JP2002181664A - オートレンズメータ - Google Patents
オートレンズメータInfo
- Publication number
- JP2002181664A JP2002181664A JP2000404279A JP2000404279A JP2002181664A JP 2002181664 A JP2002181664 A JP 2002181664A JP 2000404279 A JP2000404279 A JP 2000404279A JP 2000404279 A JP2000404279 A JP 2000404279A JP 2002181664 A JP2002181664 A JP 2002181664A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lens
- light
- light receiving
- receiving element
- light beam
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 測定するレンズにより測定光束を切換え、レ
ンズの測定精度を向上したレンズメータを提供する。 【解決手段】 被検光学系を透過した光束を回転チョッ
パーで断続して得られた断続光を受光素子で検出し、か
かる断続光の検出結果に基づいて、該被検光学系の屈折
力を測定するオートレンズメータにおいて、前記受光素
子の受光点を一つの円周上に対し少なくとも３点の多重
円状に配置し、受光点を選択することにより、測定光束
の光束径を切り換えることができるようにした。
ンズの測定精度を向上したレンズメータを提供する。 【解決手段】 被検光学系を透過した光束を回転チョッ
パーで断続して得られた断続光を受光素子で検出し、か
かる断続光の検出結果に基づいて、該被検光学系の屈折
力を測定するオートレンズメータにおいて、前記受光素
子の受光点を一つの円周上に対し少なくとも３点の多重
円状に配置し、受光点を選択することにより、測定光束
の光束径を切り換えることができるようにした。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光学系における屈折力
等の光学特性を測定するレンズメータに関するものであ
る。
等の光学特性を測定するレンズメータに関するものであ
る。
【０００２】
【従来技術】従来から、特開昭６１−２８０５４４号公
報や特開平５−２３１９８５号公報等に記載されている
ように、レンズ受台に被検レンズを載置し、この被検レ
ンズを透過した測定光束を光電変更型の受光手段にて検
出することで、被検レンズの球面度数、円柱度数および
軸角度等の光学特性を測定するようにしたレンズメータ
が知られている。
報や特開平５−２３１９８５号公報等に記載されている
ように、レンズ受台に被検レンズを載置し、この被検レ
ンズを透過した測定光束を光電変更型の受光手段にて検
出することで、被検レンズの球面度数、円柱度数および
軸角度等の光学特性を測定するようにしたレンズメータ
が知られている。
【０００３】しかし、これらの方式はかかる受光素子の
受光点の配置により測定光束の光束径が決まり、従来、
受光素子における受光点は一円周上に配置されていたた
め測定光束は一定の大きさに固定され、光学有効径の大
きな眼鏡レンズと光学有効径の小さなコンタクトレンズ
を同じ測定光束で測定していた。そのため、光学有効径
の小さなコンタクトレンズの測定のため測定光束を小さ
くせざる得なく結果的に眼鏡レンズの測定精度を落とす
こととなっていた。
受光点の配置により測定光束の光束径が決まり、従来、
受光素子における受光点は一円周上に配置されていたた
め測定光束は一定の大きさに固定され、光学有効径の大
きな眼鏡レンズと光学有効径の小さなコンタクトレンズ
を同じ測定光束で測定していた。そのため、光学有効径
の小さなコンタクトレンズの測定のため測定光束を小さ
くせざる得なく結果的に眼鏡レンズの測定精度を落とす
こととなっていた。
【０００４】また、この解決策として光源を２重円状に
配置するという方法も出されているが、光学系が複雑と
なり、高価なものとなってしまうとともに調整も複雑と
なる。
配置するという方法も出されているが、光学系が複雑と
なり、高価なものとなってしまうとともに調整も複雑と
なる。
【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明は、測
定するレンズにより測定光束を切換え可能なレンズメー
タを単純な構造で安価に提供することを目的とする。
定するレンズにより測定光束を切換え可能なレンズメー
タを単純な構造で安価に提供することを目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】そして、このような課題
を解決するために、本発明の特徴とするところは、前記
受光素子の受光点を一つの円周上に対し少なくとも３点
の多重円状に配置し、受光点を選択することにより、測
定光束の光束径を切り換えることができるようにしたこ
とである。
を解決するために、本発明の特徴とするところは、前記
受光素子の受光点を一つの円周上に対し少なくとも３点
の多重円状に配置し、受光点を選択することにより、測
定光束の光束径を切り換えることができるようにしたこ
とである。
【０００６】また、変更は受光素子の受光点の配置のみ
であるため、光学系は従来のままとなり、単純な光学系
でしかも低コストで実現できるようにしたことである。
であるため、光学系は従来のままとなり、単純な光学系
でしかも低コストで実現できるようにしたことである。
【０００７】
【作用】本発明におけるレンズメータは、測定するレン
ズに合わせて測定光束が切換え可能なことから、測定す
るレンズに適切な測定光束で測定を行うことができるこ
とから、レンズの測定精度の向上ができる。
ズに合わせて測定光束が切換え可能なことから、測定す
るレンズに適切な測定光束で測定を行うことができるこ
とから、レンズの測定精度の向上ができる。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、本発明を更に具体的に明ら
かにするために、本発明の実施形態について、図面を参
照しつつ、詳細に説明する。
かにするために、本発明の実施形態について、図面を参
照しつつ、詳細に説明する。
【０００９】まず、図１には、本発明の一実施形態とし
ての測定光学系の概略構成が示されている。かかる測定
光学系は、光源１０によって測定光束１２が発せられ、
略一方向に集光されて投射されるようになっている。そ
して、この光源１０による測定光束１２の投射先には、
投射光学系としてのコリメートレンズ１６が、測定光束
１２の光軸１４に対して同軸的に配置されており、この
コリメートレンズ１６を透過することによって、測定光
束１２が略平行光線とされるようになっている。更に、
コリメータレンズ１６の先には、被検レンズ１８がレン
ズ受５で支持され、測定光束１２の光軸１４と略同軸的
に配置され得るようになっている。そして、測定光束１
２が、略平行光線とされた後、被検レンズ１８に透過す
るようになっている。また、被検レンズ１８を透過した
測定光束１２の光軸上には集光レンズ２０と結像レンズ
２２が、互いに離間して配置されており、更に、結像レ
ンズ２２の先には、測定光束１２の光路上で結像レンズ
２２から離間して受光素子２４が配置されている。そし
て、被検レンズ１８を透過した測定光束１２が集光レン
ズ２０で集光された後、結像レンズ２２により、受光素
子２４に導かれるようになっている。また、集光レンズ
２０と結像レンズ２２によって、受光素子２４の受光面
が被検レンズ１８に対して共役とされており、被検レン
ズの一定位置に入射された測定光が、被検レンズ１８の
屈折力等に関わらず、受光素子２４の受光面における一
定位置に導かれるようになっている。
ての測定光学系の概略構成が示されている。かかる測定
光学系は、光源１０によって測定光束１２が発せられ、
略一方向に集光されて投射されるようになっている。そ
して、この光源１０による測定光束１２の投射先には、
投射光学系としてのコリメートレンズ１６が、測定光束
１２の光軸１４に対して同軸的に配置されており、この
コリメートレンズ１６を透過することによって、測定光
束１２が略平行光線とされるようになっている。更に、
コリメータレンズ１６の先には、被検レンズ１８がレン
ズ受５で支持され、測定光束１２の光軸１４と略同軸的
に配置され得るようになっている。そして、測定光束１
２が、略平行光線とされた後、被検レンズ１８に透過す
るようになっている。また、被検レンズ１８を透過した
測定光束１２の光軸上には集光レンズ２０と結像レンズ
２２が、互いに離間して配置されており、更に、結像レ
ンズ２２の先には、測定光束１２の光路上で結像レンズ
２２から離間して受光素子２４が配置されている。そし
て、被検レンズ１８を透過した測定光束１２が集光レン
ズ２０で集光された後、結像レンズ２２により、受光素
子２４に導かれるようになっている。また、集光レンズ
２０と結像レンズ２２によって、受光素子２４の受光面
が被検レンズ１８に対して共役とされており、被検レン
ズの一定位置に入射された測定光が、被検レンズ１８の
屈折力等に関わらず、受光素子２４の受光面における一
定位置に導かれるようになっている。
【００１３】要するに、本実施例の測定光学系において
は、被検レンズ１８を挟んで光軸方向両面で対抗位置す
るようにして、光源１０と受光素子２４が配設されてお
り、光源１０にて発せられた測定光束１２がコリメータ
レンズ１６を経て被検レンズ１８に投射され、被検レン
ズ１８を透過した後、集光レンズ２０と結像レンズ２２
を経て、受光素子に導かれ、光電変換素子２６ａ〜ｈ
（受光点）によって、電気信号として検出されるように
なっているのである。
は、被検レンズ１８を挟んで光軸方向両面で対抗位置す
るようにして、光源１０と受光素子２４が配設されてお
り、光源１０にて発せられた測定光束１２がコリメータ
レンズ１６を経て被検レンズ１８に投射され、被検レン
ズ１８を透過した後、集光レンズ２０と結像レンズ２２
を経て、受光素子に導かれ、光電変換素子２６ａ〜ｈ
（受光点）によって、電気信号として検出されるように
なっているのである。
【００１４】なお、本実施形態では、図２に示されてい
る如く、受光素子２４の受光面上において、２重円状に
しかも同心円状にそれぞれの円周上に４つづつ光電変換
素子（受光点）２６ａ、２６ｂ、２６ｃ、２６ｄ、２６
ｅ、２６ｆ、２６ｇ、２６ｈが位置するように、合計８
つの光電変換素子が配設されている。そして、かかる受
光素子２４は、８つの光電変換素子２６ａ〜ｈから成る
２重の同心円の中心が、測定光束１２の光軸１４上に位
置するようにして、受光面が光軸１４に対して垂直に配
されており、各光電変換素子２６ａ、２６ｂ、２６ｃ、
２６ｄ、２６ｅ、２６ｆ、２６ｇ、２６ｈの位置は、受
光面における光検知点とされている。
る如く、受光素子２４の受光面上において、２重円状に
しかも同心円状にそれぞれの円周上に４つづつ光電変換
素子（受光点）２６ａ、２６ｂ、２６ｃ、２６ｄ、２６
ｅ、２６ｆ、２６ｇ、２６ｈが位置するように、合計８
つの光電変換素子が配設されている。そして、かかる受
光素子２４は、８つの光電変換素子２６ａ〜ｈから成る
２重の同心円の中心が、測定光束１２の光軸１４上に位
置するようにして、受光面が光軸１４に対して垂直に配
されており、各光電変換素子２６ａ、２６ｂ、２６ｃ、
２６ｄ、２６ｅ、２６ｆ、２６ｇ、２６ｈの位置は、受
光面における光検知点とされている。
【００１５】さらに、測定光束１２の光路上には、集光
レンズ２０と結像レンズ２２の間に位置して、回転チョ
ッパとしての円形平板形状を有する回転板３２が、光路
に対して垂直な方向に配設されている。この回転板３２
は、駆動モータ２８によって、測定光束１２の光軸１４
に対して平行に偏倚した回転軸３０の回りに回転駆動さ
れるようになっている。また、かかる回転板３２は、回
転軸３０の回りの回転運動に伴って、測定光束１２を遮
断し得るエッジ部を有しており、回転軸３０の回りの回
転によって測定光束１２、ひいては受光素子２４への入
射光が断続されるようになっている。
レンズ２０と結像レンズ２２の間に位置して、回転チョ
ッパとしての円形平板形状を有する回転板３２が、光路
に対して垂直な方向に配設されている。この回転板３２
は、駆動モータ２８によって、測定光束１２の光軸１４
に対して平行に偏倚した回転軸３０の回りに回転駆動さ
れるようになっている。また、かかる回転板３２は、回
転軸３０の回りの回転運動に伴って、測定光束１２を遮
断し得るエッジ部を有しており、回転軸３０の回りの回
転によって測定光束１２、ひいては受光素子２４への入
射光が断続されるようになっている。
【００１６】特に、本実施形態では、図３に示される如
く、円板形状の回転板３２に対して、それぞれ、光路と
交差する位置において、略扇形状の窓部３４が、周方向
に互いに９０°ずつ隔たって形成されている。また、こ
れら窓部３４の周方向両側エッジ部３６、３８は、何れ
も数学的に既知の形状とされており、特に本実施形態で
は、何れのエッジ部３６、３８も、測定光束１２の光軸
１４との交差点の軌跡としての一円周４０に対する交差
角度：α、βが、４５°となるように設計されている。
更にまた、回転板３２の外周部には、エッジ部３６、３
８の周方向の基準位置を与えるためのスリット４２ａ、
４２ｂが形成されている。そして、本実施形態では、か
かる回転板３２が、集光レンズ２０から受光素子２４側
に、集光レンズ２０の焦点距離だけ隔たった位置に配設
されている。
く、円板形状の回転板３２に対して、それぞれ、光路と
交差する位置において、略扇形状の窓部３４が、周方向
に互いに９０°ずつ隔たって形成されている。また、こ
れら窓部３４の周方向両側エッジ部３６、３８は、何れ
も数学的に既知の形状とされており、特に本実施形態で
は、何れのエッジ部３６、３８も、測定光束１２の光軸
１４との交差点の軌跡としての一円周４０に対する交差
角度：α、βが、４５°となるように設計されている。
更にまた、回転板３２の外周部には、エッジ部３６、３
８の周方向の基準位置を与えるためのスリット４２ａ、
４２ｂが形成されている。そして、本実施形態では、か
かる回転板３２が、集光レンズ２０から受光素子２４側
に、集光レンズ２０の焦点距離だけ隔たった位置に配設
されている。
【００１７】このような構造とされたレンズメータで
は、被検レンズが光路上に配設された場合に、この被検
レンズ１８において、共役となる受光素子２４の各受光
点２６ａ〜ｈに対応した各点を透過した光が、被検レン
ズ１８の有する屈折力特性（球面度数、円柱度数等の光
学特性）に応じて屈折することにより、回転板３２の配
設面上での位置が変位せしめられることとなる。それ
故、被検レンズ１８の各点を透過した光の、回転板３２
の配設面上における位置の変位量と変位方向を測定する
ことによって、それら値から、被検レンズ１８の光学特
性を求めることができるのである。そこにおいて、回転
板３２の配設面上における透過光の変位量と変位方向
は、回転板３２のエッジ部３６、３８による断続位置
を、その基準位置からの回転角度の変位量として、受光
素子２４の各光電変換素子２６ａ〜ｈで検出することに
よって知ることができることから、それら光電変換素子
２６ａ〜ｈの出力信号と、スリット４２ａ、４２ｂを利
用した光電スイッチ等の基準位置センサ４４によって得
られる回転板３２の基準位置信号を、マイクロコンピュ
ータ等で構成される演算処理装置４６に入力し、予め設
定されたプログラムに従って演算処理を行うことによ
り、目的とする被検レンズ１８における球面度数、円柱
度数等の光学特性を得ることができるのである。尚、か
かる光電変換素子２６ａ〜ｈの出力信号に基づいて被検
レンズ１８の球面度数、円柱度数等の光学特性を求める
ための演算方法は、特開平５−２３１９８５等に記載さ
れていることから、ここでは詳述を避ける。
は、被検レンズが光路上に配設された場合に、この被検
レンズ１８において、共役となる受光素子２４の各受光
点２６ａ〜ｈに対応した各点を透過した光が、被検レン
ズ１８の有する屈折力特性（球面度数、円柱度数等の光
学特性）に応じて屈折することにより、回転板３２の配
設面上での位置が変位せしめられることとなる。それ
故、被検レンズ１８の各点を透過した光の、回転板３２
の配設面上における位置の変位量と変位方向を測定する
ことによって、それら値から、被検レンズ１８の光学特
性を求めることができるのである。そこにおいて、回転
板３２の配設面上における透過光の変位量と変位方向
は、回転板３２のエッジ部３６、３８による断続位置
を、その基準位置からの回転角度の変位量として、受光
素子２４の各光電変換素子２６ａ〜ｈで検出することに
よって知ることができることから、それら光電変換素子
２６ａ〜ｈの出力信号と、スリット４２ａ、４２ｂを利
用した光電スイッチ等の基準位置センサ４４によって得
られる回転板３２の基準位置信号を、マイクロコンピュ
ータ等で構成される演算処理装置４６に入力し、予め設
定されたプログラムに従って演算処理を行うことによ
り、目的とする被検レンズ１８における球面度数、円柱
度数等の光学特性を得ることができるのである。尚、か
かる光電変換素子２６ａ〜ｈの出力信号に基づいて被検
レンズ１８の球面度数、円柱度数等の光学特性を求める
ための演算方法は、特開平５−２３１９８５等に記載さ
れていることから、ここでは詳述を避ける。
【００１８】ここにおいて、前述のように被検レンズ１
８の位置と受光素子２４とは共役の位置関係にあり、ま
た、受光素子２４の光電変換素子２６ａ〜ｈは２重円状
でしかも同心円状に配置されていることから、被検レン
ズ１８において、共役となる受光素子２４の各検知点２
６ａ〜ｈに対応した各点は、２重同心円を形成する。
８の位置と受光素子２４とは共役の位置関係にあり、ま
た、受光素子２４の光電変換素子２６ａ〜ｈは２重円状
でしかも同心円状に配置されていることから、被検レン
ズ１８において、共役となる受光素子２４の各検知点２
６ａ〜ｈに対応した各点は、２重同心円を形成する。
【００１９】ここで、被検レンズ１８が光学有効径の大
きい眼鏡レンズである場合は、外側の大きな円周上にあ
る４つの光電変換素子２６ａ〜ｄからの出力信号に基づ
いて該被検レンズの屈折力を求める。
きい眼鏡レンズである場合は、外側の大きな円周上にあ
る４つの光電変換素子２６ａ〜ｄからの出力信号に基づ
いて該被検レンズの屈折力を求める。
【００２０】また、被検レンズ１８が光学有効径の小さ
いコンタクトレンズである場合は、内側の小さな円周上
にある４つ光電変換素子２６ｅ〜ｈからの出力信号に基
づいて該被検レンズの屈折力を求める。
いコンタクトレンズである場合は、内側の小さな円周上
にある４つ光電変換素子２６ｅ〜ｈからの出力信号に基
づいて該被検レンズの屈折力を求める。
【００２１】すなわち、使用する光電変換素子を切換え
ることにより測定光束の光束径を切換えることができる
のである。使用する光電変換素子の切換えは演算処理装
置４６で行う。
ることにより測定光束の光束径を切換えることができる
のである。使用する光電変換素子の切換えは演算処理装
置４６で行う。
【００２２】上述の実施例は、光電変換素子を２重円状
に計８個配置したが、２重円以上の多重円状に配置する
ことにより、被検レンズに合わせていろいろな測定光束
径に切換えることが可能なレンズメータをも実現でき
る。
に計８個配置したが、２重円以上の多重円状に配置する
ことにより、被検レンズに合わせていろいろな測定光束
径に切換えることが可能なレンズメータをも実現でき
る。
【００２３】
【発明の効果】上述の説明から明らかなように、本発明
に従う構造とされたレンズメータにおいては、測定する
レンズに合わせて適切な測定光束径を選択できることか
ら、レンズの測定精度を向上できる。また、受光素子の
変更だけで構造的には従来の形のままで実現できること
から、構造が簡単でしかも安価で高精度のレンズメータ
の提供が可能となる。
に従う構造とされたレンズメータにおいては、測定する
レンズに合わせて適切な測定光束径を選択できることか
ら、レンズの測定精度を向上できる。また、受光素子の
変更だけで構造的には従来の形のままで実現できること
から、構造が簡単でしかも安価で高精度のレンズメータ
の提供が可能となる。
【図１】本発明の一実施形態としての測定光学系の概略
構成を示した図である。
構成を示した図である。
【図２】図１で示された測定光学系で採用されている受
光素子の正面図である。
光素子の正面図である。
【図３】図１で示された測定光学系で採用されている回
転板の正面図である。
転板の正面図である。
１０ 光源 １２ 測定光束 １８ 被検レンズ ２４ 受光素子 ２６ 光電変換素子（受光点） ３２ 回転板
Claims (1)
- 【請求項１】 被検光学系を透過した光束を回転チョッ
パーで断続して得られた断続光を受光素子で検出し、か
かる断続光の検出結果に基づいて、該被検光学系の屈折
力を測定するオートレンズメータにおいて、前記受光素
子の受光点を一つの円周上に対し少なくとも３点の多重
円状に配置し、受光点を選択することにより、測定光束
の光束径を切り換える切換手段を有することを特徴とす
るレンズメータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000404279A JP4503169B2 (ja) | 2000-12-15 | 2000-12-15 | オートレンズメータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000404279A JP4503169B2 (ja) | 2000-12-15 | 2000-12-15 | オートレンズメータ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002181664A true JP2002181664A (ja) | 2002-06-26 |
| JP4503169B2 JP4503169B2 (ja) | 2010-07-14 |
Family
ID=18868261
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000404279A Expired - Fee Related JP4503169B2 (ja) | 2000-12-15 | 2000-12-15 | オートレンズメータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4503169B2 (ja) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61280544A (ja) * | 1985-12-03 | 1986-12-11 | San Haitetsuku Kk | 自動レンズメ−タ |
| JPH05231985A (ja) * | 1992-02-25 | 1993-09-07 | Toomee:Kk | 光学系における屈折力の測定方法および測定装置 |
| JPH0618363A (ja) * | 1992-06-30 | 1994-01-25 | Canon Inc | レンズメータ |
| JPH06194266A (ja) * | 1993-10-01 | 1994-07-15 | Topcon Corp | レンズメーター |
| JPH09138181A (ja) * | 1995-11-15 | 1997-05-27 | Nikon Corp | 光学系の屈折力および曲率半径の測定装置 |
-
2000
- 2000-12-15 JP JP2000404279A patent/JP4503169B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61280544A (ja) * | 1985-12-03 | 1986-12-11 | San Haitetsuku Kk | 自動レンズメ−タ |
| JPH05231985A (ja) * | 1992-02-25 | 1993-09-07 | Toomee:Kk | 光学系における屈折力の測定方法および測定装置 |
| JPH0618363A (ja) * | 1992-06-30 | 1994-01-25 | Canon Inc | レンズメータ |
| JPH06194266A (ja) * | 1993-10-01 | 1994-07-15 | Topcon Corp | レンズメーター |
| JPH09138181A (ja) * | 1995-11-15 | 1997-05-27 | Nikon Corp | 光学系の屈折力および曲率半径の測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4503169B2 (ja) | 2010-07-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3150404B2 (ja) | 光学系における屈折力の測定方法および測定装置 | |
| US4561778A (en) | Apparatus for measuring the dimensions of cylindrical objects by means of a scanning laser beam | |
| US4171160A (en) | Distance measuring instrument | |
| JP4503169B2 (ja) | オートレンズメータ | |
| JP2006058224A (ja) | 測定器 | |
| US4641961A (en) | Apparatus for measuring the optical characteristics of an optical system to be examined | |
| JP4744024B2 (ja) | オートレンズメーター | |
| JP3663065B2 (ja) | レンズメータ | |
| JP3672562B2 (ja) | レンズメータ | |
| JP4052726B2 (ja) | オートレンズメータ | |
| JPH08201114A (ja) | 光学式エンコーダ | |
| JP4222680B2 (ja) | レンズメータ | |
| JP3348975B2 (ja) | レンズメ−タ | |
| JPH0446371B2 (ja) | ||
| JPH11326125A (ja) | オートレンズメータ | |
| JP3762346B2 (ja) | オートレンズメータ | |
| JPS62178208A (ja) | 光チヨツパ装置 | |
| JP2505042B2 (ja) | レンズ偏心測定装置 | |
| JPH0556734B2 (ja) | ||
| JPH08292259A (ja) | 測距装置 | |
| JP2005031058A (ja) | レンズレンズメータ | |
| JP3846882B2 (ja) | オートレンズメータ | |
| JPH0423203B2 (ja) | ||
| JP2003106939A (ja) | レンズメータ | |
| JPH0566962B2 (ja) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20040304 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071203 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100406 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100412 |
|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100421 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130430 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160430 Year of fee payment: 6 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |