JP2002107410A - Tab用オートハンドラ - Google Patents

Tab用オートハンドラ

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JP2002107410A
JP2002107410A JP2000299786A JP2000299786A JP2002107410A JP 2002107410 A JP2002107410 A JP 2002107410A JP 2000299786 A JP2000299786 A JP 2000299786A JP 2000299786 A JP2000299786 A JP 2000299786A JP 2002107410 A JP2002107410 A JP 2002107410A
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pusher
clamper
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auto
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Toshiyuki Tezuka
利之 手塚
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Ando Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 測定部に接触させてTABの電気的特性を測
定する際に、TABのたわみを無くして正確に測定部に
接触させる。 【解決手段】 電気的特性が測定されるべき帯状のTA
B2をプローブ71の上方に搬送し、プローブ71に押
圧して電気的に接触させるTAB用オートハンドラ1に
おいて、TAB2の上方に上下動自在に設けられ、TA
B2を上方から押圧してプローブ71に接触させるプッ
シャ3と、プッシャ3とともに上下動自在に構成され、
TAB2がプッシャ3の押圧によりプローブ71に接触
される前にTAB2を挟持してTAB2を幅方向に引き
伸ばすクランプ部4とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般的には帯状の
フィルムキャリアに実装されたICチップをICテスタ
と接続させてICチップの電気的特性を測定し分類する
TAB(TapeAutomatedBonding:
テープ自動ボンディング)用オートハンドラに関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】TAB用オートハンドラは、特開平7−
239336号に開示されているように、リールに巻か
れたTAB(ICチップが実装されたフィルムキャリ
ア)を自動的に測定部まで逐次搬送し、測定部上に配置
され昇降するプッシャによりTABを下方に押圧するこ
とによってTABをプローブに接触させてテストし、測
定結果にもとづいて選別する。なお、TABテープのI
Cチップには、例えばLCD(液晶ディスプレイ)の駆
動用ICがある。
【0003】まず、全体構成を説明する。図4に示すよ
うに、従来のTAB用オートハンドラはTAB2が巻か
れ測定部にTAB2を供給する供給リール11、測定部
からのTAB2を巻き取り収容する収容リール12、同
期して回転しTAB2を測定位置に送り出すスプロケッ
ト13・14、スプロケット13・14間に配置されT
AB2をプローブ71に接触させるプッシャ102、ア
イドルプーリ15〜18、スプロケット19・20等に
より構成される。なお、TAB2は、ICチップ2a、
ICチップ2aを搭載するフィルムキャリア2b、IC
チップ2aと導通するテストパッド2c等を備える(図
5参照)。
【0004】供給リール11のTAB2はアイドルプー
リ15を介してスプロケット19に案内される。スプロ
ケット19は、供給リール11が送り出すTAB2をプ
ッシャ102側に走行させる。アイドルプーリ16は回
転中心を固定し、スプロケット19とスプロケット13
間に介在して配置され、スプロケット19により送り出
されたTAB2を測定部に案内する。プローブカード7
はプッシャ102と対向する形で装置に保持される。プ
ローブカード7は図示しないICテスタのテストヘッド
にアタッチメントユニット72を介して機械的または電
気的に分離可能に接続され、ICテスタでTAB2は測
定される。プッシャ102はプッシャ装置により上下駆
動するように構成されている。TAB2は、プッシャ1
02の下方でかつプローブ71の上方に設けられたクラ
ンプ部との間を走行し、プッシャ装置によりプローブ7
1に接触される前に、プッシャ102の下面とクランプ
部4とでTAB2を幅方向の両縁部で挟持される。
【0005】スプロケット13・14は、測定位置にお
けるプッシャ102の両翼に配置され、同期回転してT
AB2を1ピッチ分走行させる。また、スプロケット1
3・14をそれぞれ回転制御させることで、スプロケッ
ト13・14により走行するTAB2を長手方向に移動
できる。スプロケット13・14によりTAB2を測定
位置に移動できるとともに、TAB2に長手方向のテン
ションをかけてTAB2の屈曲や波打ち(特にTAB2
の長手方向の屈曲や波打ち)を防止する。アイドルプー
リ17は回転中心を固定し、スプロケット20とスプロ
ケット14間に介在して配置され、スプロケット14か
ら送り出されたTAB2をスプロケット20側に案内す
る。スプロケット20は収容リール12側にTAB2を
走行させ、アイドルプーリ18はスプロケット20によ
り送られたTAB2を収容リール12側に送り出して収
容リール12に巻き上げさせる。上記構成によりTAB
2は、スプロケット13・14が同期して回転すること
でTAB2の1ピッチ分送られ、供給リール11からス
プロケット19、スプロケット13、測定部、スプロケ
ット14、スプロケット20、収容リール12の順に移
動する。
【0006】上記TAB用オートハンドラは、図4の全
体構成図に示すように、TAB2を供給リール11から
収容リール12に巻き取る。また、図5の部分断面図に
示すように、TAB2は、プッシャ102とプッシャ1
02の下方に設けられたクランプ部103との間を走行
する。図5における測定部100のクランプ部103
は、TAB2の幅方向の端部をプッシャ102とで挟ん
で保持する。プッシャ102が下降することで、クラン
プ103とともにTAB110を挟んで保持し、プッシ
ャ102とクランプ部103とでTAB2を保持した状
態で更に下降してプローブカード7のプローブ71にT
AB2のテストパッド2cを接触させる。これによりT
AB2のICチップ2aの電気的特性が測定される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来のTAB用オートハンドラでは、クランプ部1
03はプッシャ102とともにTAB110を保持する
だけの構成であるので、TAB2は、フィルムキャリア
2bの中央に実装されているICチップ2aの重みによ
り中央がたわんだ状態でプッシャ102及びクランプ部
103に保持され、TAB2が下降された際にプローブ
71に正確に接触できない可能性があり、その際には再
度正確に接触させて測定する必要が生じ選別時間が多く
要する。また、近年、ICの軽薄短小化が進んでいるた
め、TABにおけるフィルムキャリアが薄くなり、プッ
シャ102を下降させてクランプ部103とで挟んで保
持する際に、フィルムキャリア113がたわむ可能性が
増えることになり上記問題が生じる可能性がある。
【0008】この発明の課題は、プローブに接触させて
TABの電気的特性を測定する際に、TABのたわみを
無くして正確に測定部に接触させる。
【0009】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
め、請求項1記載の発明は、例えば、図2に示すよう
に、TAB2を測定部に搬送し、前記測定部においてT
AB2をプローブ7に接触させるTAB用オートハンド
ラ1であって、前記TAB2の上方に上下動自在に設け
られ、前記TAB2を上方から押圧してプローブに接触
させるプッシャ3と、前記プッシャとともに上下動し、
前記TABが前記プッシャの押圧により前記測定部に接
触される前に前記TABを挟持して該TABを幅方向に
引き伸ばすクランプ部4とを備えることを特徴とする。
【0010】請求項1記載の発明によれば、TABはプ
ローブに接触される前に、前記クランプ部により測定部
に搬送されたTABの幅方向の両端部を挟持して、該T
ABを幅方向に引き伸ばすことができるので、前記TA
Bは屈曲や弛み等が無い状態、つまり張った状態で前記
クランプ部に保持される。したがって、プッシャの下降
とともに前記クランプ部をTABを張った状態で下降さ
せて前記プッシャにより前記プローブに正確に接触させ
ることができる。
【0011】請求項2記載の発明は、請求項1記載のT
AB用オートハンドラにおいて、例えば、図2及び図3
に示すように、前記クランプ部4は、前記TAB2の幅
方向の両端部をそれぞれ挟持する一対のクランパー(4
0A・40B)を持ち、前記クランパーは、前記プッシ
ャの下部に前記TABの幅方向に移動自在に設けられた
上クランパー(51・52)と、前記プッシャの下方に
前記TABの幅方向に移動自在に配置され、前記プッシ
ャが下降することにより前記上クランパーとでTABの
幅方向の端部を挟持する下クランパー(41・42)と
を有し、前記下クランパーを前記TABの幅方向に移動
させるクランパー移動手段(例えば、下クランパー支持
部44)を備えることを特徴とする。
【0012】請求項2記載の発明によれば、請求項1記
載の発明と同様の効果を得ることができるとともに、前
記プッシャを下降させると前記上クランパーと下クラン
パーとで前記TABの両端部は挟持され、前記クランパ
ー移動手段により下クランパーをTABの幅方向に離間
するように移動させることで、上クランパーは下クラン
パーに追従して移動し、前記TABを幅方向に容易に引
き伸ばすことができる。したがって、下クランパーを移
動させるだけでTABを幅方向に引き伸ばすことがで
き、下クランパーとでTABの端部を挟持する上クラン
パーを独立して駆動させる駆動手段を設ける必要がなく
構造の簡易化を図れる。
【0013】請求項3記載の発明は、請求項2記載のT
AB用オートハンドラ1において、例えば、図2に示す
ように、前記クランパー移動手段44は、前記下クラン
パー同しを互いに同期して離間する方向に移動させるこ
とを特徴とする。
【0014】請求項3記載の発明によれば、請求項2記
載の発明と同様の効果を得ることができるとともに、前
記下クランパー同しは前記クランパー移動手段により互
いに同期して離間する方向に移動するので、前記下クラ
ンパー及び前記上クランパーにより引き伸ばされるTA
Bの中心位置がずれにくい。
【0015】請求項4記載の発明は、請求項2または3
記載のTAB用オートハンドラにおいて、例えば、図3
に示すように、前記上クランパー51・52は付勢部材
38により、前記下クランパーとともにTAB2の端部
を挟持可能な位置に復帰するように付勢されていること
を特徴とする。
【0016】請求項4記載の発明によれば、前記上クラ
ンパーは前記付勢部材により前記下クランパーとともに
TAB2の両端部を挟持可能な位置に復帰するように構
成されているので、下クランパーとともにTABを挟持
して引き伸ばした状態から、TABの挟持を解除した際
に、前記付勢部材により前記挟持可能な位置に復帰され
る。よって、直ぐに、次に測定されるべきTABの幅方
向の両端部を挟持できる。
【0017】請求項5記載の発明は、請求項2〜4のい
ずれかに記載のTAB用オートハンドラにおいて、例え
ば図2に示すように、前記下クランパー41・42は付
勢部材47・48により上方に付勢された状態で前記プ
ッシャの下方に配置されていることを特徴とする。
【0018】請求項5記載の発明によれば、請求項2〜
4のいずれかに記載の発明と同様の効果を得ることがで
きるとともに、前記プッシャの下方に配置されている前
記下クランパー41・42は付勢部材47・48によっ
て上方に付勢されているので、上方から前記プッシャが
下降して前記上クランパーとでTABの幅方向の端部を
挟持する際に下クランパーは、上クランパーにより押圧
されたTABの端部により下方に押圧されるとともに前
記付勢部材により上方に付勢される。よって、TABは
前記上クランパーと下クランパーとから押圧される状態
となり、前記TABを確実に挟持できる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、図を参照して本発明の実施
の形態を詳細に説明する。図1は本発明の一実施の形態
による部分構成図であり、図5に対応する。なお、以下
の説明において、従来技術と重複する説明は割愛する。
【0020】まず、測定位置に送られたTAB2をプロ
ーブ71に接触させるプッシャ装置30について図1か
ら図3に基づいて説明する。図1に示すように、基台3
1、第1のモータ32、移動体33、第2のモータ3
4、プッシャ3、一対のクランパー40A・40Bを備
えるクランプ部4、ボールねじ部45、モータ46、付
勢部材(圧縮コイルばね)47・48等によりプッシャ
装置30は構成される。基台31は、図示しないXYス
テージにより前後左右に移動可能に設けられているとと
もに、基台31に取り付けられたモータ32により移動
体33を上下動可能に支持する。モータ32は基台31
の上面に取り付けられ、回転軸32aが垂直方向に延在
するように配置されたボールねじ部32bに連結されて
いる。ボールねじ部32bは移動体33に設けられたボ
ールナット(図示省略)に結合しており、モータ32の
回転によりボールねじ部32bが回転し、ボールねじ部
32bに結合するボールナットを介して移動体33が上
下動する。なお、移動体33はボールねじ部32bに結
合するボールナットを中心に回転しないように図示しな
いガイド部により規制されている。ガイド部は、例え
ば、基台に形成された突部と、移動体33に形成され、
前記突部と嵌合し上下に延在する溝部材等からなる。
【0021】移動体33には、上面にプッシャ3を昇降
させるモータ34、下クランパー支持部44等が設けら
れ、モータ34により移動体33が下降することによ
り、TAB2をクランプ部4で挟持した状態でプローブ
71に接触させる。モータ34は移動体33の上面に回
転軸34aが垂直方向に延在するように取り付けられ、
回転軸34aは垂直方向に延在して配置されたボールね
じ部34bに連結されている。ボールねじ部34bはプ
ッシャ3に設けられたボールナット(図示省略)に螺合
しており、モータ34の回転によりボールねじ部34b
が回転し、ボールねじ部34bに結合するボールナット
を介して移動体33が上下動する。なお、プッシャ3は
ボールねじ部32bに結合するボールナットを中心に回
転しないように図示しないガイド部により規制されてい
る。ガイド部は、例えば、移動体に形成された突部と、
プッシャ3に形成され、前記突部と嵌合し上下に延在す
る溝部材等からなる。
【0022】プッシャ3は、TAB2を挟んでプローブ
71と対向する位置に配置され、下面でTAB2を下方
に押圧することによってTAB2をプローブ71に電気
的接続させる。プッシャ3の下部において、TAB2が
走行する方向と直交する方向の両側の端部には、下クラ
ンパー41と上クランパー51、そして下クランパー4
2と上クランパー52とでそれぞれクランパー40A・
40Bを構成するクランプ部4が設けられている。な
お、TAB2は上クランパー51・52と下クランパー
41・42との間を走行する。また、クランパー40A
・40BはTABの幅方向の両端部をそれぞれ挟持し、
離間して線対称な形に配置される。これら一対のクラン
パー40A・40Bによりクランプ部4は構成される。
【0023】上クランパー51・52はプッシャ3の下
部に、TAB2の両端部を挟める程度に離間して配置さ
れ、それぞれTAB2の走行方向と直交する方向、つま
りTAB2の幅方向に開閉する。つまり、図2及び図3
に示すように、プッシャ3の下面部において、TAB2
が走行する方向と直交する方向の両側の端部には、下方
に開口し内部が開口部より大きく断面凸状のガイド溝3
6が形成されている。このガイド溝36はTAB2が走
行する方向と直行する方向に延在してなる。
【0024】上クランパー51・52は、それぞれガイ
ド溝36内に該ガイド溝36の内側底面36aに係止
し、ガイド溝36に沿って摺動する摺動部材510に結
合軸511を介して結合されている。摺動部材510は
ガイド溝36内において該ガイド溝36の外側端面と摺
動部材510との間に配設された付勢部材38により内
側に移動するように付勢されている。つまり、上クラン
パー51・52は付勢部材38により互いに接近する方
向に付勢されており、TAB2に当接しない状態では平
面視してプッシャ3の中心側に復帰する。この位置はT
AB2の幅に対応した位置であり、TAB2の幅方向の
縁部をそれぞれ挟持できる位置である。
【0025】下クランパー支持部44は、ボールねじ部
45、移動体本体に固定された軸受け53・54、下ク
ランパー本体部4A・4B等から構成される。図1に示
すようにボールねじ部45は、両端部で逆のねじ溝(ね
じ部45a・45b)が形成された長尺の軸材であり、
移動体33にTAB2と直交する方向に軸受け53・5
4を介して取り付けられている。ボールねじ部45は移
動体33に固定されたモータ46の回転軸に同一軸心と
なるように連結され、モータ46の駆動により回転す
る。そしてねじ部45a・45bには、それぞれ、下ク
ランパー41・42の下クランパー本体部4A・4Bに
固定されたナット部57・58が結合されている。
【0026】下クランパー本体部4A・4Bはプッシャ
3を挟んで左右対称に配置され、それぞれ移動体33に
TAB2の長手方向と直交する方向、つまり送られるT
AB2の幅方向に移動可能に設けられている。また、下
クランパー本体部4A・4Bはモータ46を駆動させる
ことによりボールねじ部45及びナット部57・58を
介して、互いに同期して移動して接近したり離間したり
する。このとき下クランパー本体部4A・4B間の距離
の中心は、常にTAB2の幅方向の中心と同一平面上に
位置する。
【0027】下クランパー本体部4A・4Bは、下端部
にそれぞれ下クランパー41・42を有するとともに鉛
直方向に延在しかつ鉛直方向に移動可能に設けられた軸
部411・421を備える。軸部411・421は上部
で下クランパー本体部4A・4Bにそれぞれ設けられた
中空部49を貫通しており、上部には中空部49内を上
下動可能なフランジ部412・422が設けられてい
る。
【0028】フランジ部412・422はそれぞれ下面
と中空部の底面との間に配設された付勢部材47・48
により上方に付勢され、通常時、つまりTAB2を挟持
しない状態時において中空部49の上面(内部の中空部
を上方で仕切る下クランパー本体部4A・4Bの上側内
壁面)に係止される。通常時にフランジ部412・42
2が中空部49の上面に係止されているので、下クラン
パー41・42は上方への移動を抑制されている。上記
構成により下クランパー41・42は、それぞれ上下方
向と、TAB2の幅方向に移動可能に支持され、互いに
近づいて上クランパー51・52と対向する位置に移動
するとともに、それぞれが離間する方向に移動する。な
お、下クランパー41・42の幅方向への移動はTAB
2の幅方向の中心を含む垂直な平面に対して対称に移動
する。また、下クランパー41・42が上クランパー5
1・52とともにTAB2を挟持しない際には、付勢部
材47・48によりTAB2の下方において、下クラン
パー本体部4A・4Bに対して最も高い位置に位置した
状態となる。
【0029】次に、これら下クランパー41・42、上
クランパー51・52を備えたクランプ部4でTAB2
を挟持する方法について説明する。モータ34を回転さ
せることによりプッシャ3を下降させる。プッシャ3の
下降により上クランパー51・52はTAB2に当接さ
れ、さらにTAB2が下クランパー41・42に当接さ
れる。その際、上クランパー51・52がTAB2を下
方に押圧する状態となるとともに、その押圧に対して下
クランパー41・42が付勢部材47・48により上方
に付勢されて下方からTAB2を押圧する。よって、T
AB2の両縁部は上下クランパー41・42・51・5
2により確実に挟持される。
【0030】そして、モータ46を駆動させて、下クラ
ンパー本体部4A・4Bを互いに離間する方向に移動さ
せる。すると、下クランパー本体部4A・4Bのそれぞ
れの下クランパー41・42は互に離間する方向に移動
する。このとき、下クランパー41・42とともにTA
B2を挟持している上クランパー51・52は、下クラ
ンパー41・42の移動に伴ってそれぞれ移動する。こ
れにより、TAB2は上下クランパーによりなるクラン
パー40A・40Bにより外側に、つまり幅方向に引っ
張られる。このとき下クランパー41・42は互いに同
期して離間しており、引き伸ばされるTAB2の中心位
置はずれにくくなっている。そして、モータ32を駆動
させて移動体33を下方に降ろす。するとTAB2は幅
方向に引き伸ばされた状態で下降する。これにより、T
AB2のテストパッド2cはプローブカード7のプロー
ブ71に確実に接触され、TABの1ピッチ分に搭載さ
れたICチップ2aは電気的特性を測定される。測定
後、モータ32を駆動させて移動体33を上昇させるこ
とで、プッシャ3及びクランプ部4に保持されたTAB
2を上昇させて測定されたTAB2をプローブ71から
離間させる。そして第2モータ34を駆動させてプッシ
ャ3を上昇させることによりクランパー40A・40B
によるTAB2の挟持状態を解除する。そしてTAB2
を収容リール12側に移動するようにスプロケット13
・14を回転駆動して、プッシャ3とプローブ71との
間である測定位置に、TABの次のピッチ分が送られ
る。
【0031】上記TAB用オートハンドラ1によれば、
供給リール11から送り出されたTAB2は、スプロケ
ット13を時計周り回転駆動、スプロケット14を反時
計周り回転駆動させることによりTAB2を長手方向に
引っ張ることで長手方向の屈曲や波打ちを防止できると
ともに、クランプ部4を構成する一対のクランパー40
A・40Bにおける上下クランパー41・51,42・
52をそれぞれ幅方向の端部を挟持した状態で離間する
方向に移動させることができるので、TAB2は幅方向
外側に引っ張られて、幅方向の屈曲やたわみを防止する
ことができる。よってTAB2は屈曲やたわみが消され
た状態でプッシャ3や移動体33の下降によりプローブ
71に押しつけられ正確な接触状態が保証される。
【0032】また、上クランパー51・52は付勢部材
38により下クランパー41・42とともにTAB2の
両端部を挟持可能な位置に復帰するように付勢されてい
るので、TAB2の電気的特性を測定した後、プッシャ
3を上昇させてクランパー40A・40BによるTAB
2の挟持を解除した際に、直ぐに次のTAB2の両端部
を挟持できる位置に移動し、次のTAB2を挟持でき
る。なお、下クランパーは下クランパー支持部44によ
り互いに接近するように移動され、次のTAB2を挟持
可能な位置に移動される。次のTAB2を挟持可能な位
置では上クランパー51・52と対向配置された状態と
なることが好ましい。
【0033】なお、付勢部材47・48を圧縮コイルば
ねとしたが、本発明はこれに限定されるものではなく下
クランパー41・42を上方に付勢するものであればど
のようなものでもよい。また、以上の実施の形態におい
ては、下クランパー41・42を上下動させる構成とし
て付勢部材47・48により上方に付勢されている構成
としたが、これに限らず、プッシャ3の下降によりTA
B2の幅方向の両縁部を確実に挟持できる構成であれ
ば、どのように構成されていてもよい。例えば、下クラ
ンパー41・42をモータにより上下動させる構成とし
てもよい。この場合、下クランパーを支持する鉛直方向
の軸部にラックを形成し、このラックに移動体に固定さ
れたモータにより回転するピニオンギアをかみ合わせる
もの等が挙げられる。また、TAB2がクランプ部4に
より挟持される面積は大きい方がより確実に挟持される
ので好ましい。少なくとも測定されるTABの長手方向
の長さがあれば好適である。その他、具体的な構成要素
等についても適宜に変更可能であることは勿論である。
【0034】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、前記TA
Bは屈曲や弛み等が無い状態、つまりピンと張った状態
で前記クランプ部に保持され、プッシャの下降とともに
前記クランプ部をTABを張った状態で下降させて前記
プッシャによりプローブに正確に接触させることができ
る。
【0035】請求項2記載の発明によれば、下クランパ
ーを移動させるだけでTABを幅方向に引き伸ばすこと
ができ、下クランパーとでTABの端部を挟持する上ク
ランパーを駆動させる駆動手段を設ける必要がない。
【0036】請求項3記載の発明によれば、下クランパ
ー同しは前記クランパー移動手段によりに互いに同期し
て移動されるので、引き伸ばされるTABの中心位置が
ずれにくい。
【0037】請求項4記載の発明によれば、前記上クラ
ンパーは前記付勢部材により前記下クランパーとともに
TAB2の両端部を挟持可能な位置に復帰するように構
成されているので、下クランパーとともにTABを挟持
して引き伸ばした状態から、TABの挟持を解除した際
に、前記付勢部材により前記挟持可能な位置に復帰さ
れ、次のTABの幅方向の両端部を挟持可能な状態とな
りTABの測定作業の迅速化が図れる。
【0038】請求項5記載の発明によれば、請求項2〜
4のいずれかに記載の発明と同様の効果を得ることがで
きるとともに、前記プッシャの下方に配置されている前
記下クランパーは付勢部材によって上方に付勢されてい
るので、上方から前記プッシャが下降して前記上クラン
パーとでTABの幅方向の端部を挟持する際に下クラン
パーは、上クランパーにより押圧されたTABの端部に
より下方に押圧されるとともに付勢部材により上方に付
勢され、TABを確実に挟持することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した一実施の形態のTAB用オー
トハンドラにおけるプッシャ装置の要部構成を示す概略
側面図である。
【図2】図1においてクランプ部の要部構成を説明する
プッシャ下部の部分拡大図である。
【図3】図2のプッシャ下部に設けられた上クランパー
を示す概略正面断面図である。
【図4】TAB用オートハンドラの全体構成を示す概略
平面図である。
【図5】従来のTAB用オートハンドラのプッシャ部分
の概略構成を示す図である。
【符号の説明】
1 TAB用オートハンドラ 2 TAB 3 プッシャ 4 クランプ部 7 プローブカード(測定部) 30 プッシャ装置 38 付勢部材 40A,40B クランパー 41,42 下クランパー 51,52 上クランパー 44 下クランパー支持部(クランパー移動手段) 47,48付勢部材 71 プローブ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】TABを測定部に搬送し、前記測定部にお
    いてTABをプローブに接触させるTAB用オートハン
    ドラであって、 前記TABの上方に上下動自在に設けられ、前記TAB
    を上方から押圧して前記プローブに接触させるプッシャ
    と、 前記プッシャとともに上下動し、前記プッシャの押圧に
    より前記TABが前記測定部に接触される前に前記TA
    Bを挟持して該TABを幅方向に引き伸ばすクランプ部
    とを備えることを特徴とするTAB用オートハンドラ。
  2. 【請求項2】請求項1記載のTAB用オートハンドラに
    おいて、 前記クランプ部は、前記TABの幅方向の両端部をそれ
    ぞれ挟持する一対のクランパーを持ち、 前記クランパーは、前記プッシャの下部に前記TABの
    幅方向に移動自在に設けられた上クランパーと、前記プ
    ッシャの下方に前記TABの幅方向に移動自在に配置さ
    れ、前記プッシャが下降することにより前記上クランパ
    ーとで前記TABの幅方向の端部を挟持する下クランパ
    ーとを有し、 前記下クランパーを前記TABの幅方向に移動させるク
    ランパー移動手段を備えることを特徴とするTAB用オ
    ートハンドラ。
  3. 【請求項3】請求項2記載のTAB用オートハンドラに
    おいて、 前記クランパー移動手段は、前記下クランパー同しを互
    いに同期して離間する方向に移動させることを特徴とす
    るTAB用オートハンドラ。
  4. 【請求項4】請求項2または3記載のTAB用オートハ
    ンドラにおいて、 前記上クランパーは付勢部材により、前記下クランパー
    とともにTABの幅方向の端部を挟持可能な位置に復帰
    するように付勢されていることを特徴とするTAB用オ
    ートハンドラ。
  5. 【請求項5】請求項2〜4のいずれかに記載のTAB用
    オートハンドラにおいて、 前記下クランパーは付勢部材により上方に付勢された状
    態で前記プッシャの下方に配置されていることを特徴と
    するTAB用オートハンドラ。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005109016A1 (ja) * 2004-05-12 2005-11-17 Advantest Corporation Tcpハンドリング装置
KR100670977B1 (ko) 2005-05-11 2007-01-17 에버테크노 주식회사 편광필름 캐리어
KR100741289B1 (ko) 2005-05-16 2007-07-23 에버테크노 주식회사 편광필름 캐리어
KR100833248B1 (ko) * 2006-11-23 2008-05-29 가부시키가이샤 아드반테스트 Tcp 핸들링 장치
JP2008224399A (ja) * 2007-03-13 2008-09-25 Yokogawa Electric Corp オートハンドラ
JP2017044498A (ja) * 2015-08-24 2017-03-02 大日本印刷株式会社 周波数測定方法及び周波数測定装置、周波数測定用治具
KR20210006285A (ko) * 2019-07-08 2021-01-18 야마하 파인 테크 가부시키가이샤 전기 검사 장치 및 보유 지지 유닛

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100487534B1 (ko) * 2002-08-20 2005-05-03 최현호 필름 평탄유지 클램프장치
DE102006031568A1 (de) * 2006-07-07 2008-01-10 Siemens Ag Verfahren zum elektrischen Testen von Chips
DE102007006274A1 (de) * 2007-02-08 2008-08-14 Polyic Gmbh & Co. Kg Messvorrichtung mit einem Messrad
CN106299735B (zh) * 2016-07-29 2017-12-12 国网山东省电力公司蓬莱市供电公司 一种电力检测仪器接地装置
CN106129648B (zh) * 2016-07-29 2017-12-12 国网山东省电力公司蓬莱市供电公司 一种电力检测仪器接地装置
KR102091707B1 (ko) * 2018-12-26 2020-03-20 임진수 디스플레이 패널 검사용 컨택 블럭 제작 설비
CN109827611A (zh) * 2019-03-25 2019-05-31 海安芯润集成电路科技有限公司 一种用于贴片元器件的检测装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10185996A (ja) * 1996-12-25 1998-07-14 Ando Electric Co Ltd Tabハンドラのicチップの接触位置決め機構
JP2001185588A (ja) * 1999-12-22 2001-07-06 Ando Electric Co Ltd Tab、プローブカード、tabハンドラ、及びicチップ測定方法

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005109016A1 (ja) * 2004-05-12 2005-11-17 Advantest Corporation Tcpハンドリング装置
JPWO2005109016A1 (ja) * 2004-05-12 2008-03-21 株式会社アドバンテスト Tcpハンドリング装置
CN100570385C (zh) * 2004-05-12 2009-12-16 株式会社爱德万测试 Tcp处理装置
KR100670977B1 (ko) 2005-05-11 2007-01-17 에버테크노 주식회사 편광필름 캐리어
KR100741289B1 (ko) 2005-05-16 2007-07-23 에버테크노 주식회사 편광필름 캐리어
KR100833248B1 (ko) * 2006-11-23 2008-05-29 가부시키가이샤 아드반테스트 Tcp 핸들링 장치
JP2008224399A (ja) * 2007-03-13 2008-09-25 Yokogawa Electric Corp オートハンドラ
JP2017044498A (ja) * 2015-08-24 2017-03-02 大日本印刷株式会社 周波数測定方法及び周波数測定装置、周波数測定用治具
KR20210006285A (ko) * 2019-07-08 2021-01-18 야마하 파인 테크 가부시키가이샤 전기 검사 장치 및 보유 지지 유닛
KR102311432B1 (ko) 2019-07-08 2021-10-12 야마하 파인 테크 가부시키가이샤 전기 검사 장치 및 보유 지지 유닛

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