JP2002246433A - 収納容器からの半導体ウエーハ取り出し方法と装置並びに半導体ウエーハのアライメント方法と装置 - Google Patents

収納容器からの半導体ウエーハ取り出し方法と装置並びに半導体ウエーハのアライメント方法と装置

Info

Publication number
JP2002246433A
JP2002246433A JP2001036488A JP2001036488A JP2002246433A JP 2002246433 A JP2002246433 A JP 2002246433A JP 2001036488 A JP2001036488 A JP 2001036488A JP 2001036488 A JP2001036488 A JP 2001036488A JP 2002246433 A JP2002246433 A JP 2002246433A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor wafer
storage container
wafer
adsorber
suction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2001036488A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3607207B2 (ja
Inventor
Shinji Kimura
伸二 木村
Hironori Nishimura
弘則 西村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Takatori Corp
Original Assignee
Takatori Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Takatori Corp filed Critical Takatori Corp
Priority to JP2001036488A priority Critical patent/JP3607207B2/ja
Publication of JP2002246433A publication Critical patent/JP2002246433A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3607207B2 publication Critical patent/JP3607207B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 大径化及び薄型化した半導体ウエーハに
対応する収納容器からの半導体ウエーハの取り出しが自
動的に行え、しかも、取り出した半導体ウエーハのセン
タリングが高精度に行える半導体ウエーハ取り出し方法
を提供する。 【解決手段】 載置部13で収納容器2を傾斜させたの
ち水平に戻し、収納容器2内で半導体ウエーハAを片方
向に寄せることにより半導体ウエーハAの位置決めを行
い、この位置決め動作ごとに、ウエーハ取り出し機構1
5の吸着、搬送ユニット14による収納容器2内の半導
体ウエーハAの取り出しと、スペーサ取り出し機構18
による収納容器2内のスペーサの取り出しを自動的に交
互に行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、収納容器からの
半導体ウエーハ取り出し方法と装置並びに半導体ウエー
ハのアライメント方法と装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウエーハは、一般に、シリコン単
結晶インゴットから薄い円板状に切り出され、その表面
に回路が形成される工程と、チップに切断してパッケー
ジングする工程を経て製品となるが、近年、半導体装置
の生産においては、技術革新ばかりでなく、生産拠点の
分散かないしはグローバル化が進展し、このため、上記
半導体ウエーハを切り出す工程と回路形成工程及びパッ
ケージングする工程とは、異なる場所や工場で行われる
ことが多くなっている。
【0003】半導体ウエーハは、多数個の半導体チップ
が作り込まれているため、極めて高価であり、しかも、
破損しやすい製品になるため、半導体ウエーハの輸送や
取り扱い等の物流に対して十分な配慮が必要になり、従
って、通常ある工程が行われる場所から他の工程が行わ
れる場所への半導体ウエーハの運搬には、専用の収納容
器が使用される。
【0004】従来、半導体ウエーハの運搬には、内壁面
に多数の溝を形成し、半導体ウエーハの両側をこの溝に
挿入することにより、各溝間で半導体ウエーハを多段に
収納する、半導体ウエーハの出し入れ性を重視した構造
の収納容器が使用されている。
【0005】ところで、近年、半導体装置の生産におい
て、半導体ウエーハは外径が大径化している。また、半
導体装置のパッケージの薄型化に伴って半導体チップを
製造するための半導体ウエーハの厚さを薄く加工するこ
とが実施され、ちなみに、半導体ウエーハの外径は12
インチ(300mm)に大径化し、厚さは、75〜50
μm程度に薄型化している。
【0006】このような、大径化及び薄型化した半導体
ウエーハを、上記のような従来の収納容器を使用して運
搬すると、半導体ウエーハが自重あるいは半導体ウエー
ハへの焼き付けパターンの影響によって反りが発生する
ことになり、半導体ウエーハや焼き付けパターンに悪影
響を与えるだけでなく、容器内に対する半導体ウエーハ
の出し入れ作業も行い難くなるため、大径化及び薄型化
した半導体ウエーハの運搬のための新たな収納容器の提
案がなされている。
【0007】この新たな収納容器は、底板上に半導体ウ
エーハの外径が少し余裕をもって収まる内径の周壁を、
複数箇所で分断した筒状に立設し、周壁内の底部にクッ
ション材を敷き、その上に半導体ウエーハとスペーサを
交互に重ねて所定枚数を収納すると共に、周壁に被せる
別体の蓋を備えた構造になっており、このような新たな
収納容器は、大径化及び薄型化した半導体ウエーハであ
っても、スペーサを介して重ねることにより、半導体ウ
エーハの運搬が支障なく行えることになる。
【0008】ところで、半導体製品の製造過程におい
て、その表面に多数の回路パターン(機能素子)を形成
された半導体ウエーハは、次に、必要に応じて裏面研磨
(バックグラインド)工程を経た後、各機能素子毎に切
断(ダイシング工程)して個々の半導体チップにする工
程に供給する前に、専用のリングフレームに半導体ウエ
ーハを貼着テープを用いてマウントする工程が必要にな
る。
【0009】このマウント工程は、半導体ウエーハの外
径よりも大きい幅を有する粘着テープを用い、リングフ
レーム供給部から取り出したリングフレームをテープ貼
付部に取り出し、このテープ貼付部でリングフレームに
リールから所定量引き出した粘着テープを貼付け、貼着
テープをリングフレームの周囲に沿ってカットした後、
ウエーハマウント部に保持されている半導体ウエーハ上
に上記リングフレームを供給し、真空チャンバー内でリ
ングフレームの粘着テープに半導体ウエーハを貼付け、
この後半導体ウエーハの貼付いたリングフレームを反転
載置部に取り出すことによって行われる。
【0010】従って、このようなマウント工程を自動的
に行うためには、収納容器から半導体ウエーハを取り出
してウエーハマウント部に供給する収納容器からの半導
体ウエーハ取り出し装置や、リングフレームの中心に半
導体ウエーハを貼付けることができるようにするため、
ウエーハマウント部に供給する半導体ウエーハのセンタ
リングを行うための半導体ウエーハのアライメント装置
が必要になる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
収納容器からの半導体ウエーハ取り出し装置や半導体ウ
エーハのアライメント装置は、従来の収納容器に対応す
るためのものであり、上述した大径化及び薄型化した半
導体ウエーハに対応する新たな収納容器の提案により、
この新たな収納容器に対応した新たな半導体ウエーハ取
り出し装置や半導体ウエーハのアライメント装置の開発
が必要になっている。
【0012】そこで、この発明の課題は、新たな収納容
器からの半導体ウエーハの取り出しが自動的に行えると
共に、取り出した半導体ウエーハのセンタリングが高精
度に行え、新たな収納容器に対応した収納容器からの半
導体ウエーハ取り出し方法と装置並びに半導体ウエーハ
のアライメント方法と装置を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記のような課題を解決
するため、第1の発明は、半導体ウエーハとスペーサを
交互に積み重ねて収納した収納容器の載置部と、半導体
ウエーハの吸着、搬送ユニットが上下動と水平動及び載
置部上の収納容器に対する進退動が自在となるウエーハ
取り出し機構と、スペーサ吸着、搬送体が上下動と載置
部上の収納容器に対する進退動が自在となるスペーサ取
り出し機構とを用い、上記載置部は、収納容器を傾斜さ
せたのち水平に戻し、収納容器内で半導体ウエーハを片
方向に寄せることにより半導体ウエーハの位置決めを行
い、この位置決め動作ごとに、ウエーハ取り出し機構に
よる収納容器内の半導体ウエーハの取り出しと、スペー
サ取り出し機構による収納容器内のスペーサの取り出し
を交互に行い、上記ウエーハ取り出し機構は、吸着、搬
送ユニットを収納容器の直上に同軸芯状態となるよう臨
み、この吸着、搬送ユニットが下降して収納容器内で水
平移動することにより半導体ウエーハと芯合わせした状
態で最上部半導体ウエーハを吸着し、吸着後に収納容器
と同軸芯状となるよう水平移動して上昇することで収納
容器内の半導体ウエーハを取り出し、また、スペーサ取
り出し機構は、吸着、搬送体が収納容器の直上で下降し
て最上部スペーサを吸着し、吸着後に上昇することで収
納容器内のスペーサを取り出す構成を採用したものであ
る。
【0014】この発明において、上記載置部で収納容器
を傾斜させたとき、傾斜上り側の位置からウエーハにエ
アーを吹きつけ、収納容器内で半導体ウエーハを傾斜下
がり方向に寄せるようにしたり、上記ウエーハ取り出し
機構の吸着、搬送ユニットによる半導体ウエーハの吸着
を中心部から始めて外周部に移行することにより行うよ
うにすることができる。
【0015】第2の発明は、半導体ウエーハとスペーサ
を交互に積み重ねて収納した収納容器の載置部と、半導
体ウエーハの吸着、搬送ユニットが上下動と水平動及び
載置部上の収納容器に対する進退動が自在となるウエー
ハ取り出し機構と、スぺーサ吸着、搬送体が上下動と載
置部上の収納容器に対する進退動が自在となるスペーサ
取り出し機構とからなり、上記載置部は、収納容器内で
半導体ウエーハを片方向に寄せることにより半導体ウエ
ーハの位置決めを行うように、収納容器を傾斜させたの
ち水平に戻す傾斜動自在に形成され、上記ウエーハ取り
出し機構は、半導体ウエーハの吸着、搬送ユニットが、
収納容器の直上に同軸芯状態となるよう臨み、この位置
で下降して収納容器内で水平移動することにより半導体
ウエーハと芯合わせした状態で最上部半導体ウエーハを
吸着し、吸着後に収納容器と同軸芯状となるよう水平移
動して上昇することにより半導体ウエーハを取り出すよ
うに形成され、上記スペーサ取り出し機構は、スペーサ
吸着、搬送体が、収納容器の直上で下降して最上部スペ
ーサを吸着し、吸着後に上昇してスペーサを取り出すよ
うに形成されている構成を採用したものである。
【0016】この発明において、上記載置部の上方に、
収納容器を傾斜させたとき、傾斜上り側の位置からウエ
ーハにエアーを吹きつけ、収納容器内で半導体ウエーハ
を傾斜下がり方向に寄せるエアーノズルを配置したり、
上記ウエーハ取り出し機構の半導体ウエーハの吸着、搬
送ユニットが、内側吸着体とその外側に嵌合する外側吸
着体とで形成され、内側吸着体は外側吸着体に対して回
転と上下動が可能となり、この内側吸着体と外側吸着体
は、半導体ウエーハの吸着を内側吸着体の中心部から始
めて外側吸着体に移行するようにすることができる。
【0017】第3の発明は、水平にX方向とY方向の移
動が可能となり、内側吸着体とその外側に嵌合する外側
吸着体とで形成され、内側吸着体と外側吸着体は個々に
半導体ウエーハを吸着することができ、かつ、内側吸着
体は外側吸着体に対して回転と上下動が可能となる吸
着、搬送ユニットで半導体ウエーハを吸着してアライメ
ント位置に搬送し、このアライメント位置で外側吸着体
による半導体ウエーハの吸着を解いて内側吸着体を下降
させることにより、半導体ウエーハの周囲を外側吸着体
から離反させ、この状態で内側吸着体と共に半導体ウエ
ーハを回転させ、透過センサで半導体ウエーハの外周を
非接触で多点の位置測定を行って半導体ウエーハの中心
を平均化して求め、その結果に基づいて吸着、搬送ユニ
ットの位置をX方向とY方向に補正して半導体ウエーハ
のセンタリングを行う構成を採用したものである。
【0018】この発明において、上記センタリング後の
半導体ウエーハの回路パターン線を二台のカメラで写
し、回路パターン線がカメラの認識点に合うよう吸着、
搬送ユニットを回転補正もしくはX方向とY方向に補正
して回路パターン線をダイシングラインにすることがで
きる。
【0019】第4の発明は、半導体ウエーハを吸着して
アライメント位置に搬送する吸着、搬送ユニットが、水
平にX方向とY方向の移動が可能となる内側吸着体とそ
の外側に嵌合する外側吸着体とからなり、内側吸着体と
外側吸着体は個々に半導体ウエーハを吸着することがで
き、かつ、内側吸着体は外側吸着体に対して回転と上下
動が可能となるように形成し、上記アライメント位置
に、内側吸着体の下降と回転により、外側吸着体から離
反して回転する半導体ウエーハの外周を非接触で多点の
位置測定を行って半導体ウエーハの中心を平均化して求
め、その結果に基づいて吸着、搬送ユニットの位置をX
方向とY方向に補正して半導体ウエーハのセンタリング
を行う透過センサを配置した構成を採用したものであ
る。
【0020】この発明において、上記アライメント位置
に停止する吸着、搬送ユニットの下方位置に、センタリ
ング後の半導体ウエーハの回路パターン線を写す二台の
カメラを配置し、このカメラで、回路パターン線がカメ
ラの認識点に合うよう吸着、搬送ユニットを回転補正も
しくはX方向とY方向に補正するようにすることができ
る。
【0021】
【発明の実施の形態】以下この発明の実施の形態を図示
例と共に説明する。
【0022】図1は、大径化及び薄型化した半導体ウエ
ーハに対応する上述した新たな収納容器内から自動的に
取り出すと共に、半導体ウエーハをアライメントした
後、リングフレームの粘着テープに貼付け、半導体ウエ
ーハの貼付いたリングフレームを反転載置部に取り出し
てカセット収納部のカセット内に収納するマウント工程
を自動的に行うマウント装置の平面的な全体構造を示
し、ベース台1上の前方位置にウエハマウントラインが
直線状に設定され、その手前側に、収納容器2からの半
導体ウエーハ取り出し装置3とアライメント装置4が配
置されている。
【0023】上記ウエハマウントラインは、図示の場
合、複数のリングフレーム5を昇降テーブル上に支持
し、リングフレーム5が取り出されるごとにリングフレ
ーム5の厚み分だけ間欠的に上昇するリングフレーム供
給部6と、リングフレーム供給部6から取り出したリン
グフレーム5の上面に粘着面を下にして粘着テープ7を
貼付け、貼付けたこの粘着テープをリングフレーム5の
周囲に沿ってカットするテープ貼付部8と、吸引テーブ
ル上に吸引保持されている半導体ウエーハA上に上記テ
ープ貼付部8から供給されたテープ貼付リングフレーム
5を重ね、真空チャンバー内でリングフレーム5の粘着
テープ7に半導体ウエーハAを加圧して貼付けるウエー
ハマウント部9と、半導体ウエーハAの貼付いたリング
フレーム5をウエーハマウント部9から反転した状態で
受け取る反転載置部10とを直線状に並べて形成され、
反転載置部10の半導体ウエーハAをカセット収納部1
1のカセット12内に収納するようになっている。
【0024】上記ウエーハマウント部9は、半導体ウエ
ーハAが回路パターンが下向きで裏面を上向きにして吸
引テーブル上に供給され、裏面に粘着テープ7を貼付け
ると共に、反転載置部10では半導体ウエーハAの回路
パターンが上向きになる。
【0025】尚、この半導体ウエーハAの回路パターン
面全面には保護テープが張り付けられている場合があ
る。そしてこの保護テープはダイシング工程前に剥離さ
れることになる。
【0026】前記半導体ウエーハ取り出し装置3は、半
導体ウエーハAとスペーサBを交互に積み重ねて収納し
た収納容器2の載置部13とウエーハアライメント部4
及びウエーハマウント部9がウエハマウントラインと直
角のX軸方向に直列に並ぶよう配置され、半導体ウエー
ハAの吸着、搬送ユニット14が上下動と水平動及びX
軸方向に移動が自在となり、収納容器2内から半導体ウ
エーハAを取り出して、ウエーハアライメント部4から
ウエーハマウント部9に順次搬送するウエーハ取り出し
機構15と、スペーサ吸着、搬送体16が上下動とウエ
ハマウントラインと平行のY軸方向に移動自在となり、
載置部13上の収納容器2内からスペーサBを取り出
し、これをスペーサ収納ボックス17内に搬送するスペ
ーサ取り出し機構18との組み合わせからなっている。
【0027】図1と図2のように、収納容器2は、底板
19上に半導体ウエーハAの外径が少し余裕をもって収
まる内径の周壁20を、複数箇所で分断した筒状に立設
し、周壁20内の底部にクッション材Cを敷き、その上
に半導体ウエーハAとスペーサBを交互に重ねて所定枚
数を収納すると共に、図示省略したが周壁20上に被せ
る別体の蓋を備えた構造になっている。
【0028】上記ウエーハ取り出し機構15における収
納容器載置部13は、図2のように、ベース台1の下部
に配置した昇降用エレベータ21上にベース台1の開口
22部分を上下動する昇降ベース23を設け、この昇降
ベース22の上に、収納容器2を上面の凹部で安定よく
支持する略角形の傾斜プレート24を水平に支持し、こ
の傾斜プレート24の一辺を枢軸25で昇降ベース23
に取り付け、枢軸25を支点に傾斜プレート24を傾斜
可能とし、傾斜プレート24の枢軸25と反対側の位置
に、昇降ベース23にブラケット26を介して取り付け
たシリンダ27とピン28で結合し、シリンダ27の伸
縮で傾斜プレート24を水平状態から所定角度を傾斜さ
せることができるようになっている。
【0029】この傾斜プレート24の上に載置した収納
容器2は、傾斜によりその内部に収納した半導体ウエー
ハAを、傾斜下がり側となる周壁20の片方向に寄せ、
水平に戻すことにより半導体ウエーハAの収納容器2に
対する位置決めを行うことになる。
【0030】上記収納容器2の傾斜時における半導体ウ
エーハAの位置決めがより確実に行えるよう、図4
(A)のように、載置部13に載せた収納容器2の外側
に傾斜上がり側の位置に、エアーノズル29を傾斜プレ
ート24と一体に傾斜動するよう配置し、傾斜上り側の
位置から半導体ウエーハAにエアーを吹きつけ、収納容
器2内で半導体ウエーハAを傾斜下がり方向に確実に寄
せるようにすることができる。
【0031】上記ウエーハ取り出し機構15は、図1の
ように、載置部13の一方側方で上方の位置に、ウエハ
マウントラインと直角のX軸方向に長いガイド枠30を
設置し、図2の如く、このガイド枠30に沿って設けた
ボールねじ31に、このボールねじ31の回転でガイド
枠30の長さ方向に沿うX軸方向に移動する搬送体32
を装着し、この搬送体32に半導体ウエーハAの載置部
13側に向けて直角に突出する搬送アーム33を固定
し、搬送アーム33の前面に昇降ブラケット34を垂直
ガイド35に沿って上下方向のZ軸方向に移動するよう
取り付け、昇降ブラケット34の下面に移動プレート3
6を水平ガイド37に沿って水平方向のY軸方向に移動
するよう取り付け、この移動プレート36の先端に、回
転用駆動モ−タ38と上下用のアクチュエータ39を介
してウエーハの吸着、搬送ユニット14が取り付けられ
ている。
【0032】なお、昇降ブラケット34のZ軸方向の移
動と、移動プレート36のY軸方向の移動は、シリンダ
等の適宜駆動源を用いればよい。
【0033】上記回転用となるθ軸の駆動モータ38
は、移動プレート36の先端上部に固定し、移動プレー
ト36の下部にアクチュエータ39を取り付け、吸着、
搬送ユニット14は、アクチュエータ39の下部に突出
する駆動モータ38の回転軸40に取り付けた円盤状の
内側吸着体41と、この内側吸着体41の外部に嵌合す
る環状の外側吸着体42とで形成され、外側吸着体42
はブラケット43を介してアクチュエータ39の下部に
固定され、この外側吸着体42に対して内側吸着体41
は上下動と回転が可能になる。このような構成により、
ウエーハの吸着、搬送ユニット14は、X、Y、Z、θ
軸に移動可能となる。
【0034】この内側吸着体41と外側吸着体42は、
下部の吸着面がポーラス構造の全面吸着となり、内側吸
着体41と外側吸着体42の吸着は別系統になり、内側
吸着体41は中心から外周に向かって順次吸着していく
多系統吸着となり、半導体ウエーハAを吸着するとき空
気を外側に逃がしていき、吸着面間に気泡が発生するこ
とのないようにしている。
【0035】前記スペーサ取り出し機構18は、図1と
図3のように、収納容器2の載置部13の他方側方にス
ペーサ収納ボックス17の収納部44をY軸方向へ同軸
心状に並べて配置し、この収納部44の前方で上方位置
にウエーハ取り出し機構15のガイド枠30と直角の配
置となるガイド枠45を設け、このガイド枠45に設け
たガイド軸46にY軸方向に移動する搬送体47を取り
付け、搬送体47に収納部44側に突出するよう固定し
た搬送アーム48の先端にシリンダ49で上下動するス
ペーサ吸着、搬送体16を設けて形成され、スペーサ吸
着、搬送体16は下面に設けた複数の吸着パット50で
スペーサBを吸着するようになっている。なお、搬送体
47の移動は、シリンダやボールねじ機構等の適宜駆動
手段を採用すればよい。
【0036】上記収納部には、スペーサBが収まる内径
を有する有底円筒状の収納ボックス17が載置され、吸
着パット50は、載置部13の収納容器2の直上と収納
ボックス17の直上の間をY軸方向に移動し、収納容器
2内のスペーサBを吸着して持ち上げ、これを収納ボッ
クス17内に搬送して積み重ねていくことになる。
【0037】前記アライメント装置4のアライメント部
は、収納容器2の載置部13とウエハマウントラインの
ウエーハマウント部9の中間位置に設定され、吸着、搬
送ユニット14で収納容器2内の半導体ウエーハAを吸
着してアライメント部に搬送し、このアライメント部に
おいて、吸着、搬送ユニット14の外側下部の位置に半
導体ウエーハAの外周を非接触で位置測定する透過セン
サ51を配置し、内側吸着体41の下降と回転により、
外側吸着体42から離反して回転する半導体ウエーハA
の外周を上記透過センサ51が多点の位置測定を行って
半導体ウエーハAの中心を平均化して求め、その結果に
基づいて吸着、搬送ユニット14の位置をX方向とY方
向に補正して半導体ウエーハAのセンタリングを行うよ
うになっている。
【0038】また、アライメント部に停止する吸着、搬
送ユニット14の直下位置に、センタリング後の半導体
ウエーハAの回路パターン線aを写す二台のカメラ52
を、吸着、搬送ユニット14の回転軸心を挟む両側の位
置に配置し、このカメラ52で、回路パターン線aがカ
メラ52の認識点に合うよう吸着、搬送ユニット14を
回転補正もしくはX方向とY方向に補正することができ
るようにしている。
【0039】この発明の収納容器からの半導体ウエーハ
の取り出し装置とアライメント装置は、上記のような構
成であり、次に、半導体ウエーハの取り出し方法とアラ
イメント方法を説明する。
【0040】<半導体ウエーハの取り出し方法>図2の
実線で示すように、収納容器2の載置部13における傾
斜プレート24を所定の高さ位置で水平にして、半導体
ウエーハAとスペーサBを交互に積み重ねて収納した収
納容器2をその上に載せ、この状態でシリンダ27を伸
長させ、図4(A)のように、傾斜プレート24と収納
容器2を所定角度だけ傾斜させ、収納容器2内で半導体
ウエーハAを片方向に寄せることにより半導体ウエーハ
Aの位置決めを行い、このとき、傾斜上側からエアーノ
ズル29で上部に位置する半導体ウエーハAにエアーを
補助的に吹きつけ、最上部半導体ウエーハAの位置決め
を確実に行う。
【0041】この位置決め後に傾斜プレート24と収納
容器2を水平に戻すと、ウエーハ取り出し機構15は、
吸着、搬送ユニット14が図4(C)の矢印のように
X軸方向に移動して同図に二点鎖線で示すように、収納
容器2の直上に臨む。このとき、吸着、搬送ユニット1
4は外側吸着体42の内部に内側吸着体41が収まった
状態で、収納容器2と同軸心の位相となり、吸着、搬送
ユニット14は図4(C)の矢印のように所定ストロ
ークを下降して収納容器2内に進入する。
【0042】吸着、搬送ユニット14は、下降して収納
容器2内で図4(C)の矢印のように水平移動するこ
とにより、同図に実線で示すように、半導体ウエーハA
と芯合わせした状態で最上部半導体ウエーハAを軽く押
さえ付ける状態になり、この状態で吸着面に吸引力を作
用させ、最上部半導体ウエーハAを吸着する。
【0043】内側吸着体41と外側吸着体42は、半導
体ウエーハAの吸着を内側吸着体Aの中心部から始めて
最後に外側吸着体42に移行するように半導体ウエーハ
Aを吸着し、吸着面間に気泡の介在がないようにすると
共に、図4(D)のように、最上部半導体ウエーハAに
反りがある場合、上から軽く押さえながら吸着してい
く。
【0044】吸着、搬送ユニット14は、半導体ウエー
ハAを吸着すると、図4(E)の矢印のようにX軸方
向に水平移動して同図二点鎖線の如く収納容器1と同軸
心の位相に戻り、次に図4(E)の矢印のように上昇
し、同図実線の位置になり、収納容器2内から一枚の半
導体ウエーハAを吸着して取り出すことになり、吸着、
搬送ユニット14は、図4(E)の矢印のように、半
導体ウエーハAをアライメント部まで搬送する。
【0045】このように、吸着、搬送ユニット14を収
納容器2と同軸心の位相で上下動させ、収納容器2内で
吸着、搬送ユニット14を水平移動させるようにする
と、半導体ウエーハAを取り出す時、その外周が収納容
器2の周壁20と干渉するのを防ぎ、半導体ウエーハA
の周囲が損傷するのを防止できると共に、吸着、搬送ユ
ニット14による半導体ウエーハAの同軸心状での吸着
が可能になる。
【0046】上記のように、吸着、搬送ユニット14に
よる収納容器2内からの半導体ウエーハAの取り出しが
完了すると、図3のように、スペーサ取り出し機構18
は、吸着、搬送体16が収納容器2の直上に臨んで下降
し、収納容器2内の最上部のスペーサBを吸着パット5
0で吸着し、吸着後に上昇することで収納容器2内のス
ペーサBを取り出し、吸着、搬送体16は収納ボックス
17の直上に移動し、この位置で下降してスペーサBを
収納ボックス17内に収める搬送を行うことになる。
【0047】上記のように、載置部13の収納容器2が
傾斜して水平に戻るごとに、ウエーハ取り出し機構15
による収納容器2内の半導体ウエーハAの取り出しと、
スペーサ取り出し機構18による収納容器2内のスペー
サBの取り出しが交互に行われることになる。
【0048】<半導体ウエーハのアライメント方法>上
記のように、吸着、搬送ユニット14により収納容器2
内から取り出された半導体ウエーハAは、図2に実線で
示すように吸着、搬送ユニット14でアライメント部に
搬送され、このアライメント部においてウエーハ外周非
接触センタリング及び所定位置へのオリフラ位置合わせ
を行う。
【0049】図5(A)のように、先ず、外側吸着体4
2が半導体ウエーハAの吸着を解き、次に内側吸着体4
1を所定ストロークだけ下降させて半導体ウエーハAの
周囲を外側吸着体42から離反させ、この状態で透過セ
ンサ51が前進動し、上下に対向する投光素子51aと
受光素子51b間を半導体ウエーハaの周囲に非接触の
状態で外嵌し、内側吸着体41と共に半導体ウエーハa
を回転させ、図5(B)のように、透過センサ51の投
光素子51aと受光素子51bで半導体ウエーハAの外
周を非接触で多点の位置測定を行い、半導体ウエーハA
の中心を平均化して求め、その求めた結果に基づいて吸
着、搬送ユニット14の位置を制御装置にてX方向とY
方向に補正して、ずれた中心点X1を正規の中心点Xに
合わせる半導体ウエーハAのセンタリングを行う。
【0050】透過センサ51によるセンタリング後、オ
リフラbの位置を求める。図5(C)のように、半導体
ウエーハAを回転させ、透過センサ51の測定でその周
囲に対して十分な透過量の変化がある場所がオリフラb
の位置となる。その透過量の変化のある場所のセンター
がオリフラbの中心となり、駆動モータ38を回転制御
してこれを予め設定した位置に合わせる。
【0051】また、透過センサ51によるセンタリング
後、図5(D)のように、吸着、搬送ユニット14によ
り吸着保持された半導体ウエーハAの回路パターン線a
をカメラ52で認識し、回路パターン線aをダイシング
ラインに合わせるようにする。この工程は、Vノッチで
検出不可能や、より高精度に位置合わせする必要がある
ときに行うものである。
【0052】図5(E)のように、二台のカメラ52で
回路パターン線aを写したとき、カメラ52の位置と回
路パターン線aがずれていると、駆動モータ38で内側
吸着体41と共に半導体ウエーハAを回転させてθ補正
を行い、また、必要によってはX軸、Y軸の補正も行
い、図5(F)のように回路パターン線aをカメラ52
の認識点に合わせることにより、高い精度で半導体ウエ
ーハAの位置合わせを行うことができる。
【0053】上記のように、吸着、搬送ユニット14
は、アライメント部で半導体ウエーハAの位置合わせを
行うと、次に、X軸方向に移動してウエーハマウント部
9の直上に臨み、このウエーハマウント部9で下降して
吸着テーブルの上に半導体ウエーハAを同軸心状に載置
し、吸着テーブルによる半導体ウエーハAの吸着後に内
側吸着体41による半導体ウエーハAの吸着を解き、吸
着、搬送ユニット14は、上昇位置に戻って次の半導体
ウエーハAの取り出しに向かうことになる。
【0054】<他の実施の形態>図6は、半導体ウエー
ハAに対する複数の加工や処理工程をインライン化し、
工程間の半導体ウエーハAの搬送を吸着、搬送ロボット
で行うことにより、半導体ウエーハAの工程間の搬送を
収納容器やカセットで運搬する必要をなくすようにした
ものである。
【0055】図6において、半導体ウエーハAに対する
ウエハマウント工程の前の加工や処理工程としては、半
導体ウエーハAの裏面を研削するバックランド工程61
と、ケミカルエッチング又はメカニカルポリッシング工
程62があり、両工程61、62を並べて設け、ケミカ
ルエッチング又はメカニカルポリッシング工程62と上
述したアライメント部の間の半導体ウエーハAの搬送に
吸着、搬送ロボット63を使用している。
【0056】バックランド工程61は、カセット64か
ら取り出した複数枚の半導体ウエーハAを回転テーブル
65上に載せ、半導体ウエーハAの裏面を研削して仮置
き部分に取り出すと共に、ケミカルエッチング又はメカ
ニカルポリッシング工程62は、裏面を研削加工した半
導体ウエーハAをテーブル66上に載せ、研削加工面の
仕上げ処理をして半導体ウエーハAを受け渡し位置67
に取り出すものである。
【0057】上記カセット64から回転テーブル65へ
の半導体ウエーハAの取り出し、仮置き部分からテーブ
ル66上への半導体ウエーハAの搬送、テーブル66上
から受け渡し位置67への半導体ウエーハAの搬送は、
吸着等の適宜搬送手段やロボット装置を採用すればよ
い。
【0058】上記吸着、搬送ロボット63は、水平のガ
イド68に沿って移動する搬送体69の上面に屈伸アー
ム70を設け、この屈伸アーム70の先端にポーラス構
造の吸着部材71を取り付け、吸着部材71が受け渡し
位置67と対応する位置で屈伸アーム70が伸長し、受
け渡し位置67で半導体ウエーハAを受け取って吸着部
材71が吸着すると、屈伸アーム70が折り畳まれて搬
送体69が図示二点鎖線で示す吸着、搬送ユニット14
と対応する位置に移動し、この位置で屈伸アーム70が
伸長して半導体ウエーハAを前方に移送すると、吸着、
搬送ユニット14が吸着部材71上の半導体ウエーハA
を受け取り、この半導体ウエーハAをアライメント部に
搬送することになる。
【0059】このように、半導体ウエーハAに対するウ
エハマウント工程の前の加工や処理工程をインライン化
すれば、各工程間をカセットや収納容器で半導体ウエー
ハAを運搬する必要がなくなり、生産効率が向上すると
共に、半導体ウエーハAをカセットや収納容器に出し入
れする必要もなくなるので、半導体ウエーハAの損傷発
生を防ぐことができ、特に、外径は12インチ(300
mm)に大径化し、厚さは、75〜50μm程度に薄型
化している半導体ウエーハAをカセットに出し入れする
のは相当困難な作業となり、カセットや収納容器の使用
を省くことは、このような大径化、薄型化した半導体ウ
エーハAの加工や処理に極めて有効である。
【0060】
【発明の効果】以上のように、この発明によると、大径
化及び薄型化した半導体ウエーハに対応する収納容器か
らの半導体ウエーハの取り出しが自動的に行えると共
に、取り出した半導体ウエーハのセンタリングが高精度
に行え、大径化及び薄型化した半導体ウエーハの加工や
処理工程の自動化を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の半導体ウエーハ取り出し装置とアラ
イメント装置を備えたマウント装置の全体構造を示す平
面図
【図2】図1のII−II線の断面で半導体ウエーハ取り出
し装置とアライメント装置の構造を示す縦断側面図
【図3】図1のIII−III線の断面でスペーサ取り出し機
構の構造を示す縦断面図
【図4】半導体ウエーハ取り出し装置の取り出し工程を
示し、(A)は収納容器を傾斜させた半導体ウエーハ位
置決め状態の縦断面図、(B)は同上の収納容器を軸心
方向から見た平面図、(C)は吸着、搬送ユニットによ
る収納容器内の半導体ウエーハの吸着状態を示す縦断面
図、(D)は半導体ウエーハに反りあがる場合の吸着状
態を示す縦断面図、(E)は吸着、搬送ユニットで収納
容器内の半導体ウエーハを取り出した状態を示す縦断面
【図5】アライメント装置のアライメント工程を示し、
(A)は半導体ウエーハの周囲を測定している状態の縦
断面図、(B)は同上の中心にずれがある状態を示す平
面図、(C)は同上の中心のずれを修正した状態を示す
平面図、(D)は半導体ウエーハの回路パターン線の認
識状態を示す縦断面図、(E)は同上の回路パターン線
とカメラの認識点にずれがあるときの平面図、(E)は
同上の回路パターン線をカメラの認識点に合わせた位置
合わせ状態の平面図
【図6】半導体ウエーハに対する複数の加工や処理工程
をインライン化した例を示す平面図
【符号の説明】
A 半導体ウエーハ B スペーサ 1 ベース台 2 収納容器 3 半導体ウエーハ取り出し装置 4 アライメント装置 5 リングフレーム 6 リング供給部 7 粘着テープ 8 テープ貼付部 9 ウエーハマウント部 10 反転載置部 11 カセット収納部 12 カセット 13 取り出し装置 14 搬送ユニット 15 取り出し機構 16 搬送体 17 ボックス 18 取り出し機構 19 底板 20 周壁 21 エレベータ 22 開口 23 昇降ベース 24 傾斜プレート 25 枢軸 26 ブラケット 27 シリンダ 28 ピン 29 エアーノズル 30 ガイド枠 31 ホールねじ 32 搬送体 33 搬送アーム 34 昇降ブラケット 35 垂直ガイド 36 移動プレート 37 水平ガイド 38 駆動モータ 39 アクチュエータ 40 回転軸 41 内側吸着体 42 外側吸着体 43 ブラケット 44 収納部 45 ガイド枠 46 ガイド軸 47 搬送体 48 搬送アーム 49 シリンダ 50 吸着パット 51 透過センサー 51a 投光素子 51b 受光素子 52 カメラ 61 バックランド工程 62 メカニカルポリッシング工程 63 搬送ロボット 64 カセット 65 回転テーブル 66 テーブル 67 受け渡し位置 68 ガイド 69 搬送体 70 屈伸アーム 71 吸着部材

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体ウエーハとスペーサを交互に積み
    重ねて収納した収納容器の載置部と、半導体ウエーハの
    吸着、搬送ユニットが上下動と水平動及び載置部上の収
    納容器に対する進退動が自在となるウエーハ取り出し機
    構と、スペーサ吸着、搬送体が上下動と載置部上の収納
    容器に対する進退動が自在となるスペーサ取り出し機構
    とを用い、 上記載置部は、収納容器を傾斜させたのち水平に戻し、
    収納容器内で半導体ウエーハを片方向に寄せることによ
    り半導体ウエーハの位置決めを行い、この位置決め動作
    ごとに、ウエーハ取り出し機構による収納容器内の半導
    体ウエーハの取り出しと、スペーサ取り出し機構による
    収納容器内のスペーサの取り出しを交互に行い、 上記ウエーハ取り出し機構は、吸着、搬送ユニットを収
    納容器の直上に同軸芯状態となるよう臨み、この吸着、
    搬送ユニットが下降して収納容器内で水平移動すること
    により半導体ウエーハと芯合わせした状態で最上部半導
    体ウエーハを吸着し、吸着後に収納容器と同軸芯状とな
    るよう水平移動して上昇することで収納容器内の半導体
    ウエーハを取り出し、 また、スペーサ取り出し機構は、吸着、搬送体が収納容
    器の直上で下降して最上部スペーサを吸着し、吸着後に
    上昇することで収納容器内のスペーサを取り出すことを
    特徴とする収納容器からの半導体ウエーハ取り出し方
    法。
  2. 【請求項2】 上記載置部で収納容器を傾斜させたと
    き、傾斜上り側の位置からウエーハにエアーを吹きつ
    け、収納容器内で半導体ウエーハを傾斜下がり方向に寄
    せるようにすることを特徴とする請求項1に記載の収納
    容器からの半導体ウエーハ取り出し方法。
  3. 【請求項3】 上記ウエーハ取り出し機構の吸着、搬送
    ユニットによる半導体ウエーハの吸着を中心部から始め
    て外周部に移行することにより行うことを特徴とする請
    求項1に記載の収納容器からの半導体ウエーハ取り出し
    方法。
  4. 【請求項4】 半導体ウエーハとスペーサを交互に積み
    重ねて収納した収納容器の載置部と、半導体ウエーハの
    吸着、搬送ユニットが上下動と水平動及び載置部上の収
    納容器に対する進退動が自在となるウエーハ取り出し機
    構と、スぺーサ吸着、搬送体が上下動と載置部上の収納
    容器に対する進退動が自在となるスペーサ取り出し機構
    とからなり、 上記載置部は、収納容器内で半導体ウエーハを片方向に
    寄せることにより半導体ウエーハの位置決めを行うよう
    に、収納容器を傾斜させたのち水平に戻す傾斜動自在に
    形成され、 上記ウエーハ取り出し機構は、半導体ウエーハの吸着、
    搬送ユニットが、収納容器の直上に同軸芯状態となるよ
    う臨み、この位置で下降して収納容器内で水平移動する
    ことにより半導体ウエーハと芯合わせした状態で最上部
    半導体ウエーハを吸着し、吸着後に収納容器と同軸芯状
    となるよう水平移動して上昇することにより半導体ウエ
    ーハを取り出すように形成され、 上記スペーサ取り出し機構は、スペーサ吸着、搬送体
    が、収納容器の直上で下降して最上部スペーサを吸着
    し、吸着後に上昇してスペーサを取り出すように形成さ
    れている収納容器からの半導体ウエーハ取り出し装置。
  5. 【請求項5】 上記載置部の上方に、収納容器を傾斜さ
    せたとき、傾斜上り側の位置からウエーハにエアーを吹
    きつけ、収納容器内で半導体ウエーハを傾斜下がり方向
    に寄せるエアーノズルを配置した請求項4に記載の収納
    容器からの半導体ウエーハ取り出し装置。
  6. 【請求項6】 上記ウエーハ取り出し機構の半導体ウエ
    ーハの吸着、搬送ユニットが、内側吸着体とその外側に
    嵌合する外側吸着体とで形成され、内側吸着体は外側吸
    着体に対して回転と上下動が可能となり、この内側吸着
    体と外側吸着体は、半導体ウエーハの吸着を内側吸着体
    の中心部から始めて外側吸着体に移行するようになって
    いる請求項4に記載の収納容器からの半導体ウエーハ取
    り出し装置。
  7. 【請求項7】 水平にX方向とY方向の移動が可能とな
    り、内側吸着体とその外側に嵌合する外側吸着体とで形
    成され、内側吸着体と外側吸着体は個々に半導体ウエー
    ハを吸着することができ、かつ、内側吸着体は外側吸着
    体に対して回転と上下動が可能となる吸着、搬送ユニッ
    トで半導体ウエーハを吸着してアライメント位置に搬送
    し、このアライメント位置で外側吸着体による半導体ウ
    エーハの吸着を解いて内側吸着体を下降させることによ
    り、半導体ウエーハの周囲を外側吸着体から離反させ、
    この状態で内側吸着体と共に半導体ウエーハを回転さ
    せ、透過センサで半導体ウエーハの外周を非接触で多点
    の位置測定を行って半導体ウエーハの中心を平均化して
    求め、その結果に基づいて吸着、搬送ユニットの位置を
    X方向とY方向に補正して半導体ウエーハのセンタリン
    グを行うことを特徴とする半導体ウエーハのアライメン
    ト方法。
  8. 【請求項8】 上記センタリング後の半導体ウエーハの
    回路パターン線を二台のカメラで写し、回路パターン線
    がカメラの認識点に合うよう吸着、搬送ユニットを回転
    補正もしくはX方向とY方向に補正して回路パターン線
    をダイシングラインにすることを特徴とする請求項7に
    記載の半導体ウエーハのアライメント方法。
  9. 【請求項9】 半導体ウエーハを吸着してアライメント
    位置に搬送する吸着、搬送ユニットが、水平にX方向と
    Y方向の移動が可能となる内側吸着体とその外側に嵌合
    する外側吸着体とからなり、内側吸着体と外側吸着体は
    個々に半導体ウエーハを吸着することができ、かつ、内
    側吸着体は外側吸着体に対して回転と上下動が可能とな
    るように形成し、上記アライメント位置に、内側吸着体
    の下降と回転により、外側吸着体から離反して回転する
    半導体ウエーハの外周を非接触で多点の位置測定を行っ
    て半導体ウエーハの中心を平均化して求め、その結果に
    基づいて吸着、搬送ユニットの位置をX方向とY方向に
    補正して半導体ウエーハのセンタリングを行う透過セン
    サを配置した半導体ウエーハのアライメント装置。
  10. 【請求項10】 上記アライメント位置に停止する吸
    着、搬送ユニットの下方位置に、センタリング後の半導
    体ウエーハの回路パターン線を写す二台のカメラを配置
    し、このカメラで、回路パターン線がカメラの認識点に
    合うよう吸着、搬送ユニットを回転補正もしくはX方向
    とY方向に補正するようにした請求項9に記載の半導体
    ウエーハのアライメント装置。
JP2001036488A 2001-02-14 2001-02-14 収納容器からの半導体ウエーハ取り出し方法と装置 Expired - Fee Related JP3607207B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001036488A JP3607207B2 (ja) 2001-02-14 2001-02-14 収納容器からの半導体ウエーハ取り出し方法と装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001036488A JP3607207B2 (ja) 2001-02-14 2001-02-14 収納容器からの半導体ウエーハ取り出し方法と装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002246433A true JP2002246433A (ja) 2002-08-30
JP3607207B2 JP3607207B2 (ja) 2005-01-05

Family

ID=18899755

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001036488A Expired - Fee Related JP3607207B2 (ja) 2001-02-14 2001-02-14 収納容器からの半導体ウエーハ取り出し方法と装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3607207B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20120132334A (ko) * 2011-05-27 2012-12-05 닛토덴코 가부시키가이샤 반도체 웨이퍼 마운트 방법 및 반도체 웨이퍼 마운트 장치
WO2018199066A1 (ja) * 2017-04-25 2018-11-01 川崎重工業株式会社 シート搬送装置及びシート搬送方法
US20200234990A1 (en) * 2017-07-12 2020-07-23 Tokyo Electron Limited Transfer device, substrate processing system, transfer method and substrate processing method

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20120132334A (ko) * 2011-05-27 2012-12-05 닛토덴코 가부시키가이샤 반도체 웨이퍼 마운트 방법 및 반도체 웨이퍼 마운트 장치
JP2012248683A (ja) * 2011-05-27 2012-12-13 Nitto Denko Corp 半導体ウエハマウント方法および半導体ウエハマウント装置
KR101974649B1 (ko) * 2011-05-27 2019-05-02 닛토덴코 가부시키가이샤 반도체 웨이퍼 마운트 방법 및 반도체 웨이퍼 마운트 장치
WO2018199066A1 (ja) * 2017-04-25 2018-11-01 川崎重工業株式会社 シート搬送装置及びシート搬送方法
JP2018183834A (ja) * 2017-04-25 2018-11-22 川崎重工業株式会社 シート搬送装置及びシート搬送方法
US11478938B2 (en) 2017-04-25 2022-10-25 Kawasaki Jukogyo Kabushiki Kaisha Sheet conveying device and sheet conveying method
US20200234990A1 (en) * 2017-07-12 2020-07-23 Tokyo Electron Limited Transfer device, substrate processing system, transfer method and substrate processing method
US11837487B2 (en) * 2017-07-12 2023-12-05 Tokyo Electron Limited Transfer device, substrate processing system, transfer method and substrate processing method

Also Published As

Publication number Publication date
JP3607207B2 (ja) 2005-01-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI487057B (zh) 基板運送裝置之位置調整方法及基板處理裝置
JP5189370B2 (ja) 基板交換装置及び基板処理装置並びに基板検査装置
JP2011029456A (ja) 半導体検査用ウエハプローバ及び検査方法
WO2003069660A1 (fr) Mecanisme de transport d'objets de type plaque et dispositif associe de decoupage en des
TW202203351A (zh) 收納模組、基板處理系統及消耗構件的搬運方法
JP2002329769A (ja) アライメント装置
JP2001196442A (ja) ピックアップ装置及びワークのピックアップ方法並びにそのプログラムを格納した記憶媒体
CN114446855A (zh) 用于在焊接设备中传送晶粒的装置以及方法、焊接设备
JP2012164716A (ja) 基板処理装置、基板処理方法、ならびに、プログラム
JP2002246433A (ja) 収納容器からの半導体ウエーハ取り出し方法と装置並びに半導体ウエーハのアライメント方法と装置
JPH11165864A (ja) 基板搬送装置及び基板処理装置
JPH0922933A (ja) 基板搬送方法及びその装置
JP2000103031A (ja) ウェハ用半田印刷装置
JPH05129417A (ja) 板状体の処理装置
JP4602838B2 (ja) 半導体チップの実装装置
JP2006165452A (ja) チップボンディング装置及びチップボンディング方法
JPH10154740A (ja) ウェハとトレーのセッティングシステムとそのためのトレーへのウェハセッティング装置
JP4245792B2 (ja) 部品反転装置及び方法
JPH0727952B2 (ja) ウエハ搬送装置
JPH08139096A (ja) 電子部品及び電子部品の実装方法並びに電子部品の実装装置
JP3568008B2 (ja) キャップ給送装置
JP5586992B2 (ja) ウェハ処理装置及びウェハ処理方法
JP3892105B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP2542868B2 (ja) 部品装着装置
TW202310133A (zh) 框架單元的搬送準備方法

Legal Events

Date Code Title Description
A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040708

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040831

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040928

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20041006

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 3607207

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101015

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131015

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees