JP2002167299A - 単結晶の育成方法 - Google Patents

単結晶の育成方法

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JP2002167299A JP2000363532A JP2000363532A JP2002167299A JP 2002167299 A JP2002167299 A JP 2002167299A JP 2000363532 A JP2000363532 A JP 2000363532A JP 2000363532 A JP2000363532 A JP 2000363532A JP 2002167299 A JP2002167299 A JP 2002167299A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 200〜400μm程の粒径の供給原料を用
いると結晶にクラックが発生しやすくなるということが
問題となっており、本発明はこのような単結晶の育成中
の供給原料に用いる粒径に関して不利、問題点を解決し
たLiNb1−xTa(0≦x≦1)単結晶の製
造方法を提供する。 【解決手段】 DCCZ法によるLiNb1−xTa
(0≦x≦1)単結晶の育成方法において、単結晶
の育成中に原料溶液中に供給する供給原料のうち重量比
で30%以上の粉末が500μm以上の粒径であること
を特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、LiNb1−x
(0≦x≦1)単結晶の育成技術に係わり、特
にクラック発生確率が低く、さらに粉詰まり発生確率が
小さい、DCCZ法によるLiNb1−xTa
(0≦x≦1)単結晶の育成技術に関する。
【0002】
【従来の技術】LiNbO単結晶(LN単結晶と称
す)やLiTaO単結晶(LT単結晶と称す)、また
その中間組成の結晶はSAW素子や光素子の基板材料と
して優れた特性を有している。以後、LN単結晶、LT
単結晶およびその中間組成の結晶を含めて、 LiNb
1−xTa(0≦x≦1)単結晶と称す。
【0003】LN単結晶やLT単結晶は、育成が容易と
いう理由で、従来はバッチ法のCZ法でコングルエント
組成の結晶が育成されてきた。一方、特開平11−35
393号等で開示されている、引き上げる結晶と同じ組
成の原料を連続的に供給しながら結晶を引き上げる原料
連続供給型二重坩堝CZ法(以下、DCCZ法)が、育
成環境の経時変化、即ち、融液組成や液量減少を伴わな
い育成法として注目されている。このDCCZ法は、定
比組成のLN単結晶やLT単結晶に特に有効であるが、
コングルエント組成のLN単結晶やLT単結晶の育成に
おいても、長尺で均一性の高い結晶を育成できるという
点で、本手段は有効な手段であると考えられる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来一般的に用いてい
る供給原料の粒径は200〜400μm程である。しか
しながら、前記の粒径の供給原料を用いると結晶にクラ
ックが発生しやすくなるということが本発明者らの実験
で確認され、問題となっていた。本発明はこのような従
来には検討されていない単結晶の育成中の供給原料に用
いる粒径に関して不利、問題点を解決したLiNb
1−xTa(0≦x≦1)単結晶の製造方法に関
するものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、供給する
原料の粒径を所定の大きさにすることでクラック発生率
が減少することを見出した。さらに、振動により原料を
輸送する機構を備えた供給装置を使用することで、大き
な粒径の顆粒の使用でも、低い粉詰まり発生頻度での供
給が可能となることを示した。
【0006】つまり、本発明はDCCZ法によるLiN
1−xTa(0≦x≦1)単結晶の育成方法に
おいて、単結晶の育成中に原料溶液中に供給する供給原
料のうち重量比で30%以上の粉末が500μm以上の
粒径であることを特徴とする。また、供給原料のうち重
量比で30%以上の粉末が500〜2000μm、さら
には500〜1000μmであることが好ましい。
【0007】大きな粒径の供給原料を用いることで、ク
ラック発生頻度の低いLiNb1− Ta(0≦
x≦1)単結晶の製造を実現できる。大きな粒径の原料
供給を行う場合には、粉詰まりの問題はより顕著にな
る。よって原料を供給する部分で供給するための部品同
士が摺動するものは間に粉詰まりが発生するため好まし
くない。よって例えば振動により原料を輸送する機構を
備えた供給装置の使用は非常に有効である。
【0008】供給原料の粒径を大きくすることでクラッ
ク発生頻度が低くなる機構は定かでないが、供給した原
料のうち、解け残ったものが育成融液内を舞い、これが
結晶するためと考えられる。供給原料の粒径を大きくす
ることで、単位重量当りの粒子数が減り、発生する微小
粒子数が小さくなり、結果としてクラックの発生頻度を
低減できたものと考えている。
【0009】本発明で用いた供給原料の粒径規定の範囲
限定の理由を述べる。供給原料の粒径が500μm未満
であると上記事項が原因と推察される要因から育成した
単結晶にクラックの発生頻度が高くなる。逆に2000
μmよりも大きくなると単位体積あたりの表面積が小さ
くなり、原料溶液中に供給した際溶融し難い等の問題が
ある。よって溶湯制御の観点から考慮すると2000μ
mよりも小さいことが好ましい。さらに好ましくは50
0〜1000μmの範囲に粒径をそろえることである。
本発明において粒径とは最長辺を示したものであり、簡
便な測定法としては篩を用いて分級することが挙げられ
る。
【0010】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施例を示す。 (実施例1)高純度LiO、Nbの原料粉末を
準備し、Liモル濃度が0.59の融液合成用原料と、
Liモル濃度が0.50の定比組成原料を各々調整し
た。次に、各々の原料を約1050℃の大気中で焼結
し、各々を約98MPaの静水圧でラバープレス成形
し、原料塊を作成した。このうち、定比組成原料塊を、
供給用原料として約1150℃の大気中で焼結し、粉砕
し、大きさが50μm以上500μm、および500μ
m以上800μmと、2つのサイズの範囲になるよう篩
を用いて分級し、それぞれの重量比が1:1となるよう
に混合し、供給原料とした。次に、二重るつぼ法による
単結晶育成を行った。作成したLiモル濃度が0.59
の原料からなる原料塊を内側および外側るつぼに予め充
填し、次にるつぼを加熱してLi成分過剰な融液を作成
した。
【0011】ここで、DCCZ法の原理について図1を
用いて詳細に説明する。図1は本発明に用いた育成炉1
を示すものである。本実施例に用いた二重るつぼの構造
は、外るつぼ35の内部に、円筒36(内るつぼと呼
ぶ)を設置した構造とした。内るつぼの底付近には、外
るつぼから内るつぼに通じる孔を設けた。この孔は約2
0mm×30mmの四角形状で、内るつぼに3箇所設け
た。液高さは約50mmとし、この四角形状の孔が完全
に液内に沈んだ状態とした。ここで、育成に用いたるつ
ぼの材質は白金製のものを用い、かつ周囲を育成炉体4
7でカバーし外部雰囲気の流入を防止した。用いた二重
るつぼの形状は、外るつぼ35が直径約170mmで高
さが約100mm、内るつぼ36が直径約120mmで
高さを約250mmとした。内るつぼの高さを、外るつ
ぼより150mm程高くしたのは、供給原料の一部が雰
囲気中を飛散し、育成中の結晶に付着することを防ぐ為
である。内るつぼ36と外るつぼ35の間は片側約25
mmのスペース34があり、ここに原料45がスムーズ
に落下できるように原料供給管37を安定に設置した。
前記原料供給管の一端には振動を利用した原料輸送機構
が備えられている。融液表面の様子をビデオカメラ(図
示せず)で観察した。るつぼを回転しないと融液表面の
対流はほとんど見られないが、るつぼ回転機構50によ
りるつぼの回転数を徐々に上げていくと、回転方向への
強制的な融液対流が強くなる様子が見られ、るつぼの回
転の効果が観察された。
【0012】内側るつぼ内のLi成分過剰の融液41か
ら結晶を成長させた。融液の温度を高周波発振機48への
投入電力と高周波誘導コイル43により所定の温度に安
定させた後、Z軸方位に切り出した5mm×5mm×長
さ70mmの単一分極状態にあるLN単結晶を種結晶4
0として回転支持棒38の下部に接続し、融液41に付
け、融液温度を制御しながら結晶を回転させて上方向に
引き上げることでLN単結晶42を成長させた。育成雰
囲気は数%の酸素を含む窒素中とした。LT単結晶42の
回転速度は5〜20rpmの範囲内で一定とし、引き上
げ速度は0.5から3.0mm/hの範囲で変化させた。
育成した結晶から約90mm径のウエハーが作成できる
よう結晶の直胴部に対し、自動直径制御を行った。さら
に、育成結晶成長重量をロードセル44により測定し、
結晶化した成長量に見合った量のLiモル濃度モル分率
が0.50の定比組成原料45を外側るつぼ35に供給
した。ここではLT単結晶42の成長量変化がコンピュー
タ49により求められているので、原料45の供給はLT
種結晶40から単結晶42の育成が始まり直径制御が安
定化した時点から開始した。原料45の供給は、予め育
成炉体47上部に設置した重量測定センサーを兼ね備え
た密封容器46内に保管した原料45をセラミックスあ
るいは貴金属からなる供給管37を通じて行った。供給
管37及び密封容器46に毎分50〜500ccの範囲
でガス51を弁を具備するガス管33を介して流入し
た。ガス51の流量は供給する原料45の単位時間当た
りの量と粒径によって最適化した。これによって、飛散
や供給管37内での詰まりのない円滑な原料供給を行っ
た。育成中、貴金属二重るつぼを回転させることで、供
給した粉末原料の融液との均質化と同時に、強制的に結
晶成長界面を液面に対してフラットもしくは凸になるよ
う融液の対流を制御した。各々の組成において約1週間
の育成を実施した。育成終了時の結晶の融液からの切り
離しは、1mm/秒の引上げ速度で行った。これにより
育成中の結晶底部における固液界面状態の観察が可能と
なった。数回の育成を行ったが、全ての育成で、直径9
0mm,直胴部長さ50mm程度の無色透明のLN単結
晶を得た。
【0013】(実施例2)Liモル濃度が0.50の定
比組成原料について、約1050℃の大気中で焼結し、
約98MPaの静水圧でラバープレス成形し、さらに約
1150℃の大気中で焼結し、粉砕したものを、粒径が
50μm以上500μm、および500μm以上800
μmと、2つのサイズの範囲になるよう篩を用いて分級
し、それぞれの重量比が1:2となるように混合し、供
給原料とした。それ以外は実施例1と同様にしてLN単
結晶の製造を行った。
【0014】(実施例3)Liモル濃度が0.50の定
比組成原料について、約1050℃の大気中で焼結し、
約98MPaの静水圧でラバープレス成形し、さらに約
1150℃の大気中で焼結し、粉砕したものを、粒径が
500μm以上800μmの範囲になるよう篩を用いて
分級し、供給原料とした。それ以外は実施例1と同様に
してLN単結晶の製造を行った。
【0015】(比較例1)Liモル濃度が0.50の定
比組成原料について、約1050℃の大気中で焼結し、
約98MPaの静水圧でラバープレス成形し、さらに約
1150℃の大気中で焼結し、粉砕したものを、粒径が
50μm以上500μm、および500μm以上800
μmと、2つのサイズの範囲になるよう篩を用いて分級
し、それぞれの重量比が3:1となるように混合し、供
給原料とした。それ以外は実施例1と同様にして、数回
のLN単結晶の製造を行った。
【0016】(比較例2)Liモル濃度が0.50の定
比組成原料について、約1050℃の大気中で焼結し、
約98MPaの静水圧でラバープレス成形し、さらに約
1150℃の大気中で焼結し、粉砕したものを、粒径が
50μm以上500μm、および500μm以上800
μmと、2つのサイズの範囲になるよう篩を用いて分級
し、それぞれの重量比が4:1となるように混合し、供
給原料とした。それ以外は実施例1と同様にして、数回
のLN単結晶の製造を行った。
【0017】(比較例3)Liモル濃度が0.50の定
比組成原料について、約1050℃の大気中で焼結し、
約98MPaの静水圧でラバープレス成形し、さらに約
1150℃の大気中で焼結し、粉砕したものを、粒径が
50μm以上500μmの範囲になるよう篩を用いて分
級し、供給原料とした。それ以外は実施例1と同様にし
て、数回のLN単結晶の製造を行った。
【0018】(実施例4)高純度LiO、Ta
の原料粉末を準備し、Liモル濃度が0.60の融液合
成用原料と、Liモル濃度が0.50の定比組成原料を
混合した。次に、各々の原料を約1050℃の大気中で
焼結し、各々を約300MPaの静水圧でラバープレス
成形し、原料塊を作成した。このうち、定比組成原料塊
を、供給用原料として約1350℃の大気中で焼結し、
粉砕し、大きさが50μm以上500μm、および50
0μm以上800μmと、2つのサイズの範囲になるよ
う篩を用いて分級し、それぞれの重量比が1:1となる
ように混合し、供給原料として使用した。次に、二重る
つぼ法による単結晶育成を行った。作成したLiモル濃
度が0.60の原料からなる原料塊を内側および外側る
つぼに予め充填し、次にるつぼを加熱してLi成分過剰
な融液を作成した。
【0019】実施例1と同様、図1に示す装置を使用
し、内側るつぼ内のLi成分過剰の融液41から結晶を
成長させた。融液の温度を高周波発振機48への投入電力
と高周波誘導コイル43により所定の温度に安定させた
後、Y軸方位に切り出した5mm×5mm×長さ70m
mの単一分極状態にあるLT単結晶を種結晶40として
回転支持棒38の下部に接続し、融液41に付け、融液
温度を制御しながら結晶を回転させて上方向に引き上げ
ることでLT単結晶42を成長させた。育成雰囲気は数
%の酸素を含む窒素中とした。LT単結晶42の回転速
度は5〜20rpmの範囲内で一定とし、引き上げ速度
は0.5から3.0mm/hの範囲で変化させた。育成し
た結晶から約90mm径のウエハーが作成できるよう結
晶の直胴部に対し、自動直径制御を行った。さらに、育
成結晶成長重量をロードセル44により測定し、結晶化
した成長量に見合った量のLiモル濃度モル分率が0.
50の定比組成原料45を外側るつぼ35に供給した。
ここではLT単結晶42の成長量変化がコンピュータ4
9により求められているので、原料45の供給はLT種
結晶40から単結晶42の育成が始まり直径制御が安定
化した時点から開始した。原料45の供給は、予め育成
炉体47上部に設置した重量測定センサーを兼ね備えた
密封容器46内に保管した原料45をセラミックスある
いは貴金属からなる供給管37を通じて行った。前記原
料供給管の一端には振動を利用した原料輸送機構が備え
られている。供給管37及び密封容器46に毎分50〜
500ccの範囲でガス51を弁を具備するガス管33
を介して流入した。ガス51の流量は供給する原料45
の単位時間当たりの量と粒径によって最適化した。これ
によって、飛散や供給管37内での詰まりのない円滑な
原料供給を行った。育成中、貴金属二重るつぼを回転さ
せることで、供給した粉末原料の融液との均質化と同時
に、強制的に結晶成長界面を液面に対してフラットもし
くは凸になるよう融液の対流を制御した。各々の組成に
おいて約1週間の育成を実施した。育成終了時の結晶の
融液からの切り離しは、1mm/秒の引上げ速度で行っ
た。これにより育成中の結晶底部における固液界面状態
の観察が可能となった。数回の育成を行ったが、全ての
育成で、直径約90mm,長さ50mm程度の無色透明
のLT単結晶を得た。
【0020】(実施例5)Liモル濃度が0.50の定
比組成原料について、約1050℃の大気中で焼結し、
約300MPaの静水圧でラバープレス成形し、さらに
大気中で1350℃前後で焼結し、粉砕したものを、大
きさが50μm以上500μm、および500μm以上
800μmと、2つのサイズの範囲になるよう篩を用い
て分級し、それぞれの重量比が1:2となるように混合
し、供給原料とした。それ以外は実施例1と同様にして
LT単結晶の製造を行った。
【0021】(実施例6)Liモル濃度が0.50の定
比組成原料について、約1050℃の大気中で焼結し、
約300MPaの静水圧でラバープレス成形し、さらに
大気中で1350℃前後で焼結し、粉砕したものを、粒
径が500μm以上800μmの範囲になるよう篩を用
いて分級し、供給原料とした。それ以外は実施例4と同
様にしてLT単結晶の製造を行った。
【0022】(比較例4)Liモル濃度が0.50の定
比組成原料について、約1050℃の大気中で焼結し、
約300MPaの静水圧でラバープレス成形し、さらに
大気中で1350℃前後で焼結し、粉砕したものを、粒
径が50μm以上500μm、および500μm以上8
00μmと、2つのサイズの範囲になるよう篩を用いて
分級し、それらを重量比3:1で混合し、供給原料とし
た。それ以外は実施例4と同様にして、数回のLT単結
晶の製造を行った。
【0023】(比較例5)Liモル濃度が0.50の定
比組成原料について、約1050℃の大気中で焼結し、
約300MPaの静水圧でラバープレス成形し、さらに
大気中で1350℃前後で焼結し、粉砕したものを、粒
径が50μm以上500μm、および500μm以上8
00μmと、2つのサイズの範囲になるよう篩を用いて
分級し、それらを重量比4:1で混合し、供給原料とし
た。それ以外は実施例4と同様にして、数回のLT単結
晶の製造を行った。
【0024】(比較例6)Liモル濃度が0.50の定
比組成原料について、約1050℃の大気中で焼結し、
約300MPaの静水圧でラバープレス成形し、さらに
大気中で1350℃前後で焼結し、粉砕したものを、粒
径が50μm以上500μmの範囲になるよう篩を用い
て分級し、供給原料とした。それ以外は実施例4と同様
にして、数回のLT単結晶の製造を行った。
【0025】(実施例7)高純度LiO、Ta
の原料粉末を準備し、Liモル濃度が0.485となる
ように秤量、混合し、各々の原料を約1050℃の大気
中で焼結し、各々を約300MPaの静水圧でラバープ
レス成形し、原料塊を作成した。このうちの一部を供給
用原料として、大気中で1400℃前後の温度で焼結
し、粉砕し、大きさが50μm以上500μm、および
500μm以上800μmと、2つのサイズの範囲にな
るよう篩を用いて分級し、それぞれの重量比が1:1と
なるように混合し、供給原料として使用した。次に、二
重るつぼ法による単結晶育成を行った。残った焼結原料
を内側および外側るつぼに予め充填し、次にるつぼを加
熱してコングルエント組成の融液を作成した。
【0026】実施例1と同様、図1に示す装置を使用
し、内側るつぼ内の融液41から結晶を成長させた。融
液の温度を高周波発振機48への投入電力と高周波誘導コ
イル43により所定の温度に安定させた後、Y軸方位に
切り出した5mm×5mm×長さ70mmの単一分極状
態にあるLT単結晶を種結晶40として回転支持棒38
の下部に接続し、融液41に付け、融液温度を制御しな
がら結晶を回転させて上方向に引き上げることでLT単
結晶42を成長させた。育成雰囲気は数%の酸素を含む
窒素中とした。LT単結晶42の回転速度は5〜20r
pmの範囲内で一定とし、引き上げ速度は0.5から
4.0mm/hの範囲で変化させた。育成した結晶から約
90mm径のウエハーが作成できるよう結晶の直胴部に
対し、自動直径制御を行った。さらに、育成結晶成長重
量をロードセル44により測定し、結晶化した成長量に
見合った量のコングルエント組成原料45を外側るつぼ
35に供給した。ここではLT単結晶42の成長量変化
がコンピュータ49により求められているので、原料4
5の供給はLT種結晶40から単結晶42の育成が始ま
り直径制御が安定化した時点から開始した。原料45の
供給は、予め育成炉体47上部に設置した重量測定セン
サーを兼ね備えた密封容器46内に保管した原料45を
セラミックスあるいは貴金属からなる供給管37を通じ
て行った。前記原料供給管の一端には振動を利用した原
料輸送機構が備えられている。供給管37及び密封容器
46に毎分50〜500ccの範囲でガス51を弁を具
備するガス管33を介して流入した。ガス51の流量は
供給する原料45の単位時間当たりの量と粒径によって
最適化した。これによって、飛散や供給管37内での詰
まりのない円滑な原料供給を行った。育成中、貴金属二
重るつぼを回転させることで、供給した粉末原料の融液
との均質化と同時に、強制的に結晶成長界面を液面に対
してフラットもしくは凸になるよう融液の対流を制御し
た。各々の組成において約1週間の育成を実施した。育
成終了時の結晶の融液からの切り離しは、1mm/秒の
引上げ速度で行った。これにより育成中の結晶底部にお
ける固液界面状態の観察が可能となった。数回の育成を
行ったが、全ての育成で、直径約90mm,長さ50m
m程度の無色透明のLT単結晶を得た。
【0027】(実施例8)コングルエント組成原料を、
約1050℃の大気中で焼結し、約300MPaの静水
圧でラバープレス成形し、さらに大気中で1400℃前
後で焼結し、粉砕したものを、大きさが50μm以上5
00μm、および500μm以上800μmと、2つの
サイズの範囲になるよう篩を用いて分級し、それらを重
量比1:2で混合し、供給原料とした。それ以外は実施
例1と同様にしてLT単結晶の製造を行った。
【0028】(実施例9)コングルエント組成原料を、
約1050℃の大気中で焼結し、約300MPaの静水
圧でラバープレス成形し、さらに大気中で1400℃前
後で焼結し、粉砕したものを、粒径が500μm以上8
00μmの範囲になるよう篩を用いて分級し、供給原料
とした。それ以外は実施例1と同様にしてLT単結晶の
製造を行った。
【0029】(比較例7)コングルエント組成原料を、
約1050℃の大気中で焼結し、約300MPaの静水
圧でラバープレス成形し、さらに大気中で1400℃前
後で焼結し、粉砕したものを、粒径が50μm以上50
0μm、および500μm以上800μmと、2つのサ
イズの範囲になるよう篩を用いて分級し、それらを重量
比3:1で混合し、供給原料とした。それ以外は実施例
1と同様にして、数回のLT単結晶の製造を行った。
【0030】(比較例8)コングルエント組成原料を、
約1050℃の大気中で焼結し、約300MPaの静水
圧でラバープレス成形し、さらに大気中で1400℃前
後で焼結し、粉砕したものを、粒径が50μm以上50
0μm、および500μm以上800μmと、2つのサ
イズの範囲になるよう篩を用いて分級し、それらを重量
比4:1で混合し、供給原料とした。それ以外は実施例
1と同様にして、数回のLT単結晶の製造を行った。
【0031】(比較例9)コングルエント組成原料を、
約1050℃の大気中で焼結し、約300MPaの静水
圧でラバープレス成形し、さらに大気中で1400℃前
後で焼結し、粉砕したものを、粒径が50μm以上50
0μmの範囲になるよう篩を用いて分級し、供給原料と
した。それ以外は実施例1と同様にして、数回のLT単
結晶の製造を行った。
【0032】上記実験で確認されたクラックの発生率を
表1にまとめた。発生率は、クラックが存在した結晶数
を全育成結晶数で割った値に100をかけた値とする。
【0033】
【表1】
【0034】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明方法によれ
ば、DCCZ法における供給原料の粉詰まりなしに、さ
らに低いクラック発生頻度で、LN単結晶やLT単結晶
を育成することができる。また、本明細書では定比組成
のLN単結晶、およびLT単結晶、コングルエント組成
のLT単結晶の育成例についてのみ示したが、本発明の
内容が、原料供給に伴った問題を解決するものである
為、コングルエント組成のLN単結晶や、LN単結晶と
LT単結晶の間に位置する、LiNb1−xTa
(0≦x≦1)の化学式で示される単結晶の育成におい
ても有効である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に用いた育成炉を示す一例である。
【符号の説明】
1 育成炉、35 外るつぼ、36 内るつぼ、37
原料供給管、40 種結晶、41 融液、42 LN単
結晶、43 高周波誘導コイル、45 原料、47 育
成炉体、51 ガス、61 単結晶部、62 セラミッ
ク層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 古川 保典 茨城県つくば市並木1丁目1番地科学技術 庁無機材質研究所内 (72)発明者 竹川 俊二 茨城県つくば市並木1丁目1番地科学技術 庁無機材質研究所内 Fターム(参考) 4G077 AA02 BC36 CF10 EC02 EG29 PB02 PB09

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 DCCZ法によるLiNb1−xTa
    (0≦x≦1)単結晶の育成方法において、単結晶
    の育成中に原料溶液中に供給する供給原料のうち重量比
    で30%以上の粉末が500μm以上の粒径であること
    を特徴とする単結晶の育成方法。
  2. 【請求項2】 供給原料のうち重量比で30%以上の粉
    末が500〜2000μmの粒径である請求項1に記載
    の単結晶の育成方法。
  3. 【請求項3】 振動を利用した原料輸送機構を用いて原
    料を連続供給する請求項1または2に記載の単結晶の育
    成方法。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008266017A (ja) * 2007-03-29 2008-11-06 Sharp Corp 固体材料供給装置、固体材料処理装置および固体材料供給方法
CN103882516A (zh) * 2014-03-25 2014-06-25 山西中电科新能源技术有限公司 多晶硅铸锭炉在线补料方法
JP2023132266A (ja) * 2022-03-10 2023-09-22 住友金属鉱山株式会社 酸化物単結晶の育成装置と酸化物単結晶の育成方法

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5523070A (en) * 1978-08-09 1980-02-19 Toshiba Corp Production of lithium tantalate single crystal
JPS59115736A (ja) * 1982-12-23 1984-07-04 Toshiba Corp シリコン顆粒供給装置
JPS62292698A (ja) * 1986-06-11 1987-12-19 Toshiba Corp タンタル酸リチウム単結晶の製造方法
JPH05105575A (ja) * 1991-10-15 1993-04-27 Shin Etsu Handotai Co Ltd 半導体単結晶引上用粒状原料供給装置
JPH05124897A (ja) * 1991-10-31 1993-05-21 Toshiba Corp LiTaO3単結晶材料
JPH07315981A (ja) * 1994-05-23 1995-12-05 Toshiba Corp 酸化物単結晶の製造方法、それに用いる酸化物単結晶原料および酸化物単結晶原料の製造方法
JPH09255488A (ja) * 1996-03-18 1997-09-30 Shin Etsu Handotai Co Ltd シリコン単結晶の製造方法
JPH09328400A (ja) * 1996-06-03 1997-12-22 Shin Etsu Chem Co Ltd タンタル酸リチウム単結晶の製造方法
JPH1135393A (ja) * 1997-05-19 1999-02-09 Hitachi Metals Ltd ストイキオメトリ組成タンタル酸リチウム単結晶、その製造方法及び光素子

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5523070A (en) * 1978-08-09 1980-02-19 Toshiba Corp Production of lithium tantalate single crystal
JPS59115736A (ja) * 1982-12-23 1984-07-04 Toshiba Corp シリコン顆粒供給装置
JPS62292698A (ja) * 1986-06-11 1987-12-19 Toshiba Corp タンタル酸リチウム単結晶の製造方法
JPH05105575A (ja) * 1991-10-15 1993-04-27 Shin Etsu Handotai Co Ltd 半導体単結晶引上用粒状原料供給装置
JPH05124897A (ja) * 1991-10-31 1993-05-21 Toshiba Corp LiTaO3単結晶材料
JPH07315981A (ja) * 1994-05-23 1995-12-05 Toshiba Corp 酸化物単結晶の製造方法、それに用いる酸化物単結晶原料および酸化物単結晶原料の製造方法
JPH09255488A (ja) * 1996-03-18 1997-09-30 Shin Etsu Handotai Co Ltd シリコン単結晶の製造方法
JPH09328400A (ja) * 1996-06-03 1997-12-22 Shin Etsu Chem Co Ltd タンタル酸リチウム単結晶の製造方法
JPH1135393A (ja) * 1997-05-19 1999-02-09 Hitachi Metals Ltd ストイキオメトリ組成タンタル酸リチウム単結晶、その製造方法及び光素子

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008266017A (ja) * 2007-03-29 2008-11-06 Sharp Corp 固体材料供給装置、固体材料処理装置および固体材料供給方法
CN103882516A (zh) * 2014-03-25 2014-06-25 山西中电科新能源技术有限公司 多晶硅铸锭炉在线补料方法
JP2023132266A (ja) * 2022-03-10 2023-09-22 住友金属鉱山株式会社 酸化物単結晶の育成装置と酸化物単結晶の育成方法
JP7797925B2 (ja) 2022-03-10 2026-01-14 住友金属鉱山株式会社 酸化物単結晶の育成装置と酸化物単結晶の育成方法

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