JP2002214097A - ゴム・プラスチックの引張試験方法 - Google Patents

ゴム・プラスチックの引張試験方法

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JP2002214097A
JP2002214097A JP2001008672A JP2001008672A JP2002214097A JP 2002214097 A JP2002214097 A JP 2002214097A JP 2001008672 A JP2001008672 A JP 2001008672A JP 2001008672 A JP2001008672 A JP 2001008672A JP 2002214097 A JP2002214097 A JP 2002214097A
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Tomohisa Fukao
朋尚 深尾
Takayuki Sueyoshi
孝幸 末吉
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 効率的に正確な測定が可能なゴム・プラスチ
ックの引張試験方法を提供する。 【解決手段】 試料の伸び方向に間隔をおいて配設され
た少くとも2対の投受光装置6,7,10,11と、受
光器の2等分割された多素子半導体からなる多素子半導
体検出器による検出に従って投受光装置6,7,10,
11を試料の伸び方向において試料上の蛍光塗料でマー
クした標線2,3に自動的に追尾させる追尾機構と、追
尾機構の作動に伴って各投受光装置の変位信号を発信す
る夫々の伸び検出器4,8と、伸び検出器4,8からの
発信信号を受けてその差を演算する伸び差演算器12と
からなるゴム・プラスチック用引張試験機を用いる引張
試験方法において、蛍光塗料が、ジメチルシロキサン構
造を有し、かつ蛍光物質を含有するシリコーンオイルで
あるゴム・プラスチックの引張試験方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ゴム・プラスチッ
クの引張試験方法に関するものである。更に詳しくは、
本発明は、紫外線ランプを使用し、試料にあらかじめマ
ークした標線を照射することによって試料上の標線のみ
発光させ、該発光した光を検出し多品種の試料の伸びを
非接触で、かつ高精度で測定する装置を具備した引張試
験機を用いるゴム・プラスチックの引張試験方法であっ
て、効率的に正確な測定が可能なゴム・プラスチックの
引張試験方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、試料における伸びの測定法として
は試料にスケールを当てて人が直接伸びを読み取る直接
測定法、可視光線を使用して測定する非接触測定法、試
料に伸び測定用治具を取付けて治具の変位量より伸びを
測定する接触測定法などがあるが、直接測定法は時々刻
々移動中の標線間の長さを目で追尾する方法であり高精
度測定には不向きである。また、可視光線を使用した非
接触法はプラスチック、ゴムのような伸び量が大きく、
かつ多品種、多様の色物に適用する場合、試料の伸びの
増大につれて地肌が変色し、試料地肌のと標線とのコン
トラストが変化するなどの問題からすべての試料の伸び
を正確に測定することはできないという欠点がある。た
とえば、黒色試料の場合について述べると、黒色試料に
白色で標線をマークして引張ると、黒色試料は白く変色
し、標線の白と判別することができなくなる。また、黒
色試料に赤系統の色で標線をマークして引張る場合、引
張前は標線の赤が試料の黒より明るいが、荷重をかけて
引張って行くと試料は白く変色し、標線の赤系統より明
るくなり、試料の明暗が反転することになり、標線の検
出ができなくなる。また、投光器からの可視光線が変色
して白化した部分より反射して受光器に入射することに
なり、一層標線の検出を不可能ならしめる。
【0003】これらの理由により多品種、多様の物色す
べての試料の伸びを測定に可視光線を使用することは不
可能である。一方、接触測定法は、試料に伸び測定用の
治具を測定の都度取り付ける煩わしさがあり、また、治
具の重さが往々にして誤差の原因となる。特にフィルム
のように微少な引張荷重で切断する試料は治具取付箇所
に応力がかかり、治具取り付け箇所より切断する等の問
題があって伸びを測定することができない。かくして、
これら従来の何れの測定法においても未だ高精度の測定
を可能ならしめるには種々の改善が求められていた。
【0004】これに対して、前記非接触法、接触法の何
れでも測定困難とされていた多品種、多様な色物試料の
伸びを高精度で測定することを課題とし、非接触法では
あるが、投光器の光源として紫外線ランプを採用するこ
とに着目して改善された測定装置を有するゴム・プラス
チック用引張試験機が特公平2−20930号公報に開
示されている。これは、紫外線ランプを光源に用いた投
光器と該投光器からの照射を受けて発光する試料の発光
光線を受光すると共に入射した入射光量を検出する検出
器を含む受光器とを一対として、試料の伸び方向に間隔
をおいて配設された少なくとも2対の投受光装置と、前
記受光器の2等分割された多素子半導体からなる多素子
半導体検出器による検出に従って前記投受光装置を試料
の伸び方向において試料上に蛍光塗料でマークした標線
に自動的に追尾させる追尾機構と、該追尾機構の作動に
伴って各投受光装置の変位信号を発信するそれぞれの伸
び検出器と、該両伸び検出器からの受信信号を受けてそ
の差を演算する伸び差演算器とからなるゴム・プラスチ
ック用引張試験機である。この試験機による測定法で
は、試料に蛍光塗料で標線をマークし、紫外線を照射す
ることによって、標線のみ発光させる。荷重をかけて試
料を引張って白く変色した部分からの紫外線等の反射光
線の影響は受光器にフィルターを取付けることで解決で
きる。かくして検出器に入射する入射光は標線の発光に
よるものだけとなり、本発明の試験機を使えば多品種の
色物試料の伸びを高精度で測定することが可能である。
【0005】ところが、上記の試験機を用いて測定を行
う場合、蛍光塗料により試料上に付されたマークが測定
中に乾燥し、測定中に剥がれたり、試料との密着一体性
を失い、標線としての機能が失われるという事態が発生
し、効率的で正確な測定が困難であるという問題があっ
た。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】かかる状況の下、本発
明が解決しようとする課題は、紫外線ランプを使用し、
試料にあらかじめマークした標線を照射することによっ
て試料上の標線のみ発光させ、該発光した光を検出し多
品種の試料の伸びを非接触で、かつ高精度で測定する装
置を具備した引張試験機を用いるゴム・プラスチックの
引張試験方法であって、効率的に正確な測定が可能なゴ
ム・プラスチックの引張試験方法を提供する点に存す
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】すなわち、本発明は、紫
外線ランプを光源に用いた投光器と、該投光器からの照
射を受けて発光する試料の発光光線を受光すると共に、
入射した入射光量を検出する2等分割した多素子半導体
からなる多素子半導体検出器を含む受光器とを一対とし
て、試料の伸び方向に間隔をおいて配設された少くとも
2対の投受光装置と、前記受光器の2等分割された多素
子半導体からなる多素子半導体検出器による検出に従っ
て前記投受光装置を試料の伸び方向において試料上の蛍
光塗料でマークした標線に自動的に追尾させる追尾機構
と、該追尾機構の作動に伴って各投受光装置の変位信号
を発信する夫々の伸び検出器と、前記両伸び検出器から
の発信信号を受けてその差を演算する伸び差演算器とか
らなるゴム・プラスチック用引張試験機を用いるゴム・
プラスチックの引張試験方法において、前記試料上にマ
ークを付す蛍光塗料が、ジメチルシロキサン構造を有
し、かつ蛍光物質を含有するシリコーンオイルであるゴ
ム・プラスチックの引張試験方法に係るものである。
【0008】
【発明の実施の形態】まず、添付図面にもとづいて、ゴ
ム・プラスチック用引張試験機の具体的な実施態様につ
き詳述する。
【0009】図1はゴム・プラスチック用引張試験の概
要を示し、図において6、10は夫々試料1に蛍光塗料
でマークした標線2、3に紫外線を照射する投光器、
7、11は前記投光器6、10からの各照射を受けて発
光する試料の発光光線を受光し検出する受光器であり、
これら投光器と受光器は夫々その1つを一対のセットと
して2対の投受光装置6、7、10、11を形成し、試
料の伸び方向に間隔をおいてマークされた標線2、3に
夫々対応する如く配設され、ゴム・プラスチック用引張
試験機の基本要素を構成している。そして、この両投受
光装置6、7、10、11は夫々、受光器7、11に含
まれる後述する検出器の検出に従って回転する平衡電動
機5、9の該回転によって回転作動する移動用ねじ1
4、15に取り付けられ、受光器7、11への入射光量
を検出することによって各対の投受光装置6、7、1
0、11を夫々自動的に前記標線2、3に追尾させ得る
ように構成されている。一方、4、8は前記平衡電動機
5、9の回転を受け、前記投光器及び受光器よりなる各
対の投受光装置6、7、10、11の変位を変位信号と
して発信する伸び検出器であり、前記各平衡電動機5、
9の端部に取り付けられ夫々発信信号を伸び差演算器1
2に入力して必要に応じその演算結果を記録計13に記
録するようになっている。
【0010】ゴム・プラスチック用引張試験機は、叙上
の如き各構成を基幹とするものであるが、特にその重要
な特色をなすものは紫外線ランプを光源とする投光器
6、10ならびにこれに対応する受光器7、11の構成
である。図2及び図3は、かかる投光器6、10及び受
光器7、11の詳細を図示しており、投光器6、10に
おいては、紫外線ランプ26を光源とし、該ランプ26
からの放射光線は凹面鏡27とレンズ25の組み合わせ
によって効率よく試料1の標線2、3を照射するように
構成され、特に紫外線ランプ26からの可視光線をカッ
トするフィルター24を有して標線2、3の照射は紫外
線のみで行ない、可視光線を照射した場合に問題となる
試料1からの反射の影響を排除した構造を採用してい
る。一方、各受光器7、11は図3に図示する如く、試
料1の標線2、3の発光光量を受け紫外線をカットする
フィルター34を備えると共に、紫外線をカットし可視
光線のみ集光する凸レンズ35と、集光した入射光量を
検出する多素子半導体検出器36を有して可視光線のみ
凸レンズ35で集光し検出器36に導入することによっ
て信頼性を向上せしめる装置構成からなっている。な
お、この受光器7、11の構成において、特に多素子半
導体検出器36は多素子を2等分割して、各2等分割し
た多素子半導体の検出器36A、36Bの出力は夫々の
増巾器37、38によって増巾され更に差動増巾器39
に入力されて増幅し各平衡電動機5、9を回転させる仕
組が採り入れられている。
【0011】以下、受光器と試料の標線との対応関係を
図3にもとづき受光器7と試料1の標線2との対応関係
について説明する。受光器11と試料1の標線3との関
係についても同様である。すなわち、試料1の標線2は
試料1の引張開始後その伸びにつれて標線巾が拡大され
ていく。したがって拡大されつつある標線の中心が標線
の面積を2等分する線であるように受光器7が移動して
受光器7と標線2との対応が完全にとれておれば多素子
半導体検出器36の2等分割した多素子半導体検出器3
6A、36Bの出力は等しく、差動増巾器39の出力は
零となり平衡電動機5と静止の状態となる。これに対
し、標線2と、受光器7との対応にずれが生じると、2
等分割した多素子半導体検出器36A、36Bの出力の
差を生じる。この出力の差は標線自体の巾が試料の伸び
と同時に広がる結果、多素子半導体検出器の2等分割さ
れた素子36A、36Bのそれぞれに入力する標線から
反射光の量が巾広く変形した標線の面積を2等分割した
面積に対応していないことに基づくものである。そこ
で、平衡電動機5は上記の差がなくなるまで回転を続
け、投光器と受光器の対からなる投受光装置を変位させ
試料1が伸びた結果巾が広がった標線2の面積を2等分
割するような位置に移動せしめる。このようにして試料
1の標線2の中心を夫々常に精度よく自動追尾が可能と
なっている。
【0012】かくしてゴム・プラスチック用引張試験機
は叙上の如き構成を有してなり、試料の伸びを測定する
にあたっては、先ず図1に示すように試料1にマークし
た2つの標線2、3に投光器6、10からの紫外線を照
射することによって該標線2、3のみを発光させる。そ
して、発光した光は夫々受光器7、11により受光す
る。この受光された各標線の発光光量は次いで図3に図
示される受光器内のフィルター34によって紫外線がカ
ットされ、可視光線のみが凸レンズ35で集光されて多
素子半導体検出器36に導入され、この検出器36で検
出されてアナログ信号を発し、受光器における増巾作用
を経て平衡電動機5、9を回転させる。この平衡電動機
5、9の回転が起生すると、1つは投受光装置移動用ね
じ14、15を回転し、一対になった投光器、受光器か
らなる投受光装置6、7、10、11を自動的に各標線
2、3に追尾させ、平衡状態に至るまで同投受光装置を
変位させると共に、他のもう1つとして平衡電動機5、
9の端部に取り付けて設けた伸び検出器4、8を作動さ
せ、前記投光器、受光器の変位信号を発信させ伸び差演
算器12に導入する。かくして、このように各伸び検出
器4、8からの発信信号が導入されると、前記伸び差演
算器12により両信号の差を演算によって求めれば両標
線2、3間の伸びを自動的に測定することができる。
【0013】以上のようにして紫外線投光器と検出器を
含む受光器を組合せ使用し、各機素を併設することによ
って試料の伸びを高精度に測定することが可能となる。
【0014】なお、上記説明は投受光器装置のセットを
2対とした場合について述べたが、標線数の増加に伴な
い適宜、その数を増加すれば同様にして複数の各標線間
の伸びを同時に測定することもでき、設計的改変も任意
である。
【0015】以上のように投光器の光源に紫外線ランプ
を使用し、試料にあらかじめマークした標線を照射する
ことによって試料上の標線のみを発光させ、その発行し
た光を検出器を用いて検出し、これに従って一対になっ
た投光器と2等分割した多素子半導体からなる多素子半
導体検出器を含む受光器を自動的に標線に追尾させると
共に伸び検出器、伸び差演算器を付設して標線間の伸び
を測定し引張試験を行なうものであり、前記受光器の2
等分割された多素子半導体検出器による検出を利用する
追尾機構によって標線が如何に幅広く変化したとしても
その面積を2等分した線を標線として把握し追尾せしめ
ることによって投受光装置が伸びの大きいゴム・プラス
チック等の試料でも、該試料標線の中心を常に精度良く
自動追尾可能となり、紫外線照射による発光利用と相俟
って従来非接触法、接触法でも困難とされていたゴム・
プラスチックの如き伸び量が大きく、かつ多品種、多様
な色物や引張りによって地肌が変色する試料に適用する
場合においてもその伸びを極めて精度よく測定すること
を可能ならしめる外、治具取り付けの不便を起こすこと
なく、従って又、誤差原因を可及的少なくして自動化を
促進する上に頗る有用な効果を有する。
【0016】本発明の最大の特徴は、前記試料上にマー
クを付す蛍光塗料が、ジメチルシロキサン構造を有し、
かつ蛍光物質を含有するシリコーンオイルである点に存
する。このような、特徴的な蛍光塗料を用いることによ
り、試料上に付されたマークが測定中に乾燥し、測定中
に剥がたり、試料との密着一体性を失い、標線としての
機能が失われるという事態が発生し、効率的で正確な測
定が困難であるという従来の問題を完全に排除し、効率
的に正確な測定が可能となるのである。蛍光塗料中の蛍
光物質の含有量としては、蛍光塗料をマッチ棒で持ち上
げたときに1、2滴垂れる程度の粘度を有することを目
安とし、通常10〜60重量%である。該含有量が過少
であると測定中に塗料が垂れる場合があり、一方該含有
量が過多であると試料との密着一体性が不十分となる場
合がある。蛍光塗料としては、シリコーンオイルに微粉
の蛍光物質を添加したものが最適である。蛍光物質とし
ては、要するに用いる紫外線を照射した場合に蛍光を発
する物質であればよく、たとえば日本触媒社製「エポカ
ラーFP20」(商品名)等をあげることができる。
【0017】
【実施例】実施例1 上記の試験機を用いた。試料としては、住友化学工業社
製のポリプロピレン樹脂である「スミトモノーブレンS
131」(商品名)を用いた。試料上にマークを付す蛍
光塗料として、ジメチルシロキサン構造を有し、かつ微
粉の蛍光物質(日本触媒社製「エポカラーFP20」)
を添加したシリコーンオイル(蛍光塗料中の蛍光物質の
含有量は40重量%)を用いた。測定中に、蛍光塗料に
より試料上に付されたマークが測定中に乾燥し、測定中
に剥がたり、試料との密着一体性を失い、標線としての
機能が失われるという事態は発生せず、効率的で正確な
測定ができた。
【0018】比較例1 試料上にマークを付す蛍光塗料として、成東インキ製造
社製蛍光インキである「UVスーパードライ蛍光オレン
ジ」(商品名)を用いたこと以外は実施例1と同様に行
った。測定中に、蛍光塗料により試料上に付されたマー
クが測定中に乾燥し、測定中にマークの一部が剥がれ、
またマークと試料との密着一体性が失われ、効率的で正
確な測定が困難であった。
【0019】
【発明の効果】以上説明したとおり、本発明により、紫
外線ランプを使用し、試料にあらかじめマークした標線
を照射することによって試料上の標線のみ発光させ、該
発光した光を検出し多品種の試料の伸びを非接触で、か
つ高精度で測定する装置を具備した引張試験機を用いる
ゴム・プラスチックの引張試験方法であって、効率的に
正確な測定が可能なゴム・プラスチックの引張試験方法
を提供することができた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明ゴム・プラスチック用引張試験機の略示
概要図である。
【図2】図1における投光器の構造説明図である。
【図3】図1における受光器の構造説明図である。
【符号の説明】
1:試料 2、3:標線 4、8:伸び検出器 5、9:平衡電動機 6、10:投光器 7、11:受光機 12:伸び差演算器 13:記録計 24、34:フィルター 26:紫外線ランプ 36:検出器 36A、36B:2等分割各多素子半導体検出器 37、38:増巾器 39:差動増巾器
フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA02 AA07 AA65 BB00 DD05 FF23 FF28 FF66 GG00 HH04 JJ03 JJ24 LL19 LL22 LL26 LL50 MM02 MM07 NN17 PP02 PP22 QQ13 QQ25 QQ29 UU03 UU07 2G061 AA01 AB01 BA07 CA10 EA01 EA02 EB07

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 紫外線ランプを光源に用いた投光器と、
    該投光器からの照射を受けて発光する試料の発光光線を
    受光すると共に、入射した入射光量を検出する2等分割
    した多素子半導体からなる多素子半導体検出器を含む受
    光器とを一対として、試料の伸び方向に間隔をおいて配
    設された少くとも2対の投受光装置と、前記受光器の2
    等分割された多素子半導体からなる多素子半導体検出器
    による検出に従って前記投受光装置を試料の伸び方向に
    おいて試料上の蛍光塗料でマークした標線に自動的に追
    尾させる追尾機構と、該追尾機構の作動に伴って各投受
    光装置の変位信号を発信する夫々の伸び検出器と、前記
    両伸び検出器からの発信信号を受けてその差を演算する
    伸び差演算器とからなるゴム・プラスチック用引張試験
    機を用いるゴム・プラスチックの引張試験方法におい
    て、前記試料上にマークを付す蛍光塗料が、ジメチルシ
    ロキサン構造を有し、かつ蛍光物質を含有するシリコー
    ンオイルであるゴム・プラスチックの引張試験方法。
  2. 【請求項2】 蛍光塗料中の蛍光物質の含有量が10〜
    60重量%である請求項1記載の試験方法。
  3. 【請求項3】 蛍光塗料が、シリコーンオイルに微粉の
    蛍光物質を添加したものである請求項1記載の試験方
    法。
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