JP2002181900A - バウンダリスキャンテスト法に基づくシリアル伝送を用いた多点監視・制御システム - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 多数の通信先とのデータ伝送をバウンダリス
キャンテスト法に基づいてシリアルに行う監視システム
または監視・制御システムを提供する。 【解決手段】 多数の通信先を少なくとも１つのグルー
プに分割し、分割されたグループ毎にバウンダリスキャ
ンテストをサポートするＩＣからなるデータ収集ユニッ
トを備える。各グループに属する通信先は、そのグルー
プのデータ収集ユニットのバウンダリスキャンレジスタ
に接続されたＩＣピンにそれぞれ接続される。この時、
通信先が監視点なら入力セルに、制御点なら出力セル
に、監視・制御点なら入出力セルに接続される。本シス
テムは、データ収集ユニットをバウンダリスキャンテス
ト法に基づいて制御する制御ユニットをさらに備える。
制御手段は、バウンダリスキャンレジスタを介して、監
視点と監視・制御点からデータを取り込んで監視を行
い、制御点と前記監視・制御点にデータを出力すること
により制御を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、多数のデータ送信
点（監視点）、データ受信点（制御点）およびデータ送
受信点（監視・制御点）の監視または監視・制御を行う
システムに関する。

【０００２】

【従来の技術】ここで、データ送信点（監視点）とは、
種々の検出器またはセンサのようなデータの発生源の出
力点を指し、データ受信点（制御点）とは種々の出力要
素またはアクチュエータなどのように入力データを必要
とする要素の入力点を示し、データ送受信点（監視・制
御点）とはバスのようにデータの入力点にも出力点にも
なり得る入出力点を指す。複数の離れた箇所にセンサを
設置し、それらのセンサの状態を集中的に監視するシス
テムや、さらにセンサの状態に基づいて出力装置または
アクチュエータの制御を行うシステムには実に様々な形
式のものがある。このようなシステムでは、監視点、制
御点および監視・制御点の各々と制御装置との間でデー
タの通信を行う必要がある。（このように、監視点、制
御点および監視・制御点は、制御装置から見るとデータ
通信の相手先となるので、以降、一括して「通信先」と
称する。）多くの場合、各通信先は制御装置に直に信号
線で電気的に結合される。しかし、各通信先を制御装置
に直に接続する方式の場合、監視点や制御点の数が増え
ると、配線に用いられる信号線の数も増えるので、ケー
ブルスペースや費用も増大する。また、このことは、例
えば、信号線の他に断線検出回路を併設したり、センサ
を２重化して信頼性を高めようとする場合にも問題とな
る。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】本発明は、このような
問題点を解決するためになされたものであり、多数の通
信先とのデータ伝送をバウンダリスキャンテスト法に基
づいてシリアルに行う監視システムまたは監視・制御シ
ステムを提供することを目的とする。

【０００４】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
監視点、制御点および監視・制御点の少なくとも何れか
の点からなる多数の通信先を監視、制御またはその両方
を行う多点監視・制御システムであり、本システムは、
多数の通信先を少なくとも１つのグループに分割し、分
割されたグループにそれぞれ関係付けて用意され且つバ
ウンダリスキャンテストをサポートするＩＣからなるデ
ータ収集手段を備え、各グループに属する通信先の各々
が、そのグループに関係付けられたデータ収集手段のバ
ウンダリスキャンレジスタに接続されたＩＣピンにそれ
ぞれ接続され、この時、通信先が監視点ならバウンダリ
スキャンレジスタの入力セルに、制御点なら出力セル
に、監視・制御点なら入出力セルに接続され、本システ
ムは、データ収集手段をバウンダリスキャンテスト法に
基づいて制御する制御手段をさらに備え、制御手段は、
監視点と監視・制御点からバウンダリスキャンレジスタ
を介してデータを取り込む手段と、制御点と前記監視・
制御点にバウンダリスキャンレジスタを介してデータを
出力する手段とを含むことを特徴とする。請求項２記載
の多点監視・制御システムは、請求項１において、前記
ＩＣは、利用者がプログラム可能なＩＣであり、前記Ｉ
Ｃに内蔵されたバウンダリスキャンテスト回路を使用せ
ず、前記多点監視・制御システムを実現するのに必要な
状態のみを備えたＴＡＰコントローラ、最小必要限度の
命令、および許される限り多くのセルからなるバウンダ
リスキャンレジスタを含むバウンダリスキャンテスト機
能を書き込んでプログラムしたＩＣであることを特徴と
する。請求項３記載の多点監視・制御システムは、請求
項１において、前記通信先が、すべてワイヤセンサであ
り、バウンダリスキャンレジスタのセルはすべて入力セ
ルであることを特徴とする。請求項４記載の多点監視・
制御システムは、請求項３において、前記ワイヤセンサ
の少なくとも一部のワイヤセンサが断線監視回路を備
え、且つ断線監視回路を備えた前記の一部のワイヤセン
サは、その各々が、センサ出力回路と前記断線監視回路
により２つの通信先を構成することを特徴とする。

【０００５】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て説明する。図１は、本発明による多点監視・制御シス
テムの全体的構成を概略的に示す図である。図１におい
て、本発明により通信先１０はＭグループ（Ｍは１以上
の整数）に分割（グループ化）してある。第１の通信先
グループの通信先Ｓ１，１、Ｓ１，２、．．．、Ｓ１，
Ｎ_１はデータ集種ユニット２０−１に接続され、第２の
通信先グループの通信先Ｓ２，１、Ｓ２，２、．．．、
Ｓ２，Ｎ_２はデータ集種ユニット２０−２に接続され、
第ｉの通信先グループの通信先Ｓｉ，１、Ｓｉ，
２、．．．、Ｓｉ，ｊ、．．．、Ｓｉ，Ｎ_ｉは、データ
集種ユニット２０−ｉに接続され、第Ｍの通信先グルー
プの通信先ＳＭ，１、ＳＭ，２、．．．、ＳＭ，Ｎ
_Ｍは、データ集種ユニット２０−Ｍに接続される。ここ
で、Ｎ１、Ｎ２、．．．、Ｎｉ、、．．．、ＮＭは、通
信先グループ１、２、．．．、ｉ、．．．、Ｍにおける
通信先の数であり、ｉは１≦ｉ≦Ｍなる整数であり、ｊ
は１≦ｊ≦Ｎｉなる整数である。グループ化の方法とし
ては、例えば、大きなビルの内部に点在する煙センサを
集中監視するような場合、階ごとにグループ化すると言
うように、空間的配置の類似性に基づいて分割する方法
が考えられる。また、通信先１０の集合に特に分類に値
する基準がない場合は、単純にデータ収集ユニット２０
で処理できる通信先の数ごとにグループ化しても良い。
何れにしても、通信先グループの通信先１０の数はグル
ープ毎に異なっても良い。例えば、何らかの基準でグル
ープ化した結果、あるグループが多のグループよりかな
り大きくなった場合、そのグループに必要な数だけデー
タ収集ユニット２０を割り当てれば良い。このように、
サブグループも含むグループ化を行った場合でも、後述
の制御ユニット４０のソフトウェアで都合よく管理する
ことができる。各通信先１０は、例えば、センサの出力
のようなデータ出力点、出力要素またはアクチュエータ
の入力点、または入出力点の何れでも良い。さらに、図
示した１つの通信先１０が必ずしも１個の要素である必
要はなく、センサやアクチュエータを含む１つの装置の
入力点、出力点または入出力点であってもよい。

【０００６】図１の多点監視・制御システムは、前述の
Ｎ１＋Ｎ２＋．．．＋ＮＭ個の通信先１０とＭのデータ
収集ユニット２０のほか、多点監視制御装置３０からな
る。多点監視制御装置３０は、さらにデータ収集ユニッ
ト２０を制御する制御ユニット４０、およびデータ収集
ユニット２０と制御ユニット４０に電源線Ｌｐを介して
電気を供給する電源５０からなる。制御ユニット４０
は、マイクロプロセッサ（図示せず）を用いた専用のハ
ードウェアでも、マイクロ・コンピュータに専用の基板
（図示せず）を追加したものでも良い。また、制御ユニ
ット４０は、当分野で周知のように、利用者が操作する
ためのスイッチ類、キーボード、マウスなどの種々の入
力手段（図示せず）および操作を支援するための情報や
監視データなどを表示するための表示手段（図示せず）
を当然備える。

【０００７】図２は、図１の第ｉ通信先グループの通信
先がＴＴＬ（トランジスタ・トランジスタ論理）レベル
である場合の第ｉ通信先グループのデータ収集ユニット
２０−ｉの構造を概念的に示す略ブロック図である。こ
こでは、回路を簡単にするため、各通信先１０は、ＴＴ
Ｌレベルである、即ち、単一ビットのデジタル信号であ
ると仮定する。各データ収集ユニット２０は、バウンダ
リスキャンテスト機能を有する、例えば、ＣＰＬＤ(Com
plex Programmable Logic Device)などのＡＳＩＣ（ア
プリケーション特化型集積回路）２００を１つ以上（Ｋ
個とする）実装したものである。バウンダリスキャンテ
ストは、ＩＥＥＥ規格1149.1（１９９０年制定）に準拠
したＡＳＩＣの検査方法であり、同出願人による日本国
特許第３０４１３４０号および第３００５６２２号にも
説明があるので、その詳細はここでは省略する。なお、
図２において、各通信先１０に通じる接地（ＧＮＤ）線
は省略してある。図２のデータ収集ユニット２０に用い
たＡＳＩＣ２００のアーキテクチャの概要を図３に示
す。ＡＳＩＣ２００を通常の用途で用いる場合は、その
用途に求められる機能を利用者が内部ロジック２０２に
書き込んで使用する。しかし、本発明の多点監視制御シ
ステムのデータ収集ユニット２０に用いる場合は、基本
的にはＡＳＩＣ２００のバウンダリスキャンテスト機能
を利用することが目的なので、内部ロジック２０２は使
用しない。また、図３において、内部ロジック２０２の
各端子はバウンダリスキャンレジスタ２０４を介してＩ
Ｃ２００のピンＰ１〜Ｐ８に接続される。図２および３
において、ＴＤＩはシリアルデータ入力端子、ＴＤＯは
シリアルデータ出力端子、ＴＭＳはＴＡＰ（テストアク
セスポート）コントローラ２０６の動作状態を制御する
テストモードセレクト端子、ＴＣＫはクロック信号の入
力端子、ＴＲＳはリセット信号入力端子、Ｖｃｃは電源
端子、ＧＮＤは接地端子をそれぞれ表す。

【０００８】ＩＣ２００のバウンダリスキャンレジスタ
２０４の各ビット（またはセル）は、出力ポート、入力
ポートおよび入出力ポートの何れにも設定できるように
なっているので、本発明の多点監視制御システムの設計
者は、まず、システムの用途に応じて、出力セル、入力
セルおよび入出力セルの数が所望の割合になるようにバ
ウンダリスキャンレジスタ２０４のセルＰ１〜Ｐ８（ピ
ンＰ１〜Ｐ８の各々に対応するバウンダリスキャンレジ
スタのセルも対応するピンの符号で表す）を設定する。
勿論、この場合、３種類のセルの割合は全く任意に決定
することができる。例えば、監視のみを行うシステムな
らば、全てのセルを入力ポートにすればよい。データ収
集ユニット２０−ｉのＫ（≧１）個のＩＣ２００は、隣
接するＩＣの前段のシリアルデータ出力端子ＴＤＯと後
段のシリアルデータ入力端子ＴＤＩを互いに接続するこ
とにより、データ線を介して直列に接続されている。Ｋ
個のＩＣの８Ｋ個のデータピン（Ｋ組のＰ１〜Ｐ８）の
うちＮｉ個が通信先Ｓｉ，１、Ｓｉ，２、．．．、Ｓ
ｉ，Ｎ_ｉに接続されている。なお、前述のようにグルー
プ毎に通信先の個数が異なる場合がある。このような場
合、通信先の数が最大のグループに対応できるデータ収
集ユニット２０基板を全てのグループに使用し、要素数
の少ないグループのデータ収集ユニット２０には不要な
ＩＣを実装せず、実装しないＩＣのパタンの最も外側の
ＴＤＩ端子とＴＤＯ端子のとを電気的に接続することに
より、効率的に実施することができる。

【０００９】再び、図１および２において、制御ユニッ
ト４０のシリアルデータ出力端子ＤＯから出たデータ線
はデータ収集ユニット２０−１の初段のＴＤＩ端子に接
続され、データ収集ユニット２０−１の最終段のＴＤＯ
端子は次のグループのデータ収集ユニット２０−２の初
段のＴＤＩ端子に接続されるという具合に直列にデータ
収集ユニット２０が接続されて行き、データ収集ユニッ
ト２０−Ｍの最終段のＴＤＯは制御ユニット４０のシリ
アルデータ入力端子ＤＩに接続される。制御ユニット４
０のデータ出力端子ＤＯからデータ収集ユニット２０の
ＴＤＩ端子およびＴＤＯ端子を経て制御ユニット４０の
データ入力端子ＤＩに至る経路を「データ経路」と称す
る。一方、制御ユニット４０のクロック出力端子ＣＫ
は、各データ収集ユニット２０の各ＩＣ２００のクロッ
ク入力端子ＴＣＫに接続され、制御ユニット４０のモー
ド選択信号出力端子ＭＳは、各データ収集ユニット２０
の各ＩＣ２００のＴＭＳ端子に接続される。なお、制御
ユニット４０とデータ収集ユニット２０との距離、およ
びデータ収集ユニット２０どうしの距離に応じて、クロ
ック信号ＣＫおよびデータ経路を通るデータ信号など
は、図１および２には示していないが、ＴＴＬレベルで
はなく、適切な仕様のインタフェースを介して送受信す
る必要がある。例えば、ＲＳ−４２２で送受信した場
合、制御ユニット４０と第１の通信先グループのデータ
収集ユニット２０−１との最大距離は約１．２Ｋｍであ
り、隣接するデータ収集ユニット２０間の最大距離も約
１．２Ｋｍである。

【００１０】電源ユニット５０の電源ＶｃｃとＧＮＤ
は、それぞれの線（図１では、一括してＬｐで示した）
で各データ収集ユニット２０に接続され、各ユニット２
０内で各ＩＣ２００およびその他の必要な部位（図示せ
ず）に供給される。以上のような構成において、実際に
監視または制御を行う場合の動作を図４〜７を参照して
説明する。ここで、説明を分かり易くするために、
（１）各グループ内の通信先の数が等しくＮ個であり、
（２）各データ収集ユニット２０−ｉの実装されている
ＩＣ２００の個数も等しくＫ個であり、（３）Ｎは８Ｋ
より小さいものと仮定する。このような条件の下で、前
述のように、各データ収集ユニット２０−ｉで用いられ
るＩＣ２００のバウンダリスキャンレジスタＰ１〜Ｐ８
（２０４）の各々に入力、出力および入出力の何れかの
指定を行なった場合、この多点監視制御システム全体で
８×Ｋ×Ｍビット分のバウンダリスキャンレジスタ２０
４が存在することになるので、前述のデータ経路を１ビ
ットずつ８×Ｋ×Ｍ回シフトすることにより、８×Ｋ×
Ｍ個のデータ点に対して監視、制御および監視制御の何
れかが可能である。しかし、実際には、例えば図２に示
した要領でＮ×Ｍの通信先Ｓ１，１、Ｓ１，
２、．．．、ＳＭ，Ｎをデータ収集ユニット２０−１〜
２０−Ｍに接続した場合、８×Ｋ×Ｍ−Ｎ×Ｍビットの
データ点（即ち、レジスタセル）は使用しないことにな
る。したがって、実際の動作上の便宜を考え、システム
全体で利用しうるバウンダリスキャンレジスタ２０４の
８×Ｋ×Ｍビットの各セルに対して、入力、出力、入出
力を区別するためのセル種別、および接続されている通
信先Si,jのＩＤなどを対応させた表を用意することが好
ましい。このような表の構造の一例を図４に示す。８×
Ｋ×ＭビットのセルのＩＤとしては、例えば、グループ
ＩＤ（または番号）、グループ内のＩＣ番号、各ＩＣの
データピン番号などを組み合わせて表わすことができ
る。その他、レジスタのセルが識別できれば、セルＩＤ
の表現方法は任意である。また、通信先１０が接続され
ていない通信先ＩＤの欄には、そのセルが未使用である
こと分かる所定のコードを記録するようにする。また、
この表には、セル種別や通信先ＩＤの他に、接続されて
いる通信先に関する種々の情報を記録するためのフィー
ルドを必要に応じて設けても良い。

【００１１】図５は、制御ユニット４０が監視点または
監視・制御点である通信先１０からデータを入力する場
合に実行する動作を示すフローチャートである。図７
は、テストモード選択信号ＴＭＳの入力シーケンスに応
じて標準のＴＡＰコントローラ２０６のとり得る１６の
状態を示すＴＡＰコントローラの状態遷移図である。即
ち、図７は、クロックＴＣＫの立ち上がり時に、ＴＡＰ
コントローラ２０６のその時の状態からその立ち上がり
時のＴＭＳ端子の値が付けられた矢印に沿って状態が変
化することを表す。図５および７において、制御ユニッ
ト４０が、通信先１０からデータを取り込む場合、ま
ず、ステップ４００において、システム内の全てのＩＣ
２００の命令レジスタ２０８にSample/Preload命令を設
定した後、ＴＡＰコントローラ２０６を図７のCapture
−DR状態にすることにより、通信先１０のデータをバウ
ンダリスキャンレジスタ２０４に取り込む。制御ユニッ
ト４０は、ステップ４０２において、ＴＡＰコントロー
ラ２０６をShift−DR状態にする度にシリアルデータ入
力端子ＤＩからデータを１ビット読み込む動作を８×Ｋ
×Ｍ回繰り返すことにより、バウンダリスキャンレジス
タ２０４のデータを全て取り込んで記憶する。さらに、
制御ユニット４０は、ステップ４０４において、記憶し
た８×Ｋ×Ｍビットのデータのうち、図４の表からセル
種別が入力または入出力であるセルに対応するデータを
そのセルの通信先ＩＤで特定される通信先１０のデータ
として採用する。以上により、制御ユニット４０は、通
信先１０のデータを取り込むことができる。このよう
に、監視点および監視・制御点からデータを得た後の制
御ユニット４０の処理は、そのシステムにより、千差万
別であるが、制御ユニット４０は、入手したデータを利
用する何らかの処理を行う。このときの処理としては、
検出結果の表示、警報の発生、その他の出力要素の制
御、およびこれらの組合せなどが考えられる。以上のよ
うな一連の監視または監視制御動作は、一定の周期で自
動的に行ったり、利用者が行うコマンドの入力やスイッ
チの操作に応じて行ったりする。

【００１２】図６は、制御ユニット４０が制御点または
監視・制御点である通信先１０にデータを出力する場合
に実行する動作を示すフローチャートである。通信先１
０にデータを出力する場合、制御ユニット４０は、まず
ステップ４１０において、全て０または１の８×Ｋ×Ｍ
ビット長の出力用の初期データを用意する。ステップ４
１２において、バウンダリスキャンレジスタのセルのう
ち、セル種別が出力または入出力であるセルに接続され
ている通信先１０に出力するべきデータを出力初期デー
タの対応するビット位置に上書きしていくことにより、
出力データを用意する。次に、制御ユニット４０は、ス
テップ４１４において、SAMPLE/PRELOAD命令を実行した
後、用意した出力データを制御ユニット４０のシリアル
データ出力端子ＤＯから１ビット出力する度にＴＡＰコ
ントローラ２０６をShift−DR状態にする動作を８×Ｋ
×Ｍ回繰り返すことにより、８×Ｋ×Ｍビットの出力デ
ータをバウンダリスキャンレジスタ２０４に設定する。
最後にステップ４１６において、ＴＡＰコントローラ２
０６をUpdate−DR状態にして、バウンダリスキャンレジ
スタ２０４の内容を通信先１０に出力する。このように
して、通信先１０にデータを出力することができる。以
上述べたように、制御ユニット４０は、監視点または監
視・制御点である多数の通信先１０からデータを入力す
ることにより、それらの通信先１０を監視することがで
き、さらに制御点または監視・制御点である多数の通信
先１０にデータを出力することにより、それらの通信先
１０を制御することができる。

【００１３】<<さらに好ましい実施例>>図５および６の
説明においては、ＴＡＰコントローラ２０６のとり得る
１６の状態のうち動作に必要な状態のみを述べた。つま
り、市販のＣＰＬＤでサポートされている標準的なバウ
ンダリスキャンテストシステムのＴＡＰコントローラ２
０６には、単に本発明を実施する上では不要な状態が含
まれる。したがって、ＴＡＰコントローラ２０６をリセ
ットの状態から必要とする状態に遷移させるまでに、不
要な状態を経るため余分なクロックサイクルが必要とな
り、処理速度の観点から非効率的である。したがって、
ＣＰＬＤに本来内蔵されているバウンダリスキャンテス
ト回路は使用せず、本発明の多点監視システムまたは多
点監視制御システムを実現するのに必要な状態のみを備
えたＴＡＰコントローラ、最小必要限度の命令、および
ＣＰＬＤの資源が許す限り多くのセルからなるバウンダ
リスキャンレジスタを含むバウンダリスキャンテスト機
能をＣＰＬＤに書き込んで使用する方が好ましい。以上
の説明では、通信先１０はＴＴＬレベルであると仮定し
たが、これに限定されない。通信先１０は、例えば、マ
イクロスイッチやワイヤセンサのようなＯＮ／ＯＦＦセ
ンサでも良い。図８（Ａ）は、通信先がＯＮ／ＯＦＦセ
ンサ１０ａである場合のデータ収集ユニット２０ａ側の
インタフェースの一例を示す図である。図８（Ａ）にお
いて、ＯＮ／ＯＦＦセンサ１０ａの一方の接点出力線１
１をデータ収集ユニット２０ａ側でプルアップ抵抗２２
を介してＶｃｃに接続し、他方の接点出力線１２をデー
タ収集ユニット２０ａ側で接地（即ち、ＧＮＤ接続）す
る。また、図８（Ｂ）は、通信先がＯＮ／ＯＦＦセンサ
１０ｂであり、且つＯＮ／ＯＦＦセンサ１０ｂの一方の
接点出力線１２を二重化し、その一本を切断監視線１３
として使用する場合のデータ収集ユニット２０ｂ側のイ
ンタフェースの一例を示す図である。図８（Ｂ）におい
て、ＯＮ／ＯＦＦセンサ１０ｂの接点出力線１１および
１２は、データ収集ユニット２０ｂ側で図７Ａと同じイ
ンタフェース構造を有するが、切断監視線１３は、デー
タ収集ユニット２０ｂ側で、接点出力線１１と同様にプ
ルアップ抵抗２２を介してＶｃｃに接続される。図８
（Ｂ）の例では、１つのＯＮ／ＯＦＦセンサ回路１０ｂ
が、線１１と１２の組および線１２と１３の組により２
つの通信先ＤおよびＣを構成する。

【００１４】図９に図８（Ａ）のワイヤセンサ回路１０
ａと図８（Ｂ）のワイヤセンサ回路１０ｂとが混在する
場合のデータ収集ユニット２０ｃの回路例を示す。図９
に図示した範囲に於いては、通信先Ｓｉ，３とＳｉ，４
のみが１つのＯＮ／ＯＦＦセンサ回路１０ｂによって構
成されているが、その他の通信先は図８（Ａ）のＯＮ／
ＯＦＦセンサ回路１０ａからなる。さらに、図３の内部
ロジック２０２として、アナログ／デジタル変換器また
はデジタル／アナログ変換器を内蔵するすることができ
れば、通信先１０としてアナログ出力を有するセンサ、
またはアナログ入力を有するアクチュエータまたは出力
要素などを用いることも可能である。図１、２および９
の例では、データ収集ユニット２０の電源も多点監視制
御装置３０の電源ユニット５０から供給したが、データ
収集ユニット２０が、例えば屋内のように容易に電源を
確保できる場所に接地される場合は、各データ収集ユニ
ット２０が電源回路を備えても良い。この場合は、多点
監視制御装置３０から電源を供給する必要がないので、
電源線を２本減らすことができる。電源ユニット５０は
制御ユニット４０に内蔵しても良い。本発明は、多数の
センサを用いた監視装置、多数のセンサのほか出力要素
またはアクチュエータを含む監視・制御装置に応用可能
である。以上は、本発明の説明のために実施例を掲げた
に過ぎない。したがって、本発明の技術思想または原理
に沿って上述の実施例に種々の変更、修正または追加を
行うことは、当業者には容易である。故に、本発明は、
以上述べた実施の形態に捕らわれることなく、ただ特許
請求の範囲の記載に従って解釈するべきである。

【００１５】

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、監
視点、制御点、監視・制御点からなる多数の通信先を少
ない信号線（電源線を含めて６本）で効率的に監視、制
御を行うことができる。また、バウンダリスキャンテス
ト法でサポートされている機能を利用してシリアル転送
を行うので、ハードウェアおよびソフトウェアの設計が
比較的容易である。信号線の本数が少なくて済むので、
配線に起因する断線などの事故を減らすことができる。
接続可能な通信先の数を多くとれるので、回路の増設・
併設が容易なため、ケーブル断線監視回路などのシステ
ムの動作を保証する回路を容易に設けることができる。
一度に多くの通信先の状況を総合的に比較検討した結果
に基づいて制御できるのでシステムの信頼性を向上させ
ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の多点監視・制御システムの概要を示す
略ブロック図である

【図２】図１の第ｉ通信先グループの通信先がＴＴＬレ
ベルである場合の第ｉ通信先グループのデータ収集ユニ
ット２０−ｉの構造を概念的に示す略ブロック図であ
る。

【図３】図２のデータ収集ユニット２０に用いられ、バ
ウンダリスキャンテスト機能を有するＩＣ２００の構造
を示す図である。

【図４】図１および２に示した多点監視・制御システム
で利用可能なバウンダリスキャンレジスタの各ビットま
たはセルに関して、セルの種別、通信先ＩＤなどを記録
した表の構造例を示す図である。

【図５】制御ユニット４０が監視点または監視・制御点
である通信先１０からデータを入力する場合に実行する
動作を示すフローチャートである。

【図６】制御ユニット４０が制御点または監視・制御点
である通信先１０にデータを出力する場合に実行する動
作を示すフローチャートである。

【図７】図３に示した標準のＴＡＰコントローラ２０６
のとり得る１６の状態を示す状態遷移図である。

【図８】（Ａ）は、通信先がＯＮ／ＯＦＦセンサ１０ａ
である場合のデータ収集ユニット２０ａ側のインタフェ
ースの一例を示す図、（Ｂ）は、通信先がＯＮ／ＯＦＦ
センサ１０ｂであり、且つＯＮ／ＯＦＦセンサ１０ｂの
一方の接点出力線を二重化し、その一本を切断監視線と
して使用する場合のデータ収集ユニット２０ｂ側のイン
タフェースの一例を示す図である。

【図９】図８（Ａ）のワイヤセンサ回路１０ａと図８
（Ｂ）のワイヤセンサ回路１０ｂとが混在する場合のデ
ータ収集ユニットの回路例を示す。

【符号の説明】

１０ 通信先、１０ａ、１０ｂ ＯＮ／ＯＦＦセンサ、
１１、１２ 接点出力線、１３ 切断監視線２０ デー
タ収集ユニット、２２ プルアップ抵抗、３０多点監視
制御装置、４０ 制御ユニット、５０ 電源、２００
ＡＳＩＣ（アプリケーション特化型集積回路）、２０２
内部ロジック、２０４ バウンダリスキャンレジス
タ、２０６ ＴＡＰコントローラ、２０８ 命令レジス
タ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2G032 AB19 AC10 AG01 AG07 AH04 5B048 AA04 CC18 5H223 AA15 BB08 CC08 DD03 DD07 DD09 EE06

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 監視点、制御点および監視・制御点の少
   なくとも何れかの点からなる多数の通信先を監視、制御
   またはその両方を行うシステムであり、該システムは、 前記多数の通信先を少なくとも１つのグループに分割
   し、分割されたグループにそれぞれ関係付けて用意され
   且つバウンダリスキャンテストをサポートするＩＣから
   なるデータ収集手段を備え、各グループに属する通信先
   の各々が、そのグループに関係付けられた前記データ収
   集手段のバウンダリスキャンレジスタに接続されたＩＣ
   ピンにそれぞれ接続され、この時、通信先が監視点なら
   前記バウンダリスキャンレジスタの入力セルに、制御点
   なら出力セルに、監視・制御点なら入出力セルに接続さ
   れ、 前記システムは、前記データ収集手段をバウンダリスキ
   ャンテスト法に基づいて制御する制御手段をさらに備
   え、 前記制御手段は、前記監視点と前記監視・制御点から前
   記バウンダリスキャンレジスタを介してデータを取り込
   む手段と、前記制御点と前記前記監視・制御点に前記バ
   ウンダリスキャンレジスタを介してデータを出力する手
   段とを含むことを特徴とする多点監視・制御システム。
2. 【請求項２】 前記ＩＣは、利用者がプログラム可能な
   ＩＣであり、前記ＩＣに内蔵されたバウンダリスキャン
   テスト回路を使用せず、 前記多点監視・制御システムを実現するのに必要な状態
   のみを備えたＴＡＰコントローラ、最小必要限度の命
   令、および許される限り多くのセルからなるバウンダリ
   スキャンレジスタを含むバウンダリスキャンテスト機能
   を書き込んでプログラムしたＩＣであることを特徴とす
   る請求項１記載の多点監視・制御システム。
3. 【請求項３】 前記通信先は、すべてワイヤセンサであ
   り、前記バウンダリスキャンレジスタのセルはすべて入
   力セルであることを特徴とする請求項１記載の多点監視
   ・制御システム。
4. 【請求項４】 前記ワイヤセンサの少なくとも一部のワ
   イヤセンサが断線監視回路を備え、且つ前記断線監視回
   路を備えた前記の一部のワイヤセンサは、その各々が、
   センサ出力回路と前記断線監視回路により２つの通信先
   を構成することを特徴とする請求項３記載の多点監視・
   制御システム。