JP2002318109A - 3次元形状測定方法 - Google Patents
3次元形状測定方法Info
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Abstract
得る。 【解決手段】周期と向きとが互いに異なる複数の1次元
格子1〜3毎に色を変えて被測定物に格子パターンを同
時に投影する。そして、被測定物の3次元形状に応じて
変形した格子像を撮像し、格子像から各色毎の1次元格
子成分に分離し、各1次元格子成分毎に位相を検出し
て、各位相に基づいて3次元形状の測定値を得る。ま
た、白色光により被測定物を撮像して、被測定物の色情
報をも計測する。
Description
定物に格子パターンを投影し、この投影像から被測定物
の形状を測定する3次元形状測定方法に関する。
を投影し、被測定物各部の高さ分布に応じて変形した格
子像から3次元形状を測定するモアレ法やヘテロダイン
法が知られている。モアレ法では変形格子像に基準格子
を重ねることにより被測定物の高さ分布の等高線を与え
るモアレ縞を発生させて高さ分布を求めている。ヘテロ
ダイン法では基準格子を無変調の空間的キャリア周波数
信号と考え、変形格子像を空間的に位相変調されたキャ
リア信号とみなして変形量を位相として検出することに
より被測定物の高さ分布を求めている。
各部が相互に連続に接続された被測定物に対しては有効
であるが、大きな不連続段差をもつ被測定物や各部が相
互に接続点をもたない孤立した面から構成されるような
被測定物の形状を測ることができない。モアレ法の場合
は、不連続な等高縞の縞次数を一意に決定できないため
であり、また、ヘテロダイン法の場合は、(−π、π]
の主値の範囲に折り畳まれて検出される位相分布から不
連続物体の高さ分布を一意に決定することができないた
めである。
定するため、特開平10−246612号公報にあるよ
うに、周期と向きとが互いに異なる複数の1次元格子を
重畳させた2次元格子パターンを被測定物に投影し、被
測定物の3次元形状に応じて変形した2次元格子像を撮
像し、2次元格子像から各1次元格子成分毎に位相を検
出し、各位相に基づいて3次元形状の測定値を得る方法
が提案されている。
た従来の方法では、周期と向きが異なる1次元格子の個
数が多くなるほど、格子像での1次元格子の交差する部
分が多くなり、2次元格子像を撮像後の周波数の分離が
難しくなり、他の1次元格子がノイズ源となり、精度よ
く測定できないという問題があった。
3次元形状測定方法を提供することにある。
く、本発明は課題を解決するため次の手段を取った。即
ち、3次元形状の被測定物に格子パターンを投影し、こ
の格子像から前記被測定物の3次元形状の測定値を得る
3次元形状測定方法において、周期と向きとが互いに異
なる複数の1次元格子毎に色を変えて前記被測定物に前
記格子パターンを同時に投影し、前記被測定物の3次元
形状に応じて変形した格子像を撮像し、該格子像から前
記各色毎の前記1次元格子成分に分離し、前記各1次元
格子成分毎に位相を検出して、該各位相に基づいて前記
測定値を得ることを特徴とする3次元形状測定方法がそ
れである。
てもよい。また、前記格子パターンを投影する光源の投
影レンズと前記格子パターンを撮像するイメージセンサ
の結像レンズとの中心を結ぶ直線が、前記被測定物を置
いた参照平面と平行であることが好ましい。更に、白色
光により前記被測定物を撮像して、前記被測定物の色情
報をも計測するようにしてもよい。
基づいて詳細に説明する。図1(a)に示すように、1
は、本実施形態に用いられる赤色の1次元格子1であ
る。この赤色の1次元格子1は、縦方向の赤色の条線の
周期的繰り返し(周期=d1 )により形成されている。
また、図1(b)に示すように、2は、本実施形態に用
いられる緑色の1次元格子2である。この緑色の1次元
格子2は、斜め方向の緑色の条線の周期的繰り返し(周
期=d2 )により形成されている。
実施形態に用いられる青色の1次元格子3である。この
青色の1次元格子3は、前述した緑色の条線よりも傾斜
角度の大きな斜め方向の青色の条線の周期的繰り返し
(周期=d3 )により形成されている。
もよく、また、1次元格子1〜3としては不要な高調波
成分を含まない正弦波格子が理想的であるが、信号処理
の段階で不要な高調波成分を除去することにより、製作
の容易な矩形格子を用いることもできる。
中心を結ぶ直線方向の各1次元格子1〜3の各周期d1
,d2 ,d3 は、物体の高さを位相値に変換する計測
感度に対応するので、これらは異なる値になるようにす
る。例えば、異なる位相感度の複数の計側データを統合
して高さ分布を求める方法として合同法を用いる場合に
は、d1 :d2 :d3 を3:5:7等の素数比とするの
が好ましい。
うに、それぞれの白色光源4a〜4cでレンズ10〜1
2を介して照明するように構成されている。本実施形態
では、赤色の1次元格子1が、投影レンズ5の光軸と同
軸上に配置され、白色光源4aで赤色の1次元格子1を
照明し、投影レンズ5により参照平面8上に赤色の1次
元格子1の像を投影する。
5の光軸と平行に配置され、白色光源4bで緑色の1次
元格子2を照明し、プリズム機構16を介して、投影レ
ンズ5により参照平面8上に緑色の1次元格子2の像を
投影する。更に、緑色の1次元格子2と光軸を挟んで対
向して青色の1次元格子3が配置されており、白色光源
4cで青色の1次元格子3を照明し、プリズム機構16
を介して、投影レンズ5により参照平面82上に青色の
1次元格子3の像を投影する。
定物6a,6b,7は、相互に接続点を持たない孤立し
た面からなる物体である。この3個の被測定物6a,6
b,7は、参照平面8上に置かれており、参照平面8は
高さ計測の基準面を与える。結像レンズ9は被測定物6
a,6b,7及び参照平面8上の格子パターンを格子像
20としてイメージセンサ21上に結像する。本実施形
態では、イメージセンサ21に、3板式CCDカメラを
用いており、イメージセンサ21からの画像データは画
像処理回路22に入力される。投影レンズ5と結像レン
ズ9の投影中心を結ぶ直線を参照平面8に平行にして参
照平面8が高さ計測の基準面となるようにする。
垂直であり、投影レンズ5と結像レンズ9の投影中心を
結ぶ直線が水平方向になるように配置する。こうするこ
とにより、被測定物6a,6b,7の高さを位相値に変
換する計測感度比が各1次元格子1〜3の水平方向の周
期比d1 :d2 :d3 により決定され、縦方向の周期比
には依存しなくなるので1次元格子1〜3を重畳し多重
化する際の条線の頃き角の選択の自由度が生じる。この
条線の傾き角の選択の自由度を利用して、各1次元格子
1〜3の空間周波数スペクトル成分が互いに分離するよ
うに条線方向を選び、空間周波教フィルタによるスペク
トルの選択的な抽出ができるようにする。
方の被測定物6aは高さ20mmの円柱体であり、他方
の被測定物6bは高さが30mmの直方体である。これ
らは、縁に沿って大きな不運続段差をもち、両者は相互
に接続点をもたない孤立した面から構成されている。他
の一つの被測定物7は、頂上の高さが25mmの山型の
連続な高さ分布の円錐体である。
示すように、各白色光源4a〜4cにより各1次元格子
1〜3の格子パターンを同時に投影する。そして、この
格子像20をイメージセンサ21により撮像する。格子
像20は、図4に示すように、被測定物6a,6b,7
の3次元形状に応じて変形しており、水平方向の周期比
がd1 :d2 :d3 =3:5:7で、縦方向の条線と斜
め方向の条線からなる3つの1次元格子1〜3が多重に
重畳されている。
れた格子像パターンg(x,y) は下記(1)式で表され
る。ここでfXk,fYkは空間周波数、r(x,y)は被測定物
表面の反射率である。
グによりφk(x,y)を分離して個別に取り出すことができ
るが、得られる各々のhk(x,y)は△hk (下記(2)
式)の主値に折り畳まれているのでこれらのデータはそ
れぞれ△hk を法とする合同系を作っている。x方向の
周期比を互いに素で最も簡単な整数mk に対してそれぞ
れ下記(3)式となるように選んでおくと、下記
(4)、(5)式はmk (=△hk /α)を法とする連
立合同系(下記(6)式)を作り上げるので、結局被測
定物の高さh(x,y) はこの連立合同方程式の解法に帰着
される。
は、画像処理回路22に入力されて、図7に示す処理が
行われる。画像処理回路22では、まず、この重畳され
た格子像20から各色毎に格子像を分離する(ステップ
100)。そして各色毎に分離した格子像に応じた画像
データを2次元フーリエ変換して、空間周波数スペクト
ルの強度分布を得る(ステップ110)。
より得られた空間周波数スペクトルの強度分布の斜視図
である。赤色の1次元格子1の空間周波数スペクトル1
3、13’と、緑色の1次元格子2の空間周波数スペク
トル14、14’と、青色の1次元格子3の空間周波数
スペクトル15、15’は、2次元空間周波数領域でこ
のように分離されるので、各1次元格子1〜3の空間周
波数に対応したスペクトル成分を空間周波数フィルタに
より選択的に抽出する(ステップ120)。
の2次元フーリエ逆変換を行い(ステップ130)、位
相をヘテロダイン検出する(ステップ140)。本実施
形態では3つの1次元格子1〜3を多重化したが、図5
のスペクトル分布から明らかなように、さらに多くの色
の1次元格子を多重化してスペクトルを分離することも
できる。
実行して、全ての多重化スペクトルに対して位相の検出
を行い(ステップ150)、全ての多重化スペクトルに
対して位相を得た後は、既存の方法により高さ分布を求
める(ステップ160)。異なる位相感度の複数の計測
データを統合して高さ分布を求める方法としては、多波
長千渉計測における合同法や合致法等の既存の方法を用
いることができる。
π]の主値の範囲に折り畳まれているが、被測定物6
a,6b,7の高さを位相値に変換する計側感度が各1
次元格子1〜3の水平方向の周期に応じて3:5:7と
異なるために、図6(a)〜(c)に示すように、各周
波数スペクトル毎に異なる高さ範囲に折り畳まれた3次
元形状分布が得られる。
縦方向である赤色の1次元格子1のスペクトル成分13
をフィルタで取り出しヘテロダイン検出して得られた高
さ分布であり、高さが3mmの範囲に折り畳まれてい
る。一方、図6(b)の3次元形状分布26は条線が斜
め方向である緑色の1次元格子2のスペクトル成分14
をフィルタで取り出しヘテロダイン検出して得られた高
さ分布てあり、高さが5mmの範囲に折り畳まれてい
る。
条線が斜め方向である青色の1次元格子3のスペクトル
成分15をフィルタで取り出しヘテロダイン検出して得
られた高さ分布てあり、高さが7mmの範囲に折り畳ま
れている。このように、図1に示した各色毎の1次元格
子1〜3の格子像から同時に3つの異なる感度の計測デ
ータを取得することができる。多重化度を高めればさら
に多くの異なる感度の計測データを得ることができる。
従来のヘテロダイン法では、図6(a)〜(c)の折り
畳まれた高さ分布25〜27のいずれか一つのみが得ら
れることになる。図3の被測定物6a,6bのように、
縁に沿って大きな不連続段差をもち、相互に接続点をも
たない孤立した面から構成されている物体の場合は、各
高さ分布25〜27の折り畳まれた高さ分布のいずれか
1つだけからは、その3次元形状を一意に決定すること
ができない。したがって、本発明の方法により、各色の
1次元格子像20から同時に複数の異なる感度の計測デ
ータを取得することが不可欠である。
6(a)〜(c)の3つの高さ分布25〜27のデータ
を統合して3次元形状を求める方法として、多波長干渉
計測の分野でよく知られた合同法を用いると図3に示す
被測定物6a,6b,7の3次元形状分布を正しく求め
ることができる。
元フーリエ変換しフィルタリングして、所望のスペクト
ル成分を選択的に抽出するのと全く等価な処理を格子像
に対する直接演算により実現することもできる。即ち、
図8に示すように、まず、この重畳された格子像20か
ら各色毎に格子像を分離する(ステップ100)。そし
て、所望のスペクトルを選択的に抽出するのに用いた2
次元フィルタ窓関数を逆フーリエ変換して2次元インパ
ルス応答関数を得て(ステップ200)、それを空間周
波数多重化格子像に直接2次元コンボリューション演算
することによっても各1次元格子1〜3の空間周波数に
対応したスペクトル成分を選択的に抽出することができ
る(ステップ210)。尚、以下の処理(ステップ13
0〜150)は、前述した処理と同じであるので、説明
を省略する。
元形状に応じて変形した空間周波数多重化格子像20を
画像処理回路22に取り込み、各色毎に格子像を分離し
てから、各1次元格子1〜3の空間周波数に対応したス
ペクトル成分を空間周波数フィルタにより選択的に抽出
し、その位相を個別にヘテロダイン検出する。
手像を2次元フーリエ変換した周波数スペクトル領域で
行うか、あるいは、それと同等な2次元コンボリューシ
ョン演算を2次元格子像に対して直接実行する。ヘテロ
ダイン検出されたこれらの位相は(−π、π]の主値の
範囲に折り畳まれているが、被測定物6a,6b,7の
高さを位相値に変換する計測感度が各1次元格子1〜3
の空間周波数に応じて異なるために、各周波数スペクト
ル毎に異なる高さ範囲に折り畳まれた3次元形状分布が
得られる。
スペクトル成分から得られる複数の計測データを統合す
ることにより、不連続段差や孤立した物体面の有無に関
わらず、各単独の計測点ごとにその高さを個別に決定す
ることができる。また、1回の格子パターン投影で瞬時
計測することができるため、高速運動中や高速変形中の
不連続物体の瞬時形状の計測を可能にする。
離するので、この格子像には各色毎の格子像が交差する
部分がなく、他の1次元格子1〜3の格子像によるノイ
ズを低減できるので、精度のよい測定ができる。また、
図2に示すように、イメージセンサ21と同軸上に、リ
ング状の白色光源31を設け、この白色光源31からの
白色光を被測定物6a,6b,7に投光して、イメージ
センサ21により被測定物6a,6b,7のカラー画像
を撮る。このカラー画像からピクセル毎の色情報を得
る。これにより、3次元形状の測定データと色情報とを
得ることができる。
されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲に
おいて種々なる態様で実施し得る。
測定方法は、大きな不連続段差をもつ被測定物や各部が
相互に接続点をもたない孤立した面から構成されるよう
な被測定物の3次元形状を、1回の格子パターン投影で
瞬時計測することができるため、従来法で困難であった
高速運動中や高速変形中の不連続物体の瞬時形状の計測
を可能にする。しかも、各色に格子像を分離するので、
格子像には各色毎の格子像が交差する部分がなく、他の
1次元格子の格子像によるノイズを低減できるので、精
度のよい測定ができるという効果を奏する。
法に用いる1次元格子の拡大説明図である。
の概略構成図である。
の強度分布を示す斜視図である。
布の斜視図である。
変換処理の一例を示すフローチャートである。
ューション処理の一例を示すフローチャートである。
Claims (4)
- 【請求項1】 3次元形状の被測定物に格子パターンを
投影し、この格子像から前記被測定物の3次元形状の測
定値を得る3次元形状測定方法において、 周期と向きとが互いに異なる複数の1次元格子毎に色を
変えて前記被測定物に前記格子パターンを同時に投影
し、前記被測定物の3次元形状に応じて変形した格子像
を撮像し、該格子像から前記各色毎の前記1次元格子成
分に分離し、前記各1次元格子成分毎に位相を検出し
て、該各位相に基づいて前記測定値を得ることを特徴と
する3次元形状測定方法。 - 【請求項2】 前記1次元格子の色が、赤、緑、青であ
ることを特徴とする請求項1記載の3次元形状測定方
法。 - 【請求項3】 前記格子パターンを投影する光源の投影
レンズと前記格子パターンを撮像するイメージセンサの
結像レンズとの中心を結ぶ直線が、前記被測定物を置い
た参照平面と平行であることを特徴とする請求項1又は
請求項2記載の3次元形状測定方法。 - 【請求項4】 更に、白色光により前記被測定物を撮像
して、前記被測定物の色情報をも計測することを特徴と
する請求項1ないし請求項3記載の3次元形状測定方
法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001122723A JP3519698B2 (ja) | 2001-04-20 | 2001-04-20 | 3次元形状測定方法 |
EP01128130A EP1251327A3 (en) | 2001-04-20 | 2001-11-27 | Three-dimensional shape measuring method |
US09/995,128 US6750975B2 (en) | 2001-04-20 | 2001-11-27 | Three-dimensional shape measuring method |
KR1020010075435A KR100613421B1 (ko) | 2001-04-20 | 2001-11-30 | 3차원 형상 측정 방법 |
NO20021457A NO20021457L (no) | 2001-04-20 | 2002-03-22 | Fremgangsmåte for måling av tredimensjonal form |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001122723A JP3519698B2 (ja) | 2001-04-20 | 2001-04-20 | 3次元形状測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002318109A true JP2002318109A (ja) | 2002-10-31 |
JP3519698B2 JP3519698B2 (ja) | 2004-04-19 |
Family
ID=18972388
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001122723A Expired - Fee Related JP3519698B2 (ja) | 2001-04-20 | 2001-04-20 | 3次元形状測定方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6750975B2 (ja) |
EP (1) | EP1251327A3 (ja) |
JP (1) | JP3519698B2 (ja) |
KR (1) | KR100613421B1 (ja) |
NO (1) | NO20021457L (ja) |
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EP1251327A3 (en) | 2008-01-09 |
JP3519698B2 (ja) | 2004-04-19 |
EP1251327A2 (en) | 2002-10-23 |
NO20021457L (no) | 2002-10-21 |
US20030016366A1 (en) | 2003-01-23 |
US6750975B2 (en) | 2004-06-15 |
NO20021457D0 (no) | 2002-03-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20040106 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20040129 |
|
S303 | Written request for registration of pledge or change of pledge |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R316303 |
|
R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
|
R370 | Written measure of declining of transfer procedure |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R370 |
|
S303 | Written request for registration of pledge or change of pledge |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R316303 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080206 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090206 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090206 Year of fee payment: 5 |
|
S303 | Written request for registration of pledge or change of pledge |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R316311 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090206 Year of fee payment: 5 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090206 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100206 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110206 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110206 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110206 Year of fee payment: 7 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |