JP2002126964A - 位置決めステージの制御装置 - Google Patents

位置決めステージの制御装置

Info

Publication number
JP2002126964A
JP2002126964A JP2000322040A JP2000322040A JP2002126964A JP 2002126964 A JP2002126964 A JP 2002126964A JP 2000322040 A JP2000322040 A JP 2000322040A JP 2000322040 A JP2000322040 A JP 2000322040A JP 2002126964 A JP2002126964 A JP 2002126964A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
current
positioning stage
control device
output
positioning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000322040A
Other languages
English (en)
Inventor
Makoto Hattori
誠 服部
Masamichi Tomita
正道 富田
Yuji Hosoda
祐司 細田
Ken Fujii
憲 藤井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2000322040A priority Critical patent/JP2002126964A/ja
Publication of JP2002126964A publication Critical patent/JP2002126964A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70691Handling of masks or workpieces

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Control Of Electric Motors In General (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 負荷の変動等の外乱が発生した場合でも制御
系が振動的になることなく安定に動作が可能な位置決め
ステージの制御装置を提供する。 【解決手段】 位置決めステージの制御装置は、位置フ
ィードバックループ、速度フィードバックループを持つ
サーボ制御系に、サーボモータの電流を検出する電流検
出部9と、電流検出部9で検出した電流、または後で述
べる高域通過フィルタ12で処理した電流を所定の増幅
率で増幅して電流減算器10に出力する増幅装置13
と、電流検出部9で検出した電流の低周波成分をカット
する高域通過フィルタ12とを備えた構成とし、さら
に、電流検出部9で検出した電流信号を高域通過フィル
タ12と増幅装置13を介して電流減算器10に出力す
るか、高域通過フィルタ12を介さずに増幅装置13の
みを介して電流減算器10に出力するかを切り換えるた
めの切り換え器14を備えた構成とした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電動モータをアク
チュエータとして用いた位置決めステージの制御に係
り、特に、半導体の製造装置や検査装置等の、半導体ウ
エハを載せて高速移動、停止を繰り返すものであって高
精度位置決めが必要な位置決めステージの制御に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、高精度位置決め用のモータ制御装
置、制御方法については、様々なものが考案されてお
り、モータの応答性を上げるために電流フィードバック
を行う方法が広く知られていた。また、電流フィードバ
ックを行って応答性を向上させ、さらに、制御系の安定
も確保する方法がいくつか提案されていた。例えば、特
開平5−83971号公報に示すような、電流指令値と
電流フィードバック値との偏差にゲインを乗じた値が予
め設定した値を超えないようにリミッタにより制限する
ことでモータの起動時の発振を防止する方法がある。ま
た、特開平8−66075号公報には、電流指令値に、
電流フィードバック値から算出した電流フィードバック
値の遅れ分を加算し、その値から電流フィードバック値
を差し引いた値を電流偏差としてモータを駆動すること
で、振動の発生を抑制する方法が開示されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術で述べ
た方法には以下に示すような問題があった。すなわち、 (1)特開平5−83971号公報の技術の場合は、電
流偏差値が一定値以上になると出力がリミッタにより制
限されるため、過大な入力によるモータの起動時の振動
は防げるが、負荷変動等の外乱により系が振動的になる
ことに対する抑制という点では、あまり効果がない。 (2)特開平8−66075号公報の技術では、制御系
を構成した場合の電流検出の遅れ、またはモータをコイ
ルとした場合の電流の1次遅れ分を加算して補正するも
のなので、電流の応答は向上するが、負荷変動等の外乱
には振動的になってしまう。
【0004】本発明の目的は、前記問題点に鑑み、負荷
の変動等の外乱が発生した場合でも制御系が振動的にな
ることなく安定に動作が可能な高速、高精度位置決めス
テージの制御装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】発明者等は、位置決めス
テージが振動しているときは、その振動に起因して位置
決めステージを駆動する電動モータの電流の変動が生ず
ることに着目し、位置決めステージを駆動する電動モー
タの電流の変動分のうちの高周波成分を電流指令値にフ
ィードバックすることにより、制御系が外乱により振動
的になるのを防ぐことに成功した。
【0006】すなわち、前記課題を解決するために本発
明の位置決めステージの制御装置は、位置決めステージ
を駆動する電動モータの電流値を検出、出力する電流検
出手段と、前記電動モータに対する電流指令値を出力す
る電流指令値出力手段と、前記電流指令値と前記電流検
出手段で検出された実測電流値の偏差を算出する電流減
算手段と、を備え、該偏差を用いて前記電動モータの電
流を制御するように構成された位置決めステージの制御
装置において、前記電流検出手段の出力から低周波成分
を除去する高域通過フィルタ手段を備え、該高域通過フ
ィルタ手段の出力が前記実測電流値として前記電流減算
手段に入力されるよう構成されていることを特徴とす
る。
【0007】高域通過フィルタ手段の折点周波数は、位
置決めステージを所要動作速度範囲で動作させた場合の
電流変動周波数の最低値より低い周波数となるように設
定されていることが望ましい。
【0008】また、前記電流検出手段の出力を高域通過
フィルタ手段をバイパスして電流減算手段に導く回路
と、前記電流検出手段の出力を高域通過フィルタ手段に
導くか、前記回路を経て電流減算手段に導くかを切り換
える切り換え手段を設けてもよい。この場合、前記切り
換え手段は、位置決めステージの動作モードが、位置決
めステージの振動を避けたい動作モードのとき前記電流
検出手段の出力を高域通過フィルタ手段に導き、位置決
めステージの振動を避けなくてもよい動作モードのとき
前記電流検出手段の出力を高域通過フィルタ手段をバイ
パスして電流減算手段に導くように切り換えられるよう
構成されていることが望ましい。
【0009】上述のような位置決めステージの制御装置
は、例えば、描画対象物が載置され、電動モータで移動
される位置決めステージと、この位置決めステージの位
置を制御する制御装置と、前記描画対象物に電子線を照
射して描画する電子銃と、を含んでなる電子線描画装置
や、検査対象の半導体ウェハが載置され、電動モータで
移動される位置決めステージと、前記位置決めステージ
の位置を制御する制御装置と、を含んでなる半導体検査
装置において、位置決めステージの位置を制御する制御
装置として用いることが効果的である。
【0010】上記課題はさらに、位置決めステージを駆
動してその位置を移動させるサーボモータと、マニュア
ル動作時のオペレータの指示、又は上位の制御装置から
のステージ制御信号により前記位置決めステージの動作
モードを設定し、さらにその動作モードで位置決めステ
ージが動作するための位置決め指令値と速度の上限値を
生成する位置決め制御装置と、前記位置決め制御装置か
らの位置決め指令値と前記サーボモータに具備したセン
サで検出した位置情報の偏差を算出する位置減算器と、
前記位置減算器の出力と前記位置決め制御装置から出力
される速度の上限値に基づいて位置決めステージの動作
時の速度指令値を生成する速度指令値生成部と、前記速
度指令値生成部からの速度指令値と前記サーボモータに
具備したセンサで検出した位置決めステージの速度情報
の偏差を算出する速度減算器と、前記速度減算器の出力
に基づいてサ―ボモータの許容電流以下でサーボモータ
を動作させるための電流指令値を生成する電流指令値生
成部と、前記サーボモータに流れる電流の値を検出し、
電流信号として出力する電流検出部と、前記電流検出部
から出力される電流信号の低周波成分を除去する高域通
過フィルタと、高域通過フィルタを通過して低周波成分
を除去された電流信号を所定の大きさに増幅する増幅器
と、前記電流指令値生成部の出力と前記増幅器の出力の
偏差を算出する電流減算器と、前記電流減算器の出力に
基づいてサーボモータに流す電流を制御する電力変換部
と、を具備してなり、前記高域通過フィルタ手段の折点
周波数は、位置決めステージを所要動作速度範囲で動作
させた場合の電流変動周波数の最低値より低い周波数と
なるように設定されている位置決めステージの制御装置
によっても達成される。
【0011】位置決めステージの制御装置をこのように
構成し、特に位置決めステージの振動を抑制して動作さ
せたい場合には、ステージ動作時のサーボモータに流れ
る電流を検出して高域通過フィルタと増幅装置を介して
フィードバックすることで、負荷変動等による電流の変
動が抑制され、その結果位置決めステージの振動が抑制
されて安定に動作させることができる。
【0012】
【発明の実施の形態】本発明の第1の実施の形態である
位置決めステージの制御装置を図1を参照して説明す
る。図1は本実施の形態の構成を示すブロック図であ
る。
【0013】図1に示す位置決めステージの制御装置
は、位置決め制御装置1と、位置決め制御装置1に接続
された位置減算器5と、位置減算器5に接続された速度
指令値生成部6と、速度指令値生成部6に接続された速
度減算器7と、速度減算器7に接続された電流指令値出
力手段である電流指令値生成部8と、電流指令値生成部
8に接続された電流減算手段である電流減算器10と、
電流減算器10に接続された電力変換部11と、電力変
換部11に接続された直流のサーボモータ3と、サーボ
モータ3に結合された位置決めステージ2と、サーボモ
ータ3に接続された電流検出手段である電流検出部9
と、サーボモータ3に具備した位置センサ4と、電流検
出部9に接続された切り換え手段である切り換え器14
と、切り換え器14に接続された高域通過フィルタ手段
である高域通過フィルタ12及び増幅装置13と、を含
んでいる。
【0014】位置決め制御装置1は、マニュアル動作時
のオペレータの指示、又は上位の制御装置からのステー
ジ制御信号により前記位置決めステージの動作モードを
設定し、さらにその動作モードで位置決めステージが動
作するための位置決め指令値と速度の上限値を生成す
る。そして位置決め指令値を位置減算器5に出力すると
ともに、速度の上限値の情報を速度指令値生成部6に出
力する。
【0015】サーボモータ3は、位置決めステージ2を
移動させるアクチュエータとして動作する。
【0016】位置センサ4は、位置決めステージの位置
情報を検出して位置減算器5に出力する。この位置情報
を微分して得られる速度情報が速度減算器7に入力され
るようになっている。
【0017】位置減算器5は、位置決め制御装置1から
出力される位置決め指令値から、サーボモータ3に具備
した位置センサ4で検出した位置情報を減算して位置偏
差として出力する。
【0018】速度指令値生成部6は、前記位置減算器5
の出力(位置偏差)と位置決め制御装置1から出力され
る速度の上限値の情報を入力として、サーボモータ3で
駆動される位置決めステージ2の動作時の速度指令値を
生成する。
【0019】速度減算器7は、前記速度指令値生成部6
から出力される速度指令値から、サーボモータ3に具備
した前記位置センサ4で検出した位置決めステージの位
置情報を微分して得られる速度情報を減算し、速度偏差
として出力する。
【0020】電流指令値生成部8は、前記速度減算器7
の出力(速度偏差)を入力として、サーボモータ3の許
容電流値以下でサーボモータ3を動作させるための電流
指令値を生成、出力する。
【0021】電流検出部9は、サーボモータ3に流れる
電流を検出し、電流信号として切り換え器14に出力す
る。
【0022】切り換え器14は、オペレータの指示また
は上位の制御装置から位置決め制御装置1を介して送ら
れる制御信号により、電流検出部9で検出した電流信号
を高域通過フィルタ12と増幅装置13を介して電流減
算器10に出力するか、増幅装置13のみを介して電流
減算器10に出力するかを切り換える。高域通過フィル
タ12は、電流検出部9で検出した電流の低周波成分を
カットする。増幅装置13は、高域通過フィルタ12に
よりフィルタ処理された電流信号または、高域通過フィ
ルタで処理されていない電流信号を所定の大きさに増幅
し、電流減算器10に出力する。
【0023】電流減算器10は、前記電流指令値生成部
8の出力(電流指令値)から、電流検出部9で検出さ
れ、増幅装置13で増幅されたサーボモータ3の電流信
号を減算して電力変換部11に出力し、電力変換部11
は、電流減算器10の出力を入力として、サーボモータ
3に流す駆動電流を制御する。
【0024】次に位置決めステージの制御装置の動作に
ついて説明する。位置決め制御装置1は、先に述べたよ
うに、マニュアル動作時はオペレータの指示で、そうで
ない場合は上位の制御装置からのステージ制御信号によ
り位置決めステージの動作モードを設定し、その動作モ
ードで位置決めステージ2が動作するための位置決め指
令値を位置減算器5に対して出力する。位置決め制御装
置1は、また、その動作モードで位置決めステージ2が
動作するときの速度の上限値を生成し、速度指令値生成
部6に出力する。
【0025】位置減算器5は位置決め制御装置1からの
出力から位置決めステージ2を駆動するサーボモータ3
に具備した位置センサ4の位置情報を減算し、位置偏差
として速度指令値生成部6に出力する。速度指令値生成
部6は、位置減算器5の出力である位置偏差と位置決め
制御装置1から得た速度の上限値情報に基づいて速度指
令値を生成し、速度減算器7に出力する。速度減算器7
は、速度指令値生成部6の出力である速度指令値と位置
決めステージ2を駆動するサーボモータ3に具備した位
置センサ4の位置情報を微分した速度情報の偏差を算出
し、速度偏差として電流指令値生成部8に出力する。
【0026】電流指令値生成部8は、速度減算器7の出
力である速度偏差を入力として電流指令値を生成し、電
流減算器10に出力する。電流減算器10は、電流指令
値生成部8の出力と切り換え器14で選択された電流検
出部9で検出したサーボモータ3の電流値の偏差を算出
し、電力変換部11に出力する。電力変換部11は、電
流減算器10の出力に比例した電流をサーボモータ3に
出力する。つまり、電力変換部11は、電流指令値と電
流検出部9で検出された実際の電流値の偏差が正であれ
ば、偏差に比例した量だけサーボモータに流す電流を増
加させ、前記偏差が負であれば、偏差に比例した量だけ
サーボモータに流す電流を減少させる。
【0027】なお、本実施の形態では、位置・速度・電
流の三つのフィードバックループが形成されている。位
置決めのため指令される位置(位置決め指令値)と位置
センサ4で検出される実際位置との差を検知し、その差
を零にするようにサーボモータを動かす(位置のフィー
ドバック)が、その際、指令された位置までの移動距離
が大きい時は高速で移動し、指令された位置に近づいた
ら移動速度を低下させ低速で移動するように、サーボモ
ータが駆動される。このように、移動距離に応じて移動
速度が設定されるから、指定された移動速度で移動する
ように速度のフィードバックループが設けられている。
速度のフィードバックに基づいてサーボモータへの電流
指令値が生成され、サーボモータの応答性を高めるため
に、電流のフィードバックループが設けられている。
【0028】電流検出部9は、電流フィードバックのた
めに、サーボモータ3に流れる電流を検出し、切り換え
器14に出力する。
【0029】切り換え器14は、位置決めステージの動
作モードに応じて位置決め制御装置1から出力される制
御信号より切り換えられる。すなわち、振動を抑制した
い動作モードの場合には電流検出部で検出した電流信号
を高域通過フィルタ12、増幅装置13を介して電流減
算器10に出力するよう切り換えられ、振動抑制を考慮
しなくてよい動作モードの場合は、電流検出部で検出し
た電流信号を増幅装置13のみを介して電流減算器10
に出力するよう切り換えられる。ここでいう振動を抑制
したい動作モードは、例えば電子線描画装置における連
続描画動作のように、半導体ウェハを移動させながら電
子線で半導体ウェハに描画する動作モードや、ステップ
アンドリピート動作、アライメントマーク検出動作など
の動作モードである。
【0030】高域通過フィルタ12は、切り換え器14
を介して入力される電流信号の低周波成分を除去し、増
幅装置13で所定の増幅率により増幅し、電流減算器1
0に出力する。高域通過フィルタ12の折点周波数は、
予め位置決めステージを実際に使用する場合の条件で動
作させ、そのときのサーボモータ3の電流を測定し、そ
の電流信号の周波数成分の主なもののうち一番低い周波
数が通過するように決定する。実際に位置決めステージ
が動作したときに、例えば位置決めステージの固有振動
数で電流信号が振動する等予めわかっている場合は、そ
の固有振動数の周波数が通過するように高域通過フィル
タ12の折点周波数を決定する。
【0031】以上説明したように本実施の形態によれ
ば、電流検出部で検出した電流信号を高域通過フィルタ
12、増幅装置13を介して電流減算器10にフィード
バックすることで、電流波形の振動を抑制することがで
き、その結果電流波形を振動させる原因となった負荷変
動等の外乱の影響を抑制することができる。
【0032】次に、本発明の第2の実施の形態について
図2を用いて説明する。図2は本実施の形態である位置
決めステージの制御装置の構成を示すブロック図であ
る。
【0033】本実施の形態は、パソコン15とパソコン
15上で動作するソフトウェアによって位置決め制御装
置1、位置減算器5、速度指令値生成部6、速度減算器
7、電流指令値生成部8、電流減算器10、高域通過フ
ィルタ12、増幅装置13、切り換え器14の機能を実
現し、電流検出部9の出力や、位置センサ4の出力は、
インターフェース16を介してパソコンに取り込む構成
としたものである。
【0034】本実施例によれば、位置フィードバックル
ープ、速度フィードバックループ、電流検出部の電流信
号のフィルタ処理等を全てパソコン15内の演算で実現
することが出来るため、例えば速度指令値生成部6のゲ
イン変更や高域通過フィルタ12の折点周波数の変更等
がパソコン15内のプログラム変更や定数の変更で容易
に変更可能となるため、制御対象の位置決めステージの
変更等に容易に対応可能となる。
【0035】次に、本発明の第3の実施の形態について
図3を用いて説明する。図3に示す第3の実施の形態が
図2に示す実施の形態と異なるのは、位置センサとして
サーボモータ3に結合したエンコーダ4aを用い、速度
情報を得るのに位置センサ出力を微分するのではなく、
サーボモータ3に結合したタコジェネレータ4bを用い
て速度情報を得るようにした点である。他の構成は前記
第2の実施の形態と同じであるので説明を省略する。タ
コジェネレータ4bから出力される速度情報は、インタ
ーフェース16を介してパソコンに取り込まれる。
【0036】本実施の形態によっても、前記第2の実施
の形態と同様の効果が得られる。なお、エンコーダ4a
とタコジェネレータ4bの組み合わせに代えてエンコー
ダとF/Vコンバータの組み合わせ等様々考えられる
が、どの構成でも同様の効果が得られる。
【0037】次に、本発明の第4の実施の形態である位
置決めステージの制御装置を半導体製造装置の一つであ
る電子線描画装置に適用した場合について図4を用いて
説明する。図4に示す第4の実施の形態である電子線描
画装置は、電子線描画装置本体と、電子線描画装置本体
に接続された制御系と、全体の制御を統括する統括制御
装置17と、統括制御装置17と前記制御系を接続する
インタフェース18と、を含んで構成されている。
【0038】電子線描画装置本体は、内部を真空にする
ことが可能な試料室28と、試料室28内部に配置され
てウエハ19が搭載される位置決めステージ2と、位置
決めステージ2にウエハ19を搭載するローダ30と、
ウエハ19上に回路パターンを描画するための電子銃2
0と、電子銃20から照射される電子線を集めるレンズ
22と、レンズにより集められた電子線の方向を変える
偏向器24と、ウエハ上のアライメントマークからの反
射を測定する反射電子検出器26と、を含んで構成され
ている。
【0039】制御系は、電子銃20のための高圧電源2
1と、レンズ22を制御するレンズ制御系23と、偏向
器24を制御する偏向制御系25と、反射電子検出器2
6の出力信号を処理する信号処理系27と、試料室28
内を真空にするためのポンプ等の制御を行う排気制御系
29と、位置決めステージにウエハを搭載するローダ3
0を制御するローダ制御系31と、位置決めステージ2
の位置を制御するステージ制御系32と、統括制御装置
17の回路パターンデータ及び信号処理系27の信号に
基づいてレンズ制御系23、偏向制御系25、ステージ
制御系32の制御データを作成するデータ制御系33
と、で構成されている。ステージ制御系32は、前記図
1に示す構成としてある。
【0040】また、図4には示していないが、電子線描
画装置は、マイクロメートル単位以下の精度を要求され
るため、位置決めステージの位置センサとして位置決め
ステージの位置をナノメートル単位で測定可能なレーザ
干渉計が用いられている。
【0041】電子線描画装置に用いられる位置決めステ
ージの動作には、アライメントマーク検出動作、ステッ
プアンドリピート動作、連続描画動作等がある。
【0042】アライメントマーク検出動作は、位置決め
ステージ2の上にウエハ19を搭載した後で、ウエハ1
9上に予め設けられた複数のアライメントマーク近傍に
電子線を照射し、その反射電子を検出することでアライ
メントマーク位置を精度良く検出し、回路パターンの描
画データを補正するために行う動作である。この動作時
には、位置決めステージは移動、停止を繰り返す。
【0043】ステップアンドリピート動作は、電子線描
画装置の描画領域を変更し、描画する動作である。通
常、電子線描画装置は、高速に電子線を偏向しながら描
画するため、広い領域を一度に描画することができず、
非常に狭い領域を描画し、その領域の描画終了時には位
置決めステージを動作させ、描画領域を変更してから次
の描画を行う操作を繰り返す。この動作のときにも位置
決めステージは移動、停止を繰り返し、停止している時
に描画を行う。
【0044】このような移動停止を繰り返す位置決めス
テージの動作時には、装置の性能向上のために、ステー
ジ振動が無いスムーズな移動開始動作、振動の無い停止
が要求される。
【0045】本実施の形態によれば、アライメントマー
ク検出動作や描画位置までの移動、停止、停止後の描画
を繰り返すステップアンドリピート動作でも、サーボモ
ータの電流信号を高域通過フィルタを介してフィードバ
ックすることで動作開始、停止時の振動を防止すること
ができ、さらに、振動なく速やかに停止可能なため停止
してから描画までの無駄時間を削減することが可能とな
り、スループットの向上が可能となる。
【0046】連続描画動作は、ステップアンドリピート
動作における描画領域更新のための移動無駄時間を削減
するために、位置決めステージを移動させながら描画を
行う動作である。位置決めステージの移動速度は、描画
密度により変更し、スループットの向上を図っている。
このような連続描画動作時には、外乱等による予測でき
ない位置決めステージの速度変動が描画性能に影響を及
ぼす。
【0047】本実施の形態によれば、連続描画動作する
時にサーボモータ3の電流検出部9から出力される電流
信号を高域通過フィルタを介してフィードバックするこ
とで、モータ電流の変動を抑制することができる。その
結果、位置決めステージの外乱による速度変動を抑制し
て安定に動作させることが可能となり、描画精度が向上
する。
【0048】次に、本発明の第5の実施の形態を図5を
参照して説明する。本実施の形態は、本発明に係る位置
決めステージの制御装置を半導体検査装置の一つである
半導体検査SEM装置に適用した例である。図5は、本
実施の形態である半導体検査SEM装置の要部構成を示
すブロック図である。
【0049】図示の半導体検査SEM装置は、半導体検
査SEM装置本体と、検査装置のマンマシンインタフェ
ースと検査装置全体の管理を行うシステム制御装置34
と、半導体検査SEM装置本体各部の制御を行なう制御
系と、を含んで構成されている。
【0050】半導体検査SEM装置本体は、ウエハ19
が搭載される位置決めステージ2と、ウエハ19に電子
ビームを照射する電子銃35と、照射される電子ビーム
を偏向させる偏向器37と、ウェハに照射された電子ビ
ームからの2次電子を取り込み、2次電子量を濃淡デジ
タル情報に変換し、画像処理系40へ送る検出器39
と、を含んで構成されている。
【0051】制御系は、各種電源やコイルの電流の制御
を行い、電子銃35を介して電子ビームの制御を行う電
子光学系36と、電子ビームを偏向し、ウエハ上でスキ
ャニングするよう偏向器37を制御する偏向制御系38
と、検出器39の信号を処理し、ウェハ19上に繰り返
し形成された同パターン画像間の比較検査によってウェ
ハ上に形成された欠陥と欠陥位置等の検出を行う画像処
理系40と、電子ビームスキャン中は一定速度で位置決
めステージ2を移動するようサーボモータ3を制御する
ステージ制御系41と、により構成されている。上記各
制御系は、システム制御装置34に接続され、統括的に
制御される。ステージ制御系41は前記図1に示す構成
としてある。
【0052】半導体検査SEM装置の検査動作では、位
置決めステージは、一定速度で動作する。このとき、検
査対象領域に電子線を当てて検出器39、画像処理系に
より画像を取得し、欠陥を検出する。一定速度で動作す
る必要がある場合に、外乱等により速度変動が生じると
検査精度の悪化につながる。本実施の形態では、一定速
度での検査動作時には、サーボモータ3の電流信号を高
域通過フィルタを介してフィードバックすることで外乱
による速度変動を抑制することが出来、検査精度の低下
を防止することができる。
【0053】以上説明したように、上記各実施の形態に
よれば、位置決めステージ2のサーボモータ3の電流信
号を高域通過フィルタを介してフィードバックすること
で、モータ電流の変動を抑制することが出来、ステージ
動作開始時や停止時の振動の抑制、ステージ動作中の外
乱による速度変動の低減を実現することが可能となり、
スループットの向上や描画精度向上の効果がある。
【0054】
【発明の効果】本発明によれば、位置決めステージに負
荷変動等の外乱が生じた場合でも、位置決めステージを
駆動する電動モータの電流値を示す電流信号を高域通過
フィルタを介してフィードバックすることで、前記電動
モータの電流変動を抑制することができ、その結果位置
決めステージを振動が少なく安定に動作させることが可
能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態である位置決めステ
ージの制御装置の要部構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態である位置決めステ
ージの制御装置の要部構成を示すブロック図である。
【図3】本発明の第3の実施の形態である位置決めステ
ージの制御装置の要部構成を示すブロック図である。
【図4】本発明の第4の実施の形態である電子線描画装
置の制御系統の概略構成を示すブロック図である。
【図5】本発明の第5の実施の形態である半導体検査S
EM装置の要部構成を示すブロック図である。
【符号の説明】 1 位置決め制御装置 2 位置決めステージ 3 サーボモータ 4 位置センサ 4a エンコーダ 4b タコジェネレータ 5 位置減算器 6 速度指令値生成部 7 速度減算器 8 電流指令値生成部 9 電流検出部 10 電流減算器 11 電力変換部 12 高域通過フィルタ 13 増幅装置 14 切り換え器 15 パソコン 16 インタフェース 17 統括制御装置 18 インタフェース 19 ウェハ 20 電子銃 21 高圧電源 22 レンズ 23 レンズ制御系 24 偏向器 25 偏向制御系 26 反射電子検出器 27 信号処理系 28 試料室 29 排気制御系 30 ローダ 31 ローダ制御系 32 ステージ制御系 33 データ制御系 34 システム制御装置 35 電子銃 36 電子光学系 37 偏向器 38 偏向制御系 39 検出器 40 画像処理系 41 ステージ制御系
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 21/68 H02P 5/00 K 5H550 H02P 5/00 H01L 21/30 503A 541C 541L (72)発明者 細田 祐司 茨城県土浦市神立町502番地 株式会社日 立製作所機械研究所内 (72)発明者 藤井 憲 茨城県ひたちなか市大字市毛882番地 株 式会社日立製作所計測器グループ内 Fターム(参考) 2H097 CA16 LA10 4M106 AA01 BA02 CA38 DB05 DJ03 DJ07 5F031 CA02 HA55 JA45 KA06 KA10 LA07 5F046 CC01 CC20 DA08 DB05 5F056 CB24 EA14 5H550 AA18 AA20 BB05 BB10 DD04 DD08 EE08 GG01 GG03 GG05 GG10 HB07 JJ03 JJ15 JJ17 JJ23 JJ26 KK06 KK08 LL03 LL06 LL12 LL35

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 位置決めステージを駆動する電動モータ
    の電流値を検出、出力する電流検出手段と、前記電動モ
    ータに対する電流指令値を出力する電流指令値出力手段
    と、前記電流指令値と前記電流検出手段で検出された実
    測電流値の偏差を算出する電流減算手段と、を備え、該
    偏差を用いて前記電動モータの電流を制御するように構
    成された位置決めステージの制御装置において、前記電
    流検出手段の出力から低周波成分を除去する高域通過フ
    ィルタ手段を備え、該高域通過フィルタ手段の出力が前
    記実測電流値として前記電流減算手段に入力されるよう
    構成されていることを特徴とした位置決めステージの制
    御装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の位置決めステージの制御
    装置において、高域通過フィルタ手段の折点周波数は、
    位置決めステージを所要動作速度範囲で動作させた場合
    の電流変動周波数の最低値より低い周波数となるように
    設定されていることを特徴とする位置決めステージの制
    御装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または2記載の位置決めステー
    ジの制御装置において、前記電流検出手段の出力を高域
    通過フィルタ手段をバイパスして電流減算手段に導く回
    路と、前記電流検出手段の出力を高域通過フィルタ手段
    に導くか、前記回路を経て電流減算手段に導くかを切り
    換える切り換え手段が設けられていることを特徴とする
    位置決めステージの制御装置。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の位置決めステージの制御
    装置において、前記切り換え手段は、位置決めステージ
    の動作モードが、位置決めステージの振動を避けたい動
    作モードのとき前記電流検出手段の出力を高域通過フィ
    ルタ手段に導き、位置決めステージの振動を避けなくて
    もよい動作モードのとき前記電流検出手段の出力を高域
    通過フィルタ手段をバイパスして電流減算手段に導くよ
    うに切り換えられるよう構成されていることを特徴とす
    る位置決めステージの制御装置。
  5. 【請求項5】 描画対象物が載置され、電動モータで移
    動される位置決めステージと、この位置決めステージの
    位置を制御する制御装置と、前記描画対象物に電子線を
    照射して描画する電子銃と、を含んでなる電子線描画装
    置において、前記制御装置は、前記請求項4記載の位置
    決めステージの制御装置であることを特徴とした電子線
    描画装置。
  6. 【請求項6】 検査対象の半導体ウェハが載置され、電
    動モータで移動される位置決めステージと、前記位置決
    めステージの位置を制御する制御装置と、を含んでなる
    半導体検査装置において、前記制御装置は、前記請求項
    4記載の位置決めステージの制御装置であることを特徴
    とした半導体検査装置。
  7. 【請求項7】 位置決めステージを駆動してその位置を
    移動させるサーボモータと、マニュアル動作時のオペレ
    ータの指示、又は上位の制御装置からのステージ制御信
    号により前記位置決めステージの動作モードを設定し、
    さらにその動作モードで位置決めステージが動作するた
    めの位置決め指令値と速度の上限値を生成する位置決め
    制御装置と、前記位置決め制御装置からの位置決め指令
    値と前記サーボモータに具備したセンサで検出した位置
    情報の偏差を算出する位置減算器と、前記位置減算器の
    出力と前記位置決め制御装置から出力される速度の上限
    値に基づいて位置決めステージの動作時の速度指令値を
    生成する速度指令値生成部と、前記速度指令値生成部か
    らの速度指令値と前記サーボモータに具備したセンサで
    検出した位置決めステージの速度情報の偏差を算出する
    速度減算器と、前記速度減算器の出力に基づいてサ―ボ
    モータの許容電流以下でサーボモータを動作させるため
    の電流指令値を生成する電流指令値生成部と、前記サー
    ボモータに流れる電流の値を検出し、電流信号として出
    力する電流検出部と、前記電流検出部から出力される電
    流信号の低周波成分を除去する高域通過フィルタと、高
    域通過フィルタを通過して低周波成分を除去された電流
    信号を所定の大きさに増幅する増幅器と、前記電流指令
    値生成部の出力と前記増幅器の出力の偏差を算出する電
    流減算器と、前記電流減算器の出力に基づいてサーボモ
    ータに流す電流を制御する電力変換部と、を具備してな
    り、前記高域通過フィルタ手段の折点周波数は、位置決
    めステージを所要動作速度範囲で動作させた場合の電流
    変動周波数の最低値より低い周波数となるように設定さ
    れていることを特徴とする位置決めステージの制御装
    置。
JP2000322040A 2000-10-23 2000-10-23 位置決めステージの制御装置 Pending JP2002126964A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000322040A JP2002126964A (ja) 2000-10-23 2000-10-23 位置決めステージの制御装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000322040A JP2002126964A (ja) 2000-10-23 2000-10-23 位置決めステージの制御装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2002126964A true JP2002126964A (ja) 2002-05-08

Family

ID=18799983

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000322040A Pending JP2002126964A (ja) 2000-10-23 2000-10-23 位置決めステージの制御装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2002126964A (ja)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007081078A (ja) * 2005-09-14 2007-03-29 Nikon Corp 制御システム及び露光装置
JP2007080660A (ja) * 2005-09-14 2007-03-29 Hitachi High-Technologies Corp 電子顕微鏡装置および同装置における試料ステージの位置決め制御方法
JP2008130361A (ja) * 2006-11-21 2008-06-05 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置の撮像方法
JP2009152604A (ja) * 2007-12-19 2009-07-09 Asml Netherlands Bv 位置決めデバイスのためのコントローラ、位置決めデバイスを制御する方法、位置決めデバイスおよび位置決めデバイスを備えるリソグラフィ装置
JP2010178586A (ja) * 2009-02-02 2010-08-12 Asmo Co Ltd モータ制御装置及びモータ制御方法
WO2012014371A1 (ja) * 2010-07-28 2012-02-02 株式会社 日立ハイテクノロジーズ ステージ装置
WO2014112512A1 (ja) * 2013-01-15 2014-07-24 株式会社アルバック アラインメント装置、及びアラインメント方法
JP2014138009A (ja) * 2013-01-15 2014-07-28 Ulvac Japan Ltd アラインメント装置、及びアラインメント方法
JP2015142390A (ja) * 2014-01-27 2015-08-03 ヤマハ発動機株式会社 モータ制御装置および同装置における補正データ作成方法
WO2017099087A1 (ja) * 2015-12-07 2017-06-15 株式会社ニコン 露光装置及び露光装置の制御方法、並びにデバイス製造方法
US9952420B2 (en) 2013-02-07 2018-04-24 Sony Corporation Image obtaining apparatus and stage control method
WO2019184992A1 (zh) * 2018-03-30 2019-10-03 上海微电子装备(集团)股份有限公司 运动控制装置、运动控制方法、掩模台系统和光刻机

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007081078A (ja) * 2005-09-14 2007-03-29 Nikon Corp 制御システム及び露光装置
JP2007080660A (ja) * 2005-09-14 2007-03-29 Hitachi High-Technologies Corp 電子顕微鏡装置および同装置における試料ステージの位置決め制御方法
US7435974B2 (en) 2005-09-14 2008-10-14 Hitachi High-Technologies Corporation Electron microscope and specimen stage positioning control method for the electron microscope
JP2008130361A (ja) * 2006-11-21 2008-06-05 Hitachi High-Technologies Corp 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置の撮像方法
JP2009152604A (ja) * 2007-12-19 2009-07-09 Asml Netherlands Bv 位置決めデバイスのためのコントローラ、位置決めデバイスを制御する方法、位置決めデバイスおよび位置決めデバイスを備えるリソグラフィ装置
JP2010178586A (ja) * 2009-02-02 2010-08-12 Asmo Co Ltd モータ制御装置及びモータ制御方法
WO2012014371A1 (ja) * 2010-07-28 2012-02-02 株式会社 日立ハイテクノロジーズ ステージ装置
JP2012028281A (ja) * 2010-07-28 2012-02-09 Hitachi High-Technologies Corp ステージ装置
WO2014112512A1 (ja) * 2013-01-15 2014-07-24 株式会社アルバック アラインメント装置、及びアラインメント方法
JP2014138009A (ja) * 2013-01-15 2014-07-28 Ulvac Japan Ltd アラインメント装置、及びアラインメント方法
CN104904002A (zh) * 2013-01-15 2015-09-09 株式会社爱发科 对准装置和对准方法
KR101739672B1 (ko) 2013-01-15 2017-05-24 가부시키가이샤 알박 얼라이먼트 장치 및 얼라이먼트 방법
CN104904002B (zh) * 2013-01-15 2017-08-18 株式会社爱发科 对准装置和对准方法
US9952420B2 (en) 2013-02-07 2018-04-24 Sony Corporation Image obtaining apparatus and stage control method
JP2015142390A (ja) * 2014-01-27 2015-08-03 ヤマハ発動機株式会社 モータ制御装置および同装置における補正データ作成方法
WO2017099087A1 (ja) * 2015-12-07 2017-06-15 株式会社ニコン 露光装置及び露光装置の制御方法、並びにデバイス製造方法
JPWO2017099087A1 (ja) * 2015-12-07 2018-09-20 株式会社ニコン 露光装置及び露光装置の制御方法、並びにデバイス製造方法
WO2019184992A1 (zh) * 2018-03-30 2019-10-03 上海微电子装备(集团)股份有限公司 运动控制装置、运动控制方法、掩模台系统和光刻机

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2002126964A (ja) 位置決めステージの制御装置
US7602086B2 (en) Driving device, exposure apparatus using the same, and device manufacturing method
JP4927506B2 (ja) 荷電粒子線装置及び荷電粒子線装置の撮像方法
JPWO2004008624A1 (ja) サーボ制御装置のゲイン調整方法
JP2012028281A (ja) ステージ装置
US7130026B2 (en) Stage control method, a stage control system, and a semiconductor manufacturing equipment
JP3946046B2 (ja) 機械の制振制御方法および制振制御型機械
JP4279769B2 (ja) レーザ加工装置
JP4688022B2 (ja) 位置決め制御装置
US10796881B2 (en) Method for processing an object
US11664185B2 (en) Vibration damping system for charged particle beam apparatus
JP2011227768A (ja) ステージ装置,それを用いた荷電粒子線装置及び縮小投影露光装置,およびステージ制御方法
JP3466985B2 (ja) 荷電ビーム露光装置及びその制御方法
JP2003051435A (ja) 電子線描画装置および電子顕微鏡
JP2007293796A (ja) 移動体の位置決め制御装置及びレーザ加工装置
JP2005039954A (ja) 電動機制御装置
JP2845595B2 (ja) 描画装置用移動ステージ
JP2003245785A (ja) ビーム加工方法及び装置
JPH10110776A (ja) 能動的除振装置
JP5344947B2 (ja) 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法
KR102709184B1 (ko) 하전 입자선 장치의 제진 시스템
JP3169143B2 (ja) 位置決め装置
CN113904609A (zh) 载置台装置、图案形成装置以及物品的制造方法
JP2512530B2 (ja) 電子ビ―ム露光装置及び電子ビ―ム露光方法
JPH01216530A (ja) 描画装置用移動ステージ