JP2002189768A - Lsiレイアウト検証処理方法及びlsiレイアウト検証システム - Google Patents

Lsiレイアウト検証処理方法及びlsiレイアウト検証システム

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JP2002189768A
JP2002189768A JP2000389078A JP2000389078A JP2002189768A JP 2002189768 A JP2002189768 A JP 2002189768A JP 2000389078 A JP2000389078 A JP 2000389078A JP 2000389078 A JP2000389078 A JP 2000389078A JP 2002189768 A JP2002189768 A JP 2002189768A
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JP
Japan
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error
layout
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lsi
design rule
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JP2000389078A
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Inventor
Hiroe Miyamoto
博枝 宮本
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Toshiba Corp
Toshiba Electronic Device Solutions Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Microelectronics Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 エラーが発生した後のエラーデータの再検証
を短時間且つ効率的に行うこと。 【解決手段】 LSIレイアウト検証処理方法でエラー
が発生した後のエラーデータの再検証を、エラーが発生
したレイヤーに関わる設計規則項目についてのみ行うこ
とで、無駄な検証を省くことができ、再検証を短時間且
つ効率的に行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、階層構造で設計さ
れた大規模なLSIレイアウトパターンデータのレイア
ウト検証を行う際のLSIレイアウト検証処理方法及び
LSIレイアウト検証システムに関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、階層構造で設計された大規模
なLSIレイアウトパターンデータのレイアウト検証が
実行されており、図8はその処理手順を示したフローチ
ャートである。レイアウトの検証を開始すると(ステッ
プ801)、まず、レイアウトパターンデータ及び図2
に示したものと同じ設計規則を読み込み(ステップ80
2)、トップセルから最下層のセルまでの全体に対して
設計規則検査を行う(ステップ803)。レイアウト検
証が終了すると(ステップ804)、エラーがあるかど
うかを判定し(ステップ805)、ある場合はエラーパ
ターンを修正した後(ステップ806)、ステップ80
1に戻る。エラーがない場合は処理を終了する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来のL
SIレイアウト検証処理方法では、レイアウトパターン
の一部のデータにエラーが発見された場合、エラーデー
タを修正し(ステップ806)、再度、同じレイアウト
検証を階層構造のトップセルからその最下層のセルまで
の全体に対して実行するが、その際、設計規則が正しい
データにも、同じレイアウト検証を行うことになるた
め、無駄な時間が掛かる。特に、近年、LSIレイアウ
トパターンデータが大規模化しているため、1回のレイ
アウト検証の処理時間も長時間になっており、そのレイ
アウト検証を数回行うことはLSI設計の中で大きな負
担となっている。
【0004】本発明は、上述の如き従来の課題を解決す
るためになされたもので、その目的は、エラーの発生に
よって修正したエラーデータの再検証を短時間且つ効率
的に行うことができるLSIレイアウト検証処理方法及
びLSIレイアウト検証システムを提供することであ
る。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1の発明の特徴は、LSIレイアウトパター
ンデータのレイアウト検証を行うLSIレイアウト検証
処理方法において、レイアウトパターンデータに対する
設計規則検査を行うステップと、前記設計規則検査によ
りエラーが生じた際に、前記エラーをなくすべくエラー
パターンを修正するステップと、前記修正した後のレイ
アウトパターンデータに対して行う再設計規則検査を前
記エラーが生じたレイヤーに関わる検査項目のみについ
て行うステップとを具備することにある。
【0006】請求項2の発明の特徴は、前記エラーが生
じたレイヤーに関わる検査項目について前記エラーが生
じたセルを対象として前記設計規則検査を再度行うこと
にある。
【0007】請求項3の発明の特徴は、LSIレイアウ
トパターンデータのレイアウト検証を行うLSIレイア
ウト検証システムおいて、レイアウトパターンデータに
対する設計規則検査を行う手段と、前記設計規則検査に
よりエラーが生じた際に、エラーが生じたレイヤー、エ
ラーが生じた座標を第1のファイルに格納する手段と、
前記設計規則検査によりエラーが生じた際に、前記エラ
ーをなくすべくエラーパターンを修正する手段と、前記
エラーパターンの修正を施したレイヤー、修正した座標
を格納する第2のファイルに格納する手段と、前記第1
と第2のファイル内容を併合して第3のファイルを作成
する手段と、前記第3のファイルの内容に従って前記修
正した後のレイアウトパターンデータに対して再設計規
則検査を前記エラーが生じたレイヤーに関わる検査項目
のみについて行う手段とを具備することにある。
【0008】請求項4の発明の特徴は、前記第1のファ
イル内容としてエラーが生じたセル名を、前記第2のフ
ァイル内容として修正を施したセル名を加えることにあ
る。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
基づいて説明する。図1は、本発明のLSIレイアウト
検証処理方法の一実施形態に係る処理手順を示したフロ
ーチャートである。レイアウトの検証を開始すると(ス
テップ101)、まず、レイアウトパターンデータ及び
図2に示すような設計規則を読み込み(ステップ10
2)、トップセルから最下層のセルまでの全体に対して
設計規則検査を行う(ステップ103)。レイアウト検
証が終了すると(ステップ104)、エラーがあるかど
うかを判定し(ステップ105)、エラーがない場合は
処理を終了し、ある場合はステップ106に進んで、エ
ラーパターンを修正する。その際、エラーの生じたレイ
ヤー名とエラー座標を図3に示すようなファイル1に書
き込むと共に、修正したレイヤー名とエラー座標を図4
に示すようなファイル2に書き込む。
【0010】ここで、(1)修正前のデータ座標に戻っ
た場合、そのデータは修正されなかったと認識して、そ
のレイヤーのレイアウト検証は行わない。(2)修正前
のデータ座標が移動した場合、そのデータは修正された
と認識して、そのレイヤーのレイアウト検証を行う。
【0011】次にファイル1とファイル2の内容をマー
ジ(和集合をとる)して図5に示すようなファイル3に
書き込む(ステップ107)。その後、修正後の全ての
レイアウトパターンデータを読み込むと共に、図6に示
すような設計規則ファイルも読み込み(ステップ10
8)、レイアウト3に記載されている修正したレイヤー
名に対応する設計規則項目を参照して、この設計規則項
目に関してのみ、トップセルからその最下層のセルまで
の設計規則検査を行って(ステップ109)、ステップ
104に戻る。ここで、例えばレイアウト3に記載され
ている修正したレイヤー名をpolyとすると、図6に
示すようにpoly幅検査及びpoly間隔検査項目の
みを行うことになる。
【0012】本実施形態によれば、1回目のレイアウト
検証でエラーデータが存在した場合、そのエラー情報
(エラーの発生しているレイヤー名、エラー座標)をフ
ァイル1に格納し、エデイタ上でエラーデータを編集
(これによりデータを修正)し、編集の履歴を更新(修
正したセル名、レイヤー名、修正後のデータ座標)し、
ファイル2に格納しておき、2回目のレイアウト検証
は、ファイル1とファイル2をマージしてファイル3を
作成した後、レイアウト設計規則ファイルをコンパイル
する際は、ファイル3に記述してあるレイヤー名に関係
する設計規則項目のみ抽出し、この設計規則項目につい
てレイアウト検証を行うため、エラーが発生した後のエ
ラーデータの再検証を短時間且つ効率的に行うことがで
きる。特に本例は階層構造で設計された大規模なLSI
レイアウトパターンデータのレイアウト検証には大きな
効果を奏する。
【0013】尚、本例では、もしも、本来修正しなけれ
ばならないエラーデータを修正し忘れても、ファイル1
とファイル2がマージされてファイル3に情報が格納さ
れているので、そのエラーデータのレイアウト検証は再
度行われる。それ故、エラーを見落とす事はない。
【0014】また、上記実施形態では、ファイル1、
2、3にレイヤー名とエラー座標を記載したが、図7に
示すようにファイルにセル名を加えることにより、エラ
ー修正したレイヤー名に関わる設計規則がエラー修正し
たセルに対して満足されているかどうかを検査するよう
にして、更に検査対象を絞り込むことができ、更に短時
間でレイアウト検証を行うことができる。
【0015】尚、本発明は上記実施形態に限定されるこ
となく、その要旨を逸脱しない範囲において、具体的な
構成、機能、作用、効果において、他の種々の形態によ
っても実施することができる。
【0016】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明によ
れば、LSIレイアウト検証処理方法でエラーが発生し
た後のエラーデータの再検証を、エラーが発生したレイ
ヤーに関わる設計規則項目についてのみ行うため、エラ
ーが発生した後のエラーデータの再検証を短時間且つ効
率的に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のLSIレイアウト検証処理方法の一実
施形態に係る処理手順を示したフローチャートである。
【図2】レイアウト検証するためのファイル化された設
計規則例を示した図である。
【図3】図1の方法で用いるファイル1の内容例を示し
た図である。
【図4】図1の方法で用いるファイル2の内容例を示し
た図である。
【図5】図1の方法で用いるファイル3の内容例を示し
た図である。
【図6】レイアウト検証するためのファイル化された設
計規則例を示した図である。
【図7】図1の方法で用いるファイル1、2、3の他の
内容例を示した図である。
【図8】従来のLSIレイアウト検証処理方法の処理手
順例を示したフローチャートである。
【符号の説明】
1、2、3 ファイル

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 LSIレイアウトパターンデータのレイ
    アウト検証を行うLSIレイアウト検証処理方法におい
    て、 レイアウトパターンデータに対する設計規則検査を行う
    ステップと、 前記設計規則検査によりエラーが生じた際に、前記エラ
    ーをなくすべくエラーパターンを修正するステップと、 前記修正した後のレイアウトパターンデータに対して行
    う再設計規則検査を前記エラーが生じたレイヤーに関わ
    る検査項目のみについて行うステップと、 を具備することを特徴とするLSIレイアウト検証処理
    方法。
  2. 【請求項2】 前記エラーが生じたレイヤーに関わる検
    査項目について前記エラーが生じたセルを対象として前
    記設計規則検査を再度行うことを特徴とする請求項1に
    記載のLSIレイアウト検証処理方法。
  3. 【請求項3】 LSIレイアウトパターンデータのレイ
    アウト検証を行うLSIレイアウト検証システムおい
    て、 レイアウトパターンデータに対する設計規則検査を行う
    手段と、 前記設計規則検査によりエラーが生じた際に、エラーが
    生じたレイヤー、エラーが生じた座標を第1のファイル
    に格納する手段と、 前記設計規則検査によりエラーが生じた際に、前記エラ
    ーをなくすべくエラーパターンを修正する手段と、 前記エラーパターンの修正を施したレイヤー、修正した
    座標を格納する第2のファイルに格納する手段と、 前記第1と第2のファイル内容を併合して第3のファイ
    ルを作成する手段と、 前記第3のファイルの内容に従って前記修正した後のレ
    イアウトパターンデータに対して再設計規則検査を前記
    エラーが生じたレイヤーに関わる検査項目のみについて
    行う手段と、 を具備することを特徴とするLSIレイアウト検証シス
    テム。
  4. 【請求項4】 前記第1のファイル内容としてエラーが
    生じたセル名を、前記第2のファイル内容として修正を
    施したセル名を加えることを特徴とする請求項3に記載
    のLSIレイアウト検証システム。
JP2000389078A 2000-12-21 2000-12-21 Lsiレイアウト検証処理方法及びlsiレイアウト検証システム Withdrawn JP2002189768A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010521035A (ja) * 2007-03-09 2010-06-17 メンター グラフィックス コーポレイション レイアウト設計データの増分分析

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010521035A (ja) * 2007-03-09 2010-06-17 メンター グラフィックス コーポレイション レイアウト設計データの増分分析
JP2013149286A (ja) * 2007-03-09 2013-08-01 Mentor Graphics Corp レイアウト設計データの増分分析

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