JP2002168654A - 位置決め制御機構 - Google Patents

位置決め制御機構

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JP2002168654A
JP2002168654A JP2000369547A JP2000369547A JP2002168654A JP 2002168654 A JP2002168654 A JP 2002168654A JP 2000369547 A JP2000369547 A JP 2000369547A JP 2000369547 A JP2000369547 A JP 2000369547A JP 2002168654 A JP2002168654 A JP 2002168654A
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Toshimitsu Suga
俊光 菅
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 効率のよい補正オフセットずれテーブル、補
正振幅比ずれテーブル、および補正位相ずれテーブルを
構成する。 【解決手段】 スケール1のフルレンジの10%間隔と
する測定座標30(30A〜30K)で測定した測定オ
フセットずれ情報31(31A〜31K(図示せず))
を、最小二乗法より三次式で近似した測定オフセットず
れ近似式32により、スケール1のフルレンジの25%
間隔とする測定座標の補正オフセットずれテーブルに格
納する格納位置33(33A〜33E)に対するオフセ
ットずれを測定オフセットずれ近似式32より求めた補
正オフセットずれ情報34を格納するように補正オフセ
ットずれテーブルを構成する。補正オフセットずれテー
ブルに格納されるのは、補正オフセットずれテーブルの
格納位置33に対する補正オフセットずれ情報34だけ
なので、補正オフセットずれテーブルの容量を小さくす
ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、物理的に形成され
ている周期的な位置情報がある機構において、任意の基
準位置から任意の目的位置への高精度な位置決めを行う
位置決め制御機構に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、任意の基準位置から、任意の目的
位置へのより高精度な位置決め制御を具現化させるため
に、予め補正オフセットずれテーブル、補正振幅比ずれ
テーブル、および補正位相ずれテーブルを用意し、位置
情報または目的位置情報の補正を行っていた。しかし、
各補正情報を格納するテーブルの容量を考慮すると、効
率のよい補正テーブル構成が必要とされている。
【0003】図1により、予め補正テーブルを用意し
て、位置情報または目的位置情報を補正して高精度な位
置決めにより、任意の基準位置から任意の目的位置へと
位置決めを行う位置決め制御機構の一例を説明する。
【0004】図1に示す位置決め制御機構は、周期的な
位置情報が物理的に形成されているスケール1と、スケ
ール1上の任意の位置を基準とする基準位置4、および
基準位置4から位置決めしたい距離だけ離れた目的位置
5等のスケール1上の位置情報を感知するセンサー2
と、センサー2を二つ以上適切な位置に設置した位置決
め対象の物体3と、物体3に設置されているセンサー2
で感知することにより得られる二つ以上の位置信号群6
を処理して90度位相の異なる2相の位置情報8を出力
する信号演算処理手段7と、目的位置5や基準位置4と
位置情報との間に生じるオフセットずれを予め測定して
補正オフセットずれ情報を格納した補正オフセットずれ
テーブル15と、目的位置5や基準位置4と位置情報と
の間に生じる振幅比ずれを予め測定して補正振幅比ずれ
情報を格納した補正振幅比ずれテーブル16と、目的位
置5や基準位置4と位置情報との間に生じる位相ずれを
予め測定して補正位相ずれ情報を格納した補正位相ずれ
テーブル17を備えている。
【0005】さらに、位置情報に応じた補正オフセット
ずれテーブル15より参照した補正オフセットずれ情報
18、および補正振幅比ずれテーブル16より参照した
補正振幅比ずれ情報19により信号演算処理手段7より
出力される位置情報8を補正した補正位置情報8′を出
力する補正処理手段21と、目的位置5付近の位置情報
に相当する目的位置情報に応じた補正位相ずれテーブル
17より参照した補正位相ずれ情報20により目的位置
情報9を補正し補正目的位置情報9′を出力する補正処
理手段22と、補正位置情報8′と補正目的位置情報
9′を処理して位置誤差情報11を出力する情報演算処
理手段10と、情報演算処理手段10から出力される位
置誤差情報11を駆動手段14へ入力する駆動信号13
に変換する変換処理手段12とにより構成されている。
【0006】ここで、補正オフセットずれ情報18を格
納する補正オフセットずれテーブル15と、補正振幅比
ずれ情報19を格納する補正振幅比ずれテーブル16
と、補正位相ずれ情報20を格納する補正位相ずれテー
ブル17は、スケール1のフルレンジ分用意することで
高精度な位置決めを実現させていた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成の位置決め制御機構では、前記のように構成さ
れた補正テーブルにおいて、位置決めする範囲が広くな
ると、それに伴う補正オフセットずれテーブル、補正振
幅比ずれテーブル、および補正位相ずれテーブルの容量
も増加するため、情報を格納するROMサイズを超えて
しまうという問題があった。
【0008】本発明は、前記従来技術の問題を解決する
ことに指向するものであり、効率のよい補正オフセット
ずれテーブル、補正振幅比ずれテーブル、および補正位
相ずれテーブルの構成を有する位置決め制御機構を提供
することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明に係る位置決め制御機構は、周期的な位置情
報が物理的に形成されているスケールと、スケール上の
位置情報を感知するセンサーと、センサーを二つ以上適
切な位置に設置した位置決め対象の物体と、物体に設置
されているセンサーで感知することにより得られる二つ
以上の位置信号群を処理して90度位相の異なる2相の
位置情報を出力する信号演算処理手段と、目的位置と基
準位置の間に生じるオフセットずれを予め測定して補正
オフセットずれ情報を格納した補正オフセットずれテー
ブルと、目的位置と基準位置の間に生じる振幅比ずれを
予め測定して補正振幅比ずれ情報を格納した補正振幅比
ずれテーブルと、目的位置と基準位置の間に生じる位相
ずれを予め測定した補正位相ずれ情報を格納した補正位
相ずれテーブルと、信号演算処理手段より出力される位
置情報に応じて補正オフセットずれテーブルより参照し
た補正オフセットずれ情報、および補正振幅比ずれテー
ブルより参照した補正振幅比ずれ情報により位置情報を
補正した補正位置情報を出力する第1の補正処理手段
と、スケール上の任意の位置を基準とする基準位置から
位置決めしたい距離だけ離れた目的位置付近の位置情報
に相当する目的位置情報に応じて補正位相ずれテーブル
より参照した補正位相ずれ情報で目的位置情報を補正し
た補正目的位置情報を出力する第2の補正処理手段と、
第1の補正処理手段の補正位置情報と第2の補正処理手
段の補正目的位置情報を処理して誤差情報を出力する情
報演算処理手段と、情報演算処理手段から出力される位
置誤差情報を駆動手段への入力信号に変換する変換処理
手段と、変換処理手段から出力される駆動信号により物
体を移動させる駆動手段とを有し、位置誤差情報が零に
なるように駆動信号を受けた駆動手段により物体を目的
の位置に移動させる位置決め制御機構において、前記補
正オフセットずれテーブルに、スケールを細かい間隔に
より測定した測定オフセットずれ情報を三次式で近似す
る測定オフセットずれ近似式を用いて、スケールを粗い
間隔により区切った補正オフセットずれテーブルの格納
位置に対する補正オフセットずれ情報を求めて格納し、
位置情報を取得するスケール上の位置に対して、スケー
ル上の位置前後の補正オフセットずれテーブルの格納位
置に応じた補正オフセットずれ情報を補正オフセットず
れテーブルより参照し、さらに一次近似により求めてス
ケール上の位置に対する補正オフセットずれ情報とする
ことを特徴とする。
【0010】また、前記補正振幅比ずれテーブルに、ス
ケールを細かい間隔により測定した測定振幅比ずれ情報
を二つの一次式で近似する測定振幅比ずれ近似式を用い
て、スケールの終始2点と二つの一次式の交点により定
義される補正振幅比ずれテーブルの格納位置に対する補
正振幅比ずれ情報を求めて格納し、位置情報を取得する
スケール上の位置に対して、スケール上の位置前後の補
正振幅比ずれテーブルの格納位置に応じた補正振幅比ず
れ情報を補正振幅比ずれテーブルより参照し、さらに一
次近似により求めてスケール上の位置に対する補正振幅
比ずれ情報とすることを特徴とする。
【0011】また、前記補正位相ずれテーブルに、スケ
ールを細かい間隔により測定した測定位相ずれ情報を一
次式で近似する測定位相ずれ近似式を用いて、スケール
の終始2点とする補正位相ずれテーブルの格納位置に対
する補正位相ずれ情報を求めて格納し、目的位置付近の
位置情報に相当する目的位置情報に対して、補正位相ず
れテーブルの格納位置に応じた補正位相ずれ情報を補正
位相ずれテーブルより参照し、さらに一次近似により求
めて前記目的位置情報に対する補正位相ずれ情報とする
ように構成したものである。
【0012】前記構成によれば、補正オフセットずれテ
ーブルに、スケールを細かい間隔で測定した測定オフセ
ットずれ情報を三次式により近似する測定オフセットず
れ近似式を用いて、スケールを粗い間隔で区切った補正
オフセットずれテーブルの格納位置に対する補正オフセ
ットずれ情報を求めて格納して、補正オフセットずれテ
ーブルの格納位置に応じた補正オフセットずれ情報を参
照し、さらに一次近似により求めることにより補正オフ
セットずれテーブルを小さな容量で構成できる。
【0013】また、補正振幅比ずれテーブルに、スケー
ルを細かい間隔により測定した測定振幅比ずれ情報を二
つの一次式で近似する測定振幅比ずれ近似式を用いて、
スケールの終始2点と二つの一次式の交点により定義さ
れる補正振幅比ずれテーブルの格納位置に対する補正振
幅比ずれ情報を求めて格納して、補正振幅比ずれテーブ
ルの格納位置に応じた補正振幅比ずれ情報を参照し、さ
らに一次近似により求めることにより補正振幅比ずれテ
ーブルを小さな容量で構成できる。
【0014】また、補正位相ずれテーブルに、スケール
を細かい間隔により測定した測定位相ずれ情報を一次式
で近似する測定位相ずれ近似式を用いて、スケールの終
始2点とする補正位相ずれテーブルの格納位置に対する
補正位相ずれ情報を求めて格納して、補正位相ずれテー
ブルの格納位置に応じた補正位相ずれ情報を参照し、さ
らに一次近似により求めることにより補正位相ずれテー
ブルを小さな容量で構成できる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明にお
ける実施の形態を詳細に説明する。基本的な構成は、前
記従来例を説明した図1に示した通りであり、その説明
は省略する。
【0016】図2は本実施の形態における補正オフセッ
トずれテーブルの効率よい構成とする説明を示す図であ
る。すなわち、前記従来例の構成においては、位置決め
する範囲が広くなると補正オフセットずれテーブルの容
量が増加することから、本実施の形態においては、図2
に示すようにスケール1のフルレンジの10%間隔とす
る測定座標30(30A〜30K)と、測定座標30で
測定した測定オフセットずれ情報31(31A〜31K
(図示せず))と、測定オフセットずれ情報31を最小
二乗法より三次式で近似した測定オフセットずれ近似式
32と、スケール1のフルレンジの25%間隔とする測
定座標の補正オフセットずれテーブル15(図1参照)
に格納する格納位置33(33A〜33E)と、補正オ
フセットずれテーブル15の格納位置33に対するオフ
セットずれを測定オフセットずれ近似式32より求めた
補正オフセットずれ情報34を格納するように補正オフ
セットずれテーブル15は構成されている。
【0017】よって、補正オフセットずれテーブル15
に格納されるのは、補正オフセットずれテーブル15の
格納位置33に対する補正オフセットずれ情報34だけ
なので、補正オフセットずれテーブル15の容量を小さ
くすることができる。
【0018】以上のように構成される補正オフセットず
れテーブル15の適用例を以下に説明する。いま、図2
に示すように、基準位置4は補正オフセットずれテーブ
ル15の格納位置33Aと格納位置33Bの間にあり、
また目的位置5は格納位置33Dと格納位置33Eの間
にあるとする。
【0019】基準位置4に対する補正オフセットずれ情
報34Rは、基準位置4の前の補正オフセットずれテー
ブル15の格納位置33Aに対する補正オフセットずれ
情報34Aと、基準位置4の後の補正オフセットずれテ
ーブル15の格納位置33Bに対する補正オフセットず
れ情報34Bとの一次近似から求められる。したがっ
て、基準位置4の補正オフセットずれ情報34Rは(数
1)のように
【0020】
【数1】34R=(33A・34B+33B・34A)
/(33A+33B) で与えられる。
【0021】また、目的位置5に対する補正オフセット
ずれ情報34Tは、目的位置5の前の補正オフセットず
れテーブル15の格納位置33Dに対する補正オフセッ
トずれ情報34Dと、目的位置5の後の補正オフセット
ずれテーブル15の格納位置33Eに対する補正オフセ
ットずれ情報34Eとの一次近似から求められる。した
がって、目的位置5の補正オフセットずれ情報34Tは
(数2)のように
【0022】
【数2】34T=(33D・34E+33E・34D)
/(33D+33E) で与えられる。
【0023】基準位置4の補正オフセットずれ情報34
Rに対する目的位置5の補正オフセットずれ情報34T
との差を目的位置5における補正オフセットずれ情報1
8(図1参照)とすることで適用される。
【0024】次に、図3は本実施の形態における補正振
幅比ずれテーブルの効率よい構成とする説明を示す図で
ある。
【0025】前記従来例においては、位置決めする範囲
が広くなると補正振幅比ずれテーブルの容量が増加する
ことから、本実施の形態においては、図3に示すよう
に、スケール1のフルレンジの10%間隔とする測定座
標30(30A〜30K)と、測定座標30で測定した
測定振幅比ずれ情報35(35A〜35K(図示せ
ず))と、測定振幅比ずれ情報35を位置36で交差す
る二つの一次式で近似した測定振幅比ずれ近似式37
と、スケール1の始点30Aと終点30Kと二つの一次
式が交差する位置36で定義される補正振幅比ずれテー
ブル16(図1参照)の格納位置38(38A〜38
B)と、補正振幅比ずれテーブル16の格納位置38に
対する振幅比ずれを測定振幅比ずれ近似式37より求め
た補正振幅比ずれ情報39を格納するように補正振幅比
ずれテーブル16は構成されている。
【0026】よって、補正振幅比ずれテーブルに格納さ
れるのは、補正振幅比ずれテーブル16の格納位置38
に対する補正振幅比ずれ情報39と位置36だけなの
で、補正振幅比ずれテーブルの容量を小さくすることが
できる。
【0027】以上のように構成される補正振幅比ずれテ
ーブル16の適用例を説明する。二つの一次式の交点を
測定座標の始点30Aから測定座標の終点30Kへと移
動させながら、測定振幅比ずれ情報35との最小二乗法
の誤差が最も小さくなる測定座標を位置36とする。ま
た、目的位置5での補正振幅比ずれ情報19(図1参
照)は、前記補正オフセットずれ情報18と同様に目的
位置5対する補正振幅比ずれ情報と基準位置4に対する
補正振幅比ずれ情報を求め、これの差で適用される。
【0028】図4は本実施の形態における補正位相ずれ
テーブルの効率よい構成とする説明を示す図である。す
なわち、前記従来例の構成においては、位置決めする範
囲が広くなると補正位相ずれテーブルの容量が増加する
ことから、本実施の形態においては、図4に示すよう
に、スケール1のフルレンジの10%間隔とする測定座
標30(30A〜30K)と、測定座標30で測定した
測定位相ずれ情報40(40A〜40K(図示せず))
と、測定位相ずれ情報40を一次式で近似した測定位相
ずれ近似式41と、スケール1の測定座標始点30Aと
測定座標終点30Kと定義される補正位相ずれテーブル
17(図1参照)の格納位置42(42Aと42B)
と、補正位相ずれテーブル17の格納位置42に対する
位相ずれを測定位相ずれ近似式41より求めた補正位相
ずれ情報43を格納するように補正位相ずれテーブル1
7は構成されている。
【0029】よって、補正位相ずれテーブルに格納され
るのは、補正位相ずれテーブル17の格納位置42に対
する補正位相ずれ情報43だけなので、補正位相ずれテ
ーブルの容量を小さくすることができる。
【0030】以上のように構成される補正位相ずれテー
ブル17の適用例を説明する。目的位置5での補正位相
ずれ情報20(図1参照)は、補正オフセットずれ情報
18と同様に目的位置5対する補正位相ずれ情報と基準
位置4に対する補正位相ずれ情報を求め、これの差で適
用される。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
補正オフセットずれテーブルに、スケールを細かい間隔
で測定した測定オフセットずれ情報を三次式により近似
する測定オフセットずれ近似式を用いて、スケールを粗
い間隔で区切った補正オフセットずれテーブルの格納位
置に対する補正オフセットずれ情報を求めて格納して、
スケール上の該当位置前後の格納位置に応じた補正オフ
セットずれ情報を参照し、さらに一次近似により求める
ことにより補正オフセットずれテーブルを小さな容量で
構成することができる。
【0032】また、補正振幅比ずれテーブルに、スケー
ルを細かい間隔により測定した測定振幅比ずれ情報を二
つの一次式で近似する測定振幅比ずれ近似式を用いて、
スケールの終始2点と二つの一次式の交点により定義さ
れる補正振幅比ずれテーブルの格納位置に対する補正振
幅比ずれ情報を求めて格納して、スケール上の該当位置
前後の格納位置に応じた補正振幅比ずれ情報を参照し、
さらに一次近似により求めることにより補正振幅比ずれ
テーブルを小さな容量で構成することができる。
【0033】また、補正位相ずれテーブルに、スケール
を細かい間隔により測定した測定位相ずれ情報を一次式
で近似する測定位相ずれ近似式を用いて、スケールの終
始2点とする補正位相ずれテーブルの格納位置に対する
補正位相ずれ情報を求めて格納して、スケール上の該当
目的位置前後の格納位置に応じた補正位相ずれ情報を参
照し、さらに一次近似により求めることにより補正位相
ずれテーブルを小さな容量で構成することができるとい
う効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】任意の基準位置から任意の目的位置へと位置決
めを行う位置決め制御機構の一例を示す図
【図2】本発明の実施の形態における補正オフセットず
れテーブルの効率よい構成とする説明を示す図
【図3】本発明の実施の形態における補正振幅比ずれテ
ーブルの効率よい構成とする説明を示す図
【図4】本発明の実施の形態における補正位相ずれテー
ブルの効率よい構成とする説明を示す図
【符号の説明】
1 スケール 2 センサー 3 物体 4 基準位置 5 目的位置 6 位置信号群 7 信号演算処理手段 8 位置情報 8′ 補正位置情報 9 目的位置情報 9′ 補正目的位置情報 10 情報演算処理手段 11 位置誤差情報 12 変換処理手段 13 駆動信号 14 駆動手段 15 補正オフセットずれテーブル 16 補正振幅比ずれテーブル 17 補正位相ずれテーブル 18 補正オフセットずれ情報 19 補正振幅比ずれ情報 20 補正位相ずれ情報 21,22 補正処理手段

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 周期的な位置情報が物理的に形成されて
    いるスケールと、前記スケール上の位置情報を感知する
    センサーと、前記センサーを二つ以上適切な位置に設置
    した位置決め対象の物体と、前記物体に設置されている
    センサーで感知することにより得られる二つ以上の位置
    信号群を処理して90度位相の異なる2相の位置情報を
    出力する信号演算処理手段と、目的位置と基準位置の間
    に生じるオフセットずれを予め測定して補正オフセット
    ずれ情報を格納した補正オフセットずれテーブルと、前
    記目的位置と前記基準位置の間に生じる振幅比ずれを予
    め測定して補正振幅比ずれ情報を格納した補正振幅比ず
    れテーブルと、前記目的位置と前記基準位置の間に生じ
    る位相ずれを予め測定した補正位相ずれ情報を格納した
    補正位相ずれテーブルと、前記信号演算処理手段より出
    力される前記位置情報に応じて前記補正オフセットずれ
    テーブルより参照した補正オフセットずれ情報、および
    前記補正振幅比ずれテーブルより参照した補正振幅比ず
    れ情報により前記位置情報を補正した補正位置情報を出
    力する第1の補正処理手段と、前記スケール上の任意の
    位置を基準とする基準位置から位置決めしたい距離だけ
    離れた目的位置付近の前記位置情報に相当する目的位置
    情報に応じて前記補正位相ずれテーブルより参照した補
    正位相ずれ情報で前記目的位置情報を補正した補正目的
    位置情報を出力する第2の補正処理手段と、前記第1の
    補正処理手段の補正位置情報と前記第2の補正処理手段
    の補正目的位置情報を処理して誤差情報を出力する情報
    演算処理手段と、前記情報演算処理手段から出力される
    位置誤差情報を前記駆動手段への入力信号に変換する変
    換処理手段と、前記変換処理手段から出力される駆動信
    号により前記物体を移動させる駆動手段とを有し、前記
    位置誤差情報が零になるように前記駆動信号を受けた前
    記駆動手段により前記物体を目的の位置に移動させる位
    置決め制御機構において、 前記補正オフセットずれテーブルに、前記スケールを細
    かい間隔により測定した測定オフセットずれ情報を三次
    式で近似する測定オフセットずれ近似式を用いて、前記
    スケールを粗い間隔により区切った前記補正オフセット
    ずれテーブルの格納位置に対する補正オフセットずれ情
    報を求めて格納し、 前記位置情報を取得する前記スケール上の位置に対し
    て、前記スケール上の位置前後の補正オフセットずれテ
    ーブルの前記格納位置に応じた補正オフセットずれ情報
    を前記補正オフセットずれテーブルより参照し、さらに
    一次近似により求めて前記スケール上の位置に対する補
    正オフセットずれ情報とすることを特徴とする位置決め
    制御機構。
  2. 【請求項2】 前記補正振幅比ずれテーブルに、スケー
    ルを細かい間隔により測定した測定振幅比ずれ情報を二
    つの一次式で近似する測定振幅比ずれ近似式を用いて、
    前記スケールの終始2点と前記二つの一次式の交点によ
    り定義される補正振幅比ずれテーブルの格納位置に対す
    る補正振幅比ずれ情報を求めて格納し、 前記位置情報を取得する前記スケール上の位置に対し
    て、前記スケール上の位置前後の補正振幅比ずれテーブ
    ルの前記格納位置に応じた補正振幅比ずれ情報を前記補
    正振幅比ずれテーブルより参照し、さらに一次近似によ
    り求めて前記スケール上の位置に対する補正振幅比ずれ
    情報とすることを特徴とする請求項1記載の位置決め制
    御機構。
  3. 【請求項3】 前記補正位相ずれテーブルに、スケール
    を細かい間隔により測定した測定位相ずれ情報を一次式
    で近似する測定位相ずれ近似式を用いて、前記スケール
    の終始2点とする補正位相ずれテーブルの格納位置に対
    する補正位相ずれ情報を求めて格納し、 目的位置付近の位置情報に相当する目的位置情報に対し
    て、補正位相ずれテーブルの前記格納位置に応じた補正
    位相ずれ情報を前記補正位相ずれテーブルより参照し、
    さらに一次近似により求めて前記目的位置情報に対する
    補正位相ずれ情報とすることを特徴とする請求項1また
    は2記載の位置決め制御機構。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002257590A (ja) * 2001-03-06 2002-09-11 Yaskawa Electric Corp 位置検出装置
CN112577407A (zh) * 2019-09-27 2021-03-30 大族激光科技产业集团股份有限公司 一种电容传感器参数漂移纠正方法及系统

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