JP2002185073A - レーザ光強度制御装置 - Google Patents
レーザ光強度制御装置Info
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- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
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- G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
- G11B7/1365—Separate or integrated refractive elements, e.g. wave plates
Abstract
(57)【要約】
【課題】 光ピックアップ装置の光源から発せられるレ
ーザビームの偏光面が回転してもレーザビームの光強度
を簡単な構成で安定に制御し、記録媒体に対する読み取
りや書き込みの安定化を図ることができるレーザ光強度
制御装置を提供する。 【解決手段】 光源から発せられたレーザビームの進行
方向に垂直なｘ方向偏光成分及びその進行方向に平行な
ｙ方向偏光成分のいずれか一方の方向偏光成分の大部分
を通過させその一方の方向偏光成分の一部分をモニタ光
として反射する偏光分離手段と、偏光分離手段によって
反射されたモニタ光を受光して受光強度を示す光強度信
号を生成する受光手段と、光強度信号に応じて光源を駆
動する駆動手段と、光源と偏光分離手段との間に配置さ
れ一方の方向偏光成分のみを通過させる光学素子と、を
備えた。
ーザビームの偏光面が回転してもレーザビームの光強度
を簡単な構成で安定に制御し、記録媒体に対する読み取
りや書き込みの安定化を図ることができるレーザ光強度
制御装置を提供する。 【解決手段】 光源から発せられたレーザビームの進行
方向に垂直なｘ方向偏光成分及びその進行方向に平行な
ｙ方向偏光成分のいずれか一方の方向偏光成分の大部分
を通過させその一方の方向偏光成分の一部分をモニタ光
として反射する偏光分離手段と、偏光分離手段によって
反射されたモニタ光を受光して受光強度を示す光強度信
号を生成する受光手段と、光強度信号に応じて光源を駆
動する駆動手段と、光源と偏光分離手段との間に配置さ
れ一方の方向偏光成分のみを通過させる光学素子と、を
備えた。
Description
【０００１】
【発明が属する技術分野】本発明は、光ピックアップ装
置に適用されるレーザ光強度制御装置に関する。
置に適用されるレーザ光強度制御装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】光ディスクからの情報読み取り又はディ
スクへの情報の書き込みに用いられる光ピックアップ装
置においては、光源から発せられたレーザビームの一部
分をモニタしてディスクに対して適切な光強度でレーザ
ビームの照射がおこなわれるようにレーザ光強度制御装
置が備えられている。
スクへの情報の書き込みに用いられる光ピックアップ装
置においては、光源から発せられたレーザビームの一部
分をモニタしてディスクに対して適切な光強度でレーザ
ビームの照射がおこなわれるようにレーザ光強度制御装
置が備えられている。
【０００３】かかるレーザ光強度制御装置においては、
温度変化が光源等の光学部品に影響してレーザビームの
偏光面が回転してディスクに照射されるレーザビームの
光強度が低下してしまうことを防止するために、ディス
クに照射されるレーザビームがＰ偏光成分であるなら
ば、光源から発せられたレーザビームの一部分を偏光ビ
ームスプリッタで分離し、その分離したレーザビーム中
のＰ偏光成分を別の偏光ビームスプリッタで分離した
後、受光手段であるフロントモニタで受光し、そのフロ
ントモニタの出力信号に応じて光源を駆動することが行
われている。
温度変化が光源等の光学部品に影響してレーザビームの
偏光面が回転してディスクに照射されるレーザビームの
光強度が低下してしまうことを防止するために、ディス
クに照射されるレーザビームがＰ偏光成分であるなら
ば、光源から発せられたレーザビームの一部分を偏光ビ
ームスプリッタで分離し、その分離したレーザビーム中
のＰ偏光成分を別の偏光ビームスプリッタで分離した
後、受光手段であるフロントモニタで受光し、そのフロ
ントモニタの出力信号に応じて光源を駆動することが行
われている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
レーザ光強度制御装置においては、光学部品が多くなっ
たり、また光学系が複雑になるという問題点があった。
また、レーザビームの偏光面が回転すると、ディスクに
照射されるべきレーザビームがＰ偏光成分であるとする
と、そのＰ偏光成分だけでなく僅かのＳ偏光成分も到達
してそれがノイズとなって読み取りや書き込みが不安定
になるという問題点もあった。
レーザ光強度制御装置においては、光学部品が多くなっ
たり、また光学系が複雑になるという問題点があった。
また、レーザビームの偏光面が回転すると、ディスクに
照射されるべきレーザビームがＰ偏光成分であるとする
と、そのＰ偏光成分だけでなく僅かのＳ偏光成分も到達
してそれがノイズとなって読み取りや書き込みが不安定
になるという問題点もあった。
【０００５】そこで、本発明の目的は、光ピックアップ
装置の光源から発せられるレーザビームの偏光面が回転
してもそのレーザビームの光強度を簡単な構成で安定に
制御すると共に記録媒体に対する読み取りや書き込みの
安定化を図ることができるレーザ光強度制御装置を提供
することである。
装置の光源から発せられるレーザビームの偏光面が回転
してもそのレーザビームの光強度を簡単な構成で安定に
制御すると共に記録媒体に対する読み取りや書き込みの
安定化を図ることができるレーザ光強度制御装置を提供
することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明のレーザ光強度制
御装置は、光ピックアップ装置の光源の発光レーザビー
ムの光強度を制御するレーザ光強度制御装置であって、
光源から発せられたレーザビームの進行方向に垂直なｘ
方向偏光成分及びその進行方向に平行なｙ方向偏光成分
のいずれか一方の方向偏光成分の大部分を通過させその
一方の方向偏光成分の一部分をモニタ光として反射する
偏光分離手段と、偏光分離手段によって反射されたモニ
タ光を受光して受光強度を示す光強度信号を生成する受
光手段と、光強度信号に応じて光源を駆動する駆動手段
と、光源と偏光分離手段との間に配置され一方の方向偏
光成分のみを通過させる光学素子と、を備えたことを特
徴としている。
御装置は、光ピックアップ装置の光源の発光レーザビー
ムの光強度を制御するレーザ光強度制御装置であって、
光源から発せられたレーザビームの進行方向に垂直なｘ
方向偏光成分及びその進行方向に平行なｙ方向偏光成分
のいずれか一方の方向偏光成分の大部分を通過させその
一方の方向偏光成分の一部分をモニタ光として反射する
偏光分離手段と、偏光分離手段によって反射されたモニ
タ光を受光して受光強度を示す光強度信号を生成する受
光手段と、光強度信号に応じて光源を駆動する駆動手段
と、光源と偏光分離手段との間に配置され一方の方向偏
光成分のみを通過させる光学素子と、を備えたことを特
徴としている。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面を参
照しつつ詳細に説明する。図１は本発明によるレーザ光
強度制御装置を適用した光ピックアップ装置の構成を示
している。この光ピックアップ装置は、半導体レーザ素
子１１が発するレーザビームによって光ディスク１０に
情報を書き込んだり、或いは光ディスク１０に記録され
た情報を読み取るものである。光ディスク１０は、例え
ば、ＤＶＤ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−Ｒ
Ｗ、ＣＤ、ＣＤ−Ｒである。
照しつつ詳細に説明する。図１は本発明によるレーザ光
強度制御装置を適用した光ピックアップ装置の構成を示
している。この光ピックアップ装置は、半導体レーザ素
子１１が発するレーザビームによって光ディスク１０に
情報を書き込んだり、或いは光ディスク１０に記録され
た情報を読み取るものである。光ディスク１０は、例え
ば、ＤＶＤ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＤＶＤ−Ｒ
Ｗ、ＣＤ、ＣＤ−Ｒである。
【０００８】半導体レーザ素子１１は２つの互いに異な
る波長のレーザビームを発するものでも良い。例えば、
ＤＶＤ用の波長６５０ｎｍのレーザビームとＣＤ用の波
長７８０ｎｍのレーザビームとが後述するＬＤドライバ
２３によって選択的に発せられる。
る波長のレーザビームを発するものでも良い。例えば、
ＤＶＤ用の波長６５０ｎｍのレーザビームとＣＤ用の波
長７８０ｎｍのレーザビームとが後述するＬＤドライバ
２３によって選択的に発せられる。
【０００９】半導体レーザ素子１１から発せられたレー
ザビームは先ず、偏光板２０に達する。偏光板２０はレ
ーザビームのＰ偏光成分（入射面に平行な電界成分、す
なわちｘ方向偏光成分）だけを通過させ、レーザビーム
のＳ偏光成分（入射面に垂直な電界成分、すなわちｙ方
向偏光成分）の通過を遮断する。
ザビームは先ず、偏光板２０に達する。偏光板２０はレ
ーザビームのＰ偏光成分（入射面に平行な電界成分、す
なわちｘ方向偏光成分）だけを通過させ、レーザビーム
のＳ偏光成分（入射面に垂直な電界成分、すなわちｙ方
向偏光成分）の通過を遮断する。
【００１０】偏光板２０を通過したＰ偏光成分のレーザ
ビームはコリメータレンズ１２を介して偏光板付きＰＢ
Ｓ（偏光ビームスプリッタ）１３に平行光として到達す
る。ＰＢＳ１３の偏光板１３ａは半導体レーザ素子１１
側とは反対側、すなわち、光ディスク１０側に位置する
ようにＰＢＳ１３は配置されている。ＰＢＳ１３は偏光
板２０を通過する偏向成分の大部分を通過させるととも
に一部分を偏光分離面１３ｂで反射させるものであり、
例えば、Ｐ偏光の９０％を透過させ１０％を反射させる
（すなわち、Ｓ偏光が入射したときは１０％を透過させ
て９０％を偏光分離面１３ｂで反射させる。）ものであ
る。これにより、偏光板２０に入射するレーザビームは
ディスクの読み取りに使用する大部分とレーザパワーの
モニタに使用する一部分とに分離される。ＰＢＳ１３で
反射されたレーザビームの方向は通過レーザビーム方向
とほぼ垂直な方向である。偏光板１３ａは通過したレー
ザビームの直線偏光を円偏光に変換する。
ビームはコリメータレンズ１２を介して偏光板付きＰＢ
Ｓ（偏光ビームスプリッタ）１３に平行光として到達す
る。ＰＢＳ１３の偏光板１３ａは半導体レーザ素子１１
側とは反対側、すなわち、光ディスク１０側に位置する
ようにＰＢＳ１３は配置されている。ＰＢＳ１３は偏光
板２０を通過する偏向成分の大部分を通過させるととも
に一部分を偏光分離面１３ｂで反射させるものであり、
例えば、Ｐ偏光の９０％を透過させ１０％を反射させる
（すなわち、Ｓ偏光が入射したときは１０％を透過させ
て９０％を偏光分離面１３ｂで反射させる。）ものであ
る。これにより、偏光板２０に入射するレーザビームは
ディスクの読み取りに使用する大部分とレーザパワーの
モニタに使用する一部分とに分離される。ＰＢＳ１３で
反射されたレーザビームの方向は通過レーザビーム方向
とほぼ垂直な方向である。偏光板１３ａは通過したレー
ザビームの直線偏光を円偏光に変換する。
【００１１】偏光板１３ａ付きのＰＢＳ１３を通過した
レーザビームは対物レンズ１４を介してディスク１０に
達してその記録面で反射される。ディスク１０の記録面
で反射されたレーザビームは、対物レンズ１４及び偏光
板１３ａを介してＰＢＳ１３まで戻る。偏光板１３ａは
反射されたレーザビームの円偏光を直線偏光に変換す
る。ＰＢＳ１３は戻りのレーザビームを偏光分離面１３
ｂで反射し、その反射レーザビームは集光レンズ１５、
マルチレンズ１６を介して光検出器１７の受光面に到達
する。
レーザビームは対物レンズ１４を介してディスク１０に
達してその記録面で反射される。ディスク１０の記録面
で反射されたレーザビームは、対物レンズ１４及び偏光
板１３ａを介してＰＢＳ１３まで戻る。偏光板１３ａは
反射されたレーザビームの円偏光を直線偏光に変換す
る。ＰＢＳ１３は戻りのレーザビームを偏光分離面１３
ｂで反射し、その反射レーザビームは集光レンズ１５、
マルチレンズ１６を介して光検出器１７の受光面に到達
する。
【００１２】一方、ＰＢＳ１３によって反射されたレー
ザビームの方向にはフロントモニタ１８が備えられてい
る。フロントモニタ１８は透明なアクリル平板で表面が
覆われたフォトダイオードからなる。フロントモニタ１
８の入射面は反射レーザビームの方向に垂直に設けられ
ている。フロントモニタ１８は入射したレーザビームの
光強度に応じた電気信号、すなわちフロントモニタ信号
を生成する。
ザビームの方向にはフロントモニタ１８が備えられてい
る。フロントモニタ１８は透明なアクリル平板で表面が
覆われたフォトダイオードからなる。フロントモニタ１
８の入射面は反射レーザビームの方向に垂直に設けられ
ている。フロントモニタ１８は入射したレーザビームの
光強度に応じた電気信号、すなわちフロントモニタ信号
を生成する。
【００１３】フロントモニタ１８にはヘッドアンプ２１
を介してＡＰＣ（オートパワーコントローラ）２２が接
続されている。ＡＰＣ２２はヘッドアンプ２１で増幅さ
れたフロントモニタ信号のレベルが基準レベルになるよ
うにＬＤドライバ２３の駆動信号レベルを制御する。基
準レベルはディスク１０からデータ読み取り時とディス
ク１０へのデータ書き込み時とでは異なり、マイクロコ
ンピュータ２４によって指定される。
を介してＡＰＣ（オートパワーコントローラ）２２が接
続されている。ＡＰＣ２２はヘッドアンプ２１で増幅さ
れたフロントモニタ信号のレベルが基準レベルになるよ
うにＬＤドライバ２３の駆動信号レベルを制御する。基
準レベルはディスク１０からデータ読み取り時とディス
ク１０へのデータ書き込み時とでは異なり、マイクロコ
ンピュータ２４によって指定される。
【００１４】書き込み時にはメモリ２５から記録データ
が読み出され、スイッチ信号生成回路２７に供給され
る。スイッチ信号生成回路２７は記録データに応じてＬ
Ｄドライバ２３の駆動パワーを制御する。すなわち、デ
ィスク１０にピットを形成させる部分でＬＤドライバ２
３の駆動パワーを高レベルに切り換えさせ、ピットを形
成しない部分ではＬＤドライバ２３の駆動パワーを低レ
ベル（読み取り時の駆動パワー）に切り換えさせる。
が読み出され、スイッチ信号生成回路２７に供給され
る。スイッチ信号生成回路２７は記録データに応じてＬ
Ｄドライバ２３の駆動パワーを制御する。すなわち、デ
ィスク１０にピットを形成させる部分でＬＤドライバ２
３の駆動パワーを高レベルに切り換えさせ、ピットを形
成しない部分ではＬＤドライバ２３の駆動パワーを低レ
ベル（読み取り時の駆動パワー）に切り換えさせる。
【００１５】かかる構成の光ピックアップ装置において
は、ＬＤドライバ２３の駆動信号が半導体レーザ素子１
１に供給され、その駆動信号レベルに応じた強度のレー
ザビームが半導体レーザ素子１１から発射される。発射
されたレーザビームのＰ偏光成分だけが偏光板２０を通
過する。そのレーザビームのＳ偏光成分の通過は偏光板
２０によって遮断される。
は、ＬＤドライバ２３の駆動信号が半導体レーザ素子１
１に供給され、その駆動信号レベルに応じた強度のレー
ザビームが半導体レーザ素子１１から発射される。発射
されたレーザビームのＰ偏光成分だけが偏光板２０を通
過する。そのレーザビームのＳ偏光成分の通過は偏光板
２０によって遮断される。
【００１６】偏光板２０を通過したＰ偏光成分のレーザ
ビームはコリメータレンズ１２によって平行光にされた
後、ＰＢＳ１３に供給される。Ｐ偏光成分のレーザビー
ムの大部分がＰＢＳ１３で反射されて、フロントモニタ
１８に向かう。フロントモニタ１８は入射したレーザビ
ームのＰ偏光成分の光強度に応じたフロントモニタ信号
がフロントモニタ１８から生成される。そのフロントモ
ニタ信号はヘッドアンプ２１によって増幅された後、Ａ
ＰＣ２２に供給される。
ビームはコリメータレンズ１２によって平行光にされた
後、ＰＢＳ１３に供給される。Ｐ偏光成分のレーザビー
ムの大部分がＰＢＳ１３で反射されて、フロントモニタ
１８に向かう。フロントモニタ１８は入射したレーザビ
ームのＰ偏光成分の光強度に応じたフロントモニタ信号
がフロントモニタ１８から生成される。そのフロントモ
ニタ信号はヘッドアンプ２１によって増幅された後、Ａ
ＰＣ２２に供給される。
【００１７】ＡＰＣ２２はフロントモニタ信号が基準レ
ベルに等しくなるように制御信号を発生する。すなわ
ち、フロントモニタ信号が基準レベルより低い場合には
制御信号はＬＤドライバ２３による半導体レーザ素子１
１に対する駆動信号レベルを増加させ、フロントモニタ
信号が基準レベルより高い場合には制御信号はＬＤドラ
イバ２３による半導体レーザ素子１１に対する駆動信号
レベルを低下させる。この結果、レーザビームの偏光面
の回転が起きてもＰＢＳ１３を通過してディスク１０に
到達するレーザビームのＰ偏光成分を所望の強度に維持
することができる。
ベルに等しくなるように制御信号を発生する。すなわ
ち、フロントモニタ信号が基準レベルより低い場合には
制御信号はＬＤドライバ２３による半導体レーザ素子１
１に対する駆動信号レベルを増加させ、フロントモニタ
信号が基準レベルより高い場合には制御信号はＬＤドラ
イバ２３による半導体レーザ素子１１に対する駆動信号
レベルを低下させる。この結果、レーザビームの偏光面
の回転が起きてもＰＢＳ１３を通過してディスク１０に
到達するレーザビームのＰ偏光成分を所望の強度に維持
することができる。
【００１８】また、レーザビームの偏光面の回転が起き
ても偏光板２０によってＳ偏光成分を除去することがで
きるので、光ディスク１０にはＰ偏光成分だけを照射す
ることができる。よって、ディスク１０への書き込み及
びディスク１０からの読み出しの安定化を図ることがで
きる。
ても偏光板２０によってＳ偏光成分を除去することがで
きるので、光ディスク１０にはＰ偏光成分だけを照射す
ることができる。よって、ディスク１０への書き込み及
びディスク１０からの読み出しの安定化を図ることがで
きる。
【００１９】なお、上記の実施例においては、半導体レ
ーザ素子１１とコリメータレンズ１２との間に偏光板２
０が備えられているが、コリメータレンズ１２とＰＢＳ
１３との間に偏光板２０を備えることもできる。
ーザ素子１１とコリメータレンズ１２との間に偏光板２
０が備えられているが、コリメータレンズ１２とＰＢＳ
１３との間に偏光板２０を備えることもできる。
【００２０】図２は本発明の他の実施例を示している。
この実施例の光ピックアップ装置においては、図１の光
ピックアップ装置の偏光板２０に代えて、ガラス平板３
１がコリーメータレンズ１２とＰＢＳ１３との間に備え
られている。ガラス平板３１の入射面は反射レーザビー
ムの方向に垂直ではなく、傾けられている。この傾斜角
度θは、レーザビームのＰ偏光成分に対してはガラス平
板３１に入射し、Ｓ偏光成分をガラス平板３１で反射し
てしまうブルースター角度(Brewster's angle)である。
その他の構成は図１に示した光ピックアップ装置と同様
である。
この実施例の光ピックアップ装置においては、図１の光
ピックアップ装置の偏光板２０に代えて、ガラス平板３
１がコリーメータレンズ１２とＰＢＳ１３との間に備え
られている。ガラス平板３１の入射面は反射レーザビー
ムの方向に垂直ではなく、傾けられている。この傾斜角
度θは、レーザビームのＰ偏光成分に対してはガラス平
板３１に入射し、Ｓ偏光成分をガラス平板３１で反射し
てしまうブルースター角度(Brewster's angle)である。
その他の構成は図１に示した光ピックアップ装置と同様
である。
【００２１】かかる図２の構成の光ピックアップ装置に
おいては、ＬＤドライバ２３の駆動信号が半導体レーザ
素子１１に供給され、その駆動信号レベルに応じた強度
のレーザビームが半導体レーザ素子１１から発射され
る。発射されたレーザビームはコリメータレンズ１２に
よって平行光にされた後、ガラス平板３１に達する。ガ
ラス平板３１では上記したようにレーザビームのＰ偏光
成分が入射して通過し、Ｓ偏光成分は反射されてしま
う。よって、Ｐ偏光成分のレーザビームがガラス平板３
１からＰＢＳ１３に供給される。
おいては、ＬＤドライバ２３の駆動信号が半導体レーザ
素子１１に供給され、その駆動信号レベルに応じた強度
のレーザビームが半導体レーザ素子１１から発射され
る。発射されたレーザビームはコリメータレンズ１２に
よって平行光にされた後、ガラス平板３１に達する。ガ
ラス平板３１では上記したようにレーザビームのＰ偏光
成分が入射して通過し、Ｓ偏光成分は反射されてしま
う。よって、Ｐ偏光成分のレーザビームがガラス平板３
１からＰＢＳ１３に供給される。
【００２２】Ｐ偏光成分のレーザビームの一部分がＰＢ
Ｓ１３で反射されて、フロントモニタ１８に向かう。フ
ロントモニタ１８では入射したレーザビームのＰ偏光成
分の光強度に応じたフロントモニタ信号がフロントモニ
タ１８から生成される。そのフロントモニタ信号はヘッ
ドアンプ２１によって増幅された後、ＡＰＣ２２に供給
される。ＡＰＣ２２の動作は上記した図１の装置の場合
と同一であるので、ここでの説明は省略する。
Ｓ１３で反射されて、フロントモニタ１８に向かう。フ
ロントモニタ１８では入射したレーザビームのＰ偏光成
分の光強度に応じたフロントモニタ信号がフロントモニ
タ１８から生成される。そのフロントモニタ信号はヘッ
ドアンプ２１によって増幅された後、ＡＰＣ２２に供給
される。ＡＰＣ２２の動作は上記した図１の装置の場合
と同一であるので、ここでの説明は省略する。
【００２３】図２の構成の光ピックアップ装置において
も、レーザビームの偏光面の回転が起きてもＰＢＳ１３
を通過してディスク１０に到達するレーザビームのＰ偏
光成分を所望の強度に維持することができる。また、レ
ーザビームの偏光面の回転が起きてもガラス平板３１の
部分でＳ偏光成分を反射してディスク１０へのレーザビ
ームから除去することができるので、ディスク１０には
Ｐ偏光成分だけを照射することができる。よって、ディ
スク１０への書き込み及びディスク１０からの読み出し
の安定化を図ることができる。
も、レーザビームの偏光面の回転が起きてもＰＢＳ１３
を通過してディスク１０に到達するレーザビームのＰ偏
光成分を所望の強度に維持することができる。また、レ
ーザビームの偏光面の回転が起きてもガラス平板３１の
部分でＳ偏光成分を反射してディスク１０へのレーザビ
ームから除去することができるので、ディスク１０には
Ｐ偏光成分だけを照射することができる。よって、ディ
スク１０への書き込み及びディスク１０からの読み出し
の安定化を図ることができる。
【００２４】図３は本発明の実施例を更に示している。
この実施例の光ピックアップ装置は３ビーム法のトラッ
キングサーボを行うために偏光板グレーティング３２を
コリメータレンズ１２とＰＢＳ１３との間に備えてい
る。偏光板グレーティング３２は、レーザビームのＰ偏
光成分だけを通過させ、レーザビームのＳ偏光成分の通
過を遮断する。また、グレーティング３２はレーザビー
ムを複数の光束（０次光、±１次光）に分離させる。０
次光は読取信号であるＲＦ信号用及びフォーカスサーボ
用の主ビームであり、±１次光は３ビーム法のトラッキ
ングサーボ用の副ビームである。
この実施例の光ピックアップ装置は３ビーム法のトラッ
キングサーボを行うために偏光板グレーティング３２を
コリメータレンズ１２とＰＢＳ１３との間に備えてい
る。偏光板グレーティング３２は、レーザビームのＰ偏
光成分だけを通過させ、レーザビームのＳ偏光成分の通
過を遮断する。また、グレーティング３２はレーザビー
ムを複数の光束（０次光、±１次光）に分離させる。０
次光は読取信号であるＲＦ信号用及びフォーカスサーボ
用の主ビームであり、±１次光は３ビーム法のトラッキ
ングサーボ用の副ビームである。
【００２５】光検出器１７は図示しないが、主ビーム検
出部とその両側に副ビーム検出部とを有する。その他の
構成は偏光板２０を備えていないこと以外は図１に示し
た光ピックアップ装置と同様である。
出部とその両側に副ビーム検出部とを有する。その他の
構成は偏光板２０を備えていないこと以外は図１に示し
た光ピックアップ装置と同様である。
【００２６】かかる図３の構成の光ピックアップ装置に
おいては、ＬＤドライバ２３の駆動信号が半導体レーザ
素子１１に供給され、その駆動信号レベルに応じた強度
のレーザビームが半導体レーザ素子１１から発射され
る。発射されたレーザビームはコリメータレンズ１２に
よって平行光にされた後、偏光板グレーティング３２に
達する。レーザビームのＰ偏光成分だけが偏光板グレー
ティング３２に入射される。
おいては、ＬＤドライバ２３の駆動信号が半導体レーザ
素子１１に供給され、その駆動信号レベルに応じた強度
のレーザビームが半導体レーザ素子１１から発射され
る。発射されたレーザビームはコリメータレンズ１２に
よって平行光にされた後、偏光板グレーティング３２に
達する。レーザビームのＰ偏光成分だけが偏光板グレー
ティング３２に入射される。
【００２７】更に、偏光板グレーティング３２はＰ偏光
成分のレーザビームを３ビーム（ＲＦ信号用及びフォー
カスサーボ用の主ビームとトラッキングサーボ用の２つ
の副ビーム）に分離させる。このように３ビームに分離
されたＰ偏光成分のレーザビームが偏光板グレーティン
グ３２からＰＢＳ１３に供給される。Ｐ偏光成分のレー
ザビームの一部分がＰＢＳ１３で反射されて、フロント
モニタ１８に向かう。フロントモニタ１８では入射した
レーザビームのＰ偏光成分の光強度に応じたフロントモ
ニタ信号がフロントモニタ１８から生成される。そのフ
ロントモニタ信号はヘッドアンプ２１によって増幅され
た後、ＡＰＣ２２に供給される。ＡＰＣ２２の動作は上
記した図１の装置の場合と同一であるので、ここでの説
明は省略する。
成分のレーザビームを３ビーム（ＲＦ信号用及びフォー
カスサーボ用の主ビームとトラッキングサーボ用の２つ
の副ビーム）に分離させる。このように３ビームに分離
されたＰ偏光成分のレーザビームが偏光板グレーティン
グ３２からＰＢＳ１３に供給される。Ｐ偏光成分のレー
ザビームの一部分がＰＢＳ１３で反射されて、フロント
モニタ１８に向かう。フロントモニタ１８では入射した
レーザビームのＰ偏光成分の光強度に応じたフロントモ
ニタ信号がフロントモニタ１８から生成される。そのフ
ロントモニタ信号はヘッドアンプ２１によって増幅され
た後、ＡＰＣ２２に供給される。ＡＰＣ２２の動作は上
記した図１の装置の場合と同一であるので、ここでの説
明は省略する。
【００２８】なお、偏光板１３ａ付きのＰＢＳ１３を通
過したレーザビームの大部分は対物レンズ１４を介して
ディスク１０に達してその記録面に３つのスポットを形
成すると共に記録面で反射される。ディスク１０の記録
面で反射された３ビームのレーザビームは、対物レンズ
１４及び偏光板１３ａを介してＰＢＳ１３まで戻る。偏
光板１３ａは反射されたレーザビームの円偏光を直線偏
光に変換する。ＰＢＳ１３は戻りのレーザビームを偏光
分離面１３ｂで反射し、その反射レーザビームは集光レ
ンズ１５、マルチレンズ１６を介して光検出器１７の主
ビーム検出部及び副ビーム検出部各々の受光面に各々到
達する。
過したレーザビームの大部分は対物レンズ１４を介して
ディスク１０に達してその記録面に３つのスポットを形
成すると共に記録面で反射される。ディスク１０の記録
面で反射された３ビームのレーザビームは、対物レンズ
１４及び偏光板１３ａを介してＰＢＳ１３まで戻る。偏
光板１３ａは反射されたレーザビームの円偏光を直線偏
光に変換する。ＰＢＳ１３は戻りのレーザビームを偏光
分離面１３ｂで反射し、その反射レーザビームは集光レ
ンズ１５、マルチレンズ１６を介して光検出器１７の主
ビーム検出部及び副ビーム検出部各々の受光面に各々到
達する。
【００２９】図３の構成の光ピックアップ装置において
も、レーザビームの偏光面の回転が起きてもＰＢＳ１３
を通過してディスク１０に到達するレーザビームのＰ偏
光成分を所望の強度に維持することができる。また、レ
ーザビームの偏光面の回転が起きても偏光板グレーティ
ング３２によってＳ偏光成分を除去することができるの
で、ディスク１０にはＰ偏光成分だけを照射することが
できる。よって、ディスク１０への書き込み及びディス
ク１０からの読み出しの安定化を図ることができる。
も、レーザビームの偏光面の回転が起きてもＰＢＳ１３
を通過してディスク１０に到達するレーザビームのＰ偏
光成分を所望の強度に維持することができる。また、レ
ーザビームの偏光面の回転が起きても偏光板グレーティ
ング３２によってＳ偏光成分を除去することができるの
で、ディスク１０にはＰ偏光成分だけを照射することが
できる。よって、ディスク１０への書き込み及びディス
ク１０からの読み出しの安定化を図ることができる。
【００３０】図４は本発明の実施例を更に示している。
この実施例の光ピックアップ装置においては、図１の光
ピックアップ装置の偏光板２０に代えて、ファラデー素
子３３と、電磁石３４とが設けられている。ファラデー
素子３３は電磁石３４によって付与される磁界の強さに
比例した角度でレーザビームの偏光面を回転させるもの
である。本実施例においては、温度変化によってレーザ
ビームの偏光面が回転したときにファラデー素子３３に
回転角に相当する磁界を電磁石３４から付与し、偏光面
を逆回転させて補正することが行われる。このようなフ
ァラデー素子３３による偏光面の回転補正は、上述した
ＡＰＣと同時に行われるものであり、図１に示した実施
例と比べると、レーザの駆動パワーの効率を良くするこ
とができる。
この実施例の光ピックアップ装置においては、図１の光
ピックアップ装置の偏光板２０に代えて、ファラデー素
子３３と、電磁石３４とが設けられている。ファラデー
素子３３は電磁石３４によって付与される磁界の強さに
比例した角度でレーザビームの偏光面を回転させるもの
である。本実施例においては、温度変化によってレーザ
ビームの偏光面が回転したときにファラデー素子３３に
回転角に相当する磁界を電磁石３４から付与し、偏光面
を逆回転させて補正することが行われる。このようなフ
ァラデー素子３３による偏光面の回転補正は、上述した
ＡＰＣと同時に行われるものであり、図１に示した実施
例と比べると、レーザの駆動パワーの効率を良くするこ
とができる。
【００３１】図５は本発明の実施例を更に示している。
この実施例の光ピックアップ装置においては、図１の光
ピックアップ装置の偏光板２０に代えて、１／２波長板
３５と回転位置調整機構３６とが設けられている。回転
位置調整機構３６は１／２波長板３５を光軸に対して所
定の角度範囲Φ（０°＜Φ＜４５°）で回転自在に保持
しており、半導体レーザ素子１１から出射された直線偏
光の偏光方向を可変とすることができる。従って、半導
体レーザ１１がその初期状態から偏光面が正規の位置か
ら回転している場合には、光ピックアップ装置の組み立
て時に１／２波長板３５の回転位置を適宜調整すること
により、偏光面を所望の回転位置に設定することができ
るので、図１の場合と同様にＰ偏光成分だけをコリメー
タレンズ１２に導くことができる。
この実施例の光ピックアップ装置においては、図１の光
ピックアップ装置の偏光板２０に代えて、１／２波長板
３５と回転位置調整機構３６とが設けられている。回転
位置調整機構３６は１／２波長板３５を光軸に対して所
定の角度範囲Φ（０°＜Φ＜４５°）で回転自在に保持
しており、半導体レーザ素子１１から出射された直線偏
光の偏光方向を可変とすることができる。従って、半導
体レーザ１１がその初期状態から偏光面が正規の位置か
ら回転している場合には、光ピックアップ装置の組み立
て時に１／２波長板３５の回転位置を適宜調整すること
により、偏光面を所望の回転位置に設定することができ
るので、図１の場合と同様にＰ偏光成分だけをコリメー
タレンズ１２に導くことができる。
【００３２】また、本実施例において更に、１／２波長
板３５に回転駆動力を付与するアクチェータを備え、１
／２波長板３５を常時回転駆動可能とすることで、温度
変化によって半導体レーザ１１から出射されるレーザビ
ームの偏光面が回転しても、図４の例と同様にその都度
適宜補正することができる。アクチュエータはムービン
グコイルとマグネット、電磁石等の周知の手段を適用す
ることができる。
板３５に回転駆動力を付与するアクチェータを備え、１
／２波長板３５を常時回転駆動可能とすることで、温度
変化によって半導体レーザ１１から出射されるレーザビ
ームの偏光面が回転しても、図４の例と同様にその都度
適宜補正することができる。アクチュエータはムービン
グコイルとマグネット、電磁石等の周知の手段を適用す
ることができる。
【００３３】なお、上記した本発明の各実施例では、光
源から発せられた発散光であるレーザビームをコリメー
タレンズにより平行光に変換する、いわゆる無限光学系
の場合について説明したが、この例に限られることな
く、コリメータレンズを省いて平行光への変換を行わな
い有限光学系の場合であっても本発明を適用することは
可能である。
源から発せられた発散光であるレーザビームをコリメー
タレンズにより平行光に変換する、いわゆる無限光学系
の場合について説明したが、この例に限られることな
く、コリメータレンズを省いて平行光への変換を行わな
い有限光学系の場合であっても本発明を適用することは
可能である。
【００３４】
【発明の効果】以上の如く、本発明によれば、光源から
発せられるレーザビームの偏光面が回転してもそのレー
ザビームの光強度を簡単な構成で安定に制御することが
でき、更に、記録媒体への書き込み及び記録媒体からの
読み出しの安定化を図ることができる。
発せられるレーザビームの偏光面が回転してもそのレー
ザビームの光強度を簡単な構成で安定に制御することが
でき、更に、記録媒体への書き込み及び記録媒体からの
読み出しの安定化を図ることができる。
【図１】本発明の実施例を示す図である。
【図２】本発明の他の実施例を示す図である。
【図３】本発明の他の実施例を示す図である。
【図４】本発明の他の実施例を示す図である。
【図５】本発明の他の実施例を示す図である。
１１ 半導体レーザ素子 １２ コリメータレンズ １３ ＰＢＳ １４ 対物レンズ １５ 集光レンズ １６ マルチレンズ １７ 光検出器 １８ フロントモニタ ２０ 偏光板 ２２ ＡＰＣ ２４ マイクロコンピュータ
フロントページの続き Ｆターム(参考） 2H099 AA05 BA17 CA08 DA09 5D118 AA04 AA14 BA01 CD03 CG04 CG24 5D119 AA09 AA21 BA01 HA13 HA44 JA01 JA02 JA21 JA30 JA31 JA63 5F073 AB25 AB27 BA04 EA15 GA01
Claims (15)
- 【請求項１】 光ピックアップ装置の光源の発光レーザ
ビームの光強度を制御するレーザ光強度制御装置であっ
て、 前記光源から発せられたレーザビームの進行方向に垂直
なｘ方向偏光成分及びその進行方向に平行なｙ方向偏光
成分のいずれか一方の方向偏光成分の大部分を通過させ
その一方の方向偏光成分の一部分をモニタ光として反射
する偏光分離手段と、 前記偏光分離手段によって反射された前記モニタ光を受
光して受光強度を示す光強度信号を生成する受光手段
と、 前記光強度信号に応じて前記光源を駆動する駆動手段
と、 前記光源と前記偏光分離手段との間に配置され前記一方
の方向偏光成分のみを通過させる光学素子と、を備えた
ことを特徴とするレーザ光強度制御装置。 - 【請求項２】 前記光源と前記偏光分離手段との間に前
記光源から発せられたレーザビームを平行ビームに変換
する変換手段を有することを特徴とする請求項１記載の
レーザ光強度制御装置。 - 【請求項３】 前記光学素子は、前記レーザビームの入
射面がブルースター角度だけ傾けられたガラス平板であ
ることを特徴とする請求項１記載のレーザ光強度制御装
置。 - 【請求項４】 前記前記光学素子は、偏光板であること
を特徴とする請求項１記載のレーザ光強度制御装置。 - 【請求項５】 前記偏光板は、前記光源と前記変換手段
との間に前記一方の方向偏光成分のみを通過させる向き
に配置されていることを特徴とする請求項４記載のレー
ザ光強度制御装置。 - 【請求項６】 前記光学素子は、前記変換手段と偏光分
離手段との間に設けられた偏光板グレーティングである
ことを特徴とする請求項１記載のレーザ光強度制御装
置。 - 【請求項７】 前記偏光板グレーティングは、入射され
たレーザビームから３ビーム法のトラッキングサーボ制
御用の高次光を分離生成させることを特徴とする請求項
６記載のレーザ光強度制御装置。 - 【請求項８】 前記光学素子はファラデー素子であるこ
とを特徴とする請求項１記載のレーザ光強度制御装置。 - 【請求項９】 前記光学素子は１／２波長板であること
を特徴とする請求項１記載のレーザ光強度制御装置。 - 【請求項１０】 前記変換手段は、コリメータレンズで
あることを特徴とする請求項１記載のレーザ光強度制御
装置。 - 【請求項１１】 前記偏光分離手段は、偏光ビームスプ
リッタであることを特徴とする請求項１記載のレーザ光
強度制御装置。 - 【請求項１２】 前記駆動手段は、前記光強度信号が基
準レベルになるように前記光源を駆動することを特徴と
する請求項１記載のレーザ光強度制御装置。 - 【請求項１３】 前記基準レベルは可変にされているこ
とを特徴とする請求項１０記載のレーザ光強度制御装
置。 - 【請求項１４】 前記一方の方向偏光成分はＰ偏光成分
であり、前記他方の偏光成分はＳ偏光成分であることを
特徴とする請求項１記載のレーザ光強度制御装置。 - 【請求項１５】 前記光学素子は、付与される磁界の強
さに比例した角度で前記レーザビームの偏光面を回転さ
せるファラデー素子であることを特徴とする請求項１記
載のレーザ光強度制御装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000384373A JP2002185073A (ja) | 2000-10-04 | 2000-12-18 | レーザ光強度制御装置 |
| EP01123681A EP1195752A3 (en) | 2000-10-04 | 2001-10-02 | Laser light intensity controller |
| US09/968,906 US6697398B2 (en) | 2000-10-04 | 2001-10-03 | Laser light intensity controller |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000-304482 | 2000-10-04 | ||
| JP2000304482 | 2000-10-04 | ||
| JP2000384373A JP2002185073A (ja) | 2000-10-04 | 2000-12-18 | レーザ光強度制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002185073A true JP2002185073A (ja) | 2002-06-28 |
| JP2002185073A5 JP2002185073A5 (ja) | 2006-03-23 |
Family
ID=26601503
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000384373A Pending JP2002185073A (ja) | 2000-10-04 | 2000-12-18 | レーザ光強度制御装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6697398B2 (ja) |
| EP (1) | EP1195752A3 (ja) |
| JP (1) | JP2002185073A (ja) |
Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| JP2008262660A (ja) * | 2007-04-13 | 2008-10-30 | Asahi Glass Co Ltd | 光ヘッド装置 |
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| JP2005235276A (ja) * | 2004-02-18 | 2005-09-02 | Tdk Corp | 光ヘッド、光再生装置及び光記録再生装置 |
| JP4499688B2 (ja) * | 2006-05-25 | 2010-07-07 | シャープ株式会社 | 光情報処理装置 |
| JP7088470B2 (ja) * | 2018-07-13 | 2022-06-21 | 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 | 光源調整方法 |
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| JPH04214242A (ja) * | 1990-12-10 | 1992-08-05 | Fuji Electric Co Ltd | 光ヘッド |
| JPH05109141A (ja) * | 1991-10-17 | 1993-04-30 | Nikon Corp | 光磁気ヘツド |
| JPH0696459A (ja) * | 1992-09-14 | 1994-04-08 | Nikon Corp | 光ピックアップ |
| JPH08339566A (ja) * | 1995-06-14 | 1996-12-24 | Hitachi Ltd | 光ディスク装置およびその制御方法 |
| JPH10199024A (ja) * | 1996-12-26 | 1998-07-31 | Sanyo Electric Co Ltd | 光ピックアップ装置 |
| JP2000090480A (ja) * | 1998-09-11 | 2000-03-31 | Sharp Corp | 光ピックアップ |
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| US4774615A (en) * | 1987-02-17 | 1988-09-27 | Eastman Kodak Company | Magneto-optic read-out method and apparatus with polarization correction means |
| JPH0614570B2 (ja) * | 1987-04-28 | 1994-02-23 | シャープ株式会社 | 光出力安定化方法および該方法に使用する光検出器 |
| JP3239962B2 (ja) * | 1992-09-10 | 2001-12-17 | キヤノン株式会社 | 光学的情報記録再生装置 |
| US6134253A (en) * | 1998-02-19 | 2000-10-17 | Jds Uniphase Corporation | Method and apparatus for monitoring and control of laser emission wavelength |
| JP3382846B2 (ja) * | 1998-05-11 | 2003-03-04 | 日本電気株式会社 | 光ヘッド及び光ヘッドに於ける光源出力のモニター方法 |
| US6144025A (en) * | 1999-01-13 | 2000-11-07 | Santec Corporation | Laser light source apparatus |
-
2000
- 2000-12-18 JP JP2000384373A patent/JP2002185073A/ja active Pending
-
2001
- 2001-10-02 EP EP01123681A patent/EP1195752A3/en not_active Withdrawn
- 2001-10-03 US US09/968,906 patent/US6697398B2/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1195752A3 (en) | 2004-04-21 |
| US6697398B2 (en) | 2004-02-24 |
| US20020044576A1 (en) | 2002-04-18 |
| EP1195752A2 (en) | 2002-04-10 |
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