JP2002145633A - 石英ガラス前駆体及びその製造方法 - Google Patents

石英ガラス前駆体及びその製造方法

Info

Publication number
JP2002145633A
JP2002145633A JP2000339932A JP2000339932A JP2002145633A JP 2002145633 A JP2002145633 A JP 2002145633A JP 2000339932 A JP2000339932 A JP 2000339932A JP 2000339932 A JP2000339932 A JP 2000339932A JP 2002145633 A JP2002145633 A JP 2002145633A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
quartz glass
silica
slurry
powder
precursor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000339932A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4371565B2 (ja
Inventor
Hiroshi Kato
寛 加藤
Atsumi Ikeda
篤海 池田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokuyama Corp
Original Assignee
Tokuyama Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokuyama Corp filed Critical Tokuyama Corp
Priority to JP2000339932A priority Critical patent/JP4371565B2/ja
Publication of JP2002145633A publication Critical patent/JP2002145633A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4371565B2 publication Critical patent/JP4371565B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B19/00Other methods of shaping glass
    • C03B19/06Other methods of shaping glass by sintering, e.g. by cold isostatic pressing of powders and subsequent sintering, by hot pressing of powders, by sintering slurries or dispersions not undergoing a liquid phase reaction
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B19/00Other methods of shaping glass
    • C03B19/06Other methods of shaping glass by sintering, e.g. by cold isostatic pressing of powders and subsequent sintering, by hot pressing of powders, by sintering slurries or dispersions not undergoing a liquid phase reaction
    • C03B19/066Other methods of shaping glass by sintering, e.g. by cold isostatic pressing of powders and subsequent sintering, by hot pressing of powders, by sintering slurries or dispersions not undergoing a liquid phase reaction for the production of quartz or fused silica articles
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B20/00Processes specially adapted for the production of quartz or fused silica articles, not otherwise provided for
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B2201/00Type of glass produced
    • C03B2201/02Pure silica glass, e.g. pure fused quartz
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P40/00Technologies relating to the processing of minerals
    • Y02P40/50Glass production, e.g. reusing waste heat during processing or shaping
    • Y02P40/57Improving the yield, e-g- reduction of reject rates

Abstract

(57)【要約】 【課題】 純度が高く、内部気泡の少ない石英ガラスを
低コストで製造することを可能とする、ヒュームドシリ
カを原料に用いた新規の石英ガラス前駆体及びその製造
方法を提供するものである。 【解決手段】 ヒュームドシリカと極性溶媒とを含む、
n値が2.8以上のシリカスラリーを調製した後、該シ
リカスラリーを乾燥させた、ヒュームドシリカよりなる
多孔体であって、水銀ポロシメーターで測定した全細孔
容積が0.1〜1cc/gの範囲であり、且つ、0.1
μm以上の細孔径を有する細孔の積算容積が全細孔容積
の10%以下である石英ガラス前駆体を製造する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、石英ガラス前駆体
及びその製造方法に関する。詳しくは、新規の石英ガラ
ス前駆体とその製造方法及び該前駆体を用いた石英ガラ
スの製造方法を提供するものである。
【0002】
【従来の技術】シリコン単結晶の引き上げ用ルツボの内
張り材、半導体製造工程で使用される炉心管や治具、あ
るいは光ファイバーの外部クラッド等に高純度の石英ガ
ラスが使用されている。これらの石英ガラスには、高純
度であることは勿論のこと、内部シラノール基が少なく
加熱溶融した際の粘性(以下、高温粘性という。)が高
いこと及び気泡含有率が低いことなどが求められてい
る。従来、高純度の天然石英粉末が主に使用されていた
が、更に高い純度が求められる用途には、メチルシリケ
ート等のアルコキシシランを加水分解して製造される、
いわゆるゾルーゲル法による合成石英ガラス粉末などが
使用されている。
【0003】一方、米国特許第4,042,361号明
細書には、ヒュームドシリカを原料に用いてシリカゾル
を調製し、これを破砕片を生じるように乾燥した後、焼
成してシリコン単結晶の引き上げ用ルツボ等に使用する
ための高純度の石英ガラスを得る試みが記載されてい
る。
【0004】また、特開平11−171558号公報に
は、光ファイバーのプリフォームの製造方法として、ヒ
ュームドシリカのスラリーを型枠の中でゲル化させた後
にゲル体を押し出し、乾燥・焼結してプリフォームとす
る方法が開示されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述のゾルーゲル法に
よる石英ガラス粉末は、高純度であるものの、高温粘性
に影響を与えるシラノール基の濃度が高く高温粘性が低
いこと、アルコキシシランを原料とするため残留カーボ
ン濃度が高いこと、更に原料が高価で且つ製造プロセス
が複雑なため製造コストが非常に高いという問題があっ
た。また、シラノール基の濃度が高かったり、残留カー
ボン濃度が高かったりした場合は、石英ガラス粉末の内
部に気泡が発生し易くなるため、石英ガラスを製造した
際に気泡が抜けずに発泡したり、石英ガラスの高温粘性
を低下させることも懸念される。特に石英ガラス内部の
気泡の問題は深刻で、特許第3026088号公報に
は、石英ルツボ内表面近傍に気泡が含まれる場合、単結
晶引き上げ時の加熱により気泡が膨張し、このため石英
ルツボ内表面から石英片が剥離して溶融シリコン中に混
入し、単結晶化を妨げる原因となることが記されてい
る。また、このため石英ガラス粉末中の気泡の多寡は、
石英ルツボ用途においては極めて重要な品質管理項目と
なっている。
【0006】一方、ヒュームドシリカを水等の極性溶媒
中に分散させたシリカスラリーを経由して、石英ガラス
を製造する場合には、シラノール基の濃度は低くできる
ものの、気泡が抜けにくく石英ガラス内部に多数の気泡
が残ってしまうこともあった。また、生産性を向上させ
るためには、そのような分散性に優れたシリカスラリー
を高濃度で製造することが重要で、更に、特開平11−
171558号公報に記載のような型枠に入れて成形体
を製造する際には、シリカスラリーの濃度が低い場合
は、スラリーを乾燥させた時のゲルの収縮率が大きく、
ゲルが割れ易いと言う問題があった。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明者らは上記課題を
解決するために鋭意研究を重ねてきた。その結果、アル
コキシシランと同様に極めて純度の高いシリカ原料とし
て、四塩化ケイ素等のシラン系ガスを酸水素炎中で燃焼
させて製造されるヒュームドシリカに着目した。該ヒュ
ームドシリカを特定の分散状態のスラリー状態を経て乾
燥させることによって、特定の細孔分布を有する石英ガ
ラス前駆体が得られ、その石英ガラス前駆体を焼成する
ことによって、シラノール基の濃度が低く高温粘性が高
く、高純度で気泡の少ない石英ガラスが低コストで得ら
れることを見い出し、本発明を完成するに至った。
【0008】即ち、本発明は、ヒュームドシリカよりな
る多孔体であって、水銀ポロシメーターで測定した全細
孔容積が0.1〜1cc/gの範囲であり、且つ、0.
1μm以上の細孔径を有する細孔の積算容積が全細孔容
積の10%以下であることを特徴とする石英ガラス前駆
体である。
【0009】更に本発明は、ヒュームドシリカと極性溶
媒とを含む、分散指数(n値)が2.8以上のシリカス
ラリーを調製し、該シリカスラリーを乾燥させることを
特徴とする前記の石英ガラス前駆体の製造方法、及び前
記石英ガラス前駆体を焼成することを特徴とする石英ガ
ラスの製造方法をも提供する。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明について詳細に説明
する。
【0011】本発明の石英ガラス前駆体は、ヒュームド
シリカよりなる多孔体である。本発明においては、ヒュ
ームドシリカを用いることが重要である。ヒュームドシ
リカは、高純度の四塩化ケイ素等のガスを原料としてお
り、極めて高純度のものを容易に入手することができる
ので、高純度の石英ガラス前駆体を容易に得ることがで
きる。また、石英ガラス前駆体から粉末状の石英ガラス
を製造する場合、平均粒子径を調節する必要があるが、
ヒュームドシリカの平均一次粒子径は7nm〜50nm
の範囲にあり非常に微粒子であるので、本発明の石英ガ
ラス前駆体は、粉砕が極めて容易であり粉砕機からの汚
染を容易に防止でき、且つ石英ガラス粉末の粒度分布を
制御し易いという特徴も有している。
【0012】本発明の石英ガラス前駆体は、水銀ポロシ
メーターで測定した全細孔容積が0.1〜1cc/gの
範囲であることが重要である。全細孔容積の好ましい範
囲は、0.2〜1cc/g、さらに好ましくは0.3〜
1cc/gである。全細孔容積が0.1cc/g未満の
場合は石英ガラス前駆体を高温で焼成して石英ガラスと
する際に、水蒸気等のガスの逃げ道が無くなり、気泡が
発生したり、シラノール基濃度が高い石英ガラスが生成
することなども懸念される。一方、全細孔容積が1cc
/gを超えた場合は、高温で焼成して石英ガラス粉末を
製造する際に気泡が残り易くなる傾向にある。即ち、石
英ガラス前駆体の全細孔容積を上記範囲に調節すること
によって、シラノール基が少なく、気泡の発生のない緻
密な石英ガラスを得ることができる。
【0013】更に本発明の石英ガラス前駆体は、水銀ポ
ロシメーターで測定したときに、0.1μm以上の細孔
径を有する細孔の積算容積が全細孔容積の10%以下、
好ましくは7%以下であることが重要である。
【0014】0.1μm以上の細孔径を有する細孔の積
算容積の全細孔容積に占める割合が上記範囲を超える
と、前駆体を焼成して石英ガラスを製造した際に石英ガ
ラスの内部に気泡が発生しやすい。石英ガラス中にこの
ような気泡が存在すると、該石英ガラスを溶融させて石
英ガラス製品を製造する際にも気泡として残る場合があ
るため、問題となる。特に、前述した如く、シリコン単
結晶の引き上げ用ルツボの内張り等に使用した場合は、
単結晶引き上げ時に上記気泡が破裂し、シリコン単結晶
の品質を低下させる。
【0015】次に、本発明の石英ガラス前駆体の製造方
法を各工程毎に詳細に説明する。
【0016】本発明の石英ガラス前駆体を製造するに
は、まずヒュームドシリカと極性溶媒とを含むシリカス
ラリーを調製する。なお、ここで言うシリカスラリーと
は、流動性のある液状のものは勿論、ゼリー状の半固体
状のものでも良い。
【0017】ヒュームドシリカとしては、比表面積が5
0〜400m2/gの範囲のものが入手可能であるが、
どの比表面積のものも特に制限無く使用できる。また、
比表面積の異なる二種類以上のシリカを混合して使用す
ることもできる。
【0018】極性溶媒としては水が好適であるが、メチ
ルアルコール、エチルアルコール、イソプロピルアルコ
ールなどのアルコール類や前記水とアルコール類の混合
溶媒であっても良い。
【0019】シリカスラリーは、ヒュームドシリカが一
次粒子近くまで微分散していることが極めて重要であ
る。シリカの分散状態は、分散指数(n値)で表わすこ
とができ、分散指数(n値)が2.8以上、好ましくは
3.0以上のシリカスラリーを調製することが望まし
い。即ち、n値が2.8未満の場合は、シリカスラリー
中のヒュームドシリカの分散状態が不十分であるが故
に、該スラリーを乾燥させて石英ガラス前駆体を製造し
た場合には、全細孔容積が大きくなったり、直径0.1
μm以上の細孔の比率が増加する傾向があり、そのため
に前記前駆体を焼成した場合に気泡を含んだ石英ガラス
ができてしまう場合がある。一方、n値が2.8以上で
あれば、本発明の要件である細孔容積と細孔分布の範囲
を満たした石英ガラス前駆体を得ることができ、該前駆
体を用いて石英ガラスを製造した際にも気泡の少ない石
英ガラスが得られる。
【0020】上記n値は、Journal of Ce
ramic Society ofJapan 101
[6]707−712(1983)に記載の方法に準じ
て、市販の分光光度計を用いてシリカスラリーのスペク
トルを測定することにより求めることができる。具体的
に説明すると、まず、光路長10mmのセルを用い、参
照セルと試料セルにそれぞれイオン交換水を満たし、4
60〜700nmの波長範囲にわたってゼロ点校正を行
う。次に、シリカの濃度が1.5重量%になるようにシ
リカスラリーをイオン交換水で希釈し、試料セルに該濃
度調整されたシリカスラリーを入れて波長(λ)460
〜700nmの範囲の吸光度(τ)を測定する。このと
き、シリカスラリーは、高濃度である場合、スラリー調
製後放置していると、ゼリー状の半固体状となる場合が
多いので、スラリー調製後、直ちに希釈して吸光度測定
に供する。
【0021】次に、log(λ)とlog(τ)をプロ
ットし、下記式(1) τ=α・λ-n (1) (ここで、αは定数)を用いて直線の傾き(−n)を最
小二乗法で求める。この時のnの値が分散指数である。
上記τの測定点の数は6点以上、好ましくは20点以上
と多くとる方がnの精度が向上するために好ましい。な
お、上記n値はスラリー中のシリカの分散状態を示す指
標で、シリカの分散状態に優れたものほど上記n値が高
くなる。
【0022】シリカの分散状態の優れたシリカスラリー
を調製する手段としては、ヒュームドシリカと極性溶媒
よりなるスラリーを湿式粉砕する方法を挙げることがで
きる。
【0023】湿式粉砕の方法は特に限定されない。n値
が2.8以上となるように、ヒュームドシリカが極性溶
媒中に微分散する方法であれば採用可能である。例え
ば、プロペラ式ミキサー、ボールミル、ビーズミル、コ
ロイドミル、ホモジナイザー、超音波ホモジナイザー、
高圧ホモジナイザー、摩砕機などの公知の湿式粉砕や解
砕・分散が可能な装置を用いることができる。
【0024】なお、本発明の方法では、上記工程でスラ
リーが金属不純物によるコンタミを受けないことが望ま
しい。スラリーがコンタミを受けると石英ガラス前駆体
の純度が低下する可能性がある。そのような意味から、
接液部は樹脂やセラミックスもしくはそれらでコーティ
ングした部材を使用した装置が好適である。
【0025】シリカスラリー中のシリカ濃度は特に限定
されないが、シリカ濃度は高い方が生産性に優れてい
る。また、次の工程では、シリカスラリーを乾燥させる
必要があるが、シリカ濃度が高いほど乾燥工程での負担
が軽くなり、好ましい。該シリカ濃度としては、15重
量%以上、好ましくは25重量%以上、更に好ましくは
35重量%以上である。15重量%以上の場合には、乾
燥時間が短く、更に生産性やエネルギー効率も良いとい
うメリットがある。
【0026】なお、上記のシリカ濃度の上限値は、用い
るシリカの種類(比表面積値)に大きく依存する。即
ち、比表面積の小さな(一次粒子径の大きな)ヒューム
ドシリカほど、高いシリカ濃度のスラリーが得易い傾向
にある。よって、現在入手可能なヒュームドシリカの中
では、50m2/gのものが、最も高いシリカ濃度のス
ラリーが得られ、同時に生産性が高いと言える。比表面
積が50m2/gのヒュームドシリカを用いた場合に
は、50重量%以上、好ましくは55重量%以上のシリ
カ濃度のスラリーを得ることができるので好ましい。
【0027】上記シリカスラリーを型枠の中に入れて石
英ガラス前駆体の成形体を製造する場合は、上記のよう
に50m2/gのヒュームドシリカを用いて55重量%
以上の高濃度のスラリーを経由して製造するのが最も好
適である。シリカ濃度が55%以上と高く、更に前述し
たようにn値が2.8以上のシリカスラリーとすること
によって、乾燥時の前駆体の収縮が抑えられ、欠けやひ
び割れなどの発生を効果的に防止できる。
【0028】上述したような、生産性が高く、粉砕(分
散)性能に優れ、特にコンタミが少なく、更に高濃度の
シリカスラリーを容易に製造可能な装置としては、高圧
ホモジナイザー(例えば、商品名:ナノマイザー、ナノ
マイザー(株)製)や摩砕機(例えば、商品名:スーパ
ーマスコロイダー、増幸産業(株)製)等を好適に採用
できる。特に、スーパーマスコロイダーは、接液部にS
iC砥石を用いた場合、コンタミが少なく、35重量%
以上の高濃度のシリカスラリーを効率良く生産できるの
で本発明に最適である。
【0029】なお、シリカが微分散した固形分濃度の低
いシリカスラリーを徐々に乾燥させて高濃度化する方法
も採用できる。
【0030】なお、上記の湿式粉砕の工程では、ヒュー
ムドシリカと極性溶媒以外に、各種の添加剤を加えるこ
とができる。例えば、シリカの安定性や分散性を上げる
ために、酸やアルカリなどのpH調整剤、各種の塩類、
分散剤や界面活性剤、水溶性高分子等を加えることがで
きる。本発明の石英ガラス前駆体は、石英ガラス粉末に
するために高温で焼成するため、揮発性及び/または燃
焼可能な化合物であれば、特に制限無く添加できる。例
えば、ヒュームドシリカの分散性を向上させたり、乾燥
後の石英ガラス前駆体の硬さを制御するために、アンモ
ニアやアミンを添加するのは好ましい態様の一つであ
る。また、PVA等の水溶性高分子や界面活性剤を添加
して石英ガラス前駆体を粉砕し易くすることもできる。
【0031】次に、本発明の方法では、上記シリカスラ
リーを乾燥させて石英ガラス前駆体を製造する。
【0032】乾燥方法は特に限定されず、例えば自然乾
燥であっても良い。工業的には各種の乾燥機が使用可能
で、例えば、蒸気乾燥機、送風乾燥機、熱風送風乾燥
機、真空乾燥機、コンベア式乾燥機、コニカル式乾燥
機、ロータリーキルン、スプレードライヤーなども使用
可能である。
【0033】乾燥時間及び乾燥温度は特に限定されな
い。乾燥時間は数時間〜数日間の範囲、乾燥温度は室温
〜数百℃の範囲から選択すれば良い。極性溶媒として水
を用いた場合、工業的には、シリカスラリーが突沸する
のを避けるために100℃前後の温度で数〜数十時間乾
燥させて一旦ほとんどの水分を取り除いた後、150〜
300℃の範囲の温度で数〜数十時間、更に残留してい
る水分を取り除いて乾燥させるのが良い。なお、上記の
乾燥を急激に行った場合には、石英ガラス前駆体の内部
に比較的大きな気泡が発生し、最終的に製造した石英ガ
ラス中にも気泡が残留することが懸念される。したがっ
て、上記乾燥工程では、石英ガラス前駆体内部に気泡が
発生しないように、ゆっくりと乾燥することが好まし
い。
【0034】本発明の石英ガラス前駆体は、粉砕した後
に焼成することにより高純度で内部の気泡が少なく、更
にシラノール基濃度の低い石英ガラス粉末とすることが
できる。
【0035】実用的な石英ガラス粉末の平均粒子径は、
1〜1000μmの範囲、好ましくは30〜700μ
m、更に好ましくは50〜500μmの範囲であるの
で、石英ガラス前駆体をほぼこの範囲となるように粉砕
する。
【0036】石英ガラス前駆体の粉砕方法は、特に限定
されない。各種の乾式の粉砕手段を用いても良いし、湿
式粉砕した後に再度乾燥させても良い。乾式法の方が再
度乾燥させる必要がないため工業的には有利である。
【0037】代表的な粉砕機としては、自動乳鉢、ボー
ルミル、ロールミル、振動ミル、ピンミル、ディスクミ
ル、摩砕機、気流粉砕機などの公知の粉砕装置が使用で
きる。上記の中で不純物の汚染が少なく目的の平均粒子
径が得られる粉砕装置を使用すれば良い。更に前述した
平均粒子径に揃えるためには篩等で選別することができ
る。
【0038】本発明による石英ガラス前駆体は、元々微
粒子のヒュームドシリカを水で固めただけなので、比較
的軟らかく、粉砕し易いという利点がある。したがっ
て、上記平均粒子径に調整するための粉砕機には、テフ
ロン(登録商標)等のポリマー製の粉砕機やポリマーコ
ーティングした粉砕機も使用可能である。
【0039】本発明の石英ガラス前駆体を上述したよう
に粉砕した粉末は、1000〜1400℃の範囲の温度
で焼成することによって緻密な石英ガラス粉末に変換す
ることができる。上記温度で焼成することによって、原
料であるヒュームドシリカの一次粒子が焼結し、緻密な
石英ガラスとなる。1000℃未満では緻密な石英ガラ
スが得られない場合があり、1400℃を超えると石英
ガラス粉末同志が癒着してしまう場合がある。上記焼成
には、電気炉等を使用することができる。なお、焼成時
の雰囲気としては、酸素、空気、窒素、ヘリウム、アル
ゴン、塩素、真空などが採用できる。特に、数%の塩素
や塩化チオニル等の塩素系ガスを含む不活性ガス雰囲気
中で焼成した場合には、石英ガラス粉末より金属不純物
を除去する効果があり、本発明を実施する上で極めて好
ましい。更に上記の塩素系ガスの処理は、石英ガラス前
駆体中のシラノール基の濃度を低減できるため、本発明
を実施する上で極めて好ましい。
【0040】以上のようにして製造される本発明の石英
ガラス粉末は、内部にほとんど気泡を持たないため、本
発明の石英ガラス粉末を用いて石英ガラス製品を製造し
た際に泡が発生しない。更に、本発明の石英ガラス粉末
は石英ガラスの高温粘性を低下させるシラノール基濃度
が極めて低い。
【0041】ところで、本発明においては、シリカスラ
リーを型枠に流し込んで特定の形の成形体を作ることも
可能である。本発明の方法によれば、分散状態の優れた
ヒュームドシリカのスラリーを高シリカ濃度で製造でき
るので、乾燥後の石英ガラス前駆体が割れを生じ難い。
そのようにして作った石英ガラス前駆体を1000〜1
600℃の温度で焼成することによって、透明な石英製
品を作ることができる。
【0042】
【発明の効果】本発明の石英ガラス前駆体は、原料とし
てヒュームドシリカを用いており、特定の細孔容積及び
細孔分布を有しているので、これを焼成することによ
り、高純度で内部に気泡が少なく、更にシラノール基濃
度の低い石英ガラス粉末を低コストで製造することがで
きる。また、上記石英ガラス粉末を使用すると、高純度
且つ高温粘性に優れた石英ガラスを製造することができ
る。
【0043】
【実施例】以下、本発明の実施例を挙げて具体的に説明
するが、本発明はこれらの実施例によって何ら限定され
るものではない。
【0044】(試験方法) 1.平均粒子径 石英ガラス粉末の平均粒子径は、ベックマン・コールタ
ー製、LS−230を用いて測定した。
【0045】2.分散指数(n値)の測定 シリカスラリーのスペクトルは、分光光度計(日本分光
製、Ubest−35型)を用いて測定した。まず、光
路長10mmのセルを用い、参照セルと試料セルにそれ
ぞれイオン交換水を満たし、全波長範囲にわたってゼロ
点校正を行った。次に、スラリー調製直後のシリカスラ
リーをシリカの濃度が1.5重量%になるようにイオン
交換水で希釈し、試料セルに該希釈液を入れて波長
(λ)460〜700nmの範囲の吸光度(τ)を1n
m毎に241個測定した。log(λ)とlog(τ)
をプロットし、下記式(2)を用いて直線の傾き(−
n)を最小二乗法で求めた。この時のnを分散指数とし
た。
【0046】τ=α・λ-n (2) (ここで、αは定数)
【0047】3.全細孔容積の測定 石英ガラス前駆体の全細孔容積の測定には水銀ポロシメ
ーター(Quantachrome社製、Porema
ster−60)を用いた。
【0048】また、0.1μm以上の細孔径を有する細
孔の積算容積の全細孔容積に占める割合は、上記水銀ポ
ロシメーターにより測定された、0.1μm以上の細孔
径を有する細孔の積算容積及び全細孔容積から算出し
た。
【0049】4.石英ガラス粉末の屈折率の測定 純水(屈折率:nD 25=1.33)及びグリセリン(nD
25=1.47)を用いて、それぞれ石英ガラス粉末の濃
度が5重量%のスラリーを作り、次にそれぞれのスラリ
ーを適当な比率で数種類混合した。続いて、該混合液の
波長593nmにおける吸光度を分光光度計を用いて測
定し、更に該混合液の波長593nmにおける屈折率を
アッベの屈折率計を用いて測定した。なお、吸光度と屈
折率は25℃で測定した。
【0050】上記で測定した吸光度を屈折率に対してプ
ロットし、吸光度が最小となる屈折率の値を求め、上記
最小値を取るときの屈折率を当該石英ガラス粉末の屈折
率とした。
【0051】5.石英ガラス粉末中の気泡の多寡 純水とグリセリンを用いて、石英ガラスの屈折率と若干
ずらした屈折率1.42の混合液を調整し、その中に石
英ガラス粉末を浸漬した。石英ガラス粉末の入った混合
液をプレパラート上に展開し、光学顕微鏡を用いて各粉
末中の気泡の多寡を観察した。
【0052】6.石英ガラス粉末の内部シラノール基濃
度の測定 特開平2−289416号公報に記載の測定方法に準じ
て、赤外吸収スペクトルを測定することによって石英ガ
ラス粉末中の内部シラノール基濃度を測定した。具体的
には、前処理として各石英ガラス粉末は100℃の乾燥
器中で一昼夜乾燥し、フーリエ変換赤外分光光度計(バ
イオラッド社製、FTS−7)を用い、拡散反射法によ
り赤外吸収を測定した。内部シラノール基の吸収位置で
ある3680cm-1付近のピークの面積を求め、上記面
積の値を相対比較することにより、石英ガラス粉末の内
部シラノール基濃度の尺度とした。
【0053】実施例1 (石英ガラス前駆体の製造)比表面積が200m2/g
のヒュームドシリカを固形分濃度が40重量%になるよ
うに純水と混合した。上記混合物は固形分濃度が高いた
め、液状ではなく粉状であった。水と粉が均一に混ざり
合うまで、テフロン棒を用いて攪拌と混練を繰り返し
た。上記混合物は、嵩が元のヒュームドシリカと比べる
と約1/2に減少したが、性状は粉末のままであった。
【0054】次に、スーパーマスコロイダー(増幸産業
製)を用いて上記粉末を粉砕処理した。粉砕条件は、デ
ィスクの直径が250mm、ディスクとディスクの間隙
が200μm、ディスクの回転数が1800rpmであ
った。なお、ディスクには46メッシュのSiC粉末を
樹脂バインダーで固めた無機有機複合材よりなる砥石を
使用した。上記の粉砕処理によって、原料粉末は流動性
のあるスラリー状となった。なお、該スラリーは1時間
以内にゲル化し流動性を失ったが、該スラリーの体積は
元のヒュームドシリカの嵩に比べると約1/10まで低
下していた。
【0055】上記の粉砕直後のシリカスラリーの一部を
サンプリングし、直ちにシリカ濃度が1.5重量%にな
るように純水で希釈した。純水で希釈することによって
シリカスラリーのゲル化は起こらなかった。上記希釈ス
ラリーを用いてn値を測定したところ4.7であった。
【0056】続いて、上記の固形分濃度が40重量%の
ヒュームドシリカのスラリーを石英ガラス製のバットに
入れて送風乾燥機に仕込み、100℃で24時間乾燥さ
せた後、更に180℃で24時間乾燥させて石英ガラス
前駆体を得た。
【0057】上記石英ガラス前駆体の全細孔容積を水銀
ポロシメーターで測定した結果を図1に示す。
【0058】上記測定のデータより、全細孔容積は0.
91cc/g、0.1μm以上の細孔径を有する細孔の
積算容積は全細孔容積の1.6%であった。
【0059】(石英ガラス粉末の製造)次に、上記前駆
体をセラミックス製のロールミルを用いて粉砕し、続い
てポリエチレン製の篩を用いて粗粉と微粉を取り除い
た。粗粉用には目開き420μm、微粉用には目開き1
49μmの篩を用いて、150〜420μmの範囲の粉
末を分取し、粒度分布を調整した。
【0060】続いて、上記粒度分布を調整した前駆体粉
末を石英製のルツボに入れ、電気炉を用いて1350℃
で10時間焼成して石英ガラス粉末を作製した。なお、
そのときの昇温速度は800℃までは7℃/min、そ
れ以降は0.75℃/minであった。冷却後、該粉末
を取り出し、その物性を調べた。なお、焼成後の粉末は
真っ白であった。
【0061】上記粉末の平均粒子径は約250μmであ
った。該粉末を光学顕微鏡で観察したところ、粒子の形
状は不定形であった。走査型電子顕微鏡で上記粉末の表
面を観察した結果、元のヒュームドシリカの一次粒子は
観察されず、滑らかな表面であった。上記粉末の屈折率
は、1.46、真密度は2.20g/cm3、BET比
表面積は、0.4m2/g、であった。また、上記粉末
をX線回折装置で分析したところ、結晶性のピークはな
く、非晶質であることがわかった。よって、無孔質で緻
密な石英ガラス粉末であることが確認できた。
【0062】更に上記粉末を光学顕微鏡で観察したとこ
ろ、粉末内部に気泡を含んでいる粒子はほとんど見られ
なかった。また、上記粉末の内部シラノール基濃度を測
定した結果を表1に示すが、内部シラノール基は少ない
ことがわかった。
【0063】以上のことから、本実施例で製造した石英
ガラス粉末は粒子内部にほとんど気泡を含まず、シラノ
ール基濃度も極めて低いものであることがわかる。
【0064】比較例1 (石英ガラス前駆体の製造)内容積約4リットルのジャ
ケット付き反応器に純水900gを仕込んだ後、テフロ
ン製の羽根を用いて20rpmで攪拌した。ジャケット
に恒温水を循環することにより、反応器内の温度を45
℃に保ちつつ、該反応器にテトラメトキシシラン152
0gをゆっくりと添加した。その後、テトラメトキシラ
ンと水とが混ざり合い、均一なゾルとなったところで攪
拌を停止し、内容物を30分間静置した。数十分後に内
容物はゲル化した。上記ゲルを反応器より取り出し、風
乾後、送風乾燥機に仕込み180℃で24時間乾燥させ
て石英ガラス前駆体を得た。
【0065】該前駆体の全細孔容積を測定したところ、
0.04cc/gと非常に小さかった。なお、0.1μ
m以上の細孔径を有する細孔の積算容積は全細孔容積の
56%であった。
【0066】(石英ガラス粉末の製造)石英ガラス前駆
体を実施例1と同様にして粉砕し、続いて篩い分けする
ことによって該前駆体粉末を作った。
【0067】続いて、実施例1と同様にして、上記篩い
分けした前駆体粉末を石英製のルツボに入れ、電気炉を
用いて1350℃で10時間焼成して石英ガラス粉末を
作製した。冷却後、該粉末を取り出し、その物性を調べ
た。その結果、実施例1では見られなかった黒い粒子が
かなり多く見られた。上記黒い粒子は、アルコール等の
有機物の残留物がシリカ粒子内部で炭化したものと考え
られる。
【0068】上記の黒い粒子を取り除いて以下の実験に
供した。石英ガラス粉末の平均粒子径は約250μmで
あった。該粉末を光学顕微鏡で観察したところ、粒子の
形状は不定形で、X線回折装置で分析したところ、結晶
性のピークはなく、非晶質であることがわかった。
【0069】上記石英ガラス粉末を光学顕微鏡で観察し
たところ、実施例1に比べて粒子内部に不透明な部分を
多く含んでいることがわかった。一つは気泡であり、も
う一つ有機物の残留物が炭化したものと考えられる。ま
た、石英ガラス粉末の内部シラノール基濃度を測定した
結果、実施例1に比べて内部シラノール基も多いことが
わかった。
【0070】比較例2 (石英ガラス前駆体の製造)比表面積が200m2/g
のヒュームドシリカを20重量%になるように純水と混
合し、テフロン製の羽根のついたプロペラミキサーを用
いて500rpmで約10分間混合することによってス
ラリーを調製した。
【0071】上記スラリーのn値は2.5であった。
【0072】続いて、実施例1と同様にして乾燥させて
石英ガラス前駆体を得た。
【0073】上記石英ガラス前駆体の全細孔容積を水銀
ポロシメーターで測定したところ表1の結果が得られ
た。即ち、原料となるスラリーのn値が低い場合、つま
りシリカの分散状態が悪い場合は、全細孔容積が1cc
/gを超え、更に0.1μm以上の細孔径を有する細孔
の積算容積の全細孔容積に占める比率も10%を超え
た。
【0074】(石英ガラス粉末の製造)引続き、実施例
1と同様にして、粉砕、篩い分け、焼成を行った。
【0075】できた石英ガラス粉末の平均粒子径は約2
50μmであった。
【0076】比較例1のような黒点は全く生成せず、見
た目には実施例1と同じ粉末が得られた。石英ガラス粉
末の内部シラノール基の濃度は実施例1と比較しても遜
色は無かったが、粒子内部に気泡を含んだ粒子が実施例
1に比べるとやや多いことが確認された。
【0077】実施例2 (石英ガラス前駆体の製造)比表面積が50m2/gの
ヒュームドシリカを用いた以外は実施例1と同様にして
石英ガラス前駆体を製造した。なお、シリカを分散する
ときの固形分濃度は55重量%で実施した。このときの
シリカスラリーのn値は3.0であった。
【0078】(石英ガラス粉末の製造)前記の前駆体を
使用して、実施例1と同様にして石英ガラス粉末を製造
し、評価した。
【0079】石英ガラス前駆体及び石英ガラス粉末の評
価結果を表1に示す。
【0080】石英ガラス前駆体の全細孔容積は0.65
cc/g、全細孔容積に占める0.1μm以上の細孔径
を有する細孔の積算容積の比率は5.1%であった。
【0081】前記の石英ガラス前駆体を焼成することに
よって得た石英ガラス粉末の平均粒子径は約250μm
であった。石英ガラス粉末の内部シラノール基濃度は低
く、粒子内部に気泡を含んでいる粒子も少ないことがわ
かった。
【0082】(成形体の作製)上記のシリカスラリー
(55重量%)を内径25mmΦのテフロン容器に5g
注入した。ピンホールの空いた蓋をして、40℃の恒温
槽中に放置した。1週間後取り出したところ、直径約2
3mm、厚さ約5mmの円盤状の半透明石英ガラス前駆
体(シリカゲル)が得られた。上記シリカゲルには欠け
やひび割れはなかった。更に大気中で数日間乾燥させた
後、150℃で一昼夜乾燥させた。続いて、電気炉中で
0.5℃/分の昇温速度で1450℃まで昇温し、12
時間焼成した。徐冷後、試料を取り出すと透明な石英ガ
ラス板が得られた。
【0083】実施例3 (石英ガラス前駆体の製造)比表面積が200m2/g
のヒュームドシリカを固形分濃度が20重量%になるよ
うに純水と混合し、テフロン製の羽根のついたプロペラ
ミキサーを用いて500rpmで約10分間混合した。
続いて、高圧ホモジナイザー(ナノマイザー製、ナノマ
イザーLA31)を用いて、処理圧力700kg/cm
2で2回処理を行ってシリカスラリーを調製した。
【0084】上記スラリーのn値は3.9であった。
【0085】以下、実施例1と同様にして石英ガラス前
駆体を製造し、評価した。
【0086】(石英ガラス粉末の製造)更に実施例1と
同様にして石英ガラス粉末を製造し、評価した。
【0087】石英ガラス前駆体及び石英ガラス粉末の評
価結果を表1に示す。石英ガラス前駆体の全細孔容積は
0.95cc/g、全細孔容積に占める0.1μm以上
の細孔径を有する細孔の積算容積の比率は7.5%であ
った。焼成後の石英ガラス粉末の平均粒子径は約250
μmで、内部シラノール基の濃度は低く、粒子内部に気
泡を含んでいる粒子もほとんど見られなかった。
【0088】実施例4 (石英ガラス前駆体の製造)比表面積が380m2/g
のヒュームドシリカを用いた以外は実施例3と同様にし
てシリカスラリーを調製した。
【0089】上記スラリーのn値は3.8であった。
【0090】以下、実施例1と同様にして石英ガラス前
駆体を製造し、評価した。
【0091】(石英ガラス粉末の製造)更に実施例1と
同様にして石英ガラス粉末を製造し、評価した。
【0092】石英ガラス前駆体及び石英ガラス粉末の評
価結果を表1に示す。石英ガラス前駆体の全細孔容積は
0.79cc/g、全細孔容積に占める0.1μm以上
の細孔径を有する細孔の積算容積の比率は3.3%であ
った。焼成後の石英ガラス粉末の平均粒子径は約250
μmで、内部シラノール基の濃度は低く、粒子内部に気
泡を含んでいる粒子もほとんど見られなかった。
【0093】
【表1】
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施例1の石英ガラス前駆体の全細孔容積測
定結果を示す図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ヒュームドシリカよりなる多孔体であっ
    て、水銀ポロシメーターで測定した全細孔容積が0.1
    〜1cc/gの範囲であり、且つ、0.1μm以上の細
    孔径を有する細孔の積算容積が全細孔容積の10%以下
    であることを特徴とする石英ガラス前駆体。
  2. 【請求項2】 ヒュームドシリカと極性溶媒とを含む、
    分散指数(n値)が2.8以上のシリカスラリーを調製
    し、該シリカスラリーを乾燥させることを特徴とする請
    求項1記載の石英ガラス前駆体の製造方法。
  3. 【請求項3】 請求項1記載の石英ガラス前駆体を焼成
    することを特徴とする石英ガラスの製造方法。
JP2000339932A 2000-11-08 2000-11-08 石英ガラス前駆体及びその製造方法 Expired - Fee Related JP4371565B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000339932A JP4371565B2 (ja) 2000-11-08 2000-11-08 石英ガラス前駆体及びその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000339932A JP4371565B2 (ja) 2000-11-08 2000-11-08 石英ガラス前駆体及びその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002145633A true JP2002145633A (ja) 2002-05-22
JP4371565B2 JP4371565B2 (ja) 2009-11-25

Family

ID=18814924

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000339932A Expired - Fee Related JP4371565B2 (ja) 2000-11-08 2000-11-08 石英ガラス前駆体及びその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4371565B2 (ja)

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2011004852A1 (ja) * 2009-07-08 2012-12-20 国立大学法人九州大学 コンポジット成形体及びシリカガラス、並びに、それらの製造方法
WO2016140316A1 (ja) * 2015-03-04 2016-09-09 国立大学法人九州大学 シリカガラス前駆体製造方法、シリカガラス前駆体、シリカガラス製造方法、及びシリカガラス
JP2019172562A (ja) * 2018-03-29 2019-10-10 パナソニック デバイスSunx株式会社 石英ガラスの製造方法
US10618833B2 (en) 2015-12-18 2020-04-14 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of a synthetic quartz glass grain
US10676388B2 (en) 2015-12-18 2020-06-09 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Glass fibers and pre-forms made of homogeneous quartz glass
US10730780B2 (en) 2015-12-18 2020-08-04 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of a quartz glass body in a multi-chamber oven
US11053152B2 (en) 2015-12-18 2021-07-06 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Spray granulation of silicon dioxide in the preparation of quartz glass
US11236002B2 (en) 2015-12-18 2022-02-01 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of an opaque quartz glass body
US11299417B2 (en) 2015-12-18 2022-04-12 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of a quartz glass body in a melting crucible of refractory metal
US11339076B2 (en) 2015-12-18 2022-05-24 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of carbon-doped silicon dioxide granulate as an intermediate in the preparation of quartz glass
US11492285B2 (en) 2015-12-18 2022-11-08 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of quartz glass bodies from silicon dioxide granulate
US11492282B2 (en) 2015-12-18 2022-11-08 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of quartz glass bodies with dew point monitoring in the melting oven
CN116873943A (zh) * 2023-08-07 2023-10-13 安徽壹石通材料科技股份有限公司 一种高纯方石英的制备方法
US11952303B2 (en) 2015-12-18 2024-04-09 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Increase in silicon content in the preparation of quartz glass

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2011004852A1 (ja) * 2009-07-08 2012-12-20 国立大学法人九州大学 コンポジット成形体及びシリカガラス、並びに、それらの製造方法
JP5786217B2 (ja) * 2009-07-08 2015-09-30 国立大学法人九州大学 コンポジット成形体及びシリカガラス、並びに、それらの製造方法
US10407334B2 (en) 2009-07-08 2019-09-10 Kyushu University Composite shaped body and silica glass, and method for producing the same
WO2016140316A1 (ja) * 2015-03-04 2016-09-09 国立大学法人九州大学 シリカガラス前駆体製造方法、シリカガラス前駆体、シリカガラス製造方法、及びシリカガラス
JPWO2016140316A1 (ja) * 2015-03-04 2017-12-14 国立大学法人九州大学 シリカガラス前駆体製造方法、シリカガラス前駆体、シリカガラス製造方法、及びシリカガラス
US10730780B2 (en) 2015-12-18 2020-08-04 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of a quartz glass body in a multi-chamber oven
US10618833B2 (en) 2015-12-18 2020-04-14 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of a synthetic quartz glass grain
US10676388B2 (en) 2015-12-18 2020-06-09 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Glass fibers and pre-forms made of homogeneous quartz glass
US11708290B2 (en) 2015-12-18 2023-07-25 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of a quartz glass body in a multi-chamber oven
US11053152B2 (en) 2015-12-18 2021-07-06 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Spray granulation of silicon dioxide in the preparation of quartz glass
US11236002B2 (en) 2015-12-18 2022-02-01 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of an opaque quartz glass body
US11299417B2 (en) 2015-12-18 2022-04-12 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of a quartz glass body in a melting crucible of refractory metal
US11339076B2 (en) 2015-12-18 2022-05-24 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of carbon-doped silicon dioxide granulate as an intermediate in the preparation of quartz glass
US11492285B2 (en) 2015-12-18 2022-11-08 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of quartz glass bodies from silicon dioxide granulate
US11492282B2 (en) 2015-12-18 2022-11-08 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Preparation of quartz glass bodies with dew point monitoring in the melting oven
US11952303B2 (en) 2015-12-18 2024-04-09 Heraeus Quarzglas Gmbh & Co. Kg Increase in silicon content in the preparation of quartz glass
JP2019172562A (ja) * 2018-03-29 2019-10-10 パナソニック デバイスSunx株式会社 石英ガラスの製造方法
JP7213110B2 (ja) 2018-03-29 2023-01-26 パナソニック デバイスSunx株式会社 石英ガラスの製造方法
CN116873943A (zh) * 2023-08-07 2023-10-13 安徽壹石通材料科技股份有限公司 一种高纯方石英的制备方法
CN116873943B (zh) * 2023-08-07 2024-02-23 安徽壹石通材料科技股份有限公司 一种高纯方石英的制备方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP4371565B2 (ja) 2009-11-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5399246B2 (ja) ゾル−ゲル法
KR100965037B1 (ko) 초고순도 광학적 품질의 유리 용품의 제조 방법
US6699808B1 (en) High-solids SiO2 dispersions, process for producing them, and their use
JP4371565B2 (ja) 石英ガラス前駆体及びその製造方法
US20070015652A1 (en) Sintered materials
JP5106340B2 (ja) シリカ容器及びその製造方法
EP1700831B1 (en) Process for the production of monoliths by means of the sol-gel process
CN107417071B (zh) 制造含孔隙的不透明石英玻璃的方法
JPH11171585A (ja) シリカガラス組成物及びこれを使用したシリカガラスの製造方法
JP2008532900A (ja) ゾルゲル法によるガラスモノリスの製造法
JP2014091634A (ja) 不透明石英ガラスおよびその製造方法
JP5108803B2 (ja) シリカ容器の製造方法
JPH04219333A (ja) 石英ガラスの製造方法
JP2002137913A (ja) シリカゲル及びその製造方法
JP5487259B2 (ja) シリカ容器
JP2004161607A (ja) 透明石英ガラス体の製造方法
JP5941774B2 (ja) 合成シリカガラス粉、及びその製造方法
JP4268489B2 (ja) 透明石英ガラス体の製造方法
JP5449808B2 (ja) シリカ容器及びその製造方法
TW202033464A (zh) 不透明石英玻璃之製造方法
JP2000256037A (ja) 透明部を有する黒色石英ガラス及びその製造方法
JP2022052497A (ja) 造粒シリカ粉体及び造粒シリカ粉体の製造方法
JP5499118B2 (ja) シリカ容器の製造方法
TW202229185A (zh) 不透明石英玻璃及其製造方法
JPH06329406A (ja) 合成石英ガラス粉の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070220

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090812

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090818

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090901

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120911

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4371565

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120911

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150911

Year of fee payment: 6

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees