JP2002110919A - 静電破壊保護回路 - Google Patents

静電破壊保護回路

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JP2002110919A JP2000295216A JP2000295216A JP2002110919A JP 2002110919 A JP2002110919 A JP 2002110919A JP 2000295216 A JP2000295216 A JP 2000295216A JP 2000295216 A JP2000295216 A JP 2000295216A JP 2002110919 A JP2002110919 A JP 2002110919A
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Masanobu Hebaru
雅信 辺春
Tomokazu Kawase
智和 川瀬
Masayuki Hara
雅之 原
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Toshiba Electronic Device Solutions Corp
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Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 異種電源間の静電破壊保護用の保護回路の数
を異種電源の数が増えても抑えること。 【解決手段】 入出力回路と信号入出力端子との間に挿
入されて前記信号入出力端子から侵入する静電電圧より
前記入出力回路を保護する第1の保護回路を複数の内部
回路対応で設け、前記複数の第1の保護回路全てに対し
て独立した共通対電源端子から電源を供給するように
し、前記複数の内部回路にそれぞれ電源を供給する複数
の対電源の各VDD側端子に一方の電源端子を接続し、
他方の電源端子を前記共通対電源端子のGND側端子に
接続するか、又は前記複数の対電源の各GND側端子に
一方の電源端子を接続し、他方の電源端子を前記共通対
電源端子のVDD側端子に接続して前記内部回路を静電
電圧より保護する第2の保護回路を前記複数の対電源対
応で設けることにより前記第2の保護回路の数を異種電
位電源の数が増えても増加しないようにする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路に
係り、特に入出力回路及び内部回路を外部からの静電電
圧により破壊されないように保護する静電破壊保護回路
に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体装置は多ピン化/多電源化
に伴い、チップ内部に図7に示すような第一回路群10
を複数取り込む構成となっている。この第一回路群10
は、外部の信号入出力端子(I/O PAD)と、信号
を入出力する入出力回路1と、入出力回路1を外部から
の静電破壊から保護する保護回路Aから成り、その対電
源(例えばVDD/GND)は入出力回路1も保護回路
Aも同一電源となっている回路である。
【0003】図8は第二回路群を示した例である。第二
回路群20は、内部回路3に対して静電破壊保護の耐圧
向上を目的に図7に示した第一回路群10を具備し、そ
の対電源VDD用のパッド(PAD)21とGND用の
パッド(PAD)22間に保護回路Bを挿入している。
【0004】図9は図8に示した第二回路群を用いて4
対の異なる電源系(VDD1/GND1〜VDD4/G
ND4)により動作する内部回路3−1〜3−4を有す
る回路に静電破壊保護対策を施した回路を例示した図で
ある。内部回路3−1〜3−4の静電破壊保護対策とし
て、第1回路群10−1〜10−4を備えた第二回路群
20−1〜20−4が各対電源VDD1/GND1〜V
DD4/GND4に接続されている。更に、異なる電源
系間の静電電圧から各内部回路3−1〜3−4を保護す
るために、例えばVDD1は保護回路Cを介してGND
4に接続されるが如く、異なる電源系間を12個の保護
回路Cにより接続している。
【0005】図10は前記図9の回路例を半導体装置全
体のレベルで表わした例である。この回路例から明らか
な如く、自己電源系だけではなく、異種電源系間の静電
破壊保護耐圧を向上させるため、各電源間全てに保護回
路Cを挿入していることが分かる。これにより、保護回
路Cの挿入領域は例えば内部回路3−2の領域に入り込
んでおり、このため、内部回路3−2は凹多角形状とな
っている。しかし、このような従来の静電破壊保護回路
の構成では以下のような問題が発生する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記した複数の異なる
電源系により動作する複数の内部回路を静電破壊から保
護するための従来の静電破壊保護回路では図10の
(1)〜(6)対応で、以下に述べるような問題があっ
た。(1)異種電源系の全ての組み合わせで保護回路C
を入れなければ、静電破壊保護耐圧向上の効果は期待で
きないため、保護回路Cの数が独立電源系の数の増加に
伴って急激に多くなってしまう。(2)保護回路Cの挿
入領域は内部回路の領域に多いため、電源ラインの引き
回しが複雑となる。(3)保護回路Cの挿入領域は内部
回路の領域に多いため、内部回路が電源ノイズ等の影響
を受け易くなる。(4)保護回路Cの挿入領域は内部回
路の領域に多いため、内部回路領域にデットスペースが
できやすい。(5)保護回路Cの挿入領域は内部回路の
領域に多いため、内部回路領域が断片化(3−1A,3
−1B,3−1C)され集積度が低下する。(6)保護
回路Cの挿入領域は内部回路の領域に多いため、内部回
路領域が凹多角形状になり易く、集積度が低下する。
【0007】本発明は、上述の如き従来の課題を解決す
るためになされたもので、その目的は、異種電源間の静
電破壊保護用の保護回路の数を異種電源の数が増えても
抑えることができ、それによって電源ラインの引き回し
を簡素化し、内部回路がノイズの影響を受けないように
でき、且つ、デッドスペースを削減して集積度の低下を
防止することができる静電破壊保護回路を提供すること
である。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1の発明の特徴は、対電源端子から電源が供
給され、且つ外部の信号入出力端子に対し信号を入出力
回路を介して入出力する内部回路を複数個有する回路に
あって、前記入出力回路及び前記複数の内部回路を外部
から侵入する静電電圧による破壊から保護する静電破壊
保護回路において、前記入出力回路と前記信号入出力端
子との間に挿入されて前記信号入出力端子から侵入する
静電電圧より前記入出力回路を保護する回路で前記複数
の内部回路対応で設けられた第1の保護回路と、前記複
数の第1の保護回路全てに対して前記対電源とは独立し
た電源を供給する共通対電源端子と、前記複数の内部回
路にそれぞれ電源を供給する前記複数の対電源の各第一
電源端子に一方の電源端子を接続し、他方の電源端子を
前記共通対電源端子の第二電源端子に接続するか、又は
前記複数の対電源の各第二電源端子に一方の電源端子を
接続し、他方の電源端子を前記共通対電源端子の第一電
源端子に接続して前記内部回路を静電電圧より保護する
回路で前記複数の対電源対応で設けられた複数の第2の
保護回路とを具備することにある。
【0009】請求項2の発明の特徴は、前記全ての第1
の保護回路に独立した別の対電源を供給する共通対電源
端子を、前記複数の内部回路に電源を供給する複数の対
電源端子のいずれかひとつの対電源端子と共用すること
にある。
【0010】請求項3の発明の特徴は、前記複数の内部
回路に電源を供給する複数の対電源端子の各第一電源端
子と各第二電源端子間を接続して前記内部回路を静電電
圧より保護する回路で前記複数の対電源対応で設けられ
た複数の第3の保護回路、及び前記全ての第1の保護回
路に独立した別の対電源を供給する共通対電源端子の第
一電源端子と第二電源端子間を接続して前記内部回路を
静電電圧より保護する同第3の保護回路を設けたことに
ある。
【0011】請求項4の発明の特徴は、前記内部回路に
電源を供給する対電源の数は3個以上とすることにあ
る。
【0012】請求項5の発明の特徴は、外部の信号入出
力端子と、対電源から電源を供給されて、前記信号入出
力端子との間で信号の入出力を行う入出力回路と、前記
入出力回路と前記信号入出力端子との間に挿入されて前
記信号入出力端子から侵入する静電電圧より前記入出力
回路を保護する保護回路と、前記対電源とは独立して前
記保護回路に電源を供給する独立した別の対電源とを具
備することにある。
【0013】本発明によれば、複数の独立した電源系を
持つ半導体装置において、外部信号入出力端子と入出力
回路との間に接続され、入出力回路を外部からの静電破
壊電圧より保護するために設けられた第1の保護回路の
対電源を共通の配線でバイアスすることにより、異種電
源間に挿入する静電破壊保護用の第2の保護回路の数を
削減する。これにより異種電源間に挿入する静電破壊保
護用の保護回路間の電源配線を容易にでき、フロアプラ
ンの自由度を向上させることができる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。図1は、本発明の静電破壊保護回
路の第1の実施形態に係る構成を示した回路図である。
但し、従来と同一構成要素には同一符号を付して説明す
る。対電源(VDD1/GND1)〜(VDD4/GN
D4)から電源を供給されて動作する内部回路3−1〜
3−4の静電破壊保護として、第一回路群30−1〜3
0−4を備えた第二回路群20−1〜20−4が各対電
源(VDD1/GND1)〜(VDD4/GND4)対
応で設けられ、且つ、異種電源間の静電電圧による入出
力回路1−1〜1−4及び内部回路3−1〜3−4の破
壊を防止するために、保護回路C(1)〜保護回路C
(8)が挿入されている。 ここで、上記した第一回路
群30の基本構成は図2を示した構成を有している。本
例の第一回路群30は、入出力回路1を保護する保護回
路Aが、内部回路3に電源を供給する対電源VDDとG
NDとは独立した別の対電源VDDとGNDから電源を
供給されるようになっており、その電源パッド(PA
D)8、9を備えている。但し、保護回路Aは特許請求
の範囲の第1の保護回路に相当し、保護回路Cは第2の
保護回路に相当する。
【0015】従って、上記した図1の回路では、第一回
路群30−1〜30−4の保護回路Aに接続される対電
源の端子が共通で、VDD−ESDとGND−ESDと
なり、全ての保護回路AはVDD−ESD用パッド(P
AD)41とGND−ESD用パッド(PAD)42に
接続されている。又、VDD1用パッド(PAD)1
1、VDD2用パッド(PAD)13、VDD3用パッ
ド(PAD)15、VDD4用パッド(PAD)17に
一方の電源端子を接続された保護回路C(1)、保護回
路C(3)、保護回路C(5)、保護回路C(7)は、
他方の電源端子をGND−ESDパッド(PAD)42
に接続されている。GND1用パッド(PAD)12、
GND2用パッド(PAD)14、GND3用パッド
(PAD)16、GND4用パッド(PAD)18に一
方の電源端子を接続された保護回路C(2)、保護回路
C(4)、保護回路C(6)、保護回路C(8)は、他
方の電源端子をVDD−ESD用パッド(PAD)42
に接続されている。
【0016】次に本実施形態の動作について説明する。
まず、保護回路A,B,Cはいずれも外部から侵入して
きた静電電圧が入出力回路1−1〜1−4や内部回路3
−1〜3−4に掛からないようにすることにより、これ
ら回路を保護している。例えば、VDD−ESDを基準
端子(静電電圧をチップ外に逃がす端子)として第二回
路群20−1に着目すると、対電源VDD1とGND1
用のパッド11、12から侵入する静電電圧に対して
は、保護回路C(1)、(2)と第一回路群30−1〜
30−4の保護回路Aにより入出力回路1−1及び内部
回路3−1が保護される。また、第一回路群30−1の
I/OPADよりの静電電圧に対しては、前記第一回路
群30−1の保護回路Aにより入出力回路1−1及び内
部回路3−1が保護される。他の第二回路群20−2〜
20−4の対電源VDDとGND用のパッド13〜15
から侵入する静電電圧及び第二回路群20−2〜20−
4のI/OPADより侵入する静電電圧に対しても同様
のことが言え、対応する保護回路Cと保護回路Aにより
入出力回路1−2〜1−4及び内部回路3−2〜3−4
が保護される。
【0017】一方、共通対電源以外の電源PADが基準
端子の場合に対しては、例えば電源VDD1が基準端子
の場合、VDD2間には保護回路C(1)と保護回路C
(3)の直列回路が挿入されていて、入出力回路及び内
部回路を保護しており、他のケースも同様である。ま
た、例えば電源VDD1とGND2間には保護回路C
(1)と第一回路群30−2の保護回路Aと保護回路C
(4)の直列回路が挿入されて、入出力回路及び内部回
路を保護しており、他のケースも同様である。
【0018】本実施形態によれば、第一回路群30の保
護回路Aの基本構成を図2に示すように独立した別の対
電源VDD/GNDに接続するようにし、図1の回路
で、全ての第一回路群30−1〜30−4の保護回路A
を共通の独立の対電源VDD−ESDとGND−ESD
用のパッド41、42に接続する。また、保護回路
(1)、(3)、(5)、(7)の一方の端子を内部回
路3−1〜3−4に電源を供給する対電源のVDD1、
3、5、7に、他方の端子を共通対電源のGND−ES
Dに接続し、保護回路(2)、(4)、(6)、(8)
の一方の端子を内部回路3−1〜3−4に電源を供給す
る対電源のGND2、4、6、8に接続し、他方の端子
を共通対電源のVDD−ESDに接続する構成により、
異種電位電源の数が増えても保護回路Cの数を削減で
き、しかも、少ない数の保護回路Cにより、全ての異種
電位電源間から侵入する静電電圧に対して、内部回路3
−1〜3−4を保護することができる。
【0019】又、全ての保護回路C(1)〜(8)の他
方の端子がVDD−ESDか、GND−ESD用のいず
れかのパッド41、42に接続されるため、配線が簡素
化され電源ラインの引き回しが短くなると共に、保護回
路Aと入出力回路1に電源を供給する対電源を別にした
ことと内部回路3−1〜3−4の領域に保護回路Cを入
り込ませないで済むようにしたため、内部回路3−1〜
3−4へのノイズの影響を無くすことができると共に、
デッドスペースを削減して集積度の低下を防止すること
ができる。
【0020】図3は、本発明の静電破壊保護回路の第2
の実施形態に係る構成を示した回路図である。本例の構
成の保護回路Aの基本構成も図2に示したものと同一で
あり、全ての第一回路群30の保護回路Aの独立対電源
を共通にし、図1に示した第1の実施形態と同様の回路
構成を有している。異なる点は、前記独立対電源を第1
の実施形態のように別に設けず、VDD1とGND1と
共用にしているところにある。このようにしても、入出
力回路1−1〜1−4及び内部回路3−1〜3−4に対
する静電破壊保護動作は全く第1の実施形態のそれと同
様で、同様の効果があるが、前記独立対電源をVDD1
及びGND1と共用にしているため、パッドの数を削減
でき回路面積を縮小する上で多少とも有利である。
【0021】図4は、本発明の静電破壊保護回路の第3
の実施形態に係る構成を示した回路図である。本例の構
成の保護回路Aの基本構成も図2に示したものと同一で
あり、全ての第一回路群30の保護回路Aの独立対電源
VDD−ESDとGND−ESDを共通にし、図1に示
した第1の実施形態と同様の回路構成を有している。異
なる点は、各内部回路3−1〜3−4に電源を供給して
いる各対電源VDD1/GND1〜対電源VDD4/G
ND4間に保護回路B(請求の範囲の第3の保護回路に
相当する)を挿入し、又、別の対電源VDD−ESD/
GND−ESD間にも保護回路Bを接続することによ
り、上記第1、第2の実施形態に比較して静電破壊保護
耐圧の向上を図ることができる。他の効果は第1の実施
形態と同様である。
【0022】図5は、図4に示した静電破壊保護回路の
回路例を半導体装置全体のレベルで表わしたブロック図
である。4個の対電源(VDD1/GND1)〜(VD
D4/GND4)に対して、8個の保護回路Cを有して
いるが、従来構成では4個の対電源に対して12個の保
護回路Cが必要であるため、明らかに保護回路Cの数を
減らすことができる。これにより、保護回路Cの挿入領
域は内部回路3−1〜3−4の外側となり、電源ライン
の引き回しが簡素化され、内部回路領域にデットスペー
スがなく、内部回路領域が断片化されることもなく、ま
た、内部回路領域が四角形状になっている。
【0023】図6は対電源数の増加に対する電源間保護
回路数の変化を本発明の構成と従来の構成で比較した特
性図である。図から明らかなように対電源数が4個以上
になると、本発明の効果が表れ、対電源数が多くなれば
なるほど、保護回路Cを削減する効果が著しくなること
が分かる。
【0024】尚、本発明は上記実施形態に限定されるこ
となく、その要旨を逸脱しない範囲において、具体的な
構成、機能、作用、効果において、他の種々の形態によ
っても実施することができる。
【0025】
【発明の効果】以上詳細に説明したように、本発明の静
電破壊保護回路によれば、入出力回路の対電源と保護回
路Aの対電源とを分離しているため、内部回路へのノイ
ズ等の悪影響を抑えることができる。異種電源間に保護
回路A、B、Cを入れることにより電源間の寄生容量が
増え、静電破壊保護耐圧を上げることができる。保護回
路Aに電源を供給する別の対電源を共有化することによ
り電源間の寄生容量が増えて静電破壊保護耐圧を上げる
ことができる。保護回路Aに使用している対電源を共有
化するために異種電源の観念が消え、異種電源間に挿入
する保護回路Cの数を削減でき、特に内部回路領域に入
っていた保護回路Cを削減することにより、内部回路領
域のフロアプランの自由度を上げることができ、更に、
内部回路領域にデッドスペースを作らなくて済ますこと
ができ、且つ半導体装置全体のサイズを小さくすること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の静電破壊保護回路の第1の実施形態に
係る構成を示した回路図である。
【図2】図1に示した第一回路群の基本構成例を示した
回路図である。
【図3】本発明の静電破壊保護回路の第2の実施形態に
係る構成を示した回路図である。
【図4】本発明の静電破壊保護回路の第3の実施形態に
係る構成を示した回路図である。
【図5】図4に示した静電破壊保護回路例を半導体装置
全体のレベルで表わしたブロック図である。
【図6】対電源数の増加に対する電源間保護回路数の変
化を本発明の構成と従来の構成で比較した特性図であ
る。
【図7】従来の第一回路群の構成例を示した回路図であ
る。
【図8】従来の第二回路群の構成例を示した回路図であ
る。
【図9】従来の静電破壊保護回路の構成例を示した回路
図である。
【図10】図9に示した静電破壊保護回路例を半導体装
置全体のレベルで表わしたブロック図である。
【符号の説明】
1−1〜1−4 入出力回路 3−1〜3−4 内部回路 11 VDD1用パッド(PAD) 12 GND1用パッド(PAD) 13 VDD2用パッド(PAD) 14 GND2用パッド(PAD) 15 VDD3用パッド(PAD) 16 GND3用パッド(PAD) 17 VDD4用パッド(PAD) 18 GND4用パッド(PAD) 20、20−1〜20−4 第二回路群 30、30−1〜30−4 第一回路群 41 VDD−ESD用パッド(PAD) 42 GND−ESD用パッド(PAD) A、B、C 保護回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川瀬 智和 神奈川県川崎市川崎区駅前本町25番地1 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社内 (72)発明者 原 雅之 神奈川県川崎市川崎区駅前本町25番地1 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社内 Fターム(参考) 5F038 BE09 BH13 CA07 CD02 DF11 DF14 EZ20

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 対電源端子から電源が供給され、且つ外
    部の信号入出力端子に対し信号を入出力回路を介して入
    出力する内部回路を複数個有する回路にあって、前記入
    出力回路及び前記内部回路を外部から侵入する静電電圧
    による破壊から保護する静電破壊保護回路において、 前記入出力回路と前記信号入出力端子との間に挿入され
    て前記信号入出力端子から侵入する静電電圧より前記入
    出力回路を保護する回路で前記内部回路対応で設けられ
    た第1の保護回路と、 前記複数の第1の保護回路全てに対して前記対電源とは
    独立した電源を供給する共通対電源端子と、 前記複数の内部回路にそれぞれ電源を供給する前記複数
    の対電源の第一電源端子に一方の電源端子を接続し、他
    方の電源端子を前記共通対電源端子の第二電源端子に接
    続するか、又は前記複数の対電源の第二電源端子に一方
    の電源端子を接続し、他方の電源端子を前記共通対電源
    端子の第一電源端子に接続して前記内部回路を静電電圧
    より保護する回路で前記複数の対電源対応で設けられた
    複数の第2の保護回路と、 を具備することを特徴とする静電破壊保護回路。
  2. 【請求項2】 前記全ての第1の保護回路に独立した別
    の対電源を供給する共通対電源端子を、前記複数の内部
    回路に電源を供給する複数の対電源端子のいずれかひと
    つの対電源端子と共用することを特徴とする請求項1に
    記載の静電破壊保護回路。
  3. 【請求項3】 前記複数の内部回路に電源を供給する複
    数の対電源端子の第一電源端子と第二電源端子間を接続
    して前記内部回路を静電電圧より保護する回路で前記複
    数の対電源対応で設けられた複数の第3の保護回路、及
    び前記全ての第1の保護回路に独立した別の対電源を供
    給する共通対電源端子の第一電源端子と第二電源端子間
    を接続して前記内部回路を静電電圧より保護する同第3
    の保護回路を設けたことを特徴とする請求項1又は2に
    記載の静電破壊保護回路。
  4. 【請求項4】 前記内部回路に電源を供給する対電源の
    数は3個以上とすることを特徴とする請求項1乃至3い
    ずれかに記載の静電破壊保護回路。
  5. 【請求項5】 外部の信号入出力端子と、 対電源から電源を供給されて、前記信号入出力端子との
    間で信号の入出力を行う入出力回路と、 前記入出力回路と前記信号入出力端子との間に挿入され
    て前記信号入出力端子から侵入する静電電圧より前記入
    出力回路を保護する保護回路と、 前記対電源とは独立して前記保護回路に電源を供給する
    独立した別の対電源と、 を具備することを特徴とする静電破壊保護回路。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004193475A (ja) * 2002-12-13 2004-07-08 Ricoh Co Ltd 電源用ic及びその電源用icを使用した通信装置
WO2005088701A1 (ja) * 2004-03-12 2005-09-22 Rohm Co., Ltd 半導体装置
JP2016006837A (ja) * 2014-06-20 2016-01-14 ザインエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP2016207846A (ja) * 2015-04-23 2016-12-08 日立オートモティブシステムズ株式会社 オンチップノイズ保護回路を有する半導体チップ

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004193475A (ja) * 2002-12-13 2004-07-08 Ricoh Co Ltd 電源用ic及びその電源用icを使用した通信装置
JP4499985B2 (ja) * 2002-12-13 2010-07-14 株式会社リコー 電源用ic及びその電源用icを使用した通信装置
US7856253B2 (en) 2002-12-13 2010-12-21 Ricoh Company, Ltd. Power supply IC having switching regulator and series regulator
WO2005088701A1 (ja) * 2004-03-12 2005-09-22 Rohm Co., Ltd 半導体装置
JP4978998B2 (ja) * 2004-03-12 2012-07-18 ローム株式会社 半導体装置
JP2016006837A (ja) * 2014-06-20 2016-01-14 ザインエレクトロニクス株式会社 半導体装置
US10504860B2 (en) 2014-06-20 2019-12-10 Thine Electronics, Inc. Semiconductor device
JP2016207846A (ja) * 2015-04-23 2016-12-08 日立オートモティブシステムズ株式会社 オンチップノイズ保護回路を有する半導体チップ

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