JP3348975B2 - レンズメ−タ - Google Patents
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 29
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 10
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 2
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
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- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0228—Testing optical properties by measuring refractive power
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、眼鏡レンズやコンタク
トレンズ等の被検レンズの光学特性を測定するレンズメ
−タに関する。
トレンズ等の被検レンズの光学特性を測定するレンズメ
−タに関する。
【０００２】
【従来の技術】レンズメ−タの測定原理としては、被検
レンズの前又は後ろに所定のパタ−ンを有する指標を配
置し、被検レンズにより偏位した指標像を受光素子で検
出し、その検出結果に基づいて被検レンズの光学特性を
得るようにしたものが知られている。
レンズの前又は後ろに所定のパタ−ンを有する指標を配
置し、被検レンズにより偏位した指標像を受光素子で検
出し、その検出結果に基づいて被検レンズの光学特性を
得るようにしたものが知られている。
【０００３】この種の装置で指標の位置を固定すると、
受光素子上のタ−ゲット像には被検レンズの屈折力によ
りボケが生じ、そのボケ量は被検レンズの屈折力が大き
いほど大きくなる。このボケによる誤差の発生をさける
ために、受光素子上の指標像のボケ量を小さくするよう
に被検レンズの屈折力に応じて指標を光軸方向に移動す
る装置も知られている。
受光素子上のタ−ゲット像には被検レンズの屈折力によ
りボケが生じ、そのボケ量は被検レンズの屈折力が大き
いほど大きくなる。このボケによる誤差の発生をさける
ために、受光素子上の指標像のボケ量を小さくするよう
に被検レンズの屈折力に応じて指標を光軸方向に移動す
る装置も知られている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところが、上記の指標
を光軸方向に移動する装置では、指標の移動にともなっ
て指標像の位置も移動するので、高精度な測定のために
は正確な移動位置の検出が必要となる。しかし、従来の
指標を光軸に沿って移動させる機構では、その経年変化
等の理由により常に正確な停止位置を得ることは困難で
あり、タ−ゲットの停止位置を検出する検出機構を指標
の移動を制御する機構とは別個に設けることが必要であ
った。このために、装置の構成は複雑化し、装置のコス
ト上昇を招くという問題があった。
を光軸方向に移動する装置では、指標の移動にともなっ
て指標像の位置も移動するので、高精度な測定のために
は正確な移動位置の検出が必要となる。しかし、従来の
指標を光軸に沿って移動させる機構では、その経年変化
等の理由により常に正確な停止位置を得ることは困難で
あり、タ−ゲットの停止位置を検出する検出機構を指標
の移動を制御する機構とは別個に設けることが必要であ
った。このために、装置の構成は複雑化し、装置のコス
ト上昇を招くという問題があった。
【０００５】本発明は、上記従来装置の欠点に鑑み、実
用上必要十分な精度で、装置の構成を簡略化したレンズ
メ−タを提供することにある。
用上必要十分な精度で、装置の構成を簡略化したレンズ
メ−タを提供することにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明のレンズメ−タ
は、上記課題を解決するために、次のような構成をもつ
ことを特徴としている。
は、上記課題を解決するために、次のような構成をもつ
ことを特徴としている。
【０００７】（1） 被検レンズに測定光束を投射し、
被検レンズを透過した測定光束を受光素子により検出
し、該受光素子の検出結果に基づいて被検レンズの光学
特性を測定するレンズメータにおいて、所定のパターン
を有する測定用指標と、該測定用指標の配置可能な位置
をプラス側及びマイナス側の双方の位置を含む複数の固
定位置に予め定め、かつ各固定位置の測定用指標は数デ
ィオプタの測定範囲をそれぞれ担当するとともに、測定
光路への挿脱を含む動作により測定用指標を予め定めら
れた固定位置の１つの位置に選択的に配置する指標移動
手段と、予備の測定結果に基づいて、前記複数の固定位
置の中から測定用指標の像がフォーカスすると予想され
る位置に近い固定位置を選択する選択手段と、該選択手
段の選択結果に基づいて前記指標移動手段の動作を制御
する制御手段と、を有することを特徴とする。
被検レンズを透過した測定光束を受光素子により検出
し、該受光素子の検出結果に基づいて被検レンズの光学
特性を測定するレンズメータにおいて、所定のパターン
を有する測定用指標と、該測定用指標の配置可能な位置
をプラス側及びマイナス側の双方の位置を含む複数の固
定位置に予め定め、かつ各固定位置の測定用指標は数デ
ィオプタの測定範囲をそれぞれ担当するとともに、測定
光路への挿脱を含む動作により測定用指標を予め定めら
れた固定位置の１つの位置に選択的に配置する指標移動
手段と、予備の測定結果に基づいて、前記複数の固定位
置の中から測定用指標の像がフォーカスすると予想され
る位置に近い固定位置を選択する選択手段と、該選択手
段の選択結果に基づいて前記指標移動手段の動作を制御
する制御手段と、を有することを特徴とする。
【０００８】（２） 被検レンズに測定光束を投射し、
被検レンズを透過した測定光束を受光素子により検出
し、該受光素子の検出結果に基づいて被検レンズの光学
特性を測定するレンズメ−タにおいて、所定のパタ−ン
を有する測定用指標と、該測定用指標を測定光路上の所
定の複数位置に配置する指標移動手段と、前記受光素子
による検出結果に基づいて該測定光路上の所定の複数位
置から測定用指標の位置を選択する選択手段と、該選択
手段の選択結果に基づいて前記指標移動手段を制御する
制御手段と、を備えるとともに、前記指標移動手段は測
定光軸と直交する回転軸を備える回転手段と，該回転手
段の回転軸から所定の距離離れた位置に前記測定用指標
を保持する保持手段と，を有し，前記回転手段の回転位
置により前記測定用指標を複数位置に配置することを特
徴とする
被検レンズを透過した測定光束を受光素子により検出
し、該受光素子の検出結果に基づいて被検レンズの光学
特性を測定するレンズメ−タにおいて、所定のパタ−ン
を有する測定用指標と、該測定用指標を測定光路上の所
定の複数位置に配置する指標移動手段と、前記受光素子
による検出結果に基づいて該測定光路上の所定の複数位
置から測定用指標の位置を選択する選択手段と、該選択
手段の選択結果に基づいて前記指標移動手段を制御する
制御手段と、を備えるとともに、前記指標移動手段は測
定光軸と直交する回転軸を備える回転手段と，該回転手
段の回転軸から所定の距離離れた位置に前記測定用指標
を保持する保持手段と，を有し，前記回転手段の回転位
置により前記測定用指標を複数位置に配置することを特
徴とする
【０００９】（３） （２）の回転手段に保持される測
定用指標は複数であることを特徴とする。
定用指標は複数であることを特徴とする。
【００１０】
【００１１】
【００１２】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説
明する。図１は実施例の装置の光学系配置図である。
明する。図１は実施例の装置の光学系配置図である。
【００１３】１はＬＥＤ等の測定用光源であり、対物レ
ンズ２の焦点付近に光軸に直交して４個配置されている
（ａ，ｂ，ｃ，ｄ）。４個の測定用光源（ａ，ｂ，ｃ，
ｄ）は順次点灯し、この順次点灯は所定の間隔で繰り返
し行われる。
ンズ２の焦点付近に光軸に直交して４個配置されている
（ａ，ｂ，ｃ，ｄ）。４個の測定用光源（ａ，ｂ，ｃ，
ｄ）は順次点灯し、この順次点灯は所定の間隔で繰り返
し行われる。
【００１４】３は直交するスリットを有する測定用タ−
ゲット板であり、ホルダ４を介してパルスモ−タ５の回
転軸に取り付けられている。タ−ゲット板３はパルスモ
−タ５の回転により光路上のＡ位置、Ｂ位置の２つの位
置に移動する。
ゲット板であり、ホルダ４を介してパルスモ−タ５の回
転軸に取り付けられている。タ−ゲット板３はパルスモ
−タ５の回転により光路上のＡ位置、Ｂ位置の２つの位
置に移動する。
【００１５】本実施例では、パルスモ−タ５の回転軸中
心を対物レンズ２及びコリ−メティングレンズ６の焦点
付近に配置し、Ａ位置およびＢ位置は、−５ディオプタ
（以下Ｄと略す）の被検レンズを置いたときにＡ位置の
タ−ゲット板３の像が検出素子上で結像し、＋５Ｄの被
検レンズを置いたときにＢ位置のタ−ゲット板３の像が
検出素子上で結像するように、設定されている。Ａおよ
びＢ位置は、使用頻度の高いディオプタ部分が高精度で
測定されるように、設定されたものであり、測定するレ
ンズの種類、タ−ゲット板３の移動可能な位置の数等の
条件を考慮して、タ−ゲット板の設定位置は適宜設定さ
れるべきである。
心を対物レンズ２及びコリ−メティングレンズ６の焦点
付近に配置し、Ａ位置およびＢ位置は、−５ディオプタ
（以下Ｄと略す）の被検レンズを置いたときにＡ位置の
タ−ゲット板３の像が検出素子上で結像し、＋５Ｄの被
検レンズを置いたときにＢ位置のタ−ゲット板３の像が
検出素子上で結像するように、設定されている。Ａおよ
びＢ位置は、使用頻度の高いディオプタ部分が高精度で
測定されるように、設定されたものであり、測定するレ
ンズの種類、タ−ゲット板３の移動可能な位置の数等の
条件を考慮して、タ−ゲット板の設定位置は適宜設定さ
れるべきである。
【００１６】７は遮光型位置センサ、８はホルダ４に固
着された遮光板であり、遮光板８の遮光位置によりタ−
ゲット板３の初期位置を検出する。
着された遮光板であり、遮光板８の遮光位置によりタ−
ゲット板３の初期位置を検出する。
【００１７】９は被検レンズＬを載せるためのノ−ズピ
−スであり、コリ−メティングレンズ６および結像レン
ズ１０の焦点付近に配置されている。１１はハ−フプリ
ズムであり、１２は光軸に直交する平面に設けられ、互
いに検出方向が直交するよう配置される２個の１次元位
置検出素子である。被検レンズＬのディオプタは、タ−
ゲット板３の位置と、タ−ゲット像の検出位置に基づい
て決定される。
−スであり、コリ−メティングレンズ６および結像レン
ズ１０の焦点付近に配置されている。１１はハ−フプリ
ズムであり、１２は光軸に直交する平面に設けられ、互
いに検出方向が直交するよう配置される２個の１次元位
置検出素子である。被検レンズＬのディオプタは、タ−
ゲット板３の位置と、タ−ゲット像の検出位置に基づい
て決定される。
【００１８】以上のような光学系を持つ装置において、
その動作を図２の要部電気系ブロック図を参照して説明
する。
その動作を図２の要部電気系ブロック図を参照して説明
する。
【００１９】レンズメ−タ本体の電源スイッチ２０によ
り電源が投入されると、マイクロコンピュ−タ２１は駆
動回路２２を介して４つの測定光源１を順次点灯すると
ともに、駆動回路２３を介してパルスモ−タ５を回転さ
せる。パルスモ−タ５の回転によりホルダ４に取り付け
られた遮光板８（およびタ−ゲット板３）が回転する。
位置センサ７が遮光板８の位置を検出すると、マイクロ
コンピュ−タ２１はパルスモ−タ５の回転を止め、タ−
ゲット板３は初期位置であるＡ位置に置かれる。
り電源が投入されると、マイクロコンピュ−タ２１は駆
動回路２２を介して４つの測定光源１を順次点灯すると
ともに、駆動回路２３を介してパルスモ−タ５を回転さ
せる。パルスモ−タ５の回転によりホルダ４に取り付け
られた遮光板８（およびタ−ゲット板３）が回転する。
位置センサ７が遮光板８の位置を検出すると、マイクロ
コンピュ−タ２１はパルスモ−タ５の回転を止め、タ−
ゲット板３は初期位置であるＡ位置に置かれる。
【００２０】屈折力を持つ被検レンズＬがノ−ズピ−ス
９上に載せられると、１次元位置検出素子１２上のタ−
ゲット像は偏位する。１次元位置検出素子１２によって
得られた信号は、信号処理回路２４により所定の処理が
施されてマイクロコンピュ−タ２１に入力される。マイ
クロコンピュ−タ２１は順次点灯される４つの光源に対
応した１次元位置検出素子１２からの信号に基づき、所
定の演算処理を行って被検レンズＬの予備の光学特性を
得る。被検レンズの光学特性の算出については、本発明
と同一出願人による特開昭６０−１７３３５号（発明の
名称「オ−トレンズメ−タ」）と基本的に同じであるの
で、これを参照されたい。
９上に載せられると、１次元位置検出素子１２上のタ−
ゲット像は偏位する。１次元位置検出素子１２によって
得られた信号は、信号処理回路２４により所定の処理が
施されてマイクロコンピュ−タ２１に入力される。マイ
クロコンピュ−タ２１は順次点灯される４つの光源に対
応した１次元位置検出素子１２からの信号に基づき、所
定の演算処理を行って被検レンズＬの予備の光学特性を
得る。被検レンズの光学特性の算出については、本発明
と同一出願人による特開昭６０−１７３３５号（発明の
名称「オ−トレンズメ−タ」）と基本的に同じであるの
で、これを参照されたい。
【００２１】マイクロコンピュ−タ２１は被検レンズの
等価球面値がマイナス側であると判定すると、タ−ゲッ
ト板３を移動せずそのまま測定する。被検レンズを測定
光軸に対して周知のアライメント機構によりアライメン
トし、その位置での値を被検レンズの測定値として表示
する。
等価球面値がマイナス側であると判定すると、タ−ゲッ
ト板３を移動せずそのまま測定する。被検レンズを測定
光軸に対して周知のアライメント機構によりアライメン
トし、その位置での値を被検レンズの測定値として表示
する。
【００２２】得られた被検レンズの等価球面値がプラス
側であれば、マイクロコンピュ−タ２１は駆動回路２３
を介してパルスモ−タ５を１８０度回転させ、タ−ゲッ
ト板３を＋５Ｄに相応する位置であるＢ位置に移動させ
る。その後、１次元位置検出素子１２からの信号により
演算処理を行い、ノ−ズピ−ス９上に載せられた被検レ
ンズの光学特性を再び得る。
側であれば、マイクロコンピュ−タ２１は駆動回路２３
を介してパルスモ−タ５を１８０度回転させ、タ−ゲッ
ト板３を＋５Ｄに相応する位置であるＢ位置に移動させ
る。その後、１次元位置検出素子１２からの信号により
演算処理を行い、ノ−ズピ−ス９上に載せられた被検レ
ンズの光学特性を再び得る。
【００２３】タ−ゲット板３をＢ位置において測定後、
引き続いて等価球面値がマイナスの被検レンズを測定す
る場合、タ−ゲット板３をＡ位置に移動して測定を行
う。等価球面値がマイナスのレンズの場合は、タ−ゲッ
ト板３がＢ位置にある場合よりＡ位置にある場合の方
が、１次元位置検出素子１２上のタ−ゲット像はフォ−
カスに近い状態となるので、タ−ゲット板３をＡ位置に
移動する。
引き続いて等価球面値がマイナスの被検レンズを測定す
る場合、タ−ゲット板３をＡ位置に移動して測定を行
う。等価球面値がマイナスのレンズの場合は、タ−ゲッ
ト板３がＢ位置にある場合よりＡ位置にある場合の方
が、１次元位置検出素子１２上のタ−ゲット像はフォ−
カスに近い状態となるので、タ−ゲット板３をＡ位置に
移動する。
【００２４】また、タ−ゲット板３がＡ位置にあり、被
検レンズの等価球面値がプラス側であれば、マイクロコ
ンピュ−タ２１はタ−ゲット板３をＢ位置に移動して測
定を行う。タ−ゲット板３の位置の符号と被検レンズの
符号が同じなら、タ−ゲット板３は移動されない（な
お、タ−ゲット板３の位置の符号と被検レンズの符号が
異なっても、被検レンズのＤ値が１Ｄのように小さく検
出に支障がない場合は移動しないようにしてもよい）。
検レンズの等価球面値がプラス側であれば、マイクロコ
ンピュ−タ２１はタ−ゲット板３をＢ位置に移動して測
定を行う。タ−ゲット板３の位置の符号と被検レンズの
符号が同じなら、タ−ゲット板３は移動されない（な
お、タ−ゲット板３の位置の符号と被検レンズの符号が
異なっても、被検レンズのＤ値が１Ｄのように小さく検
出に支障がない場合は移動しないようにしてもよい）。
【００２５】マイクロコンピュ−タ２１により得られた
測定結果は、表示回路２５を介して表示器２６に表示さ
れる。
測定結果は、表示回路２５を介して表示器２６に表示さ
れる。
【００２６】以上の実施例では、タ−ゲット板は１つで
あるため、タ−ゲット板の光軸上の移動位置は２箇所に
限られてしまうが、さらに測定精度を上げる必要がある
場合は、タ−ゲット板の数を増やすことにより可能であ
る。図３は２枚のタ−ゲット板を配置した変容例であ
る。
あるため、タ−ゲット板の光軸上の移動位置は２箇所に
限られてしまうが、さらに測定精度を上げる必要がある
場合は、タ−ゲット板の数を増やすことにより可能であ
る。図３は２枚のタ−ゲット板を配置した変容例であ
る。
【００２７】パルスモ−タ５の回転軸５ａにはホルダ３
０を介して２枚のタ−ゲット板３ａ，３ｂが９０度ずら
して配置され、タ−ゲット板３ａ，３ｂは回転軸５ａの
中心からの距離が異なり、さらに一方のタ−ゲット板が
所定の光路上の位置に置かれたとき、他方のタ−ゲット
板が測定光束を遮らない構造となっている。例えば、パ
ルスモ−タ５の回転軸中心を０Ｄ位置に位置させ、タ−
ゲット板３ａを＋５Ｄと−５Ｄの位置に、タ−ゲット板
３ｂを＋１０Ｄと−１０Ｄの位置に移動可能となるよう
に、それぞれ回転軸５ａの中心からの距離を設定する。
マイクロコンピュ−タ２１はパルスモ−タ５を９０度ご
とに回転制御することにより、図４のように異なる４箇
所にタ−ゲットを移動することができる。
０を介して２枚のタ−ゲット板３ａ，３ｂが９０度ずら
して配置され、タ−ゲット板３ａ，３ｂは回転軸５ａの
中心からの距離が異なり、さらに一方のタ−ゲット板が
所定の光路上の位置に置かれたとき、他方のタ−ゲット
板が測定光束を遮らない構造となっている。例えば、パ
ルスモ−タ５の回転軸中心を０Ｄ位置に位置させ、タ−
ゲット板３ａを＋５Ｄと−５Ｄの位置に、タ−ゲット板
３ｂを＋１０Ｄと−１０Ｄの位置に移動可能となるよう
に、それぞれ回転軸５ａの中心からの距離を設定する。
マイクロコンピュ−タ２１はパルスモ−タ５を９０度ご
とに回転制御することにより、図４のように異なる４箇
所にタ−ゲットを移動することができる。
【００２８】なお、タ−ゲット板の回転中心（パルスモ
−タ５の回転軸中心）は必ずしも０Ｄ位置に位置させる
必要はなく、測定する被検レンズの要求に合わせ、図５
のようにタ−ゲット板を移動させる位置を任意に設定し
ても良い。図５ではタ−ゲット板３ａ，３ｂが移動する
位置の符号の対称性はないが、マイナス側により離れた
位置にタ−ゲットを移動したい場合や、０Ｄ位置にタ−
ゲットを移動したい場合に有効である。
−タ５の回転軸中心）は必ずしも０Ｄ位置に位置させる
必要はなく、測定する被検レンズの要求に合わせ、図５
のようにタ−ゲット板を移動させる位置を任意に設定し
ても良い。図５ではタ−ゲット板３ａ，３ｂが移動する
位置の符号の対称性はないが、マイナス側により離れた
位置にタ−ゲットを移動したい場合や、０Ｄ位置にタ−
ゲットを移動したい場合に有効である。
【００２９】このように、光軸上のタ−ゲット板を通過
する測定光束を、他のタ−ゲット板が遮らない配置とす
ることにより、任意の枚数のタ−ゲット板で任意の位置
間隔にタ−ゲット板を位置させることが可能である。
する測定光束を、他のタ−ゲット板が遮らない配置とす
ることにより、任意の枚数のタ−ゲット板で任意の位置
間隔にタ−ゲット板を位置させることが可能である。
【００３０】以上のように、本実施例は種々の変容が可
能であり、技術思想を同一にする範囲でこれらも本発明
に含まれるものである。
能であり、技術思想を同一にする範囲でこれらも本発明
に含まれるものである。
【００３１】
【発明の効果】本発明によれば、測定精度を悪化させる
ことなく、測定機構を簡略にすることができる。
ことなく、測定機構を簡略にすることができる。
【図１】実施例の装置の光学系配置図である。
【図２】実施例の装置の要部電気系ブロック図である。
【図３】２枚のタ−ゲット板を配置した変容例である。
【図４】２枚のタ−ゲット板の場合の光軸上の移動位置
を示す図である。
を示す図である。
【図５】タ−ゲット板の移動位置を任意に設定した例を
示す図である。
示す図である。
１ 測定用光源 ３ 測定用タ−ゲット板 ４ ホルダ ５ パルスモ−タ １２ １次元位置検出素子 ２１ マイクロコンピュ−タ
Claims (3)
- 【請求項１】 被検レンズに測定光束を投射し、被検レ
ンズを透過した測定光束を受光素子により検出し、該受
光素子の検出結果に基づいて被検レンズの光学特性を測
定するレンズメータにおいて、所定のパターンを有する
測定用指標と、該測定用指標の配置可能な位置をプラス
側及びマイナス側の双方の位置を含む複数の固定位置に
予め定め、かつ各固定位置の測定用指標は数ディオプタ
の測定範囲をそれぞれ担当するとともに、測定光路への
挿脱を含む動作により測定用指標を予め定められた固定
位置の１つの位置に選択的に配置する指標移動手段と、
予備の測定結果に基づいて、前記複数の固定位置の中か
ら測定用指標の像がフォーカスすると予想される位置に
近い固定位置を選択する選択手段と、該選択手段の選択
結果に基づいて前記指標移動手段の動作を制御する制御
手段と、を有することを特徴とするレンズメータ。 - 【請求項２】 被検レンズに測定光束を投射し、被検レ
ンズを透過した測定光束を受光素子により検出し、該受
光素子の検出結果に基づいて被検レンズの光学特性を測
定するレンズメ−タにおいて、所定のパタ−ンを有する
測定用指標と、該測定用指標を測定光路上の所定の複数
位置に配置する指標移動手段と、前記受光素子による検
出結果に基づいて該測定光路上の所定の複数位置から測
定用指標の位置を選択する選択手段と、該選択手段の選
択結果に基づいて前記指標移動手段を制御する制御手段
と、を備えるとともに、前記指標移動手段は測定光軸と
直交する回転軸を備える回転手段と，該回転手段の回転
軸から所定の距離離れた位置に前記測定用指標を保持す
る保持手段と，を有し，前記回転手段の回転位置により
前記測定用指標を複数位置に配置することを特徴とする
レンズメ−タ。 - 【請求項３】 請求項２の回転手段に保持される測定用
指標は複数であることを特徴とするレンズメ−タ。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11444194A JP3348975B2 (ja) | 1994-04-28 | 1994-04-28 | レンズメ−タ |
| DE19509158A DE19509158B4 (de) | 1994-04-28 | 1995-03-14 | Linsenmeßeinrichtung |
| US09/107,555 US5886779A (en) | 1994-04-28 | 1998-06-29 | Lens meter |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11444194A JP3348975B2 (ja) | 1994-04-28 | 1994-04-28 | レンズメ−タ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
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| JPH07294379A JPH07294379A (ja) | 1995-11-10 |
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