JP3169143B2 - 位置決め装置 - Google Patents
位置決め装置Info
- Publication number
- JP3169143B2 JP3169143B2 JP6100692A JP6100692A JP3169143B2 JP 3169143 B2 JP3169143 B2 JP 3169143B2 JP 6100692 A JP6100692 A JP 6100692A JP 6100692 A JP6100692 A JP 6100692A JP 3169143 B2 JP3169143 B2 JP 3169143B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stage
- control
- amount
- disturbance
- calculating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70691—Handling of masks or workpieces
- G03F7/70716—Stages
- G03F7/70725—Stages control
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Control Of Position Or Direction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体露光装置や測定
装置,光学部品の加工装置,形状測定装置等に用いられ
る高速,高精度の位置決め装置に関するものである。
装置,光学部品の加工装置,形状測定装置等に用いられ
る高速,高精度の位置決め装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体製造においては、パターン線幅は
細くなる一方、ウエハのサイズはますます大きくなり、
それに用いられる位置決めには高い位置合せ精度と長ス
トロークの高速動作が同時に要求される。
細くなる一方、ウエハのサイズはますます大きくなり、
それに用いられる位置決めには高い位置合せ精度と長ス
トロークの高速動作が同時に要求される。
【0003】従来、振動系を含む移動体の制御方法とし
て、図5に示すようなモータ速度とステージ速度との速
度偏差をフィードバックする方法(特開昭55−347
16号公報参照)が提案されている。図5で1はモー
タ、2は送りねじ、3はステージ、4は前記ステージ3
の速度検出器、5はモータ角度および速度検出器、6は
目標位置生成部、7は位置決め制御回路である。このほ
かにモータの回転角度とステージの位置偏差とをフィー
ドバックする方法が提案されている。
て、図5に示すようなモータ速度とステージ速度との速
度偏差をフィードバックする方法(特開昭55−347
16号公報参照)が提案されている。図5で1はモー
タ、2は送りねじ、3はステージ、4は前記ステージ3
の速度検出器、5はモータ角度および速度検出器、6は
目標位置生成部、7は位置決め制御回路である。このほ
かにモータの回転角度とステージの位置偏差とをフィー
ドバックする方法が提案されている。
【0004】さらに、目標値に対する応答性を高める方
法として、図6,図7のような状態フィードバックを用
いた制御方法(特開昭61−58013号公報参照)が
ある。図6で、1〜7は図5と同じものであり、図7は
図6中の位置決め制御回路7の詳細を示すものである。
図7において8は位置制御部、9は振動制御部、10,
11は検出遅れ要素である。これは出力レギュレータに
よりフィードバックゲインを決定する手法を拡張したも
のであり、振動を抑制し目標値に対する応答を得ること
に関しては優れた制御特性を示す。なお、WM はモータ
1の回転速度、θM はモータ1の回転角度、WS はステ
ージ3の速度、θS はステージ3の位置偏差を示す。
法として、図6,図7のような状態フィードバックを用
いた制御方法(特開昭61−58013号公報参照)が
ある。図6で、1〜7は図5と同じものであり、図7は
図6中の位置決め制御回路7の詳細を示すものである。
図7において8は位置制御部、9は振動制御部、10,
11は検出遅れ要素である。これは出力レギュレータに
よりフィードバックゲインを決定する手法を拡張したも
のであり、振動を抑制し目標値に対する応答を得ること
に関しては優れた制御特性を示す。なお、WM はモータ
1の回転速度、θM はモータ1の回転角度、WS はステ
ージ3の速度、θS はステージ3の位置偏差を示す。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】これらの制御方法は、
いずれも目標値に対する応答性のみを追求した制御手法
であり、モータ1のベアリングやブラシによる非線形性
やステージの設置されている定盤の残留振動等の外乱に
対しては考慮されていない。このために、外乱が入るよ
うな状態での位置決め精度は極端に悪くなり、時には整
定しきれずに暴走してしまうことになる。
いずれも目標値に対する応答性のみを追求した制御手法
であり、モータ1のベアリングやブラシによる非線形性
やステージの設置されている定盤の残留振動等の外乱に
対しては考慮されていない。このために、外乱が入るよ
うな状態での位置決め精度は極端に悪くなり、時には整
定しきれずに暴走してしまうことになる。
【0006】例えば、最も簡単なPID制御を用いて位
置決めをする例を用いて説明する。図8で制御部はPI
Dのみを制御要素として位置決めを行う。dは外乱、F
1,Gpは伝達関数を示す。仮に、制御対象を二次の振
動項を持つ系とする。すなわち、制御対象Gpを、
置決めをする例を用いて説明する。図8で制御部はPI
Dのみを制御要素として位置決めを行う。dは外乱、F
1,Gpは伝達関数を示す。仮に、制御対象を二次の振
動項を持つ系とする。すなわち、制御対象Gpを、
【0007】
【数1】 ここで、Sはラプラス変換子、ωは共振周波数、ζはダ
ンピング係数、Kpは制御対象ゲインである。これに対
して、フィードバック要素F1をPIDで構成して制御
する。すなわち、
ンピング係数、Kpは制御対象ゲインである。これに対
して、フィードバック要素F1をPIDで構成して制御
する。すなわち、
【0008】
【数2】 ここで、Sはラプラス変換子、Kd,Kp,Kiはそれ
ぞれ微分ゲイン,比例ゲイン,積分ゲインを表わす係数
である。この時の目標値からステージ位置までの伝達関
数は、
ぞれ微分ゲイン,比例ゲイン,積分ゲインを表わす係数
である。この時の目標値からステージ位置までの伝達関
数は、
【0009】
【数3】 これを最も応答性よく制御するパラメータKp,Ki,
Kdを決めた時のステップ応答の例を図9の曲線aに示
す。ところが、この時の外乱特性を調べると非常に不安
定であることがわかる。すなわち、外乱から制御出力ま
での伝達関数は
Kdを決めた時のステップ応答の例を図9の曲線aに示
す。ところが、この時の外乱特性を調べると非常に不安
定であることがわかる。すなわち、外乱から制御出力ま
での伝達関数は
【0010】
【数4】 この時、ステップ状の外乱が加わったときの応答を示し
たのが図9の曲線bである。非常に振動的で整定時間が
かかる。
たのが図9の曲線bである。非常に振動的で整定時間が
かかる。
【0011】このように、一巡伝達関数内に直列に制御
要素を設けて制御する手法では、目標値に対して応答性
をよくすると外乱に対しては不安定となり、逆に外乱に
対して安定性を確保しようとすると、応答性が悪くな
る。すなわち、目標値応答性と外乱安定性はトレードオ
フの関係となる。このため上記の系においては、両者の
性質を適度に達成するパラメータを用いて制御するのが
普通である。このような外乱に対する不安定性は空気静
圧ねじや空気静圧案内等の非接触の低剛性機構を用いた
場合には、特に顕著に現われ、これに対する対策が不可
欠となる。
要素を設けて制御する手法では、目標値に対して応答性
をよくすると外乱に対しては不安定となり、逆に外乱に
対して安定性を確保しようとすると、応答性が悪くな
る。すなわち、目標値応答性と外乱安定性はトレードオ
フの関係となる。このため上記の系においては、両者の
性質を適度に達成するパラメータを用いて制御するのが
普通である。このような外乱に対する不安定性は空気静
圧ねじや空気静圧案内等の非接触の低剛性機構を用いた
場合には、特に顕著に現われ、これに対する対策が不可
欠となる。
【0012】本発明は、こうした外乱の影響を抑えなが
ら、目標値の追従性をも確保する位置決め装置を提供す
ることを目的とするものである。
ら、目標値の追従性をも確保する位置決め装置を提供す
ることを目的とするものである。
【0013】
【0014】
【課題を解決するための手段】 上記の課題を解決する手
段は、一巡伝達関数内のPID制御要素のほかに検出さ
れたステージ検出位置に基づいた制御量をフィードバッ
クする制御要素で行うことである。すなわち、ステージ
の位置検出器で検出されたステージ検出位置の1階から
3階までの微分を行ないこの量に比例した制御量を、一
巡伝達関数で定められた制御量にフィードバックして減
ずることによりステージを制御するものである。
段は、一巡伝達関数内のPID制御要素のほかに検出さ
れたステージ検出位置に基づいた制御量をフィードバッ
クする制御要素で行うことである。すなわち、ステージ
の位置検出器で検出されたステージ検出位置の1階から
3階までの微分を行ないこの量に比例した制御量を、一
巡伝達関数で定められた制御量にフィードバックして減
ずることによりステージを制御するものである。
【0015】
【作用】本発明においては、系のブロック図は参考例と
して図2のように書かれる。外乱から制御出力までの伝
達関数は、
して図2のように書かれる。外乱から制御出力までの伝
達関数は、
【0016】
【数5】 外乱特性は、F2に依存せずF1によってのみ制御でき
ることがわかる。一方、目標値から制御出力までの伝達
関数は、
ることがわかる。一方、目標値から制御出力までの伝達
関数は、
【0017】
【数6】 で書かれる。分母にはF2が含まれず安定性にはF1だ
けが関与する。つまり、F2を変化させても外乱安定性
には影響がないことを示している。
けが関与する。つまり、F2を変化させても外乱安定性
には影響がないことを示している。
【0018】すなわち、まず、外乱安定性を一巡伝達関
数内のフィードバック要素F1で確保しておき、フィー
ドフォワード要素F2で目標値応答性を確保するように
パラメータを決定すれば、両者を同時に達成する制御系
を得ることができる。また、同様の効果は、制御部を図
3のように検出位置を直接フィードバックしても得られ
る。この場合、外乱から制御対象の出力までの伝達関数
と目標値から出力までの伝達関数はそれぞれ次のように
なる。
数内のフィードバック要素F1で確保しておき、フィー
ドフォワード要素F2で目標値応答性を確保するように
パラメータを決定すれば、両者を同時に達成する制御系
を得ることができる。また、同様の効果は、制御部を図
3のように検出位置を直接フィードバックしても得られ
る。この場合、外乱から制御対象の出力までの伝達関数
と目標値から出力までの伝達関数はそれぞれ次のように
なる。
【0019】
【数7】 Gd=Gp/(1+(F1+F3)Gp) Gr=F1・Gp/(1+(F1+F3)Gp) この場合外乱に対する安定性は、F1とF3の和で確保
しておき、その関係が一定となるようにF1を変化させ
て応答性を高めるようにパラメータを決定していく。こ
のように調整することにより、外乱安定性と目標値応答
性を同時に実現することが可能となる。
しておき、その関係が一定となるようにF1を変化させ
て応答性を高めるようにパラメータを決定していく。こ
のように調整することにより、外乱安定性と目標値応答
性を同時に実現することが可能となる。
【0020】本発明の実施例を説明する前に図1,図2
を用いて参考例を説明する。図1は空気静圧ねじを用い
た1軸ステージの例である。この図で、21はモータ、
22はねじ軸、23はナットで、空気浮上でねじ軸22
に螺合し、ねじ軸22とナット23で空気静圧ねじを構
成している。24は空気浮上スライダ、25はステー
ジ、26は位置検出器、27は位置制御部、28および
29は空気軸受である。モータ21はねじ軸22に直接
接続され、静圧空気で浮上したナット23がねじ軸22
の回転とともに移動し、空気浮上スライダ24で保持さ
れステージ25が並進移動する。ステージ25の位置は
位置検出器26により検出され、フィードバック量とし
て位置制御部27に返される。図2は位置制御部27の
構成を示した図である。6は目標位置生成部、Kp,K
i,Kdは比例,積分,微分のゲインである。また、K
f1,Kf2,Kf3は目標位置の1階,2階,3階微
分量に対するゲインである。また、Sbは減算手段、A
dは加算手段である。位置制御部27では目標位置生成
部6により生成された目標位置Xiとフィードバック量
との位置偏差を算出し、この位置偏差に対する比例量,
積分量,微分量に合わせたPID出力を算出し、これに
生成させた目標位置に対する各微分量を加え合わせ制御
出力とする。
を用いて参考例を説明する。図1は空気静圧ねじを用い
た1軸ステージの例である。この図で、21はモータ、
22はねじ軸、23はナットで、空気浮上でねじ軸22
に螺合し、ねじ軸22とナット23で空気静圧ねじを構
成している。24は空気浮上スライダ、25はステー
ジ、26は位置検出器、27は位置制御部、28および
29は空気軸受である。モータ21はねじ軸22に直接
接続され、静圧空気で浮上したナット23がねじ軸22
の回転とともに移動し、空気浮上スライダ24で保持さ
れステージ25が並進移動する。ステージ25の位置は
位置検出器26により検出され、フィードバック量とし
て位置制御部27に返される。図2は位置制御部27の
構成を示した図である。6は目標位置生成部、Kp,K
i,Kdは比例,積分,微分のゲインである。また、K
f1,Kf2,Kf3は目標位置の1階,2階,3階微
分量に対するゲインである。また、Sbは減算手段、A
dは加算手段である。位置制御部27では目標位置生成
部6により生成された目標位置Xiとフィードバック量
との位置偏差を算出し、この位置偏差に対する比例量,
積分量,微分量に合わせたPID出力を算出し、これに
生成させた目標位置に対する各微分量を加え合わせ制御
出力とする。
【0021】この系で位置決めを行なった例を図に示
す。図4の曲線aは目標値に対する応答波形で、図4の
曲線bはステップ外乱に対する応答波形である。ステッ
プ外乱に対してステージ位置がすぐに戻っていることが
分る。このように、目標値に対する応答性も外乱に対す
る安定性も同時に確保できる。
す。図4の曲線aは目標値に対する応答波形で、図4の
曲線bはステップ外乱に対する応答波形である。ステッ
プ外乱に対してステージ位置がすぐに戻っていることが
分る。このように、目標値に対する応答性も外乱に対す
る安定性も同時に確保できる。
【0022】
【実施例】 本発明の一実施例について説明する。 図3で
説明したように、ステージ3の検出位置に基づいた制御
量を別のループでフィードバックすることで、図2と同
様の効果が得られるようにしたものである。
説明したように、ステージ3の検出位置に基づいた制御
量を別のループでフィードバックすることで、図2と同
様の効果が得られるようにしたものである。
【0023】ここでは、一巡伝達関数をPIDによる例
をあげたが、制御対象がより高次の振動項を有する系の
制御において制御要素を高次の制御要素で構成した場合
にも同様の構成により、目標値追従性と外乱安定性の両
者を確保することが可能である。
をあげたが、制御対象がより高次の振動項を有する系の
制御において制御要素を高次の制御要素で構成した場合
にも同様の構成により、目標値追従性と外乱安定性の両
者を確保することが可能である。
【0024】
【発明の効果】本発明は、ステージ検出位置の1階から
3階までの微分量に比例した量のフィードバックを制御
要素として減ずることにより、目標位置に対する応答性
と外乱に対する応答性の両者を同時に確保する制御方法
であるから、次のような効果がある。
3階までの微分量に比例した量のフィードバックを制御
要素として減ずることにより、目標位置に対する応答性
と外乱に対する応答性の両者を同時に確保する制御方法
であるから、次のような効果がある。
【0025】空気静圧案内や空気静圧ねじを用いた位置
決め機構では外乱に弱いが、このような場合に、外乱に
対する安定性を確保しながら目標値に対して速い応答を
得ることができる。
決め機構では外乱に弱いが、このような場合に、外乱に
対する安定性を確保しながら目標値に対して速い応答を
得ることができる。
【0026】また、外乱の性質を特に規定するものでは
ないので、モータのベアリングやブラシによる非線形性
や案内のベアリングやスティックスリップ等の非線形性
がある場合にも同様の手法で制御すれば、外乱安定性と
目標値応答性を両立できる。
ないので、モータのベアリングやブラシによる非線形性
や案内のベアリングやスティックスリップ等の非線形性
がある場合にも同様の手法で制御すれば、外乱安定性と
目標値応答性を両立できる。
【図1】本発明の一参考例の構成を示した図である。
【図2】図1における制御部の構成を説明するためのブ
ロック図である。
ロック図である。
【図3】本発明の一実施例の構成を説明するためのブロ
ック図である。
ック図である。
【図4】図2の制御構成をとったときの目標応答性と外
乱安定性を示す図である。
乱安定性を示す図である。
【図5】従来の制御構成例を示すブロック図である。
【図6】従来の他の制御構成例を示すブロック図であ
る。
る。
【図7】図6中の位置決め制御回路の詳細を示す図であ
る。
る。
【図8】従来の制御構成例での最も簡単なPID制御の
構成例である。
構成例である。
【図9】図8における目標値応答性と外乱安定性を説明
するための図である。
するための図である。
1 モータ 2 送りねじ 3 ステージ 4 速度検出器 5 モータ角度および速度検出器 6 目標位置生成部 7 位置決め制御回路 8 位置制御部 9 振動制御部 10 検出遅れ要素 11 検出遅れ要素 21 モータ 22 ねじ軸 23 ナット 24 空気浮上スライダ 25 ステージ 26 位置検出器 27 位置制御部 28 空気軸受 29 空気軸受
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7,DB名) G01D 3/00 - 3/20 H01L 21/68
Claims (1)
- 【請求項1】 非接触ガイドで案内されたステージと、
非接触送りねじとそれを駆動するモータと、このステー
ジの位置検出器と位置決め制御部とからなる非接触ステ
ージの位置決め装置において、前記位置決め制御部を、
前記ステージの目標位置を与える目標位置生成部と、生
成された目標位置と検出されたステージ検出位置との位
置偏差を算出する手段と、該位置偏差の比例量と積分量
と微分量とを算出する第1の算出手段と、検出された該
ステージ検出位置の1階から3階までの微分量に比例し
た量を算出する第3の算出手段と、この第3の算出手段
で算出された量を前記第1の算出手段で算出された量か
ら減算する減算手段とから構成されたことを特徴とする
位置決め装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6100692A JP3169143B2 (ja) | 1992-02-18 | 1992-02-18 | 位置決め装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6100692A JP3169143B2 (ja) | 1992-02-18 | 1992-02-18 | 位置決め装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05233066A JPH05233066A (ja) | 1993-09-10 |
JP3169143B2 true JP3169143B2 (ja) | 2001-05-21 |
Family
ID=13158828
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6100692A Expired - Fee Related JP3169143B2 (ja) | 1992-02-18 | 1992-02-18 | 位置決め装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3169143B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
IT1279369B1 (it) * | 1994-08-30 | 1997-12-10 | Nuovo Pignone Spa | Sistema perfezionato di posizionamento automatico |
JP4939388B2 (ja) * | 2007-12-17 | 2012-05-23 | 三菱重工業株式会社 | フィードフォワード制御装置 |
-
1992
- 1992-02-18 JP JP6100692A patent/JP3169143B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05233066A (ja) | 1993-09-10 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3217522B2 (ja) | 精密位置決め装置 | |
US6668202B2 (en) | Position control system and velocity control system for stage driving mechanism | |
JP3739749B2 (ja) | 制御装置 | |
EP1120698A1 (en) | Position controller | |
JP2573120B2 (ja) | 同期形交流サーボモータの速度制御方法及び制御装置 | |
US20090251092A1 (en) | Position controller | |
US10126734B2 (en) | Servo control apparatus for driving plurality of motors | |
KR20060072136A (ko) | 모터 제어 장치 | |
US4986150A (en) | Micro-positioning tool post | |
JP3298069B2 (ja) | ステージの位置制御装置及び速度制御装置 | |
JP3169143B2 (ja) | 位置決め装置 | |
JP2001136767A (ja) | リニアモータの制御方法とその装置 | |
JPH07305724A (ja) | 能動静圧軸受装置 | |
JP2774327B2 (ja) | 位置決め装置 | |
JP4171192B2 (ja) | サーボ制御装置 | |
CN111566928A (zh) | 电动机的控制装置 | |
JP4329438B2 (ja) | 電動機制御装置 | |
JPH06203498A (ja) | ディスク装置のヘッド位置決め制御装置 | |
JP2774893B2 (ja) | 位置決め装置 | |
JPS61251902A (ja) | 雑音除去装置 | |
Morita et al. | A Design Method of Precise Positioning Stage in Vacuum Environment by Disturbance Observer with Position Dependent Parameter | |
JPS63201705A (ja) | マニピユレ−タの防振制御装置 | |
JP2003345402A (ja) | 位置制御装置 | |
JP2004264979A (ja) | サーボ制御装置 | |
JPH04100130A (ja) | モータのサーボ制御装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |