JPH10187550A - Ｉｃカード - Google Patents
ＩｃカードInfo
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- JPH10187550A JPH10187550A JP34822596A JP34822596A JPH10187550A JP H10187550 A JPH10187550 A JP H10187550A JP 34822596 A JP34822596 A JP 34822596A JP 34822596 A JP34822596 A JP 34822596A JP H10187550 A JPH10187550 A JP H10187550A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 予備の不揮発性メモリを内蔵して情報の誤り
に対応できるようなＩＣカードを提供する。 【解決手段】 メインメモリ１０に対してサブメモリ１
１を設け、主制御部７からのデータをメインメモリ１０
とサブメモリ１１に記憶し、誤り検出回路１２，１３に
よってメインメモリ１０とサブメモリ１１に記憶したデ
ータの誤りを検出し、誤りのないメモリからのデータが
読出されるようにセレクタ８，９を制御する。
に対応できるようなＩＣカードを提供する。 【解決手段】 メインメモリ１０に対してサブメモリ１
１を設け、主制御部７からのデータをメインメモリ１０
とサブメモリ１１に記憶し、誤り検出回路１２，１３に
よってメインメモリ１０とサブメモリ１１に記憶したデ
ータの誤りを検出し、誤りのないメモリからのデータが
読出されるようにセレクタ８，９を制御する。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明はＩＣカードに関
し、特に、各種データを記憶するための不揮発性メモリ
を内蔵していて、質問器と称される制御部との間でデー
タのやり取りを行なうようなＩＣカードに関する。
し、特に、各種データを記憶するための不揮発性メモリ
を内蔵していて、質問器と称される制御部との間でデー
タのやり取りを行なうようなＩＣカードに関する。
【０００２】
【従来の技術】ＩＣカードには、端子を制御部に電気的
に接続してデータのやり取りを行なうものと、非接触で
データのやり取りを行なうものがある。この非接触式の
ＩＣカードは、アンテナから送信されてくる電波から電
力を得て、内部の不揮発性メモリに記憶している情報を
送信するものであり、スキー場のリフトや鉄道の改札や
荷物の仕分けなどに利用されている。
に接続してデータのやり取りを行なうものと、非接触で
データのやり取りを行なうものがある。この非接触式の
ＩＣカードは、アンテナから送信されてくる電波から電
力を得て、内部の不揮発性メモリに記憶している情報を
送信するものであり、スキー場のリフトや鉄道の改札や
荷物の仕分けなどに利用されている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述の接触式，非接触
式を問わず、ＩＣカードはその構造上外部からの応力に
弱く、静電気などによって不揮発性メモリに記憶してい
るデータが変化してしまう可能性がある。従来は、ＩＣ
カードの不揮発性メモリでは、そのようなデータの変化
を誤りとして検知することができず、ましてやデータの
誤り訂正などを行なうことができなかった。
式を問わず、ＩＣカードはその構造上外部からの応力に
弱く、静電気などによって不揮発性メモリに記憶してい
るデータが変化してしまう可能性がある。従来は、ＩＣ
カードの不揮発性メモリでは、そのようなデータの変化
を誤りとして検知することができず、ましてやデータの
誤り訂正などを行なうことができなかった。
【０００４】それゆえに、この発明の主たる目的は、予
備用の不揮発性メモリを内蔵して、データの誤りに対応
できるようなＩＣカードを提供することである。
備用の不揮発性メモリを内蔵して、データの誤りに対応
できるようなＩＣカードを提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】請求項１に係る発明は、
質問器との間でデータのやり取りを行なうＩＣカードに
おいて、質問器から与えられるデータを記憶するための
不揮発性記憶手段と、不揮発性記憶手段に記憶されてい
るデータと１対１で対応を行なえるデータを記憶する予
備用不揮発性記憶手段とを備えて構成される。
質問器との間でデータのやり取りを行なうＩＣカードに
おいて、質問器から与えられるデータを記憶するための
不揮発性記憶手段と、不揮発性記憶手段に記憶されてい
るデータと１対１で対応を行なえるデータを記憶する予
備用不揮発性記憶手段とを備えて構成される。
【０００６】請求項２に係る発明では、さらに、不揮発
性記憶手段に記憶されているデータの誤りを検出する誤
り検出手段と、誤り検出手段によって誤りが検出されな
かったことに応じて、不揮発性記憶手段に記憶されてい
るデータを選択し、誤りが検出されたことに応じて予備
用不揮発性記憶手段に記憶されているデータを選択する
選択手段とを備えて構成される。
性記憶手段に記憶されているデータの誤りを検出する誤
り検出手段と、誤り検出手段によって誤りが検出されな
かったことに応じて、不揮発性記憶手段に記憶されてい
るデータを選択し、誤りが検出されたことに応じて予備
用不揮発性記憶手段に記憶されているデータを選択する
選択手段とを備えて構成される。
【０００７】請求項３に係る発明では、さらに予備用不
揮発性記憶手段に記憶されているデータの誤りを検出す
る誤り検出手段と、誤りが検出されなかったことに応じ
て予備用不揮発性記憶手段に記憶されているデータを選
択し、誤りが検出されたことに応じて不揮発性記憶手段
に記憶されているデータを選択する選択手段とを備えて
構成される。
揮発性記憶手段に記憶されているデータの誤りを検出す
る誤り検出手段と、誤りが検出されなかったことに応じ
て予備用不揮発性記憶手段に記憶されているデータを選
択し、誤りが検出されたことに応じて不揮発性記憶手段
に記憶されているデータを選択する選択手段とを備えて
構成される。
【０００８】請求項４に係る発明では、請求項１におけ
る予備用不揮発性記憶手段は２個以上設けられていて、
不揮発性記憶手段に記憶されているデータと２個以上の
予備用不揮発性記憶手段のそれぞれに記憶されているデ
ータとの内容の多数決をとるための多数決手段と、多数
決の示された不揮発性記憶手段に記憶されているデータ
を選択するための選択手段とを備えて構成される。
る予備用不揮発性記憶手段は２個以上設けられていて、
不揮発性記憶手段に記憶されているデータと２個以上の
予備用不揮発性記憶手段のそれぞれに記憶されているデ
ータとの内容の多数決をとるための多数決手段と、多数
決の示された不揮発性記憶手段に記憶されているデータ
を選択するための選択手段とを備えて構成される。
【０００９】請求項５に係る発明では、不揮発性記憶手
段と予備用不揮発性記憶手段は同一のデータを格納する
物理的アドレスが異なるように構成される。
段と予備用不揮発性記憶手段は同一のデータを格納する
物理的アドレスが異なるように構成される。
【００１０】請求項６に係る発明では、請求項１ないし
５の不揮発性記憶手段と予備用不揮発性記憶手段はそれ
ぞれの記憶容量が異なる。
５の不揮発性記憶手段と予備用不揮発性記憶手段はそれ
ぞれの記憶容量が異なる。
【００１１】請求項７に係る発明では、請求項２の誤り
検出手段は１バイトまたは複数バイト毎に誤り検出を行
なう。
検出手段は１バイトまたは複数バイト毎に誤り検出を行
なう。
【００１２】請求項８に係る発明では、請求項２または
７の誤り検出手段の検出結果を不揮発性記憶手段に記憶
する。
７の誤り検出手段の検出結果を不揮発性記憶手段に記憶
する。
【００１３】請求項９に係る発明では、請求項２ないし
８の誤り検出結果に基づいてデータの誤りを訂正する。
８の誤り検出結果に基づいてデータの誤りを訂正する。
【００１４】
【発明の実施の形態】図１はこの発明の一実施形態を示
すブロック図である。この図１に示したＩＣカードは、
データの送受および非接触式カードへの電力の供給を１
つの周波数の信号で行なう信号重畳方式を例にとって説
明するが、データの送受と電力供給を別々の周波数の信
号を使用して行なう信号分離方式のＩＣカードであって
もよい。
すブロック図である。この図１に示したＩＣカードは、
データの送受および非接触式カードへの電力の供給を１
つの周波数の信号で行なう信号重畳方式を例にとって説
明するが、データの送受と電力供給を別々の周波数の信
号を使用して行なう信号分離方式のＩＣカードであって
もよい。
【００１５】図１において、コイルＬとコンデンサＣと
からなる同調回路１は質問器（図示せず）から送られて
来る変調信号に同調し、送られて来るキャリアを整流回
路２に与える。整流回路２はそのキャリアを整流し、直
流電源として各部に電圧を供給する。また、同調回路１
は変調信号が送られて来たときには、その変調信号を増
幅復調部３に与え、増幅復調部３はその変調信号からデ
ータを復調する。この復調出力のデータはシリアルに送
られて来ているので、Ｓ／Ｐ変換部５によってパラレル
なデータに変換されて、主制御部７に与えられる。
からなる同調回路１は質問器（図示せず）から送られて
来る変調信号に同調し、送られて来るキャリアを整流回
路２に与える。整流回路２はそのキャリアを整流し、直
流電源として各部に電圧を供給する。また、同調回路１
は変調信号が送られて来たときには、その変調信号を増
幅復調部３に与え、増幅復調部３はその変調信号からデ
ータを復調する。この復調出力のデータはシリアルに送
られて来ているので、Ｓ／Ｐ変換部５によってパラレル
なデータに変換されて、主制御部７に与えられる。
【００１６】また、主制御部７は質問器へ応答を返すと
きには、不揮発性記憶手段としてのメインメモリ１０か
らのデータをＰ／Ｓ変換器６に与えてシリアルデータに
変換し、シリアルデータを変調増幅部４に与え、変調増
幅部４はそのデータを増幅しかつ同調回路１に無変調波
が与えられたときに変調する。さらに、主制御部７に
は、セレクタ８，９を介してメインメモリ１０と予備用
不揮発性記憶手段としてのサブメモリ１１とが接続され
る。
きには、不揮発性記憶手段としてのメインメモリ１０か
らのデータをＰ／Ｓ変換器６に与えてシリアルデータに
変換し、シリアルデータを変調増幅部４に与え、変調増
幅部４はそのデータを増幅しかつ同調回路１に無変調波
が与えられたときに変調する。さらに、主制御部７に
は、セレクタ８，９を介してメインメモリ１０と予備用
不揮発性記憶手段としてのサブメモリ１１とが接続され
る。
【００１７】メインメモリ１０とサブメモリ１１はたと
えばＥ2 ＲＯＭやフラッシュメモリや強誘電体メモリな
どが用いられる。サブメモリ１１はメインメモリ１０の
バックアップ用として用いられ、メインメモリ１０と１
対１で対応できるデータを書込む。メインメモリ１０と
サブメモリ１１のそれぞれに対応して書込んだデータの
誤りを検出するために誤り検出回路１２，１３が設けら
れる。誤り検出回路１２，１３としてはパリティチェッ
ク回路やＣＲＣチェック回路などが用いられる。さら
に、誤り検出回路１２，１３によって誤りが検出された
とき、その誤りを補正するために、誤り補正回路１６，
１７が設けられる。
えばＥ2 ＲＯＭやフラッシュメモリや強誘電体メモリな
どが用いられる。サブメモリ１１はメインメモリ１０の
バックアップ用として用いられ、メインメモリ１０と１
対１で対応できるデータを書込む。メインメモリ１０と
サブメモリ１１のそれぞれに対応して書込んだデータの
誤りを検出するために誤り検出回路１２，１３が設けら
れる。誤り検出回路１２，１３としてはパリティチェッ
ク回路やＣＲＣチェック回路などが用いられる。さら
に、誤り検出回路１２，１３によって誤りが検出された
とき、その誤りを補正するために、誤り補正回路１６，
１７が設けられる。
【００１８】質問器からデータが変調信号として送信さ
れると、同調回路１がその変調信号に同調し、増幅復調
部３によってデータが復調され、シリアルなデータがＳ
／Ｐ変換部５によってパラレルなデータに変換され、主
制御部７に与えられる。主制御部７はそのデータを、セ
レクタ８，９を介してメインメモリ１０とサブメモリ１
１に記憶させる。誤り検出回路１２，１３はそれぞれメ
インメモリ１０とサブメモリ１１に記憶されているデー
タに誤りがあるか否かを検出する。誤り検出回路１２は
メインメモリ１０に誤りがなければ、セレクタ８によっ
てメインメモリ１０からデータが主制御部７に読出され
るように制御し、サブメモリ１１からデータが読出され
ないようにセレクタ９を制御する。誤り検出回路１２
は、もしメインメモリ１０にデータの誤りがあることを
検出した場合には、メインメモリ１０からデータが読出
されないようにセレクタ８を制御し、サブメモリ１１か
らデータが読出されるようにセレクタ９を制御する。誤
り検出回路１３はサブメモリ１１に記憶したデータに誤
りがあるかを検出する。もし、メインメモリ１０のみな
らずサブメモリ１１にもデータの誤りがあれば、メイン
メモリ１０およびサブメモリ１１からデータが主制御部
７に与えられない。この場合、主制御部７は質問器に対
してデータの送信を再要求するまたはデータに誤りがあ
ることを明示することになる。メインメモリ１０または
サブメモリ１１からデータを読出した後、誤り補正回路
１６，１７はデータの誤りを補正する。
れると、同調回路１がその変調信号に同調し、増幅復調
部３によってデータが復調され、シリアルなデータがＳ
／Ｐ変換部５によってパラレルなデータに変換され、主
制御部７に与えられる。主制御部７はそのデータを、セ
レクタ８，９を介してメインメモリ１０とサブメモリ１
１に記憶させる。誤り検出回路１２，１３はそれぞれメ
インメモリ１０とサブメモリ１１に記憶されているデー
タに誤りがあるか否かを検出する。誤り検出回路１２は
メインメモリ１０に誤りがなければ、セレクタ８によっ
てメインメモリ１０からデータが主制御部７に読出され
るように制御し、サブメモリ１１からデータが読出され
ないようにセレクタ９を制御する。誤り検出回路１２
は、もしメインメモリ１０にデータの誤りがあることを
検出した場合には、メインメモリ１０からデータが読出
されないようにセレクタ８を制御し、サブメモリ１１か
らデータが読出されるようにセレクタ９を制御する。誤
り検出回路１３はサブメモリ１１に記憶したデータに誤
りがあるかを検出する。もし、メインメモリ１０のみな
らずサブメモリ１１にもデータの誤りがあれば、メイン
メモリ１０およびサブメモリ１１からデータが主制御部
７に与えられない。この場合、主制御部７は質問器に対
してデータの送信を再要求するまたはデータに誤りがあ
ることを明示することになる。メインメモリ１０または
サブメモリ１１からデータを読出した後、誤り補正回路
１６，１７はデータの誤りを補正する。
【００１９】なお、誤り検出回路１３を省略し、誤り検
出回路１２のみによってメインメモリ１０のデータの誤
りの検出のみを行なうようにしてもよい。
出回路１２のみによってメインメモリ１０のデータの誤
りの検出のみを行なうようにしてもよい。
【００２０】図２は図１に示した誤り検出回路の一例を
示すブロック図である。この図２に示した誤り検出回路
１２はＣＲＣチェックを行なうものであり、５ビットの
シフトレジスタ１２１と７ビットのシフトレジスタ１２
２と４ビットのシフトレジスタ１２３を、ＥＸＯＲゲー
ト１２４，１２５，１２６によってシリアルに接続した
ものである。
示すブロック図である。この図２に示した誤り検出回路
１２はＣＲＣチェックを行なうものであり、５ビットの
シフトレジスタ１２１と７ビットのシフトレジスタ１２
２と４ビットのシフトレジスタ１２３を、ＥＸＯＲゲー
ト１２４，１２５，１２６によってシリアルに接続した
ものである。
【００２１】図３はこの発明の他の実施形態を示すブロ
ック図であり、図１に示した同調回路１からＳ／Ｐ変換
部５とＰ／Ｓ変換部６との間の回路の図示を省略してい
る。この実施形態は、メインメモリ１０とサブメモリ１
１の他にさらにサブメモリ１４を設け、これらのメイン
メモリ１０とサブメモリ１１および１４に記憶したデー
タの多数決を多数決回路１５でとり、メインメモリ１０
とサブメモリ１１のいずれに記憶したデータが正しいか
を判断し、それによってセレクタ８，９を切換えるよう
にしたものである。
ック図であり、図１に示した同調回路１からＳ／Ｐ変換
部５とＰ／Ｓ変換部６との間の回路の図示を省略してい
る。この実施形態は、メインメモリ１０とサブメモリ１
１の他にさらにサブメモリ１４を設け、これらのメイン
メモリ１０とサブメモリ１１および１４に記憶したデー
タの多数決を多数決回路１５でとり、メインメモリ１０
とサブメモリ１１のいずれに記憶したデータが正しいか
を判断し、それによってセレクタ８，９を切換えるよう
にしたものである。
【００２２】図４はメインメモリ１０とサブメモリ１１
のデータを格納する物理的な場所を変えるようにした実
施形態を示す図である。このように、データを格納する
物理的な場所を変えることにより、応力によるデータの
変化が起きてしまった場合でも、データ格納場所が近い
場所でないため、どちらかのデータが正常で残る確率が
高くなる。
のデータを格納する物理的な場所を変えるようにした実
施形態を示す図である。このように、データを格納する
物理的な場所を変えることにより、応力によるデータの
変化が起きてしまった場合でも、データ格納場所が近い
場所でないため、どちらかのデータが正常で残る確率が
高くなる。
【００２３】上述の如く、サブメモリ１１を設けたこと
によって、応力や静電気などの外部から加えられる力に
よるデータの変化や誤りへの耐性も非常に高めることが
でき、不揮発性記憶ブロックとしての信頼性を高めるこ
とができる。
によって、応力や静電気などの外部から加えられる力に
よるデータの変化や誤りへの耐性も非常に高めることが
でき、不揮発性記憶ブロックとしての信頼性を高めるこ
とができる。
【００２４】なお、メインメモリ１０とサブメモリ１１
のいずれか一方のデータが正しいと判断した場合、誤り
がある方のメモリの内容を補正するようにしてもよい。
のいずれか一方のデータが正しいと判断した場合、誤り
がある方のメモリの内容を補正するようにしてもよい。
【００２５】また、メインメモリ１０とサブメモリ１１
は同じデータを記憶するようにしたが、メインメモリ１
２はあるデータ値Ｑという情報を持たせ、サブメモリに
はＱの逆数という情報を持たせるようにしてもよい。そ
の他、１対１に対応が行なえるデータであれば補数のよ
うなどのようなデータであっても適用できる。
は同じデータを記憶するようにしたが、メインメモリ１
２はあるデータ値Ｑという情報を持たせ、サブメモリに
はＱの逆数という情報を持たせるようにしてもよい。そ
の他、１対１に対応が行なえるデータであれば補数のよ
うなどのようなデータであっても適用できる。
【００２６】さらに、サブメモリ１１はメインメモリ１
０と異なる容量のメモリであってもよい。さらに、誤り
検出回路１２，１３による誤り検出は１バイトまたは複
数バイト毎に行なうようにすればよい。さらに、誤り検
出の結果をメインメモリ１０またはサブメモリ１１のい
ずれかに記憶させるようにしてもよい。
０と異なる容量のメモリであってもよい。さらに、誤り
検出回路１２，１３による誤り検出は１バイトまたは複
数バイト毎に行なうようにすればよい。さらに、誤り検
出の結果をメインメモリ１０またはサブメモリ１１のい
ずれかに記憶させるようにしてもよい。
【００２７】さらに、上述の実施形態では、非接触式の
ＩＣカードにこの発明を適用するようにしたが、接触式
のＩＣカードに適用してもよい。
ＩＣカードにこの発明を適用するようにしたが、接触式
のＩＣカードに適用してもよい。
【００２８】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、予備
の不揮発性メモリを追加することにより、応力や静電気
などの外部から加えられる力によるデータの変化や誤り
に対して信頼性を高めることができる。
の不揮発性メモリを追加することにより、応力や静電気
などの外部から加えられる力によるデータの変化や誤り
に対して信頼性を高めることができる。
【図１】この発明の一実施形態を示すブロック図であ
る。
る。
【図２】図１に示した誤り検出回路の一例を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図３】この発明の他の実施形態を示すブロック図であ
る。
る。
【図４】メインメモリ１０とサブメモリ１１のデータを
格納する物理的な場所を変えるようにした実施形態を示
す図である。
格納する物理的な場所を変えるようにした実施形態を示
す図である。
１ 同調回路 ２ 整流回路 ３ 増幅復調部 ４ 変調増幅部 ５ Ｓ／Ｐ変換部 ６ Ｐ／Ｓ変換部 ７ 主制御部 ８，９ セレクタ １０ メインメモリ １１，１４ サブメモリ １２，１３ 誤り検出回路 １５ 多数決回路 １６，１７ 誤り補正回路
Claims (9)
- 【請求項１】 質問器との間でデータのやり取りを行な
うＩＣカードにおいて、 前記質問器から与えられるデータを記憶するための不揮
発性記憶手段と、 前記不揮発性記憶手段に記憶されるデータと１対１で対
応を行なえるデータを記憶する予備用不揮発性記憶手段
とを備えた、ＩＣカード。 - 【請求項２】 さらに、前記不揮発性記憶手段に記憶さ
れているデータの誤りを検出する誤り検出手段と、 前記誤り検出手段によって誤りが検出されなかったこと
に応じて、前記不揮発性記憶手段に記憶されているデー
タを選択し、誤りが検出されたことに応じて前記予備用
不揮発性記憶手段に記憶されているデータを選択する選
択手段を備えた、請求項１のＩＣカード。 - 【請求項３】 さらに、前記予備用不揮発性記憶手段に
記憶されているデータの誤りを検出する誤り検出手段
と、 前記誤り検出手段によって誤りが検出されなかったこと
に応じて、前記予備用不揮発性記憶手段に記憶されてい
るデータを選択し、誤りが検出されたことに応じて前記
不揮発性記憶手段に記憶されているデータを選択する選
択手段を備えた、請求項１のＩＣカード。 - 【請求項４】 前記予備用不揮発性記憶手段は２個以上
設けられていて、 前記不揮発性記憶手段に記憶されているデータと前記２
個以上の予備用不揮発性記憶手段のそれぞれに記憶され
ているデータとの内容の多数決をとるための多数決手段
と、 前記多数決手段によって多数決の示された不揮発性記憶
手段に記憶されているデータを選択するための選択手段
とを備えた、請求項１のＩＣカード。 - 【請求項５】 前記不揮発性記憶手段と前記予備用不揮
発性記憶手段は同一のデータを格納する記憶素子のＩＣ
チップ上の配置において距離を離したことを特徴とす
る、請求項１ないし４のいずれかに記載のＩＣカード。 - 【請求項６】 前記不揮発性記憶手段と前記予備不揮発
性記憶手段は、それぞれの記憶容量が異なることを特徴
とする、請求項１ないし５のいずれかに記載のＩＣカー
ド。 - 【請求項７】 前記誤り検出手段は１バイトまたは複数
バイト毎に誤り検出を行なうことを特徴とする、請求項
２のＩＣカード。 - 【請求項８】 前記誤り検出手段の検出結果が前記不揮
発性記憶手段に記憶されることを特徴とする、請求項２
または７のＩＣカード。 - 【請求項９】 さらに、前記誤り検出手段の検出結果に
基づいてデータの誤りを訂正することを特徴とする、請
求項２ないし８のいずれかに記載のＩＣカード。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34822596A JPH10187550A (ja) | 1996-12-26 | 1996-12-26 | Ｉｃカード |
| AU78928/98A AU7892898A (en) | 1996-12-26 | 1997-12-18 | IC card |
| PCT/JP1997/004691 WO1998029814A1 (fr) | 1996-12-26 | 1997-12-18 | Carte a circuit integre |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34822596A JPH10187550A (ja) | 1996-12-26 | 1996-12-26 | Ｉｃカード |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10187550A true JPH10187550A (ja) | 1998-07-21 |
Family
ID=18395592
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34822596A Pending JPH10187550A (ja) | 1996-12-26 | 1996-12-26 | Ｉｃカード |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10187550A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007109216A (ja) * | 2005-09-13 | 2007-04-26 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 半導体装置 |
| JP2014038636A (ja) * | 2008-03-27 | 2014-02-27 | Ge Healthcare Bioscience Bioprocess Corp | 使い捨てバイオプロセス部品の不正使用を防止する方法 |
| JP5575997B1 (ja) * | 2013-03-13 | 2014-08-20 | 長瀬産業株式会社 | 半導体装置及び半導体装置に対するエントリアドレス書き込み／読み出し方法 |
| JP2017084357A (ja) * | 2008-03-27 | 2017-05-18 | ジーイー・ヘルスケア・バイオサイエンス・バイオプロセス・コーポレイション | 関連する使い捨てバイオプロセス部品の不正操作を防止するガンマ線滅菌可能なｒｆｉｄシステム |
-
1996
- 1996-12-26 JP JP34822596A patent/JPH10187550A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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