JP2002197450A - 撮像装置及び撮像方法 - Google Patents
撮像装置及び撮像方法Info
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Landscapes
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Image Input (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 欠陥画素が存在する場合に、当該欠陥画素に
対応した画素情報を補正するに際して、補正の計算時間
の短縮及び補正精度の向上を図り、信頼性の高い撮像装
置及び撮像方法を提供する。 【解決手段】 所定の画素に機能的な欠陥が存在する場
合に、取得された画像情報に対して、当該欠陥画素の位
置に対応した画素情報を補正出力する補正手段１４を備
えており、この補正手段１４は、撮像素子４内において
欠陥画素が各々孤立して存在する第１の場合と、複数の
欠陥画素が連結して存在する第２の場合とに応じて、そ
れぞれ異なる補正方法により補正する。
対応した画素情報を補正するに際して、補正の計算時間
の短縮及び補正精度の向上を図り、信頼性の高い撮像装
置及び撮像方法を提供する。 【解決手段】 所定の画素に機能的な欠陥が存在する場
合に、取得された画像情報に対して、当該欠陥画素の位
置に対応した画素情報を補正出力する補正手段１４を備
えており、この補正手段１４は、撮像素子４内において
欠陥画素が各々孤立して存在する第１の場合と、複数の
欠陥画素が連結して存在する第２の場合とに応じて、そ
れぞれ異なる補正方法により補正する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、撮像装置及び方法
に関し、特に、Ｘ線照射により被写体内部を透過する透
過量を画像化するＸ線撮像装置に適用して好適である。
に関し、特に、Ｘ線照射により被写体内部を透過する透
過量を画像化するＸ線撮像装置に適用して好適である。
【０００２】
【従来の技術】近年、医療用Ｘ線画像は、フィルムによ
る直接画像化する方式から、一旦画像分布を電気信号な
どへ変換し、アナログ信号からデジタル値への変換（Ａ
／Ｄ変換）により更に数値データへ変換することによ
り、ファイリング・画像処理・モニタ表示などが低コス
トで行えるデジタルＸ線画像を用いることが一般化しつ
つある。
る直接画像化する方式から、一旦画像分布を電気信号な
どへ変換し、アナログ信号からデジタル値への変換（Ａ
／Ｄ変換）により更に数値データへ変換することによ
り、ファイリング・画像処理・モニタ表示などが低コス
トで行えるデジタルＸ線画像を用いることが一般化しつ
つある。
【０００３】この場合、デジタル画像を取得する手段と
して有望なのは、大判の固体撮像素子を用いてＸ線の強
度分布を平面的に直接取得する方法である。
して有望なのは、大判の固体撮像素子を用いてＸ線の強
度分布を平面的に直接取得する方法である。
【０００４】固体撮像素子によってＸ線画像を取得する
場合には、複数の画素を配列してなる固体撮像素子特有
の問題に欠陥画素の問題がある。この欠陥画素という問
題は撮像素子の製造上発生する場合と、撮像素子に画像
情報が至るまでの間にゴミなどの付着により、特定の画
素が機能しない場合も含む。
場合には、複数の画素を配列してなる固体撮像素子特有
の問題に欠陥画素の問題がある。この欠陥画素という問
題は撮像素子の製造上発生する場合と、撮像素子に画像
情報が至るまでの間にゴミなどの付着により、特定の画
素が機能しない場合も含む。
【０００５】画像情報の冗長性（空間的に低周波成分を
主成分とする）から、この欠陥は少量であれば周辺画素
値からの平均的な補間によってほとんどの場合修復可能
である。 しかし、一般的には周辺の統計的な性質から
予測しなければならない。例えば、一般に散乱線除去用
のグリッド縞の空間周波数は被写体への影響を減らすた
め、サンプリングのナイキスト周波数（サンプリング周
波数の２分の１）以上に設定される。
主成分とする）から、この欠陥は少量であれば周辺画素
値からの平均的な補間によってほとんどの場合修復可能
である。 しかし、一般的には周辺の統計的な性質から
予測しなければならない。例えば、一般に散乱線除去用
のグリッド縞の空間周波数は被写体への影響を減らすた
め、サンプリングのナイキスト周波数（サンプリング周
波数の２分の１）以上に設定される。
【０００６】グリッド縞がナイキスト周波数の５０％以
上になると、平均補間では予測が逆転してしまう。図１
３は、１次元で考え、ある点を欠陥画素として、その両
側の２点の平均で補間する場合のフィルタリングとして
の応答関数を見たものであり、横軸を空間周波数にとっ
ている。 空間周波数が低く、ナイキスト周波数の５０
％以下であれば、応答は正即ち位相が反転しないが、ナ
イキスト周波数の５０％以上になると、位相が反転し、
期待される補間結果にはならない。
上になると、平均補間では予測が逆転してしまう。図１
３は、１次元で考え、ある点を欠陥画素として、その両
側の２点の平均で補間する場合のフィルタリングとして
の応答関数を見たものであり、横軸を空間周波数にとっ
ている。 空間周波数が低く、ナイキスト周波数の５０
％以下であれば、応答は正即ち位相が反転しないが、ナ
イキスト周波数の５０％以上になると、位相が反転し、
期待される補間結果にはならない。
【０００７】図１３において、黒点は正常な画素から得
られた画素値を表し、矢印で「欠陥画素位置」と示して
ある位置が欠陥画素を表し、データが得られていない。
同図において、グリッド縞が映り込んでいるため、デー
タは細かく振動している。同図の「Ａ：平均による補間
値」と指してあるデータは従来の平均によるものであ
る。
られた画素値を表し、矢印で「欠陥画素位置」と示して
ある位置が欠陥画素を表し、データが得られていない。
同図において、グリッド縞が映り込んでいるため、デー
タは細かく振動している。同図の「Ａ：平均による補間
値」と指してあるデータは従来の平均によるものであ
る。
【０００８】画像は本来２次元平面的に値が分布するも
のであるため、上述のような平均による補間値という観
点から補正する画素が散在している場合にはほとんど問
題なく補正が行われたように観察される。
のであるため、上述のような平均による補間値という観
点から補正する画素が散在している場合にはほとんど問
題なく補正が行われたように観察される。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、欠陥画
素が連結集合として存在する場合には、上述のような補
正誤差が欠陥画素の連結に沿って観察されることにな
り、観察者に違和感を与える。
素が連結集合として存在する場合には、上述のような補
正誤差が欠陥画素の連結に沿って観察されることにな
り、観察者に違和感を与える。
【００１０】このような撮像素子の連結する線状の欠陥
画素については、例えば特許2,995,996号公報にそのハ
ードウエア的な検出方法が示されているが、独特の補正
方法までは言及されていない。
画素については、例えば特許2,995,996号公報にそのハ
ードウエア的な検出方法が示されているが、独特の補正
方法までは言及されていない。
【００１１】高空間周波数に信号が存在する場合の欠陥
補正に対応するためには、画像情報からの予測による補
間を行い、高空間周波数までも位相の変動しない欠陥補
正を行う必要がある。
補正に対応するためには、画像情報からの予測による補
間を行い、高空間周波数までも位相の変動しない欠陥補
正を行う必要がある。
【００１２】予測する方法として、もっとも一般的な方
法は線形予測を用いることである。線形予測の方法を簡
単に記述する。 データ系列
法は線形予測を用いることである。線形予測の方法を簡
単に記述する。 データ系列
【００１３】
【数１】
【００１４】が与えられたときに、ｎにおけるデータＸ
nが下式のような差分方程式であらわされるとする。
nが下式のような差分方程式であらわされるとする。
【００１５】
【数２】
【００１６】ここで、εnは白色雑音系列、
【００１７】
【数３】
【００１８】は線形予測係数である。このような系列を
自己回帰過程（ＡＲ過程）と呼ぶ。
自己回帰過程（ＡＲ過程）と呼ぶ。
【００１９】いま、上式で遅延演算子z-1を用いて書き
直せば、
直せば、
【００２０】
【数４】
【００２１】とかけるため、AR過程Ｘnはパルス伝達関
数１／ A(z-1)をもつ線形フィルタの入力εnに対する出
力であると定義できる（スペクトル推定）。
数１／ A(z-1)をもつ線形フィルタの入力εnに対する出
力であると定義できる（スペクトル推定）。
【００２２】また、（式１）は線形予測係数、
【００２３】
【数５】
【００２４】が、信頼できるデータ系列から求まれば、
n-1点目のデータから、ｎ点目のデータが予測可能であ
ることを示している。
n-1点目のデータから、ｎ点目のデータが予測可能であ
ることを示している。
【００２５】
【数６】
【００２６】の予測は、システムが定常であると過程し
て最尤推定（最小２乗推定）を用いれば行える（即ち、
予測誤差εnのパワー（分散）を最小にするものを求め
る）。
て最尤推定（最小２乗推定）を用いれば行える（即ち、
予測誤差εnのパワー（分散）を最小にするものを求め
る）。
【００２７】εnの分散は２乗平均（平均値０）である
ので、平均をあらわす関数をE[ ＊ ]と表すと、
ので、平均をあらわす関数をE[ ＊ ]と表すと、
【００２８】
【数７】
【００２９】ただし、
【００３０】
【数８】
【００３１】であり、最小値を求めるために両辺をakで
微分して０とおくと、
微分して０とおくと、
【００３２】
【数９】
【００３３】という連立方程式を得る。これは、正規方
程式もしくはYule-Walker方程式と呼ばれる。
程式もしくはYule-Walker方程式と呼ばれる。
【００３４】実際には自己相関Ｒ（＊）の演算はすべて
の画像点で行うことなく、限られた（与えられた）点数
で演算した推定値を用いる。
の画像点で行うことなく、限られた（与えられた）点数
で演算した推定値を用いる。
【００３５】具体的な演算は高速算法であるLevinsonア
ルゴリズムを用いるが、更に少ないデータ点数で共分散
（自己相関）を直接計算せずに求められる最大エントロ
ピー法であるBurgアルゴリズムも用いる事ができる。両
者は誤差が正規分布であり点数が多ければ数学的には一
致するが、点数が少ない場合にはBurgアルゴリズム(最
大エントロピー法)が有利である。
ルゴリズムを用いるが、更に少ないデータ点数で共分散
（自己相関）を直接計算せずに求められる最大エントロ
ピー法であるBurgアルゴリズムも用いる事ができる。両
者は誤差が正規分布であり点数が多ければ数学的には一
致するが、点数が少ない場合にはBurgアルゴリズム(最
大エントロピー法)が有利である。
【００３６】上述の計算で求められた係数akを用いて、
欠陥画素の前後の点から予想されるデータを求める。
欠陥画素の前後の点から予想されるデータを求める。
【００３７】上記の方法においては、片側のみからの予
測を示したが、両側からの予測の式も同様に記述でき
る。しかし、この計算は一般に単純な平均より時間のか
かるものになる。
測を示したが、両側からの予測の式も同様に記述でき
る。しかし、この計算は一般に単純な平均より時間のか
かるものになる。
【００３８】また、欠陥補正に関してはノイズの平滑化
という観点もある。一般にＸ線による画像はＸ線の到達
線量分布を画像化しているわけであり、独特の量子モト
ルによるゆらぎを持ち、更に受像系のシステムノイズに
よるゆらぎを持つ画像になる。ノイズ分布が正規分布で
あると仮定すると、上記の平均もしくは線形和により欠
陥補正部のノイズのゆらぎが減少することになる。
という観点もある。一般にＸ線による画像はＸ線の到達
線量分布を画像化しているわけであり、独特の量子モト
ルによるゆらぎを持ち、更に受像系のシステムノイズに
よるゆらぎを持つ画像になる。ノイズ分布が正規分布で
あると仮定すると、上記の平均もしくは線形和により欠
陥補正部のノイズのゆらぎが減少することになる。
【００３９】このゆらぎは、欠陥の補正箇所が散在する
場合は統計的にも見た目にも問題はないが、欠陥の補正
箇所が連続している場合には、その連続した集合部分の
統計的性質の変動により画像自身の欠陥補正が不完全で
あるという印象を観察者に与える。
場合は統計的にも見た目にも問題はないが、欠陥の補正
箇所が連続している場合には、その連続した集合部分の
統計的性質の変動により画像自身の欠陥補正が不完全で
あるという印象を観察者に与える。
【００４０】即ち従来では、所定の画素に機能的な欠陥
が存在する場合に、欠陥画素が散在する場合には単純な
平均で補正しても何ら問題は発生しないが、連結する欠
陥画素の集合に対しては、その集合を目立たせないため
に、計算時間のかかる複雑な補正演算処理が必要にな
る。
が存在する場合に、欠陥画素が散在する場合には単純な
平均で補正しても何ら問題は発生しないが、連結する欠
陥画素の集合に対しては、その集合を目立たせないため
に、計算時間のかかる複雑な補正演算処理が必要にな
る。
【００４１】そこで本発明は、欠陥画素が存在する場合
に、当該欠陥画素に対応した画素情報を補正するに際し
て、補正の計算時間の短縮及び補正精度の向上を図り、
信頼性の高い撮像装置及び撮像方法を提供することを目
的とする。
に、当該欠陥画素に対応した画素情報を補正するに際し
て、補正の計算時間の短縮及び補正精度の向上を図り、
信頼性の高い撮像装置及び撮像方法を提供することを目
的とする。
【００４２】
【課題を解決するための手段】本発明の撮像装置は、面
上に複数の画素を配置してなる撮像素子を有するもので
あって、所定の前記画素に機能的な欠陥が存在する場合
に、取得された画像情報に対して、当該欠陥画素の位置
に対応した画素情報を補正出力する補正手段を備えてお
り、前記補正手段は、前記撮像素子内において前記欠陥
画素が各々孤立して存在する第１の場合と、複数の前記
欠陥画素が連結して存在する第２の場合とに応じて、そ
れぞれ異なる補正方法により補正することを特徴とす
る。
上に複数の画素を配置してなる撮像素子を有するもので
あって、所定の前記画素に機能的な欠陥が存在する場合
に、取得された画像情報に対して、当該欠陥画素の位置
に対応した画素情報を補正出力する補正手段を備えてお
り、前記補正手段は、前記撮像素子内において前記欠陥
画素が各々孤立して存在する第１の場合と、複数の前記
欠陥画素が連結して存在する第２の場合とに応じて、そ
れぞれ異なる補正方法により補正することを特徴とす
る。
【００４３】本発明の撮像装置の一態様では、前記補正
手段は、前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存
する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用い、前記第
２の場合には、２次以上の高次の予測型補正を用いて、
前記補正を実行する。
手段は、前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存
する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用い、前記第
２の場合には、２次以上の高次の予測型補正を用いて、
前記補正を実行する。
【００４４】本発明の撮像装置の一態様では、前記補正
手段は、前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存
する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用い、前記第
２の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない
画素の画素情報の平均値に、当該平均値から予測される
ゆらぎの成分を加算することにより、前記補正を実行す
る。
手段は、前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存
する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用い、前記第
２の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない
画素の画素情報の平均値に、当該平均値から予測される
ゆらぎの成分を加算することにより、前記補正を実行す
る。
【００４５】本発明の撮像装置の一態様では、前記補正
手段は、前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存
する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用い、前記第
２の場合には、前記欠陥画素に対して点対称に存在する
欠陥のない一対の画素の画素情報のうち、当該画素情報
の差分量が最も小さな値となる前記一対の画素の平均値
に対して、当該平均値から予測されるゆらぎの成分を加
算することにより、前記補正を実行する。
手段は、前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存
する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用い、前記第
２の場合には、前記欠陥画素に対して点対称に存在する
欠陥のない一対の画素の画素情報のうち、当該画素情報
の差分量が最も小さな値となる前記一対の画素の平均値
に対して、当該平均値から予測されるゆらぎの成分を加
算することにより、前記補正を実行する。
【００４６】本発明の撮像装置は、被検体を透過した放
射線の線量分布を平面上でマトリックス状に画素を配置
した撮像素子により電気信号に変換し、被検体内部の画
像情報を得るものであって、所定の前記画素に機能的な
欠陥が存在する場合に、取得された画像情報に対して、
当該欠陥画素の位置に対応した画素情報を補正出力する
補正手段を備えており、前記補正手段は、前記撮像素子
内において前記欠陥画素が各々孤立して存在する第１の
場合と、複数の前記欠陥画素が連結して存在する第２の
場合とに応じて、それぞれ異なる補正方法により補正す
ることを特徴とする。
射線の線量分布を平面上でマトリックス状に画素を配置
した撮像素子により電気信号に変換し、被検体内部の画
像情報を得るものであって、所定の前記画素に機能的な
欠陥が存在する場合に、取得された画像情報に対して、
当該欠陥画素の位置に対応した画素情報を補正出力する
補正手段を備えており、前記補正手段は、前記撮像素子
内において前記欠陥画素が各々孤立して存在する第１の
場合と、複数の前記欠陥画素が連結して存在する第２の
場合とに応じて、それぞれ異なる補正方法により補正す
ることを特徴とする。
【００４７】本発明の撮像装置の一態様では、前記補正
手段は、前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存
する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用い、前記第
２の場合には、２次以上の高次の予測型補正を用いて、
前記補正を実行する。
手段は、前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存
する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用い、前記第
２の場合には、２次以上の高次の予測型補正を用いて、
前記補正を実行する。
【００４８】本発明の撮像装置の一態様では、前記補正
手段は、前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存
する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用い、前記第
２の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない
画素の画素情報の平均値に、当該平均値から予測される
ゆらぎの成分を加算することにより、前記補正を実行す
る。
手段は、前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存
する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用い、前記第
２の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない
画素の画素情報の平均値に、当該平均値から予測される
ゆらぎの成分を加算することにより、前記補正を実行す
る。
【００４９】本発明の撮像装置の一態様では、前記補正
手段は、前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存
する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用い、前記第
２の場合には、前記欠陥画素に対して点対称に存在する
欠陥のない一対の画素の画素情報のうち、当該画素情報
の差分量が最も小さな値となる前記一対の画素の平均値
に対して、当該平均値から予測されるゆらぎの成分を加
算することにより、前記補正を実行する。
手段は、前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存
する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用い、前記第
２の場合には、前記欠陥画素に対して点対称に存在する
欠陥のない一対の画素の画素情報のうち、当該画素情報
の差分量が最も小さな値となる前記一対の画素の平均値
に対して、当該平均値から予測されるゆらぎの成分を加
算することにより、前記補正を実行する。
【００５０】本発明の撮像方法は、面上に複数の画素を
配置してなる撮像素子を有する撮像装置を用いた手法で
あって、所定の前記画素に機能的な欠陥が存在する場合
に、前記撮像素子内において前記欠陥画素が各々孤立し
て存在する第１の場合と、複数の前記欠陥画素が連結し
て存在する第２の場合とに応じて、それぞれ異なる補正
方法により、取得された画像情報に対して前記欠陥画素
の位置における画素情報を補正出力することを特徴とす
る。
配置してなる撮像素子を有する撮像装置を用いた手法で
あって、所定の前記画素に機能的な欠陥が存在する場合
に、前記撮像素子内において前記欠陥画素が各々孤立し
て存在する第１の場合と、複数の前記欠陥画素が連結し
て存在する第２の場合とに応じて、それぞれ異なる補正
方法により、取得された画像情報に対して前記欠陥画素
の位置における画素情報を補正出力することを特徴とす
る。
【００５１】本発明の撮像方法の一態様では、前記第１
の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない画
素の画素情報の平均値を用い、前記第２の場合には、２
次以上の高次の予測型補正を用いて、前記補正を実行す
る。
の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない画
素の画素情報の平均値を用い、前記第２の場合には、２
次以上の高次の予測型補正を用いて、前記補正を実行す
る。
【００５２】本発明の撮像方法の一態様では、前記第１
の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない画
素の画素情報の平均値を用い、前記第２の場合には、前
記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない画素の画素情報の
平均値に、当該平均値から予測されるゆらぎの成分を加
算することにより、前記補正を実行する。
の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない画
素の画素情報の平均値を用い、前記第２の場合には、前
記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない画素の画素情報の
平均値に、当該平均値から予測されるゆらぎの成分を加
算することにより、前記補正を実行する。
【００５３】本発明の撮像方法の一態様では、前記第１
の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない画
素の画素情報の平均値を用い、前記第２の場合には、前
記欠陥画素に対して点対称に存在する欠陥のない一対の
画素の画素情報のうち、当該画素情報の差分量が最も小
さな値となる前記一対の画素の平均値に対して、当該平
均値から予測されるゆらぎの成分を加算することによ
り、前記補正を実行する。
の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない画
素の画素情報の平均値を用い、前記第２の場合には、前
記欠陥画素に対して点対称に存在する欠陥のない一対の
画素の画素情報のうち、当該画素情報の差分量が最も小
さな値となる前記一対の画素の平均値に対して、当該平
均値から予測されるゆらぎの成分を加算することによ
り、前記補正を実行する。
【００５４】本発明の撮像方法は、被検体を透過した放
射線の線量分布を平面上でマトリックス状に画素を配置
した撮像素子により電気信号に変換し、被検体内部の画
像情報を得る手法であって、所定の前記画素に機能的な
欠陥が存在する場合に、前記撮像素子内において前記欠
陥画素が各々孤立して存在する第１の場合と、複数の前
記欠陥画素が連結して存在する第２の場合とに応じて、
それぞれ異なる補正方法により、取得された画像情報に
対して前記欠陥画素の位置における画素情報を補正出力
することを特徴とする。
射線の線量分布を平面上でマトリックス状に画素を配置
した撮像素子により電気信号に変換し、被検体内部の画
像情報を得る手法であって、所定の前記画素に機能的な
欠陥が存在する場合に、前記撮像素子内において前記欠
陥画素が各々孤立して存在する第１の場合と、複数の前
記欠陥画素が連結して存在する第２の場合とに応じて、
それぞれ異なる補正方法により、取得された画像情報に
対して前記欠陥画素の位置における画素情報を補正出力
することを特徴とする。
【００５５】本発明の撮像方法の一態様では、前記第１
の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない画
素の画素情報の平均値を用い、前記第２の場合には、２
次以上の高次の予測型補正を用いて、前記補正を実行す
る。
の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない画
素の画素情報の平均値を用い、前記第２の場合には、２
次以上の高次の予測型補正を用いて、前記補正を実行す
る。
【００５６】本発明の撮像方法の一態様では、前記第１
の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない画
素の画素情報の平均値を用い、前記第２の場合には、前
記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない画素の画素情報の
平均値に、当該平均値から予測されるゆらぎの成分を加
算することにより、前記補正を実行する。
の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない画
素の画素情報の平均値を用い、前記第２の場合には、前
記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない画素の画素情報の
平均値に、当該平均値から予測されるゆらぎの成分を加
算することにより、前記補正を実行する。
【００５７】本発明の撮像方法の一態様では、前記第１
の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない画
素の画素情報の平均値を用い、前記第２の場合には、前
記欠陥画素に対して点対称に存在する欠陥のない一対の
画素の画素情報のうち、当該画素情報の差分量が最も小
さな値となる前記一対の画素の平均値に対して、当該平
均値から予測されるゆらぎの成分を加算することによ
り、前記補正を実行する。
の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥のない画
素の画素情報の平均値を用い、前記第２の場合には、前
記欠陥画素に対して点対称に存在する欠陥のない一対の
画素の画素情報のうち、当該画素情報の差分量が最も小
さな値となる前記一対の画素の平均値に対して、当該平
均値から予測されるゆらぎの成分を加算することによ
り、前記補正を実行する。
【００５８】本発明の記憶媒体は、前記撮像装置の各構
成要素としてコンピュータを機能させるためのプログラ
ムを格納したコンピュータ読取り可能なものである。
成要素としてコンピュータを機能させるためのプログラ
ムを格納したコンピュータ読取り可能なものである。
【００５９】本発明の記憶媒体は、前記撮像方法の処理
手順を実行させるためのプログラムを格納したコンピュ
ータ読取り可能なものである。
手順を実行させるためのプログラムを格納したコンピュ
ータ読取り可能なものである。
【００６０】
【発明の実施の形態】初めに、本発明の主要構成につい
て説明する。本発明では、画素欠陥を散在する欠陥画素
と集合的に存在する欠陥画素に分類し、それぞれ異なる
処理を施す。
て説明する。本発明では、画素欠陥を散在する欠陥画素
と集合的に存在する欠陥画素に分類し、それぞれ異なる
処理を施す。
【００６１】図２は画素の配列を示す模式図である。黒
く塗りつぶした領域が欠陥画素であり、この位置の画像
（画素）情報を用いることができなため、何らかの補正
が必要になる。しかし、これらの欠陥は散在しており、
平均などのいかなる方法で補正計算しても統計的性質
（複数の画素値で求まる）はほとんど変化せず、観察者
にも違和感を与えない。
く塗りつぶした領域が欠陥画素であり、この位置の画像
（画素）情報を用いることができなため、何らかの補正
が必要になる。しかし、これらの欠陥は散在しており、
平均などのいかなる方法で補正計算しても統計的性質
（複数の画素値で求まる）はほとんど変化せず、観察者
にも違和感を与えない。
【００６２】図３は連続する欠陥画素を表示した模式図
である。補正は欠陥画素周囲の正常な画素値を用いて何
らかの演算をもって行う。この場合、周囲の平均をもっ
て行うと、ライン状の欠陥であるため、正常な画素値は
欠陥画素の周囲６個になる、従って補正が行われた結果
のこの欠陥ライン上の画素値の統計値（標準偏差値）は
周囲の約４１％程度（理論的には６-1/2）まで低下して
しまう。
である。補正は欠陥画素周囲の正常な画素値を用いて何
らかの演算をもって行う。この場合、周囲の平均をもっ
て行うと、ライン状の欠陥であるため、正常な画素値は
欠陥画素の周囲６個になる、従って補正が行われた結果
のこの欠陥ライン上の画素値の統計値（標準偏差値）は
周囲の約４１％程度（理論的には６-1/2）まで低下して
しまう。
【００６３】また、画像情報が、ナイキスト周波数の５
０％以上の高周波成分を持つ場合は、このライン状の集
合部分が画像情報周波数領域での欠落もしくは位相反転
により、正確な補正が行われない。従って、観察者には
この欠陥画素の集合部分のみがノイズが低下したライン
もしくは違和感のある部分のように観察され、欠陥補正
が不完全であったような印象を与える。
０％以上の高周波成分を持つ場合は、このライン状の集
合部分が画像情報周波数領域での欠落もしくは位相反転
により、正確な補正が行われない。従って、観察者には
この欠陥画素の集合部分のみがノイズが低下したライン
もしくは違和感のある部分のように観察され、欠陥補正
が不完全であったような印象を与える。
【００６４】後述する第１及び第２の実施形態では、図
２のように欠陥画素が散在する場合、周囲の平均で行
い、図３のように連続する場合のみ高次の予測型補正に
より欠陥の補正を行う。このようにすべての欠陥補正を
演算時間のかかる高次の予測型補正を行わず、連結する
欠陥画素の集合のみに限定すれば全体としての補正時間
を短縮できる。高次の予測型補正は、２次元的に行うの
ではなく、欠陥画素系列に直交する方向の1次元情報の
みを用いる。一般に高次の予測型補正は系列の平均値を
除去してからその変動分に対してのみ行われるため、画
素成分の統計的変動は最小限に抑えられると考える。
２のように欠陥画素が散在する場合、周囲の平均で行
い、図３のように連続する場合のみ高次の予測型補正に
より欠陥の補正を行う。このようにすべての欠陥補正を
演算時間のかかる高次の予測型補正を行わず、連結する
欠陥画素の集合のみに限定すれば全体としての補正時間
を短縮できる。高次の予測型補正は、２次元的に行うの
ではなく、欠陥画素系列に直交する方向の1次元情報の
みを用いる。一般に高次の予測型補正は系列の平均値を
除去してからその変動分に対してのみ行われるため、画
素成分の統計的変動は最小限に抑えられると考える。
【００６５】第３の実施形態では、連結する欠陥画素が
連結する集合を形成する場合、平均などの処理によって
前述の如くノイズが低下したように観察されることを防
ぐ目的で行う。一般に画像がＸ線に代表される放射線画
像である場合、信号としては量子的（微弱光画像に相
当）であるため、元画像自体に強いノイズ成分が存在す
るのが通常である。このとき、ある画素の集合だけが、
欠陥補正を行ったために、ノイズが低下していては観察
者に違和感を持たせ、医療診断に用いる場合には問題に
なる場合もある。
連結する集合を形成する場合、平均などの処理によって
前述の如くノイズが低下したように観察されることを防
ぐ目的で行う。一般に画像がＸ線に代表される放射線画
像である場合、信号としては量子的（微弱光画像に相
当）であるため、元画像自体に強いノイズ成分が存在す
るのが通常である。このとき、ある画素の集合だけが、
欠陥補正を行ったために、ノイズが低下していては観察
者に違和感を持たせ、医療診断に用いる場合には問題に
なる場合もある。
【００６６】そこで、第３の実施形態では、連結する欠
陥画素の集合に対して、平均に要した画素数に相当する
量と、そのために低下したと考えられるゆらぎ成分を加
えることによって違和感を減少させた。
陥画素の集合に対して、平均に要した画素数に相当する
量と、そのために低下したと考えられるゆらぎ成分を加
えることによって違和感を減少させた。
【００６７】第４の実施形態では、少なくとも連結する
欠陥画素の集合に対しては、常に２点の周囲の正常な画
素値の平均で行うことにより、欠陥部分の画像情報の統
計的な性質の変化を防ぐ。 この２点の選択方法は、特
公平5−23551号公報で既に述べられていることである
が、欠陥画素を中心とした8個の画素値の内、正常な画
素について点対称になるペアを考え、各ペアの内、その
画素値の差の最も少ないものの平均値により欠陥画素の
補正を行う。
欠陥画素の集合に対しては、常に２点の周囲の正常な画
素値の平均で行うことにより、欠陥部分の画像情報の統
計的な性質の変化を防ぐ。 この２点の選択方法は、特
公平5−23551号公報で既に述べられていることである
が、欠陥画素を中心とした8個の画素値の内、正常な画
素について点対称になるペアを考え、各ペアの内、その
画素値の差の最も少ないものの平均値により欠陥画素の
補正を行う。
【００６８】この方法の導出原理を模式的に示したのが
図４である。図４(a)は画像中の画素の並びを想定した
図であり、中心に×でマークされた四角形が欠陥画素を
示す。この周囲には図中に(11), (12), (13), (21), (2
3), (31), (32), (33)で示すような正常な画素値をもつ
画素が存在することを考える。
図４である。図４(a)は画像中の画素の並びを想定した
図であり、中心に×でマークされた四角形が欠陥画素を
示す。この周囲には図中に(11), (12), (13), (21), (2
3), (31), (32), (33)で示すような正常な画素値をもつ
画素が存在することを考える。
【００６９】図４（ｂ）では、すべての平均値をもって
行う場合であり、図示するように、平均であるため、本
来黒くなるべき画素が灰色の画素値をもつもので補正さ
れており、少々違和感を感じる。
行う場合であり、図示するように、平均であるため、本
来黒くなるべき画素が灰色の画素値をもつもので補正さ
れており、少々違和感を感じる。
【００７０】図４（ｃ）では先ず、欠陥画素を中心とす
るペアを考える。この場合のペアは、(11)-(33), (12)-
(32), (13)-(31), (21)-(23)の４種のペアが選定され
る。この場合ペアの中の２画素値の差を考察すると、両
者が黒である(11)-(33)ペアがもっとも画素値の差が少
なく、補正値としてはこの画素値の平均が用いられる。
るペアを考える。この場合のペアは、(11)-(33), (12)-
(32), (13)-(31), (21)-(23)の４種のペアが選定され
る。この場合ペアの中の２画素値の差を考察すると、両
者が黒である(11)-(33)ペアがもっとも画素値の差が少
なく、補正値としてはこの画素値の平均が用いられる。
【００７１】図４（ｃ）がこの場合の結果を示す例であ
り、違和感のない補正が行われる。この場合は２者の平
均であるため、標準偏差値の低下は７１％までで抑えら
れる。 このことを説明しなおすと、平均を計算すると
いう行為を要素値の分布を考慮しない図４（ｂ）のよう
な例では、結果として無意味な値の画素値を算出してし
まうことを防いでいると同時に統計的性質をなるべく変
動させないという配慮がなされていると言える。
り、違和感のない補正が行われる。この場合は２者の平
均であるため、標準偏差値の低下は７１％までで抑えら
れる。 このことを説明しなおすと、平均を計算すると
いう行為を要素値の分布を考慮しない図４（ｂ）のよう
な例では、結果として無意味な値の画素値を算出してし
まうことを防いでいると同時に統計的性質をなるべく変
動させないという配慮がなされていると言える。
【００７２】本発明の各実施形態では、上述の各処理
を、連結した欠陥画素の集合のみに用いることを行い、
更に、低下したゆらぎ成分を加えて違和感のない処理を
実現した。以下、各実施形態について詳述する。
を、連結した欠陥画素の集合のみに用いることを行い、
更に、低下したゆらぎ成分を加えて違和感のない処理を
実現した。以下、各実施形態について詳述する。
【００７３】（第１の実施形態）図１は、本発明のＸ線
画像取得装置の概略構成を示すブロック図である。同図
において、１はＸ線を発生する発生装置を表し、２は被
写体であり、この場合医療用を考えて人体を摸してい
る。 ３が被写体からの散乱Ｘ線を除去するためのグリ
ッドであり、４が被写体を透過したＸ線量の分布を検出
する面状のＸ線センサを示し、この面上にＸ線強度を検
出する複数の検出器がマトリックス状に配置されてい
る。
画像取得装置の概略構成を示すブロック図である。同図
において、１はＸ線を発生する発生装置を表し、２は被
写体であり、この場合医療用を考えて人体を摸してい
る。 ３が被写体からの散乱Ｘ線を除去するためのグリ
ッドであり、４が被写体を透過したＸ線量の分布を検出
する面状のＸ線センサを示し、この面上にＸ線強度を検
出する複数の検出器がマトリックス状に配置されてい
る。
【００７４】この面状のＸ線センサには、具体的にはＸ
線強度を一旦蛍光に変換し、その蛍光をマトリックス状
に配置されている複数の光強度検出器で検出するものも
しくは、特定の物体に当たったＸ線によって遊離した自
由電子を一様な電界によって引き付けて電荷分布を構成
し、その電荷をマトリックス状に配置された複数の電荷
検出手段（キャパシタ）によって電気信号に変換する方
式などがある。 ５はＸ線発生装置のコントローラであ
り、不図示の手段によって操作者が発生トリガをかける
と１のＸ線発生装置からＸ線が放射される。
線強度を一旦蛍光に変換し、その蛍光をマトリックス状
に配置されている複数の光強度検出器で検出するものも
しくは、特定の物体に当たったＸ線によって遊離した自
由電子を一様な電界によって引き付けて電荷分布を構成
し、その電荷をマトリックス状に配置された複数の電荷
検出手段（キャパシタ）によって電気信号に変換する方
式などがある。 ５はＸ線発生装置のコントローラであ
り、不図示の手段によって操作者が発生トリガをかける
と１のＸ線発生装置からＸ線が放射される。
【００７５】６はＸ線センサ４から出力される電気信号
をデジタル値に変換するアナログ／デジタル（Ａ／Ｄ）
変換器であり、Ｘ線の放射もしくはＸ線センサの駆動に
同期してセンサから読み出される電気信号を順次デジタ
ル値に変換する。 このＡ／Ｄ変換器も単数ではなく、
変換速度を早めるために複数のＡ／Ｄ変換器により、並
列に動作させることも可能である。
をデジタル値に変換するアナログ／デジタル（Ａ／Ｄ）
変換器であり、Ｘ線の放射もしくはＸ線センサの駆動に
同期してセンサから読み出される電気信号を順次デジタ
ル値に変換する。 このＡ／Ｄ変換器も単数ではなく、
変換速度を早めるために複数のＡ／Ｄ変換器により、並
列に動作させることも可能である。
【００７６】７はＡ／Ｄ変換されたデジタル値を一旦蓄
積するメモリ手段を表し、このメモリには複数のデジタ
ル値の集合であるデジタル画像が記憶される。
積するメモリ手段を表し、このメモリには複数のデジタ
ル値の集合であるデジタル画像が記憶される。
【００７７】８はメモリ手段であるが、センサ特有のオ
フセット的にある固定パタンノイズを除去するため、本
装置を用いてＸ線を放射しない状態で取得されたデジタ
ル値を画像として記録してある。
フセット的にある固定パタンノイズを除去するため、本
装置を用いてＸ線を放射しない状態で取得されたデジタ
ル値を画像として記録してある。
【００７８】９で示す演算手段は被写体を透過してメモ
リ７に記録された画像データから対応する位置のメモリ
８の固定パタンノイズを順次減ずるものである。 １０
で示すブロックは、参照テーブル（Look Up Table; Ｌ
ＵＴ）であり、９の出力を対数に比例した値に変換する
変換テーブルである。
リ７に記録された画像データから対応する位置のメモリ
８の固定パタンノイズを順次減ずるものである。 １０
で示すブロックは、参照テーブル（Look Up Table; Ｌ
ＵＴ）であり、９の出力を対数に比例した値に変換する
変換テーブルである。
【００７９】１１に示すブロックはメモリ手段である
が、センサ特有の検出器（画素）ごとにあるゲインのば
らつきを補正するために、本装置においてあらかじめ被
写体２を置かない状態でＸ線を放射して取得された画像
データから、８で示す固定パタンノイズを除去し、更に
ＬＵＴ１０によって対数値に比例した値に変換したゲイ
ンパターンを記憶してあるメモリ手段である。 １２で
示す演算手段は、対数変換されたデータから１１のゲイ
ンパターンを減ずるもので、実質的に除算を実行してい
る。この除算を実行された結果は、メモリ１３に一旦記
憶される。
が、センサ特有の検出器（画素）ごとにあるゲインのば
らつきを補正するために、本装置においてあらかじめ被
写体２を置かない状態でＸ線を放射して取得された画像
データから、８で示す固定パタンノイズを除去し、更に
ＬＵＴ１０によって対数値に比例した値に変換したゲイ
ンパターンを記憶してあるメモリ手段である。 １２で
示す演算手段は、対数変換されたデータから１１のゲイ
ンパターンを減ずるもので、実質的に除算を実行してい
る。この除算を実行された結果は、メモリ１３に一旦記
憶される。
【００８０】１５で示すブロックは、画像取得に用いた
面状のＸ線センサ上の、製造工程中の検査もしくは本装
置にて取得した画像の画素値を検査することにより、マ
トリックス状に配置された画素の中の欠陥画素の位置情
報が格納されているテーブル手段を表し、具体的にはメ
モリ手段である。
面状のＸ線センサ上の、製造工程中の検査もしくは本装
置にて取得した画像の画素値を検査することにより、マ
トリックス状に配置された画素の中の欠陥画素の位置情
報が格納されているテーブル手段を表し、具体的にはメ
モリ手段である。
【００８１】メモリ手段１５は、実際にメモリ１３上の
画像データに対して欠陥画素位置の補正を行う補正手段
を行う補正処理装置を示す。この処理装置は具体的には
計算機の中央制御装置及びその動作のためのプログラミ
ングを実行することで行うことで実施される。
画像データに対して欠陥画素位置の補正を行う補正手段
を行う補正処理装置を示す。この処理装置は具体的には
計算機の中央制御装置及びその動作のためのプログラミ
ングを実行することで行うことで実施される。
【００８２】補正処理手段１４で欠陥補正が行われた結
果の画像メモリ１３については、不図示ではあるが、医
用診断のための画像処理がなされた後、外部機器へ出力
される。
果の画像メモリ１３については、不図示ではあるが、医
用診断のための画像処理がなされた後、外部機器へ出力
される。
【００８３】本発明の主旨は補正処理手段１４にある。
以後、補正処理手段１４の動作について説明する。ここ
で、Ｘ線センサの欠陥画素は、基本的に散在するもの
と、連続していても少なくとも１ライン状にあるものの
みを良品として用いることを前提とする。即ち、欠陥画
素の周囲（８方向）のうち少なくとも1点は欠陥ではな
い正常な画素が存在する。
以後、補正処理手段１４の動作について説明する。ここ
で、Ｘ線センサの欠陥画素は、基本的に散在するもの
と、連続していても少なくとも１ライン状にあるものの
みを良品として用いることを前提とする。即ち、欠陥画
素の周囲（８方向）のうち少なくとも1点は欠陥ではな
い正常な画素が存在する。
【００８４】メモリ手段１５における欠陥画素の位置情
報の格納方法は事前の処理で分類されている。図５
（a）は模式的に示した欠陥画素位置を示す図であり、
横方向(Ｘ)16画素、縦方向（Ｙ）16画素のマトリックス
で、×マークで欠陥位置を示している。 具体的には、
この状態でメモリ上に欠陥画素位置は‘１’、正常画素
位置には‘０’というような1ビット画像情報としてメ
モリ手段１５のメモリ上に記憶されている。
報の格納方法は事前の処理で分類されている。図５
（a）は模式的に示した欠陥画素位置を示す図であり、
横方向(Ｘ)16画素、縦方向（Ｙ）16画素のマトリックス
で、×マークで欠陥位置を示している。 具体的には、
この状態でメモリ上に欠陥画素位置は‘１’、正常画素
位置には‘０’というような1ビット画像情報としてメ
モリ手段１５のメモリ上に記憶されている。
【００８５】この欠陥画像情報は事前に不図示の手段で
連結解析され、同図（ｂ）で示すように、左上方向のア
ドレスを開始アドレス、連続する欠陥画素の長さ、方向
を指示する表も同時に作成し、メモリ手段１５に格納し
ている。補正処理手段１４における補正処理の流れを図
６のフローチャートに示す。同図では、図５（ｂ）のテ
ーブルの各レコード＃に相当する情報を読み取り、その
属性にそって、平均補正をおこなうか、横方向補正を行
うか、縦方向補正を行うかの分岐を行っている。
連結解析され、同図（ｂ）で示すように、左上方向のア
ドレスを開始アドレス、連続する欠陥画素の長さ、方向
を指示する表も同時に作成し、メモリ手段１５に格納し
ている。補正処理手段１４における補正処理の流れを図
６のフローチャートに示す。同図では、図５（ｂ）のテ
ーブルの各レコード＃に相当する情報を読み取り、その
属性にそって、平均補正をおこなうか、横方向補正を行
うか、縦方向補正を行うかの分岐を行っている。
【００８６】図６中のサブルーチン平均補正のフローチ
ャートを図７に示す。この構成によって、欠陥画素の周
り8画素の内、欠陥ではない正常画素の画素値の平均が
得られ、欠陥画素位置に格納される。
ャートを図７に示す。この構成によって、欠陥画素の周
り8画素の内、欠陥ではない正常画素の画素値の平均が
得られ、欠陥画素位置に格納される。
【００８７】図６中のサブルーチン横方向補正のフロー
チャートを図８に示す。この構成によって、横方向のラ
イン状の欠陥列は、上下それぞれの画素値列の情報か
ら、線形予測値を計算した後、平均されてもとまる。
画素値列のなかに欠陥画素があれば、予測演算は行われ
ない。上下とも予測演算が行われない場合、通常の平均
補正が施される。
チャートを図８に示す。この構成によって、横方向のラ
イン状の欠陥列は、上下それぞれの画素値列の情報か
ら、線形予測値を計算した後、平均されてもとまる。
画素値列のなかに欠陥画素があれば、予測演算は行われ
ない。上下とも予測演算が行われない場合、通常の平均
補正が施される。
【００８８】図６中のサブルーチン縦方向補正のフロー
チャートを図９に示す。この構成によって、縦方向のラ
イン状の欠陥列は、左右それぞれの画素値列の情報か
ら、線形予測値を計算した後、平均されて求まる。画素
値列のなかに欠陥画素があれば、予測演算は行われな
い。上下とも予測演算が行われない場合、通常の平均補
正が施される。
チャートを図９に示す。この構成によって、縦方向のラ
イン状の欠陥列は、左右それぞれの画素値列の情報か
ら、線形予測値を計算した後、平均されて求まる。画素
値列のなかに欠陥画素があれば、予測演算は行われな
い。上下とも予測演算が行われない場合、通常の平均補
正が施される。
【００８９】図８，９において、変数定義のｐ及びｍ
は、ｐは（式１）中の次数ｐに相当し、ｍは（式４）中
の自己相関関数R(k)を計算するときに要するデータ点数
を表す。 具体的にはｍは２０点程度、ｐは３〜５次程
度を用いる。
は、ｐは（式１）中の次数ｐに相当し、ｍは（式４）中
の自己相関関数R(k)を計算するときに要するデータ点数
を表す。 具体的にはｍは２０点程度、ｐは３〜５次程
度を用いる。
【００９０】以上説明したように、本実施形態によれ
ば、欠陥画素が存在する場合に、当該欠陥画素に対応し
た画素情報を補正するに際して、補正の計算時間の短縮
及び補正精度の向上を図り、信頼性の高い撮像装置が実
現する。
ば、欠陥画素が存在する場合に、当該欠陥画素に対応し
た画素情報を補正するに際して、補正の計算時間の短縮
及び補正精度の向上を図り、信頼性の高い撮像装置が実
現する。
【００９１】（第２の実施形態）本実施形態では、上述
の方式とほぼ同様であるが、ライン状の欠陥画素列のう
ち、長さが短いものについては、観察者にとって、やは
り散在する欠陥と同様に単純な平均補正で行うことで十
分対処可能であるということから、計算時間のかかる予
測型補正は、ある程度ライン状の欠陥画素列の長さが長
いもののみに適用する。
の方式とほぼ同様であるが、ライン状の欠陥画素列のう
ち、長さが短いものについては、観察者にとって、やは
り散在する欠陥と同様に単純な平均補正で行うことで十
分対処可能であるということから、計算時間のかかる予
測型補正は、ある程度ライン状の欠陥画素列の長さが長
いもののみに適用する。
【００９２】構成ブロック図及び全体の流れは、図１及
び図６と同様であるため、説明は省略する。異なる部分
は、横方向補正と縦方向補正のサブルーチンの中身であ
り、図１０に本実施形態における横方向補正の方法を、
図１１に本実施形態における縦方向補正の方法のフロー
チャートを示す。
び図６と同様であるため、説明は省略する。異なる部分
は、横方向補正と縦方向補正のサブルーチンの中身であ
り、図１０に本実施形態における横方向補正の方法を、
図１１に本実施形態における縦方向補正の方法のフロー
チャートを示す。
【００９３】図１０，１１において、サブルーチンの当
初にテーブルに記載されている欠陥列長さを判断するブ
ロックがあり、本例では３００以上のラインであれば、
高次の予測型補正を行うが、少なければ平均補正を行
う。
初にテーブルに記載されている欠陥列長さを判断するブ
ロックがあり、本例では３００以上のラインであれば、
高次の予測型補正を行うが、少なければ平均補正を行
う。
【００９４】以上説明したように、本実施形態によれ
ば、欠陥画素が存在する場合に、当該欠陥画素に対応し
た画素情報を補正するに際して、補正の計算時間の短縮
及び補正精度の向上を図り、信頼性の高い撮像装置が実
現する。
ば、欠陥画素が存在する場合に、当該欠陥画素に対応し
た画素情報を補正するに際して、補正の計算時間の短縮
及び補正精度の向上を図り、信頼性の高い撮像装置が実
現する。
【００９５】更に、上述のように欠陥画素列の長さを限
定することによって、高次の予測型補正に要する時間を
短縮できる。
定することによって、高次の予測型補正に要する時間を
短縮できる。
【００９６】（第３の実施形態）本実施形態では、平均
によって低下したゆらぎを加えることにより、連続する
欠陥画素列の補正の違和感をなくする。
によって低下したゆらぎを加えることにより、連続する
欠陥画素列の補正の違和感をなくする。
【００９７】一般に、微弱な放射線は量子的に扱われる
ため、その平均到達量のゆらぎはポアソン分布に従う。
即ち、到達平均放射線量（量子数）をQとすれば、その
ゆらぎを分散値であらわすと量子数と同じQになる。即
ち、標準偏差はQ1/2であらわされる。更に一般の受像系
では、その他のシステムノイズも加わる（Ａ／Ｄ変換の
量子化誤差、電気回路の熱雑音など）。
ため、その平均到達量のゆらぎはポアソン分布に従う。
即ち、到達平均放射線量（量子数）をQとすれば、その
ゆらぎを分散値であらわすと量子数と同じQになる。即
ち、標準偏差はQ1/2であらわされる。更に一般の受像系
では、その他のシステムノイズも加わる（Ａ／Ｄ変換の
量子化誤差、電気回路の熱雑音など）。
【００９８】図１で画素欠陥の補正に供される画像デー
タは、除算によるゲイン補正を対数変換によって行って
いるため、到達した放射線量の対数値に比例したものに
なっている。 したがって、ゆらぎも同時に対数的に変
換されているはずであり、予想するポアソン分布（量子
数が多いためにほとんど正規分布と考える）から形状が
変化しているはずであるが、変動量が微小であるため、
周辺画素値の平均値に依存した標準偏差を持つ正規乱数
を加算する。
タは、除算によるゲイン補正を対数変換によって行って
いるため、到達した放射線量の対数値に比例したものに
なっている。 したがって、ゆらぎも同時に対数的に変
換されているはずであり、予想するポアソン分布（量子
数が多いためにほとんど正規分布と考える）から形状が
変化しているはずであるが、変動量が微小であるため、
周辺画素値の平均値に依存した標準偏差を持つ正規乱数
を加算する。
【００９９】図２０は横軸に平均画素値の対数値、縦軸
にその場合のゆらぎを標準偏差値で示す特性図である。
この場合は放射線画像であるため、同図に実測値（シス
テムノイズあり）と表示されているもののような形状の
ゆらぎの標準偏差が観測される。これは、同図に「放射
線の量子モトルによるゆらぎ」と記した直線（画素値の
対数の１／２の直線（平方根に起因する））と常に加算
される「システムノイズによるゆらぎ」の合成された直
線になっている。
にその場合のゆらぎを標準偏差値で示す特性図である。
この場合は放射線画像であるため、同図に実測値（シス
テムノイズあり）と表示されているもののような形状の
ゆらぎの標準偏差が観測される。これは、同図に「放射
線の量子モトルによるゆらぎ」と記した直線（画素値の
対数の１／２の直線（平方根に起因する））と常に加算
される「システムノイズによるゆらぎ」の合成された直
線になっている。
【０１００】本実施形態では、欠陥画素が連結した集合
になっている場合、平均に供された数と求められた平均
値から、ここに加えるべきゆらぎの標準偏差を求め、こ
の標準偏差に相当するゆらぎを乱数系列から生成して加
える。
になっている場合、平均に供された数と求められた平均
値から、ここに加えるべきゆらぎの標準偏差を求め、こ
の標準偏差に相当するゆらぎを乱数系列から生成して加
える。
【０１０１】乱数系列は、通常使われる一様分布系列の
最大周期系列から擬似乱数として生成したものを、複数
加えて擬似的な正規乱数を生成し、この値に標準偏差値
をかけることで生成する。
最大周期系列から擬似乱数として生成したものを、複数
加えて擬似的な正規乱数を生成し、この値に標準偏差値
をかけることで生成する。
【０１０２】即ち、具体的な一例を示すと、下式でaと
ｃ、ｍを適当に選んだ系列Ynを生成する。
ｃ、ｍを適当に選んだ系列Ynを生成する。
【０１０３】
【数１０】
【０１０４】この式の結果を適当に正規化することによ
り、区間 [0,1] の浮動小数点の乱数系列を発生した
後、連続する１２個の乱数Yi 〜Yi+11を加算し、平均値
６を差し引くことにより、平均値０、標準偏差１の擬似
正規乱数を作成した結果に目標とする標準偏差値を乗じ
て、乱数を作成する。
り、区間 [0,1] の浮動小数点の乱数系列を発生した
後、連続する１２個の乱数Yi 〜Yi+11を加算し、平均値
６を差し引くことにより、平均値０、標準偏差１の擬似
正規乱数を作成した結果に目標とする標準偏差値を乗じ
て、乱数を作成する。
【０１０５】図２１は、本実施形態の図１における欠陥
画素補正手段１４の動作を示すフローチャートである。
この場合、画素欠陥の方向がN以外の連結性である場合
に限り、ノイズ加算型補正を行う。
画素補正手段１４の動作を示すフローチャートである。
この場合、画素欠陥の方向がN以外の連結性である場合
に限り、ノイズ加算型補正を行う。
【０１０６】図２２は、ノイズ加算型補正のフローチャ
ートである。ほとんどの処理は平均値処理と同様である
が、異なる部分は、平均値を求めるために周囲の欠陥画
素ではない画素値の数ｎで割ったあと、同図で＊＊１で
示すブロックで、ｎに依存する減少分を演算する。
ートである。ほとんどの処理は平均値処理と同様である
が、異なる部分は、平均値を求めるために周囲の欠陥画
素ではない画素値の数ｎで割ったあと、同図で＊＊１で
示すブロックで、ｎに依存する減少分を演算する。
【０１０７】即ち、ゆらぎが独立していれば、ｎ個の平
均によって、分散値が1/nに現象している。この値をも
とと同じゆらぎにするためには、もとの分散値に（1−1
/n）を乗じた分散値を持つ正規乱数を加えればよい。こ
のブロックでは、具体的には（1−1/n）を計算し、更
に、図２０で示したグラフに従って、求められた平均値
から元々の分散値（標準偏差の２乗値）を求め（1−1/
n）を乗じた分散値を求めて、平方根によって加えるべ
きゆらぎの標準偏差値を計算する。
均によって、分散値が1/nに現象している。この値をも
とと同じゆらぎにするためには、もとの分散値に（1−1
/n）を乗じた分散値を持つ正規乱数を加えればよい。こ
のブロックでは、具体的には（1−1/n）を計算し、更
に、図２０で示したグラフに従って、求められた平均値
から元々の分散値（標準偏差の２乗値）を求め（1−1/
n）を乗じた分散値を求めて、平方根によって加えるべ
きゆらぎの標準偏差値を計算する。
【０１０８】次の＊＊２のブロックで、上述の擬似乱数
発生機構（式５を用いる）によって、正規乱数を発生さ
せる。
発生機構（式５を用いる）によって、正規乱数を発生さ
せる。
【０１０９】次の＊＊３のブロックで、正規乱数に加え
るべきゆらぎの標準偏差値を乗じ、平均画素値に加え
る。
るべきゆらぎの標準偏差値を乗じ、平均画素値に加え
る。
【０１１０】この操作を連結するすべての欠陥画素値に
加える。
加える。
【０１１１】以上説明したように、本実施形態によれ
ば、欠陥画素が存在する場合に、当該欠陥画素に対応し
た画素情報を補正するに際して、補正の計算時間の短縮
及び補正精度の向上を図り、信頼性の高い撮像装置が実
現する。
ば、欠陥画素が存在する場合に、当該欠陥画素に対応し
た画素情報を補正するに際して、補正の計算時間の短縮
及び補正精度の向上を図り、信頼性の高い撮像装置が実
現する。
【０１１２】（第４の実施形態）本実施形態では、常に
２点のペアの平均を選択し、ゆらぎを加算する方式を、
連続する欠陥画素列に適用する。
２点のペアの平均を選択し、ゆらぎを加算する方式を、
連続する欠陥画素列に適用する。
【０１１３】この方式でも、比較手段などの演算要素の
多さから、すべての欠陥に多用することなく、連続する
欠陥画素列に適用することで全体としての演算時間を短
縮できる。
多さから、すべての欠陥に多用することなく、連続する
欠陥画素列に適用することで全体としての演算時間を短
縮できる。
【０１１４】図１４は、中心を欠陥画素として、周辺の
画素のペアを示す模式図である。この場合、図示のよう
に〜の4種のペアが存在する。本方式は、それぞれ
のペアに対して、その差の絶対値が最小のものを採用
し、その平均値を欠陥補正値として扱う。
画素のペアを示す模式図である。この場合、図示のよう
に〜の4種のペアが存在する。本方式は、それぞれ
のペアに対して、その差の絶対値が最小のものを採用
し、その平均値を欠陥補正値として扱う。
【０１１５】図１５〜図１９は、本実施形態の図１の構
成における欠陥画素補正手段１４の動作を示すフローチ
ャートであり、図１５が全体のながれを示す。同図にお
いて、欠陥の種類が散在する（N）である場合とそれ以
外の場合で処理が分岐され、散在する（N）場合は通常
の平均補正を、それ以外（連続する欠陥画素列が存在す
る場合）は、選択型補正と呼ぶサブルーチンにて欠陥補
正を行う。
成における欠陥画素補正手段１４の動作を示すフローチ
ャートであり、図１５が全体のながれを示す。同図にお
いて、欠陥の種類が散在する（N）である場合とそれ以
外の場合で処理が分岐され、散在する（N）場合は通常
の平均補正を、それ以外（連続する欠陥画素列が存在す
る場合）は、選択型補正と呼ぶサブルーチンにて欠陥補
正を行う。
【０１１６】図１６〜図１９が選択型補正の処理の流れ
を示しており、図１６が図１４におけるのペアについ
て、図１７がのペアについて、図１８がのペアにつ
いて、図１９がのペアについてのそれぞれの処理を行
い、差分の絶対値が小さいものを選択する。このとき、
仮に差分の絶対値が等しい場合には判断がつかないの
で、それぞれのペアの平均値の平均を求めて、補正値と
してそれぞれの欠陥画素を補正する。このとき、ｋとい
う変数値に平均に供したペアの数が記録される。
を示しており、図１６が図１４におけるのペアについ
て、図１７がのペアについて、図１８がのペアにつ
いて、図１９がのペアについてのそれぞれの処理を行
い、差分の絶対値が小さいものを選択する。このとき、
仮に差分の絶対値が等しい場合には判断がつかないの
で、それぞれのペアの平均値の平均を求めて、補正値と
してそれぞれの欠陥画素を補正する。このとき、ｋとい
う変数値に平均に供したペアの数が記録される。
【０１１７】図１９において、＊＊１で示されるブロッ
クは、加えるべきゆらぎの量を計算する部分であり、ｋ
個のペアの平均であるため、平均されたのは２ｋ個であ
る、従って第１段階として（１−1/(2k)）を計算し、実
施例３と同様に、目標とする標準偏差を図２０から求め
た後に、（１−1/(2k)）倍して、加えるべきゆらぎの標
準偏差を計算する。
クは、加えるべきゆらぎの量を計算する部分であり、ｋ
個のペアの平均であるため、平均されたのは２ｋ個であ
る、従って第１段階として（１−1/(2k)）を計算し、実
施例３と同様に、目標とする標準偏差を図２０から求め
た後に、（１−1/(2k)）倍して、加えるべきゆらぎの標
準偏差を計算する。
【０１１８】＊＊２のブロック、第３の実施形態と同様
に、擬似正規乱数（平均０、分散１）を発生させ、＊＊
３で前述の加えるべきゆらぎの標準偏差を乗じて、加算
する。当然であるが、本実施形態においても、欠陥画素
の連結する長さによって、平均補正と選択型補正を切り
替えることも可能である。
に、擬似正規乱数（平均０、分散１）を発生させ、＊＊
３で前述の加えるべきゆらぎの標準偏差を乗じて、加算
する。当然であるが、本実施形態においても、欠陥画素
の連結する長さによって、平均補正と選択型補正を切り
替えることも可能である。
【０１１９】以上のようなゆらぎを復元する処理は第
１，第２の実施形態で示した予測型の補正結果に対して
も適用できる。この場合には結果の予測値に加算する
か、予測フィルタの初期値を擬似乱数とすることでも可
能となる。
１，第２の実施形態で示した予測型の補正結果に対して
も適用できる。この場合には結果の予測値に加算する
か、予測フィルタの初期値を擬似乱数とすることでも可
能となる。
【０１２０】本実施形態によれば、欠陥画素が存在する
場合に、当該欠陥画素に対応した画素情報を補正するに
際して、補正の計算時間の短縮及び補正精度の向上を図
り、信頼性の高い撮像装置が実現する。
場合に、当該欠陥画素に対応した画素情報を補正するに
際して、補正の計算時間の短縮及び補正精度の向上を図
り、信頼性の高い撮像装置が実現する。
【０１２１】ここで、上述した各実施形態の画像読取装
置の各機能を実現するため、各種のデバイスを動作させ
るように、前記各種デバイスと接続された装置あるいは
システム内のコンピュータに対し、各実施形態の機能を
実現するためのソフトウェアのプログラムコードを供給
し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（ＣＰＵ
あるいはＭＰＵ）に格納されたプログラムに従って前記
各種デバイスを動作させることによって実施したもの
も、本発明の範疇に含まれる。
置の各機能を実現するため、各種のデバイスを動作させ
るように、前記各種デバイスと接続された装置あるいは
システム内のコンピュータに対し、各実施形態の機能を
実現するためのソフトウェアのプログラムコードを供給
し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ（ＣＰＵ
あるいはＭＰＵ）に格納されたプログラムに従って前記
各種デバイスを動作させることによって実施したもの
も、本発明の範疇に含まれる。
【０１２２】また、この場合、上記ソフトウェアのプロ
グラムコード自体が上述した各実施形態の機能を実現す
ることになり、そのプログラムコード自体、およびその
プログラムコードをコンピュータに供給するための手
段、例えばかかるプログラムコードを格納した記憶媒体
は本発明を構成する。かかるプログラムコードを記憶す
る記憶媒体としては、例えばフロッピー（登録商標）デ
ィスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディス
ク、ＣＤ−ＲＯＭ、磁気テープ、不揮発性のメモリカー
ド、ＲＯＭ等を用いることができる。
グラムコード自体が上述した各実施形態の機能を実現す
ることになり、そのプログラムコード自体、およびその
プログラムコードをコンピュータに供給するための手
段、例えばかかるプログラムコードを格納した記憶媒体
は本発明を構成する。かかるプログラムコードを記憶す
る記憶媒体としては、例えばフロッピー（登録商標）デ
ィスク、ハードディスク、光ディスク、光磁気ディス
ク、ＣＤ−ＲＯＭ、磁気テープ、不揮発性のメモリカー
ド、ＲＯＭ等を用いることができる。
【０１２３】また、コンピュータが供給されたプログラ
ムコードを実行することにより、上述の各実施形態の機
能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードがコ
ンピュータにおいて稼働しているＯＳ（オペレーティン
グシステム）あるいは他のアプリケーションソフト等の
共同して上述の各実施形態の機能が実現される場合にも
かかるプログラムコードは本発明の各実施形態に含まれ
ることは言うまでもない。
ムコードを実行することにより、上述の各実施形態の機
能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードがコ
ンピュータにおいて稼働しているＯＳ（オペレーティン
グシステム）あるいは他のアプリケーションソフト等の
共同して上述の各実施形態の機能が実現される場合にも
かかるプログラムコードは本発明の各実施形態に含まれ
ることは言うまでもない。
【０１２４】更に、供給されたプログラムコードがコン
ピュータの機能拡張ボードやコンピュータに接続された
機能拡張ユニットに備わるメモリに格納された後、その
プログラムの指示に基づいてその機能拡張ボードや機能
拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の処理の一部また
は全部を行い、その処理によって上述した各実施形態の
機能が実現される場合にも本発明に含まれる。
ピュータの機能拡張ボードやコンピュータに接続された
機能拡張ユニットに備わるメモリに格納された後、その
プログラムの指示に基づいてその機能拡張ボードや機能
拡張ユニットに備わるＣＰＵ等が実際の処理の一部また
は全部を行い、その処理によって上述した各実施形態の
機能が実現される場合にも本発明に含まれる。
【０１２５】
【発明の効果】本発明によれば、欠陥画素が存在する場
合に、当該欠陥画素に対応した画素情報を補正するに際
して、補正の計算時間の短縮及び補正精度の向上を図
り、信頼性の高い撮像装置及び撮像方法が実現する。
合に、当該欠陥画素に対応した画素情報を補正するに際
して、補正の計算時間の短縮及び補正精度の向上を図
り、信頼性の高い撮像装置及び撮像方法が実現する。
【図１】本発明のＸ線画像取得装置の概略構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】単独に散在する欠陥画素の例を示す模式図であ
る。
る。
【図３】連結する欠陥画素列の一例を示す模式図であ
る。
る。
【図４】欠陥画素の補正方法を説明するための模式図で
ある。
ある。
【図５】欠陥画素位置を指定する表の一例を示す模式図
である。
である。
【図６】第１の実施形態における欠陥画素による画像の
補正方法を示すフローチャートである。
補正方法を示すフローチャートである。
【図７】第１の実施形態における平均補正を示すフロー
チャートである。
チャートである。
【図８】第１の実施形態における横方法補正を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図９】第１の実施形態における縦方向補正を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
【図１０】第２の実施形態における横方法補正を示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図１１】第２の実施形態における縦方向補正を示すフ
ローチャートである。
ローチャートである。
【図１２】平均補正の周波数特性の一例を示す特性図で
ある。
ある。
【図１３】欠陥画素補正のエラーを説明するための模式
図である。
図である。
【図１４】点対称ペアを説明するための模式図である。
【図１５】第４の実施形態における欠陥画素補正手段の
動作を示すフローチャートである。
動作を示すフローチャートである。
【図１６】第４の実施形態における欠陥画素補正手段の
動作を示すフローチャートである。
動作を示すフローチャートである。
【図１７】第４の実施形態における欠陥画素補正手段の
動作を示すフローチャートである。
動作を示すフローチャートである。
【図１８】第４の実施形態における欠陥画素補正手段の
動作を示すフローチャートである。
動作を示すフローチャートである。
【図１９】第４の実施形態における欠陥画素補正手段の
動作を示すフローチャートである。
動作を示すフローチャートである。
【図２０】平均値に対する画素値のゆらぎの標準偏差を
示す特性図である。
示す特性図である。
【図２１】第３の実施形態における欠陥画素補正手段の
動作を示すフローチャートである。
動作を示すフローチャートである。
【図２２】第３の実施形態における欠陥画素補正手段の
動作を示すフローチャートである。
動作を示すフローチャートである。
１ Ｘ線発生装置 ２ 被写体 ４ 面状のＸ線センサ １４ 欠陥画素補正手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｇ０１Ｔ 1/20 Ｇ０１Ｔ 1/20 Ｇ Ｊ Ｈ０４Ｎ 5/32 Ｈ０４Ｎ 5/32 5/335 Ｐ 5/335 Ａ６１Ｂ 6/00 ３５０Ｚ Ｆターム(参考） 2G088 EE01 FF02 GG19 GG20 JJ05 KK24 KK32 LL11 LL12 4C093 AA01 CA35 EB13 EB17 FC17 FD01 5B047 AA17 AB02 CB05 DA06 DC20 5B057 AA08 BA03 BA29 CA02 CA08 CA12 CA16 CB02 CB08 CB12 CB16 CE02 CH07 DA17 DB02 DB05 DB09 DC23 DC33 5C024 AX11 CX25 DX04 HX04
Claims (18)
- 【請求項１】 面上に複数の画素を配置してなる撮像素
子を有する撮像装置において、 所定の前記画素に機能的な欠陥が存在する場合に、取得
された画像情報に対して、当該欠陥画素の位置に対応し
た画素情報を補正出力する補正手段を備えており、 前記補正手段は、前記撮像素子内において前記欠陥画素
が各々孤立して存在する第１の場合と、複数の前記欠陥
画素が連結して存在する第２の場合とに応じて、それぞ
れ異なる補正方法により補正することを特徴とする撮像
装置。 - 【請求項２】 前記補正手段は、 前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥
のない画素の画素情報の平均値を用い、 前記第２の場合には、２次以上の高次の予測型補正を用
いて、 前記補正を実行することを特徴とする請求項１に記載の
撮像装置。 - 【請求項３】 前記補正手段は、 前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥
のない画素の画素情報の平均値を用い、 前記第２の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥
のない画素の画素情報の平均値に、当該平均値から予測
されるゆらぎの成分を加算することにより、 前記補正を実行することを特徴とする請求項１に記載の
撮像装置。 - 【請求項４】 前記補正手段は、 前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥
のない画素の画素情報の平均値を用い、 前記第２の場合には、前記欠陥画素に対して点対称に存
在する欠陥のない一対の画素の画素情報のうち、当該画
素情報の差分量が最も小さな値となる前記一対の画素の
平均値に対して、当該平均値から予測されるゆらぎの成
分を加算することにより、 前記補正を実行することを特徴とする請求項１に記載の
撮像装置。 - 【請求項５】 被検体を透過した放射線の線量分布を平
面上でマトリックス状に画素を配置した撮像素子により
電気信号に変換し、被検体内部の画像情報を得る撮像装
置において、 所定の前記画素に機能的な欠陥が存在する場合に、取得
された画像情報に対して、当該欠陥画素の位置に対応し
た画素情報を補正出力する補正手段を備えており、 前記補正手段は、前記撮像素子内において前記欠陥画素
が各々孤立して存在する第１の場合と、複数の前記欠陥
画素が連結して存在する第２の場合とに応じて、それぞ
れ異なる補正方法により補正することを特徴とする撮像
装置。 - 【請求項６】 前記補正手段は、 前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥
のない画素の画素情報の平均値を用い、 前記第２の場合には、２次以上の高次の予測型補正を用
いて、 前記補正を実行することを特徴とする請求項５に記載の
撮像装置。 - 【請求項７】 前記補正手段は、 前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥
のない画素の画素情報の平均値を用い、 前記第２の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥
のない画素の画素情報の平均値に、当該平均値から予測
されるゆらぎの成分を加算することにより、 前記補正を実行することを特徴とする請求項５に記載の
撮像装置。 - 【請求項８】 前記補正手段は、 前記第１の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥
のない画素の画素情報の平均値を用い、 前記第２の場合には、前記欠陥画素に対して点対称に存
在する欠陥のない一対の画素の画素情報のうち、当該画
素情報の差分量が最も小さな値となる前記一対の画素の
平均値に対して、当該平均値から予測されるゆらぎの成
分を加算することにより、 前記補正を実行することを特徴とする請求項５に記載の
撮像装置。 - 【請求項９】 面上に複数の画素を配置してなる撮像素
子を有する撮像装置を用いた撮像方法において、 所定の前記画素に機能的な欠陥が存在する場合に、 前記撮像素子内において前記欠陥画素が各々孤立して存
在する第１の場合と、複数の前記欠陥画素が連結して存
在する第２の場合とに応じて、それぞれ異なる補正方法
により、取得された画像情報に対して前記欠陥画素の位
置における画素情報を補正出力することを特徴とする撮
像方法。 - 【請求項１０】 前記第１の場合には、前記欠陥画素の
周囲に存する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用
い、 前記第２の場合には、２次以上の高次の予測型補正を用
いて、 前記補正を実行することを特徴とする請求項９に記載の
撮像方法。 - 【請求項１１】 前記第１の場合には、前記欠陥画素の
周囲に存する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用
い、 前記第２の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥
のない画素の画素情報の平均値に、当該平均値から予測
されるゆらぎの成分を加算することにより、 前記補正を実行することを特徴とする請求項９に記載の
撮像方法。 - 【請求項１２】 前記第１の場合には、前記欠陥画素の
周囲に存する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用
い、 前記第２の場合には、前記欠陥画素に対して点対称に存
在する欠陥のない一対の画素の画素情報のうち、当該画
素情報の差分量が最も小さな値となる前記一対の画素の
平均値に対して、当該平均値から予測されるゆらぎの成
分を加算することにより、 前記補正を実行することを特徴とする請求項９に記載の
撮像方法。 - 【請求項１３】 被検体を透過した放射線の線量分布を
平面上でマトリックス状に画素を配置した撮像素子によ
り電気信号に変換し、被検体内部の画像情報を得る撮像
方法において、 所定の前記画素に機能的な欠陥が存在する場合に、 前記撮像素子内において前記欠陥画素が各々孤立して存
在する第１の場合と、複数の前記欠陥画素が連結して存
在する第２の場合とに応じて、それぞれ異なる補正方法
により、取得された画像情報に対して前記欠陥画素の位
置における画素情報を補正出力することを特徴とする撮
像方法。 - 【請求項１４】 前記第１の場合には、前記欠陥画素の
周囲に存する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用
い、 前記第２の場合には、２次以上の高次の予測型補正を用
いて、 前記補正を実行することを特徴とする請求項１３に記載
の撮像方法。 - 【請求項１５】 前記第１の場合には、前記欠陥画素の
周囲に存する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用
い、 前記第２の場合には、前記欠陥画素の周囲に存する欠陥
のない画素の画素情報の平均値に、当該平均値から予測
されるゆらぎの成分を加算することにより、 前記補正を実行することを特徴とする請求項１３に記載
の撮像方法。 - 【請求項１６】 前記第１の場合には、前記欠陥画素の
周囲に存する欠陥のない画素の画素情報の平均値を用
い、 前記第２の場合には、前記欠陥画素に対して点対称に存
在する欠陥のない一対の画素の画素情報のうち、当該画
素情報の差分量が最も小さな値となる前記一対の画素の
平均値に対して、当該平均値から予測されるゆらぎの成
分を加算することにより、 前記補正を実行することを特徴とする請求項１３に記載
の撮像方法。 - 【請求項１７】 請求項１〜８のいずれか１項に記載の
撮像装置の各構成要素としてコンピュータを機能させる
ためのプログラムを格納したコンピュータ読取り可能な
記録媒体。 - 【請求項１８】 請求項９〜１６のいずれか１項に記載
の撮像方法の処理手順を実行させるためのプログラムを
格納したコンピュータ読取り可能な記録媒体。
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