KR102106235B1 - 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치에 관한 것으로서, 보다 상게하게는 입자상 물질 및 수분을 함유하는 유체의 온도를 조절하는 저장부; 상기 저장부의 상부면으로부터 내측으로 연장되어 상기 유체가 유입되도록 하는 유입구; 상기 저장부의 하부면으로부터 내측으로 연장되어 저장된 유체를 등속흡인하여 유출하도록 하는 배출구; 상기 배출된 유체의 수분을 제거하도록 하는 나피온 드라이어; 상기 나피온 드라이어를 통과한 유체를 입자상물질 측정부로 이송하기 위한 이송부; 및 상기 저장부와 연통되도록 상기 저장부의 측면에 위치하여, 상기 저장부에 유입된 유체 중 일부를 유출하여 가열하고, 가열된 기상의 유체를 저장부로 재유입하는 가열부를 포함하는 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치에 관한 것이다.

Description

입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치 {A Water Pretreatment Apparatus For Analysing Particle Detection}
본 발명은 측정하고자 하는 입자상 물질과 함께 함유된 수분을 효과적으로 제거할 수 있는 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치에 관한 것이다.
최근 대기 중에 존재하는 여러 부유분진은 인체 및 자연 생태계 등에 직ㆍ간접적으로 영향을 미치는 것으로 알려져 있다. 이러한 대기 중 부유물질은 인위적인 오염원(공장 굴뚝, 자동차 등)에 의해 직ㆍ간접적으로 배출된 1차성 먼지와 배출된 가스상 물질이 대기 중 화학적 반응을 통해 생성된 2차성 먼지로 구성되어 있다.
입자의 직경이 10㎛이하인 호흡성 먼지 또는 미세먼지인 PM10(Particulate Matter with a diameter less than 10㎛)은 대기 부유분진 중에서 비교적 대기 중 체류기간이 길고 인간의 폐 속까지 침착됨으로써 심장질환이나 폐암과 관련된 질병 등을 유발한다.
또한, 빛의 시정장애 유발과 산성비 등의 2차적인 영향을 가져올 수 있다. 우리나라의 경우 미세먼지는 인위적인 오염원 이외에도 중국, 몽골 등에서 발생하는 황사에 의해서도 발생되며 그 피해 정도 또한 심각하다.
특히 경제 활동에 따른 에너지 사용량과 자동차의 급격한 증가로 인해 황산염 입자와 매연과 같은 미세입자에 대한 관리의 필요성이 대두됨에 따라 국내의 입자상 대기오염물질에 대해 1995년부터 대기 중에 존재하는 부유분진 중 입자의 직경이 10㎛ 이하인 미세입자(PM10)를 대기환경 기준항목으로 설정하여 관리해 오고 있다.
현재 국내에서는 부유분진 농도를 실시간으로 자동 측정할 수 있는 부유분진 측정장비를 사용하여 전국 주요 대도시의 대기자동측정망에서 미세먼지의 오염정도를 24시간 모니터링하고 있다.
특히, 환경오염 중 화석연료의 연소나 각종 제조공정 등에서 유래하는 대기오염물질을 모니터링하는 장치는 보통 광학기기를 기반으로 하는 측정 방식을 이용하고 있다. 그러나 이들 모니터링 장치는 측정하고자 하는 기체상 물질에 포함된 수분으로 인하여 연소 가스에 포함된 대기 오염물질의 정확한 물질명이나 농도를 파악하기 곤란한 경우가 많다.
따라서, 오염물질과 그 농도를 정확히 파악하기 위하여, 측정이나 분석을 어렵게 하는 수분을 사전에 제거한 후 측정 장치에 도입되어야 하며, 이러한 전처리 방법으로 필터를 사용하는 경우도 있다. 그러나 필터는 기체상의 수분 제거는 용이하나 액체상의 수분 즉 물방울인 경우에는 제거가 용이하지 않는 문제가 있다.
한편, 종래에는 이러한 문제점을 해결하기 위하여 수분 제거를 위한 전처리 장치가 개발된 바 있다. 전처리 장치는 내주연에 수분을 냉각 응착시키기 위한 글라스튜브가 구비되며, 또한 글라스튜브 내부에는 1차적 수분 제거를 위한 면사층이 더 형성된다. 그리고, 전처리 장치 하부에는 냉각 응축 및 열탈착을 수행하는 펠티어 트랩이 구비되어 시료포집부의 시료포집이 완료된 후, 수분 제거를 위해 가열 구동되는 대기오염 분석을 위한 수분 전처리 수단이 구비된다.
또한, 종래에는 유입가스로부터 수분과 입자상 물질을 성에로 상변화 시켜 제거하는 수분 전처리 장치가 개발된 바 있다. 그러나, 상기한 수분 전처리 장치는 진공펌프 또는 흡입펌프 등에 의존하여 유입가스로부터 분리된 성에를 장치의 외부로 배출시키는 구조로 형성됨에 따라, 흡입력이 상대적으로 적게 작용하는 부위에 다량의 성에가 누적되어 장치에 오류를 발생시키는 문제점이 있었다.
이에 따라, 작업자는 수분 전처리 장치의 운행을 멈춘 후 특정 부위에 잔존하거나, 누적되어 있는 성에를 제거하는 작업을 주기적으로 수행해야만 하는 문제점이 있었다.
한국공개특허공보 제2006-0039465호 한국특허등록 제1648842호 한국특허등록 제1654193호
따라서, 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 해결하고자 하는 과제는 액체상 및 기체상의 수분을 제거하여 정확한 입자상 물질의 측정 분석을 수행할 수 있는 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치를 제공하는 것이다.
또한, 본 발명의 해결하고자 하는 과제는 장치의 멈춤 없이 지속적으로 운전하여 작업의 연속성을 유지하고, 작업자의 편의성을 향상시킬 수 있는 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치를 제공하는 것이다.
다만, 본 발명에서 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명은 성에, 물방울 등의 액체상의 수분을 기체상 수분으로 변환하고, 상기 변환된 기체상의 수분은 나피온 드라이어로 제거하여 입자상 물질을 함유하는 유체의 측정 분석을 정확히 수행할 수 있는 수분 전처리 장치를 제공하는 데 그 목적이 있다.
구체적으로 본 발명은 입자상 물질 및 수분을 함유하는 유체의 온도를 조절하는 저장부; 상기 저장부의 상부면으로부터 내측으로 연장되어 상기 유체가 유입되도록 하는 유입구; 상기 저장부의 하부면으로부터 내측으로 연장되어 저장된 유체를 등속흡인하여 유출하도록 하는 배출구; 상기 배출된 유체의 수분을 제거하도록 하는 나피온 드라이어; 상기 나피온 드라이어를 통과한 유체를 입자상물질 측정부로 이송하기 위한 이송부; 및 상기 저장부와 연통되도록 상기 저장부의 측면에 위치하여, 상기 저장부에 유입된 유체 중 일부를 유출하여 가열하고, 가열된 기상의 유체를 저장부로 재유입하는 가열부를 포함하고, 상기 가열부는 저장부에 유입된 유체 중 일부를 유입하는 제1관, 상기 제1관에 유입된 유체의 수분을 제거하는 실리카겔, 상기 실리카겔을 통과한 유체를 정화하기 위한 헤파필터, 상기 헤파필터와 히터 사이에 구비되며 상기 저장부에 유입된 유체 중 일부를 상기 가열부로 유출하기 위한 펌프, 상기 펌프를 통과한 유체를 가열하기 위한 히터, 상기 히터를 통과한 기상의 유체를 저장부로 재유입하는 제2관을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치를 제공하는 데 그 목적이 있다.
일 실시예에서, 입자상물질 측정부는 입자에 의해 산란되는 빛의 세기를 측정하여 입자의 농도를 측정하는 광학 측정 모듈을 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 입자상물질 측정부는 광학 측정 모듈을 통과한 기상의 유체를 정화하기 위한 헤파필터 및 상기 유입구로 유입되는 유체를 광학 측정 모듈로 이송하기 위한 펌프를 추가로 구비할 수 있다.
일 실시예에서, 히터는 제2관으로 유입되는 가스의 온도가 35 내지 40℃가 되도록 가열할 수 있다.
일 실시예에서, 유입구는 내측으로 연장된 단부가 저장부와 연결된 제2관의 단부보다 하측에 위치할 수 있다.
일 실시예에서, 배출구는 내측으로 연장된 단부가 저장부와 연결된 제1관의 단부보다 상측에 위치할 수 있다.
일 실시예에서, 배출구로 유입되는 유체는 기체상의 수분 및 입자상의 물질을 함유하는 유체일 수 있다.
본 발명에 따른 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치는 종래 액체상의 수분에 의한 측정 오차 없이 정확한 입자상 물질의 측정 분석을 수행할 수 있는 이점이 있다.
또한, 본 발명에 따른 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치는 장치의 멈춤 없이 연속적으로 운전이 가능하다는 이점이 있다.
또한, 본 발명에 따른 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치는 종래와 같이 성에 등의 수분 제거를 위한 작업자의 별도의 제거 작업이 요구되지 않으므로 편의성을 향상시킬 수 있다.
다만, 본 발명에서 얻을 수 있는 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 명세서에서 첨부되는 다음의 도면들은 본 발명의 바람직한 실시예를 예시하는 것이며, 후술하는 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어서 해석되어서는 아니된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치의 개략도이고,
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치가 구비된 입자상 물질 측정기의 개략도이다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명에 관한 설명은 구조적 내지 기능적 설명을 위한 실시예에 불과하므로, 본 발명의 권리범위는 본문에 설명된 실시예에 의하여 제한되는 것으로 해석되어서는 아니 된다. 즉, 실시예는 다양한 변경이 가능하고 여러 가지 형태를 가질 수 있으므로 본 발명의 권리범위는 기술적 사상을 실현할 수 있는 균등물들을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 또한, 본 발명에서 제시된 목적 또는 효과는 특정 실시예가 이를 전부 포함하여야 한다거나 그러한 효과만을 포함하여야 한다는 의미는 아니므로, 본 발명의 권리범위는 이에 의하여 제한되는 것으로 이해되어서는 아니 될 것이다.
본 발명에서 서술되는 용어의 의미는 다음과 같이 이해되어야 할 것이다.
"제1", "제2" 등의 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하기 위한 것으로, 이들 용어들에 의해 권리범위가 한정되어서는 아니 된다. 예를 들어, 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결될 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다고 언급된 때에는 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다. 한편, 구성요소들 간의 관계를 설명하는 다른 표현들, 즉 "~사이에"와 "바로 ~사이에" 또는 "~에 이웃하는"과 "~에 직접 이웃하는" 등도 마찬가지로 해석되어야 한다.
단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한 복수의 표현을 포함하는 것으로 이해되어야 하고, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 설시된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이며, 하나 또는 그 이상의 다른 특징이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
여기서 사용되는 모든 용어들은 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 관련 기술의 문맥상 가지는 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의하지 않는 한 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미를 지니는 것으로 해석될 수 없다.
본 발명은 측정하고자 하는 입자상 물질과 함께 함유된 수분을 효과적으로 제거할 수 있는 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치에 관한 것이다. 구체적으로 본 발명은 입자상 물질 및 수분을 함유한 유체를 가열하여 상기 수분을 기체상으로 변환한 후, 상기 기체상의 수분을 나피온 드라이어로 제거함으로써 종래 성에, 물방울 등의 액체상의 수분으로 인한 측정 오차 없이 입자상 물질을 측정 분석할 수 있는 수분 전처리 장치에 관한 것이다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 바람직한 실시예의 구성을 상세히 설명하기로 한다. 도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치의 개략도를 나타낸 것이다. 도 1을 참고하여 설명하면, 본 발명에 따른 수분 전처리 장치는 입자상 물질 및 수분을 함유하는 유체의 온도를 조절하는 저장부(20); 상기 저장부(20)의 상부면으로부터 내측으로 연장되어 상기 유체가 유입되도록 하는 유입구(10); 상기 저장부(20)의 하부면으로부터 내측으로 연장되어 저장된 유체를 등속흡인하여 유출하도록 하는 배출구(30); 상기 배출된 유체의 수분을 제거하도록 하는 나피온 드라이어(60); 상기 나피온 드라이어(60)를 통과한 유체를 입자상물질 측정부(70)로 이송하기 위한 이송부(40); 상기 저장부(20)와 연통되도록 상기 저장부(20)의 측면에 위치하여, 상기 저장부(20)에 유입된 유체 중 일부를 유출하여 가열하고, 가열된 기상의 유체를 저장부(20)로 재유입하는 가열부(50)를 포함하여 이루어진다.
저장부(20)는 상부면과 하부면이 구비되어 내부에 소정의 공간을 형성하는 밀폐형이다. 본 발명의 상기 저장부(20)는 입자상 물질 및 수분을 함유하는 유체를 유입하고, 저장하면서 액체상의 수분을 기체상의 수분으로 변환하는 공간이다.
상기 저장부(20)로 입자상 물질 및 수분을 함유하는 유체의 유입은 유입구(10)를 통해 이루어진다. 상기 유입구(10)는 저장부(20)의 상부면으로부터 내측으로 연장되어 구비된다. 또한, 상기 유입구(10)는 내측으로 연장된 단부가 저장부와 연결된 제2관의 단부보다 하측에 위치하는 것이 바람직하다. 이때, 유입구(10)가 내측으로 연장 구비되고, 저장부와 연결된 제2관의 단부보다 하측에 유입구의 단부가 위치함으로써 벤추리 효과를 통해 유입구를 통해 유입되는 유체와 가열부를 통해 재유입되는 가열된 기상의 유체가 잘 혼합될 수 있다.
상기 저장부(20)의 유체는 배출구(30)에 의해 유출된다. 상기 배출구(30)는 저장부(20)의 하부면으로부터 내측으로 연장되어 구비되며, 이는 상부에서 하부로 흐르는 유체의 흐름이 센서 내부로 유입될 때 흐름에 방해를 받지 않고 유입구를 통해 유입되는 유체와 가열부를 통해 재유입되는 가열된 기상의 유체의 혼합 유체가 등속으로 균등하게 유입되도록 하기 위함이다.
또한, 상기 배출구(30)는 내측으로 연장된 단부가 저장부와 연결된 제1관의 단부보다 상측에 위치하는 것이 바람직하며, 이는 센서로 유입되는 혼합유체의 흐름이 방해받지 않도록 하는 역할을 한다.
상기 배출구(30)는 저장부(20)에서 유입되는 유체가 등속흡인(isokinetic sampling) 되도록 설계한다. 즉 주위에 유동하는 유체의 속도와 배출구로 유입되는 유체(이후 입자상 물질 측정을 위한 샘플 시료) 속도가 동일하게 유지되도록 설계한다. 이때 유속이 달라지면 지름이 큰 입자는 관성력에 의해 과다 또는 과소하게 배출되어 이후의 입자상 물질 측정부에서 측정오차가 발생하게 된다.
상기 배출구(30)에서 유출되는 유체는 유입부로부터 유입된 입자상 물질 및 수분을 함유하는 유체와, 가열부로부터 유입된 가열된 유체가 저장부에서 혼합된 후 저장된 기체상의 수분 및 입자상의 물질을 함유하는 유체이다.
본 발명에 따른 상기 가열부(50)는 저장부(20)에 유입된 유체 중 일부를 유입하는 제1관(51), 상기 제1관(51)에 유입된 유체의 수분을 제거하는 실리카겔(52), 상기 실리카겔(52)을 통과한 유체를 정화하기 위한 헤파필터(53), 상기 헤파필터(53)와 히터(55) 사이에 구비되며 상기 저장부(20)에 유입된 유체 중 일부를 상기 가열부(50)로 유출하기 위한 펌프(54), 상기 펌프(54)를 통과한 유체를 가열하기 위한 히터(55), 상기 히터(55)를 통과한 기상의 유체를 저장부로 재유입하는 제2관(56);을 포함하여 이루어진다.
가열부(50)는 저장부(20)에 유입된 유체 중 일부를 회수하여 가열한 후 이를 다시 저장부(20)로 이송하여 저장부(20) 내부의 온도를 상승시킴으로써, 저장부(20) 내부에 함유된 액체상의 수분을 기체상으로 변환하는 역할을 한다.
상기 저장부(20)에 유입된 유체 중 일부를 회수하기 위하여 펌프(54)를 사용한다. 그러나, 상기 펌프(54)에 수분 및 입자상의 물질이 유입되는 경우 기계적 손상이 발생되어 소음이 높아 작업에 지장을 주거나, 펌프(54)의 작동이 멈추는 결과를 초래할 수 있다.
따라서, 본 발명은 회수된 유체가 상기 펌프(54)로 유입되기 전에, 상기 유체에 함유된 수분 및 입자상의 물질 제거 수단을 구비하여 펌프(54)의 손상 및 작업환경을 개선한 것이다.
상기 수분 제거 수단으로 실리카겔(52)을 사용하며, 상기 실리카겔(52)은 제1관(51)에 유입된 유체의 수분을 효율적으로 건조시켜 헤파필터(53)로 공급한다.
상기 입자상의 물질 제거 수단으로 헤파필터(53)를 사용하며, 상기 헤파필터는 상기 실리카겔(52)을 통과한 유체를 정화하여 펌프(54)로 공급한다. 상기 헤파필터(HEPA Filter)(53)는 고효율 미립자 공기(High Efficiency Particulate Air)의 머리글자로서, 원자력 연구가 시작된 초기에 연구원들의 건강에 위험을 끼칠 수 있는 방사성 미립자를 정화하기 위해 처음으로 개발되었으며, 0.3㎛ 보다 크거나 같은 먼지, 유분, 부유물, 박테리아, 바이러스 등의 공기 중에 포함된 미립자를 99.97% 이상의 집진 효율로 걸러주는 필터이다.
상기 펌프(54)는 진공펌프가 대표적이며, 헤파필터(53)와 히터(55) 사이에 구비된다.
상기와 같이 실리카겔(52)에 의해 건조되고 헤파필터(53)에 의해 정화된 유체는 펌프(54)를 통과한 후 히터(55)에서 가열된다.
상기 히터(55)는 전열히터가 대표적으로 사용될 수 있으며, 가열을 통해 유입된 유체를 가열하는 기능을 한다. 상기 히터를 통과하여 제2관으로 유입되는 유체의 온도가 35 내지 40℃가 되도록 가열하는 것이 바람직하다. 상기 온도가 35℃ 미만이면 시료를 충분히 가온하지 못하고 40℃를 초과하는 경우에는 휘발성이 있는 입자상물질인 세미볼로타일 입자를 가스로 만들어 입자상물질이 없어지는 문제가 발생할 수 있다.
본 발명은 상기 배출구(30)에서 유출되는 유체는 기체상의 수분 및 입자상의 물질을 함유하는 유체를 나피온 드라이어(Nafion dryer)(60)로 이송시켜 상기 유체에 함유된 기체상의 수분을 제거한다.
상기 나피온 드라이어(Nafion dryer)(60)는 Perma Pure Inc.사의 제품 상표이며, 건조된 가스(기체상)를 공급하여 이송된 시료가 열교환되어 시료 내부의 수분이 외부로 배출되도록 하는 수분 제거 장치이다. 상기 나피온 드라이어(60)는 자체 재생기능이 있어 다른 수분 제거 장치와 같이 건조용 화학 제품 등의 부품 교체가 요구되지 않는 장점이 있다.
본 발명에 따른 상기의 수분 전처리 장치를 통과한 유체는 수분이 제거되고 입자상 물질만 함유된 유체로 측정 분석 장치에 공급된다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치가 구비된 입자상 물질 측정기의 개략도이다. 도 2를 참고하여 설명하면, 도 2의 일 실시예에 따른 수분 전처리 장치가 구비된 입자상 물질 측정기는 도 1의 수분 전처리 장치와, 입자상 물질 측정부가 결합된 구조이다. 상기 수분 전처리 장치는 상기에서 설명한 바와 동일하므로 생략한다.
상기 입자상물질 측정부(70)는 입자에 의해 산란되는 빛의 세기를 측정하여 입자의 농도를 측정하는 광학 측정 모듈(71)을 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 광학 측정 모듈(71)은 레이저광을 조사하고, 레이저광의 산란광을 검출하여 입자의 입경 및 개수를 실시간으로 측정하여 입자의 부피농도를 검출할 수 있다. 여기서, 부피농도는 입자를 측정하는 동안 유입되는 유체의 부피당 존재하는 입자의 입경과 개수를 토대로 산정된 입자의 부피를 의미한다.
또한, 상기 입자상물질 측정부(70)는 상기 광학 측정 모듈(71)을 통과한 기상의 유체를 정화하기 위한 헤파필터(72), 및 상기 유입구로 유입되는 유체를 광학 측정 모듈(71)로 이송하기 위한 펌프(73)를 추가로 구비할 수 있다.
상기 헤파필터(72)는 상기 광학 측정 모듈(71)을 통과한 기상의 유체를 정화하여 대기중으로 방출하기 위한 것으로 상기 가열부(50)에 구비된 헤파필터(53)와 동일하다.
상기 펌프(73)는 상기 유입구로 유입되는 유체를 광학 측정 모듈(71)로 이송하기 위한 것으로, 가열부(50)에 구비된 펌프(54)와 동일하다. 다만 상기 입자상물질 측정부의 펌프(73)가 0.5 L/min의 유량이 유지되도록 작동되면, 가열부(50)의 펌프(54)는 1 L/min의 유량을 유지되도록 작동되는 것이 바람직하다.
한편, 첨부된 도 2를 참고하면서 본 발명의 일 실시예에 따른 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치의 작동 방법에 대해 상세히 설명하도록 한다.
도 2에 도시된 바와 같이, 저장부(20)의 상부면으로부터 내측으로 연장된 유입구(10)로부터 입자상의 물질 및 수분을 함유하는 유체가 저장부(20)로 유입된다.
상기 저장부(20)에 유입된 유체 중 일부는 상기 저장부(20)와 연통되도록 상기 저장부(20)의 측면에 위치한 가열부(50)로 유출된다. 상기 가열부(50)로 유출된 유체는 제1관(51)을 거쳐 실리카겔(52)을 통과하면서 수분이 제거되고, 헤파필터(53)를 통과하면서 입자상의 물질이 제거되어 정화된다. 상기 헤파필터(53)를 통과한 유체는 펌프를 통과한 후 히터(55)에서 가열되고 제2관(56)을 거쳐 저장부(20)로 재유입된다.
상기 저장부(20)로 재유입된 유체는 수분 및 입자상의 물질이 제거된 고온의 유체이다. 상기 재유입된 유체는 유입구(10)에서 유입된 입자상 물질 및 수분을 함유하는 유체와 혼합되어 액체상의 수분을 기체상으로 변화된다. 즉, 기체상의 수분과 입자상의 물질이 함유된 유체가 되어 배출구(30)로 유출된다.
상기 배출구(30)로 유출된 유체는 나피온 드라이어(60)에서 수분이 제거된 후 입자상 물질 측정부(70)로 유입된다. 입자상 물질 측정부(70)는 광학 측정 모듈(71)에서 입자상의 물질 측정 및 분석을 수행하고, 헤파필터(72)에서 입자상의 물질을 제거한 후 펌프(73)를 통과하여 대기중으로 배출된다.
비록 본 발명이 상기에서 언급한 바람직한 실시예와 관련하여 설명되어졌지만, 본 발명의 요지와 범위로부터 벗어남이 없이 다른 다양한 수정 및 변형이 가능한 것은 당업자라면 용이하게 인식할 수 있을 것이며, 이러한 변경 및 수정은 모두 첨부된 특허청구의 범위에 속함은 자명하다.
10: 유입구
20: 저장부
30: 배출구
40: 이송부
50: 가열부
51: 제1관 52: 실리카겔
53, 72: 헤파필터 54, 73: 펌프
55: 히터 56: 제2관
60: 나피온 드라이어
70: 입자상물질 측정부
71: 광학 측정 모듈

Claims (7)

  1. 입자상 물질 및 수분을 함유하는 유체의 온도를 조절하는 저장부;
    상기 저장부의 상부면으로부터 내측으로 연장되어 상기 유체가 유입되도록 하는 유입구;
    상기 저장부의 하부면으로부터 내측으로 연장되어 저장된 유체를 등속흡인하여 유출하도록 하는 배출구;
    상기 배출된 유체의 수분을 제거하도록 하는 나피온 드라이어;
    상기 나피온 드라이어를 통과한 유체를 입자상물질 측정부로 이송하기 위한 이송부; 및
    상기 저장부와 연통되도록 상기 저장부의 측면에 위치하여, 상기 저장부에 유입된 유체 중 일부를 유출하여 가열하고, 가열된 기상의 유체를 저장부로 재유입하는 가열부를 포함하고,
    상기 가열부는 저장부에 유입된 유체 중 일부를 유입하는 제1관, 상기 제1관에 유입된 유체의 수분을 제거하는 실리카겔, 상기 실리카겔을 통과한 유체를 정화하기 위한 헤파필터, 상기 헤파필터와 히터 사이에 구비되며 상기 저장부에 유입된 유체 중 일부를 상기 가열부로 유출하기 위한 펌프, 상기 펌프를 통과한 유체를 가열하기 위한 히터, 상기 히터를 통과한 기상의 유체를 저장부로 재유입하는 제2관;을 포함하여 이루어지고,
    상기 배출구는 내측으로 연장된 단부가 저장부와 연결된 제1관의 단부보다 상측에 위치하는 것을 특징으로 하는 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치.
  2. 청구항 1에 있어서, 상기 입자상물질 측정부는 입자에 의해 산란되는 빛의 세기를 측정하여 입자의 농도를 측정하는 광학 측정 모듈을 포함하는 것을 특징으로 하는 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치.
  3. 청구항 2에 있어서, 상기 입자상물질 측정부는 광학 측정 모듈을 통과한 기상의 유체를 정화하기 위한 헤파필터, 및 상기 유입구로 유입되는 유체를 광학 측정 모듈로 이송하기 위한 펌프를 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치.
  4. 청구항 1에 있어서, 상기 히터는 제2관으로 유입되는 유체의 온도가 35 내지 40℃가 되도록 가열하는 것을 특징으로 하는 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치.
  5. 청구항 1에 있어서, 상기 유입구는 내측으로 연장된 단부가 저장부와 연결된 제2관의 단부보다 하측에 위치하는 것을 특징으로 하는 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치.
  6. 삭제
  7. 청구항 1에 있어서, 상기 배출구로 유입되는 유체는 기상의 수분 및 입자상의 물질을 함유하는 유체인 것을 특징으로 하는 입자상 물질 측정 분석을 위한 수분 전처리 장치.
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