JP2002131198A - 排ガス前処理装置及び方法 - Google Patents

排ガス前処理装置及び方法

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JP2002131198A JP2001202292A JP2001202292A JP2002131198A JP 2002131198 A JP2002131198 A JP 2002131198A JP 2001202292 A JP2001202292 A JP 2001202292A JP 2001202292 A JP2001202292 A JP 2001202292A JP 2002131198 A JP2002131198 A JP 2002131198A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 排ガス中の有害成分等を連続して分析する際
の排ガス前処理装置及び方法並びに排ガス測定システム
を提供する。 【解決手段】 煙道11内の高温排ガス12を採取する
サンプル座13に取り付けたサンプル管14と、該採取
した高温排ガス12中の煤塵を除去する高温フィルタ1
5と、上記フィルタ15に供給され、所定時間毎又は所
定フィルタ差圧毎にフィルタを逆洗浄する逆洗装置16
とを具備してなる排ガス前処理装置と、該前処理装置で
処理された排ガスを分析する測定装置21とを具備して
なる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば排ガス中の
有害成分等を連続して分析する際の排ガス前処理装置及
び方法並びに排ガス測定システムに関する。
【0002】
【背景技術】近年、例えば都市ゴミ焼却炉,産業廃棄物
焼却炉,汚泥焼却炉等の各種焼却炉、熱分解炉、溶融炉
等から排出される排ガス中のダイオキシン類を時間遅れ
なくリアルタイムで直接分析することが要望されてお
り、この分析結果を基にして炉内の燃焼を制御し、効率
的な燃焼制御を図ることが提案されている。
【0003】従来、排ガス等の測定を行う場合には、多
くの場合、ダストフリーである除塵装置(例えばバグフ
ィルタ等)の後段側において、測定を行うのが主流であ
った。
【0004】しかしながら、炉内制御を考慮し、排ガス
の滞留時間が短く、極力燃焼場の状態を反映させて測定
するには、炉出口における高温/高ダスト下にて測定を
行う必要がある。
【0005】ここで、高温/高ダスト下にて測定を行う
場合の一例を図14に示す。図17に示すように、燃焼
炉の煙道01内にサンプル管02を挿入し、該サンプル
管02を介して吸引して採取した排ガス03中の除塵を
行う濾紙製フィルタ04を設け、必要に応じて設けられ
た冷却器05にて排ガスを冷却した後に、各種測定(連
続測定)又は吸収瓶等の測定手段06にて測定をおこな
っていた。
【0006】しかしながら、従来のサンプリングにおい
ては、以下のような問題がある。
【0007】 排ガスを長い時間吸引すると、濾紙製
フィルタ04でダスト詰まりが起こるために、長時間に
亙っての連続測定ができないという問題がある。
【0008】 濾紙部で温度が低くなると、濾紙に水
が凝縮し、濾過ができなくなるという問題がある。
【0009】 低温となる濾紙部では、図16に示す
ように、高分子量のダイオキシン類、揮発性化合物(V
OC)等が濾紙に捕獲された煤塵に吸着され、正確に測
定できないという問題がある。
【0010】 濾紙部で低温となると、ダイオキシン
類等のような物質が捕獲された煤塵にて再合成され、ダ
イオキシン類を生成し、正確な分析の妨げとなってい
る。特に、ダイオキシン類の再合成温度とされている2
00〜450℃(又は300〜400℃)でのサンプリ
ングは問題である。
【0011】 近年微量で高い毒性を有しているダイ
オキシンの高感度の分析法の開発がなされており、その
一例としてレーザ分析法の適用が考えられ、近年超音速
ジェット法と共鳴増感多光子イオン化法とを組み合わせ
ることにより、ダイオキシン類の一種である塩素置換体
のスペクトルを測定することが可能であるとの提案がな
されている(C.Weickhardt,R.Zimmermann,U.Bosel,E.W.
Schlag,Papid Commun,Mass Spectron,7,198(1993))が、
微量分析の場合には、サンプリングされた状態で、しか
も瞬時に測定手段に到達する必要があり、採取ロスの極
めて少ない排ガスの前処理システムの提案が臨まれてい
る。
【0012】本発明は、このような従来技術における問
題点を解決し、正確且つ連続的に排ガスの採取ができる
排ガス前処理装置及び方法並びに排ガス測定システムを
提供することを課題とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決する本発
明の第1の発明は、燃焼排ガス等の測定を行うに際して
排ガスをサンプリングする排ガス前処理装置であって、
高温で排ガスを採取するサンプル管と、該採取した排ガ
ス中の煤塵を除去する高温フィルタと、上記所定時間毎
又は所定差圧毎にフィルタを逆洗操作により洗浄する逆
洗装置とを具備してなることを特徴とする排ガス前処理
装置にある。
【0014】第2の発明は、第1の発明において、上記
逆洗装置が圧縮気体による洗浄又は洗浄液による洗浄の
いずれか、もしくは併用して洗浄することを特徴とする
排ガス前処理装置にある。
【0015】第3の発明は、第1の発明において、 上
記高温フィルタが500℃以上の高温で排ガスを除塵す
ることを特徴とする排ガス前処理装置にある。
【0016】第4の発明は、第1の発明において、上記
高温フィルタが、セラミックフィルタ、粒子充填フィル
タ(GBF)、金属フィルタ、繊維フィルタのいずれか
であることを特徴とする排ガス前処理装置にある。
【0017】第5の発明は、第2の発明において、上記
逆洗装置が圧縮気体による洗浄であり、逆洗手段におけ
る圧縮気体のパルス圧力が1〜10kgf/cm2 であ
ることを特徴とする排ガス前処理装置にある。
【0018】第6の発明は、第2の発明において、上記
逆洗装置が洗浄液による洗浄であり、洗浄水、スチー
ム、有機溶媒による洗浄のいずれかであることを特徴と
する排ガス前処理装置にある。
【0019】第7の発明は、第1の発明において、上記
サンプル管が石英管であると共に、その周囲を保護する
保護管を設けてなることを特徴とする排ガス前処理装置
にある。
【0020】第8の発明は、第7の発明において、上記
保護管が逆洗により上記サンプル管の移動及び破損を防
ぐストッパーを炉内側に設けてなることを特徴とする排
ガス前処理装置にある。
【0021】第9の発明は、第1の発明において、上記
サンプル管がステンレス管であると共に、内面にセラミ
ックスコーティング層又はガラスコーティング層を設け
てなることを特徴とする排ガス前処理装置にある。
【0022】第10の発明は、第1の発明において、上
記サンプル管を保護する保護管が冷却手段であることを
特徴とする排ガス前処理装置にある。
【0023】第11の発明は、第5の発明において、上
記保護管のサンプル座側にフランジ部を設けてなること
を特徴とする排ガス前処理装置にある。
【0024】第12の発明は、第1の発明において、上
記サンプル管を保護する保護管内に高圧エア又は高圧ガ
ス、スチーム等の流体を噴射することを特徴とする排ガ
ス前処理装置にある。
【0025】第13の発明は、第1の発明において、上
記サンプル管が耐熱性配管であることを特徴とする排ガ
ス前処理装置にある。
【0026】第14の発明は、第13の発明において、
上記耐熱性配管に冷却手段を設けたことを特徴とする排
ガス前処理装置にある。
【0027】第15の発明は、第1の発明において、上
記耐熱性配管の内面にセラミックスコーティング層、又
はガラスコーティング層を設けてなることを特徴とする
排ガス前処理装置にある。
【0028】第16の発明は、第13の発明において、
上記耐熱性配管のサンプル座側にフランジ部を設けてな
ることを特徴とする排ガス前処理装置にある。
【0029】第17の発明は、第7乃至10のいずれか
一項の発明において、上記サンプル管に複数の採取口を
設けてなることを特徴とする排ガス前処理装置にある。
【0030】第18の発明は、第7乃至10のいずれか
一項の発明において、上記サンプル管がガス後流側にそ
の採取口を向けてなることを特徴とする排ガス前処理装
置にある。
【0031】第19の発明は、第7乃至10のいずれか
一項の発明において、上記サンプル管と高温フィルタと
が連結してなることを特徴とする排ガス前処理装置にあ
る。
【0032】第20の発明は、第1の発明において、上
記サンプル管を少なくとも2本設けてなり、交互に使用
することを特徴とする排ガス前処理装置にある。
【0033】第21の発明は、第1の発明において、上
記高温フィルタを少なくとも2系列設けてなり、交互に
使用することを特徴とする排ガス前処理装置にある。
【0034】第22の発明は、第1の発明において、上
記燃焼排ガスが都市ゴミ焼却炉,産業廃棄物焼却炉,汚
泥焼却炉等の各種焼却炉、熱分解炉、溶融炉からの排ガ
スであることを特徴とする排ガス前処理装置にある。
【0035】第23の発明は、第1乃至乃至22のいず
れか一項の排ガス前処理装置と、上記高温フィルタで濾
過された排ガスを分析する測定手段とを具備してなるこ
とを特徴とする排ガス測定システムにある。
【0036】第24の発明は、第23の発明において、
上記測定手段が質量分析装置、ガスクロマトグラフィ
ー、FT−IR(フーリエ変換赤外分光光度計)、真空
紫外光/質量分析装置や吸光光度計等の光学検出器、レ
ーザ測定装置であることを特徴とする排ガス測定システ
ムにある。
【0037】第25の発明は、第23の発明において、
上記高温フィルタと測定手段との間に冷却手段及び/又
は除湿装置を介装してなることを特徴とする排ガス測定
システムにある。
【0038】第26の発明は、第25の発明において、
上記冷却手段が急速冷却により排ガスを冷却してなり、
ダイオキシン類等の再合成温度領域での滞留時間を短く
することを特徴とする排ガス測定システムにある。
【0039】第27の発明は、第26の発明において、
上記冷却手段が冷却水を通水する通水管と該通水管内に
排ガスを通気する通気管とからなり、該通気管の内面に
は腐蝕処理を施してなることを特徴とする排ガス測定シ
ステムにある。
【0040】第28の発明は、第23の発明において、
上記高温フィルタから測定手段に排ガスを供給する配管
内を不活性ガスでパージ可能としたことを特徴とする排
ガス測定システムにある。
【0041】第29の発明は、 燃焼排ガス等の測定を
行うに際して排ガスをサンプリングする排ガス前処理方
法であって、高温で排ガスを採取すると共に、該採取し
た排ガス中の煤塵を高温フィルタで除去すると共に、所
定時間毎にフィルタを逆洗浄することを特徴とする排ガ
ス前処理方法にある。
【0042】第30の発明は、第1乃至22のいずれか
一項の排ガス前処理装置を用いて排ガスを採取し、該採
取した排ガスを質量分析装置、ガスクロマトグラフィ
ー、FT−IR、真空紫外光/質量分析装置や吸光光度
計等の光学検出器、レーザ測定装置で測定し、その測定
結果に応じて、炉内燃焼制御を行うことを特徴とする制
御方法にある。
【0043】第31の発明は、第30の発明において、
上記測定装置としてレーザ測定装置や真空紫外光/質量
分析装置を用い、連続してダイオキシン類濃度やその前
駆体濃度を測定し、その測定結果に応じて、炉内燃焼制
御を行うことを特徴とする制御方法にある。
【0044】第32の発明は、第30又は31の発明に
おいて、上記炉が都市ゴミ焼却炉,産業廃棄物焼却炉,
汚泥焼却炉等の各種焼却炉、熱分解炉、溶融炉であるこ
とを特徴とする制御方法にある。
【0045】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を説明す
るが、本発明はこれに限定されるものではない。本実施
の形態にかかる排ガス前処理装置は、都市ゴミ焼却炉,
産業廃棄物焼却炉,汚泥焼却炉等の各種焼却炉、熱分解
炉、溶融炉等からの燃焼排ガス等の測定を行うに際して
排ガスをサンプリングする排ガス前処理装置であって、
高温で排ガスを採取するサンプル管と、該採取した排ガ
ス中の煤塵を除去する高温フィルタと、所定時間毎又は
所定差圧毎にフィルタを逆洗操作により洗浄する逆洗装
置とを具備してなるものであり、長期間に亙ってガス計
測を行なう場合に、ガスを直接吸引することによるダス
トのフィルタの目詰まりを効率的に除去するようにして
いる。上記フィルタを逆洗操作としては、ダストの除去
を効率的に行なう手段であれば特に限定されるものでは
ないが、例えば圧縮空気による逆洗作用又は洗浄水によ
る逆洗作用等が特に好適である。
【0046】[第1の実施の形態]本発明の第1の実施
形態について図1を用いて説明する。図1は本実施の形
態にかかる排ガス測定システムの概略図であり、圧縮空
気による逆洗作用によりフィルタの目詰まりを除去する
ようにしている。図1では都市ゴミ等を焼却する焼却炉
からの排ガスを連続して分析するようにしたものであ
る。
【0047】本実施の形態にかかる排ガス測定システム
は、図1に示すように、煙道11内の高温排ガス12を
採取するサンプル座13に取り付けたサンプル管14
と、該採取した高温排ガス12中の煤塵を除去するヒー
タ等の加熱手段(図示せず)により高温を維持される高
温フィルタ15と、上記フィルタ15に圧縮気体(例え
ば圧縮空気等)が排ガス供給方向と対向する方向から供
給され、所定時間毎又は所定差圧毎にフィルタを逆洗浄
する逆洗装置16とを具備してなる排ガス前処理装置1
7と、該前処理装置17で処理された排ガスを分析する
測定装置21とを具備してなるものである。なお、図
中、符号22は計測ライン、23は第1バルブ、24は
流量計、25は第2バルブ、26は吸引ポンプ、27は
第4バルブ、28は電磁弁、29は第5バルブ、30は
逆洗ライン、31はエアータンク、32は圧縮空気を各
々図示する。
【0048】上記構成によれば、煙道11内の排ガスは
計測ライン22に介装された吸引ポンプ26により吸引
され、高温フィルタ14で排ガス中の煤塵を除去するこ
とで前処理を施し、その後、測定ライン22から分枝さ
れた測定装置21で例えばダイオキシン類濃度やその前
駆体濃度等の測定を行うようにしている。
【0049】この際、排ガス12を500℃以上の高温
状態で高温フィルタ15を通過させているので、フィル
タに捕獲された煤塵中の金属による触媒作用でダイオキ
シン類等の再合成が起こらず、正確且つ連続的なサンプ
リングが可能となる。
【0050】また、従来のように低温での捕集ではない
ため、濾紙に捕獲された煤塵層でのダイオキシン類の吸
着は極めて少ないものとなり、正確且つ連続的なサンプ
リングが可能となる。
【0051】また、高温フィルタを通過する際のガス温
度を500℃以上の高温としているので、水の凝縮が生
じない。
【0052】上記逆洗装置16はフィルタ表面に堆積し
たダストを払い落とすものであり、圧縮空気等のパルス
圧力で行うようにしている。上記逆洗手段のパルス圧力
としては、特に限定されるものではないが、1〜10k
gf/cm2 とするのが好ましい。これは、1kgf/
cm2 未満ではダストの払い落とし効果が少なく、一方
10kgf/cm2 を超えると圧力が高くなり好ましく
ないからである。
【0053】逆洗の制御パラメータとしては、パルス時
間、パルス間隔、パルス回数及び逆洗間隔等であり、種
々の要素を必要に応じて考慮して行うようにすればよ
い。
【0054】逆洗のフローの一例を図2に示す。図2に
示すように、先ず排ガスを吸引し、一定時間がくると、
第2バルブ25を閉じると共に、第1バルブ23も閉じ
る。次に、逆洗装置16の電磁弁28を一定時間開と
し、圧縮空気32を高温フィルタ15へ送給する。この
逆洗操作を繰返行い、その後、第1バルブ23を開くと
共に第2バルブ25も開く。この一連の操作は、例えば
所定時間排ガスを吸引したら又は所定フィルタ差圧に達
したら繰り返す。
【0055】上記高温フィルタ15は、例えばセラミッ
クフィルタ、粒子充填フィルタ(GBF)、金属フィル
タ、繊維フィルタ等の耐熱性の高いフィルタを用いれば
よい。
【0056】次に、上記サンプル管14について図3乃
至図10を用いて説明する。
【0057】図3に示すように、石英サンプル管41は
その先端の採取口42は排ガス12の後流側にその開口
を向けている。これは排ガス中のダストを必要以上に採
取しないためである。上記石英サンプル管41はその外
周をステンレス製の保護管43で覆うと共に、該保護管
43の外周に例えば耐熱性のあるセラミックステープ等
のシール材44でサンプル座45に固定するようにして
いる。なお、石英サンプル管41と保護管43との間に
も例えば耐熱性のあるセラミックステープ等のシール材
44が設けられている。また、サンプル座45のフラン
ジ部と内部にフィルタ46を配設したフィルタ容器本体
47のフランジ部とにおいて、両者が一体になるように
接続されている。
【0058】サンプル管として石英サンプル管41を用
いるのは、耐熱性を図ると共に、排ガス中のダスト成分
及び計測対象となるDXN等の付着が少なく、化学反応
に対して不活性の為である。そして、上記石英サンプル
管41を保護管43で覆うことにより、飛来物により石
英サンプル管が割れたりしないように、長期間に亙って
保護するようにしている。
【0059】図4に示すサンプル管は保護管43のサン
プル座45側にフランジ部43aを設け、逆洗時に於い
て保護管43が煙道11内に飛び出さないようにしてい
る。
【0060】図5に示すサンプル管は耐熱性サンプル管
48としており、例えばステンレス製管、インコネル等
やセラミックス製の管を適用することもできる。また、
このサンプル管48にはフランジ部48aを設けてお
り、逆洗においても飛び出しを防止している。なお、耐
熱性サンプル管48は、場合によって内面にセラミック
コーティング層やガラスコーティング層を設けることも
ある。
【0061】図6に示すサンプル管は、その周囲を覆う
保護管43をサンプル管41の端部側も覆うようにして
おり、逆洗操作時の石英サンプル管41の飛び出しを防
ぐようにしている。これにより、より高温においても、
長期間に亙ってサンプリングを可能としている。
【0062】図7に示すサンプル管は、石英サンプル管
41の周囲を覆う保護管を冷却ジャケット49とし、内
部に冷却水50を通過させて、積極的に冷却するように
している。この場合、冷却ジャケット49内をさらに二
重管として冷却水により効率的に冷却できるようにして
いる。これにより、より高温の排ガスを吸引した場合で
も、高温フィルタで500℃以上となるように調整する
ことができる。
【0063】図9に示すサンプル管は、石英サンプル管
41のサンプル口41aを複数設けるようにしている。
これにより煙道内の対象物質に濃度分布があったとして
も、排ガスの流れに直交する方向に亙って均一にサンプ
リングすることができる。
【0064】図10に示すサンプル管は、石英サンプル
管41の周囲に設けた保護管内に高圧ガスGを供給し
て、サンプル口に付着したダストを吹き飛ばし、目詰ま
りをしないように防止している。この流体としては、高
圧エア又は高圧ガス、スチーム等を例示することがで
き、最大10kgf−G/cm2 としている。
【0065】図11に示すサンプル管は、石英サンプル
管41を複数(本実施の形態では3本)設けたものであ
り、これにより、定期的にサンプル管を交換することや
突発的な閉塞があった場合にも迅速に対応することがで
きる。
【0066】本発明の前処理装置は都市ゴミ焼却炉,産
業廃棄物焼却炉,汚泥焼却炉等の各種焼却炉、熱分解
炉、溶融炉からの排ガスの前処理に用いて好適である。
そして、この前処理装置を用いることで、高温フィルタ
で濾過された排ガスを分析し、その結果をフィードバッ
ク制御することにより、適正な燃焼制御を行うことがで
きる。
【0067】上記測定手段としては、特に限定されるも
のではないが、例えば質量分析装置、ガスクロマトグラ
フィー、FT−IR(フーリエ変換赤外分光光度計)や
真空紫外光/質量分析装置や吸光光度計等の光学検出
器、レーザ測定装置等を例示することができる。
【0068】また、図12に示すシステムにおいては、
高温フィルタ15と測定装置21との間に冷却装置61
や除湿装置62を介装すると共に、配管ラインを例えば
ヘリウムガス等の不活性ガス63でパージするようにし
ている。
【0069】上記冷却装置61は、図8で示した構成と
すればよく、例えばステンレス製管を用いた場合には、
内面を例えば反応に不活性なセラミックスやガラスをコ
ーティング処理してコーティング層51を形成し、排ガ
ス12中に含有する耐腐蝕処理を施すようにしてもよ
い。また、冷却水により排ガスが急冷されるので、露点
以下となった場合に、酸として内面等に付着する場合に
おいても内壁面の腐蝕を防止することができる。
【0070】さらに、ステンレス製の内面処理を施す代
わりに、ステンレス製の二重冷却管の内側に耐腐蝕性の
セラミックス管やガラス管を用いて三重管とし、さらに
伝熱セメントを充填して三重管の空気層部分を埋め込
み、熱伝導率を向上させるようにしてもよい。
【0071】なお、図12に示すシステムにおいて冷却
装置61や除湿装置62を介装しているが、測定装置2
1が高温フィルタ15と近接して設けられており、且つ
配管のみで冷却効率がよい場合には、冷却装置61や除
湿装置62を設ける必要はなく、必要に応じて適宜設け
るようにすればよい。
【0072】また、例えば図13に示すようなストーカ
炉70において、第一キャビティ(約900〜1000
℃)71、第二キャビティ(700〜800℃)72及
び第三キャビティ(650〜700℃)73の場合に、
第二キャビティから第三キャビティ(700〜800
℃)内で排ガスを採取することにより、より安定した排
ガスの性状を分析することができる。
【0073】特に測定装置21として、レーザ測定装置
や真空紫外光/質量分析装置を用いることで瞬時にしか
も連続してダイオキシン類濃度やその前駆体濃度を測定
することができ、その測定結果を瞬時に、炉内燃焼制御
に適用することができ、DXN等を発生させない、効率
的な運転が可能となる。
【0074】また、本実施の形態では高温フィルタ15
を一系列としたが、該高温フィルタ15を二系列以上と
し、交互に用いて連続運転を効率よく行うようにしても
よい。
【0075】次に、洗浄水を用いてフィルタの目詰まり
を効率的に除去する実施の形態を以下に示す。
【0076】[第2の実施の形態]本発明の第2の実施
形態について図14を用いて説明する。図14は本実施
の形態にかかる排ガス測定システムの概略図であり、洗
浄水を用いた逆洗作用によりフィルタの目詰まりを除去
するようにしている。なお、図1に示す第1の実施形態
の部材と同一構成のものは同一符号を付してその説明は
省略する。
【0077】本実施の形態にかかる排ガス測定システム
は、図14に示すように、煙道11内の高温排ガス12
を採取するサンプル座13に取り付けたサンプル管14
と、該採取した高温排ガス12中の煤塵を除去するヒー
タ等の加熱手段81A,81Bにより高温に維持される
高温フィルタ82A,82Bと、上記フィルタ12A,
82Bに洗浄水83が供給され、所定時間毎又は所定差
圧毎にフィルタを交互に逆洗浄する逆洗装置84とを具
備してなる排ガス前処理装置と、該高温フィルタ82
A,82Bでダストが除去された排ガス12を分析する
測定装置21とを具備してなるものである。本実施の形
態では、高温フィルタを2台設け、排ガス12中の煤塵
の捕集及び洗浄を交互に行うようにしている。なお、図
中、符号22は計測ライン、23は第1バルブ、24は
流量計、25は第2バルブ、26は吸引ポンプ、27は
第4バルブ、85A,85Bは第6バルブ、86A,8
6Bは第7バルブ、87A,87Bは第8バルブ、88
A,88Bは第9バルブ、89A,89Bは第10バル
ブ、90は洗浄水タンク、91は圧送ポンプを各々図示
する。
【0078】上記構成によれば、煙道11内の排ガスは
計測ライン22に介装された吸引ポンプ26により吸引
され、高温フィルタ81A,81Bのいずれかで排ガス
12中の煤塵を除去することで前処理を施し、その後、
測定ライン22から分枝された測定装置21で例えばダ
イオキシン類濃度等の測定を行うようにしている。
【0079】上記逆洗装置84は高温フィルタ12のフ
ィルタ表面に堆積したダストを洗浄水83により洗浄す
るものであり、ポンプの圧送による水圧で行うようにし
ている。煤塵を除去した高温フィルタ82A,82Bを
水洗再生することにより、フィルタの目詰まりの主要因
であるナトリウム、カリウム塩等を除去することがで
き、フィルタの寿命が向上する。
【0080】また、フィルタが鉛直方向に立設している
場合には、例えばフィルタ82Aを洗浄する場合には、
第1バルブ85Aを閉じて洗浄水をフィルタ12内に一
時的又は所定時間溜めてから、洗浄排水92を排出する
ようにしてもよい。
【0081】また、フィルタ差圧を監視して再生を行う
ことにより、装置内圧力の制御が可能となり、排ガスサ
ンプリングにおけるガスリークの低減を図ることができ
る。
【0082】また、上記洗浄排水92は炉内へ戻すよう
にして内部処理してもよく、又は別途排水処理を施すよ
うにしてよい。なお、排水処理する場合には、排水を吸
着剤(活性炭、ゼオライト等)等で有害物質を除去し
て、炉内へ供給したり、水処理に供給するようにしても
よい。使用後の吸着剤は例えば炉内に投入し、ダイオキ
シン類やその他の吸着した有害物質を分解処理するよう
にすればよい。また、吸着剤で処理した排水を再度洗浄
水として再利用することもできる。
【0083】逆洗の制御パラメータとしては、洗浄時
間、洗浄間隔、洗浄回数及び逆洗間隔等を適宜変更する
ものであり、種々の要素を必要に応じて考慮して行うよ
うにすればよい。
【0084】また、フィルタの洗浄には、2流体ノズル
等を用いてシャワー状に全体を均一に噴霧してフィルタ
全体を均一に洗浄するようにしてもよい。
【0085】また、洗浄水の代わりに、スチーム洗浄と
してもよい。また、洗浄水の他に、有機溶媒を用いた有
機洗浄としてもよい。なお、この洗浄溶媒を加熱して洗
浄することで洗浄効率を向上させるようにしてもよい。
上記有機溶媒としては、例えばヘキサン類、アセトン
類、アルコール類等の各種溶媒を用いるようにしてもよ
い。
【0086】本実施の形態では2系統のフィルタを用い
て、排ガスの煤塵の除去及び洗浄を交互に行うようにし
ているが、本発明はこれに限定されるものではなく、例
えば2系統以上のフィルタを設置して順次、洗浄水を供
給して洗浄再生するようにしてもよい。
【0087】[第3の実施の形態]本発明の第3の実施
形態について図15を用いて説明する。図15は本実施
の形態にかかる排ガス測定システムの概略図であり、第
1の実施の形態にかかる圧縮空気を用いた洗浄作用と、
第2の実施の形態にかかる洗浄水を用いた逆洗作用との
併用によりフィルタの目詰まりを除去するようにしてい
る。なお、図1及び図14に示す実施の形態の部材と同
一構成のものは同一符号を付してその説明は省略する。
【0088】本実施の形態にかかる排ガス測定システム
は、図15に示すように、煙道11内の高温排ガス12
を採取するサンプル座13に取り付けたサンプル管14
と、該採取した高温排ガス12中の煤塵を除去するヒー
タ等の加熱手段81A,81Bにより高温に維持される
高温フィルタ82A,82Bと、上記フィルタ82A,
82Bに圧縮気体(例えば圧縮空気等)が供給され、所
定時間毎又は所定差圧毎にフィルタを逆洗浄する逆洗装
置16と、上記フィルタ82A,82Bに洗浄水83が
供給され、所定時間毎又は所定差圧毎にフィルタを交互
に逆洗浄する逆洗装置84とを具備してなる排ガス前処
理装置と、該高温フィルタ82A,82Bでダストが除
去された排ガス12を分析する測定装置21とを具備し
てなるものである。本実施の形態ではフィルタを再生す
るために、圧縮空気が供給されることによるフィルタ表
面に付着した固形分の逆洗による除去作用と、洗浄水が
供給されることによる塩類等の溶解による作用とを併用
することにより、空気洗浄では除去しきれないような塩
類の洗浄水による溶解清浄作用の相乗効果が発揮され
る。
【0089】
【実施例】図1のシステム構成により、ダイオキシン類
の分析を行った。サンプル管は石英ガラスとし内径を2
4mmとし、長さを500mmとした。高温フィルタと
しては、150mm×500mmのハニカムフィルタ
(濾過面積:3m2 )を用い、除塵条件は排ガス温度を
500℃、ガス量を5m3 /h、濾過速度を0.08m/
min出口ダスト濃度を10mg/Nm3 とした。逆洗
条件は、エアタンク容量が26リットル、圧力が4kg
/cm2 、流量がパルス時間が0.1秒、パルス圧力が4
kg/m2 、パルス回数が3回、逆洗回数が6時間毎と
した。計測ライン22のガス量は5Nm3 /h、流速が
11m/秒とした。測定装置の入口温度は200℃、装
置入口までの配管長さは10m、ガス滞留時間は5秒、
測定装置はレーザ計測装置を用いた。本システムによる
分析を10日間連続で行った。
【0090】一方、比較例として、上記システムにおい
て、ハニカムフィルタガス温度を300℃として、同様
のレーザ計測装置にて測定した。なお、いずれの場合に
もサンプル座におけるDXN濃度については、手分析に
よる公定法にて行っており、1Nm3 のガス量を吸引
し、ガス状及び濾紙煤塵中の全DXN濃度である。その
結果を「表1」に示す。
【0091】
【表1】
【0092】上記「表1」の結果より、本発明によれ
ば、ダイオキシン類の濃度は手分析による公定法の値と
変わらず、連続して分析できていることが確認できる
が、比較例の場合のように、高温フィルタ部温度が50
0℃以下となると、約1.6倍ものダイオキシン類の増
加がみられた。これは、フィルタ部における再合成のた
めと考えられる。
【0093】また、サンプル管として石英サンプル管の
代わりに、耐熱ステンレス製のサンプル管を用いて測定
したが、上述と同じ結果であった。
【0094】また、図11に示すように冷却装置61を
設け、計測ライン22中を通過するガスを急冷すること
により、測定装置21までの配管長さを10mから2m
へ短くすることができると共に、ガス滞留時間を5秒か
ら4秒にすることができた。この計測タイムラグの減少
により、炉内燃焼制御の制御効率の向上を図ることがで
きた。
【0095】また、サンプル座から測定装置までの滞留
時間を更に短く(例えば3〜4秒)することで、より炉
内の制御等を効率的行うことができる。
【0096】また、その他計測物質として、DXNの前
駆体であるクロロベンゼンやクロロフェノールを分析し
た結果について下記「表2」に示す。
【表2】
【0097】上記「表2」に示すように、結果は良好で
あった。よって、本システムを用いても、これらの物質
もその分析結果について、手分析結果と同じ値を示し、
連続的に正確に計測できることが判る。なお、手分析
は、DXNの場合と同様に、吸着剤に吸引し、ソックス
レー抽出後、GC/MSを用いて分析した。また、ガス
クロ法は、一旦ガスを濃縮し、加熱脱着後、GCで準連
続的に分析した。一回の分析に40分程度要した。
【0098】
【発明の効果】以上、説明したように本発明の[請求項
1]の発明によれば、燃焼排ガス等の測定を行うに際し
て排ガスをサンプリングする排ガス前処理装置であっ
て、高温で排ガスを採取するサンプル管と、該採取した
排ガス中の煤塵を除去する高温フィルタと、上記所定時
間毎又は所定差圧毎にフィルタを逆洗操作により洗浄す
る逆洗装置とを具備してなるので、連続して排ガスをサ
ンプリングすることができる。
【0099】[請求項2]の発明によれば、請求項1に
おいて、上記逆洗装置が圧縮気体による洗浄又は洗浄液
による洗浄のいずれかであるので、洗浄効率が向上す
る。
【0100】[請求項3]の発明によれば、請求項1に
おいて、上記高温フィルタが500℃以上の高温で排ガ
スを除塵するので、ダイオキシン類等の再合成がないサ
ンプリングが可能となる。
【0101】[請求項4]の発明によれば、請求項1に
おいて、上記高温フィルタが、セラミックフィルタ、粒
子充填フィルタ(GBF)、金属フィルタ、繊維フィル
タ等のいずれかであるので、ダイオキシン類等の再合成
がない良好なサンプリングが可能となる。
【0102】[請求項5]の発明によれば、請求項1に
おいて、上記逆洗手段のパルス圧力が1〜10kg/c
2 であるので、フィルタに付着したダスト成分を効率
的に排除できる。
【0103】[請求項6]の発明によれば、請求項2に
おいて、上記逆洗装置が洗浄液による洗浄であり、洗浄
水、スチーム、有機溶媒による洗浄のいずれかであるの
で、フィルタに塩類等が付着した場合でも容易に除去す
ることができる。
【0104】[請求項7]の発明によれば、請求項1に
おいて、上記サンプル管が石英管であると共に、その周
囲を保護する保護管を設けてなるので、ダスト成分及び
測定対象物質であるDXN等の管内への付着がなく、し
かも周囲が保護されているので、飛来物によるサンプル
管の割れもなく、高温においても連続してサンプリング
が可能となる。
【0105】[請求項8]の発明は、請求項7におい
て、ストッパーを炉内側に設けてなるので、上記保護管
が逆洗による上記サンプル管の移動及び破損を防ぐこと
ができる。
【0106】[請求項8]の発明は、請求項1におい
て、上記サンプル管がステンレス管であると共に、内面
にセラミックスコーティング層又はガラスコーティング
層を設けてなるので、サンプル管内面での反応を防止し
ている。
【0107】[請求項10]の発明によれば、請求項1
において、上記サンプル管を保護する保護管が冷却手段
であるので、高温においてもサンプル管が熱変形するこ
となく排ガスを冷却しつつサンプリングできる。
【0108】[請求項11]の発明によれば、請求項5
において、上記保護管のサンプル座側にフランジ部を設
けてなるので、逆洗時において保護管等が煙道内に飛び
出すのを防止することができる。
【0109】[請求項12]の発明によれば、請求項1
において、上記サンプル管を保護する保護管内に高圧エ
ア又は高圧ガス、スチーム等の流体を噴射するので、サ
ンプリング口においての目詰まりがあった場合に、効率
的に排除できる。
【0110】[請求項13]の発明によれば、請求項1
において、上記サンプル管が耐熱性配管であるので、高
温であっても連続してサンプリングが可能となる。
【0111】[請求項14]の発明によれば、請求項1
0において、上記耐熱性配管に冷却手段を設けたので、
高温であっても連続してサンプリングが可能となる。
【0112】[請求項15]の発明によれば、請求項1
において、上記耐熱性配管の内面にセラミックスコーテ
ィング層、又はガラスコーティング層を設けてなるの
で、管内面での反応を防止している。
【0113】[請求項16]の発明によれば、請求項1
0において、上記耐熱性配管のサンプル座側にフランジ
部を設けてなるので、逆洗時において保護管等が煙道内
に飛び出すのを防止することができる。
【0114】[請求項17]の発明によれば、請求項5
乃至12のいずれか一項において、上記サンプル管に複
数の採取口を設けてなるので、炉内の対象物質に濃度分
布があってもサンプリング時において煙道内を均一に排
ガス成分を捕集できる。
【0115】[請求項18]の発明によれば、請求項5
乃至13のいずれか一項において、上記サンプル管がガ
ス後流側にその採取口を向けてなるので、サンプリング
時においてダスト成分の吸引が少ないものとなる。
【0116】[請求項19]の発明によれば、請求項7
乃至10のいずれか一項において、上記サンプル管と高
温フィルタとが連結してなるので、吸引後直ちにダスト
成分を除塵できる。
【0117】[請求項20]の発明によれば、請求項1
において、上記サンプル管を少なくとも2本設けてな
り、交互に使用するので、連続してサンプリングが可能
となる。
【0118】[請求項21]の発明によれば、請求項1
において、上記高温フィルタを少なくとも2系列設けて
なり、交互に使用するので、連続してサンプリングが可
能となる。
【0119】[請求項22]の発明によれば、請求項1
において、上記燃焼排ガスが都市ゴミ焼却炉,産業廃棄
物焼却炉,汚泥焼却炉等の各種焼却炉、熱分解炉、溶融
炉からの排ガスであるので、排ガス前処理が効率的に行
うことができる。
【0120】[請求項23]の発明によれば、請求項1
乃至乃至22のいずれか一項の排ガス前処理装置と、上
記高温フィルタで濾過された排ガスを分析する測定手段
とを具備してなるので、煙道内の排ガスを瞬時にしかも
ロスがなく測定手段へ送ることができ、正確な分析に寄
与する。
【0121】[請求項24]の発明によれば、請求項2
3において、上記測定手段が質量分析装置、ガスクロマ
トグラフィー、FT−IR(フーリエ変換赤外分光光度
計)、真空紫外光/質量分析装置や吸光光度計等の光学
検出器、レーザ測定装置等であるので、排ガスの状態を
瞬時にしかも連続して測定が可能となる。
【0122】[請求項25]の発明によれば、請求項2
3において、上記高温フィルタと測定手段との間に冷却
手段及び/又は除湿装置を介装してなるので、排ガスの
滞留時間を短くすることができ、リアルタイム分析を可
能とする。
【0123】[請求項26]の発明によれば、請求項2
5において、上記冷却手段が急速冷却により排ガスを冷
却し、ダイオキシン類等の再合成温度領域での滞留時間
を短くすることにより、ダイオキシン類の再合成を防止
し、迅速且つ正確な計測を行うことができる。
【0124】[請求項27]の発明によれば、請求項2
6において、上記冷却手段が冷却水を通水する通水管と
該通水管内に排ガスを通気する通気管とからなり、該通
気管の内面には腐蝕処理を施してなるので、ダイオキシ
ン類の再合成を防止し、しかも配管内面の耐久性が向上
するので、迅速且つ正確な計測を長期間に亙って行うこ
とができる。
【0125】[請求項28]の発明によれば、請求項2
3において、上記高温フィルタから測定手段に排ガスを
供給する配管内を不活性ガスでパージすることで、常に
良好なサンプリング採取が可能となる。
【0126】[請求項29]の発明によれば、燃焼排ガ
ス等の測定を行うに際して排ガスをサンプリングする排
ガス前処理方法であって、高温で排ガスを採取すると共
に、該採取した排ガス中の煤塵を高温フィルタで除去す
ると共に、所定時間毎又は所定フィルタ差圧毎にフィル
タを逆洗浄するので、連続して排ガスをサンプリングす
ることができる。
【0127】[請求項30]の発明によれば、請求項1
乃至22のいずれか一項の排ガス前処理装置を用いて排
ガスを採取し、該採取した排ガスを質量分析装置、ガス
クロマトグラフィー、FT−IR(フーリエ変換赤外分
光光度計)、真空紫外光/質量分析装置や吸光光度計等
の光学検出器、レーザ測定装置等で測定し、その測定結
果に応じて、炉内燃焼制御を行うので、排ガスの状態を
瞬時にしかも連続して測定が可能となる。
【0128】[請求項31]の発明によれば、請求項3
0において、上記測定装置としてレーザ測定装置等を用
い、連続してダイオキシン類濃度その前駆体濃度を測定
し、その測定結果に応じて、炉内燃焼制御を行うので、
安定した燃焼が可能となり、有害成分の発生の極めて少
ない燃焼を行うことが可能となる。
【0129】[請求項32]の発明によれば、請求項3
0又は31において、上記炉が都市ゴミ焼却炉,産業廃
棄物焼却炉,汚泥焼却炉等の各種焼却炉、熱分解炉、溶
融炉であるので、安定した燃焼が可能となり、有害成分
の発生の極めて少ない燃焼を行うことが可能となり、排
ガス処理設備をコンパクト化することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施の形態にかかる排ガス測定システムの概
略図である。
【図2】本実施の形態にかかる逆洗制御のフロー図であ
る。
【図3】本実施の形態にかかるサンプル管の概略図であ
る。
【図4】本実施の形態にかかるサンプル管の概略図であ
る。
【図5】本実施の形態にかかるサンプル管の概略図であ
る。
【図6】本実施の形態にかかるサンプル管の概略図であ
る。
【図7】本実施の形態にかかるサンプル管の概略図であ
る。
【図8】本実施の形態にかかるサンプル管の概略図であ
る。
【図9】本実施の形態にかかるサンプル管の概略図であ
る。
【図10】本実施の形態にかかるサンプル管の概略図で
ある。
【図11】本実施の形態にかかるサンプル管の概略図で
ある。
【図12】本実施の形態にかかる他の排ガス測定システ
ムの概略図である。
【図13】ストーカ炉の概略図である。
【図14】ダイオキシン類のガス状態と温度との関係ス
図である。
【図15】本実施の形態にかかる排ガス測定システムの
概略図である。
【図16】本実施の形態にかかる排ガス測定システムの
概略図である。
【図17】従来のサンプリングの概略図である。
【符号の説明】
11 煙道 12 排ガス 13 サンプル座 14 サンプル管 15 高温フィルタ 16 逆洗装置 21 測定装置 22 計測ライン 23 第1バルブ 24 流量計 25 第2バルブ 26 吸引ポンプ 27 第4バルブ 28 電磁弁 29 第5バルブ 30 逆洗ライン 31 エアータンク 32 圧縮空気
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G01N 1/00 101 G01N 1/00 101R 101X 27/62 27/62 V 30/88 30/88 C 33/00 33/00 D (72)発明者 西澤 和樹 神奈川県横浜市金沢区幸浦一丁目8番地1 三菱重工業株式会社横浜研究所内 (72)発明者 関 勝男 神奈川県横浜市金沢区幸浦一丁目8番地1 三菱重工業株式会社横浜研究所内 (72)発明者 二見 博 神奈川県横浜市金沢区幸浦一丁目8番地1 三菱重工業株式会社横浜研究所内 Fターム(参考) 2G052 AA02 AB11 AB27 AC25 AC27 AD02 AD22 AD42 BA03 BA14 BA21 CA04 CA12 DA09 DA21 DA26 EA03 EB11 FC03 FC07 FC12 FC14 FC15 GA11 GA24 GA27 HA18 HC02 HC09 HC25 HC39 HC43 JA01 JA08 JA09 JA10 JA13 3K078 AA05 BA03 BA26 CA24 4D058 JA51 JB03 JB06 JB24 JB25 JB33 MA12 MA15 MA52 MA54 PA04 SA08

Claims (32)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 燃焼排ガス等の測定を行うに際して排ガ
    スをサンプリングする排ガス前処理装置であって、 高温で排ガスを採取するサンプル管と、該採取した排ガ
    ス中の煤塵を除去する高温フィルタと、上記所定時間毎
    又は所定差圧毎にフィルタを逆洗操作により洗浄する逆
    洗装置とを具備してなることを特徴とする排ガス前処理
    装置。
  2. 【請求項2】 請求項1において、 上記逆洗装置が圧縮気体による洗浄又は洗浄液による洗
    浄のいずれか、もしくは併用して洗浄することを特徴と
    する排ガス前処理装置。
  3. 【請求項3】 請求項1において、 上記高温フィルタが500℃以上の高温で排ガスを除塵
    することを特徴とする排ガス前処理装置。
  4. 【請求項4】 請求項1において、 上記高温フィルタが、セラミックフィルタ、粒子充填フ
    ィルタ(GBF)、金属フィルタ、繊維フィルタのいず
    れかであることを特徴とする排ガス前処理装置。
  5. 【請求項5】 請求項2において、 上記逆洗装置が圧縮気体による洗浄であり、逆洗手段に
    おける圧縮気体のパルス圧力が1〜10kgf/cm2
    であることを特徴とする排ガス前処理装置。
  6. 【請求項6】 請求項2において、 上記逆洗装置が洗浄液による洗浄であり、洗浄水、スチ
    ーム、有機溶媒による洗浄のいずれかであることを特徴
    とする排ガス前処理装置。
  7. 【請求項7】 請求項1において、 上記サンプル管が石英管であると共に、その周囲を保護
    する保護管を設けてなることを特徴とする排ガス前処理
    装置。
  8. 【請求項8】 請求項7において、 上記保護管が逆洗により上記サンプル管の移動及び破損
    を防ぐストッパーを炉内側に設けてなることを特徴とす
    る排ガス前処理装置。
  9. 【請求項9】 請求項1において、 上記サンプル管がステンレス管であると共に、内面にセ
    ラミックスコーティング層又はガラスコーティング層を
    設けてなることを特徴とする排ガス前処理装置。
  10. 【請求項10】 請求項1において、 上記サンプル管を保護する保護管が冷却手段であること
    を特徴とする排ガス前処理装置。
  11. 【請求項11】 請求項5において、 上記保護管のサンプル座側にフランジ部を設けてなるこ
    とを特徴とする排ガス前処理装置。
  12. 【請求項12】 請求項1において、 上記サンプル管を保護する保護管内に高圧エア又は高圧
    ガス、スチーム等の流体を噴射することを特徴とする排
    ガス前処理装置。
  13. 【請求項13】 請求項1において、 上記サンプル管が耐熱性配管であることを特徴とする排
    ガス前処理装置。
  14. 【請求項14】 請求項12において、 上記耐熱性配管に冷却手段を設けたことを特徴とする排
    ガス前処理装置。
  15. 【請求項15】 請求項1において、 上記耐熱性配管の内面にセラミックスコーティング層、
    又はガラスコーティング層を設けてなることを特徴とす
    る排ガス前処理装置。
  16. 【請求項16】 請求項12において、 上記耐熱性配管のサンプル座側にフランジ部を設けてな
    ることを特徴とする排ガス前処理装置。
  17. 【請求項17】 請求項7乃至10のいずれか一項にお
    いて、 上記サンプル管に複数の採取口を設けてなることを特徴
    とする排ガス前処理装置。
  18. 【請求項18】 請求項7乃至10のいずれか一項にお
    いて、 上記サンプル管がガス後流側にその採取口を向けてなる
    ことを特徴とする排ガス前処理装置。
  19. 【請求項19】 請求項7乃至9のいずれか一項におい
    て、 上記サンプル管と高温フィルタとが連結してなることを
    特徴とする排ガス前処理装置。
  20. 【請求項20】 請求項1において、 上記サンプル管を少なくとも2本設けてなり、交互に使
    用することを特徴とする排ガス前処理装置。
  21. 【請求項21】 請求項1において、 上記高温フィルタを少なくとも2系列設けてなり、交互
    に使用することを特徴とする排ガス前処理装置。
  22. 【請求項22】 請求項1において、 上記燃焼排ガスが都市ゴミ焼却炉,産業廃棄物焼却炉,
    汚泥焼却炉等の各種焼却炉、熱分解炉、溶融炉からの排
    ガスであることを特徴とする排ガス前処理装置。
  23. 【請求項23】 請求項1乃至乃至22のいずれか一項
    の排ガス前処理装置と、上記高温フィルタで濾過された
    排ガスを分析する測定手段とを具備してなることを特徴
    とする排ガス測定システム。
  24. 【請求項24】 請求項23において、 上記測定手段が質量分析装置、ガスクロマトグラフィ
    ー、FT−IR(フーリエ変換赤外分光光度計)、真空
    紫外光/質量分析装置や吸光光度計等の光学検出器、レ
    ーザ測定装置であることを特徴とする排ガス測定システ
    ム。
  25. 【請求項25】 請求項23において、 上記高温フィルタと測定手段との間に冷却手段及び/又
    は除湿装置を介装してなることを特徴とする排ガス測定
    システム。
  26. 【請求項26】 請求項25において、 上記冷却手段が急速冷却により排ガスを冷却してなり、
    ダイオキシン類等の再合成温度領域での滞留時間を短く
    することを特徴とする排ガス測定システム。
  27. 【請求項27】 請求項26において、 上記冷却手段が冷却水を通水する通水管と該通水管内に
    排ガスを通気する通気管とからなり、該通気管の内面に
    は腐蝕処理を施してなることを特徴とする排ガス測定シ
    ステム。
  28. 【請求項28】 請求項23において、 上記高温フィルタから測定手段に排ガスを供給する配管
    内を不活性ガスでパージ可能としたことを特徴とする排
    ガス測定システム。
  29. 【請求項29】 燃焼排ガス等の測定を行うに際して排
    ガスをサンプリングする排ガス前処理方法であって、 高温で排ガスを採取すると共に、該採取した排ガス中の
    煤塵を高温フィルタで除去すると共に、所定時間毎にフ
    ィルタを逆洗浄することを特徴とする排ガス前処理方
    法。
  30. 【請求項30】 請求項1乃至22のいずれか一項の排
    ガス前処理装置を用いて排ガスを採取し、該採取した排
    ガスを質量分析装置、ガスクロマトグラフィー、FT−
    IR、真空紫外光/質量分析装置や吸光光度計等の光学
    検出器、レーザ測定装置で測定し、その測定結果に応じ
    て、炉内燃焼制御を行うことを特徴とする制御方法。
  31. 【請求項31】 請求項30において、 上記測定装置としてレーザ測定装置や真空紫外光/質量
    分析装置を用い、連続してダイオキシン類濃度やその前
    駆体濃度を測定し、その測定結果に応じて、炉内燃焼制
    御を行うことを特徴とする制御方法。
  32. 【請求項32】 請求項30又は31において、 上記炉が都市ゴミ焼却炉,産業廃棄物焼却炉,汚泥焼却
    炉等の各種焼却炉、熱分解炉、溶融炉であることを特徴
    とする制御方法。
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Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003344244A (ja) * 2002-05-31 2003-12-03 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 燃焼排ガス高温排ガス分析装置および分析方法
JP2005264231A (ja) * 2004-03-18 2005-09-29 L'air Liquide Sa Pour L'etude & L'exploitation Des Procede S Georges Claude フッ素ガス生成装置
JP2006162337A (ja) * 2004-12-03 2006-06-22 Takuma Co Ltd 排ガス分析用サンプリング装置
JP2006258320A (ja) * 2005-03-15 2006-09-28 Takuma Co Ltd 燃焼制御装置
JP2009036567A (ja) * 2007-07-31 2009-02-19 Pan Pacific Copper Co Ltd 分析用試料の自動微粉砕装置
US7936460B2 (en) 2006-05-31 2011-05-03 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Sensor unit in exhaust gas analyzer
GB2475097A (en) * 2009-11-06 2011-05-11 Total Vehicle Technology Ltd Analysing an exhaust gas using an inorganic filter
US8085404B2 (en) 2006-08-23 2011-12-27 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Gas analyzer and gas analyzing method
JP2012501828A (ja) * 2008-09-05 2012-01-26 エムティーティー テクノロジーズ リミテッド フィルタアセンブリ
US8208143B2 (en) 2005-04-28 2012-06-26 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Exhaust gas analyzer
CN104502162A (zh) * 2014-12-31 2015-04-08 郑州光力科技股份有限公司 粉尘采样器及使用该粉尘采样器的粉尘浓度标定装置
WO2015059781A1 (ja) * 2013-10-23 2015-04-30 中国電力株式会社 分析試料採取装置及びその使用方法、採取試料分析装置及び採取試料分析方法
KR101533084B1 (ko) * 2014-03-21 2015-07-02 광성(주) 배기가스 처리 장치의 분석기기 및 모니터링 시스템
JP2016114429A (ja) * 2014-12-12 2016-06-23 中国電力株式会社 ガス採取装置
KR101729934B1 (ko) * 2016-02-29 2017-04-26 주식회사 엔버스 가스센서 흡입관의 역세척 방법
KR20190073062A (ko) * 2017-12-18 2019-06-26 주식회사 포스코 가스 농도 측정 장치
JP2020025905A (ja) * 2018-08-09 2020-02-20 株式会社大丸テクノ 廃液の処理方法および廃液処理装置
KR20200030037A (ko) * 2017-07-28 2020-03-19 바스프 에스이 도시 오염 환경 시뮬레이션 장치
KR20200056222A (ko) * 2018-11-14 2020-05-22 숭실대학교산학협력단 가스 측정 장치 및 그의 세척 방법
KR102146277B1 (ko) * 2019-05-30 2020-08-20 주식회사 다산에스엠 입경별 굴뚝 먼지 측정장치
JP2020204437A (ja) * 2019-06-18 2020-12-24 東京瓦斯株式会社 燃焼システム、端末装置およびプログラム
US10933620B2 (en) 2014-11-21 2021-03-02 Renishaw Plc Additive manufacturing apparatus and methods
KR102406651B1 (ko) * 2021-09-15 2022-06-08 대한민국 고온가스 원거리 측정장치
EP4265321A1 (en) * 2022-04-19 2023-10-25 Abb Schweiz Ag System for continuous control of a state of a sample handling device

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102941003B (zh) * 2012-11-20 2016-01-20 意昂神州(北京)科技有限公司 一种用于检测电厂排放烟气的设备和方法
KR20190056923A (ko) * 2017-11-17 2019-05-27 한국전력공사 분진 측정장치

Cited By (32)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003344244A (ja) * 2002-05-31 2003-12-03 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 燃焼排ガス高温排ガス分析装置および分析方法
JP2005264231A (ja) * 2004-03-18 2005-09-29 L'air Liquide Sa Pour L'etude & L'exploitation Des Procede S Georges Claude フッ素ガス生成装置
JP4624699B2 (ja) * 2004-03-18 2011-02-02 レール・リキード−ソシエテ・アノニム・プール・レテュード・エ・レクスプロワタシオン・デ・プロセデ・ジョルジュ・クロード フッ素ガス生成装置
JP2006162337A (ja) * 2004-12-03 2006-06-22 Takuma Co Ltd 排ガス分析用サンプリング装置
JP4526366B2 (ja) * 2004-12-03 2010-08-18 株式会社タクマ 排ガス分析用サンプリング装置
JP2006258320A (ja) * 2005-03-15 2006-09-28 Takuma Co Ltd 燃焼制御装置
US8208143B2 (en) 2005-04-28 2012-06-26 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Exhaust gas analyzer
US7936460B2 (en) 2006-05-31 2011-05-03 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Sensor unit in exhaust gas analyzer
US8085404B2 (en) 2006-08-23 2011-12-27 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Gas analyzer and gas analyzing method
JP2009036567A (ja) * 2007-07-31 2009-02-19 Pan Pacific Copper Co Ltd 分析用試料の自動微粉砕装置
US8794263B2 (en) 2008-09-05 2014-08-05 Mtt Technologies Limited Filter assembly
JP2012501828A (ja) * 2008-09-05 2012-01-26 エムティーティー テクノロジーズ リミテッド フィルタアセンブリ
US10974184B2 (en) 2008-09-05 2021-04-13 Renishaw Plc Filter assembly
GB2475097A (en) * 2009-11-06 2011-05-11 Total Vehicle Technology Ltd Analysing an exhaust gas using an inorganic filter
WO2015059781A1 (ja) * 2013-10-23 2015-04-30 中国電力株式会社 分析試料採取装置及びその使用方法、採取試料分析装置及び採取試料分析方法
KR101533084B1 (ko) * 2014-03-21 2015-07-02 광성(주) 배기가스 처리 장치의 분석기기 및 모니터링 시스템
US10933620B2 (en) 2014-11-21 2021-03-02 Renishaw Plc Additive manufacturing apparatus and methods
JP2016114429A (ja) * 2014-12-12 2016-06-23 中国電力株式会社 ガス採取装置
CN104502162A (zh) * 2014-12-31 2015-04-08 郑州光力科技股份有限公司 粉尘采样器及使用该粉尘采样器的粉尘浓度标定装置
KR101729934B1 (ko) * 2016-02-29 2017-04-26 주식회사 엔버스 가스센서 흡입관의 역세척 방법
KR20200030037A (ko) * 2017-07-28 2020-03-19 바스프 에스이 도시 오염 환경 시뮬레이션 장치
KR102580983B1 (ko) 2017-07-28 2023-09-20 바스프 에스이 도시 오염 환경 시뮬레이션 장치
KR20190073062A (ko) * 2017-12-18 2019-06-26 주식회사 포스코 가스 농도 측정 장치
KR102074727B1 (ko) 2017-12-18 2020-02-07 주식회사 포스코 가스 농도 측정 장치
JP2020025905A (ja) * 2018-08-09 2020-02-20 株式会社大丸テクノ 廃液の処理方法および廃液処理装置
KR20200056222A (ko) * 2018-11-14 2020-05-22 숭실대학교산학협력단 가스 측정 장치 및 그의 세척 방법
KR102198919B1 (ko) 2018-11-14 2021-01-05 숭실대학교산학협력단 가스 측정 장치 및 그의 세척 방법
KR102146277B1 (ko) * 2019-05-30 2020-08-20 주식회사 다산에스엠 입경별 굴뚝 먼지 측정장치
JP2020204437A (ja) * 2019-06-18 2020-12-24 東京瓦斯株式会社 燃焼システム、端末装置およびプログラム
JP7229107B2 (ja) 2019-06-18 2023-02-27 東京瓦斯株式会社 燃焼システム、端末装置およびプログラム
KR102406651B1 (ko) * 2021-09-15 2022-06-08 대한민국 고온가스 원거리 측정장치
EP4265321A1 (en) * 2022-04-19 2023-10-25 Abb Schweiz Ag System for continuous control of a state of a sample handling device

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