JP2002140674A - データキャリア半導体装置 - Google Patents
データキャリア半導体装置Info
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- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 8
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 18
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- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
- Detection And Prevention Of Errors In Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 任意に内容を書き換えるテストコマンドを搭
載した場合であっても、信頼性の高い動作を期待できる
データキャリア半導体装置を提供することを目的とす
る。 【解決手段】 複数の異なる構成の誤り補正回路Ｂ１
４，Ｂ１５を備え、外部からの無線入力信号から生成さ
れる入力コマンド信号に応じて内部回路Ｂ１２に供給さ
れる誤り検出結果を選別するので、誤った動作モード、
特にテストモード等、通常使用時に使用してほしくない
動作モードでの動作を防止できる。
載した場合であっても、信頼性の高い動作を期待できる
データキャリア半導体装置を提供することを目的とす
る。 【解決手段】 複数の異なる構成の誤り補正回路Ｂ１
４，Ｂ１５を備え、外部からの無線入力信号から生成さ
れる入力コマンド信号に応じて内部回路Ｂ１２に供給さ
れる誤り検出結果を選別するので、誤った動作モード、
特にテストモード等、通常使用時に使用してほしくない
動作モードでの動作を防止できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、内蔵したメモリに
対して非接触動作または接触状態で読み書きが実行され
るデータキャリア半導体装置に関するものである。
対して非接触動作または接触状態で読み書きが実行され
るデータキャリア半導体装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、磁気カードやバーコード等の非接
触動作装置に変わり、半導体装置を搭載し情報処理を行
うＩＣカード及びＩＣ−ＴＡＧ等のデータキャリア半導
体装置が利用されるようになってきた。
触動作装置に変わり、半導体装置を搭載し情報処理を行
うＩＣカード及びＩＣ−ＴＡＧ等のデータキャリア半導
体装置が利用されるようになってきた。
【０００３】図３はデータキャリア半導体装置の機能ブ
ロックを示す。電波送受信アンテナＡ１３で外部から受
信した入力信号は、ノード２０を介して入力信号復調回
路Ｂ１１に伝達される。入力信号復調回路Ｂ１１で生成
された入力コマンド信号は、ノード２２を介して通信時
の誤り補正回路Ｂ１４と内部回路Ｂ１２に伝達される。
誤り補正回路Ｂ１４で生成された通信時の誤り検出信号
はノード２５を介して内部回路Ｂ１２に伝達される。
ロックを示す。電波送受信アンテナＡ１３で外部から受
信した入力信号は、ノード２０を介して入力信号復調回
路Ｂ１１に伝達される。入力信号復調回路Ｂ１１で生成
された入力コマンド信号は、ノード２２を介して通信時
の誤り補正回路Ｂ１４と内部回路Ｂ１２に伝達される。
誤り補正回路Ｂ１４で生成された通信時の誤り検出信号
はノード２５を介して内部回路Ｂ１２に伝達される。
【０００４】外部より無線入力信号が電波送受信アンテ
ナＡ１３で取り込まれ、入力コマンド信号が通信時の誤
り補正回路Ｂ１４と内部回路Ｂ１２にそれぞれ伝達され
ると、誤り補正回路Ｂ１４は誤り検出動作をはじめ、内
部回路Ｂ１２は入力コマンド信号に従った動作の準備を
開始する。
ナＡ１３で取り込まれ、入力コマンド信号が通信時の誤
り補正回路Ｂ１４と内部回路Ｂ１２にそれぞれ伝達され
ると、誤り補正回路Ｂ１４は誤り検出動作をはじめ、内
部回路Ｂ１２は入力コマンド信号に従った動作の準備を
開始する。
【０００５】入力コマンド信号終了時に、送信側は送信
した信号をもとに計算した誤り補正信号を送信する。信
号終了時に内部回路Ｂ１２は、無線通信が正常に行われ
たかを確認するために、通信時の誤り補正回路Ｂ１４の
出力である前記ノード２５の通信時の誤り検出信号を確
認するように構成されている。
した信号をもとに計算した誤り補正信号を送信する。信
号終了時に内部回路Ｂ１２は、無線通信が正常に行われ
たかを確認するために、通信時の誤り補正回路Ｂ１４の
出力である前記ノード２５の通信時の誤り検出信号を確
認するように構成されている。
【０００６】内部回路Ｂ１２が誤り検出信号を確認し
て、通信が正しいと判定した場合には、内部回路Ｂ１２
がその回の入力コマンド信号に従った動作を完了して次
の入力コマンド信号の待機状態になるよう構成されてい
る。
て、通信が正しいと判定した場合には、内部回路Ｂ１２
がその回の入力コマンド信号に従った動作を完了して次
の入力コマンド信号の待機状態になるよう構成されてい
る。
【０００７】図４〜図６に基づいて更に詳しく説明す
る。電波送受信アンテナＡ１３から入力された信号がノ
ード２２に伝わるまでを図４に示す。図４（ａ）はノー
ド２０の無線信号波形、図４（ｂ）（ｃ）は入力信号復
調回路Ｂ１１の動作を示しており、具体的にはＡＭ復調
回路で構成されている入力信号復調回路Ｂ１１は、図４
（ａ）に示した無線信号波形を振幅の大小に基づいて図
４（ｂ）に示すように１と０に変換する。この変換信号
は図４（ｃ）に示すように１と０の変化点を示す信号に
復調されてノード２２に出力されている。
る。電波送受信アンテナＡ１３から入力された信号がノ
ード２２に伝わるまでを図４に示す。図４（ａ）はノー
ド２０の無線信号波形、図４（ｂ）（ｃ）は入力信号復
調回路Ｂ１１の動作を示しており、具体的にはＡＭ復調
回路で構成されている入力信号復調回路Ｂ１１は、図４
（ａ）に示した無線信号波形を振幅の大小に基づいて図
４（ｂ）に示すように１と０に変換する。この変換信号
は図４（ｃ）に示すように１と０の変化点を示す信号に
復調されてノード２２に出力されている。
【０００８】入力される無線信号は図１２に示すフォー
マットで送信されている。無線信号は、ＳＯＦ信号（ST
ART OF FRAME信号）と一般に呼ばれている信号送信開
始信号と、信号を受信したシステムに対しての動作指定
信号（コマンド信号）と、書き込みコマンド等で必要と
なるコマンドごとに可変長の信号（パラメータ信号）で
構成される入力コマンド信号と、信号が正しく受信され
たかを確認するための誤り検出信号（ＣＲＣ信号）、お
よびＥＯＦ信号（END OF FRAME信号）と一般に呼ばれ
ている信号送信終了信号とで構成されている。
マットで送信されている。無線信号は、ＳＯＦ信号（ST
ART OF FRAME信号）と一般に呼ばれている信号送信開
始信号と、信号を受信したシステムに対しての動作指定
信号（コマンド信号）と、書き込みコマンド等で必要と
なるコマンドごとに可変長の信号（パラメータ信号）で
構成される入力コマンド信号と、信号が正しく受信され
たかを確認するための誤り検出信号（ＣＲＣ信号）、お
よびＥＯＦ信号（END OF FRAME信号）と一般に呼ばれ
ている信号送信終了信号とで構成されている。
【０００９】ＣＲＣ信号は図６に示すように、送信側が
送信データ（コマンド，データ信号）を一つのシリアル
なデータと考えて、特定の生成多項式で演算した結果で
ある。ハードごとに決められた式で送信側と受信側が計
算することで、送信したデータが正しいか判断する材料
とする。
送信データ（コマンド，データ信号）を一つのシリアル
なデータと考えて、特定の生成多項式で演算した結果で
ある。ハードごとに決められた式で送信側と受信側が計
算することで、送信したデータが正しいか判断する材料
とする。
【００１０】さらに詳しくＣＲＣ回路を図７（ａ）に基
づいて説明する。回路は複数の排他的論理和とシフトレ
ジスタで構成されており、ここではシフトレジスタ０〜
１５の内容がノード２５に出力される。
づいて説明する。回路は複数の排他的論理和とシフトレ
ジスタで構成されており、ここではシフトレジスタ０〜
１５の内容がノード２５に出力される。
【００１１】ノード２２には、復調されたコマンド信号
とデータ信号とＣＲＣ信号が入力される。（ＳＯＦから
ＥＯＦは信号開始終了識別信号なので入力されない。）
ここで送信されるＣＲＣ信号について説明する。
とデータ信号とＣＲＣ信号が入力される。（ＳＯＦから
ＥＯＦは信号開始終了識別信号なので入力されない。）
ここで送信されるＣＲＣ信号について説明する。
【００１２】送信するコマンド信号とデータ信号を１つ
のシリアル信号と考える。これを、特定の多項式（生成
多項式といいシステムごとに決定されている。例えば、
Ｘ１６＋Ｘ１２＋Ｘ５＋１）で割った結果をＣＲＣ信号
とし、ＥＯＦ信号の前に付加する。
のシリアル信号と考える。これを、特定の多項式（生成
多項式といいシステムごとに決定されている。例えば、
Ｘ１６＋Ｘ１２＋Ｘ５＋１）で割った結果をＣＲＣ信号
とし、ＥＯＦ信号の前に付加する。
【００１３】受信側の回路も同様の生成多項式に従った
回路で構成されており、最終的に１６個のシフトレジス
タの値が、特定の値になることで入力された信号が正し
いと判定する。
回路で構成されており、最終的に１６個のシフトレジス
タの値が、特定の値になることで入力された信号が正し
いと判定する。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】このような回路構成で
は、内部回路Ｂ１２の内部に設けられていて書き換えら
れると困るシステム情報などを記憶させている記憶素子
に対しては、製品完成までに必ず書き込みを実行しなけ
ればならず、現在ではウエハー検査などの段階でシステ
ム領域への書き込みが行われている。
は、内部回路Ｂ１２の内部に設けられていて書き換えら
れると困るシステム情報などを記憶させている記憶素子
に対しては、製品完成までに必ず書き込みを実行しなけ
ればならず、現在ではウエハー検査などの段階でシステ
ム領域への書き込みが行われている。
【００１５】しかし、製品の完成後にシステム領域への
書き込みが出来るように、任意に内容を書き換えること
のできるようなテストコマンドを搭載することによっ
て、汎用性などを高めることが出来る反面、誤ってもし
くは不正な行為として内容を書き換えるためテストコマ
ンドを外部より与えられた場合には、そのコマンドを受
け付けてしまう問題が発生する。
書き込みが出来るように、任意に内容を書き換えること
のできるようなテストコマンドを搭載することによっ
て、汎用性などを高めることが出来る反面、誤ってもし
くは不正な行為として内容を書き換えるためテストコマ
ンドを外部より与えられた場合には、そのコマンドを受
け付けてしまう問題が発生する。
【００１６】本発明は、任意に内容を書き換えることの
できるようなテストコマンドを搭載した場合であって
も、従来よりも信頼性の高い動作を期待できるデータキ
ャリア半導体装置を提供することを目的とする。
できるようなテストコマンドを搭載した場合であって
も、従来よりも信頼性の高い動作を期待できるデータキ
ャリア半導体装置を提供することを目的とする。
【００１７】
【課題を解決するための手段】本発明のデータキャリア
半導体装置は、通常モードのコマンド信号の処理判定に
使用される第１の誤り補正回路とは別にテストモードの
コマンド信号の処理判定に使用される第２の誤り補正回
路を設けたことを特徴とし、外部からの入力信号により
誤り補正回路の出力信号を選択して誤動作や故意のテス
トモード状態への移行を防止し、かつ製造過程での非接
触動作試験において、安定してテストモード状態に移る
ことができる、優れたデータキャリア半導体装置を実現
できる。
半導体装置は、通常モードのコマンド信号の処理判定に
使用される第１の誤り補正回路とは別にテストモードの
コマンド信号の処理判定に使用される第２の誤り補正回
路を設けたことを特徴とし、外部からの入力信号により
誤り補正回路の出力信号を選択して誤動作や故意のテス
トモード状態への移行を防止し、かつ製造過程での非接
触動作試験において、安定してテストモード状態に移る
ことができる、優れたデータキャリア半導体装置を実現
できる。
【００１８】
【発明の実施の形態】本発明の請求項１記載のデータキ
ャリア半導体装置は、外部からの無線入力信号を復調し
てコマンド信号と誤り検出信号を検出し、検出した誤り
検出信号が正常と判定した場合に前記コマンド信号で指
示された動作を内部回路で実行し、検出した誤り検出信
号が異常と判定した場合に前記コマンド信号で指示され
た動作を内部回路で実行しないよう構成されたデータキ
ャリア半導体装置において、通常モードのコマンド信号
の処理判定に使用される第１の誤り補正回路とは別にテ
ストモードのコマンド信号の処理判定に使用される第２
の誤り補正回路を設け、外部からの無線入力信号を復調
して通常モードのコマンド信号と通常モードの生成多項
式に基づく誤り検出信号を検出して前記第１の誤り補正
回路で誤り検出信号が正常と判定した場合に前記コマン
ド信号で指示された動作を内部回路で実行し、外部から
の無線入力信号を復調してテストモードのコマンド信号
と通常モードの生成多項式に基づく誤り検出信号を検出
して前記第１の誤り補正回路で誤り検出信号が異常と判
定した場合に前記コマンド信号で指示された動作を内部
回路で実行しないよう構成するとともに、外部からの無
線入力信号を復調してテストモードのコマンド信号とテ
ストモードの生成多項式に基づく誤り検出信号を検出し
て前記第２の誤り補正回路で誤り検出信号が正常と判定
した場合に前記コマンド信号で指示された動作を内部回
路で実行するように構成したことを特徴とする。
ャリア半導体装置は、外部からの無線入力信号を復調し
てコマンド信号と誤り検出信号を検出し、検出した誤り
検出信号が正常と判定した場合に前記コマンド信号で指
示された動作を内部回路で実行し、検出した誤り検出信
号が異常と判定した場合に前記コマンド信号で指示され
た動作を内部回路で実行しないよう構成されたデータキ
ャリア半導体装置において、通常モードのコマンド信号
の処理判定に使用される第１の誤り補正回路とは別にテ
ストモードのコマンド信号の処理判定に使用される第２
の誤り補正回路を設け、外部からの無線入力信号を復調
して通常モードのコマンド信号と通常モードの生成多項
式に基づく誤り検出信号を検出して前記第１の誤り補正
回路で誤り検出信号が正常と判定した場合に前記コマン
ド信号で指示された動作を内部回路で実行し、外部から
の無線入力信号を復調してテストモードのコマンド信号
と通常モードの生成多項式に基づく誤り検出信号を検出
して前記第１の誤り補正回路で誤り検出信号が異常と判
定した場合に前記コマンド信号で指示された動作を内部
回路で実行しないよう構成するとともに、外部からの無
線入力信号を復調してテストモードのコマンド信号とテ
ストモードの生成多項式に基づく誤り検出信号を検出し
て前記第２の誤り補正回路で誤り検出信号が正常と判定
した場合に前記コマンド信号で指示された動作を内部回
路で実行するように構成したことを特徴とする。
【００１９】本発明の請求項２記載のデータキャリア半
導体装置は、請求項１において、前記内部回路を検出し
たコマンド信号が通常モードのコマンド信号かテストモ
ードのコマンド信号かを判別して誤り補正回路の選択信
号を出力するように構成するとともに、第１の誤り補正
回路の判定出力と第２の誤り補正回路の判定出力を選択
して内部回路に出力するセレクタを設け、内部回路の出
力する前記選択信号で前記セレクタの出力を選択して第
１，第２の誤り補正回路の一方の判定出力を前記内部回
路に入力することを特徴とする。
導体装置は、請求項１において、前記内部回路を検出し
たコマンド信号が通常モードのコマンド信号かテストモ
ードのコマンド信号かを判別して誤り補正回路の選択信
号を出力するように構成するとともに、第１の誤り補正
回路の判定出力と第２の誤り補正回路の判定出力を選択
して内部回路に出力するセレクタを設け、内部回路の出
力する前記選択信号で前記セレクタの出力を選択して第
１，第２の誤り補正回路の一方の判定出力を前記内部回
路に入力することを特徴とする。
【００２０】以下、本発明のデータキャリア半導体装置
を図１と図２および図７に基づいて説明する。なお、従
来例を示す図３と同様の作用を成すものには同一の符号
を付けて説明する。
を図１と図２および図７に基づいて説明する。なお、従
来例を示す図３と同様の作用を成すものには同一の符号
を付けて説明する。
【００２１】図１は本発明のデータキャリア半導体装置
を示し、第１，第２の誤り補正回路Ｂ１４，Ｂ１５との
複数の誤り補正回路が設けられている点が図３に示した
従来例とは異なっている。
を示し、第１，第２の誤り補正回路Ｂ１４，Ｂ１５との
複数の誤り補正回路が設けられている点が図３に示した
従来例とは異なっている。
【００２２】電波送受信アンテナＡ１３で外部から受信
した入力信号は、ノード２０を介して入力信号復調回路
Ｂ１１に伝達される。入力信号復調回路Ｂ１１で生成さ
れた入力コマンド信号は、ノード２２を介して通信時の
第１の誤り補正回路Ｂ１４と第２の誤り補正回路Ｂ１５
および内部回路Ｂ１２に伝達される。第１，第２の誤り
補正回路Ｂ１４，Ｂ１５で生成された通信時の誤り検出
信号はそれぞれノード２５，２６を介してセレクタＢ１
６に入力され、ノード２５，２６の何れかの信号はセレ
クタＢ１６の出力からノード２７を介して内部回路Ｂ１
２に伝達される。また、内部回路Ｂ１２はノード２２か
ら検出したコマンド信号の種類を判別してノード２８を
介してセレクタＢ１６にノード２５，２６の何れかの信
号をノード２７に出力するかを指定している。
した入力信号は、ノード２０を介して入力信号復調回路
Ｂ１１に伝達される。入力信号復調回路Ｂ１１で生成さ
れた入力コマンド信号は、ノード２２を介して通信時の
第１の誤り補正回路Ｂ１４と第２の誤り補正回路Ｂ１５
および内部回路Ｂ１２に伝達される。第１，第２の誤り
補正回路Ｂ１４，Ｂ１５で生成された通信時の誤り検出
信号はそれぞれノード２５，２６を介してセレクタＢ１
６に入力され、ノード２５，２６の何れかの信号はセレ
クタＢ１６の出力からノード２７を介して内部回路Ｂ１
２に伝達される。また、内部回路Ｂ１２はノード２２か
ら検出したコマンド信号の種類を判別してノード２８を
介してセレクタＢ１６にノード２５，２６の何れかの信
号をノード２７に出力するかを指定している。
【００２３】外部より無線入力信号が電波送受信アンテ
ナＡ１３で取り込まれ、入力コマンド信号が内部回路Ｂ
１２に伝達されると、内部回路Ｂ１２は入力コマンド信
号に従った動作を開始する。
ナＡ１３で取り込まれ、入力コマンド信号が内部回路Ｂ
１２に伝達されると、内部回路Ｂ１２は入力コマンド信
号に従った動作を開始する。
【００２４】入力コマンド信号終了時に内部回路Ｂ１２
は、無線通信が正常に行われたかを確認するために、ノ
ード２７から入力される通信時の誤り検出信号を確認す
るように構成されている。
は、無線通信が正常に行われたかを確認するために、ノ
ード２７から入力される通信時の誤り検出信号を確認す
るように構成されている。
【００２５】内部回路Ｂ１２が誤り検出信号を確認し
て、通信が正しいと判定した場合には、内部回路Ｂ１２
がその回の入力コマンド信号に従った動作を完了して次
の入力コマンド信号の待機状態になるよう構成されてい
る。
て、通信が正しいと判定した場合には、内部回路Ｂ１２
がその回の入力コマンド信号に従った動作を完了して次
の入力コマンド信号の待機状態になるよう構成されてい
る。
【００２６】第１の誤り補正回路Ｂ１４は通常モードの
コマンド通信時の誤り補正回路、第２の誤り補正回路Ｂ
１５はテストモードコマンド通信時の誤り補正回路であ
って、第１，第２の誤り補正回路Ｂ１４，Ｂ１５の具体
例を以下に説明する。
コマンド通信時の誤り補正回路、第２の誤り補正回路Ｂ
１５はテストモードコマンド通信時の誤り補正回路であ
って、第１，第２の誤り補正回路Ｂ１４，Ｂ１５の具体
例を以下に説明する。
【００２７】図２はこの実施の形態のデータキャリア半
導体装置の動作をタイミングチャートで示したものであ
る。図２で使用しているノード名は、図１と同じであ
る。入力信号がＡ１３よりノード２０を介して入力信号
復調回路Ｂ１１の入力回路に伝達され、入力コマンド信
号を受けて第１，第２の誤り補正回路Ｂ１４，Ｂ１５
は、それぞれの検出方式で誤り補正演算を実施し、ノー
ド２５には通常コマンド通信時の誤り検出信号、ノード
２６にはテストモードコマンド通信時の誤り検出信号が
それぞれ出力される。
導体装置の動作をタイミングチャートで示したものであ
る。図２で使用しているノード名は、図１と同じであ
る。入力信号がＡ１３よりノード２０を介して入力信号
復調回路Ｂ１１の入力回路に伝達され、入力コマンド信
号を受けて第１，第２の誤り補正回路Ｂ１４，Ｂ１５
は、それぞれの検出方式で誤り補正演算を実施し、ノー
ド２５には通常コマンド通信時の誤り検出信号、ノード
２６にはテストモードコマンド通信時の誤り検出信号が
それぞれ出力される。
【００２８】入力コマンド信号を受けて内部回路Ｂ１２
では、通常動作コマンドとテストモードコマンドのどち
らが入力されたかを判別して、テストモード時はノード
２８にテストモード検出信号を出力する。
では、通常動作コマンドとテストモードコマンドのどち
らが入力されたかを判別して、テストモード時はノード
２８にテストモード検出信号を出力する。
【００２９】ここで通常モードのコマンド入力時とテス
トモードのコマンド入力時とでは、付加されるＣＲＣ信
号が異なっており、通常モードのコマンド入力時に付加
される正規のＣＲＣ信号に対応して第１の誤り補正回路
Ｂ１４は、例えば図７（ａ）に示すように特定の生成多
項式（Ｘ１６＋Ｘ１２＋Ｘ５＋１）に基づいて構成され
ており、シフトレジスタ０〜１５の内容がノード２５に
出力される。
トモードのコマンド入力時とでは、付加されるＣＲＣ信
号が異なっており、通常モードのコマンド入力時に付加
される正規のＣＲＣ信号に対応して第１の誤り補正回路
Ｂ１４は、例えば図７（ａ）に示すように特定の生成多
項式（Ｘ１６＋Ｘ１２＋Ｘ５＋１）に基づいて構成され
ており、シフトレジスタ０〜１５の内容がノード２５に
出力される。
【００３０】第２の誤り補正回路Ｂ１５の特定の生成多
項式は第１の誤り補正回路Ｂ１４のそれとは異なり、例
えば図７（ｂ）に示すように（Ｘ１６＋Ｘ１５＋Ｘ２＋
１）に基づいて構成されており、シフトレジスタ０〜１
５の内容がノード２６に出力される。
項式は第１の誤り補正回路Ｂ１４のそれとは異なり、例
えば図７（ｂ）に示すように（Ｘ１６＋Ｘ１５＋Ｘ２＋
１）に基づいて構成されており、シフトレジスタ０〜１
５の内容がノード２６に出力される。
【００３１】このように構成したため、通常モードのコ
マンドを送信する際には、生成多項式（Ｘ１６＋Ｘ１２
＋Ｘ５＋１）に基づくＣＲＣ信号を付加して無線送信す
ると、第１の誤り補正回路Ｂ１４で正常であると判定さ
れてセレクタＢ１６を介して内部回路Ｂ１２に判定結果
（演算結果）が入力され、内部回路Ｂ１２がノード２２
から検出したコマンドが実行されて次のコマンド待ちの
状態になる。
マンドを送信する際には、生成多項式（Ｘ１６＋Ｘ１２
＋Ｘ５＋１）に基づくＣＲＣ信号を付加して無線送信す
ると、第１の誤り補正回路Ｂ１４で正常であると判定さ
れてセレクタＢ１６を介して内部回路Ｂ１２に判定結果
（演算結果）が入力され、内部回路Ｂ１２がノード２２
から検出したコマンドが実行されて次のコマンド待ちの
状態になる。
【００３２】テストモードのコマンドを送信する際に
は、具体的には、内部回路Ｂ１２の内部に設けられてい
ている記憶素子に書き込まれているシステム情報の書き
換えを指示するシステム更新コマンドを送信する際に
は、生成多項式（Ｘ１６＋Ｘ１５＋Ｘ２＋１）に基づく
ＣＲＣ信号を付加して無線送信すると、第２の誤り補正
回路Ｂ１５で正常であると判定されてセレクタＢ１６を
介して内部回路Ｂ１２に判定結果（演算結果）が入力さ
れ、内部回路Ｂ１２がノード２２から検出したコマンド
が実行されて次のコマンド待ちの状態になる。
は、具体的には、内部回路Ｂ１２の内部に設けられてい
ている記憶素子に書き込まれているシステム情報の書き
換えを指示するシステム更新コマンドを送信する際に
は、生成多項式（Ｘ１６＋Ｘ１５＋Ｘ２＋１）に基づく
ＣＲＣ信号を付加して無線送信すると、第２の誤り補正
回路Ｂ１５で正常であると判定されてセレクタＢ１６を
介して内部回路Ｂ１２に判定結果（演算結果）が入力さ
れ、内部回路Ｂ１２がノード２２から検出したコマンド
が実行されて次のコマンド待ちの状態になる。
【００３３】前記システム更新コマンドを送信する際
に、テストモード専用の生成多項式（Ｘ１６＋Ｘ１５＋
Ｘ２＋１）を知らない第三者が、通常モードの生成多項
式（Ｘ１６＋Ｘ１２＋Ｘ５＋１）に基づくＣＲＣ信号を
付加して無線送信しても、第１の誤り補正回路Ｂ１４で
正常であると判定されても第２の誤り補正回路Ｂ１５で
異常であると判定され、テストモードのコマンドである
と内部回路Ｂ１２が認識してセレクタＢ１６を第２の誤
り補正回路Ｂ１５の側に切り換えられている状態では、
ノード２７を介して内部回路Ｂ１２に通信異常であると
知らされるため、内部回路Ｂ１２はその回のテストコマ
ンドを実行しない。
に、テストモード専用の生成多項式（Ｘ１６＋Ｘ１５＋
Ｘ２＋１）を知らない第三者が、通常モードの生成多項
式（Ｘ１６＋Ｘ１２＋Ｘ５＋１）に基づくＣＲＣ信号を
付加して無線送信しても、第１の誤り補正回路Ｂ１４で
正常であると判定されても第２の誤り補正回路Ｂ１５で
異常であると判定され、テストモードのコマンドである
と内部回路Ｂ１２が認識してセレクタＢ１６を第２の誤
り補正回路Ｂ１５の側に切り換えられている状態では、
ノード２７を介して内部回路Ｂ１２に通信異常であると
知らされるため、内部回路Ｂ１２はその回のテストコマ
ンドを実行しない。
【００３４】このように、特定の生成多項式を把握して
いないとテストコマンドには入れなくなり、さらに、テ
ストモード用のＣＲＣ演算回路の構成のシフトレジスタ
の数を増やすことにより、誤ってテストモードに入るこ
とも防止できる。故意に内容を書き換えられる事を防止
できる。
いないとテストコマンドには入れなくなり、さらに、テ
ストモード用のＣＲＣ演算回路の構成のシフトレジスタ
の数を増やすことにより、誤ってテストモードに入るこ
とも防止できる。故意に内容を書き換えられる事を防止
できる。
【００３５】
【発明の効果】以上のように本発明のデータキャリア半
導体装置によると、通常モードのコマンド信号の処理判
定に使用される第１の誤り補正回路とは別にテストモー
ドのコマンド信号の処理判定に使用される第２の誤り補
正回路を設けたので、外部からの入力信号によりコマン
ドのモードに応じて異なる方式の通信誤り補正回路を選
択して内部回路動作を確定するので、任意に内容を書き
換えることのできるようなテストコマンドを搭載した場
合であっても、誤動作や故意のテストモード状態への移
行を防止し、かつ製造過程に安定してテストモード状態
に移ることができ、優れたデータキャリア半導体装置を
実現できる。
導体装置によると、通常モードのコマンド信号の処理判
定に使用される第１の誤り補正回路とは別にテストモー
ドのコマンド信号の処理判定に使用される第２の誤り補
正回路を設けたので、外部からの入力信号によりコマン
ドのモードに応じて異なる方式の通信誤り補正回路を選
択して内部回路動作を確定するので、任意に内容を書き
換えることのできるようなテストコマンドを搭載した場
合であっても、誤動作や故意のテストモード状態への移
行を防止し、かつ製造過程に安定してテストモード状態
に移ることができ、優れたデータキャリア半導体装置を
実現できる。
【図１】本発明の実施の形態のデータキャリア半導体装
置の構成図
置の構成図
【図２】同実施の形態の動作タイミングチャート図
【図３】従来のデータキャリア半導体装置の構成図
【図４】信号復調過程の説明図
【図５】入力される無線信号のフォーマット図
【図６】入力信号フォーマット説明図
【図７】従来例と本発明の実施の形態の誤り補正回路の
説明図
説明図
Ａ１３ 電波送受信アンテナ Ｂ１１ 入力信号復調回路 Ｂ１２ 内部回路 Ｂ１４ 第１の誤り補正回路 Ｂ１５ 第２の誤り補正回路 Ｂ１６ セレクタ回路
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成１３年９月２６日（２００１．９．２
６）
６）
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】０００８
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００８】入力される無線信号は図５に示すフォーマ
ットで送信されている。無線信号は、ＳＯＦ信号（STAR
T OF FRAME信号）と一般に呼ばれている信号送信開始信
号と、信号を受信したシステムに対しての動作指定信号
（コマンド信号）と、書き込みコマンド等で必要となる
コマンドごとに可変長の信号（パラメータ信号）で構成
される入力コマンド信号と、信号が正しく受信されたか
を確認するための誤り検出信号（ＣＲＣ信号）、および
ＥＯＦ信号（END OF FRAME信号）と一般に呼ばれている
信号送信終了信号とで構成されている。
ットで送信されている。無線信号は、ＳＯＦ信号（STAR
T OF FRAME信号）と一般に呼ばれている信号送信開始信
号と、信号を受信したシステムに対しての動作指定信号
（コマンド信号）と、書き込みコマンド等で必要となる
コマンドごとに可変長の信号（パラメータ信号）で構成
される入力コマンド信号と、信号が正しく受信されたか
を確認するための誤り検出信号（ＣＲＣ信号）、および
ＥＯＦ信号（END OF FRAME信号）と一般に呼ばれている
信号送信終了信号とで構成されている。
Claims (2)
- 【請求項１】外部からの無線入力信号を復調してコマン
ド信号と誤り検出信号を検出し、検出した誤り検出信号
が正常と判定した場合に前記コマンド信号で指示された
動作を内部回路で実行し、検出した誤り検出信号が異常
と判定した場合に前記コマンド信号で指示された動作を
内部回路で実行しないよう構成されたデータキャリア半
導体装置において、 通常モードのコマンド信号の処理判定に使用される第１
の誤り補正回路とは別にテストモードのコマンド信号の
処理判定に使用される第２の誤り補正回路を設け、 外部からの無線入力信号を復調して通常モードのコマン
ド信号と通常モードの生成多項式に基づく誤り検出信号
を検出して前記第１の誤り補正回路で誤り検出信号が正
常と判定した場合に前記コマンド信号で指示された動作
を内部回路で実行し、 外部からの無線入力信号を復調してテストモードのコマ
ンド信号と通常モードの生成多項式に基づく誤り検出信
号を検出して前記第１の誤り補正回路で誤り検出信号が
異常と判定した場合に前記コマンド信号で指示された動
作を内部回路で実行しないよう構成するとともに、 外部からの無線入力信号を復調してテストモードのコマ
ンド信号とテストモードの生成多項式に基づく誤り検出
信号を検出して前記第２の誤り補正回路で誤り検出信号
が正常と判定した場合に前記コマンド信号で指示された
動作を内部回路で実行するように構成したデータキャリ
ア半導体装置。 - 【請求項２】前記内部回路を検出したコマンド信号が通
常モードのコマンド信号かテストモードのコマンド信号
かを判別して誤り補正回路の選択信号を出力するように
構成するとともに、 第１の誤り補正回路の判定出力と第２の誤り補正回路の
判定出力を選択して内部回路に出力するセレクタを設
け、 内部回路の出力する前記選択信号で前記セレクタの出力
を選択して第１，第２の誤り補正回路の一方の判定出力
を前記内部回路に入力する請求項１記載のデータキャリ
ア半導体装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000335287A JP3580770B2 (ja) | 2000-11-02 | 2000-11-02 | データキャリア半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000335287A JP3580770B2 (ja) | 2000-11-02 | 2000-11-02 | データキャリア半導体装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002140674A true JP2002140674A (ja) | 2002-05-17 |
| JP3580770B2 JP3580770B2 (ja) | 2004-10-27 |
Family
ID=18811059
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000335287A Expired - Fee Related JP3580770B2 (ja) | 2000-11-02 | 2000-11-02 | データキャリア半導体装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3580770B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011041106A (ja) * | 2009-08-14 | 2011-02-24 | Anritsu Corp | 移動体通信用デバイス試験システム及び試験方法 |
-
2000
- 2000-11-02 JP JP2000335287A patent/JP3580770B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011041106A (ja) * | 2009-08-14 | 2011-02-24 | Anritsu Corp | 移動体通信用デバイス試験システム及び試験方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3580770B2 (ja) | 2004-10-27 |
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