JP2002318622A - 位置検出信号の補正方法及び位置決め装置 - Google Patents

位置検出信号の補正方法及び位置決め装置

Info

Publication number
JP2002318622A
JP2002318622A JP2001121631A JP2001121631A JP2002318622A JP 2002318622 A JP2002318622 A JP 2002318622A JP 2001121631 A JP2001121631 A JP 2001121631A JP 2001121631 A JP2001121631 A JP 2001121631A JP 2002318622 A JP2002318622 A JP 2002318622A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
value
position detection
correction
sensor
command value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2001121631A
Other languages
English (en)
Inventor
Yutaka Inada
豊 稲田
Masaaki Toyama
正明 外山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Taiheiyo Cement Corp
Original Assignee
Taiheiyo Cement Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Taiheiyo Cement Corp filed Critical Taiheiyo Cement Corp
Priority to JP2001121631A priority Critical patent/JP2002318622A/ja
Publication of JP2002318622A publication Critical patent/JP2002318622A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Control Of Position Or Direction (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 検出精度を高める位置検出センサの誤差補正
方法及び誤差補正のされた位置決め装置を提供する。 【解決手段】 位置検出センサをアクチュエータと共
に、位置決めステージに組み込み後、所定間隔で指令値
を与え、その指令値毎に、組み込まれた前記位置検出セ
ンサの検出値を得るステップと、前記所定間隔で与えら
れる指令値毎に、前記位置決めステージの外部に設置さ
れた高精度センサの検出値を得るステップと、前記指令
値毎に、前記位置検出センサの検出値と前記高精度セン
サの検出値との差から補正値を求めるステップと、前記
補正値を前記指令値に対応した補正テーブルとして、前
記位置決め装置の制御回路内の記憶手段に記憶するステ
ップと、前記位置決め装置の使用時に、指令値に対応し
た補正値を前記補正テーブルから読み出して、前記位置
検出センサの検出値を補正するステップとにより補正を
行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、圧電アクチュエー
タの如き微小なストローク変位を与える精密位置決め装
置に用いられる位置検出センサの誤差補正方法及び、誤
差補正の行われた精密位置決め装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、圧電アクチュエータを用いた
位置決め装置としては、特開平11−026826号公
報に記載のものがあった。該公報に記載のものは、図6
に示す構成である。
【0003】図6において、21は圧電アクチュエータ
であり、指令信号と変位センサ22とが与えられる差動
増幅器23の偏差出力に応じた電圧を発生する印加電圧
発生回路24の出力電圧が印加される。また、25は、
前記圧電アクチュエータに印加される電圧を検出する印
加電圧検出回路であり、該印加電圧検出回路の検出出力
を補正指令に応じて補正値演算回路26で補正して前記
変位センサ22の検出出力に加算している。
【0004】図6の構成は、図6の圧電アクチュエータ
21は、電圧を印加すると、歪みを発生する圧電材料で
構成されていて、当該圧電アクチュエータに以前どのよ
うな電圧を印加していたかに応じた履歴によって、変位
量が左右されるシステリシスを有しているのを改善する
ものである。
【0005】そして、図6の補正指令は、前記圧電アク
チュエータの以前の電圧印加に基づく履歴によるシステ
リシスの影響を除去するための補正信号である。また、
図6の変位センサとしては、静電容量式、磁気式、光学
式等の種々のものを対象としている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】圧電アクチュエータの
微小変位の変位量を検出する、位置検出手段として静電
容量型等センサを用いた場合に、その検出値に下記の如
きアナログ回路による検出信号の直線化処理特有の非直
線的誤差が生じて、精密な位置決めができないという問
題点があった。
【0007】位置検出センサとして静電容量型センサを
用いた場合の特性に関して、図7を用いて説明する。図
7は、指令値に対する実際の移動量をレーザ干渉計を用
いて静電容量型センサの直線性精度を評価したグラフで
ある。レーザ干渉計はその原理から直線性誤差がppmオ
ーダと極めて精度の高いセンサで、長さ測定の基準とな
っている。
【0008】図7の(b)は、レーザ干渉計の検出値(図
7(a))で静電容量型センサの検出値の誤差を拡大して
プロットしたものである。このように静電容量型センサ
等では、アナログ回路で直線化処理を行っているので、
位置に対する測定結果は図7(b)で示されるように、指
令値(0〜50000nm)に対して、位置測定誤差がS字型の
非直線的な特性(図7の右側目盛参照)を示す。この静
電容量型センサは、前記レーザ干渉計に比較して、小型
であると共に、安価である。
【0009】このように、静電容量型センサの分解能は
フルストロークの0.01%程度と極めて高いものの、直線
性精度はフルストロークの0.1%程度に留まる。このこ
とは、厳密な意味での位置検出精度が0.1%程度しか得
られないということを意味している。
【0010】しかし、静電容量型センサは、小型で安価
であると共に、検出精度がレーザ干渉計に比較して劣っ
ているが、図7の(b)に示す特性は、経時安定性及び再
現性に極めて優れているので、その測定精度の改善が望
まれていた。
【0011】本発明の課題(目的)は、小型で安価な静
電容量型センサを用いて、その位置検出信号に対して、
予めテーブルとして記憶された補正値によって、フィー
ドバック演算時に補正を行うことによって、より検出精
度を高める静電容量型センサの誤差補正方法及び誤差補
正のされた位置決め装置を提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、指令値に応じたアクチュエータの微小変位量を検出
する、位置検出センサを用いた位置決め装置における、
位置検出信号の補正方法において、前記位置検出センサ
を前記アクチュエータと共に、位置決めステージに組み
込み後、所定間隔で指令値を与え、その指令値毎に、組
み込まれた前記位置検出センサの検出値を得るステップ
と、前記所定間隔で与えられる指令値毎に、前記位置決
めステージの外部に設置された高精度センサの検出値を
得るステップと、前記指令値毎に、前記位置検出センサ
の検出値と前記高精度センサの検出値との差から補正値
を求めるステップと、前記補正値を前記指令値に対応し
た補正テーブルとして、前記位置決め装置の制御回路内
の記憶手段に記憶するステップと、前記位置決め装置の
使用時に、指令値に対応した補正値を前記補正テーブル
から読み出して、前記位置検出センサの検出値を補正す
るステップと、によって位置検出センサを用いた位置決
め装置における位置検出信号の補正を行うので、小型で
安価なセンサを用いて、より精度の高い位置決めができ
る。(請求項1)
【0013】また、前記補正値テーブルを作成する際の
前記指令値の所定間隔を、2のn乗ピッチ(2,4,
8,16,32,64,128,256,512・・
・)とすることによって、CPUの処理は2進数である
ので、2のn乗の区間で補正をかけることによりCPU
の演算処理が極めて高速にできる。また、演算が簡単な
プログラムですむので、プログラムコードが少なくて済
む(請求項2) また、前記位置決め装置の使用時に、指令値に対応した
補正値を前記補正テーブルから読み出すに際して、当該
指令値に一致する値が、補正テーブルに存在しない時
に、当該指令値の前後の補正値に基づいて補間を行うス
テップとによって、補正テーブルに該当する指令値が存
在しない場合も精度の良い補正を行うことができる。し
たがって、補正テーブルのデータ数を少なくすることが
可能になる。(請求項3) また、前記補正値の補間として、平均値補間でも良い。
(請求項4) また、前記補正値の補間として、当該指令値との偏差に
応じた比例値補間でも良い。(請求項5)
【0014】また、前記位置検出センサとして、小型で
安価な静電容量型センサを用いた場合には、静電容量型
センサ特有のアナログ回路で直線化処理に伴う、位置測
定誤差がS字型の非直線的な特性を補正することができ
る。(請求項6)
【0015】また、指令値に応じたアクチュエータの微
小変位量を検出する、位置検出センサを用いた位置決め
装置において、前記位置検出センサを前記アクチュエー
タと共に、位置決めステージに組み込み後、所定間隔で
指令値を与え、その指令値毎に、組み込まれた前記位置
検出センサの検出値を得ると共に、前記所定間隔で与え
られる指令値毎に、前記位置決めステージの外部に設置
された高精度センサの検出値を得て、前記指令値毎に、
前記位置検出センサの検出値と前記高精度センサの検出
値との差から補正値を求めた前記指令値に対応した補正
テーブルとして記憶する記憶手段と、前記位置決め装置
の使用時に、指令値に対応した補正値を前記補正テーブ
ルから読み出して、前記位置検出センサの検出値を補正
する補正手段と、とを備えることによって、小型で安価
な位置検出センサを用いて、より位置決め精度の高い精
密位置決め装置が得られる。(請求項7)また、前記位
置検出センサとして、小型で安価な静電容量型センサを
用いた場合にも、静電容量型センサ特有のアナログ回路
で直線化処理に伴う、位置測定誤差がS字型の非直線的
な特性を補正することができる。(請求項8)
【0016】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の静電容量型セン
サの誤差補正方法が適用される位置決め装置の装置構成
を示す図である。なお、位置検出センサとしては、静電
容量型センサが望ましいが、渦電流型センサ、光ファイ
バー型センサ、レーザ変位計等の、検出分解能と経時安
定性と再現性に優れたセンサであれば、直線性精度があ
る程度悪くとも使用が可能である。図1において、ホス
トコンピュータ1から指令値を与えられた位置決めコン
トローラ2には、静電容量型センサ3からの位置検出信
号がセンサアンプ4を介して与えれる。また、前記指令
信号とセンサアンプとの比較偏差出力は駆動アンプ5を
介して移動テーブル4に設置されたアクチュエータ(例
えば、圧電アクチュエータ)6に供給されてフィードバ
ックループを構成している。なお、アクチュエータとし
ては、必ずしも圧電アクチュエータである必要はなく、
磁歪アクチュエータ等を使用することが可能である。ま
た、静電容量センサ3と圧電アクチュエータ6は、微小
変位を与える移動テーブル7に組み込まれている。
【0017】また、図2は、本発明の静電容量型センサ
の誤差補正方法が適用される位置決め装置における信号
の流れ示す図である。図2において、位置センサ3及び
圧電アクチュエータ(圧電Act)6は図1と同じであ
る。
【0018】また、CPU20、補正テーブル21、ア
ナログ・デジタル変換器(A/D)23、デジタル・ア
ナログ変換器(D/A)で、位置決めコントローラを構
成している。CPU20には、指令信号と位置検出セン
サからの位置検出信号及び補正テーブルから読み出され
た補正信号が与えられて、静電容量型センサの検出値の
補正をおこなって、より精度の高い位置決めが行われ
る。
【0019】次に、本発明における静電容量型センサの
検出値の補正テーブルの作成の手順を以下に説明する。
まず、図1に示す如く、位置検出センサとしての静電容
量型センサ3及び圧電アクチュエータ6を移動テーブル
7に組み込んだ後に、ホストコンピュータ1から図3及
び4に示すように、指令値1〜100(イ)として、所定
間隔(512nm)で与えて、各指令値毎に、外部超高精度
センサ(レーザ干渉計等)で正確に定ピッチ移動させて
移動テーブルに組み込まれた静電容量型センサ3にて測
定する。
【0020】その測定結果が図3及び4のレーザ干渉計
の計測値(ロ)と、FB検出センサ(静電容量型セン
サ)の計測値(ハ)である。この場合、前記レーザ干渉
計計測値は、高精度であるので、指令値と等しいとして
いる。
【0021】次に、レーザ干渉計測定値(ロ)とFB検
出センサ計測値(ハ)との偏差を各指令値毎に求めて、
図3及び4の(ニ)に示すFBセンサ誤差を得る。次
に、得られたFBセンサ誤差に基づいて補正値を得る。
理想的には補正値は、補正後の誤差が零に近い値になる
ように選択され、指令分解能全点に対して補正値を準備
することで可能となるが、現実的には所定間隔での補正
値測定を行うので、この表にあるように補正後も1〜2
nm程度の誤差が残る。
【0022】上記の如く、全ての指令値(イ)0から1
00に対して、レーザ干渉計計測値(ロ)、FB検出セン
サ計測値(ハ)、FBセンサ誤差(ニ)、補正値
(ホ)、補正後(へ)及び補正後誤差(ト)を求めて、
補正テーブルを作成して記憶手段に記憶しておく。な
お、この補正テーブルは、移動テーブルに組み込まれた
圧電アクチュエータ及び静電容量型センサの組合せ毎に
得られるので、同じ種類の組合せでも、装置毎に、上記
測定を行って装置個別の補正テーブルを得て記憶する望
ましい。しかし、同じ種類の組合せの場合には、静電容
量型センサは同様の誤差の傾向があるので、或程度のエ
ラーを許容する場合には、他の装置で作成した補正テー
ブルを使用することも可能である。
【0023】次に、補正テーブルが記憶された、位置決
め装置における静電容量型センサの誤差補正の仕方につ
いて、説明する。図8は、前記図3及び4を簡略化した
ものであって、この図を用いて誤差補正の例(各区間の
補正値は、補正テーブルにおける前後の直近値の平均値
補間であって、四捨五入した整数の場合)を説明する。
【0024】図8のに示す補正値が記憶された補正テー
ブルを有する位置決め装置において、指令値が、1536〜
2048nm区間の場合には、1536nmにおける補正値+2と、
2048nmの補正値+3を求めて、(2+3)/2=2.5=
+3となり、この補正値がFB検出センサの計測値に加
えられることになる。補正値の補間は、平均値補間のみ
ではなく、当該指令値との偏差に応じた比例値補間とす
ることも可能である。
【0025】また、補間をせずに、補正テーブルの各区
間の場合には、当該指令値の直近上位(又は下位)の補
正値をその区間の補正値とすることも可能である。その
場合には、例えば、指令値が50176〜50688nmの間の範囲
にあれば、FBセンサ計測値から52nmを引いた値をFB
センサの計測値としてフィードバック制御が行われる。
【0026】上述の如く、静電容量型センサの計測値に
対する補正テーブルを設けた場合には、図5に示すよう
な出力特性になる。図5において、(a)は指令値(実際
の位置に対応する)をレーザ干渉計のような高精度セン
サで測定した測定結果であって、指令値(0〜51200nm)
に対してほぼ比例した非常に精度の良い測定値(図5の
左側目盛参照)が得られる。また、(b)は補正後の位
置測定誤差の指令値(実際の位置)0〜51200nmに対する
変動を示し(図5の右側目盛参照)、全ての範囲に亘っ
て±2nm以内(図5で示した0〜49719nm範囲内では±1
nm)に入っていて、位置決めの精度が大幅に改善されて
いることは明らかである。
【0027】
【発明の効果】請求項1に記載の発明では、指令値に応
じたアクチュエータの微小変位量を検出する、位置検出
センサを用いた位置決め装置における、位置検出信号の
補正方法において、前記位置検出センサを前記アクチュ
エータと共に、位置決めステージに組み込み後、所定間
隔で指令値を与え、その指令値毎に、組み込まれた前記
位置検出センサの検出値を得るステップと、前記所定間
隔で与えられる指令値毎に、前記位置決めステージの外
部に設置された高精度センサの検出値を得るステップ
と、前記指令値毎に、前記位置検出センサの検出値と前
記高精度センサの検出値との差から補正値を求めるステ
ップと、前記補正値を前記指令値に対応した補正テーブ
ルとして、前記位置決め装置の制御回路内の記憶手段に
記憶するステップと、前記位置決め装置の使用時に、指
令値に対応した補正値を前記補正テーブルから読み出し
て、前記位置検出センサの検出値を補正するステップ
と、によって位置検出センサを用いた精密位置決め装置
における位置検出信号の補正を行うので、小型で安価な
位置検出センサを用いて、より精度の高い位置決めがで
きる。また、従来の静電容量型センサや渦電流型センサ
等の位置検出センサにおいては、センサプローブとセン
サアンプが組み合わさった形で校正されていたので、セ
ンサプローブかセンサアンプのどちらか一方が故障した
際には、セットで交換する必要があった。本発明の場合
には、センサアンプは同じ特性になるように調整されて
おり、センサプローブの特性を補正するデータがテーブ
ル化されているので、センサプローブの故障の際には、
センサプローブを交換して、補正テーブルのデータを書
き換えれば良いので、センサプローブの互換性が確保で
きる。また、従来は、アナログ回路において、カットア
ンドトライで時間をかけて調整を行なっていたのが、本
発明の場合には、補正用のデータを自動的にとって、テ
ーブル化できるので、生産効率を向上させ、コストダウ
ンが可能になる。
【0028】また、請求項2に記載の発明では、前記補
正値テーブルを作成する際の前記指令値の所定間隔を、
2のn乗ピッチ(2,4,8.16,32,64,12
8,256,512・・・)とすることによって、CP
Uの処理は2進数であるので、2のn乗の区間で補正を
かけることによりCPUの演算処理が極めて高速にでき
る。その結果、演算が簡単なプログラムですむので、プ
ログラムコードが少なくて済む。また、請求項3記載の
発明では、前記位置決め装置の使用時に、指令値に対応
した補正値を前記補正テーブルから読み出すに際して、
当該指令値に一致する値が、補正テーブルに存在しない
時に、当該指令値の前後の補正値に基づいて補間を行う
ステップとによって、補正テーブルに該当する指令値が
存在しない場合のも精度の良い補正を行うことができ
る。したがって、補正テーブルのデータ数を少なくする
ことが可能になる。また、請求項4に記載の発明では、
前記補正値の補間として、平均値補間でも良い。また、
請求項5に記載の発明では、前記補正値の補間として、
当該指令値との偏差に応じた比例値補間でも良い。
【0029】また、請求項6に記載の発明では、前記位
置検出センサとして、小型で安価な静電容量型センサを
用いた場合には、静電容量型センサ特有のアナログ回路
で直線化処理に伴う、位置測定誤差がS字型の非直線的
な特性を補正することができる。(請求項5)
【0030】また、請求項7に記載の発明では、指令値
に応じたアクチュエータの微小変位量を検出する、位置
検出センサを用いた位置決め装置において、前記位置検
出センサを前記アクチュエータと共に、位置決めステー
ジに組み込み後、所定間隔で指令値を与え、その指令値
毎に、組み込まれた前記位置検出センサの検出値を得る
と共に、前記所定間隔で与えられる指令値毎に、前記位
置決めステージの外部に設置された高精度センサの検出
値を得て、前記指令値毎に、前記位置検出センサの検出
値と前記高精度センサの検出値との差から補正値を求め
た前記指令値に対応した補正テーブルとして記憶する記
憶手段と、前記位置決め装置の使用時に、指令値に対応
した補正値を前記補正テーブルから読み出して、前記位
置検出センサの検出値を補正する補正手段と、とを備え
ることによって、小型で安価な静電容量型センサを用い
て、より位置決め精度の高い精密位置決め装置が得られ
る。また、請求項8に記載の発明では、前記位置検出セ
ンサとして、小型で安価な静電容量型センサを用いた場
合にも、静電容量型センサ特有のアナログ回路で直線化
処理に伴う、位置測定誤差がS字型の非直線的な特性を
補正することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の位置決め装置の構成を示す図である。
【図2】本発明の信号の流れを示す図である。
【図3】本発明の計測データを示す表1である。
【図4】本発明の計測データを示す表2である。
【図5】本発明の補正手段で補正された結果を示す図で
ある。
【図6】従来の位置決め装置の構成を示す図である。
【図7】静電容量型センサの特性を示す図である。
【図8】補正テーブルを使用した補正値の計算の例を説
明するための図である。
【符号の説明】
1 ホストコンピュータ 2 位置決めコントローラ 3 静電容量型センサ 4 センサアンプ 5 駆動アンプ 6 圧電アクチュエータ 7 移動テーブル 20 CPU 21 補正テーブル 22 デジタル・アナログ変換器 23 アナログ・デジタル変換器

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 指令値に応じたアクチュエータの微小変
    位量を検出する、位置検出センサを用いた位置決め装置
    における、位置検出信号の補正方法において、 前記位置検出センサを前記アクチュエータと共に、位置
    決めステージに組み込み後、所定間隔で指令値を与え、
    その指令値毎に、組み込まれた前記位置検出センサの検
    出値を得るステップと、 前記所定間隔で与えられる指令値毎に、前記位置決めス
    テージの外部に設置された高精度センサの検出値を得る
    ステップと、 前記指令値毎に、前記位置検出センサの検出値と前記高
    精度センサの検出値との差から補正値を求めるステップ
    と、 前記補正値を前記指令値に対応した補正テーブルとし
    て、前記位置決め装置の制御回路内の記憶手段に記憶す
    るステップと、 前記位置決め装置の使用時に、指令値に対応した補正値
    を前記補正テーブルから読み出して、前記位置検出セン
    サの検出値を補正するステップと、 を含むことを特徴とする位置検出センサを用いた位置決
    め装置における位置検出信号の補正方法。
  2. 【請求項2】 前記補正値テーブルを作成する際の前記
    指令値の所定間隔は、2のn乗ピッチ(2,4,8,1
    6,32,64,128,256,512・・・)であ
    ることを特徴とする請求項2に記載の位置検出センサを
    用いた位置決め装置における位置検出信号の補正方法。
  3. 【請求項3】 前記位置決め装置の使用時に、指令値に
    対応した補正値を前記補正テーブルから読み出すに際し
    て、当該指令値に一致する値が、補正テーブルに存在し
    ない時に、当該指令値の前後の補正値に基づいて補間を
    行うステップと、 を含むことを特徴とする請求項1又は2に記載の位置検
    出センサを用いた位置決め装置における位置検出信号の
    補正方法。
  4. 【請求項4】 前記補正値の補間は、平均値補間である
    ことを特徴とする請求項3に記載の位置検出センサを用
    いた位置決め装置における位置検出信号の補正方法。
  5. 【請求項5】 前記補正値の補間は、当該指令値との偏
    差に応じた比例値補間であることを特徴とする請求項3
    に記載の位置検出センサを用いた位置決め装置における
    位置検出信号の補正方法。
  6. 【請求項6】 前記位置検出センサが静電容量型センサ
    であることを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に
    記載の位置検出センサを用いた位置決め装置における位
    置検出信号の補正方法。
  7. 【請求項7】 指令値に応じたアクチュエータの微小変
    位量を検出する、位置検出センサを用いた位置決め装置
    において、 前記位置検出センサを前記アクチュエータと共に、位置
    決めステージに組み込み後、所定間隔で指令値を与え、
    その指令値毎に、組み込まれた前記位置検出センサの検
    出値を得ると共に、前記所定間隔で与えられる指令値毎
    に、前記位置決めステージの外部に設置された高精度セ
    ンサの検出値を得て、前記指令値毎に、前記位置検出セ
    ンサの検出値と前記高精度センサの検出値との差から補
    正値を求めた前記指令値に対応した補正テーブルとして
    記憶する記憶手段と、 前記位置決め装置の使用時に、指令値に対応した補正値
    を前記補正テーブルから読み出して、前記位置検出セン
    サの検出値を補正する補正手段と、 とを備えることを特徴とする位置決め装置。
  8. 【請求項8】 前記位置検出センサが静電容量型センサ
    であることを特徴とする請求項7項に記載の位置決め装
    置。
JP2001121631A 2001-04-19 2001-04-19 位置検出信号の補正方法及び位置決め装置 Pending JP2002318622A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001121631A JP2002318622A (ja) 2001-04-19 2001-04-19 位置検出信号の補正方法及び位置決め装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001121631A JP2002318622A (ja) 2001-04-19 2001-04-19 位置検出信号の補正方法及び位置決め装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002318622A true JP2002318622A (ja) 2002-10-31

Family

ID=18971463

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001121631A Pending JP2002318622A (ja) 2001-04-19 2001-04-19 位置検出信号の補正方法及び位置決め装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002318622A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006275791A (ja) * 2005-03-29 2006-10-12 Taiheiyo Cement Corp 位置決め装置および位置決めステージの制御方法
WO2008020006A1 (de) * 2006-08-14 2008-02-21 Physik Instrumente (Pi) Gmbh & Co. Kg Verstelleinrichtung mit hoher positionsauflösung, auch im nano- oder subnanometerbereich
KR100842003B1 (ko) * 2006-12-06 2008-06-27 (주)나노알앤씨 위치검출시스템 및 방법
JP2009026300A (ja) * 2007-06-13 2009-02-05 Carl Zeiss Smt Ltd 保持部材の位置を制御および監視するための方法および装置
US7866829B2 (en) 2005-12-29 2011-01-11 Seiko Epson Corporation Optical diaphragm, projector, correction parameter calibrator, and correction parameter calibrating method
JP2011027999A (ja) * 2009-07-24 2011-02-10 Olympus Corp 内視鏡装置
JP2016515946A (ja) * 2013-01-28 2016-06-02 シーウェア システムズSi−Ware Systems 光mems干渉計におけるミラー位置の自己校正

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006275791A (ja) * 2005-03-29 2006-10-12 Taiheiyo Cement Corp 位置決め装置および位置決めステージの制御方法
US7866829B2 (en) 2005-12-29 2011-01-11 Seiko Epson Corporation Optical diaphragm, projector, correction parameter calibrator, and correction parameter calibrating method
WO2008020006A1 (de) * 2006-08-14 2008-02-21 Physik Instrumente (Pi) Gmbh & Co. Kg Verstelleinrichtung mit hoher positionsauflösung, auch im nano- oder subnanometerbereich
JP2010500675A (ja) * 2006-08-14 2010-01-07 フィジック インストゥルメント(ピーアイ)ゲーエムベーハー アンド ツェーオー.カーゲー サブナノ〜ナノメートル範囲の高位置分解能を有する調節装置
KR100842003B1 (ko) * 2006-12-06 2008-06-27 (주)나노알앤씨 위치검출시스템 및 방법
JP2009026300A (ja) * 2007-06-13 2009-02-05 Carl Zeiss Smt Ltd 保持部材の位置を制御および監視するための方法および装置
JP2011027999A (ja) * 2009-07-24 2011-02-10 Olympus Corp 内視鏡装置
JP2016515946A (ja) * 2013-01-28 2016-06-02 シーウェア システムズSi−Ware Systems 光mems干渉計におけるミラー位置の自己校正

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5261349B2 (ja) 補償済センサ出力のための装置及び方法
US7006938B2 (en) Reactive sensor modules using Pade' Approximant based compensation and providing module-sourced excitation
JP2001527648A (ja) 温度変化によるセンサの非線形オフセットおよび感度変化の精度補償のためのシステムおよび方法
US5305241A (en) Error correcting apparatus in position detection
JP2008129018A (ja) 位置測定装置
JP2002318622A (ja) 位置検出信号の補正方法及び位置決め装置
US5321992A (en) Measurement of gas flows with enhanced accuracy
EP0182394B1 (en) A method of increasing the accuracy of a length measuring system by calibrating the system against a more accurate reference system
JPH08247783A (ja) トランスデューサ
JP7440270B2 (ja) センサー装置及びセンサー装置の動作方法
JPH09264759A (ja) エンコーダの信号補正方法および装置
US7359826B2 (en) Method and device for detection of oscillations by a position measuring system
JPH0353114A (ja) 位置検出装置
JP4748559B2 (ja) アブソリュートエンコーダ
JP3217895B2 (ja) 位置検出装置
JP3188041B2 (ja) 位置検出装置
JP2004108959A (ja) 形状測定装置
JPH052933B2 (ja)
JPS63256814A (ja) 位置検出装置
JPH11118617A (ja) 温度調節器
JPH0524753B2 (ja)
JPH04117186A (ja) 高精度移動ステージ装置
US6798718B1 (en) Sensor timepiece, sensor timepiece data input system and method, and computer readable recording medium
JPH1188165A (ja) アナログ信号の入力装置及びその入力方法ならびに記録媒体
US20050092904A1 (en) Analog position encoder

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071221

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090811

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090818

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090930

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20090930

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20091027