JP3185940B2 - 屈折特性測定装置 - Google Patents
屈折特性測定装置Info
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- JP3185940B2 JP3185940B2 JP04609592A JP4609592A JP3185940B2 JP 3185940 B2 JP3185940 B2 JP 3185940B2 JP 04609592 A JP04609592 A JP 04609592A JP 4609592 A JP4609592 A JP 4609592A JP 3185940 B2 JP3185940 B2 JP 3185940B2
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- Japan
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- lens
- refraction
- measuring device
- measurement
- refraction characteristic
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は被検レンズの屈折特性測
定装置、殊に累進多焦点レンズの屈折特性を測定する装
置に関するものである。
定装置、殊に累進多焦点レンズの屈折特性を測定する装
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】平均余命の伸長と共に、単一レンズで遠
方視および近方視が可能となる多焦点レンズの需要が高
くなっている。殊に、累進レンズは単一レンズで遠方か
ら近方まで無段階に焦点を合わせることができる。累進
レンズは遠用部、累進帯、近用部、周辺部からなるが、
光学的に収差が大きく使用できない部分である周辺部を
できるだけ狭く、累進帯の広いレンズが一般的に装用し
やすいレンズといえる。これらのレンズの開発において
は、多くの試作を行い、その試作品に対する評価のため
に屈折力分布を測定する必要がある。従来においては、
レンズメ−タと呼ばれる装置により測定ポイントをかえ
ながら繰り返し測定することによって、被検レンズの屈
折力分布を得ていた。
方視および近方視が可能となる多焦点レンズの需要が高
くなっている。殊に、累進レンズは単一レンズで遠方か
ら近方まで無段階に焦点を合わせることができる。累進
レンズは遠用部、累進帯、近用部、周辺部からなるが、
光学的に収差が大きく使用できない部分である周辺部を
できるだけ狭く、累進帯の広いレンズが一般的に装用し
やすいレンズといえる。これらのレンズの開発において
は、多くの試作を行い、その試作品に対する評価のため
に屈折力分布を測定する必要がある。従来においては、
レンズメ−タと呼ばれる装置により測定ポイントをかえ
ながら繰り返し測定することによって、被検レンズの屈
折力分布を得ていた。
【０００３】また、累進レンズの４域の構成には各レン
ズメ−カごとに特徴があり、これらの各レンズに慣れる
には相当期間の慣れの期間を要する。あるメ−カのレン
ズから他のメ−カのレンズに変えた場合、人によっては
階段の昇降に支障が生じたり、頭痛がおきたりする。眼
鏡店ではこれらのレンズの屈折分布を測定する設備を有
していない。
ズメ−カごとに特徴があり、これらの各レンズに慣れる
には相当期間の慣れの期間を要する。あるメ−カのレン
ズから他のメ−カのレンズに変えた場合、人によっては
階段の昇降に支障が生じたり、頭痛がおきたりする。眼
鏡店ではこれらのレンズの屈折分布を測定する設備を有
していない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
屈折力分布を得る方法では、測定に時間と労力を必要と
していた。このため、製造したレンズの累進帯の特性ま
で十分な検査ができないという問題があった。また、眼
鏡には通常視界の妨げとならない位置に眼鏡の種類が記
されているが、それらの記入部は視界の妨げとならない
ように目立ちにくく、かつ消えやすいものである。従っ
て、レンズに記入されている種類を判読することは難し
い場合が多い。本発明の目的は、上記の問題点に鑑み、
累進多焦点レンズの屈折特性を簡易に短時間に測定でき
る屈折特性測定装置を提供することにある。
屈折力分布を得る方法では、測定に時間と労力を必要と
していた。このため、製造したレンズの累進帯の特性ま
で十分な検査ができないという問題があった。また、眼
鏡には通常視界の妨げとならない位置に眼鏡の種類が記
されているが、それらの記入部は視界の妨げとならない
ように目立ちにくく、かつ消えやすいものである。従っ
て、レンズに記入されている種類を判読することは難し
い場合が多い。本発明の目的は、上記の問題点に鑑み、
累進多焦点レンズの屈折特性を簡易に短時間に測定でき
る屈折特性測定装置を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の屈折特性測定装
置は、上記目的を達成するために以下の構成を有するこ
とを特徴としてしている。 （１） 被検レンズに測定光束を投射し、透過した測定
光束による光源または測定光学系中に配置したタ−ゲッ
トの像を検出して、被検レンズの屈折特性を測定する屈
折特性測定装置において、前記光源は屈折特性の算出に
必要な数の光源を１組として、実質的に多数組の光源を
光軸に垂直な平面に配置するとともに、各組の光源を使
用して検出された結果に基づいて被検レンズの特性を表
示する表示手段を設けたことを特徴としている。
置は、上記目的を達成するために以下の構成を有するこ
とを特徴としてしている。 （１） 被検レンズに測定光束を投射し、透過した測定
光束による光源または測定光学系中に配置したタ−ゲッ
トの像を検出して、被検レンズの屈折特性を測定する屈
折特性測定装置において、前記光源は屈折特性の算出に
必要な数の光源を１組として、実質的に多数組の光源を
光軸に垂直な平面に配置するとともに、各組の光源を使
用して検出された結果に基づいて被検レンズの特性を表
示する表示手段を設けたことを特徴としている。
【０００６】（２） （１）の屈折特性測定装置におい
て、同一の乱視度数を結んで得られる等アス線または同
一の屈折度数を結んで得られる等度線を形成する処理手
段を設けたことを特徴としている。
て、同一の乱視度数を結んで得られる等アス線または同
一の屈折度数を結んで得られる等度線を形成する処理手
段を設けたことを特徴としている。
【０００７】（３） （２）の屈折特性測定装置におい
て、各種のレンズの等アス線または等度線を予め記憶す
る記憶手段を設けるとともに、上記処理手段により得ら
れた等アス線または等度線とを比較して、被検レンズと
最も近い種類のレンズを選択する選択手段を設けたこと
を特徴としている。
て、各種のレンズの等アス線または等度線を予め記憶す
る記憶手段を設けるとともに、上記処理手段により得ら
れた等アス線または等度線とを比較して、被検レンズと
最も近い種類のレンズを選択する選択手段を設けたこと
を特徴としている。
【０００８】（４） （１）の測定光学系中に配置した
タ−ゲットを有する屈折特性測定装置において、被検レ
ンズの中心近傍の光源を点灯して屈折度数を算出し、算
出された屈折度数に相当する位置にタ−ゲットを移動す
る移動手段を有し、タ−ゲットを前記位置に移動した後
にタ−ゲットを固定して測定することを特徴としてい
る。
タ−ゲットを有する屈折特性測定装置において、被検レ
ンズの中心近傍の光源を点灯して屈折度数を算出し、算
出された屈折度数に相当する位置にタ−ゲットを移動す
る移動手段を有し、タ−ゲットを前記位置に移動した後
にタ−ゲットを固定して測定することを特徴としてい
る。
【０００９】
【００１０】
【実施例】図１は本発明の一実施例の測定光学系の概略
を示す図である。１は多数のＬＥＤがマトリックス状に
配置された測定用光源であり、コンデンサレンズ２の焦
点付近に、光軸に対し垂直な平面上に配置されている。
ＬＥＤは必ずしも固定的に配置される必要は無く、平面
上を移動することによって必要とされるＬＥＤの数を確
保しても良い。
を示す図である。１は多数のＬＥＤがマトリックス状に
配置された測定用光源であり、コンデンサレンズ２の焦
点付近に、光軸に対し垂直な平面上に配置されている。
ＬＥＤは必ずしも固定的に配置される必要は無く、平面
上を移動することによって必要とされるＬＥＤの数を確
保しても良い。
【００１１】３は直交するスリットを有する測定用タ−
ゲット板、４は測定用タ−ゲット板３がその焦点位置に
なるように配置されたコリメ−ティングレンズである。
５は被検レンズ６の載置台、７は結像レンズである。８
はビ−ムスプリッタ、９は光軸に対し、直交するＸ軸方
向とＹ軸方向に配置された２つのリニアセンサである。
測定用光源１とレンズ載置台５の先端付近、タ−ゲット
板３とリニアセンサ９の受光面とはそれぞれ共役な関係
となるように配置されている。測定用タ−ゲット板３の
像は、コリメ−ティングレンズ４、被検レンズ６、結像
レンズ７を介して、２つのリニアセンサ９上にそれぞれ
結像する。
ゲット板、４は測定用タ−ゲット板３がその焦点位置に
なるように配置されたコリメ−ティングレンズである。
５は被検レンズ６の載置台、７は結像レンズである。８
はビ−ムスプリッタ、９は光軸に対し、直交するＸ軸方
向とＹ軸方向に配置された２つのリニアセンサである。
測定用光源１とレンズ載置台５の先端付近、タ−ゲット
板３とリニアセンサ９の受光面とはそれぞれ共役な関係
となるように配置されている。測定用タ−ゲット板３の
像は、コリメ−ティングレンズ４、被検レンズ６、結像
レンズ７を介して、２つのリニアセンサ９上にそれぞれ
結像する。
【００１２】図２は本実施例の電気系のブロック図であ
る。１０はスイッチであり、測定モ−ドを選択するモ−
ド選択スイッチ等各種のスイッチからなる。モ−ド選択
スイッチにより測定モ−ドを通常測定モ−ドと累進分布
測定モ−ドに切換えることができる。通常測定モ−ドで
は眼鏡店に配置されているいわゆるレンズメ−タと同様
な動作をする。
る。１０はスイッチであり、測定モ−ドを選択するモ−
ド選択スイッチ等各種のスイッチからなる。モ−ド選択
スイッチにより測定モ−ドを通常測定モ−ドと累進分布
測定モ−ドに切換えることができる。通常測定モ−ドで
は眼鏡店に配置されているいわゆるレンズメ−タと同様
な動作をする。
【００１３】累進分布測定モ−ドではマイクロコンピュ
−タ１１からの指示によりＬＥＤドライバ１２が作動
し、所定の順序により測定用光源のＬＥＤの１つが順次
点灯する。本実施例では予め定められた中心部にある同
一円周上の４個のＬＥＤを点灯した後、他のＬＥＤを点
灯する。ＬＥＤは１個ずつ順次点灯しても良いし、リニ
アセンサ９上でタ−ゲット像が重ならない位置のＬＥＤ
（例えば、中心部のＬＥＤと周辺部のように）を同時に
点灯しても良い。なお、本実施例では像の検出素子とし
て一次元のリニアセンサを、測定用タ−ゲットとして直
交スリットを使用している関係で、同時点灯できる個数
には大きな制約があるが、像の検出素子として二次元セ
ンサを使用し、測定用タ−ゲットとして点状の指標を使
用すれば、その個数を増大できる（また像分離プリズム
等を使用しても良い）。
−タ１１からの指示によりＬＥＤドライバ１２が作動
し、所定の順序により測定用光源のＬＥＤの１つが順次
点灯する。本実施例では予め定められた中心部にある同
一円周上の４個のＬＥＤを点灯した後、他のＬＥＤを点
灯する。ＬＥＤは１個ずつ順次点灯しても良いし、リニ
アセンサ９上でタ−ゲット像が重ならない位置のＬＥＤ
（例えば、中心部のＬＥＤと周辺部のように）を同時に
点灯しても良い。なお、本実施例では像の検出素子とし
て一次元のリニアセンサを、測定用タ−ゲットとして直
交スリットを使用している関係で、同時点灯できる個数
には大きな制約があるが、像の検出素子として二次元セ
ンサを使用し、測定用タ−ゲットとして点状の指標を使
用すれば、その個数を増大できる（また像分離プリズム
等を使用しても良い）。
【００１４】２つのリニアセンサ９上に投影されたタ−
ゲット像の位置情報はアンプ１３で増幅される。増幅さ
れた信号はＡ／Ｄ変換回路１４によりデジタル信号に変
換された後、マイクロコンピュ−タ１１に入力される。
また、増幅された信号はエッヂ検出回路１５に入り、信
号の波形からエッヂの位置が検出され、マイクロコンピ
ュ−タ１１に入力される。
ゲット像の位置情報はアンプ１３で増幅される。増幅さ
れた信号はＡ／Ｄ変換回路１４によりデジタル信号に変
換された後、マイクロコンピュ−タ１１に入力される。
また、増幅された信号はエッヂ検出回路１５に入り、信
号の波形からエッヂの位置が検出され、マイクロコンピ
ュ−タ１１に入力される。
【００１５】また、パルスモ−タドライバ１６はパルス
モ−タ１７を駆動して、像のボケを小さくするように測
定用タ−ゲット板３を移動させる。本実施例では被検レ
ンズのほぼ幾何中心（ほぼ累進帯）の屈折度数（予め定
められた中心部にある同一円周上の４個のＬＥＤの点灯
により算出した屈折度数）を検出後、屈折度数に相当す
る位置に移動し、測定用タ−ゲット板３を移動させる。
測定用タ−ゲット板３の位置はリニアセンサ１８により
検出され、その信号はアンプ１９で増幅された後、エッ
ヂ検出回路２０によりエッヂの位置が検出され、マイク
ロコンピュ−タ１１に入力される。幾何中心測定による
測定用タ−ゲット板３の移動後は、測定用タ−ゲット板
３の位置を固定させて、測定する。
モ−タ１７を駆動して、像のボケを小さくするように測
定用タ−ゲット板３を移動させる。本実施例では被検レ
ンズのほぼ幾何中心（ほぼ累進帯）の屈折度数（予め定
められた中心部にある同一円周上の４個のＬＥＤの点灯
により算出した屈折度数）を検出後、屈折度数に相当す
る位置に移動し、測定用タ−ゲット板３を移動させる。
測定用タ−ゲット板３の位置はリニアセンサ１８により
検出され、その信号はアンプ１９で増幅された後、エッ
ヂ検出回路２０によりエッヂの位置が検出され、マイク
ロコンピュ−タ１１に入力される。幾何中心測定による
測定用タ−ゲット板３の移動後は、測定用タ−ゲット板
３の位置を固定させて、測定する。
【００１６】このようにして各ＬＥＤにより照明された
タ−ゲット像の位置はマイクロコンピュ−タ１１に取り
込まれる。マイクロコンピュ−タ１１は所定の同一円周
上のＬＥＤによる投影像の位置と測定用タ−ゲット板３
の位置から被検レンズの各位置における屈折力を算出す
る。２１はディスプレイドライバで、被検レンズの各位
置の屈折力から求められた乱視度数（または屈折度数）
を結んで得られる等アス線（または等度線）をＣＲＴデ
ィスプレイ２２上に形成する。また、ディスプレイドラ
イバ２１は通常測定モ−ドにおけるアライメントマ−
ク、位置合わせ用タ−ゲットを表示する。
タ−ゲット像の位置はマイクロコンピュ−タ１１に取り
込まれる。マイクロコンピュ−タ１１は所定の同一円周
上のＬＥＤによる投影像の位置と測定用タ−ゲット板３
の位置から被検レンズの各位置における屈折力を算出す
る。２１はディスプレイドライバで、被検レンズの各位
置の屈折力から求められた乱視度数（または屈折度数）
を結んで得られる等アス線（または等度線）をＣＲＴデ
ィスプレイ２２上に形成する。また、ディスプレイドラ
イバ２１は通常測定モ−ドにおけるアライメントマ−
ク、位置合わせ用タ−ゲットを表示する。
【００１７】また、本装置のマイクロコンピュ−タ１１
は予め各種のレンズの等アス線（または等度線）の特徴
を記憶しており、記憶している等アス線（または等度
線）の特徴と被検レンズの測定デ−タを比較して、被検
レンズに近似する累進レンズの種類を選択し、ディスプ
レイドライバ２１を介してＣＲＴディスプレイ２２上に
これを表示する。以上の実施例は種々の変形が可能であ
ることは当業者に明らかであり、これらの変形例も本発
明と技術思想を同一にする限り、本発明に含まれる。
は予め各種のレンズの等アス線（または等度線）の特徴
を記憶しており、記憶している等アス線（または等度
線）の特徴と被検レンズの測定デ−タを比較して、被検
レンズに近似する累進レンズの種類を選択し、ディスプ
レイドライバ２１を介してＣＲＴディスプレイ２２上に
これを表示する。以上の実施例は種々の変形が可能であ
ることは当業者に明らかであり、これらの変形例も本発
明と技術思想を同一にする限り、本発明に含まれる。
【００１８】
【発明の効果】本発明によれば、レンズを移動させるこ
となく、多数の位置の屈折力を短時間に簡単に測定でき
る。しかも、屈折力の分布からレンズの等アス線図等の
屈折特性を自動的に表示することができる。
となく、多数の位置の屈折力を短時間に簡単に測定でき
る。しかも、屈折力の分布からレンズの等アス線図等の
屈折特性を自動的に表示することができる。
【図１】本実施例の装置の測定光学系の概略を示す図で
ある。
ある。
【図２】本実施例の装置の電気系のブロック図である。
１ 測定用光源ＬＥＤ ３ タ−ゲット板 ５ レンズ載置台 ９，１８ リニアセンサ １１ マイクロコンピュ−タ １７ パルスモ−タ ２２ ＣＲＴディスプレイ
Claims (4)
- 【請求項１】 被検レンズに測定光束を投射し、透過し
た測定光束による光源または測定光学系中に配置したタ
−ゲットの像を検出して、被検レンズの屈折特性を測定
する屈折特性測定装置において、前記光源は屈折特性の
算出に必要な数の光源を１組として、実質的に多数組の
光源を光軸に垂直な平面に配置するとともに、各組の光
源を使用して検出された結果に基づいて被検レンズの特
性を表示する表示手段を設けたことを特徴とする屈折特
性測定装置。 - 【請求項２】 請求項１の屈折特性測定装置において、
同一の乱視度数を結んで得られる等アス線または同一の
屈折度数を結んで得られる等度線を形成する処理手段を
設けたことを特徴とする屈折特性測定装置。 - 【請求項３】 請求項２の屈折特性測定装置において、
各種のレンズの等アス線または等度線を予め記憶する記
憶手段を設けるとともに、上記処理手段により得られた
等アス線または等度線とを比較して、被検レンズと最も
近い種類のレンズを選択する選択手段を設けたことを特
徴とする屈折特性測定装置。 - 【請求項４】 請求項１の測定光学系中に配置したタ−
ゲットを有する屈折特性測定装置において、被検レンズ
の中心近傍の光源を点灯して屈折度数を算出し、算出さ
れた屈折度数に相当する位置にタ−ゲットを移動する移
動手段を有し、タ−ゲットを前記位置に移動した後にタ
−ゲットを固定して測定することを特徴とする屈折特性
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04609592A JP3185940B2 (ja) | 1992-01-31 | 1992-01-31 | 屈折特性測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04609592A JP3185940B2 (ja) | 1992-01-31 | 1992-01-31 | 屈折特性測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06102138A JPH06102138A (ja) | 1994-04-15 |
| JP3185940B2 true JP3185940B2 (ja) | 2001-07-11 |
Family
ID=12737433
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04609592A Expired - Lifetime JP3185940B2 (ja) | 1992-01-31 | 1992-01-31 | 屈折特性測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3185940B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN107588714A (zh) * | 2017-08-23 | 2018-01-16 | 华电电力科学研究院 | 一种新型汽轮机汽缸洼窝测量装置及其测量方法 |
-
1992
- 1992-01-31 JP JP04609592A patent/JP3185940B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH06102138A (ja) | 1994-04-15 |
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Legal Events
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