S303 Written request for registration of pledge or change of pledge

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R316303

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R370 Written measure of declining of transfer procedure

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370

S303 Written request for registration of pledge or change of pledge

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R316303

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080206

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090206

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090206

Year of fee payment: 5

S303 Written request for registration of pledge or change of pledge

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R316311

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090206

Year of fee payment: 5

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090206

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110206

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110206

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110206

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees