JP2002093846A - ワイヤボンディング装置 - Google Patents

ワイヤボンディング装置

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体チップなどの被ボンディング物への放
電を防止し、不良の被ボンディング物の発生を防止す
る。また、安定したボンディング作業が行えるワイヤボ
ンディング装置を提供する。 【解決手段】 ワイヤ1を導出するキャピラリ2と、こ
のキャピラリ2から導出されたワイヤ1の先端に電気火
花を飛ばしてボール1aを形成するトーチロッド3と、
ワイヤ1でボンディングされる被ボンディング物である
半導体チップ4や基板5を載置するステージ6と、半導
体チップ4や基板5をステージ6とで保持する保持部材
7とを備えたワイヤボンディング装置において、ステー
ジ6と保持部材7を絶縁部材13,14で覆ったもので
ある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ワイヤボンディン
グ装置に関する。特に、ワイヤの先端に放電により電気
火花を飛ばしてボールを形成するワイヤボンディング装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】図4には、一般的に用いられるワイヤボ
ンディング装置の一例が示されており、図中、1は金な
どの導電材料からなるワイヤ、2はワイヤ1を導出し、
垂直水平方向に移動可能なキャピラリ、3はキャピラリ
2から導出されたワイヤ1の先端に放電により電気火花
を飛ばしてボール1aを形成するトーチロッド、4はワ
イヤ1でボンディングされるICなどの半導体チップ、
5は同じくワイヤ1でボンディングされるパッドを備え
た基板、6は半導体チップ4を載せた基板5を載置する
ステンレスなどの金属からなるステージ、7は基板5上
面に当接し、ステージ6とともに基板5を保持するステ
ンレスなどの金属からなる保持部材、8はヒータユニッ
ト、9はステージ6をヒータユニット8に固定するビス
である。
【0003】次に、その動作について説明する。まず、
キャピラリ2から伸びたワイヤ1の先端にボール1aが
予め形成してある。次に、キャピラリ2がヘッド上下駆
動機構により下降し、キャピラリ2に設けた超音波ホー
ン10を介して超音波発振器11からの発振された超音
波と圧力とを加えることによって接続するボールボンデ
ィングにより、半導体チップ4の電極にボール1aと半
導体チップ4の電極とを接合する。次に、キャピラリ2
が一定量上昇し、平面方向に一定量移動後下降し、キャ
ピラリ2に設けた超音波ホーン10を介して超音波発振
器11からの発振された超音波と圧力とを加えることに
よって接続するウェッジボンディングにより、基板5の
電極にワイヤ1を接合する。次に、キャピラリ2が一定
量上昇した後、ワイヤ1を図示しないクランパにより保
持して上昇し、基板5の電極部に接合されたワイヤ部分
からワイヤ1を断裂し、半導体チップ4と基板5とのワ
イヤ1による接続が完成する。そして、次のワイヤ1の
接続に備えて、キャピラリ2から出たワイヤ1の先端
に、トーチロッド3から放電により電気火花を飛ばし
て、ボール1aを形成する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ワイヤ
1が確実に半導体チップ4や基板5に接続されるとは限
らず、例えば、図中で示すように、半導体チップ4に接
続しているが、基板5への接続に失敗した場合に、接続
に失敗したワイヤ12へ電気火花が飛び、ワイヤ12か
ら伝わった電気は、半導体チップ4,基板5そして保持
部材7へ、あるいは、半導体チップ4,基板5,基板5
に形成したスルーホール5aそしてステージ6へと伝わ
ることにより、半導体チップ4に過度の電気が流れて、
半導体チップ4を破壊するため、その半導体チップ4は
不良品となる。
【0005】また、ワイヤ1が確実に半導体チップ4と
基板5に接続された場合でも、例えば、基板5へのボン
ディング作業時に、ワイヤ1が基板5に接続された部分
から切断されてしまい、キャピラリ2を引き上げるとき
に、ワイヤ1も同時に引き上げられ、キャピラリ2の先
端にワイヤ1が位置しない場合などがある。このような
キャピラリ2の先端にワイヤ1が位置しない場合におい
ては、正常に接続されたワイヤ1にトーチロッド3から
の放電による電気火花が飛んでしまい、前述と同様に、
半導体チップ4に過度の電気が流れて、半導体チップ4
を破壊するため、その半導体チップ4は不良品となる。
【0006】また、ワイヤ1が確実に接続された場合で
も、トーチロッド3からの放電が常にキャピラリ2から
伸びるワイヤ1の先端に与えられるとは限らず、キャピ
ラリ2から伸びるワイヤ1の先端に放電されない場合も
あり、この場合、次の動作時にはワイヤ1にボール1a
が形成されないという問題があった。
【0007】本発明は、半導体チップなどの被ボンディ
ング物への放電を防止し、被ボンディング物の不良の発
生を防止する。また、安定したボンディング作業が行え
るワイヤボンディング装置を提供することを目的とす
る。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、ワイヤを導出
するキャピラリと、このキャピラリから導出されたワイ
ヤの先端に電気火花を飛ばしてボールを形成するトーチ
ロッドと、前記ワイヤでボンディングされる被ボンディ
ング物を載置するステージと、前記被ボンディング物を
前記ステージとで保持する保持部材とを備えたワイヤボ
ンディング装置において、前記ステージと前記保持部材
を絶縁部材で覆ったものである。
【0009】また、ワイヤを導出するキャピラリと、こ
のキャピラリから導出されたワイヤの先端に電気火花を
飛ばしてボールを形成するトーチロッドと、前記ワイヤ
でボンディングされる被ボンディング物を載置するステ
ージと、前記被ボンディング物を前記ステージとで保持
する保持部材とを備えたワイヤボンディング装置におい
て、前記ステージの少なくとも前記被ボンディング物を
載置する部分に絶縁部材で覆うとともに前記保持部材の
少なくとも前記被ボンディング物と接触する部分を絶縁
部材で覆ったものである。
【0010】また、ワイヤを導出するキャピラリと、こ
のキャピラリから導出されたワイヤの先端に電気火花を
飛ばしてボールを形成するトーチロッドと、前記ワイヤ
でボンディングされる被ボンディング物を載置するステ
ージと、前記被ボンディング物を前記ステージとで保持
する保持部材とを備えたワイヤボンディング装置におい
て、前記ステージを絶縁部材で形成するとともに前記保
持部材を絶縁部材で覆ったものである。
【0011】また、ワイヤを導出するキャピラリと、こ
のキャピラリから導出されたワイヤの先端に電気火花を
飛ばしてボールを形成するトーチロッドと、前記ワイヤ
でボンディングされる被ボンディング物を載置するステ
ージと、前記被ボンディング物を前記ステージとで保持
する保持部材とを備えたワイヤボンディング装置におい
て、前記ステージを絶縁部材で形成するとともに前記保
持部材の少なくとも前記被ボンディング物と接触する部
分を絶縁部材で覆ったものである。
【0012】また、前記ステージを形成する前記絶縁部
材がセラミックからなるものである。
【0013】また、前記トーチロッドの近傍に避雷針を
設けたものである。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明によるワイヤボンディング
装置は、ワイヤ1を導出するキャピラリ2と、このキャ
ピラリ2から導出されたワイヤ1の先端に電気火花を飛
ばしてボール1aを形成するトーチロッド3と、ワイヤ
1でボンディングされる被ボンディング物である半導体
チップ4や基板5を載置するステージ6と、半導体チッ
プ4や基板5をステージ6とで保持する保持部材7とを
備えたワイヤボンディング装置において、ステージ6と
保持部材7を絶縁部材13,14で覆ったものである。
このように構成したことにより、ボンディングに失敗し
たワイヤを介して半導体チップ4や基板5などの被ボン
ディング物への放電を防止することができ、被ボンディ
ング物の不良の発生を防止することができる。また、ワ
イヤ1が確実に接続された場合には、ワイヤ1とトーチ
ロッド3との間に確実に放電を生じさせることができ、
安定したボンディング作業が行うことができる。
【0015】また、ワイヤ1を導出するキャピラリ2
と、このキャピラリ2から導出されたワイヤ1の先端に
電気火花を飛ばしてボール1aを形成するトーチロッド
3と、ワイヤ1でボンディングされる被ボンディング物
である半導体チップ4や基板5を載置するステージ6
と、半導体チップ4や基板5をステージ6とで保持する
保持部材7とを備えたワイヤボンディング装置におい
て、ステージ6の少なくとも基板5を載置する部分6a
を絶縁部材13で覆うとともに保持部材7の少なくとも
基板5と接触する部分7aを絶縁部材14で覆ったもの
である。このように構成したことにより、ボンディング
に失敗したワイヤを介して半導体チップ4や基板5など
の被ボンディング物への放電を防止することができ、被
ボンディング物の不良の発生を防止することができる。
また、ワイヤ1が確実に接続された場合には、ワイヤ1
とトーチロッド3との間に確実に放電を生じさせること
ができ、安定したボンディング作業が行うことができ
る。
【0016】また、ワイヤ1を導出するキャピラリ2
と、このキャピラリ2から導出されたワイヤ1の先端に
電気火花を飛ばしてボール1aを形成するトーチロッド
3と、ワイヤ1でボンディングされる被ボンディング物
である半導体チップ4や基板5を載置するステージ6
と、半導体チップ4や基板5をステージ6とで保持する
保持部材7とを備えたワイヤボンディング装置におい
て、ステージ6を絶縁部材で形成するとともに保持部材
7を絶縁部材14で覆ったものである。このように構成
したことにより、ボンディングに失敗したワイヤを介し
て半導体チップ4や基板5などの被ボンディング物への
放電を防止することができ、被ボンディング物の不良の
発生を防止することができる。また、ワイヤ1が確実に
接続された場合には、ワイヤ1とトーチロッド3との間
に確実に放電を生じさせることができ、安定したボンデ
ィング作業が行うことができる。
【0017】また、ワイヤ1を導出するキャピラリ2
と、このキャピラリ2から導出されたワイヤ1の先端に
電気火花を飛ばしてボール1aを形成するトーチロッド
3と、ワイヤ1でボンディングされる被ボンディング物
である半導体チップ4や基板5を載置するステージ6
と、半導体チップ4や基板5をステージ6とで保持する
保持部材7とを備えたワイヤボンディング装置におい
て、ステージ6を絶縁部材で形成するとともに保持部材
7の少なくとも基板5と接触する部分7aを絶縁部材1
4で覆ったものである。このように構成したことによ
り、ボンディングに失敗したワイヤを介して半導体チッ
プ4や基板5などの被ボンディング物への放電を防止す
ることができ、被ボンディング物の不良の発生を防止す
ることができる。また、ワイヤ1が確実に接続された場
合には、ワイヤ1とトーチロッド3との間に確実に放電
を生じさせることができ、安定したボンディング作業が
行うことができる。
【0018】また、ステージ6を形成する絶縁部材がセ
ラミックからなるものである。このように構成したこと
により、ボンディングに失敗したワイヤを介して半導体
チップ4や基板5などの被ボンディング物への放電を防
止することができ、被ボンディング物の不良の発生を防
止することができる。また、ワイヤ1が確実に接続され
た場合には、ワイヤ1とトーチロッド3との間に確実に
放電を生じさせることができ、安定したボンディング作
業が行うことができる。また、耐摩耗性に優れており、
耐久性のよいステージを備えたワイヤボンディング装置
を提供することができる。
【0019】また、トーチロッド3の近傍に避雷針16
を設けたものである。このように構成したことにより、
ボンディングに失敗したワイヤを介して半導体チップ4
や基板5などの被ボンディング物への放電を防止するこ
とができ、被ボンディング物の不良の発生を防止するこ
とができる。
【0020】
【実施例】以下、図1に基づいて本発明の第一実施例を
説明する。なお、前記従来例と同一及び相当箇所には同
一符号を付してその詳細な説明は省略する。
【0021】図1において、1はワイヤ、2はキャピラ
リ、3はトーチロッド、4は半導体チップ、5は基板、
6はステージ、7は保持部材、8はヒータユニット、9
はビス、13,14は絶縁部材である。
【0022】本実施例においては、半導体チップ4と基
板5が、ボンディング装置にてボンディングされる被ボ
ンディング物であるが、基板5の代わりにリードフレー
ムなどを用いたものでもよい。
【0023】ステージ6は、半導体チップ4と基板5と
をその上面に載置した状態で、図示しない駆動手段にて
ヒータユニット8とともに昇降動作をさせられる。保持
手段7は、昇ってくるステージ6上に載置された基板5
の上面をおさえるもので、ステージ6との間で、基板5
を狭持するものである。
【0024】従来は、ステージ6と保持部材7は図4で
示すように露出しているものであったが、本実施例にお
いては、ステージ6と保持部材7はその表面を絶縁部材
である四フッ化エチレン樹脂からなる粘着テープ13,
14が貼り付けられて覆われている。
【0025】このように、ステージ6と保持部材7を絶
縁部材である四フッ化エチレン樹脂からなる粘着テープ
13,14で覆ったことにより、トーチロッド3からの
放電がボンディングに失敗したワイヤ12に生じること
がなく、ワイヤ12を介して半導体チップ4や基板5に
放電されず、半導体チップ4や基板5の損傷を防止する
ことができ、不良の発生を防止することができる。ま
た、ワイヤ1がボンディングに確実に接続した場合に
は、ワイヤ1の先端に以外に放電することなく、確実に
ワイヤ1の先端に放電することで、ボール1aを形成す
ることができ、安定したボンディング作業を行うことが
できる。
【0026】なお、前記実施例では、絶縁部材として四
フッ化エチレン樹脂の粘着テープ13,14を例にとっ
たが、また、四フッ化エチレン樹脂やセラミックなどの
絶縁部材からなる皮膜でステージ6と保持部材7を覆っ
たものでもよい。また、他の材料としては、耐熱性硬質
ゴム、耐熱性プラスチックなどであってもよい。
【0027】また、前記実施例では、ステージ6と保持
部材7の全面を絶縁部材で覆っていたが、図2の第二実
施例で示すように、ステージ6の半導体チップ4や基板
5を載置する部分7aとステージ6の側面の一部を絶縁
部材13で覆ったものでもよい。また、保持部材7の少
なくとも基板5と接触する部分を絶縁部材14で覆った
ものでもよい。なお、図示していないが、ステージ6の
半導体チップ4や基板5を載置する部分7aのみを絶縁
部材13で覆ったものでもよい。
【0028】次に本発明の第三実施例を説明する。本実
施例は、トーチロッド3の近傍に避雷針15を設けたも
のである。この避雷針15の設けられる位置は、キャピ
ラリ2が垂直水平方向に移動し、ボール1aを形成する
位置に位置したときに、避雷針15からトーチロッド3
までの距離L1が、キャピラリ2から導出され予め所定
の位置にあるべきワイヤ1の先端(ボール1aの位置)
からトーチロッド3までの距離L2より遠い位置で、か
つ、被ボンディング物やキャピラリ2の先端や保持部材
7などの他の部材からトーチロッド3までの距離L3よ
り近い位置である。すなわち、距離の関係は、L2<L
1<L3で示される。
【0029】このように構成したことにより、キャピラ
リ2の先端に所定の長さのワイヤ1がなく、先端に放電
されない場合、トーチロッド3からの放電による電気火
花がキャピラリ2の先端のワイヤ1以外に生じることが
なく、避雷針15に放電されるので、半導体チップ4や
基板5の損傷を防止することができる。また、仮にボン
ディングに失敗したワイヤ12の先端12aが避雷針1
5からトーチロッド3までの距離L1より近い位置に位
置した場合でも、前記第一第二実施例で示したように、
ステージ6や保持部材7に絶縁部材13,14を設けた
ことにより、半導体チップ4や基板5などの被ボンディ
ング物にワイヤ12を介して放電されることがなく、被
ボンディング物の損傷を防止することができる。
【0030】また、前記各実施例では、ステージ6は絶
縁部材13で覆われていたが、絶縁部材13で覆うこと
に代えて、ステージ6自体を絶縁部材で形成するように
してもよい。特に、ステージ6上を被ボンディング物が
移動するので、耐摩耗性の高い材料がよく、例えば、絶
縁部材を耐摩耗性の高いセラミックで形成するようにし
てもよい。
【0031】また、ビス9も絶縁性を備えた耐熱性の合
成樹脂から形成すれば、ステージ6の絶縁性が高まり、
半導体チップ4や基板5の損傷を防止することができ
る。また、ワイヤ1の先端に確実に放電することで、ボ
ール1aを形成することができ、安定したボンディング
作業を行うことができる。
【0032】
【発明の効果】以上、本発明により、初期の目的を達成
することができ、半導体チップなどの被ボンディング物
への放電を防止し、被ボンディング物の不良の発生を防
止する。また、安定したボンディング作業が行えるワイ
ヤボンディング装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一実施例の断面図である。
【図2】本発明の第二実施例の断面図である。
【図3】本発明の第三実施例の断面図である。
【図4】従来例の断面図である。
【符号の説明】
1 ワイヤ 1a ボール 2 キャピラリ 3 トーチロッド 4 半導体チップ(被ボンディング物) 5 基板(被ボンディング物) 5a スルーホール 6 ステージ 7 保持部材 12 ワイヤ 13,14 絶縁部材 15 避雷針

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ワイヤを導出するキャピラリと、このキ
    ャピラリから導出されたワイヤの先端に電気火花を飛ば
    してボールを形成するトーチロッドと、前記ワイヤでボ
    ンディングされる被ボンディング物を載置するステージ
    と、前記被ボンディング物を前記ステージとで保持する
    保持部材とを備えたワイヤボンディング装置において、
    前記ステージと前記保持部材を絶縁部材で覆ったことを
    特徴とするワイヤボンディング装置。
  2. 【請求項2】 ワイヤを導出するキャピラリと、このキ
    ャピラリから導出されたワイヤの先端に電気火花を飛ば
    してボールを形成するトーチロッドと、前記ワイヤでボ
    ンディングされる被ボンディング物を載置するステージ
    と、前記被ボンディング物を前記ステージとで保持する
    保持部材とを備えたワイヤボンディング装置において、
    前記ステージの少なくとも前記被ボンディング物を載置
    する部分に絶縁部材で覆うとともに前記保持部材の少な
    くとも前記被ボンディング物と接触する部分を絶縁部材
    で覆ったことを特徴とするワイヤボンディング装置。
  3. 【請求項3】 ワイヤを導出するキャピラリと、このキ
    ャピラリから導出されたワイヤの先端に電気火花を飛ば
    してボールを形成するトーチロッドと、前記ワイヤでボ
    ンディングされる被ボンディング物を載置するステージ
    と、前記被ボンディング物を前記ステージとで保持する
    保持部材とを備えたワイヤボンディング装置において、
    前記ステージを絶縁部材で形成するとともに前記保持部
    材を絶縁部材で覆ったことを特徴とするワイヤボンディ
    ング装置。
  4. 【請求項4】 ワイヤを導出するキャピラリと、このキ
    ャピラリから導出されたワイヤの先端に電気火花を飛ば
    してボールを形成するトーチロッドと、前記ワイヤでボ
    ンディングされる被ボンディング物を載置するステージ
    と、前記被ボンディング物を前記ステージとで保持する
    保持部材とを備えたワイヤボンディング装置において、
    前記ステージを絶縁部材で形成するとともに前記保持部
    材の少なくとも前記被ボンディング物と接触する部分を
    絶縁部材で覆ったことを特徴とするワイヤボンディング
    装置。
  5. 【請求項5】 前記ステージを形成する前記絶縁部材が
    セラミックからなることを特徴とする請求項3または4
    記載のワイヤボンディング装置。
  6. 【請求項6】 前記トーチロッドの近傍に避雷針を設け
    たことを特徴とする請求項1から請求項5の何れかに記
    載のワイヤボンディング装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2003037131A (ja) * 2001-07-25 2003-02-07 Sanyo Electric Co Ltd ボンディング装置
CN108122793A (zh) * 2016-11-29 2018-06-05 三菱电机株式会社 半导体制造装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2003037131A (ja) * 2001-07-25 2003-02-07 Sanyo Electric Co Ltd ボンディング装置
CN108122793A (zh) * 2016-11-29 2018-06-05 三菱电机株式会社 半导体制造装置
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