JP2002131663A - 光走査装置 - Google Patents

光走査装置

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JP2002131663A
JP2002131663A JP2000322541A JP2000322541A JP2002131663A JP 2002131663 A JP2002131663 A JP 2002131663A JP 2000322541 A JP2000322541 A JP 2000322541A JP 2000322541 A JP2000322541 A JP 2000322541A JP 2002131663 A JP2002131663 A JP 2002131663A
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scanning light
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Eiji Takasugi
英次 高杉
Masataka Nishiyama
政孝 西山
Taminori Odano
民則 小田野
Nobuyuki Hori
伸幸 堀
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Asahi Kogaku Kogyo Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光学系部品の組み付け誤差や光ビーム走査手
段の面倒れにより走査光ビームの光センサへの入射位置
にずれがあっても、小さな受光面積の光センサで走査光
ビームを確実に捕捉でき、かつ光センサを含む水平同期
検出機構の低コスト化を可能にする。 【解決手段】 光ビーム発生源2からの光ビームL1を
ポリゴンミラー8によりビーム照射対象物に向けて走査
し、ポリゴンミラー8によりビーム照射対象物に向けて
走査される範囲から外れた走査光ビームL3を受光して
書き出しタイミングを検出するための信号を出力する光
センサを備える光走査装置において、走査光ビームL3
が光センサ14に至る光路に、走査光ビームL3を光セ
ンサ14の受光面積以上の大きさに拡散して光センサ1
4へ入射する拡散光学系16を設けたものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、走査面を光ビーム
により走査し露光する光走査装置に関し、特に走査面に
対して画像データの主走査方向の書き出しタイミングを
得るための水平同期信号を検出する水平同期検出機構を
備える光走査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】例えば、光走査装置を有するレーザプリ
ンタは、画像信号により変調されてレーザ光源から出力
されるレーザビームをポリゴンミラーで水平方向に走査
偏向し、この走査光ビームで感光体上を水平方向に走査
(主走査方向)することにより感光体表面を画像信号に
応じて露光し、この露光像をトナーで現像した後、この
トナー像を記録紙に転写し定着処理を施すことにより印
刷情報を記録紙にプリントするものであり、コンピュー
タの出力装置などに広く用いられている。
【0003】ところで、この種の光走査装置では、走査
光ビームの走査開始端において、走査光ビームの画像形
成に寄与する偏向範囲から外れた上流側の走査光ビーム
を検出する光センサが設けられており、この光センサに
走査光ビームが入射されるごとにパルス信号を発生さ
せ、このパルス信号を用いて水平同期信号を生成すると
ともに、この水平同期信号に基づいて感光体への走査光
ビームによる印刷情報の書き出し位置、すなわち印刷情
報の書き出し開始タイミングを決定するようになってい
る。
【0004】従来、このような光走査装置において、感
光体への印刷情報の書き出し開始タイミング、すなわち
水平同期信号を検出する水平同期検出機構は、画像形成
に寄与する偏向範囲から外れた上流側の走査光ビームの
光路に反射ミラーを配置し、この反射ミラーの走査光ビ
ーム反射光路上に光センサを配置し、更に、光センサの
入射側に反射ミラーからの反射光を集束して光センサに
向け結像するシリンドリカルレンズ等の集光レンズが配
置された構成になっている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の光
走査装置における水平同期検出機構は、走査光ビームを
反射ミラーや集光レンズ等の光学系で集光して光センサ
に対しピンポイント的に結像させるものであるため、光
センサに走査光ビームを導く光学系部品に組み付け誤差
があると、この誤差が光センサに対する光ビームの副走
査方向の位置ずれとなって反映し、最悪の場合には走査
光ビームが光センサ上に結像されない場合もある。この
ため、光センサを含む光学系には副走査方向の位置ずれ
を補正する微調整機構を組み込む必要があるほか、光学
系部品の組み付け精度を上げる必要があリ、コスト高に
なる問題がある。また、光ビーム走査手段にポリゴンミ
ラーを用いた場合には、ポリゴンミラーの面倒れにより
光ビームの走査位置が主走査方向と鉛直に交わる副走査
方向にずれる、いわゆる光ビームの入射位置ずれが発生
し、この入射位置ずれを許容するためには、光センサに
受光面積の大きな光センサを用いる必要がある。しか
し、光センサの受光面積を大きくすることは光センサを
構成する半導体のチップサイズが大きくなり、光セン
サ、ひいては水平同期検出機構がコスト高になるという
問題がある。
【0006】本発明は上述の事情に鑑みなされたもので
あり、本発明の目的は、光センサに入射される走査光ビ
ームを拡散することにより、光学系部品の組み付け誤差
や光ビーム走査手段の面倒れにより走査光ビームの光セ
ンサへの入射位置にずれがあっても、小さな受光面積の
光センサに走査光ビームを確実に入射させることがで
き、かつ光センサを含む水平同期検出機構の低コスト化
を可能にした光走査装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に本発明は、光ビームを発生する光ビーム発生源と、前
記光ビーム発生源からの光ビームをビーム照射対象物に
向けて走査する光ビーム走査手段と、前記光ビーム走査
手段によりビーム照射対象物に向けて走査される範囲か
ら外れた走査光ビームを受光して書き出しタイミングを
検出するための信号を出力する光センサを備える光走査
装置であって、前記走査光ビームが前記光センサに至る
光路に、前記走査光ビームを前記光センサの受光面積以
上の大きさに拡散して前記光センサへ入射する拡散光学
系が設けられていることを特徴する。
【0008】本発明においては、光センサに入射される
走査光ビームは拡散光学系により、光センサの受光面積
以上の大きさ、例えば光ビームの副走査方向に長い楕円
状に拡散されるから、走査光ビームを光センサに導く光
学系部品の組み付け誤差や光ビーム走査手段の面倒れに
より光センサへの走査光ビームに入射位置ずれが生じて
いても、拡散された走査光ビームは光センサを確実に入
射されることになる。これにより、光センサの受光面積
を小さくでき、かつ光センサの小サイズ化が可能にな
り、光センサを含む水平同期検出機構の低コスト化を可
能にする。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、発明の実施の形態例につい
て図面を参照して説明する。図1は本発明にかかる光走
査装置の概略構成を示す平面図である。図1において、
光走査装置は、レーザダイオード等のレーザー光源2
(請求項の光ビーム発生源に相当する)、レーザー光源
2の光学系4、請求項の光ビーム走査手段に相当するポ
リゴンミラー6、fθレンズ8、走査用反射ミラー1
0、書き出しタイミングを得るための水平同期検出用平
面ミラー12、書き出しタイミングを得るための水平同
期検出用光センサ14、拡散用光学系16等を備え、こ
れら各構成要素はハウジング18に装着される構成にな
っている。
【0010】上記レーザー光源2は、画像データにより
強度変調される光ビームL1を出力するものであり、こ
のレーザー光源2から出力される光ビームL1の出射方
向に位置するハウジング18上には、コリメートレンズ
とシリンドリカルレンズからなる光学系4が光軸を一致
させて配設されている。この光学系4は、レーザー光源
2から出射される光ビームL1を平行光に変換した後、
副走査方向に収束して、後述するポリゴンミラー6の反
射面6Aに向け出射するように構成されている。
【0011】上記光ビームL1の出射方向に位置するハ
ウジング18上にはモータ部61が設置され、このモー
タ部61から鉛直に突出する回転軸62にはポリゴンミ
ラー6が直角に、かつ同心に取着されている。また、ポ
リゴンミラー6はモータ部61により反時計回りに等速
で高速回転され、これにより、ポリゴンミラー6の反射
面6Aに入射される光ビームL1を走査光ビームL2と
して水平方向、すなわち主走査方向に走査するようにな
っている。
【0012】上記fθレンズ8は、ポリゴンミラー6に
よる走査光ビームL2の反射方向に位置してハウジング
18上に走査光ビームL2の走査方向に延在して配設さ
れ、ポリゴンミラー6により主走査方向に走査される走
査光ビームL2をビーム照射対象物である感光ドラム
(図示せず)の結像面Pに対して収束させるものであ
る。上記走査用反射ミラー10は、fθレンズ8を透過
した走査光ビームL2をビーム照射対象物である感光ド
ラムの結像面Pに向け反射させるもので、fθレンズ8
と感光ドラムの結像面Pとの間に水平方向に延在してハ
ウジング18上に配設されている。
【0013】一方、ポリゴンミラー6の回転により走査
される走査光ビームL2のうち、fθレンズ10を通し
て感光ドラムに対し走査される範囲から外れた走査光ビ
ームL3の照射方向におけるハウジング18の箇所には
水平同期検出用の平面ミラー12が配置されている。ま
た、前記平面ミラー12は、感光ドラムに対し走査され
る走査光ビームL2の走査領域外で、走査用反射ミラー
10の右端に臨む箇所に位置し、感光ドラムに対し走査
される走査光ビームL2の走査領域外で、走査用反射ミ
ラー10の左端に臨む箇所には、平面ミラー12により
反射された走査光ビームL3を受光する水平同期検出用
の光センサ14が配置され、この光センサ14は、ハウ
ジング18に設けた光センサ用の回路基板141に装着
されている。
【0014】また、光センサ14への走査光ビームL3
の入射側近傍には、平面ミラー12で反射される走査光
ビームL3を光センサ14の受光面積以上の大きさに拡
散する拡散光学系16、例えば、走査光ビームL3を走
査光ビームL2の走査方向に小さく、走査方向(主走査
方向)と鉛直に交わる副走査方向に長い楕円状に拡散し
て光センサ14に入射する凹レンズ161が配設されて
いる。この凹レンズ161は、例えば、走査光ビームL
2の走査方向(主走査方向)と直交する副走査方向に負
のレンズパワーを有するシリンドリカルレンズで構成さ
れ、入射する走査光ビームL3を副走査方向に拡散させ
る機能を有している。
【0015】走査光ビームL3を拡散光学系16、すな
わち凹レンズ161で副走査方向に長い楕円状に拡散す
る理由は、平面レンズ12や光センサ14等のハウジン
グ18への組み付け誤差やポリゴンミラー6の面倒れに
より走査光ビームL3に入射位置ずれが生じていても、
走査光ビームL3が光センサ14に確実に入射できるよ
うにし、かつ光センサ14を構成する半導体チップサイ
ズの小型化を図るためである。また、走査光ビームL3
を平面ミラー12で受け、光センサ14に向けて反射す
る目的は、走査光ビームL3の光路長を走査光ビームL
2の光路長と等しくし、光センサ14による走査光ビー
ムL3の検出タイミングと走査光ビームL2の書き込み
開始タイミングとの時間差をなくすためである。
【0016】上記のように構成された光走査装置におい
て、レーザー光源2からの光ビームL1は、レーザー光
源2の光学系4を通してポリゴンミラー6の反射面6A
に向け出射される。そして、ポリゴンミラー6の回転に
伴い、その反射面6Aで反射される光ビームL1は走査
光ビームL2としてfθレンズ10に向けられるととも
に、このfθレンズ12を透過し、走査用反射ミラー1
0を介して図示省略の感光ドラムの結像面Pに照射され
る。これにより、画像データに従い変調された走査光ビ
ームL2の強度に応じて感光ドラム表面を露光する。こ
こで、ポリゴンミラー6は図1の矢印Aの方向に高速回
転されるので、ポリゴンミラー6の反射面6Aに対する
光ビームL1の入射角が変化し、この入射角の変化に伴
い反射される走査光ビームL2は感光ドラムの結像面P
に対して図1の矢印B方向に主走査される。
【0017】一方、上記走査光ビームL2の走査開始時
に、感光ドラムに対して走査される範囲から外れた走査
光ビームL3は平面ミラー12により凹レンズ161に
向け反射される。ここで、光学系4を経た走査光ビーム
は、この走査光ビームの進行方向に対して垂直な面での
断面形状がほぼ円形に形成されているので、凹レンズ1
61により、走査光ビームL3はその断面形状が図2
(A)で示すように副走査方向に長い楕円状にされた走
査光ビームL3aとなって、光センサ14に入射され
る。この時の凹レンズ161による副走査方向へのビー
ムの拡散倍率は、平面レンズ12や光センサ14等のハ
ウジング18への組み付け誤差やポリゴンミラー6の面
倒れによる走査光ビームL3に入射位置ずれ量を考慮し
て、光センサ14の副走査方向の幅dの4〜7倍程度が
適当である。
【0018】このように長い楕円状に拡散された走査光
ビームL3aがポリゴンミラー6の回転に伴い主走査方
向に走査された場合、この走査光ビームL3aは光セン
サ14から外れることなく光センサ14に確実に入射さ
れる。したがって、平面レンズ12や光センサ14等の
ハウジング18への組み付け誤差やポリゴンミラー6の
面倒れにより走査光ビームL3に入射位置ずれが生じて
いても、小さな受光面積の光センサに対し走査光ビーム
を確実に入射させることができ、かつ水平同期信号を確
実に検出できる。しかも、光センサ14へ入射される走
査光ビームL3の副走査方向のぶれに対する位置精度の
余裕が増えるので、光走査に関係する光学系の設定が容
易になる。更に、光センサ14の小受光面積化に伴い、
光センサを構成する半導体チップサイズを小さくできる
ので、光センサを含めた水平同期検出機構を低コスト化
することができる。
【0019】特に、図2(A)に示すように、走査光ビ
ームL3aが長楕円状に拡散されている場合、光センサ
14を走査方向に横切る走査光ビームL3aの副走査方
向の側縁L3bはほぼ直線となる。その結果、走査光ビ
ームL3の入射位置ずれにより、走査光ビームL3aが
図2(A)に示すDの範囲で変動しても、走査光ビーム
L3aが光センサ14に到達する走査方向のずれ△xは
ほとんどゼロに等しく、光センサ14による走査光ビー
ムL3の検出タイミングと走査光ビームL2の書き込み
開始タイミングとの時間差もほとんどゼロにできる。ま
た、図2(B)に示す走査光ビームL3cのように副走
査方向に短い楕円形状である場合、走査光ビームL3の
入射位置ずれにより走査光ビームL3cが図2(B)に
示すDの範囲で変動すると、走査光ビームL3cが光セ
ンサ14に到達する走査方向のずれ△xは相当に大きく
なり、この差に相当する時間が走査光ビームL2の書き
込み開始タイミングに悪影響を及ぼすことになる。しか
し、走査光ビームを長楕円状に拡散することで、上述の
問題を解決できる。
【0020】次に、図3により本発明における拡散光学
系の他の実施の形態について説明する。図3は図1のA
−A線に相当する部分を副走査方向に切断して示す拡散
光学系の説明用断面図である。この図3において、ポリ
ゴンミラー6からの走査光ビームL3が光センサ14に
至る光路、すなわち、図1に示す走査用反射ミラー10
の右端に臨むハウジング18の箇所に設けた平面ミラー
12に代えて、走査光ビームL3を光センサ14に向け
て反射する反射面が凹面のミラー20を配設し、このミ
ラー20は図2(A)に示すように、走査光ビームL3
を光センサ14に対して長楕円形状に拡散した走査光ビ
ームL3aとして光センサ14に入射する拡散光学系を
構成している。このような本発明の他の実施の形態にお
いても、上記図1に示す場合と同様な作用効果が得られ
る。
【0021】次に、図4により本発明における拡散光学
系の更に他の実施の形態について説明する。図4は図1
のA−A線に相当する部分を副走査方向に切断して示す
拡散光学系の説明用断面図である。この図4において、
ポリゴンミラー6からの走査光ビームL3が光センサ1
4に至る光路、すなわち、図1に示す走査用反射ミラー
10の右端に臨むハウジング18の箇所に設けた平面ミ
ラー12に代えて、走査光ビームL3を光センサ14に
向けて反射する反射面が凸面のミラー22を配設する。
このミラー22は、図2(A)に示すように走査光ビー
ムL3を光センサ14に対して長楕円形状に拡散した走
査光ビームL3aとして光センサ14に入射する拡散光
学系を構成している。このような本発明の他の実施の形
態においても、上記図1に示す場合と同様な作用効果が
得られる。
【0022】次に、図5により本発明における拡散光学
系の更に他の実施の形態について説明する。図5は図1
のA−A線に相当する部分を副走査方向に切断して示す
拡散光学系の説明用断面図である。この図5において、
ポリゴンミラー6からの走査光ビームL3が光センサ1
4に至る光路において、図1に示す場合と同様に、走査
用反射ミラー10の右端に臨むハウジング18の箇所に
走査光ビームL3を光センサ14に向けて反射する平面
ミラー24を配設し、この平面ミラー24と光センサ1
4間の平面ミラー24寄りに凸レンズ26を配設する。
この凸レンズ26は、図2(A)に示すように走査光ビ
ームL3を光センサ14に対して長楕円形状に拡散した
走査光ビームL3aとして光センサ14に入射する拡散
光学系を構成している。このような本発明の他の実施の
形態においても、上記図1に示す場合と同様な作用効果
が得られる。
【0023】なお、上記図1、図3、図4及び図5に示
した拡散光学系は、走査光ビームL3を図2(A)に示
すように副走査方向に長い長楕円形に拡散する場合につ
いて説明したが、本発明はこれに限定されず、円形や角
型などに拡散する光学系でもよいことは勿論である。
【0024】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明の
光走査装置によれば、光センサに入射される走査光ビー
ムは拡散光学系により、光センサの受光面積以上の大き
さ、例えば光ビームの副走査方向に長い楕円状に拡散さ
れるから、走査光ビームを光センサに導く光学系部品の
組み付け誤差や光ビーム走査手段の面倒れにより光セン
サへの走査光ビームに入射位置ずれが生じていても、拡
散された走査光ビームは光センサに確実に入射されるこ
とになる。これにより、光センサの受光面積を小さくで
き、かつ光センサの小サイズ化が可能になり、光センサ
を含む水平同期検出機構の低コスト化が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる光走査装置の概略構成を示す平
面図である。
【図2】本発明の実施の形態における拡散光学系による
走査光ビームの拡散状態を示す説明図である。
【図3】図1のA−A線に相当する部分を副走査方向に
切断して示す拡散光学系の説明用断面図である。
【図4】図1のA−A線に相当する部分を副走査方向に
切断して示す拡散光学系の説明用断面図である。
【図5】図1のA−A線に相当する部分を副走査方向に
切断して示す拡散光学系の説明用断面図である。
【符号の説明】
2 レーザー光源 4 レーザー光源の光学系 6 ポリゴンミラー 8 fθレンズ 10 走査用反射ミラー 12 平面ミラー 14 光センサ 16 拡散光学系 161 凹レンズ 18 ハウジング 20 凹面ミラー 22 凸面ミラー 24 平面ミラー 26 凸レンズ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小田野 民則 東京都板橋区前野町2丁目36番9号 旭光 学工業株式会社内 (72)発明者 堀 伸幸 東京都板橋区前野町2丁目36番9号 旭光 学工業株式会社内 Fターム(参考) 2C362 AA21 AA37 BB29 BB30 2H045 CA89 5C072 AA03 DA02 DA04 DA16 HA02 HA13 HB10 HB11 HB13 XA05

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光ビームを発生する光ビーム発生源と、 前記光ビーム発生源からの光ビームをビーム照射対象物
    に向けて走査する光ビーム走査手段と、 前記光ビーム走査手段によりビーム照射対象物に向けて
    走査される範囲から外れた走査光ビームを受光して書き
    出しタイミングを検出するための信号を出力する光セン
    サを備える光走査装置であって、 前記走査光ビームが前記光センサに至る光路に、前記走
    査光ビームを前記光センサの受光面積以上の大きさに拡
    散して前記光センサへ入射する拡散光学系が設けられて
    いる、 ことを特徴する光走査装置。
  2. 【請求項2】 前記拡散光学系は、前記走査光ビームを
    該走査光ビームの走査方向と鉛直に交わる副走査方向に
    長い楕円状に拡散するように構成されていることを特徴
    する請求項1記載の光走査装置。
  3. 【請求項3】 前記走査光ビームが前記光センサに至る
    光路に前記走査光ビームを前記光センサに向けて反射す
    るミラーが配設され、前記ミラーの反射面は凹面で形成
    され、前記拡散光学系は前記ミラーにより構成されてい
    ることを特徴する請求項1または2記載の光走査装置。
  4. 【請求項4】 前記走査光ビームが前記光センサに至る
    光路に前記走査光ビームを前記光センサに向けて反射す
    るミラーが配設され、前記ミラーの反射面は凸面で形成
    され、前記拡散光学系は前記ミラーにより構成されてい
    ることを特徴する請求項1または2記載の光走査装置。
  5. 【請求項5】 前記走査光ビームが前記光センサに至る
    光路に前記走査光ビームを前記光センサに向けて反射す
    る平面ミラーが配設され、前記平面ミラーと光センサと
    の間に前記平面ミラーで反射される走査光ビームを拡散
    して光センサに入射する凸レンズが配設され、前記拡散
    光学系は前記凸レンズで構成されていることを特徴する
    請求項1または2記載の光走査装置。
  6. 【請求項6】 前記走査光ビームが前記光センサに至る
    光路に前記走査光ビームを前記光センサに向けて反射す
    る平面ミラーが配設され、前記平面ミラーと光センサと
    の間に前記平面ミラーで反射される走査光ビームを拡散
    して光センサに入射する凹レンズが配設され、前記拡散
    光学系は前記凹レンズで構成されていることを特徴する
    請求項1または2記載の光走査装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014016414A (ja) * 2012-07-06 2014-01-30 Ricoh Co Ltd 光走査装置および画像形成装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2014016414A (ja) * 2012-07-06 2014-01-30 Ricoh Co Ltd 光走査装置および画像形成装置

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