JP2002151820A - Printed wiring board and its manufacturing method - Google Patents

Printed wiring board and its manufacturing method

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JP2002151820A
JP2002151820A JP2000339127A JP2000339127A JP2002151820A JP 2002151820 A JP2002151820 A JP 2002151820A JP 2000339127 A JP2000339127 A JP 2000339127A JP 2000339127 A JP2000339127 A JP 2000339127A JP 2002151820 A JP2002151820 A JP 2002151820A
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JP
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copper
layer
protrusions
plating
printed wiring
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Withdrawn
Application number
JP2000339127A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Fukukawa
弘 福川
Hideaki Fukuju
英明 福寿
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Kyocera Chemical Corp
Original Assignee
Toshiba Chemical Corp
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Publication date
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a pat-on-via structure using a simple process. SOLUTION: A conductive project 4 is formed on the surfaces of an insulating substrate 1, and a conductive project 6 is also formed on a copper foil. The conductive projects 4 and 6 are made to pass through an insulating resin layer 7, to interconnect each other via heterogeneous metal layers 5.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、プリント配線板お
よびプリント配線板の製造方法に関し、特に、ビルドア
ップ多層プリント配線板に適用して好適なものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed wiring board and a method for manufacturing a printed wiring board, and more particularly, to a printed wiring board suitable for application to a build-up multilayer printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】マルチメディア時代の到来に伴って、携
帯電話、インターネット携帯端末、携帯パソコンなどの
携帯型電子機器が普及してきており、これら携帯型電子
機器の普及を促進するために、プリント配線板には、小
型化、軽量化、軽薄化、高密度化、低コスト化などの要
請が強まっている。
2. Description of the Related Art With the advent of the multimedia era, portable electronic devices such as mobile phones, Internet portable terminals, and portable personal computers have become widespread, and printed wiring has been promoted in order to promote the spread of these portable electronic devices. There is an increasing demand for boards to be smaller, lighter, thinner, denser, and less costly.

【0003】このプリント配線板に対する要請に対し、
ビルドアップ多層プリント配線板が注目されている。ビ
ルドアップ多層プリント配線板では、層間接続する方法
として、レーザを用いる方法とフォトエッチングを用い
る方法が知られている。
[0003] In response to this request for printed wiring boards,
Build-up multilayer printed wiring boards are receiving attention. In a build-up multilayer printed wiring board, a method using a laser and a method using photo-etching are known as methods for connecting layers.

【0004】レーザを用いる方法では、内層配線層の形
成された絶縁性基板の上下に銅箔付き樹脂シートが配置
され、これらをプレス治具に装着して加熱加圧すること
により一体的に積層される。そして、ビアホール形成位
置の最外層の銅箔が選択エッチングにより除去された
後、ビアホール形成位置にレーザ光を照射することによ
り、樹脂シートの穴空け加工が行われる。その後、穴内
壁面上に金属めっき層を形成することにより、配線層の
層間接続が行われる。
In the method using a laser, resin sheets with copper foil are arranged above and below an insulating substrate on which an inner wiring layer is formed, and these are mounted on a press jig and heated and pressed to be integrally laminated. You. Then, after the outermost copper foil at the via-hole forming position is removed by selective etching, the via-hole forming position is irradiated with a laser beam, so that the resin sheet is perforated. Thereafter, by forming a metal plating layer on the inner wall surface of the hole, interlayer connection of the wiring layer is performed.

【0005】フォトエッチングを用いる方法では、内層
配線層の形成された絶縁性基板の上下面に感光性樹脂が
塗布され、ビアホール形成位置の感光性樹脂を選択的に
露光・現像することにより、ビアホール形成位置の感光
性樹脂が除去され、層間接続用非貫通ビアホールが形成
される。その後、ビアホール内壁面全体に化学めっきを
行ってから、電気めっきにより金属めっき層を形成する
ことにより、配線層の層間接続が行われる。
In the method using photoetching, a photosensitive resin is applied to the upper and lower surfaces of an insulating substrate on which an inner wiring layer is formed, and the photosensitive resin at a via hole forming position is selectively exposed and developed to form a via hole. The photosensitive resin at the formation position is removed, and a non-through via hole for interlayer connection is formed. Thereafter, chemical plating is performed on the entire inner wall surface of the via hole, and then a metal plating layer is formed by electroplating, whereby interlayer connection of the wiring layer is performed.

【0006】一方、電子機器の小型化、軽量化、軽薄
化、高密度化の要請に対応して、CSP実装が普及して
きている。このCSP実装では、集積度が高くなるに従
って、単位面積当たりの電極ピン数が増加し、これに対
応してはんだバンプ数も増加する。このため、CSP実
装に対応するためには、プリント配線板のLSIランド
パターン部の微細化やパットオンビア構造の採用が不可
欠となる。
On the other hand, CSP mounting has become widespread in response to demands for downsizing, lightening, thinning, and high density of electronic devices. In the CSP mounting, as the degree of integration increases, the number of electrode pins per unit area increases, and the number of solder bumps also increases accordingly. For this reason, in order to support CSP mounting, it is indispensable to miniaturize the LSI land pattern portion of the printed wiring board and to adopt a pad-on-via structure.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
プリント配線板では、層間接続を行うために、レーザ加
工またはフォトエッチングが用いられている。ここで、
レーザ加工を用いる方法では、穴数が増えるに従ってレ
ーザ穴開けの工数が増大する。一方、フォトエッチング
を用いる方法では、ビアホール内壁面全体に化学めっき
を行う必要があるため、微細化に限界がある。また、レ
ーザ加工またはフォトエッチングによりパットオンビア
構造を実現するには、工程が複雑になり、コストアップ
の要因となる。
However, in a conventional printed wiring board, laser processing or photoetching is used to perform interlayer connection. here,
In the method using laser processing, the man-hour for laser drilling increases as the number of holes increases. On the other hand, in the method using photoetching, it is necessary to perform chemical plating on the entire inner wall surface of the via hole, and thus there is a limit to miniaturization. Also, realizing a put-on-via structure by laser processing or photo-etching complicates the process and causes an increase in cost.

【0008】そこで、本発明の目的は、簡易な工程でパ
ットオンビア構造を実現し、かつビアホールの微細化が
可能なプリント配線板およびプリント配線板の製造方法
を提供することである。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a printed wiring board and a method for manufacturing a printed wiring board which can realize a pad-on-via structure with a simple process and can make a via hole finer.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、請求項1記載の発明によれば、銅突起が形成さ
れた第1の配線層と、前記銅突起が埋め込まれた絶縁層
と、前記絶縁層を介して形成された第2の配線層と、前
記第1の配線層と第2の配線層とを前記銅突起を介して
電気的に接続する異種金属層とを備えることを特徴とす
る。
According to the first aspect of the present invention, there is provided a first wiring layer having copper projections formed thereon, and an insulating layer having the copper projections embedded therein. A second wiring layer formed via the insulating layer; and a dissimilar metal layer electrically connecting the first and second wiring layers via the copper protrusion. It is characterized by.

【0010】ここで、異種金属層は、層間接続を行う際
に銅突起の接着性が向上するように作用することができ
る。
Here, the dissimilar metal layer can act so as to improve the adhesiveness of the copper projection when performing interlayer connection.

【0011】これにより、第1の配線層に形成された銅
突起で層間絶縁層を貫通させるだけで、第1の配線層と
第2の配線層とを電気的に接続することが可能となると
ともに、ビアホール内への埋め込みも不要とすることが
でき、パットオンビア構造を簡易な工程で実現すること
が可能となる。
Thus, it is possible to electrically connect the first wiring layer and the second wiring layer only by penetrating the interlayer insulating layer with the copper protrusion formed on the first wiring layer. At the same time, embedding in the via hole is not required, and the put-on via structure can be realized with a simple process.

【0012】さらに、銅突起を微細化した場合において
も、銅突起の強度を保つことが可能となることから、銅
突起で層間絶縁層を確実に貫くことが可能となるととも
に、貫通後の銅突起の接続を異種金属層により安定して
行うことが可能となり、層間接続の信頼性を損なうこと
なく、層間接続領域を微細化することが可能となる。
Furthermore, even when the copper projection is miniaturized, the strength of the copper projection can be maintained, so that the copper projection can reliably penetrate the interlayer insulating layer, and the copper The connection of the protrusions can be stably performed by the dissimilar metal layer, and the interlayer connection region can be miniaturized without impairing the reliability of the interlayer connection.

【0013】また、請求項2記載の発明によれば、第1
の配線層に銅突起を形成する工程と、前記銅突起を貫通
させた絶縁層を前記第1の配線層に積層する工程と、第
2の配線層上に異種金属を形成する工程と、前記銅突起
の位置が前記異種金属の形成領域に対応するようにし
て、前記第2の配線層を前記絶縁層に積層する工程とを
備えることを特徴とする。
According to the second aspect of the present invention, the first
Forming a copper protrusion on the wiring layer, laminating an insulating layer penetrating the copper protrusion on the first wiring layer, forming a dissimilar metal on the second wiring layer, Laminating the second wiring layer on the insulating layer such that the position of the copper projection corresponds to the formation region of the dissimilar metal.

【0014】これにより、第1の配線層に形成された銅
突起を層間絶縁層内に貫通させて第1の配線層と第2の
配線層とを電気的に接続する際に、銅突起の接着性を確
保することが可能となり、層間接続領域を微細化しつ
つ、パットオンビア構造を簡易な工程で実現することが
可能となる。
Thus, when the copper protrusion formed on the first wiring layer is penetrated into the interlayer insulating layer to electrically connect the first wiring layer and the second wiring layer, the copper protrusion is formed. Adhesiveness can be ensured, and a pad-on-via structure can be realized by a simple process while miniaturizing an interlayer connection region.

【0015】また、請求項3記載の発明によれば、第1
の配線層に銅突起を形成する工程と、前記銅突起上に異
種金属層を形成する工程と、前記銅突起を貫通させた絶
縁層を前記第1の配線層に積層する工程と、前記第2の
配線層を前記絶縁層に積層する工程とを備えることを特
徴とする。
According to the third aspect of the present invention, the first
Forming a copper protrusion on the wiring layer, forming a dissimilar metal layer on the copper protrusion, laminating an insulating layer penetrating the copper protrusion on the first wiring layer, Laminating two wiring layers on the insulating layer.

【0016】これにより、第1の配線層に形成された銅
突起に対応させて異種金属層を容易に形成することが可
能となり、銅突起を層間絶縁層内に貫通させるだけで、
第1の配線層と第2の配線層とを電気的に接続すること
が可能となる。
Thus, it is possible to easily form a dissimilar metal layer corresponding to the copper protrusion formed on the first wiring layer, and only by penetrating the copper protrusion into the interlayer insulating layer,
It is possible to electrically connect the first wiring layer and the second wiring layer.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態に係わる
多層プリント配線板について図面を参照しながら説明す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A multilayer printed wiring board according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0018】図1は、本発明の第1実施形態に係わるプ
リント配線板の構成を示す断面図である。図1におい
て、絶縁性基板1の両面には、導体パターン2、3が形
成され、導体パターン3上には絶縁樹脂層7を介して銅
箔8が形成されている。ここで、絶縁樹脂層7には導体
突起4、6が埋め込まれ、導体突起4は導体パターン3
に接続されるとともに、導体突起6は銅箔8に接続さ
れ、導体突起4、6は異種金属層5を介して互いに接続
されている。
FIG. 1 is a sectional view showing the structure of a printed wiring board according to the first embodiment of the present invention. In FIG. 1, conductor patterns 2 and 3 are formed on both surfaces of an insulating substrate 1, and a copper foil 8 is formed on the conductor pattern 3 via an insulating resin layer 7. Here, the conductor protrusions 4 and 6 are embedded in the insulating resin layer 7, and the conductor protrusions 4 are
The conductor protrusions 6 are connected to the copper foil 8, and the conductor protrusions 4 and 6 are connected to each other via the dissimilar metal layer 5.

【0019】これにより、導体突起4、6上の銅箔8を
パターニングすることにより、外層配線層を形成するこ
とができ、簡易な工程でパットオンビア構造を実現する
ことが可能となる。
Thus, by patterning the copper foil 8 on the conductor protrusions 4 and 6, an outer wiring layer can be formed, and a pad-on-via structure can be realized by a simple process.

【0020】また、導体突起4、6の間に異種金属層5
を挟むことにより、導体突起4、6同士の接着性を向上
させることが可能となり、導体突起4、6が銅などで構
成され、導体突起4、6同士の密着性が悪い場合におい
ても、電気的な接続を安定して行うことが可能となる。
Further, a dissimilar metal layer 5 is provided between the conductor protrusions 4 and 6.
, The adhesiveness between the conductor protrusions 4 and 6 can be improved. Even when the conductor protrusions 4 and 6 are made of copper or the like and the adhesion between the conductor protrusions 4 and 6 is poor, the electrical Connection can be stably performed.

【0021】ここで、異種金属層5としては、例えば、
金、銀、はんだ、錫、鉛などの導電性金属を用いること
ができる。また、例えば、金、銀、はんだなどの導電性
粉末、これらの金属の合金粉末、またはこれらの金属の
混合粉末を、ポリカーボネート樹脂、ポリスルホン樹
脂、ポリエステル樹脂、フェノキシ樹脂、フェノール樹
脂、ポリイミド樹脂などのバインダー成分と混合した導
電性組成物を用いてもよい。なお、異種金属層5は、例
えば、印刷法、ディスペンサ、乾式めっき、または湿式
めっきなどにより形成することができる。
Here, as the dissimilar metal layer 5, for example,
A conductive metal such as gold, silver, solder, tin, and lead can be used. Also, for example, conductive powders of gold, silver, solder, etc., alloy powders of these metals, or mixed powders of these metals, polycarbonate resin, polysulfone resin, polyester resin, phenoxy resin, phenol resin, polyimide resin, etc. A conductive composition mixed with a binder component may be used. The dissimilar metal layer 5 can be formed by, for example, a printing method, a dispenser, dry plating, or wet plating.

【0022】また、導体突起4、6は、例えば、絶縁体
上に設けられた銅箔をパネルメッキしてエッチアウトす
る方法、厚みが70〜105μm程度の銅箔をエッチア
ウトする方法、銅箔上に塗布されたメッキレジストに導
体突起4、6に対応する開口部を形成し、その開口部に
めっき層を析出させる方法などで形成することができ
る。
The conductor protrusions 4 and 6 may be formed by, for example, a method of etching out a copper foil provided on an insulator by panel plating, a method of etching out a copper foil having a thickness of about 70 to 105 μm, An opening corresponding to the conductor protrusions 4 and 6 may be formed in the plating resist applied thereon, and a plating layer may be deposited in the opening to form the opening.

【0023】さらに、絶縁樹脂層7は、例えば、エポキ
シ樹脂、ポリイミド樹脂、またはこれらの変性樹脂を単
独あるいは混合して用いることができる。また、無機系
または有機系のフィラーなどを樹脂に含有させてもよ
く、ガラスクロスに樹脂を含浸させたプリプレグを用い
るようにしてもよい。また、フィルム状に成形された樹
脂を積層させてもよく、液状の樹脂をコーティングして
もよい。
The insulating resin layer 7 can be made of, for example, an epoxy resin, a polyimide resin, or a modified resin thereof alone or in combination. In addition, an inorganic or organic filler may be contained in the resin, or a prepreg obtained by impregnating a resin into a glass cloth may be used. Further, a resin formed into a film shape may be laminated, or a liquid resin may be coated.

【0024】以下、本発明の実施形態に係わるプリント
配線板の製造方法について説明する。
Hereinafter, a method for manufacturing a printed wiring board according to an embodiment of the present invention will be described.

【0025】図2、3は、本発明の第2実施形態に係わ
るプリント配線板の製造工程を示す断面図である。
FIGS. 2 and 3 are cross-sectional views showing the steps of manufacturing a printed wiring board according to the second embodiment of the present invention.

【0026】まず、図2(a)において、銅箔11の処
理面上にメッキレジスト12を塗布する。そして、銅突
起14に対応するパターンをマスクとして露光・現像す
ることにより、銅突起14に対応する部分のメッキレジ
スト12を選択的に除去し、開口部13を形成する。
First, in FIG. 2A, a plating resist 12 is applied on the processed surface of the copper foil 11. Then, by exposing and developing using the pattern corresponding to the copper protrusion 14 as a mask, the plating resist 12 in the portion corresponding to the copper protrusion 14 is selectively removed, and the opening 13 is formed.

【0027】次に、図2(b)において、メッキレジス
ト12が形成された銅箔11の電気銅めっきを行い、開
口部13にめっき銅を析出させることにより、銅箔11
上に銅突起14を形成する。
Next, in FIG. 2B, the copper foil 11 on which the plating resist 12 is formed is subjected to electrolytic copper plating, and the copper
A copper projection 14 is formed on the upper surface.

【0028】次に、図2(c)において、銅突起14の
形成された銅箔11を剥離液に漬けることにより、銅突
起14の形成された銅箔11からメッキレジスト12を
剥離する。そして、銅突起14の形成された銅箔11を
加熱加圧下でプリプレグ15と積層することにより、プ
リプレグ15を銅突起14で貫通させる。
Next, in FIG. 2C, the plating resist 12 is peeled from the copper foil 11 on which the copper protrusions 14 are formed by immersing the copper foil 11 on which the copper protrusions 14 are formed in a stripping solution. Then, the copper foil 11 on which the copper protrusions 14 are formed is laminated with the prepreg 15 under heat and pressure, whereby the prepreg 15 is penetrated by the copper protrusions 14.

【0029】一方、図2(d)において、スルーホール
19の形成された絶縁性基板16の両面に内層配線層1
7、17´を形成する。そして、内層配線層17、17
´の層間接続を行う領域にAgペースト18、18´を
塗布して乾燥させる。
On the other hand, in FIG. 2D, the inner wiring layer 1 is formed on both surfaces of the insulating substrate 16 in which the through holes 19 are formed.
7, 17 'are formed. Then, the inner wiring layers 17, 17
'Ag pastes 18 and 18' are applied to the region where interlayer connection is performed and dried.

【0030】その後、銅突起14、14´によりプリプ
レグ15、15´が貫通された銅箔11、11´を、A
gペースト18、18´が塗布された絶縁性基板16の
両面に配置する。ここで、銅突起14、14´がAgペ
ースト18、18´の位置に対向するように位置合わせ
を行う。
After that, the copper foils 11, 11 'through which the prepregs 15, 15' have been penetrated by the copper projections 14, 14 'are
The g pastes 18 and 18 'are arranged on both surfaces of the insulating substrate 16 to which the pastes 18 and 18' are applied. Here, positioning is performed so that the copper projections 14 and 14 'face the positions of the Ag pastes 18 and 18'.

【0031】次に、図3(e)において、銅突起14、
14´によりプリプレグ15、15´が貫通された銅箔
11、11´と、Agペースト18、18´が塗布され
た絶縁性基板16とを加熱加圧下で積層する。これによ
り、内層配線層17、17´と銅箔11、11´とがプ
リプレグ15、15´で絶縁されるとともに、銅突起1
4、14´がAgペースト18、18´を介して内層配
線層17、17´と密着し、内層配線層17、17´と
銅箔11、11´との電気的な接続が行われる。
Next, referring to FIG.
The copper foils 11, 11 'through which the prepregs 15, 15' have penetrated by 14 'and the insulating substrate 16 to which the Ag pastes 18, 18' have been applied are laminated under heat and pressure. Thereby, the inner wiring layers 17, 17 'and the copper foils 11, 11' are insulated from each other by the prepregs 15, 15 ',
4 and 14 ′ are in close contact with the inner wiring layers 17 and 17 ′ via the Ag pastes 18 and 18 ′, and the inner wiring layers 17 and 17 ′ are electrically connected to the copper foils 11 and 11 ′.

【0032】次に、図3(f)において、銅箔11、1
1´のパターニングを行うことにより、パットオンビア
構造の外層配線層20、20´を形成する。
Next, in FIG. 3 (f), the copper foils 11, 1
By performing patterning 1 ′, outer wiring layers 20 and 20 ′ having a pad-on-via structure are formed.

【0033】このように、異種金属を用いて層間接続を
行うことにより、プリプレグ15、15´を貫通させる
突起を銅などの硬質金属で形成することが可能となり、
突起部分を微細化した場合においても、プリプレグ1
5、15´の貫通を確実に行うことが可能となるととも
に、プリプレグ15、15´を貫通した突起部の密着性
を向上させることが可能となり、微細なパットオンビア
構造を簡易な工程で安定して製造することが可能とな
る。
As described above, by performing interlayer connection using different kinds of metals, it is possible to form projections penetrating the prepregs 15 and 15 ′ with a hard metal such as copper.
Even when the protrusions are miniaturized, the prepreg 1
5, 15 'can be surely penetrated, and the adhesion of the protrusions penetrating the prepregs 15, 15' can be improved, and a fine pad-on-via structure can be stably formed in a simple process. It can be manufactured.

【0034】図4、5は、本発明の第3実施形態に係わ
るプリント配線板の製造工程を示す断面図である。
FIGS. 4 and 5 are cross-sectional views showing steps of manufacturing a printed wiring board according to the third embodiment of the present invention.

【0035】まず、図4(a)において、銅箔21の処
理面上にメッキレジスト22を塗布する。そして、銅突
起24に対応するパターンをマスクとして露光・現像す
ることにより、銅突起24に対応する部分のメッキレジ
スト22を選択的に除去し、開口部23を形成する。
First, in FIG. 4A, a plating resist 22 is applied on the processed surface of the copper foil 21. Then, by exposing and developing using the pattern corresponding to the copper protrusion 24 as a mask, the plating resist 22 in the portion corresponding to the copper protrusion 24 is selectively removed, and the opening 23 is formed.

【0036】次に、図4(b)において、メッキレジス
ト22が形成された銅箔21の電気銅めっきを行い、開
口部23にめっき銅を析出させることにより、銅箔21
上に銅突起24を形成する。その後、銅突起24が形成
された銅箔21に対して電気金めっきを行うことによ
り、銅突起24上に金めっき層25を形成する。
Next, in FIG. 4B, the copper foil 21 on which the plating resist 22 is formed is subjected to electrolytic copper plating, and the copper
A copper projection 24 is formed thereon. After that, gold plating layer 25 is formed on copper protrusions 24 by performing electrogold plating on copper foil 21 on which copper protrusions 24 are formed.

【0037】次に、図4(c)において、銅突起24上
に金めっき層25の形成された銅箔21からメッキレジ
スト2を剥離する。そして、銅突起24上に金めっき層
25の形成された銅箔21を加熱加圧下でプリプレグ2
6と積層することにより、プリプレグ26を金めっき層
25が形成された銅突起24で貫通させる。
Next, in FIG. 4C, the plating resist 2 is peeled off from the copper foil 21 on which the gold plating layer 25 is formed on the copper projections 24. Then, the copper foil 21 having the gold plating layer 25 formed on the copper projections 24 is heated and pressed under the pressure of the prepreg 2.
6, the prepreg 26 is penetrated by the copper protrusion 24 on which the gold plating layer 25 is formed.

【0038】一方、図4(d)において、スルーホール
29の形成された絶縁性基板27の両面に内層配線層2
8、28´を形成する。ここで、絶縁性基板27として
は、例えば、ガラスエポキシ基板などを用いることがで
きる。
On the other hand, in FIG. 4D, the inner wiring layers 2 are formed on both sides of the insulating substrate 27 in which the through holes 29 are formed.
8, 28 'are formed. Here, as the insulating substrate 27, for example, a glass epoxy substrate or the like can be used.

【0039】その後、金めっき層25、25´の形成さ
れた銅突起24、24´によりプリプレグ26、26´
が貫通された銅箔21、21´を、絶縁性基板27の両
面に配置する。ここで、金めっき層25、25´の形成
された銅突起24、24´が、内層配線層28、28´
の接続ランドの位置に対向するように位置合わせを行
う。
Thereafter, the prepregs 26, 26 'are formed by the copper projections 24, 24' on which the gold plating layers 25, 25 'are formed.
Are disposed on both surfaces of the insulating substrate 27. Here, the copper protrusions 24, 24 'on which the gold plating layers 25, 25' are formed are connected to the inner wiring layers 28, 28 '.
Positioning is performed so as to face the position of the connection land.

【0040】次に、図5(e)において、銅突起24、
24´によりプリプレグ26、26´が貫通された銅箔
21、21´と、内層配線層28、28´が形成された
絶縁性基板27とを加熱加圧下で積層する。これによ
り、内層配線層28、28´と銅箔21、21´とがプ
リプレグ26、26´で絶縁されるとともに、銅突起2
4、24´が金めっき層25、25´を介して内層配線
層28、28´の接続ランドと密着し、内層配線層2
8、28´と銅箔21、21´との電気的な接続が行わ
れる。なお、金めっき層25、25´を内層配線層2
8、28´の接続ランドと接着させるために、超音波圧
着や拡散接合などを行ってもよい。
Next, in FIG. 5E, the copper projections 24,
The copper foils 21 and 21 ′ having the prepregs 26 and 26 ′ penetrated by 24 ′ and the insulating substrate 27 on which the inner wiring layers 28 and 28 ′ are formed are laminated under heat and pressure. As a result, the inner wiring layers 28 and 28 'and the copper foils 21 and 21' are insulated from each other by the prepregs 26 and 26 '.
4 and 24 'are in close contact with the connection lands of the inner wiring layers 28 and 28' via the gold plating layers 25 and 25 ', and the inner wiring layer 2
8, 28 'and the copper foils 21, 21' are electrically connected. Note that the gold plating layers 25 and 25 ′ are connected to the inner wiring layer 2.
Ultrasonic pressure bonding, diffusion bonding, or the like may be performed to adhere to the connection lands 8 and 28 '.

【0041】次に、図5(f)において、銅箔21、2
1´のパターニングを行うことにより、パットオンビア
構造の外層配線層30、30´を形成する。
Next, referring to FIG.
By performing patterning 1 ′, outer wiring layers 30 and 30 ′ having a pad-on-via structure are formed.

【0042】このように、電解めっきにより金めっき層
25を銅突起24上に形成することにより、金めっき層
25を銅突起24上に自己整合的に形成することが可能
となり、銅突起24を微細化した場合においても、金め
っき層25を銅突起24の部分のみに精度よく形成する
ことが可能となり、微細なパットオンビア構造を簡易な
工程で実現することが可能となる。
As described above, by forming the gold plating layer 25 on the copper protrusions 24 by electrolytic plating, the gold plating layer 25 can be formed on the copper protrusions 24 in a self-aligned manner. Even in the case of miniaturization, the gold plating layer 25 can be accurately formed only in the portion of the copper protrusion 24, and a fine pad-on-via structure can be realized by a simple process.

【0043】なお、上述した第2、第3実施形態では、
銅突起14、24を電解めっきにより形成する方法につ
いて説明したが、銅突起をエッチングにより形成しても
よい。以下、銅突起をエッチングにより形成する方法に
ついて説明する。
In the second and third embodiments described above,
Although the method of forming the copper protrusions 14 and 24 by electrolytic plating has been described, the copper protrusions may be formed by etching. Hereinafter, a method of forming a copper protrusion by etching will be described.

【0044】図6、7は、本発明の第4実施形態に係わ
るプリント配線板の製造工程を示す断面図である。
FIGS. 6 and 7 are sectional views showing the steps of manufacturing a printed wiring board according to the fourth embodiment of the present invention.

【0045】まず、図6(a)において、両面に銅箔3
2a、33aの形成された絶縁性基板31の穴空け加工
を行うことにより、スルーホール34を形成する。ここ
で、絶縁性基板31としては、例えば、ガラスエポキシ
基板などを用いることができる。
First, in FIG. 6A, copper foil 3
Drilling is performed on the insulating substrate 31 on which the 2a and 33a are formed to form the through holes 34. Here, as the insulating substrate 31, for example, a glass epoxy substrate or the like can be used.

【0046】次に、図6(b)において、スルーホール
34の形成された絶縁性基板31に対してスルーホール
めっきを行うことにより、銅めっき層32b、33bを
形成する。
Next, in FIG. 6B, copper plating layers 32b and 33b are formed by performing through-hole plating on the insulating substrate 31 in which the through-holes 34 are formed.

【0047】次に、図6(c)において、銅めっき層3
2b、33bが形成された絶縁性基板31上に第1のメ
ッキレジストを塗布する。そして、銅突起32c、33
cに対応するパターンをマスクとして露光・現像するこ
とにより、銅突起32c、33cに対応する部分以外の
第1のメッキレジストを選択的に除去し、銅突起32
c、33cに対応する領域のみを第1のメッキレジスト
で覆う。そして、銅突起32c、33cに対応する領域
のみを覆う第1のメッキレジストをマスクとして、銅め
っき層32b、33bのエッチングを途中まで行うこと
により、銅突起32c、33cに対応する部分が突出し
た段差を形成する。
Next, in FIG. 6C, the copper plating layer 3
A first plating resist is applied on the insulating substrate 31 on which the layers 2b and 33b are formed. Then, the copper projections 32c, 33
The first plating resist other than the portions corresponding to the copper projections 32c and 33c is selectively removed by exposing and developing using the pattern corresponding to the copper projection 32c as a mask.
Only the regions corresponding to c and 33c are covered with the first plating resist. The copper plating layers 32b and 33b are partially etched by using the first plating resist that covers only the regions corresponding to the copper protrusions 32c and 33c as a mask, so that the portions corresponding to the copper protrusions 32c and 33c protrude. A step is formed.

【0048】次に、図6(d)において、第1のメッキ
レジストを剥離した後、銅突起32c、33cが形成さ
れた絶縁性基板31上に第2のメッキレジストを塗布す
る。そして、内層配線層32d、33dに対応するパタ
ーンをマスクとして露光・現像することにより、内層配
線層32d、33dに対応する部分以外の第2のメッキ
レジストを選択的に除去し、内層配線層32d、33d
に対応する領域のみを第2のメッキレジストで覆う。そ
して、内層配線層32d、33dに対応する領域を覆う
第2のメッキレジストをマスクとして、銅めっき層32
b、33bのエッチングを行うことにより、絶縁性基板
31上に内層配線層32d、33dを形成する。
Next, in FIG. 6D, after the first plating resist is removed, a second plating resist is applied on the insulating substrate 31 on which the copper protrusions 32c and 33c are formed. Then, by exposing and developing using the pattern corresponding to the inner wiring layers 32d and 33d as a mask, the second plating resist other than the portion corresponding to the inner wiring layers 32d and 33d is selectively removed. , 33d
Is covered only with the second plating resist. Then, the copper plating layer 32 is formed using the second plating resist covering the regions corresponding to the inner wiring layers 32d and 33d as a mask.
By performing etching on b and 33b, inner wiring layers 32d and 33d are formed on the insulating substrate 31.

【0049】一方、図6(e)において、スルーホール
41の形成された絶縁性基板36に対しても同様の処理
を行うことにより、絶縁性基板36の両面に銅突起37
a、38aおよび内層配線層37b、38bを形成す
る。そして、銅突起37aおよび内層配線層37bが形
成された絶縁性基板36上に絶縁性樹脂を塗布し、予備
乾燥を行うことにより、絶縁性基板36上に絶縁樹脂層
39を形成する。
On the other hand, in FIG. 6E, the same processing is performed on the insulating substrate 36 in which the through holes 41 are formed, so that copper projections 37 are formed on both surfaces of the insulating substrate 36.
a, 38a and the inner wiring layers 37b, 38b are formed. Then, an insulating resin is applied on the insulating substrate 36 on which the copper protrusions 37a and the inner wiring layers 37b are formed, and preliminarily dried to form an insulating resin layer 39 on the insulating substrate 36.

【0050】その後、銅突起32c、33cおよび内層
配線層32d、33dが形成された絶縁性基板31およ
び銅突起37a、38aおよび内層配線層37b、38
bが形成された絶縁性基板36を重ねて配置するととも
に、銅突起43、43´によりプリプレグ44、44´
が貫通された銅箔42、42´を、それらの絶縁性基板
31、36の上下に配置する。
Thereafter, the insulating substrate 31 on which the copper protrusions 32c, 33c and the inner wiring layers 32d, 33d are formed, the copper protrusions 37a, 38a, and the inner wiring layers 37b, 38
b are formed on the insulating substrate 36, and the prepregs 44, 44 'are formed by the copper projections 43, 43'.
Are disposed above and below the insulating substrates 31 and 36, respectively.

【0051】ここで、銅突起43、33c、38a上に
Agペースト45、35、40を塗布するとともに、銅
突起43は銅突起32cと対向し、銅突起33cは銅突
起37aと対向し、銅突起38aは銅突起43´と対向
するように位置合わせを行う。
Here, Ag pastes 45, 35, and 40 are applied on the copper protrusions 43, 33c, and 38a, and the copper protrusions 43 face the copper protrusions 32c, and the copper protrusions 33c face the copper protrusions 37a. The projection 38a is positioned so as to face the copper projection 43 '.

【0052】次に、図7(f)において、プリプレグ4
4、44´が形成された銅箔42、42´と、絶縁性基
板31、36とを加熱加圧下で積層する。これにより、
内層配線層32d、33d、37b、38bおよび銅箔
42、42´がプリプレグ44、44´および絶縁樹脂
層39で絶縁される。
Next, in FIG. 7F, the prepreg 4
The copper foils 42, 42 'on which the 4, 4' are formed and the insulating substrates 31, 36 are laminated under heat and pressure. This allows
The inner wiring layers 32d, 33d, 37b, 38b and the copper foils 42, 42 'are insulated by the prepregs 44, 44' and the insulating resin layer 39.

【0053】また、銅突起43、32cはAgペースト
45を介して互いに密着し、銅突起33c、37aはA
gペースト35を介して互いに密着し、銅突起38a、
43´はAgペースト40を介して互いに密着する。こ
れにより、内層配線層32d、33d、37b、38b
および銅箔42、42´との電気的な接続が行われる。
The copper protrusions 43 and 32c adhere to each other via the Ag paste 45, and the copper protrusions 33c and 37a
g paste 35, the copper protrusions 38a,
43 'are in close contact with each other via the Ag paste 40. Thereby, the inner wiring layers 32d, 33d, 37b, 38b
And electrical connection with the copper foils 42, 42 '.

【0054】次に、図7(g)において、銅箔42、4
2´のパターニングを行うことにより、パットオンビア
構造の外層配線層45、45´を形成する。
Next, in FIG. 7 (g), the copper foils 42, 4
By performing patterning of 2 ′, outer wiring layers 45 and 45 ′ having a pad-on-via structure are formed.

【0055】図8、9は、本発明の第5実施形態に係わ
るプリント配線板の製造工程を示す断面図である。
FIGS. 8 and 9 are sectional views showing the steps of manufacturing a printed wiring board according to the fifth embodiment of the present invention.

【0056】まず、図8(a)において、両面に銅箔5
2a、53aの形成された絶縁性基板51の穴空け加工
を行うことにより、スルーホール54を形成する。
First, in FIG. 8A, copper foil 5
Drilling is performed on the insulating substrate 51 on which the 2a and 53a are formed to form the through holes 54.

【0057】次に、図8(b)において、スルーホール
54の形成された絶縁性基板51に対して銅めっきを行
うことにより、銅めっき層52b、53bを形成する。
そして、銅めっき層52b、53bの形成された絶縁性
基板51に対して金めっきを行うことにより、金めっき
層55を形成する。
Next, in FIG. 8 (b), copper plating is performed on the insulating substrate 51 in which the through holes 54 are formed to form copper plating layers 52b and 53b.
Then, the gold plating layer 55 is formed by performing gold plating on the insulating substrate 51 on which the copper plating layers 52b and 53b are formed.

【0058】次に、図8(c)において、銅めっき層5
2b、53bおよび金めっき層55が形成された絶縁性
基板51上に第1のメッキレジストを塗布する。そし
て、銅突起56a、56bに対応するパターンをマスク
として露光・現像することにより、銅突起56a、56
bに対応する部分以外の第1のメッキレジストを選択的
に除去し、銅突起56a、56bに対応する領域のみを
第1のメッキレジストで覆う。そして、銅突起56a、
56bに対応する領域のみを覆う第1のメッキレジスト
をマスクとして、金めっき層55のエッチングを行うと
ともに、銅めっき層52b、53bのエッチングを途中
まで行うことにより、銅突起56a、56bに対応する
部分が突出した段差を形成するとともに、銅突起56
a、56b上に金めっき層55a、55bを形成する。
Next, in FIG. 8C, the copper plating layer 5
A first plating resist is applied on the insulating substrate 51 on which the 2b, 53b and the gold plating layer 55 are formed. Then, exposure and development are performed using a pattern corresponding to the copper protrusions 56a and 56b as a mask, thereby forming the copper protrusions 56a and 56b.
The first plating resist other than the portion corresponding to b is selectively removed, and only the regions corresponding to the copper protrusions 56a and 56b are covered with the first plating resist. Then, the copper protrusion 56a,
The gold plating layer 55 is etched using the first plating resist covering only the region corresponding to the region 56b as a mask, and the copper plating layers 52b and 53b are etched halfway, thereby corresponding to the copper protrusions 56a and 56b. The step forms a protruding step, and the copper protrusion 56
The gold plating layers 55a and 55b are formed on a and 56b.

【0059】次に、図8(d)において、第1のメッキ
レジストを剥離した後、銅突起56a、56bが形成さ
れた絶縁性基板51上に第2のメッキレジストを塗布す
る。そして、内層配線層57a、57bに対応するパタ
ーンをマスクとして露光・現像することにより、内層配
線層57a、57bに対応する部分以外の第2のメッキ
レジストを選択的に除去し、内層配線層57a、57b
に対応する領域を第2のメッキレジストで覆う。そし
て、内層配線層57a、57bに対応する領域を覆う第
2のメッキレジストをマスクとして、銅めっき層52
b、53bのエッチングを行うことにより、絶縁性基板
51上に内層配線層57a、57bを形成する。
Next, in FIG. 8D, after the first plating resist is removed, a second plating resist is applied on the insulating substrate 51 on which the copper protrusions 56a and 56b are formed. Then, by exposing and developing using the pattern corresponding to the inner wiring layers 57a and 57b as a mask, the second plating resist other than the portion corresponding to the inner wiring layers 57a and 57b is selectively removed. , 57b
Is covered with a second plating resist. Then, the copper plating layer 52 is formed using the second plating resist covering the regions corresponding to the inner wiring layers 57a and 57b as a mask.
The inner wiring layers 57a and 57b are formed on the insulating substrate 51 by etching the layers b and 53b.

【0060】次に、図8(e)において、銅突起56
a、56b上に金めっき層55a、55bが形成された
絶縁性基板51の上下に、銅突起59、59´によりプ
リプレグ60、60´が貫通された銅箔58、58´を
配置する。
Next, referring to FIG.
Copper foils 58, 58 ′ having prepregs 60, 60 ′ penetrated by copper protrusions 59, 59 ′ are arranged above and below an insulating substrate 51 having gold plating layers 55 a, 55 b formed on a, 56 b.

【0061】ここで、銅突起59は銅突起56aと対向
し、銅突起59´は銅突起56bと対向するように位置
合わせを行う。
Here, the positioning is performed so that the copper projection 59 faces the copper projection 56a and the copper projection 59 'faces the copper projection 56b.

【0062】次に、図9(f)において、プリプレグ6
0、60´が形成された銅箔58、58´と、銅突起5
6a、56b上に金めっき層55a、55bが形成され
た絶縁性基板51とを加熱加圧下で積層する。これによ
り、内層配線層57a、57bと銅箔58、58´とが
プリプレグ60、60´で絶縁され、銅突起59、56
aは金めっき層55aを介して互いに密着するととも
に、銅突起56b、59´は金めっき層55bを介して
互いに密着し、内層配線層57a、57bおよび銅箔5
8、58´の電気的な接続が行われる。
Next, in FIG. 9F, the prepreg 6
Copper foils 58, 58 'on which 0, 60' are formed, and copper projections 5
The insulating substrate 51 having the gold plating layers 55a and 55b formed on 6a and 56b is laminated under heat and pressure. Thus, the inner wiring layers 57a, 57b and the copper foils 58, 58 'are insulated by the prepregs 60, 60', and the copper protrusions 59, 56
a are in close contact with each other via the gold plating layer 55a, and the copper protrusions 56b and 59 'are in close contact with each other via the gold plating layer 55b, so that the inner wiring layers 57a and 57b and the copper foil 5
8, 58 'electrical connections are made.

【0063】次に、図9(g)において、銅箔58、5
8´のパターニングを行うことにより、パットオンビア
構造の外層配線層61、61´を形成する。
Next, in FIG. 9 (g), the copper foils 58, 5
By performing patterning of 8 ', outer wiring layers 61 and 61' having a pad-on-via structure are formed.

【0064】[0064]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ビアホールを微小化しつつ、パットオンビア構造を簡易
な工程で実現することが可能となる。
As described above, according to the present invention,
The pad-on-via structure can be realized with a simple process while miniaturizing the via hole.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1実施形態に係わるプリント配線板
の構成を示す断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view illustrating a configuration of a printed wiring board according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2実施形態に係わるプリント配線板
の製造工程を示す断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a process for manufacturing a printed wiring board according to a second embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第2実施形態に係わるプリント配線板
の製造工程を示す断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating a process for manufacturing a printed wiring board according to a second embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第3実施形態に係わるプリント配線板
の製造工程を示す断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating a process of manufacturing a printed wiring board according to a third embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第3実施形態に係わるプリント配線板
の製造工程を示す断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a process for manufacturing a printed wiring board according to the third embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第4実施形態に係わるプリント配線板
の製造工程を示す断面図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view illustrating a process of manufacturing a printed wiring board according to a fourth embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第4実施形態に係わるプリント配線板
の製造工程を示す断面図である。
FIG. 7 is a cross-sectional view illustrating a process for manufacturing a printed wiring board according to a fourth embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第5実施形態に係わるプリント配線板
の製造工程を示す断面図である。
FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating a process for manufacturing a printed wiring board according to a fifth embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第5実施形態に係わるプリント配線板
の製造工程を示す断面図である。
FIG. 9 is a cross-sectional view illustrating a process for manufacturing a printed wiring board according to the fifth embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、16、27、31、36、51 絶縁性基板 2、3 導体パターン 4、6 導体突起 5 異種金属層 7、39 絶縁樹脂層 8、11、11´、21、21´、32a、33a、4
2、42´、52a、53a、58、58´ 銅箔 12、22 メッキレジスト 13、23 開口部 14、14´、24、24´、32c、33c、37
a、38a、43、43´、56a、56b、59、5
9´ 銅突起 15、15´、26、26´、44、44´、60、6
0´ プリプレグ 17、17´、28、28´、32d、33d、37
b、38b、57a、57b 内層配線層 18、18´、35、40、45 Agペースト 19、29、34、41、54 スルーホール 20、20´、30、30´、45、45´、61、6
1´ 外層配線層 25、55、55a、55b 金めっき層 32b、33b、52b、53b 銅めっき層
1, 16, 27, 31, 36, 51 Insulating substrate 2, 3 Conductive pattern 4, 6 Conductive protrusion 5 Dissimilar metal layer 7, 39 Insulating resin layer 8, 11, 11 ', 21, 21', 32a, 33a, 4
2, 42 ', 52a, 53a, 58, 58' Copper foil 12, 22 Plating resist 13, 23 Opening 14, 14 ', 24, 24', 32c, 33c, 37
a, 38a, 43, 43 ', 56a, 56b, 59, 5
9 'copper projections 15, 15', 26, 26 ', 44, 44', 60, 6
0 'prepreg 17, 17', 28, 28 ', 32d, 33d, 37
b, 38b, 57a, 57b Inner wiring layer 18, 18 ', 35, 40, 45 Ag paste 19, 29, 34, 41, 54 Through hole 20, 20', 30, 30 ', 45, 45', 61 6
1 'Outer wiring layer 25, 55, 55a, 55b Gold plating layer 32b, 33b, 52b, 53b Copper plating layer

フロントページの続き Fターム(参考) 5E317 AA24 BB01 BB11 BB12 CC53 CC60 CD15 CD18 GG16 5E346 AA43 CC04 CC09 CC10 CC31 CC32 CC33 CC38 CC40 DD12 DD23 DD24 DD32 DD33 DD47 DD48 EE09 FF24 GG22 HH26 HH32 Continued on the front page F term (reference) 5E317 AA24 BB01 BB11 BB12 CC53 CC60 CD15 CD18 GG16 5E346 AA43 CC04 CC09 CC10 CC31 CC32 CC33 CC38 CC40 DD12 DD23 DD24 DD32 DD33 DD47 DD48 EE09 FF24 GG22 HH26 HH32

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 銅突起が形成された第1の配線層と、 前記銅突起が埋め込まれた絶縁層と、 前記絶縁層を介して形成された第2の配線層と、 前記第1の配線層と第2の配線層とを前記銅突起を介し
て電気的に接続する異種金属層とを備えることを特徴と
するプリント配線板。
A first wiring layer having copper protrusions formed thereon; an insulating layer having the copper protrusions embedded therein; a second wiring layer formed with the insulating layer interposed therebetween; and the first wiring A printed wiring board, comprising: a dissimilar metal layer that electrically connects the layer and a second wiring layer via the copper protrusion.
【請求項2】 第1の配線層に銅突起を形成する工程
と、 前記銅突起を貫通させた絶縁層を前記第1の配線層に積
層する工程と、 第2の配線層上に異種金属を形成する工程と、 前記銅突起の位置が前記異種金属の形成領域に対応する
ようにして、前記第2の配線層を前記絶縁層に積層する
工程とを備えることを特徴とするプリント配線板の製造
方法。
A step of forming a copper protrusion on the first wiring layer; a step of laminating an insulating layer having the copper protrusion penetrated on the first wiring layer; and a step of forming a different metal on the second wiring layer. And a step of laminating the second wiring layer on the insulating layer so that the position of the copper projection corresponds to the formation region of the dissimilar metal. Manufacturing method.
【請求項3】 第1の配線層に銅突起を形成する工程
と、 前記銅突起上に異種金属層を形成する工程と、 前記銅突起を貫通させた絶縁層を前記第1の配線層に積
層する工程と、 前記第2の配線層を前記絶縁層に積層する工程とを備え
ることを特徴とするプリント配線板の製造方法。
A step of forming a copper protrusion on the first wiring layer; a step of forming a dissimilar metal layer on the copper protrusion; and an insulating layer penetrating the copper protrusion in the first wiring layer. A method for manufacturing a printed wiring board, comprising: a step of laminating; and a step of laminating the second wiring layer on the insulating layer.
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