JP2002118481A - モバイル電話装置及び高周波コンポーネント - Google Patents
モバイル電話装置及び高周波コンポーネントInfo
- Publication number
- JP2002118481A JP2002118481A JP2001218659A JP2001218659A JP2002118481A JP 2002118481 A JP2002118481 A JP 2002118481A JP 2001218659 A JP2001218659 A JP 2001218659A JP 2001218659 A JP2001218659 A JP 2001218659A JP 2002118481 A JP2002118481 A JP 2002118481A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- decoupling capacitor
- substrate
- source
- capacitor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims abstract description 85
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 37
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims abstract description 6
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 claims abstract description 4
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 abstract description 30
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract description 15
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 abstract 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 19
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 12
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 8
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 7
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 6
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 5
- 229910010252 TiO3 Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 4
- 239000002346 layers by function Substances 0.000 description 4
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000012790 adhesive layer Substances 0.000 description 3
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910003781 PbTiO3 Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910020684 PbZr Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910019834 RhO2 Inorganic materials 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 description 2
- KZYDBKYFEURFNC-UHFFFAOYSA-N dioxorhodium Chemical compound O=[Rh]=O KZYDBKYFEURFNC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 2
- 229910052746 lanthanum Inorganic materials 0.000 description 2
- FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N lanthanum atom Chemical compound [La] FZLIPJUXYLNCLC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- WOCIAKWEIIZHES-UHFFFAOYSA-N ruthenium(iv) oxide Chemical compound O=[Ru]=O WOCIAKWEIIZHES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N tantalum pentoxide Inorganic materials O=[Ta](=O)O[Ta](=O)=O PBCFLUZVCVVTBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 241000251238 Lamna nasus Species 0.000 description 1
- 229910019653 Mg1/3Nb2/3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002659 PbMg1/3Nb2/3O3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910019897 RuOx Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 229910052681 coesite Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 239000006112 glass ceramic composition Substances 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical group 0.000 description 1
- HTXDPTMKBJXEOW-UHFFFAOYSA-N iridium(IV) oxide Inorganic materials O=[Ir]=O HTXDPTMKBJXEOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VRIVJOXICYMTAG-IYEMJOQQSA-L iron(ii) gluconate Chemical compound [Fe+2].OC[C@@H](O)[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](O)C([O-])=O.OC[C@@H](O)[C@@H](O)[C@H](O)[C@@H](O)C([O-])=O VRIVJOXICYMTAG-IYEMJOQQSA-L 0.000 description 1
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010295 mobile communication Methods 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000002161 passivation Methods 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052682 stishovite Inorganic materials 0.000 description 1
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N titanium dioxide Inorganic materials O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N titanium oxide Inorganic materials [Ti]=O OGIDPMRJRNCKJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052905 tridymite Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01G—CAPACITORS; CAPACITORS, RECTIFIERS, DETECTORS, SWITCHING DEVICES, LIGHT-SENSITIVE OR TEMPERATURE-SENSITIVE DEVICES OF THE ELECTROLYTIC TYPE
- H01G4/00—Fixed capacitors; Processes of their manufacture
- H01G4/35—Feed-through capacitors or anti-noise capacitors
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B1/00—Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
- H04B1/38—Transceivers, i.e. devices in which transmitter and receiver form a structural unit and in which at least one part is used for functions of transmitting and receiving
- H04B1/40—Circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
- Transmitters (AREA)
- Transceivers (AREA)
Abstract
ンサを備えて同一基板上に取りつけられるモバイル電話
装置において、薄膜技術による低インダクタンスのコン
デンサを実現し、更に複数の給電端子をコンデンサの同
じ側に取り付けて、性能を改善する。 【解決手段】基板1上には、デカップリングコンデンサ
の電極2,4と給電端子6,7、高周波回路8、DC源
9、及び導電トラック10,11を有する。電極2の上
には誘電体3があり、電極4は、誘電体3上にある。保
護層5は、電極2上及び基板1の全表面上に設けられ
る。高周波回路8、DC源9及び導電トラック10,1
1は、保護層上に設けられる。高周波回路8は導体トラ
ック10を介してデカップリングコンデンサ及び、DC
源9に接続される。給電端子7と導体トラック11は、
デカップリングコンデンサを接地12に接続する。給電
端子6及び7は、デカップリングコンデンサの同じ側に
設けられる。
Description
有する送信機と受信機とを備えるモバイル電話装置に関
する。
ィスプレイデバイス、電源手段、とりわけ、データの送
受信目的で、高周波コンポーネントを有する送信機と高
周波コンポーネントを有する受信機とを備える。
ならず高周波信号にデカップリングされるべきDC源を
備える。
サは、デカップリングのために使用される。デカップリ
ングコンデンサの機能は、高周波回路のコンポーネント
に一定のDC電源を保障するように、望ましくない高周
波信号を減衰することである。
を達成するために、高いC/L(キャパシタンス/イン
ダクタンス)比、即ち、高キャパシタンス値及び低イン
ダクタンス値を有する、デカップリングコンデンサが必
要とされる。理想的な場合、全ての望ましくない高周波
信号がこのようなコンデンサによって平滑化される。低
インダクタンス値を有する個別のコンデンサは、今日製
造され得るが、タイプ0402のコンデンサに対して4
00pHのインダクタンス値とタイプ0201のコンデ
ンサに対する300pHのインダクタンス値は高く、数
pFのキャパシタンス値を有するコンデンサを使用する
ことを可能とする。狭い周波数範囲のみがこのようなデ
カップリングコンデンサによってデカップリングされ得
る。このため、異なるキャパシタンス値を有する幾つか
の個別のコンデンサは、高周波回路とDC源が広い周波
数範囲をデカップリングするために存在する基板上に設
けられる。従って、低キャパシタンスのコンデンサは、
より高い周波数をデカップリングするために使用され、
且つ高いキャパシタンスのコンデンサは、より低い周波
数をデカップリングするために使用される。
の使用と取り付けは、高価であるばかりでなく、これら
の個別のデカップリングコンデンサは、基板上の多くの
スペースを占有する。
やファン形状を有する、デカップリングコンデンサが米
国特許第6,038,112から公知となっている。こ
の特殊の電極デザインによって、2つの接続端子間でキ
ャパシタンス値が変化するコンデンサが提供され、異な
る周波数は、デカップリングコンデンサの異なる領域で
デカップリングされる。このデカップリングコンデンサ
の一つの利点は、一つの個別のコンポーネントのみが取
り付けられることである。このデカップリングコンデン
サの不利な点は、その特別の電極構造のために、非常に
複雑であると共に高価であることである。
ンデンサを有する高周波コンポーネントを備える送信機
と受信機が取り付けられ、このデカップリングコンデン
サが広い周波数範囲に亘ってデカップリングを行なうと
共に製造が簡単なモバイル電話装置を提供することであ
る。
を有する送信機と受信機とを備えるモバイル電話装置で
あって、前記高周波コンポーネントが、共通基板上に高
周波回路とDC源と集積デカップリングコンデンサとを
備え、前記デカップリングコンデンサが、前記デカップ
リングコンデンサの一方であって同じ側に、第1の電極
と誘電体と第2の電極と第1と第2の給電端子とを有
し、一方の電極が高周波回路とDC源に接続され、且つ
他方の電極が接地に接続される、モバイル電話装置によ
って達成される。
に、高周波回路を有する基板上にデカップリングコンデ
ンサの直接集積を介してモバイル電話装置に低インダク
タンスのデカップリングコンデンサを製造することが可
能である。その結果、デカップリングコンデンサのC/
L比が増加され得る。更に、集積によって、複数の給電
端子がデカップリングコンデンサの同じ側にあるデカッ
プリングコンデンサが製造され得る。コンデンサの同じ
側の電極同士の接触は、電流がこれらの電極を介して反
対の方向に流れ、デカップリングコンデンサに生じ且つ
自己誘導を画定する磁界が明瞭に減少されることを意味
する。それによって、デカップリングコンデンサのC/
L比が増加される。一方の側に給電端子を設ける事は、
向流原理(counter-current principle)と呼ばれる。
たC/L比は、幅の広い周波数バンドをデカップリング
するために唯一つのデカップリングコンデンサが必要で
あることを意味する。
デカップリングコンデンサの外形寸法がより小さくなる
ので、より小さな高周波コンポーネントが製造可能とな
ることである。全体として、これによってモバイル電話
装置がより小型化される。更に、個別のデカップリング
コンデンサへの高周波コンポーネントの高価な取り付け
が不要となる。
とDC源と集積デカップリングコンデンサとを備える高
周波コンポーネントであって、前記デカップリングコン
デンサが、前記デカップリングコンデンサの一方であっ
て同じ側に、第1の電極と誘電体と第2の電極と第1と
第2の給電端子とを有し、一方の電極が高周波回路とD
C源に接続され、且つ他方の電極が接地に接続される、
高周波コンポーネントに関する。
は、薄膜技術によって構成される。
薄膜プロセスによって影響され得る。薄膜プロセスにお
いて、誘電体がより小さな層厚みd(d<1μm)を有
し、従ってより高いキャパシタンス密度を有するデカッ
プリングコンデンサが、実現され得る。得られたデカッ
プリングコンデンサは、そのC/L比に対してより高い
値を有する。
ントが基板上に設けられることが好ましい。
のような更に集積されたパッシブコンポーネントは、電
極とデカップリングコンデンサの誘電体の適切な構成を
介して或いは更なる機能層の蒸着を介して基板上に直接
設けられ得る。その結果、高周波コンポーネント上に存
在すべき更なる個別のコンポーネントを取り付けが回避
され、且つ、モバイル電話装置の更なる小型化が可能と
なる。
ジ、又は電圧制御発振器である場合、有利である。
プリングは、全てのこれらの高周波回路に必要である。
を参照して以下でより詳細に説明される。
ディスプレイデバイス、スピーカ、マイクロフォン、入
力デバイス、メモリデバイス、アンテナ、送信機、及び
受信機を備える。送信機と受信機の各々は、高周波回路
8とDC源9とを有する高周波コンポーネントを備え
る。高周波コンポーネントは、DC源9を高周波信号か
らデカップリングするためのデカップリングコンデンサ
を備える。
ンサは、基板1上の第1の電極2を備え、この基板は、
例えば、セラミック材料、機能を有する低温共焼成基
板、ガラスの平坦化層を有するセラミック材料、ガラス
−セラミック材料、ガラス材料、Si、GaAs、サフ
ァイア、ラミネート、接着層を有するガラス基板、又は
接着層とその接着層上のSiO層とを有するガラス基板
よりなる。シリコン又はGaAsが基板1として使用さ
れる場合、例えば、SiO2、Si3N4又はガラスの
追加の不活性化層が基板1に設けられる。好ましくは、
誘電率εr(値ε r>20)を有する誘電体3が第1の
電極2上に存在する。使用出来る材料は、例えば、La
やMnのドーパントを有する及びそれを有さない、及び
過剰な鉛を有する及びそれを有さないPbxZrxTi
1−xO3(0≦x≦1)、ドーパントを有する及びそ
れを有さないBa1−xSrxTiO3(0≦x≦
1)、[Ba1−xSrxTiO3]−Pb1−yCa
yTiO3(0≦x≦1、0≦y≦1)、ドーパントを
有する又はそれを有さないBa1−xSrxZryTi
1 −yO3(0≦x≦1、0≦y≦1)、過剰の鉛を有
する及びそれを有さないBa1−xPbxTiO3(0
≦x≦1)、Ba1−xCaxTiO3(0≦x≦
1)、ドーパントを有する及びそれを有さないSrZr
xTi1−xO3(0≦x≦1)、[PbMg1/3N
b2/3O3]x−[PbTiO3]1−x(0≦x≦
1)、(Pb、Ba、Sr)(Mg1/3Nb2/3)
xTiy(Zn1 /3Nb2/3)1−y−xO3(0
≦x≦1、0≦y≦1)、Pb1−xCa xTiO
3(0≦x≦1)、(Ba1−xSrx)2NaNb5
O15(0≦x≦1)、(Ba1−xSrx)2KNb
5O15(0≦x≦1)、(Ba1−xSrx)2K
1−3ySEyNb5O15(0≦x≦1、0≦y≦
1、SE=希土類金属のグループからのイオン)、Ta
2O5、Al3O3がドープされたTa2O5、TiO
2、TiO2がドープされたTa2O5と、Zr(S
n、Ti)O4、VOx(1≦x≦2.5)及び/又は
CuOドーパントを有する及びそれを有さないBiNb
O4、及び a)PbMg1/2W1/2O3 b)PbFe1/2Nb1/2O3 c)PbFe2/3W1/3O3 d)PbNi1/3Nb2/3O3 e)PbZn1/3Nb2/3O3 f)PbSc1/2Ta1/2O3 並びに化合物a)からf)とPbTiO3及び/または
PbMg1/3Nb2/ 3O3の組合せである。或い
は、誘電体3は基板一の表面の全体にわたって設けられ
る。第2の電極4は、誘電体3上に設けられる。第1の
電極2と第2の電極4は、例えば、50nm〜1μmの
層厚みを有するPt、1〜20nmの層厚みを有するT
i/20〜600nmの層厚みを有するPt、1〜20
nmの層厚みを有するTi/20〜600nmの層厚み
を有するPt/1から20nmの層厚みを有するTi、
W、Ni、Mo、Au、Cu、Ti/Pt/Al、Ti
/Ag、Ti/Ag/Ti、Ti/Ag/Ir、Ti/
Ir、Ti/Pd、Ti/Ag 1−xPtx(0≦x≦
1)、Ti/Ag1−xPdx(0≦x≦1)、Ag1
−xPtx(0≦x≦1)、Ti/Pt1−xAl
x(0≦x≦1)、Pt1− xAlx(0≦x≦1)、
Ti/Ag/Pt1−xAlx(0≦x≦1)、Ti/
Ag/Ru、Ru、Ru/RuO2、Ti/Ru、Ti
/Ir、Ti/Ir/IrO2、Ti/Ru/RuxP
t1−x(0≦x≦1)、Ti/Ag/Ir/IrOx
(0≦x≦2)、Ti/Ag/Ru/RuOx(0≦x
≦2)、Ti/Ag/Ru/RuxPt1−x(0≦x
≦1)、Ti/Ag/Ru/RuxPt 1−x/RuO
y(0≦x≦1、0≦y≦2)、Ti/Ag/Ru/R
uOx/RuyPt1−y(0≦x≦2、0≦y≦
1)、Ti/Ag/RuxPt1−x(0≦x≦1)、
Ti/Ag/PtxAl1−x(0≦x≦1)、Ptx
Al1 −x/Ag/PtyAl1−y(0≦x≦1、0
≦y≦1)、Ti/Ag/Pt y(RhOx)
1−y(0≦x≦2、0≦y≦1)、Ti/Ag/Rh
/RhO x(0≦x≦2)、Rh、Rh/RhO2、T
i/Ag/PtxRh1−x(0≦x≦1)、Ti/A
g/Pty(RhOx)1−y/OtzRh1−z(0
≦x≦2、0≦y≦1、0≦z≦1)、Ti/AgxP
t1−x/Ir(0≦x≦1)、Ti/AgxPt
1−x/Ir/IrOy、(0≦x≦1、0≦y≦
2)、Ti/AgxPt1−x/PtyAl1−y(0
≦x≦1、0≦y≦1)、Ti/AgxPt1−x/R
u(0≦x≦1)、Ti/AgxPt1−x/Ru/R
uOy(0≦x≦1、0≦y≦2)、Ti/Ag/C
r、Ti/Ag/Ti/ITO、Ti/Ag/Cr/I
TO、Ti/Ag/ITO、Ti/Ni/ITO、Ti
/Rh、Ti/Rh/RhO2、Ti/Ni/Al/I
TO、Ti/Ni、Ti/W/Ti、WxTi
1−x(0≦x≦1)、WxTi1−x/Al(Cu)
(0≦x≦1)、WxTi1−x/Al(Si)(0≦
x≦1)、WxTi 1−x/Al(0≦x≦1)、A
l、CuがドープされたAl、SiがドープされたA
l、NixCryAlz/Al(0≦x≦1、0≦y≦
1、0≦z≦1)、CuがドープされたNixCryA
lz/Al(0≦x≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)、
SiがドープされたNixCryAlz/Al(0≦x
≦1、0≦y≦1、0≦z≦1)、又はTi/Cuより
なる。好ましくは基板1の全表面上に延出する保護層5
は、第2の電極2の上にある。保護層5のために使用さ
れ得る材料は、例えば、SiO2やSiN4でる。第2
の電極4は、第1の給電端子6と接触し、且つ第2の電
極は、第2の給電端子7と接触する。第1と第2の給電
端子6と7は、例えば、Al、Cu、Cu/Ni/A
u、Ni/Cr/Cu/Ni/Au、又はNi/Auよ
りなる。
ポーネントが保護層5の上に設けられる。
デンサを高周波回路8とDC源9に接続し、第2の給電
端子7は、接地12に接続される。
との間に設けられてもよく、この層は、例えば、TiO
2、Al2O3、HfO2、MgO、又はZrO2より
なる。
2、4と給電端子6、7、高周波回路8、DC源9、及
び導電トラック10、11を有する基板1の平面図であ
る。基板1上には、第1の電極2があると共にその上に
誘電体3があることが図2に示されている。第2の電極
4は、誘電体3上にある。保護層5は、第2の電極2上
及び基板1の全表面上に設けられる。高周波回路8、D
C源9及び導体トラック10、11は、保護層上に設け
られる。高周波回路8は、例えば、増幅器回路、ミキサ
ーステージ、又は電圧制御発振器である。高周波回路8
は、例えば、Al、Cu、Cu/Ni/Au、Ni/C
r/Cu/Ni/Au又はNi/Au製の導体トラック
10を介してデカップリングコンデンサ及び、例えばバ
ッテリである、DC源9へ接続される。第2の給電端子
7と、例えば、Al、Cu、Cu/Ni/Au、Ni/
Cr/Cu/Ni/Au又はNi/Au製の導体トラッ
ク12は、デカップリングコンデンサを接地12に接続
する。第1の給電端子6と第2の給電端子7は、デカッ
プリングコンデンサの同じ側に設けられる。
ングやフリップチップマウンティングによって接続され
てもよい。
なるコンデンサのような更なる集積パッシブコンポーネ
ントは、基板1上に設けられてもよい。このために、例
えば、抵抗層や第1の電極、誘電体、及び更なるコンデ
ンサの第2の電極のような更なる機能層が保護層5上に
配される。更なる保護層が最上機能層に設けられる。集
積パッシブコンポーネントは、更なる保護層中のビアを
介して電気的に接触する。このパッシブコンポーネント
は、例えばトランジスタ回路である、高周波コンポーネ
ント上に存在する更なるコンポーネントへ接続され得
る。
ンデンサよりも低いキャパシタンス値Cを有するコンデ
ンサのような、2つ又はそれ以上の集積パッシブコンポ
ーネントが基板1上に設けられることが可能である。こ
の目的のために、抵抗層及び更なるコンデンサの第1の
電極が保護層5に設けられる。更なるコンデンサの誘電
体を形成時に、上に第1の更なる保護層が配される。更
なるコンデンサの第2の電極がこの第1の更なる保護層
上に設けられ、且つ第2の更なる保護層が、好ましく
は、基板1の全表面上に延出するように、第2の電極上
に設けられる。集積パッシブコンポーネントは、更なる
保護層中のビアを介して電気的に接触され、導体トラッ
クによって、例えばトランジスタ回路のような高周波コ
ンポーネント上に存在する更なるコンポーネントに接続
される。
機能層が、初めに、公知の薄膜技術によって基板1上に
設けられ、高周波コンポーネントの製造においてそれら
の機能に従って構成される。保護層5が付着された後、
例えば、高周波回路8、導体トラック10、11及びD
C源9のような高周波コンポーネントに必要なアイテム
が公知の方法で設けられる。
ば、モバイル電話装置のようなモバイル通信システムの
送信機や受信機、或いは、例えば、Bluetooth
モジュールのようなモバイルデータ送信システムにおい
て使用され得る。
減衰曲線と比較される2つの個別のコンデンサの減衰曲
線を示す。曲線13は、2つの個別コンデンサの減衰曲
線を表し、第1の個別コンデンサは、330pFのキャ
パシタンスと0.6nHのインダクタンスを有する。第
2の個別コンデンサは、82pFのキャパシタンスと
0.6nHのインダクタンスを有する。曲線14は、1
nFのキャパシタンスと0.1nHのインダクタンスを
有する集積デカップリングコンデンサの減衰曲線を表
す。
2、4の何れが接地に接続されるかについては、高周波
コンポーネントの構造において当業者には習熟した選択
事項である。
す本発明の実施の形態が、如何に詳細に説明される。
Al2O3の基板1上に設けられる。5%ランタンドー
ピングのPbZr0.53Ti0.47O3の誘電体3
が第1の電極2上及び基板1の全表面上に付着される。
Ti0.1W0 .9/Alの第2の電極4が誘電体3上
に設けられる。Si3N4の保護層5が第2の電極2上
及び基板1の全表面上に存在する。孔が保護層5を貫通
するようにエッチングされ、且つ第2の電極4を第1の
給電端子6に接続するためのNi/Cr/Cu/Ni/
Auが充填された。孔が保護層5を貫通するようにエッ
チングされ、且つ第1の電極2を第2の給電端子7に接
続するためにNi/Cr/Cu/Ni/Auが充填され
た。増幅器回路が保護層5上に高周波回路8として設け
られ、且つNi/Cr/Cu/Ni/Auの導体トラッ
ク10、11を有するバッテリがDC源9として設けら
れる。導体トラック10は、それが高周波回路8、第1
の給電端子6及びDC源9を相互に接続するように構成
される。導体トラック11は、それが第2の給電端子7
を接地12に接続するように構成される。
ル電話装置の送信機と受信機に組み込まれた。
Ti/Ptの第1の電極2がこのバリア層上に設けられ
る。5%ランタンドーピングのPbZr0.5 3Ti
0.47O3の誘電体3が第1の電極2上及び基板1の
全表面上に付着される。Ti0.1W0.9/Alの第
2の電極4が誘電体3上に設けられる。Si3N4の保
護層5が第2の電極4上及び基板1の全表面上に存在す
る。Ni0 .3Cr0.6Al0.1の抵抗層及びSi
3N4の更なる保護層が保護層5上に設けられる。孔が
保護層5と更なる保護層を貫通するようにエッチングさ
れ、且つ第2の電極4を第1の給電端子6へ接続するた
めにNi/Cr/Cu/Ni/Auが充填される。孔が
保護層5、更なる保護層及び誘電体3を貫通するように
エッチングされ、且つ第1の電極2を第2の給電端子7
に接続するためにNi/Cr/Cu/Ni/Auが充填
される。2つの孔が更なる保護層にエッチングされ、且
つ抵抗層を接続するためにNi/Cr/Cu/Ni/A
uが充填される。増幅器回路が高周波回路8として更な
る保護層上に設けられ、且つバッテリ、Ni/Cr/C
u/Ni/Auの導体トラック10、11及びトランジ
スタ回路がDC源9として設けられる。導体トラック1
0は、それが高周波回路8、第1の給電端子6及びDC
源9を相互接続するように構成される。導体トラック1
1は、それが第2の給電端子7を接地に接続するように
構成される。抵抗器は、導体トラックによってトランジ
スタ回路に接続される。
イルBluetoothモジュールに組み込まれる。
断面図である。
DC源を備える基板の平面図である。
較される2つの個別のコンデンサの減衰曲線を示す。
Claims (5)
- 【請求項1】各々が高周波コンポーネントを有する送信
機と受信機とを備えるモバイル電話装置であって、前記
高周波コンポーネントが、共通基板(1)上に高周波回
路(8)とDC源(9)と集積デカップリングコンデン
サとを備え、前記デカップリングコンデンサが、前記デ
カップリングコンデンサの一方であって同じ側に、第1
の電極(2)と誘電体(3)と第2の電極(4)と第1
及び第2の給電端子(6、7)とを有し、一方の電極
(2、4)が高周波回路(8)とDC源(9)に接続さ
れ、且つ他方の電極(4、2)が接地(12)に接続さ
れる、モバイル電話装置。 - 【請求項2】共通基板(1)上に高周波回路(8)とD
C源(9)と集積デカップリングコンデンサとを備える
高周波コンポーネントであって、前記デカップリングコ
ンデンサが、前記デカップリングコンデンサの一方であ
って同じ側に、第1の電極(2)と誘電体(3)と第2
の電極(4)と第1と第2の給電端子(6、7)とを有
し、一方の電極(2、4)が高周波回路(8)とDC源
(9)に接続され、且つ他方の電極(4、2)が接地
(12)に接続される、高周波コンポーネント。 - 【請求項3】前記デカップリングコンデンサが薄膜技術
によって構成されることを特徴とする、請求項1又は2
に記載の高周波コンポーネント。 - 【請求項4】更に、集積パッシブコンポーネントが前記
基板(1)上に設けられることを特徴とする、請求項1
又は2に記載の高周波コンポーネント。 - 【請求項5】前記高周波回路(8)が増幅器回路、ミキ
サーステージ、又は電圧制御発信器であることを特徴と
する、請求項1又は2に記載の高周波コンポーネント。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE10035584A DE10035584A1 (de) | 2000-07-21 | 2000-07-21 | Mobilfunkgerät |
DE10035584.6 | 2000-07-21 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002118481A true JP2002118481A (ja) | 2002-04-19 |
Family
ID=7649765
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001218659A Pending JP2002118481A (ja) | 2000-07-21 | 2001-07-18 | モバイル電話装置及び高周波コンポーネント |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6674632B2 (ja) |
EP (1) | EP1180773A3 (ja) |
JP (1) | JP2002118481A (ja) |
KR (1) | KR100838965B1 (ja) |
CN (1) | CN1312949C (ja) |
DE (1) | DE10035584A1 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008034626A (ja) * | 2006-07-28 | 2008-02-14 | Tdk Corp | 電子部品及びその製造方法 |
US7675365B2 (en) * | 2007-01-10 | 2010-03-09 | Samsung Electro-Mechanics | Systems and methods for power amplifiers with voltage boosting multi-primary transformers |
US7576607B2 (en) * | 2008-01-03 | 2009-08-18 | Samsung Electro-Mechanics | Multi-segment primary and multi-turn secondary transformer for power amplifier systems |
US8044759B2 (en) * | 2008-01-08 | 2011-10-25 | Samsung Electro-Mechanics | Overlapping compact multiple transformers |
US7812701B2 (en) | 2008-01-08 | 2010-10-12 | Samsung Electro-Mechanics | Compact multiple transformers |
US7746174B2 (en) * | 2008-06-12 | 2010-06-29 | Samsung Electro-Mechanics Company, Ltd. | Systems and methods for power amplifier with integrated passive device |
US8125276B2 (en) * | 2010-03-12 | 2012-02-28 | Samsung Electro-Mechanics | Sharing of inductor interstage matching in parallel amplification system for wireless communication systems |
JP7092106B2 (ja) * | 2019-12-26 | 2022-06-28 | Tdk株式会社 | 電子部品 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0722757A (ja) * | 1993-06-24 | 1995-01-24 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 薄膜多層回路基板用ベース基板 |
JPH0851283A (ja) * | 1994-05-30 | 1996-02-20 | Kyocera Corp | 多層配線基板及び半導体素子収納用パッケージ |
JPH08316870A (ja) * | 1995-04-07 | 1996-11-29 | Lk Prod Oy | 無線通信送受信装置 |
Family Cites Families (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1584159A (en) * | 1976-06-10 | 1981-02-04 | Sandstedt G | Data transfer and storage system |
JPS5939949U (ja) * | 1982-09-08 | 1984-03-14 | アルプス電気株式会社 | 高周波回路装置 |
FR2555394B1 (fr) * | 1983-11-22 | 1986-03-28 | Eurofarad | Support pour composant rapide, notamment composant hyperfrequence, a elements de decouplage incorpores |
US5254493A (en) * | 1990-10-30 | 1993-10-19 | Microelectronics And Computer Technology Corporation | Method of fabricating integrated resistors in high density substrates |
JP2661404B2 (ja) * | 1991-05-21 | 1997-10-08 | 日本電気株式会社 | 携帯電話装置 |
US5220489A (en) * | 1991-10-11 | 1993-06-15 | Motorola, Inc. | Multicomponent integrated circuit package |
FR2684804B1 (fr) * | 1991-12-06 | 1994-01-28 | Thomson Csf | Dispositif de montage de circuits integres monolithiques hyperfrequences a tres large bande. |
JPH0634715A (ja) * | 1992-07-17 | 1994-02-10 | Mitsubishi Electric Corp | 高周波帯プローブヘッド |
US5828951A (en) * | 1994-08-29 | 1998-10-27 | Nec Corporation | Mobile satellite terminal equipment |
JP3426727B2 (ja) * | 1994-09-13 | 2003-07-14 | 株式会社東芝 | デュアルモード形無線通信装置 |
TW367621B (en) * | 1995-02-27 | 1999-08-21 | Nxp Bv | Electronic component comprising a thin-film structure with passive elements |
JP2690709B2 (ja) * | 1995-04-27 | 1997-12-17 | 山形日本電気株式会社 | 半導体装置 |
KR0146761B1 (ko) * | 1995-07-29 | 1998-08-17 | 양승택 | 임피던스 변환 저잡음 증폭기 |
US5999065A (en) * | 1995-08-24 | 1999-12-07 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Composite high-frequency component |
JP2734447B2 (ja) * | 1995-09-14 | 1998-03-30 | 日本電気株式会社 | 多層プリント基板 |
KR0183739B1 (ko) * | 1995-09-19 | 1999-03-20 | 김광호 | 감결합 커패시터를 포함하는 반도체 장치 및 그 제조방법 |
US5828957A (en) * | 1996-03-14 | 1998-10-27 | Kroeger; Brian W. | Satellite beam acquisition/crossover for a mobile terminal |
FI108892B (fi) * | 1996-11-21 | 2002-04-15 | Adc Telecommunications Inc | Järjestely antennin kunnon mittaamiseksi radiopuhelinjärjestelmässä |
SE520173C2 (sv) * | 1997-04-29 | 2003-06-03 | Ericsson Telefon Ab L M | Förfarande för tillverkning av en kondensator i en integrerad krets |
US5880925A (en) * | 1997-06-27 | 1999-03-09 | Avx Corporation | Surface mount multilayer capacitor |
US5798567A (en) * | 1997-08-21 | 1998-08-25 | Hewlett-Packard Company | Ball grid array integrated circuit package which employs a flip chip integrated circuit and decoupling capacitors |
SE511824C2 (sv) | 1997-08-22 | 1999-12-06 | Ericsson Telefon Ab L M | Avkopplingskondensator samt chipsmodul |
WO1999054895A2 (en) * | 1998-04-20 | 1999-10-28 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Thin-film capacitor |
US6222260B1 (en) * | 1998-05-07 | 2001-04-24 | Vlsi Technology, Inc. | Integrated circuit device with integral decoupling capacitor |
US5998978A (en) * | 1998-06-29 | 1999-12-07 | Motorola, Inc. | Apparatus and method for reducing energy fluctuations in a portable data device |
US6373127B1 (en) * | 1998-09-29 | 2002-04-16 | Texas Instruments Incorporated | Integrated capacitor on the back of a chip |
-
2000
- 2000-07-21 DE DE10035584A patent/DE10035584A1/de not_active Withdrawn
-
2001
- 2001-07-18 CN CNB011259051A patent/CN1312949C/zh not_active Expired - Fee Related
- 2001-07-18 JP JP2001218659A patent/JP2002118481A/ja active Pending
- 2001-07-18 KR KR1020010043103A patent/KR100838965B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2001-07-19 US US09/908,548 patent/US6674632B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-07-20 EP EP01000309A patent/EP1180773A3/de not_active Withdrawn
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0722757A (ja) * | 1993-06-24 | 1995-01-24 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 薄膜多層回路基板用ベース基板 |
JPH0851283A (ja) * | 1994-05-30 | 1996-02-20 | Kyocera Corp | 多層配線基板及び半導体素子収納用パッケージ |
JPH08316870A (ja) * | 1995-04-07 | 1996-11-29 | Lk Prod Oy | 無線通信送受信装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1180773A2 (de) | 2002-02-20 |
CN1312949C (zh) | 2007-04-25 |
KR100838965B1 (ko) | 2008-06-16 |
KR20020008757A (ko) | 2002-01-31 |
CN1335737A (zh) | 2002-02-13 |
DE10035584A1 (de) | 2002-01-31 |
US20020015276A1 (en) | 2002-02-07 |
US6674632B2 (en) | 2004-01-06 |
EP1180773A3 (de) | 2007-07-18 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7795728B2 (en) | Electronic component | |
US6424233B1 (en) | Complex electronic component with a first multilayer filter having a cavity in which a second filter is mounted | |
US8320102B2 (en) | Capacitor, capacitor device, electronic component, filter device, communication apparatus, and method of manufacturing capacitor device | |
JP2002252297A (ja) | 多層回路基板を用いた電子回路装置 | |
KR20100032909A (ko) | 후면 수동 디바이스 집적을 이용하는 반도체 다이 | |
JP2002334806A (ja) | 高周波モジュール装置 | |
US6936877B2 (en) | Integrated circuit including a capacitor with a high capacitance density | |
CN103824695B (zh) | 可变电容复合部件 | |
JP2002118481A (ja) | モバイル電話装置及び高周波コンポーネント | |
JPH0547586A (ja) | コンデンサ部品 | |
JP2003060107A (ja) | 半導体モジュール | |
JP6284859B2 (ja) | 可変容量デバイス及びアンテナ装置 | |
JPH06181119A (ja) | Lc複合部品 | |
JP2011192853A (ja) | 半導体装置 | |
JPH05251629A (ja) | 混成半導体集積回路 | |
JP2006005309A (ja) | キャパシタ装置 | |
JP3120938B2 (ja) | 半導体集積装置およびその製造方法 | |
JP2016100384A (ja) | 可変容量デバイス及びアンテナ装置 | |
JP2000223379A (ja) | 電子的複数素子ユニット | |
JPH08250659A (ja) | 薄膜キャパシタ | |
JP3492853B2 (ja) | 容量素子付き回路基板 | |
JPH07245233A (ja) | 薄膜コンデンサ | |
JPH07106811A (ja) | 高周波回路 | |
JPH0728003B2 (ja) | 薄膜ハイブリツドic | |
JPH114058A (ja) | 容量素子付き回路基板 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20080522 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080716 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100922 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100928 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20110401 |