KR101466741B1 - 3차원 형상 측정방법 - Google Patents
3차원 형상 측정방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101466741B1 KR101466741B1 KR1020110062936A KR20110062936A KR101466741B1 KR 101466741 B1 KR101466741 B1 KR 101466741B1 KR 1020110062936 A KR1020110062936 A KR 1020110062936A KR 20110062936 A KR20110062936 A KR 20110062936A KR 101466741 B1 KR101466741 B1 KR 101466741B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- height
- weight
- measurement object
- brightness
- directions
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 107
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 claims description 12
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 10
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 5
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 28
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 12
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 238000009738 saturating Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2536—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object using several gratings with variable grating pitch, projected on the object with the same angle of incidence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2518—Projection by scanning of the object
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/18—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical projection, e.g. combination of mirror and condenser and objective
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B17/00—Details of cameras or camera bodies; Accessories therefor
- G03B17/02—Bodies
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03B—APPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
- G03B30/00—Camera modules comprising integrated lens units and imaging units, specially adapted for being embedded in other devices, e.g. mobile phones or vehicles
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T15/00—3D [Three Dimensional] image rendering
- G06T15/04—Texture mapping
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Computer Graphics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
도 2는 도 1의 측정 대상물로 조사된 격자 패턴광에 의한 격자무늬 패턴 이미지를 도시한 평면도이다.
도 3은 격자 패턴광이 우측 방향에서 측정 대상물로 조사될 때의 카메라에 측정된 영상을 평면도이다.
도 4는 격자 패턴광이 좌측 방향에서 측정 대상물로 조사될 때의 카메라에 측정된 영상을 평면도이다.
도 5는 카메라에 측정된 패턴영상들에서의 평균밝기와 기본 가중치 사이의 관계를 나타낸 그래프이다.
도 6은 카메라에 측정된 패턴영상들에서의 가시도 또는 SNR과 기본 가중치 사이의 관계를 나타낸 그래프이다.
도 7은 카메라에 측정된 패턴영상들에서의 측정범위와 기본 가중치 사이의 관계를 나타낸 그래프이다.
200 : 영상 촬영부 300 : 제1 조명부
400 : 제2 조명부 500 : 영상 획득부
600 : 모듈 제어부 700 : 중앙 제어부
Claims (17)
- 복수의 방향들로부터 인가되는 격자 패턴광들 각각을 N번 변화시키면서 측정 대상물로 조사한 후, 상기 측정 대상물로부터 반사되는 상기 격자 패턴광들을 검출하여, 상기 각 방향에서의 상기 측정 대상물의 N개의 패턴영상들을 획득하는 단계;
상기 패턴영상들로부터 각 위치에 대응하는 상기 각 방향에서의 위상 및 밝기를 추출하는 단계;
상기 밝기를 매개변수로 하는 가중치 함수를 이용하여 상기 각 방향에서의 높이 가중치를 추출하는 단계;
상기 각 방향에서의 위상에 근거한 높이 및 상기 높이 가중치를 이용하여 상기 각 방향에서의 가중치 높이를 계산하는 단계; 및
상기 각 방향에서의 가중치 높이를 이용하여 상기 각 위치에서의 높이를 계산하는 단계를 포함하는 3차원 형상 측정방법. - 제 1항에 있어서,
상기 각 방향에서의 높이 가중치들의 합은 1로 설정되고,
상기 각 위치에서의 높이를 계산하는 단계는,
상기 가중치 높이들을 합하여 상기 각 위치에서의 높이를 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정방법. - 제 2항에 있어서,
상기 각 위치에 따른 높이를 통합하여, 상기 측정 대상물의 3차원 형상을 측정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정방법. - 제1항에 있어서, 상기 밝기는 상기 검출된 격자 패턴광들을 평균하여 얻은 평균밝기인 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정방법.
- 제1항에 있어서, 상기 가중치 함수는,
상기 각 방향에서의 패턴영상들로부터 추출된 상기 각 방향에서의 가시도(visibility) 및 SNR(signal-to-noise ratio) 중 적어도 하나를 매개변수로 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정방법. - 제5항에 있어서, 상기 가중치 함수는,
상기 각 방향에서의 패턴영상들로부터 추출된 상기 격자 패턴광들 각각에서의 격자피치인 측정범위(λ)를 매개변수로 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정방법. - 제6항에 있어서, 상기 격자 패턴광들의 측정범위들은 적어도 2개 이상이 상이한 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정방법.
- 제5항에 있어서,
상기 밝기는 상기 검출된 격자 패턴광들을 평균하여 얻은 평균밝기이고,
상기 가중치 함수는, 상기 평균밝기가 특정값을 기점으로 증가하거나 감소할 때, 상기 높이 가중치를 감소시키는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정방법. - 제8항에 있어서, 상기 특정값은 상기 평균밝기의 중간치인 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정방법.
- 제5항에 있어서, 상기 가중치 함수는,
상기 가시도 또는 상기 SNR이 증가될 때, 상기 높이 가중치를 증가시키는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정방법 - 제6항에 있어서, 상기 가중치 함수는,
상기 측정범위가 증가될 때, 상기 높이 가중치를 감소시키는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정방법. - 제5항에 있어서,
상기 밝기는 상기 검출된 격자 패턴광들을 평균하여 얻은 평균밝기이고,
상기 높이 가중치를 추출하는 단계는,
상기 패턴영상들을 그림자 영역, 포화 영역 및 비포화 영역으로 구분하는 단계를 포함하고,
상기 그림자 영역은 상기 평균밝기가 최소 밝기값 이하이고, 상기 가시도 또는 상기 SNR이 최소 기준값 이하인 영역이고,
상기 포화 영역은 상기 평균밝기가 최대 밝기값 이상이고, 상기 가시도 또는 상기 SNR이 최소 기준값 이하인 영역이며,
상기 비포화 영역은 상기 그림자 영역 및 상기 포화 영역을 제외한 나머지 영역인 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정방법. - 제12항에 있어서, 상기 그림자 영역 및 상기 포화 영역에서의 상기 가중치 함수는,
상기 높이 가중치를 '0'으로 계산하는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정방법. - 제13항에 있어서, 상기 비포화 영역에서의 상기 가중치 함수는,
상기 평균밝기가 중간치를 기점으로 증가하거나 감소할 때, 상기 높이 가중치를 감소시키고,
상기 가시도 또는 상기 SNR이 증가될 때, 상기 높이 가중치를 증가시는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정방법. - 복수의 방향들로부터 인가되는 격자 패턴광들 각각을 N번 변화시키면서 측정 대상물로 조사한 후, 상기 측정 대상물로부터 반사되는 상기 격자 패턴광들을 검출하여, 상기 각 방향에서의 상기 측정 대상물의 N개의 패턴영상들을 획득하는 단계;
상기 패턴영상들로부터 X-Y 좌표계의 각 위치에 대응하는 상기 각 방향에서의 위상 및 가시도(visibility)를 추출하는 단계;
상기 가시도를 매개변수로 하는 가중치 함수를 이용하여 상기 각 방향에서의 높이 가중치를 추출하는 단계;
상기 위상에 근거한 높이에 상기 높이 가중치를 곱하여 상기 각 방향에서의 가중치 높이를 계산하는 단계; 및
상기 각 방향에서의 가중치 높이를 이용하여 상기 각 위치에서의 높이를 계산하는 단계를 포함하는 3차원 형상 측정방법. - 제 15항에 있어서,
상기 각 방향에서의 높이 가중치들의 합은 1로 설정되고,
상기 각 위치에서의 높이를 계산하는 단계는,
상기 가중치 높이들을 합하여 상기 각 위치에서의 높이를 계산하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정방법. - 제 15항에 있어서,
상기 각 위치에 따른 높이를 통합하여, 상기 측정 대상물의 3차원 형상을 측정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 3차원 형상 측정방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110062936A KR101466741B1 (ko) | 2011-06-28 | 2011-06-28 | 3차원 형상 측정방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110062936A KR101466741B1 (ko) | 2011-06-28 | 2011-06-28 | 3차원 형상 측정방법 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020090044423A Division KR101088497B1 (ko) | 2009-05-21 | 2009-05-21 | 3차원 형상 측정방법 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140085079A Division KR101447645B1 (ko) | 2014-07-08 | 2014-07-08 | 3차원 형상 측정방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20110090865A KR20110090865A (ko) | 2011-08-10 |
KR101466741B1 true KR101466741B1 (ko) | 2014-12-01 |
Family
ID=44928516
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020110062936A KR101466741B1 (ko) | 2011-06-28 | 2011-06-28 | 3차원 형상 측정방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101466741B1 (ko) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101446171B1 (ko) * | 2013-08-14 | 2014-10-01 | 한국건설기술연구원 | X선 ct 영상을 이용한 시멘트 기반 재료의 기포간격계수 측정방법 |
KR101465996B1 (ko) * | 2014-05-14 | 2014-11-27 | 주식회사 미르기술 | 선택적 큰 주기를 이용한 고속 3차원 형상 측정 방법 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100613421B1 (ko) * | 2001-04-20 | 2006-08-17 | 요고, 테루아키 | 3차원 형상 측정 방법 |
KR100841662B1 (ko) * | 2006-06-23 | 2008-06-26 | 주식회사 고영테크놀러지 | 모아레와 스테레오를 이용한 3차원형상 측정시스템 및 방법 |
KR100870922B1 (ko) * | 2006-09-25 | 2008-11-28 | 주식회사 고영테크놀러지 | 다중 간섭계를 이용한 3차원형상 측정시스템 |
KR20100041022A (ko) * | 2008-10-13 | 2010-04-22 | 주식회사 고영테크놀러지 | 다중파장을 이용한 3차원형상 측정장치 및 측정방법 |
-
2011
- 2011-06-28 KR KR1020110062936A patent/KR101466741B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100613421B1 (ko) * | 2001-04-20 | 2006-08-17 | 요고, 테루아키 | 3차원 형상 측정 방법 |
KR100841662B1 (ko) * | 2006-06-23 | 2008-06-26 | 주식회사 고영테크놀러지 | 모아레와 스테레오를 이용한 3차원형상 측정시스템 및 방법 |
KR100870922B1 (ko) * | 2006-09-25 | 2008-11-28 | 주식회사 고영테크놀러지 | 다중 간섭계를 이용한 3차원형상 측정시스템 |
KR20100041022A (ko) * | 2008-10-13 | 2010-04-22 | 주식회사 고영테크놀러지 | 다중파장을 이용한 3차원형상 측정장치 및 측정방법 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20110090865A (ko) | 2011-08-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5202575B2 (ja) | 形状測定装置および形状測定方法 | |
JP5562407B2 (ja) | 基板検査装置及び検査方法 | |
KR101639227B1 (ko) | 3차원 형상 측정장치 | |
JP5256251B2 (ja) | 測定対象物の検査方法 | |
JP6317296B2 (ja) | 3次元形状の測定方法及び測定装置 | |
KR101196219B1 (ko) | 3차원 형상 측정장치의 높이 측정방법 및 이를 이용한 3차원 형상 측정장치 | |
KR101659302B1 (ko) | 3차원 형상 측정장치 | |
CN105823438B (zh) | 三维形状测量装置的高度测量方法 | |
JP2010266445A (ja) | プリント回路基板上における測定対象物の測定方法 | |
KR101237497B1 (ko) | 검사영역의 설정방법 | |
JP2014119442A (ja) | 3次元計測装置およびその制御方法 | |
KR101081538B1 (ko) | 3차원 형상 측정장치 및 측정방법 | |
JP2012112954A (ja) | 基板検査方法 | |
KR101088497B1 (ko) | 3차원 형상 측정방법 | |
JP5622816B2 (ja) | プリント回路基板上における測定対象物の測定方法 | |
JP7056131B2 (ja) | 画像処理システム、画像処理プログラム、および画像処理方法 | |
KR101466741B1 (ko) | 3차원 형상 측정방법 | |
JP5584671B2 (ja) | 基板検査方法 | |
KR101684244B1 (ko) | 기판 검사방법 | |
KR101447645B1 (ko) | 3차원 형상 측정방법 | |
KR101329025B1 (ko) | 색수차 보상방법, 이를 이용한 3차원 형상 측정방법 및 측정장치 | |
KR101226716B1 (ko) | 색수차 보상방법, 이를 이용한 3차원 형상 측정방법 및 측정장치 | |
KR101337888B1 (ko) | 3차원 형상 측정장치 | |
KR101133972B1 (ko) | 터미널 검사방법 | |
KR101544763B1 (ko) | 터미널 검사방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A107 | Divisional application of patent | ||
PA0107 | Divisional application |
Comment text: Divisional Application of Patent Patent event date: 20110628 Patent event code: PA01071R01D |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20140516 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R04I Patent event date: 20110628 Comment text: Divisional Application of Patent |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20140527 Patent event code: PE09021S01D |
|
A107 | Divisional application of patent | ||
PA0107 | Divisional application |
Comment text: Divisional Application of Patent Patent event date: 20140708 Patent event code: PA01071R01D Filing date: 20090521 Application number text: 1020090044423 |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20141124 |
|
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20141124 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20141124 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170907 Year of fee payment: 4 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20170907 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190909 Year of fee payment: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20190909 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20210908 Start annual number: 8 End annual number: 8 |
|
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20220906 Start annual number: 9 End annual number: 9 |