JPS589373B2 - 光電エ−ロゾル分析器の目盛特性の測定および較正装置 - Google Patents

光電エ−ロゾル分析器の目盛特性の測定および較正装置

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JPS589373B2
JPS589373B2 JP53085651A JP8565178A JPS589373B2 JP S589373 B2 JPS589373 B2 JP S589373B2 JP 53085651 A JP53085651 A JP 53085651A JP 8565178 A JP8565178 A JP 8565178A JP S589373 B2 JPS589373 B2 JP S589373B2
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light
analyzer
light guide
optical
housing
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JP53085651A
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エフゲニー・セルゲーエウイツチ・トウマノフ
ニコライ・ウラジミロウイツチ・ザムコフ
レフ・アレクセーエウイツチ・クドリヤフツエフ
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N15/00Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
    • G01N15/10Investigating individual particles
    • G01N15/1012Calibrating particle analysers; References therefor
    • G01N2015/1016

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は測定技術に関し、詳細には光電エーロゾル分析
器の目盛特性の測定及び較正装置に関する。
本発明は鉱山、精密組立作業を行う作業場、その他にお
ける空気中のほこりを測定する分析器の目盛特性の測定
および較正に使用出来る。
現在、産業設備の清浄化が重要な問題となっており、従
って高速且つ高信頼性の空気の純度の検出の可能な光電
エーロゾル分析器の使用が広まっている。
高精度高信頼性の光電エーロゾル分析器はすべてのその
出力パラメータがチェックされそしてその目盛特性が完
全に回復されるときに有効となる。
従ってそのような分析器の目盛特性の測定および較正用
の更に進歩した装置が必要である。
周知のそのような装置としては例えばモスクワテクマシ
ュエキスポート(Tekhmasgexport)発行
の「Az−5型エーロゾル粒子用光電カウンタ」に関す
る技術文献に示されているものがあり、これはノズル、
光源および感光受光器を有し後二者間においてこのノズ
ルをエーロゾル粒子が通るときに光学的な結合が生じる
ごとくなった分析器に用いるに適した装置であり、この
装置はゲージ孔を有する光チョツパと、このチョッパに
機械的に接続する電動機と、この装置と分析器との間に
光学的結合をつくるだめの光ガイドからなっている。
この装置は光電工一口ゾル分析器の光源として制御の出
来ないものを用いているから、目盛曲線上の或る一点の
みが或る直径をもつエーロゾル粒子に対応するものとす
ることが出来るにすぎない。
かくして与えられた直径の範囲に属するエーロゾル粒子
は適正な信頼性をもって測定することが出来ず、それ故
大きな測定誤差が生じる。
更に、この装置は分析器の光源回路のみをチェック出来
るにすぎず、それ故、誤差が生じて総合測定誤差を増大
させるような、他の分析器の副組立体内の位置を検出出
来ない。
最後に、この装置は分析器の構成要素になっており、動
作中での機能チェックを必要とする。
しかし、この装置の光学部材は別途設けられた基準測定
装置を用いることができないような構造となっている。
それ故、上記機能チェックを行うことができない。
本発明の目的は向上した精度を有する光電エーロゾル分
析器の目盛特性の測定および較正装置を提供することで
ある。
他の目的は光電エーロゾル分析器の精度を高めることで
ある。
更に他の目的は光電エーロゾル分析器の成分誤差を決定
することである。
更に他の目的は測定および較正装置に生じる光学的雑音
レベルを低下させることである。
他の目的は光電エーロゾル分析器の測定時間を短縮する
ことである。
本発明によれば、 ノズル3、光源32および感光受光器29を有し、測定
下において光源32と感光受光器29間経位置するノズ
ル3をエーロゾル粒子が通過するとき光結合がなされる
よう構成された光電エーロゾル分析器1の目盛特性を測
定し、かつ、較正する装置において、 前記光電エーロゾル分析器1内に配置され、光電エーロ
ゾル分析器1の作用領域4内に均一な光束分布を与える
ように球5が設けられた一端面、および平坦な他端面6
を有してノズル3内に置かれた光ガイド2と、 この光電エーロゾル分析器1の目盛特性を測定し較正す
るために出力光パルスの振幅を制御可能な光パルス発生
器9と、 測定のたびに前記光ガイド2の平坦な他端面6に配置さ
れ、光ガイド2からの光を受けることにより前記作用領
域4内の光束の強さを測定する計測器10と、を備え、 前記光パルス発生器9は、光ガイド2を通して作用領域
4へ与えられる光パルスを形成するだめのゲージ孔14
を有する光チョツパ13、この光チョツパ13の前に置
かれた光源17を当該光源17からの光束が上記ゲージ
孔14を通った後に上記平坦な他端面6に入るようにし
て内蔵するハウジング12、上記光源17に電気的に接
続されて光パルスの振幅を調整する光調整器21、およ
び上記光チョツパ13に機械的に接続された電動機11
を有し、 前記計測器10は光ガイド2の平坦な他端面6に光学的
に結合される感光受光器27と直流電圧源26を内蔵す
るハウジング25、およびガルバ.ノメータ24を有す
ることを特徴とするエーロゾル分析器の目盛特性の測定
および較正装置が提供される。
好ましくはこの光パルス発生器のハウジングと計測器の
ハウジングは夫々上記光ガイドのハウジングに接続する
ためのブツシングを有し、このプツシングの軸と光ガイ
ドの光学軸は一致する。
好適にはパルス発生器に面するチョツパの内面は光吸収
性物質でコーティングされる。
本発明によればエーロゾル粒子の全寸法範囲内で目盛特
性を測定することが出来、かくして分析器の精度を上げ
ることが出来る。
本発明は、小さいサイズのエーロゾル粒子に対応する小
さな振幅を有する光パルスを発生させることができ、し
たがってエーロゾルの粒子のサイズが小さい場合にも目
盛特性の測定を確実に行うことができる。
本発明によれば回路の故障個所を決定することが出来、
従って分析器の成分の誤差の検出が可能になる。
本発明によれば実際のエーロゾル粒子を分析器のチェッ
クに用いる場合の面倒な技術をなくすように分析器を通
る実際の粒子の通路をシミュレートする光パルスを使用
することが出来る。
分析器1用の本発明の装置(第1図)は分析器1のノズ
ル3内に配置された光ガイド2を有する。
分析器1内にあってその作用領域4の中心に置かれたこ
の光ガイド2の一端面は球5とされて領域4内に均一の
光束分布をつくるようになっている。
このガイド2の他端6は平坦であり、中空の円筒状マウ
ント7にセットされる。
ガイド2とマウント7はハウジング8内に固定される。
本発明の装置は更に出力パルスの振幅を制御可能な光パ
ルス発生器9と作用領域4内の光の強さを測定するだめ
の計測器10とを有し、このパルス発生器9と計測器1
0は測定のたびに端面6上に配置される。
パルス発生器9は電動機11と、ゲージ孔14を有する
光チョツパ13からなり、チョツパ13はハウジング1
2に配置されてボルト16で電動機11の軸15に接続
される。
チョツパ13は、光源17からの光がゲージ孔14を通
り端面6に入るようにハウジング12に固定した上記光
源17に対してスリーブの形とされる。
チョツバ13の内面は光吸収コーティング19を有する
光調整器21は電流源22と電流計23からなり、この
電流計の出力は光源17に接続して光調整器21の出力
20となる。
計測器10はガルバノメータ24、直流電圧源26およ
び受光器27の直列回路からなり、電源26と受光器2
7はハウジング25内に配置される。
ハウジング12と25はプツシング28(第1,2図)
を有し、これはパルス発生器9(第1図)と計測器10
(第2図)の動作時に光ガイド2のハウジング8(第1
,2図)内に配置される。
分析器1は更に領域4に接近して配置されパルス増幅器
30に接続する感光性受光器29を有する。
対物レンズ31が使用出来、その焦点距離は領域4の中
心から測定され、そして光源32がレンズ31の前に置
かれる。
パルス電圧計33が増幅器30に接続する。
第2図は分析器1の作用領域4内の光の強度を測定する
ための本発明の装置を示している。
この場合には計測器10が端面6上に配置されそしてハ
ウジング25のプツシング28が光ガイド2のハウジン
グ28の上にはまる。
本発明の装置は次のように動作する。
本発明の装置によりチェックされるべき分析器1の光源
32(第1,2図)は領域4の中心に集束される光ビー
ムを発生する。
ノズル3を通るエアゾル粒子はこのビームに入りそして
、粒子が領域4を通る時間、幅によりきまる幅をもつ光
パルスを反射および散乱させる。
これら光パルスは受光器29により検出されそして領域
4を通る粒子の寸法に比例する振幅Uを有する電気パル
スに変換される。
パルス増幅器30により発生されそしてパルス電圧計3
0により置数される振幅Uとエーロゾル粒子の直径dの
間の関係は第3図に示すように分析器1(第1,2図)
の基準目盛特性(曲線)34を表わす。
目盛特性の測定と較正がはじまる前にマウント7により
ハウジング8内に固定された光ガイド2の球5が領域4
に入れられる。
領域4内の光強度を測定するために計測器10のハウジ
ング25がブツシング28により光ガイド2のハウジン
グ8上にセットされる。
光源32からの光ビームは球5に当りそしてガイド2に
より、直流電圧源26とガルバノメータ24に直列とな
った受光器27に送られる。
ガルバノメータは領域4を含む光源32(第2図)の回
路に対応する基準目盛特性34(第3図)の成分の値を
示す。
分析器1(第1図)の目盛特性を測定し較正するために
、パルス発生器9のハウジング12はブツシング28に
より光ガイド2のハウジング8上に配置される。
光調整器21により附勢されると、光源17は予定の速
度で電動機11により回転される光チョツパ13のゲー
ジ孔14を通るビームを発生する。
この光ビームは光ガイド2の端面6に当りそして球5へ
と送られる。
チョツパ13により発生される光パルスは球5により一
様に領域4内に分散され、受光器29で検出されそして
電気パルスに変換される。
この電気パルスはパルス増幅器30で増幅されそして電
圧計33に置数される。
電気パルスの振幅Uと光調整器21により調整される光
源17の電流■との間の関係が第4図に示すように分析
器1(第1図)の測定された目盛特性35を表わす。
分析器1(第1図)の測定された目盛特性35(第4図
)が基準特性34(第3図)からずれたときには、受光
器27(第1図)とパルス増幅器30が測定されている
エーロゾル粒子の寸法の全範囲内で測定された目盛特性
35(第4図)を較正するために用いられる。
この装置は基準測定手段を用いてチェック出来る。
これによれば装置のパラメータ、それ故分析器の目盛特
性の測定および較正精度を本装置の寿命中に一定に保つ
ことが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による光電エーロゾル分析器の目盛特性
の測定および較正用の装置の概略図、第2図は分析器の
作用領域内の光強度を測定する場合の第1図と同様の図
、第3図は基準目盛特性を示す図、第4図は測定された
目盛特性を示す図である。 1・・・・・・光電エーロゾル分析器、2・・・・・・
光ガイド、3・・・・・・ノズル、4・・・・・・作用
領域、5・・・・・・球、6・・・端面、8・・・・・
・光ガイドのハウジング、9・・・・・・制御可能な光
パルス発生器、10・・・・・・光強度の計測器、11
・・・・・・電動機、12・・・・・・パルス発生器の
・・ウジング、13・・・・・・光チョツパ、14・・
・・・・ゲージ孔、17・・・・・・光源、19・・・
・・・光吸収コーティング、21・・・・・・光調整器
、24・・・・・・ガルバノメータ、25・・・・・・
ハウジング、26・・・・・・直流電圧源、27・・・
・・・感光受光器、28・・・・・・ブツシング、29
・・・・・・感光受光器、32・・・・・・光源。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 ノズル3、光源32および感光受光器29を有し、
    測定下において光源32と感光受光器29間に位置する
    ノズル3をエーロゾル粒子が通過するとき光結合がなさ
    れるよう構成された光電エーロゾル分析器1の目盛特性
    を測定し、かつ、較正する装置において、 前記光電エーロゾル分析器1内に配置され、光電エーロ
    ゾル分析器1の作用領域4内に均一な光束分布を与える
    ように球5が設けられた一端面、および平坦な他端面6
    を有してノズル3内に置かれた光ガイド2と、 この光電エーロゾル分析器1の目盛特性を測定し較正す
    るだめに出力光パルスの振幅を制御可能な光パルス発生
    器9と、 測定のたびに前記光ガイド2の平坦な他端面6に配置さ
    れ、光ガイド2からの光を受けることにより前記作用領
    域4内の光束の強さを那定する計測器10と、を備え、 前記光パルス発生器9は、光ガイド2を通して作用領域
    4へ与えられる光パルスを形成するだめのゲージ孔14
    を有する光チョツパ13、この光チョツパ13の前に置
    かれた光源17を当該光源17からの光束が上記ゲージ
    孔14を通った後に上記平坦な他端面6に入るようにし
    て内蔵するハウジング12、上記光源17に電気的に接
    続されて光パルスの振幅を調整する光調整器21、およ
    び上記光チョツパ13に機械的に接続された電動機11
    を有し、 前記計測器10は光ガイド2の平坦な他端面6に光学的
    に結合される感光受光器27と直流電圧源26を内蔵す
    るハウジング25、およびガルバノメータ24を有する
    ことを特徴とするエーロゾル分析器の目盛特性の測定お
    よび較正装置。 2 特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記光
    パルス発生器9のハウジング12と前記計測器10のハ
    ウジング25は夫々前記光ガイド2のハウジング8に機
    械的に接続するだめのプッシング28を有し、このブツ
    シングの軸が上記光ガイド2の光学軸と整合するごとく
    なった光電エーロゾル分析器の目盛特性の測定及び較正
    装置。 3 特許請求の範囲第1項又は第2項記載の装置におい
    て、前記光源17に面する前配光チョツパ13の内面は
    光吸収コーティング19を有するごとくなった、光電エ
    ーロゾル分析器の目盛特性の測定および較正装置。
JP53085651A 1977-07-13 1978-07-13 光電エ−ロゾル分析器の目盛特性の測定および較正装置 Expired JPS589373B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU2508561 1977-07-13

Publications (2)

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JPS5441182A JPS5441182A (en) 1979-04-02
JPS589373B2 true JPS589373B2 (ja) 1983-02-21

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ID=20718421

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US (1) US4222666A (ja)
JP (1) JPS589373B2 (ja)
AU (1) AU517408B2 (ja)
CH (1) CH638893A5 (ja)
DD (1) DD137973A1 (ja)
DE (1) DE2829736C2 (ja)
ES (1) ES471649A1 (ja)
FR (1) FR2401413A1 (ja)
GB (1) GB2002110B (ja)
IT (1) IT7841612A0 (ja)
SE (1) SE427387B (ja)

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AU517408B2 (en) 1981-07-30
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IT7841612A0 (it) 1978-07-12
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