JP2002040238A - 光学多層構造体および光スイッチング素子、並びに画像表示装置 - Google Patents

光学多層構造体および光スイッチング素子、並びに画像表示装置

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JP2002040238A JP2000219599A JP2000219599A JP2002040238A JP 2002040238 A JP2002040238 A JP 2002040238A JP 2000219599 A JP2000219599 A JP 2000219599A JP 2000219599 A JP2000219599 A JP 2000219599A JP 2002040238 A JP2002040238 A JP 2002040238A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡単な構成で、小型軽量であると共に、構成
材料の選択にも自由度があり、可視光領域においても高
速応答が可能であり、画像表示装置に好適に用いること
ができる光学多層構造体を提供する。 【構成】 光学多層構造体1は、基板10の上に、この
基板10に接する、光の吸収のある第1の層11、光の
干渉現象を起こし得る大きさを有すると共にその大きさ
を変化させることのできる間隙部12、および第2の層
13をこの順で配設した構造を有する。間隙部12の大
きさを変化させることにより、入射した光の反射、透過
若しくは吸収の量を変化させることができる。基板10
は例えばカーボン(C)、第1の層11は例えばタンタ
ル(Ta)、第2の層13は例えば窒化珪素(Si3
4 )によりそれぞれ形成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、入射光を反射,透
過若しくは吸収させる機能を有する光学多層構造体、お
よびこれを用いた光スイッチング素子並びに画像表示装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、映像情報の表示デバイスとしての
ディスプレイの重要性が高まっており、このディスプレ
イ用の素子として、更には、光通信,光記憶装置,光プ
リンタなどの素子として、高速で動作する光スイッチン
グ素子(ライトバルブ)の開発が要望されている。従
来、この種の素子としては、液晶を用いたもの、マイク
ロミラーを用いたもの(DMD;Digtal Micro Miror D
evice 、ディジタルマイクロミラーデバイス、テキサス
インスツルメンツ社の登録商標)、回折格子を用いたも
の(GLV:Grating Light Valve,グレーティングライ
トバルブ、SLM(シリコンライトマシン)社)等があ
る。
【0003】GLVは回折格子をMEMS(Micro Elec
tro Mechanical Systems) 構造で作製し、静電力で10
nsの高速ライトスイッチング素子を実現している。D
MDは同じくMEMS構造でミラーを動かすことにより
スイッチングを行うものである。これらのデバイスを用
いてプロジェクタ等のディスプレイを実現できるもの
の、液晶とDMDは動作速度が遅いために、ライトバル
ブとしてディスプレイを実現するためには2次元配列と
しなければならず、構造が複雑となる。一方、GLVは
高速駆動型であるので、1次元アレイを走査することで
プロジェクションディスプレイを実現することができ
る。
【0004】しかしながら、GLVは回折格子構造であ
るので、1ピクセルに対して6つの素子を作り込んだ
り、2方向に出た回折光を何らかの光学系で1つにまと
める必要があるなどの複雑さがある。
【0005】簡単な構成で実現できるものとしては、米
国特許公報5589974号や米国特許公報55007
61号に開示されたものがある。このライトバルブは、
基板(屈折率nS )の上に間隙部(ギャップ層)を挟ん
で、屈折率が√nS の透光性の薄膜を設けた構造を有し
ている。この素子では、静電力を利用して薄膜を駆動
し、基板と薄膜との間の距離、すなわち、間隙部の大き
さを変化させることにより、光信号を透過あるいは反射
させるものである。ここで、薄膜の屈折率は基板の屈折
率nS に対して、√nS となっており、このような関係
を満たすことにより、高コントラストの光変調を行うこ
とができるとされている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような構成の素子では、基板の屈折率nS が「4」など
の大きな値でなければ、可視光領域においては実現する
ことはできないという問題がある。すなわち、透光性薄
膜としては、構造体であることを考えると、窒化珪素
(Si3 4 )(屈折率n=2.0)などの材料が望ま
しいので、その場合には基板の屈折率nS =4となる。
可視光領域では、このような透明基板は入手が困難であ
り、材料の選択肢は狭い。赤外線等の通信用波長では、
ゲルマニウム(Ge)(n=4)などを用いることによ
り実現可能であるが、ディスプレイなどの用途として
は、現実的には適用することは難しいと思われる。
【0007】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
ので、その第1の目的は、簡単な構成で、小型軽量であ
ると共に、構成材料の選択にも自由度があり、かつ可視
光領域においても高速応答が可能であり、画像表示装置
等に好適に用いることができる光学多層構造体を提供す
ることにある。
【0008】また、本発明の第2の目的は、上記光学多
層構造体を用いた高速応答が可能な光スイッチング素子
および画像表示装置を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明による光学多層構
造体は、基板上に、光の吸収のある第1の層、光の干渉
現象を起こし得る大きさを有すると共にその大きさが可
変な間隙部、および第2の層を配設した構造を有するも
のであり、特に、第1の層、間隙部および第2の層をこ
の順で配設した構成のものが望ましい。
【0010】本発明の光学多層構造体では、基板の複素
屈折率をNS (=nS −i・kS ,nS は屈折率,kS
は消衰係数,iは虚数単位)、第1の層の複素屈折率を
1(=n1 −i・k1 ,n1 は屈折率,k1 は消衰係
数)、第2の層の屈折率をn 2 、入射媒質の屈折率を
1.0としたとき、次式(2)の関係を満たすように構
成することが好ましい。
【0011】
【0012】本発明による光スイッチング素子は、本発
明の光学多層構造体と、この光学多層構造体における間
隙部の光学的な大きさを変化させるための駆動手段とを
備えたものである。
【0013】本発明による画像表示装置は、本発明によ
る光スイッチング素子を複数個、1次元あるいは2次元
に配列したものであり、3原色の光を照射し、スキャナ
によって走査することで2次元画像を表示するものであ
る。
【0014】本発明による光学多層構造体では、間隙部
の大きさを、「λ/4」(λは入射光の設計波長)の奇
数倍と「λ/4」の偶数倍(0を含む)との間で、2値
的あるいは連続的に変化させると、入射光の反射、透過
若しくは吸収の量が2値的あるいは連続的に変化する。
【0015】本発明の光学多層構造体では、また、間隙
部の大きさを0に固定し、基板と、この基板に接して形
成された、光の吸収のある第1の層と、この第1の層の
前記基板とは反対側の面に接して形成された第2の層と
を備えた構成とすることにより、反射防止膜として利用
することが可能になる。
【0016】本発明による光スイッチング素子では、駆
動手段によって、光学多層構造体の間隙部の光学的な大
きさが変化することにより、入射光に対してスイッチン
グ動作がなされる。
【0017】本発明による画像表示装置では、1次元あ
るいは2次元に配列された本発明の複数の光スイッチン
グ素子に対して光が照射されることによって2次元画像
が表示される。
【0018】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
【0019】図1および図2は、本発明の一実施の形態
に係る光学多層構造体1の基本的な構成を表すものであ
る。図1は光学多層構造体1における後述の間隙部12
が存在し、高反射時の状態、図2は光学多層構造体1の
間隙部12がなく、低反射時の状態をそれぞれ示してい
る。なお、この光学多層構造体1は具体的には例えば光
スイッチング素子として用いられ,この光スイッチング
素子を複数個1次元または2次元に配列することによ
り、画像表示装置を構成することができる。また、詳細
は後述するが、図2のような構造に固定した場合には、
反射防止膜として利用することができるものである。
【0020】本実施の形態の光学多層構造体1は、基板
10の上に、この基板10に接する、光の吸収のある第
1の層11、光の干渉現象を起こし得る大きさを有する
と共にその大きさを変化させることのできる間隙部1
2、および第2の層13をこの順で配設して構成したも
のである。
【0021】ここで、基板10の複素屈折率をNS (=
S −i・kS ,nS は屈折率,k S は消衰係数,iは
虚数単位)、第1の層11の複素屈折率をN1 (=n1
−i・k1 ,n1 は屈折率,k1 は消衰係数,iは虚数
単位)、第2の層13の屈折率をn2 、入射媒質の屈折
率を1.0(空気)としたとき、次式(3)の関係を満
たすように設定されている。なお、その意義については
後述する。
【0022】
【0023】基板10は、カーボン(C),グラファイ
ト(黒鉛)などの非金属,タンタル(Ta)などの金
属,酸化クロム(CrO)などの酸化金属,窒化チタン
(TiNX )などの窒化金属,シリコンカーバイド(S
iC)などの炭化物,シリコン(Si)などの半導体等
の、不透明で光の吸収のある材料により形成されたも
の、あるいは、これら光の吸収のある材料の薄膜を透明
基板上に成膜したものとしてもよい。基板10は、ま
た、例えばガラス,プラスチックなどの透明材料若しく
は消衰係数kの値の低い半透明材料により形成されたも
のとしてもよい。
【0024】第1の層11は、光の吸収のある層であ
り,例えばTa,Ti,Crなどの金属,CrOなどの
酸化金属,TiNX などの窒化金属,SiCなどの炭化
物,シリコン(Si)などの半導体などにより形成され
たものである。
【0025】第2の層13は、透明材料により形成され
たものであり、例えば、酸化チタン(TiO2 )(n2
=2.4),窒化珪素(Si3 4 )(n2 =2.
0),酸化亜鉛(ZnO)(n2 =2.0),酸化ニオ
ブ(Nb2 5 )(n2 =2.2),酸化タンタル(T
2 5 )(n2 =2.1),酸化珪素(SiO)(n
1=2.0),酸化スズ(SnO2 )(n2 =2.
0),ITO(Indium-Tin Oxide) (n2 =2.0)な
どにより形成されている。
【0026】なお、この第2の層13は、スイッチング
動作時においては、後述のように可動部として作用する
ため、特に、ヤング率が高く、丈夫なSi3 4 などで
形成されたものであることが好ましい。また、静電気に
より駆動する場合には、第2の層13の一部にITOな
どの透明導電膜を含めるようにすればよい。Si3 4
とITOの屈折率は同等であるので、それぞれどの程度
の膜厚にするかは任意である。また、第1の層11と第
2の層13とが接触する場合には、接触時に電気的に短
絡しないように、第2の層13の基板側をSi3 4
入射媒質側をITOとすることが望ましい。
【0027】第1の層11の物理的な膜厚d1 は、入射
光の波長、その材料のnとkの値、基板および第2の層
13の光学定数により決まるもので、例えば5〜60n
m程度の値をとる。
【0028】第2の層13の光学的な膜厚n2 ・d
2 は、基板10がカーボン,グラファイト,炭化物若し
くはガラスなどの透明材料により形成されており、か
つ、第1の層11がタンタル(Ta)などの消衰係数k
1 の大きな金属材料等により形成されている場合には、
「λ/4」(λは入射光の設計波長)以下である。但
し、基板10がカーボン,グラファイト,炭化物若しく
はガラスなどの透明材料により形成され、かつ、第1の
層11がシリコン(Si)などの消衰係数k1 の小さな
材料により形成されている場合には、第2の層13の光
学的な膜厚d2 は「λ/4」より大きく、「λ/2」以
下である。これは第1の層11をSiにより形成した場
合の光学アドミッタンスの軌跡がアドミッタンスダイア
グラム上で上方に移動するため、第2の層12との交点
が実軸よりも上側(虚軸上で+側)となるためである。
【0029】なお、以上の膜厚d1 ,d2 は厳密に「λ
/4」「λ/2」でなくとも、これらの近傍の値でもよ
い。これは、例えば、一方の層の光学膜厚がλ/4より
厚くなった分、他方の層を薄くするなどして補完できる
からであり、また、上式(3)から屈折率が多少ずれた
場合でも、膜厚で調整可能な場合もあり、その際にはd
1 ,d2 がλ/4から多少ずれることになるからであ
る。このことは他の実施の形態においても同様である。
よって、本明細書においては、「λ/4」の表現には
「ほぼλ/4」の場合も含まれるものとする。
【0030】なお、第1の層11および第2の層13
は、互いに光学的特性の異なる2以上の層で構成された
複合層としてもよいが、この場合には複合層における合
成した光学的特性(光学アドミッタンス)が単層の場合
と同等な特性を有するものとする必要がある。
【0031】間隙部12は、後述の駆動手段によって、
その光学的な大きさ(第1の層11と第2の層13との
間隔)が可変であるように設定されている。間隙部12
を埋める媒体は、透明であれば気体でも液体でもよい。
気体としては、例えば、空気(ナトリウムD線(58
9.3nm)に対する屈折率nD =1.0)、窒素(N
2 )(nD =1.0)など、液体としては、水(nD
1.333)、シリコーンオイル(nD =1.4〜1.
7)、エチルアルコール(nD =1.3618)、グリ
セリン(nD =1.4730)、ジョードメタン(nD
=1.737)などが挙げられる。なお、間隙部12を
真空状態とすることもできる。
【0032】間隙部12の光学的な大きさは、「λ/4
の奇数倍」と「λ/4の偶数倍(0を含む)」との間
で、2値的あるいは連続的に変化するものである。これ
により入射光の反射、透過若しくは吸収の量が2値的あ
るいは連続的に変化する。なお、上記第1の層11およ
び第2の層13の膜厚の場合と同様に、λ/4の倍数か
ら多少ずれても、他の層の膜厚あるいは屈折率の多少の
変化で補完できるので、「λ/4」の表現には、「ほぼ
λ/4」の場合も含まれるものとする。
【0033】このような間隙部12を有する光学多層構
造体1は、図3および図4に示した製造プロセスにより
作製することができる。まず、図3(A)に示したよう
に例えばカーボンからなる基板10の上に、例えばスパ
ッタリング法によりTaからなる第1の層11を形成
し、次いで,図3(B)に示したように例えばCVD
(Chemical Vapor Deposition:化学的気相成長 )法によ
り犠牲層としての非晶質シリコン(a−Si)膜12a
を形成する。続いて、図3(C)に示したように、間隙
部12のパターン形状を有するフォトレジスト膜14を
形成し、図3(D)に示したようにこのフォトレジスト
膜14をマスクとして、例えばRIE(Reactive Ion E
tching) により非晶質シリコン(a−Si)膜12aを
選択的に除去する。
【0034】次に、図4(A)に示したようにフォトレ
ジスト膜14を除去した後、図4(B)に示したように
例えばスパッタリング法によりSi3 4 からなる第2
の層13を形成する。次いで、図4(C)に示したよう
に、ドライエッチングにより非晶質シリコン(a−S
i)膜12aを除去する。これにより、間隙部12を備
えた光学多層構造体1を作製することができる。
【0035】本実施の形態の光学多層構造体1は、間隙
部12の光学的な大きさを、λ/4の奇数倍とλ/4の
偶数倍(0を含む)との間(例えば、「λ/4」と
「0」との間)で、2値的あるいは連続的に変化させる
ことによって、入射した光の反射,透過若しくは吸収の
量を変化させるものである。
【0036】次に、図5(A),(B)および図6
(A),(B)を参照して、上記式(3)の意義につい
て説明する。
【0037】上記のような光学多層構造体1のフィルタ
特性は、光学アドミッタンスによって説明することがで
きる。光学アドミッタンスyは、複素屈折率N(=n−
i・k、nは屈折率,kは消衰係数,iは虚数単位)と
値が同じである。例えば、空気のアドミッタンスはy(a
ir) =1 、n(air) =1 、ガラスのアドミッタンスはy
(glass) =1.52、n(glass) =1.52である。
【0038】透明な基板上に透明な光学膜を形成する
と、図5(B)に示したような光学アドミッタンスダイ
ヤグラム上で、膜厚の増加に伴い円弧を描いて軌跡が移
動する。ここに、横軸はアドミッタンスの実軸
(Re ),縦軸はアドミッタンスの虚軸(Im )をそれ
ぞれ示している。例えば、n=y=1.52のガラス基
板上にn=y=2.40のTiO2 などを成膜すると、
その合成光学アドミッタンスの軌跡は、膜厚の増加に伴
ってy=1.52の点から円弧を描きながら移動する。
もし、TiO2 の光学的な膜厚がλ/4のときには、合
成アドミッタンスの軌跡は実軸上の2.42 /1.52
の点、すなわち3.79の点に帰着する(λ/4法
則)。これはガラス基板(透明基板)上にλ/4の膜厚
のTiO2 膜(第1の層)を成膜したときの合成アドミ
ッタンスである。つまり、この構造体を上から見ると、
あたかもn=3.79の一体の基板を見ているのと同じ
ようになる。このときの反射率は、空気との界面では次
式(4)で求まるので、反射率R=33.9%となる。
【0039】R=(n−1/n+1)2 ・・・(4)
【0040】次に、この光学多層構造体の上に、更に、
例えばn=y=1.947の膜を光学膜厚=λ/4だけ
成膜すると、光学アドミッタンスダイヤグラム上では、
3.79の点から右回りに軌跡が移動する。その合成ア
ドミッタンスは、Y=1.0となり、実軸上の1.0の
点となる。すなわち、これは合成アドミッタンス=合成
屈折率が1.0と同等、つまり空気と同等となるので、
その界面では反射がなくなり、所謂Vコートの反射防止
膜とみなすことができる。
【0041】一方、上記TiO2 膜(n=2.4)の膜
の上に、n=1(空気)の間隙部を光学膜厚=λ/4だ
け設けた場合には、その合成アドミッタンスは、図6
(A),(B)に示したように、Y2 =0.2638と
なる。更に、その間隙部上にn=y=1.947の膜が
光学膜厚=λ/4だけ存在すると、その合成アドミッタ
ンスは、Y3 =14.37となり、実軸上の14.37
の点となる。そのときの反射率は上記(4)式のnをY
3 =14.37として求まり、このとき反射率R=76
%となる。以上のことから、間隙部(空気層)12の光
学膜厚を「0」から「λ/4」まで変化させると、反射
率は「0%」から「76%」へと変化することがわか
る。
【0042】以上は、ガラスなどの透明材料からなる基
板の上に、光の吸収のない透明層(TiO2 )を形成し
た場合の説明であり、いずれも複素屈折率N=n−i・
k(nは屈折率,kは消衰係数,iは虚数)において、
k=0である。これに対して、本実施の形態では、基板
10および第1の層11のうち少なくとも第1の層11
は、不透明な金属材料,酸化金属等の光の吸収のある材
料により形成されている。すなわち、第1の層11の複
素屈折率N1 においては、k≠0である。以下、本実施
の形態の特徴について説明する。
【0043】光学アドミッタンスダイヤグラム上で、n
2 の屈折率を持つ第2の層がダイヤグラム上の(1,
0)の点(空気アドミッタンス)を通る軌跡を描くと、
図7に示したようになる。すなわち、実軸で1とn2 2
通り、中心が( n2 2+1)/ 2の円弧となる。基板10の
材料の光学アドミッタンス(複素屈折率Nと数値的には
等しい)がこの円弧の中にある場合、円弧の外側に第1
の層11の材料の光学アドミッタンスがあれば、基板1
0上に第1の層11を成膜してゆくと、基板10と第1
の層11との合成光学アドミッタンスは、アドミッタン
スダイアグラム上で、基板10の光学アドミッタンスの
点(図中Ns で示す点)から出発し、緩いカーブを描き
ながら、膜厚の増加と共に、第1の層11の光学アドミ
ッタンスの点(図中N1 で示す点)へ到達する。
【0044】このとき、基板10と第1の層11の光学
アドミッタンス(複素屈折率と同じ値)は第2の層13
の描く円弧の両側にあるので、その円弧を必ず横切る
(A点)。ここで、基板10と第1の層11との合成ア
ドミッタンスがその交点Aに丁度到達するように、第1
の層11の膜厚を決める。その交点Aからは、第2の層
13の軌跡(円弧)に沿って合成アドミッタンスが移動
する。
【0045】従って、基板10と第1の層11と第2の
層13との合成アドミッタンスが1となるような膜厚で
第2の層13を成膜すれば、この光学多層構造体1への
入射光の反射は設計波長において0となる。すなわち、
第2の層13の光学特性に依存する円弧の両側に、基板
10と第1の層11の光学アドミッタンスがあれば、反
射が0となる膜厚の組み合わせが必ず存在することにな
る。
【0046】なお、この場合、基板10の光学アドミッ
タンスは、円弧の内側でも外側でもかまわない。このよ
うな条件を満足するためには、基板10の複素屈折率を
S(=nS −i・kS )、第1の層11の複素屈折率
をN1 (=n1 −i・k1 )、第2の層13の屈折率を
2 、入射媒質の屈折率を1.0(空気)としたとき、
基板10と第1の層11の材料の光学定数の関係が、次
式(5)、すなわち、この式を書き換えた前述の式
(2)を満たせばよい。
【0047】
【0048】よって、このように構成した光学多層膜の
第1の層11と第2の層13との間に、大きさが可変な
間隙部13を設けると、その間隔d3 が「0」のときに
は反射防止膜(図2参照)、d3 が設計波長λに対して
光学的にほぼ「λ/4」のときには反射膜となる(図1
参照)。つまり、間隙部13の大きさを「0」と「λ/
4」との間で可変とすることで、反射率を0と70%以
上とに変えることができる光学スイッチング素子を実現
することが可能になる。
【0049】このような光学多層構造体1の材料として
は、上記のような制約を満足すればよく、その選定の自
由度は広い。また、その構成も、基板10に間隙部12
を含めて3層構造を形成するだけでよいので、製作は容
易である。以下、具体的な例を挙げて説明する。
【0050】〔具体例〕図8は、基板10として不透明
なカーボン基板(NS =1.90,k=0.75)、第
1の層11としてTa層(N1 =2.46,k=1.9
0)、間隙部12として空気層(n=1.00)、第2
の層13としてSi3 4 膜とITO(Indium-Tin Oxi
de) 膜との積層膜(合成屈折率n2 =2.0,k=0)
を用いた場合の入射光の波長(設計波長550nm)と
反射率との関係を表すものである。ここで、(a)は間
隙部(空気層)の光学膜厚が「0」(低反射側)、
(b)は光学膜厚が「λ/4」(137.5nm)(高
反射側)の場合の特性をそれぞれ表している。図9およ
び図10は、このときの光学アドミッタンスダイヤグラ
ムを参考として表すもので、図9は低反射側、図10は
高反射側の場合をそれぞれ示している。
【0051】図8からも明らかなように、本実施の形態
の光学多層構造体1では、間隙部(空気層)12の光学
膜厚が「λ/4」の場合には高反射特性、間隙部12の
光学膜厚が「0」の場合には低反射特性をそれぞれ示
す。すなわち、間隙部12の光学膜厚が「λ/4」の奇
数倍と「λ/4」の偶数倍(0を含む)との間で切り替
わると、高反射特性と低反射特性とを交互に示すことに
なる。
【0052】ところで、第1の層11に消衰係数k1
大きな金属膜(例えばTa,k1 =1.90)を用いる
場合には、第2の層13の光学膜厚は「λ/4」となる
が、第1の層11にk1 の小さな半導体材料(例えばS
i,k1 =0.63)を用いる場合には、第2の層13
の光学膜厚は「λ/4」より大きくなる(但し,λ/2
より小さい)。その具体例として、例えば、基板10を
グラファイト(屈折率nS =1.90,k=0.7
5)、第1の層11をシリコン(屈折率n1 =4.4
0,k=0.63,膜厚13.09nm)、第2の層1
3をSi3 4 膜とITO(Indium-Tin Oxide) 膜との
積層膜(合成屈折率n2 =2.0,k=0,膜厚83.
21nm)により形成した場合の反射特性(設計波長5
50nm)を図11に示す。ここでも、(a)は間隙部
(空気層)の光学膜厚が「0」(低反射側)、(b)は
光学膜厚が「λ/4」(137.5nm)(高反射側)
の場合の特性をそれぞれ表している。図12および図1
3はそのときの光学アドミッタンスダイヤグラムを表す
ものである。図12は低反射側、図13は高反射側の場
合をそれぞれ示している。
【0053】上記2つの例では、基板10として不透明
なカーボンやグラファイトを想定している。カーボンや
グラファイトの光学アドミッタンス(複素屈折率と同じ
値)は、アドミッタンスダイアグラム上で屈折率が2.
0の透明膜が(1,0)を通るように描いた円弧の軌跡
の内側にあるので、基板10として好適である。多くの
金属材料の光学アドミッタンスはその円の外側に配置さ
れるからである。
【0054】参考のために、図14に各材料の光学アド
ミッタンスをプロットしたアドミッタンスダイアグラム
を示す。図14には、同時に、n=2およびTiO
2 (n=2.4)が空気のアドミッタンス(1,0)を
通る軌跡も示した。この円弧の中の材料を基板10、円
弧の外にある材料を第1の層11、円弧上の材料を第2
の層13とすれば、反射率が低い(ほぼ0)の膜厚の組
み合わせが必ずある。例えば、基板10をカーボン(図
中のC)、第1の層11をn=2の円弧の外側の材料
(図中の殆ど全ての材料)、第2の層13をn=2の材
料(Si3 4 ,ITO,ZnOなど)により形成すれ
ば、良好な特性の光学スイッチング素子を実現すること
ができる。
【0055】また、第2の層13としてTiO2 を用い
た場合には、基板10をシリコン(Si),カーボン
(C),タンタル(Ta),ゲルマニウム(Ge)フィ
ルム,グラファイト,ガラスなどから選び、第1の層1
1は図中のそれ以外の金属などから選べば、良好な特性
の光学スイッチング素子を実現することができる。
【0056】なお、図14には、代表的な金属材料、半
導体などをプロットしたが、他の材料でもこの図にプロ
ットし、円弧の中か外かに注目すると、良い組み合わせ
の材料を容易に選ぶことができる。
【0057】ところで、上述のような第2の層13の円
弧の内と外に基板10と第1の層11の光学特性がある
ことは、良好な特性の光学構造を実現するための十分条
件ではあるが、必要条件ではない。なぜならば、光の吸
収のある(すなわち、k≠0)膜をある基板10に成膜
するときの合成光学アドミッタンスの軌跡は、基板10
のアドミッタンスから直線的に成膜する材料の光学アド
ミッタンスへと向かうのではなく、大きく弯曲しなが
ら、成膜材料の光学アドミッタンスへと向かう。そのた
めに、湾曲度が大きいと、先の第2の層13の円弧の内
側に第1の層11の光学アドミッタンスがあっても、合
成光学アドミッタンスが第2の層13の円弧を横切るこ
とがある。
【0058】図15はその例を表すものであり、カーボ
ン(C)からなる基板10の上に第1の層11としてグ
ラファイトを成膜していくと、弯曲してn=2の円弧を
2回横切る。このどちらかの点で、n=2の膜(例えば
Si3 4 ,ITO,ZnOなど)に乗り換えるような
膜厚の設定とすれば、特性の良い光学多層構造体1を実
現することができる。
【0059】このように本実施の形態では、例えば55
0nmなどの可視光領域においても、低反射時の反射率
を殆ど0、高反射時の反射率を70%以上とすることが
できるので、高コントラストな変調を行うことが可能で
ある。しかも、構成が簡単であるので、GLVなどの回
折格子構造やDMDなどの複雑な3次元構造よりも容易
に作製することができる。また、GLVは1つのピクセ
ルに6本の格子状のリボンが必要であるが、本実施の形
態では1本で済むので、構成が簡単であり、かつ小さく
作製することが可能である。また、可動部分の移動範囲
も高々「λ/2」であるため、10nsレベルの高速応
答が可能になる。よって、ディスプレイ用途のライトバ
ルブとして用いる場合には、後述のように1次元アレイ
の簡単な構成で実現することができる。
【0060】更に、本実施の形態の光学多層構造体1
は、間隙部を金属薄膜や反射層で挟んだ構造の狭帯域透
過フィルタ、すなわちファブリーペロータイプのものと
は本質的に異なるものであるため、低反射帯の帯域幅を
広くすることができる。よって、製作時の膜厚管理のマ
ージンを比較的広くとることが可能であり、設計の自由
度が増す。
【0061】また、本実施の形態では、基板10および
第1の層11の屈折率はある範囲の任意の値であれば良
いため、材料の選択の自由度が広くなる。また、基板1
0を不透明な材料により構成した場合には、低反射時に
おいて入射光は基板10に吸収されるので、迷光などが
発生する心配はなくなる。
【0062】以上のように、本実施の形態の光学多層構
造体1を用いることにより、高速で小型の光スイッチン
グ素子および画像表示装置を実現することができる。こ
れらの詳細については後述する。
【0063】なお、上記実施の形態では、光学多層構造
体1の間隙部を一層としたが、複数層、例えば図16に
示したように2層設けるようにしてもよい。これは、基
板10上に、第1の層11、第1の間隙部12、第2の
層13、第2の間隙部30、第3の透明層31をこの順
に形成し、第2の層13および第3の透明層31をそれ
ぞれ例えば窒化シリコンからなる支持体15,32によ
り支持する構成としたものである。
【0064】この光学多層構造体では、中間の第2の層
13が上下に変位し、第1の間隙部12と第2の間隙部
30の一方の間隙が狭くなった分、他方の間隙部が広ま
ることにより反射特性が変化する。
【0065】〔駆動方法〕次に、上記光学多層構造体1
における間隙部12の大きさを変化させるための具体的
な手段について説明する。
【0066】図17は、静電気により光学多層構造体を
駆動する例を示している。この光学多層構造体は、透明
基板10の上の第1の層11の両側にそれぞれ例えばア
ルミニウムからなる電極16a,16aを設けると共
に、第2の層13を例えば窒化シリコン(Si3 4
からなる支持体15により支持し、この支持体15の電
極16a,16aに対向する位置に電極16b,16b
を形成したものである。
【0067】この光学多層構造体では、電極16a,1
6aおよび電極16b,16bへの電圧印加による電位
差で生じた静電引力によって、間隙部12の光学膜厚
を、例えば「λ/4」と、「0」との間、あるいは「λ
/4」と「λ/2」との間で2値的に切り替える。勿
論、電極16a,16a、電極16b,16bへの電圧
印加を連続的に変化させることにより、間隙部12の大
きさをある値の範囲で連続的に変化させ、入射した光の
反射、若しくは透過あるいは吸収等の量を連続的(アナ
ログ的)に変化させるようにすることもできる。
【0068】光学多層構造体を静電気で駆動するものと
しては、その他、図18および図19に示した方法によ
ってもよい。図18に示した光学多層構造体1は、透明
基板10の上の第1の層11上に例えばITO(Indium
-Tin Oxide) からなる透明導電膜17aを設けると共
に、例えばSiO2 からなる第2の層13を架橋構造に
形成し、この第2の層13の外面に同じくITOからな
る透明導電膜17bを設けたものである。
【0069】この光学多層構造体では、透明導電膜17
a,17b間への電圧印加による電位差で生じた静電引
力によって、間隙部12の光学膜厚を切り替えることが
できる。
【0070】図19に示した光学多層構造体では、図1
8の光学多層構造体の透明導電膜17aの代わりに、導
電性のある第1の層11として例えばタンタル(Ta)
膜を配したものである。
【0071】光学多層構造体の駆動は、このような静電
気の他、トグル機構や圧電素子などのマイクロマシンを
用いる方法、磁力を用いる方法や、形状記憶合金を用い
る方法など、種々考えられる。図20(A),(B)は
磁力を用いて駆動する態様を示したものである。この光
学多層構造体では、第2の層13の上に開孔部を有する
コバルト(Co)などの磁性材料からなる磁性層40を
設けると共に基板10の下部に電磁コイル41を設けた
ものであり、この電磁コイル41のオン・オフの切り替
えにより、間隙部12の間隔を例えば「λ/4」(図2
0(A))と「0」(図20(B))との間で切り替
え、これにより反射率を変化させることができる。
【0072】〔光スイッチング装置〕図21は、上記光
学多層構造体1を用いた光スイッチング装置100の構
成を表すものである。光スイッチング装置100は、例
えばカーボンからなる基板101上に複数(図では4
個)の光スイッチング素子100A〜100Dを一次元
アレイ状に配設したものである。なお、1次元に限ら
ず、2次元に配列した構成としてもよい。この光スイッ
チング装置100では、基板101の表面の一方向(素
子配列方向)に沿って例えばTa膜102が形成されて
いる。このTa膜102が上記実施の形態の第1の層1
1に対応している。
【0073】基板101上には、Ta膜102に対して
直交する方向に、複数本のSi3 4 膜105が配設さ
れている。Si3 4 膜105の外側には透明導電膜と
してのITO膜106が形成されている。これらITO
膜106およびSi3 4 膜105が上記実施の形態の
第2の層13に対応するもので、Ta膜102を跨ぐ位
置において架橋構造となっている。Ta膜102とIT
O膜106との間には、スイッチング動作(オン・オ
フ)に応じてその大きさが変化する間隙部104が設け
られている。間隙部104の光学膜厚は、入射光の波長
(λ=550nm)に対しては、例えば「λ/4」(1
37.5nm)と「0」との間で変化するようになって
いる。
【0074】光スイッチング素子100A〜100D
は、Ta膜102およびITO膜106への電圧印加に
よる電位差で生じた静電引力によって、間隙部104の
光学膜厚を、例えば「λ/4」と「0」との間で切り替
える。図21では、光スイッチング素子100A,10
0Cが間隙部104が「0」の状態(すなわち、低反射
状態)、光スイッチング素子100B,100Dが間隙
部104が「λ/4」の状態(すなわち、高反射状態)
を示している。なお、Ta膜102およびITO膜10
6と、電圧印加装置(図示せず)とにより、本発明の
「駆動手段」が構成されている。
【0075】この光スイッチング装置100では、Ta
膜102を接地して電位を0Vとし、第2の層側に形成
されたITO膜106に例えば+12Vの電圧を印加す
ると、その電位差によりTa膜102とITO膜106
との間に静電引力が発生し、図21では光スイッチング
素子100A,100Cのように第1の層と第2の層と
が密着し、間隙部104が「0」の状態となる。この状
態では、入射光P1 は上記多層構造体を透過し、更に基
板21に吸収される。
【0076】次に、第2の層側の透明導電膜106を接
地させ電位を0Vにすると、Ta膜102とITO膜1
06との間の静電引力がなくなり、図21では光スイッ
チング素子100B,100Dのように第1の層と第2
の層との間が離間して、間隙部12が「λ/4」の状態
となる。この状態では、入射光P1 は反射され、反射光
3 となる。
【0077】このようにして、本実施の形態では、光ス
イッチング素子100A〜100D各々において、入射
光P1 を静電力により間隙部を2値に切り替えることに
よって、反射光がない状態と反射光P3 が発生する状態
の2値に切り替えて取り出すことができる。勿論、前述
のように間隙部の大きさを連続的に変化させることによ
り、入射光P1 を反射がない状態から反射光P3 が発生
する状態に連続的に切り替えることも可能である。
【0078】これら光スイッチング素子100A〜10
0Dでは、可動部分の動かなくてはならない距離が、大
きくても入射光の「λ/2(あるいはλ/4)」程度で
あるため、応答速度が10ns程度に十分高速である。
よって、一次元アレイ構造で表示用のライトバルブを実
現することができる。
【0079】加えて、本実施の形態では、1ピクセルに
複数の光スイッチング素子を割り当てれば、それぞれ独
立に駆動可能であるため、画像表示装置として画像表示
の階調表示を行う場合に、時分割による方法だけではな
く、面積による階調表示も可能である。
【0080】〔画像表示装置〕図22は、上記光スイッ
チング装置100を用いた画像表示装置の一例として、
プロジェクションディスプレイの構成を表すものであ
る。ここでは、光スイッチング素子100A〜100D
からの反射光P3 を画像表示に使用する例について説明
する。
【0081】このプロジェクションディスプレイは、赤
(R),緑(G),青(B)各色のレーザからなる光源
200a,200b,200cと、各光源に対応して設
けられた光スイッチング素子アレイ201a,201
b,201c、ダイクロイックミラー202a,202
b,202c、プロジェクションレンズ203、1軸ス
キャナとしてのガルバノミラー204および投射スクリ
ーン205を備えている。なお、3原色は、赤緑青の
他、シアン,マゼンダ,イエローとしてもよい。スイッ
チング素子アレイ201a,201b,201cはそれ
ぞれ、上記スイッチング素子を紙面に対して垂直な方向
に複数、必要画素数分、例えば1000個を1次元に配
列したものであり、これによりライトバルブを構成して
いる。
【0082】このプロジェクションディスプレイでは、
RGB各色の光源200a,200b,200cから出
た光は、それぞれ光スイッチング素子アレイ201a,
201b,201cに入射される。なお、この入射角は
偏光の影響がでないように、なるべく0に近くし、垂直
に入射させるようにすることが好ましい。各光スイッチ
ング素子からの反射光P3 は、ダイクロイックミラー2
02a,202b,202cによりプロジェクションレ
ンズ203に集光される。プロジェクションレンズ20
3で集光された光は、ガルバノミラー204によりスキ
ャンされ、投射スクリーン205上に2次元の画像とし
て投影される。
【0083】このように、このプロジェクションディス
プレイでは、複数個の光スイッチング素子を1次元に配
列し、RGBの光をそれぞれ照射し、スイッチング後の
光を1軸スキャナにより走査することによって、2次元
画像を表示することができる。
【0084】また、本実施の形態では、低反射時の反射
率を0.1%以下、高反射時の反射率を70%以上とす
ることができるので、1,000対1程度の高コントラ
ストの表示を行うことができると共に、素子に対して光
が垂直に入射する位置で特性を出すことができるので、
光学系を組み立てる際に、偏光等を考慮にする必要がな
く、構成が簡単である。
【0085】以上実施の形態を挙げて本発明を説明した
が、本発明は上記実施の形態および変形例に限定される
ものではなく、種々変形可能である。例えば、上記実施
の形態では、光源としてレーザを用いて一次元アレイ状
のライトバルブを走査する構成のディスプレイについて
説明したが、図23に示したように、二次元状に配列さ
れた光スイッチング装置206に白色光源207からの
光を照射して投射スクリーン208に画像の表示を行う
構成とすることもできる。
【0086】また、上記実施の形態では、基板としてガ
ラス基板を用いる例について説明したが、図24に示し
たように、例えば厚さ2mm以内の柔軟性を有する(フ
レキシブルな)基板209を用いたペーパ−状のディス
プレイとし、直視により画像を見ることができるように
してもよい。
【0087】更に、上記実施の形態では、本発明の光学
多層構造体をディスプレイに用いた例について説明した
が、例えば光プリンタに用いて感光性ドラムへの画像の
描きこみをする等、ディスプレイ以外の光プリンタなど
の各種デバイスにも適用することも可能である。
【0088】
【発明の効果】以上説明したように本発明の光学多層構
造体および光スイッチング素子によれば、基板上に、光
の吸収のある第1の層、光の干渉現象を起こし得る大き
さを有すると共にその大きさが可変な間隙部、および第
2の層を配設した構造を有するようにしたので、間隙部
の大きさを変化させることにより、入射した光の反射、
透過若しくは吸収の量を変化させることができ、簡単な
構成で、特に可視光領域においても、高速応答が可能に
なる。また、間隙部をなくして基板上に第1の層および
第2の層をこの順で接する構造とすることにより、反射
防止膜として利用することができる。
【0089】また、本発明の画像表示装置によれば、本
発明の光スイッチング素子を1次元に配列し、この1次
元アレイ構造の光スイッチング装置を用いて画像表示を
行うようにしたので、高コントラストの表示を行うこと
ができると共に、素子に対して光が垂直に入射する位置
で特性を出すことができるので、光学系を組み立てる場
合に、偏光等を考慮にする必要がなく、構成が簡単とな
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態に係る光学多層構造体の
間隙部が「λ/4」のときの構成を表す断面図である。
【図2】図1に示した光学多層構造体の間隙部が「0」
のときの構成を表す断面図である。
【図3】図1に示した光学多層構造体の製造工程を説明
するための断面図である。
【図4】図3の工程に続く工程を説明するための平面図
である。
【図5】透明な基板と透明な膜を用いた光学多層構造体
の間隙部が「0」の場合の特性を説明するための図であ
る。
【図6】透明な基板と透明な膜を用いた光学多層構造体
の間隙部が「λ/4」の場合の特性を説明するための図
である。
【図7】基板および第1の層が金属により形成された場
合のアドミッタンスダイアグラムである。
【図8】図1に示した光学多層構造体の一具体例の反射
特性を表す図である。
【図9】図8の例の低反射時の光学アドミッタンスを説
明するための図である。
【図10】図8の例の高反射時の光学アドミッタンスを
説明するための図である。
【図11】図1の光学多層構造体の他の具体例の反射特
性を表す図である。
【図12】図11の例の低反射時の光学アドミッタンス
を説明するための図である。
【図13】図11の例の高反射時の光学アドミッタンス
を説明するための図である。
【図14】各材料の光学アドミッタンスをプロットした
アドミッタンスダイアグラムである。
【図15】基板と第1の層の光学アドミッタンスが第2
の層の内側にあっても反射を0とすることができる例を
説明するための図である。
【図16】第1の実施の形態の更に他の変形例を説明す
るための断面図である。
【図17】光学多層構造体の静電気による駆動方法を説
明するための断面図である。
【図18】光学多層構造体の静電気による他の駆動方法
を説明するための断面図である。
【図19】光学多層構造体の静電気による更に他の駆動
方法を説明するための断面図である。
【図20】光学多層構造体の磁気による駆動方法を説明
するための断面図である。
【図21】光スイッチング装置の一例の構成を表す図で
ある。
【図22】ディスプレイの一例の構成を表す図である。
【図23】ディスプレイの他の例を表す図である。
【図24】ペーパー状ディスプレイの構成図である。
【符号の説明】
1,2…光学多層構造体、10…基板、11…第1の
層、12…間隙部、13…第2の層、100─光スイッ
チング装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G09F 9/37 H04N 5/74 B 5G435 H04N 5/74 G02B 1/10 Z Fターム(参考) 2H041 AA16 AB40 AC06 AZ01 AZ08 2H048 GA07 GA12 GA23 GA35 GA51 GA60 GA61 2K009 AA00 AA05 BB02 BB04 CC00 CC03 CC14 CC42 DD03 EE00 5C058 EA27 5C094 AA01 AA06 BA66 BA82 BA84 BA92 CA19 DA12 EA04 EB02 EB03 ED12 ED20 FB02 FB12 FB14 FB15 5G435 AA01 AA02 FF14 HH02 HH03

Claims (26)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上に、光の吸収のある第1の層、光
    の干渉現象を起こし得る大きさを有すると共にその大き
    さが可変な間隙部、および第2の層を配設した構造を有
    することを特徴とする光学多層構造体。
  2. 【請求項2】 前記基板上に、前記第1の層、前記間隙
    部および前記第2の層がこの順で配設されていることを
    特徴とする請求項1記載の光学多層構造体。
  3. 【請求項3】 前記基板の複素屈折率をNS (=nS
    i・kS ,nS は屈折率,kS は消衰係数,iは虚数単
    位)、前記第1の層の複素屈折率をN1 (=n1 −i・
    1 ,n1 は屈折率,k1 は消衰係数)、前記第2の層
    の屈折率をn 2 、入射媒質の屈折率を1.0としたと
    き、次式(1)の関係を満たす ことを特徴とする請求項1記載の光学多層構造体。
  4. 【請求項4】 前記第2の層は、透明材料により形成さ
    れたものであることを特徴とする請求項1記載の光学多
    層構造体。
  5. 【請求項5】 前記基板は、光の吸収のある基板若しく
    は光の吸収のある薄膜を成膜した基板であることを特徴
    とする請求項1記載の光学多層構造体。
  6. 【請求項6】 前記基板は、透明材料若しくは半透明材
    料により形成されたものであることを特徴とする請求項
    1記載の光学多層構造体。
  7. 【請求項7】 更に、前記間隙部の光学的な大きさを変
    化させる駆動手段を有し、前記駆動手段によって前記間
    隙部の大きさを変化させることにより、入射した光の反
    射、透過若しくは吸収の量を変化させることを特徴とす
    る請求項1記載の光学多層構造体。
  8. 【請求項8】 前記駆動手段によって、前記間隙部の光
    学的な大きさを、λ/4の奇数倍とλ/4の偶数倍(0
    を含む)との間で、2値的あるいは連続的に変化させる
    ことで、入射光の反射、透過若しくは吸収の量を2値的
    あるいは連続的に変化させることを特徴とする請求項7
    記載の光学多層構造体。
  9. 【請求項9】 前記第1の層および第2の層のうちの少
    なくとも一方の層は、互いに光学的特性の異なる2以上
    の層により構成された複合層であることを特徴とする請
    求項1記載の光学多層構造体。
  10. 【請求項10】 前記第2の層は、窒化珪素膜よりなる
    ことを特徴とする請求項4記載の光学多層構造体。
  11. 【請求項11】 前記第2の層は、窒化珪素膜および透
    明導電膜よりなることを特徴とする請求項10記載の光
    学多層構造体。
  12. 【請求項12】 前記第1の層および第2の層のうちの
    少なくとも一方は、一部に透明導電膜を含み、前記駆動
    手段は、前記透明導電膜への電圧の印加によって発生し
    た静電力により、前記間隙部の光学的な大きさを変化さ
    せるものであることを特徴とする請求項7記載の光学多
    層構造体。
  13. 【請求項13】 前記透明導電膜は、ITO,SnO2
    およびZnOのうちのいずれかにより形成されているこ
    とを特徴とする請求項12記載の光学多層構造体。
  14. 【請求項14】 前記間隙部は、空気、または透明な気
    体若しくは液体で満たされていることを特徴とする請求
    項1記載の光学多層構造体。
  15. 【請求項15】 前記間隙部は、真空状態であることを
    特徴とする請求項1記載の光学多層構造体。
  16. 【請求項16】 前記光の吸収のある第1の層は、金
    属,酸化金属,窒化金属,炭化物および半導体のうちの
    いずれかからなることを特徴とする請求項1記載の光学
    多層構造体。
  17. 【請求項17】 前記光の吸収のある基板若しくは光の
    吸収のある薄膜は、金属,酸化金属,窒化金属,炭化物
    および半導体のうちのいずれかからなることを特徴とす
    る請求項5記載の光学多層構造体。
  18. 【請求項18】 前記第2の層の光学的な膜厚が、λ/
    4(λは入射光の設計波長)以下であることを特徴とす
    る請求項1記載の光学多層構造体。
  19. 【請求項19】 前記第1の層がシリコンにより形成さ
    れ、かつ、前記第2の層の光学的な膜厚が、λ/2(λ
    は入射光の設計波長)以下であることを特徴とする請求
    項1記載の光学多層構造体。
  20. 【請求項20】 前記基板は、カーボン,グラファイ
    ト,炭化物若しくは透明材料により形成され、かつ、前
    記第2の層の光学的な膜厚が、λ/4(λは入射光の設
    計波長)以下であることを特徴とする請求項1記載の光
    学多層構造体。
  21. 【請求項21】 前記基板がカーボン,グラファイト,
    炭化物若しくは透明材料により形成されると共に、前記
    第1の層がシリコンにより形成され、かつ、前記第2の
    層の光学的な膜厚が、λ/2(λは入射光の設計波長)
    以下であることを特徴とする請求項1記載の光学多層構
    造体。
  22. 【請求項22】 前記駆動手段は、磁力を用いて前記間
    隙部の光学的な大きさを変化させるものであることを特
    徴とする請求項7記載の光学多層構造体。
  23. 【請求項23】 基板と、 この基板に接して形成された、光の吸収のある第1の層
    と、 この第1の層の前記基板とは反対側の面に接して形成さ
    れた第2の層とを備えたことを特徴とする光学多層構造
    体。
  24. 【請求項24】 前記基板は、光を透過しない基板であ
    ることを特徴とする請求項23記載の光学多層構造体。
  25. 【請求項25】 基板上に、光の吸収のある第1の層、
    光の干渉現象を起こし得る大きさを有すると共にその大
    きさが可変な間隙部、および第2の層を配設した構造を
    有する光学多層構造体と、 前記間隙部の光学的な大きさを変化させるための駆動手
    段とを備えたことを特徴とする光スイッチング素子。
  26. 【請求項26】 1次元または2次元に配列された複数
    の光スイッチング素子に光を照射することで2次元画像
    を表示する画像表示装置であって、 前記光スイッチング素子が、 基板上に、光の吸収のある第1の層、光の干渉現象を起
    こし得る大きさを有すると共にその大きさが可変な間隙
    部、および第2の層を配設した構造を有する光学多層構
    造体と、 前記間隙部の光学的な大きさを変化させるための駆動手
    段とを備えたことを特徴とする画像表示装置。
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Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006099087A (ja) * 2004-09-27 2006-04-13 Idc Llc マルチステート干渉性光変調のための方法および装置
JP2007017953A (ja) * 2005-06-10 2007-01-25 Fujifilm Holdings Corp 光変調デバイス
JP2007025642A (ja) * 2005-06-15 2007-02-01 Fujifilm Holdings Corp 表示デバイス
US7286244B2 (en) 2003-10-01 2007-10-23 Seiko Epson Corporation Analyzer
JP2009533712A (ja) * 2006-04-10 2009-09-17 クォルコム・メムズ・テクノロジーズ・インコーポレーテッド 広帯域特性を備えた干渉光学ディスプレイシステム
JP2011501211A (ja) * 2007-10-19 2011-01-06 シーリアル テクノロジーズ ソシエテ アノニム 複素空間光変調器
US7932728B2 (en) 2006-02-22 2011-04-26 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Electrical conditioning of MEMS device and insulating layer thereof
JP2011515707A (ja) * 2008-03-07 2011-05-19 クォルコム・メムズ・テクノロジーズ・インコーポレーテッド 透過モードにおける干渉変調器
JP2011242797A (ja) * 2002-07-02 2011-12-01 Qualcomm Mems Technologies Inc 光デバイス
US8097174B2 (en) 2006-12-20 2012-01-17 Qualcomm Mems Technologies, Inc. MEMS device and interconnects for same
US8229253B2 (en) 2005-08-19 2012-07-24 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Electromechanical device configured to minimize stress-related deformation and methods for fabricating same
JP2013506160A (ja) * 2009-09-28 2013-02-21 クォルコム・メムズ・テクノロジーズ・インコーポレーテッド 干渉反射体を備えた干渉表示装置
US8638491B2 (en) 2004-09-27 2014-01-28 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Device having a conductive light absorbing mask and method for fabricating same
US9086564B2 (en) 2004-09-27 2015-07-21 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Conductive bus structure for interferometric modulator array
JP2016535325A (ja) * 2013-10-18 2016-11-10 サントル ナショナル ドゥ ラ ルシェルシュ シアンティフィク コントラスト増幅基板の製造方法

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03199920A (ja) * 1989-12-27 1991-08-30 Tdk Corp 光―変位トランスデューサおよびセンサ
JPH06289438A (ja) * 1993-03-31 1994-10-18 Olympus Optical Co Ltd 位相制御膜構造体
JPH08211847A (ja) * 1994-07-29 1996-08-20 At & T Corp マイクロメカニカル・モジュレータをベースにした直視型ディスプレイ
US5654819A (en) * 1994-01-27 1997-08-05 Lucent Technologies Inc. Micromechanical modulator
JPH09236760A (ja) * 1996-02-01 1997-09-09 Lucent Technol Inc 改善された微小機械変調器の方法及び装置
US5835255A (en) * 1986-04-23 1998-11-10 Etalon, Inc. Visible spectrum modulator arrays
JPH11160635A (ja) * 1997-11-21 1999-06-18 Nikon Corp 光学素子及びその製造方法並びにそれを用いた装置
JPH11211999A (ja) * 1998-01-28 1999-08-06 Teijin Ltd 光変調素子および表示装置
WO1999052006A2 (en) * 1998-04-08 1999-10-14 Etalon, Inc. Interferometric modulation of radiation
JP2000500245A (ja) * 1995-11-06 2000-01-11 エタロン インク. 干渉性変調
US6055090A (en) * 1994-05-05 2000-04-25 Etalon, Inc. Interferometric modulation

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5835255A (en) * 1986-04-23 1998-11-10 Etalon, Inc. Visible spectrum modulator arrays
JPH03199920A (ja) * 1989-12-27 1991-08-30 Tdk Corp 光―変位トランスデューサおよびセンサ
JPH06289438A (ja) * 1993-03-31 1994-10-18 Olympus Optical Co Ltd 位相制御膜構造体
US5654819A (en) * 1994-01-27 1997-08-05 Lucent Technologies Inc. Micromechanical modulator
US6055090A (en) * 1994-05-05 2000-04-25 Etalon, Inc. Interferometric modulation
JPH08211847A (ja) * 1994-07-29 1996-08-20 At & T Corp マイクロメカニカル・モジュレータをベースにした直視型ディスプレイ
JP2000500245A (ja) * 1995-11-06 2000-01-11 エタロン インク. 干渉性変調
JPH09236760A (ja) * 1996-02-01 1997-09-09 Lucent Technol Inc 改善された微小機械変調器の方法及び装置
JPH11160635A (ja) * 1997-11-21 1999-06-18 Nikon Corp 光学素子及びその製造方法並びにそれを用いた装置
JPH11211999A (ja) * 1998-01-28 1999-08-06 Teijin Ltd 光変調素子および表示装置
WO1999052006A2 (en) * 1998-04-08 1999-10-14 Etalon, Inc. Interferometric modulation of radiation

Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011242797A (ja) * 2002-07-02 2011-12-01 Qualcomm Mems Technologies Inc 光デバイス
US7286244B2 (en) 2003-10-01 2007-10-23 Seiko Epson Corporation Analyzer
US9097885B2 (en) 2004-09-27 2015-08-04 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Device having a conductive light absorbing mask and method for fabricating same
US9086564B2 (en) 2004-09-27 2015-07-21 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Conductive bus structure for interferometric modulator array
US8638491B2 (en) 2004-09-27 2014-01-28 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Device having a conductive light absorbing mask and method for fabricating same
JP4550693B2 (ja) * 2004-09-27 2010-09-22 クゥアルコム・メムス・テクノロジーズ・インコーポレイテッド マルチステート干渉性光変調のための方法および装置
JP2006099087A (ja) * 2004-09-27 2006-04-13 Idc Llc マルチステート干渉性光変調のための方法および装置
JP4550007B2 (ja) * 2005-06-10 2010-09-22 富士フイルム株式会社 光変調デバイス
JP2007017953A (ja) * 2005-06-10 2007-01-25 Fujifilm Holdings Corp 光変調デバイス
JP4550008B2 (ja) * 2005-06-15 2010-09-22 富士フイルム株式会社 表示デバイス
JP2007025642A (ja) * 2005-06-15 2007-02-01 Fujifilm Holdings Corp 表示デバイス
US8229253B2 (en) 2005-08-19 2012-07-24 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Electromechanical device configured to minimize stress-related deformation and methods for fabricating same
US7932728B2 (en) 2006-02-22 2011-04-26 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Electrical conditioning of MEMS device and insulating layer thereof
JP2011180604A (ja) * 2006-04-10 2011-09-15 Qualcomm Mems Technologies Inc 広帯域特性を備えた干渉光学ディスプレイシステム
KR101344484B1 (ko) 2006-04-10 2013-12-23 퀄컴 엠이엠에스 테크놀로지스, 인크. 광대역 특성을 지닌 간섭계 광학 표시 시스템
JP2009533712A (ja) * 2006-04-10 2009-09-17 クォルコム・メムズ・テクノロジーズ・インコーポレーテッド 広帯域特性を備えた干渉光学ディスプレイシステム
JP4723670B2 (ja) * 2006-04-10 2011-07-13 クォルコム・メムズ・テクノロジーズ・インコーポレーテッド 広帯域特性を備えた干渉光学ディスプレイシステム
US8097174B2 (en) 2006-12-20 2012-01-17 Qualcomm Mems Technologies, Inc. MEMS device and interconnects for same
JP2011501211A (ja) * 2007-10-19 2011-01-06 シーリアル テクノロジーズ ソシエテ アノニム 複素空間光変調器
US8693084B2 (en) 2008-03-07 2014-04-08 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Interferometric modulator in transmission mode
JP2011515707A (ja) * 2008-03-07 2011-05-19 クォルコム・メムズ・テクノロジーズ・インコーポレーテッド 透過モードにおける干渉変調器
JP2013506160A (ja) * 2009-09-28 2013-02-21 クォルコム・メムズ・テクノロジーズ・インコーポレーテッド 干渉反射体を備えた干渉表示装置
JP2016535325A (ja) * 2013-10-18 2016-11-10 サントル ナショナル ドゥ ラ ルシェルシュ シアンティフィク コントラスト増幅基板の製造方法
US10295822B2 (en) 2013-10-18 2019-05-21 Centre National De La Recherche Scientifique Method for manufacturing contrast amplifying substrates

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