JP2002038266A - 立体基板へのスパッタリング成膜装置及び成膜方法 - Google Patents

立体基板へのスパッタリング成膜装置及び成膜方法

Info

Publication number
JP2002038266A
JP2002038266A JP2000225213A JP2000225213A JP2002038266A JP 2002038266 A JP2002038266 A JP 2002038266A JP 2000225213 A JP2000225213 A JP 2000225213A JP 2000225213 A JP2000225213 A JP 2000225213A JP 2002038266 A JP2002038266 A JP 2002038266A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dimensional substrate
film
sputtering
sputtering target
sputter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000225213A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4641596B2 (ja
Inventor
Satoshi Ikeda
智 池田
Takashi Komatsu
孝 小松
Yoshifumi Ota
賀文 太田
Eiichi Iijima
栄一 飯島
Kyuzo Nakamura
久三 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ulvac Inc
Original Assignee
Ulvac Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ulvac Inc filed Critical Ulvac Inc
Priority to JP2000225213A priority Critical patent/JP4641596B2/ja
Publication of JP2002038266A publication Critical patent/JP2002038266A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4641596B2 publication Critical patent/JP4641596B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Cutting Tools, Boring Holders, And Turrets (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】移動する立体基板にその形状に沿った成膜を行
えるスパッタリング成膜装置及び成膜方法を提供するこ
と。 【解決手段】真空成膜室1内で刃物の刃先などの立体基
板5の先端をスパッタリングターゲット9のスパッタ面
へ対向させ、該立体基板を搬送手段により該面に沿って
移動させながら該スパッタリングターゲットのスパッタ
物質で該先端に成膜する成膜装置に於いて、該真空成膜
室内の立体基板の移動経路6に沿って同一材料のスパッ
タリングターゲットを備えた複数のスパッタカソード8
を間隔を存して設けた。各ターゲットによりシャドウイ
ング効果を発生しない厚さで該立体基板を該移動経路に
沿って移動させながら成膜する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、刃物の刃先などの
立体基板にスパッタリングにより成膜する装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、針や刃物の刃先などの先鋭な先端
部にカーボンの薄膜をスパッタリングにより形成して防
錆処理することが行われており、図1に示すように、真
空成膜室a内に刃物の刃先などの先鋭部からなる立体基
板bをカソードeに設けたカーボンのスパッタリングタ
ーゲットcのスパッタ面へ対向させ、該立体基板bを刃
面を前方に向け且つ該スパッタ面に沿って移動させなが
らスパッタされるカーボンの薄膜fで該立体基板bを覆
っている。この場合、該カソードeにバイアス電圧を与
え、バイアススパッタで緻密な薄膜を成膜することも行
われている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】該立体基板bがスパッ
タ面の前方を通過するあいだに、図1に示したように、
次第に薄膜fの厚さが成長し、所定の厚さになるが、最
終的な薄膜形状はシャドウイング効果により進行方向前
面側の薄膜がその後面側の薄膜よりも厚くなり、後面側
に段部gが形成されてしまう不都合があった。
【0004】本発明は、移動する立体基板にその形状に
沿った成膜を行えるスパッタリング成膜装置及び成膜方
法を提供することを目的とするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明では、真空成膜室
内で刃物の刃先などの立体基板の先端をスパッタリング
ターゲットのスパッタ面へ対向させ、該立体基板を搬送
手段により該面に沿って移動させながら該スパッタリン
グターゲットのスパッタ物質で該先端に成膜する成膜装
置に於いて、該真空成膜室内の立体基板の移動経路に沿
って同一材料のスパッタリングターゲットを備えた複数
のスパッタカソードを間隔を存して設けることにより、
上記目的を達成するようにした。また、上記目的は該真
空成膜室内の立体基板の移動経路に沿って同一材料のス
パッタリングターゲットを備えた複数のスパッタカソー
ドを間隔を存して設け、各ターゲットによりシャドウイ
ング効果を発生しない厚さで該立体基板を該移動経路に
沿って移動させながら成膜することにより達成でき、該
立体基板を該移動経路に沿って往復移動させるようにし
てもよい。
【0006】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図面に基づ
き説明すると、図2に於いて、符号1は真空ポンプ2に
より真空に排気され両端にローディング室3とアンロー
ディング室4を連設した長手の真空成膜室を示し、該ロ
ーディング室3に用意した立体基板5を該真空成膜室1
内の移動経路6に沿って移動手段7により移動させ、そ
の移動中にスパッタカソード8に取り付けたスパッタリ
ングターゲット9により該立体基板5に成膜処理を施
し、アンローディング室4に収められる。該立体基板5
を例えば図3に示したような刃物とし、該ターゲット9
にカーボンを使用すると、その刃先5aに防錆のための
カーボンの薄膜がスパッタリングで形成される。該スパ
ッタカソード8はスパッタ電源10に接続され、立体基
板5はバイアス印加用電源11を介してアースに接続さ
れる。
【0007】上記したように立体基板に形成されるスパ
ッタ膜が立体基板の形状に沿わない不都合を解消するた
め、該移動経路6に沿って間隔を存して4基のスパッタ
カソード8を設け、各スパッタカソード8には同一の材
料例えばカーボンのターゲット9を夫々取り付けた。そ
して立体基板5を移動経路6に沿って移動させ、図4に
示すように各ターゲット9により徐々に立体基板5の刃
先5aにカーボン薄膜を形成し、各ターゲット9の前方
を通過し終わるときに所定の厚さの薄膜が形成されるよ
うにした。各ターゲット9により形成される膜厚は、立
体基板5を定速で移動させた場合、成膜予定の膜厚の1
/4ずつになり、各ターゲット9で形成する膜厚が影を
作らないほど薄くなるため、シャドウイング効果が発生
しなくなって立体基板5の形状に沿った膜が形成され
る。図4に見られるように、該立体基板5には、その進
行方向前面にまず薄膜12が形成され、対向するターゲ
ット9aの半ば頃から進行方向の背面にも薄膜が形成さ
れるが、前面の薄膜が薄いためこの膜による影が殆どで
きず、前面とほぼ同厚の薄膜が背面にも形成され、これ
が各ターゲット9を通過するときに繰り返されて均一な
厚さの膜が成膜される。成膜速度はスパッタ材料やスパ
ッタ電圧、移動速度など成膜条件により異なるが、シャ
ドウイング効果を生じないように各ターゲットの成膜条
件を決定することにより、立体基板5の形状に沿った成
膜を行える。
【0008】該成膜装置の具体的構成は図5乃至図7の
如くであり、この場合は板状の導電体製のホルダー13
の両面に取付軸13aに挿通させて多数の刃物の立体基
板5を取り付け、真空成膜室1の両側に12基設けたマ
グネトロンスパッタカソード8の長方形のターゲット9
により両面の立体基板5に同時に成膜処理が施されるよ
うにした。該ホルダー13は該真空成膜室1内に敷設し
たレール14を走行する車輪15と、該レール14の側
方の歯車16に噛み合うラック17を備え、電動機で該
歯車16を回転駆動すると、該ラック17及びホルダー
13が該成膜室1内を移動する。該立体基板5にはホル
ダー13及びこれに電気的に接続したバイアス印加用電
源11を介してアースに接続され、スパッタ電源10に
接続したカソード8と該立体基板5の間でスパッタ放電
が発生する。
【0009】図5の成膜装置に於いて、立体基板5をカ
ミソリの刃とし、これにカーボンのターゲット9でトー
タル厚さ0.12μmのカーボン薄膜を−1200V〜
−200Vのバイアス電圧を与えてバイアススパッタで
形成した場合の刃先表面の薄膜形状の走査型電子顕微鏡
写真を図10に示す。図11は、比較のために従来の1
基のターゲットにより厚さ0.12μmのカーボン薄膜
を同形の立体基板に形成したときの刃先表面の走査型電
子顕微鏡写真である。両図を比較すれば明らかなとお
り、図11にはシャドウイング効果により凹入した段部
が背面側に生じているが、本発明のものは刃先形状に沿
った薄膜が形成されている。
【0010】該スパッタカソード8の個数は2個であっ
てもよく、この場合には立体基板5を各カソード8の前
方を所定の膜厚が形成されるまで往復或いは循環させ、
複数回通過させればよい。また、ターゲット9にマグネ
トロンスパッタを起こさせるための磁気回路には、電子
に往復、回転、並進等任意の運動を与える磁気回路を使
用できる。スパッタ電源やバイアス電源に、DC、R
F、AC、およびこれらの重畳あるいはアーキング防止
ユニットもしくはアーキング防止機能を有するDC電源
を用いてもよい。基板バイアス電圧はHi、Loの2つ
のレベルを設定し、例えば1μsec〜1min、デュ
ーティ比0〜100%で時間的に変化するように変調を
かけてもよい。ターゲットには、グラファイト、グラシ
ーカーボン、パイロティクカーボンなどのカーボン類に
限らずメタルその他の各種材料を使用できる。スパッタ
ガスには、Ar等の希ガス、或いはこれにN、O等の反
応性ガスを添加してもよい。
【0011】
【発明の効果】以上のように本発明によるときは、立体
基板のスパッタリング成膜装置に設けられるスパッタカ
ソードを、該立体基板の移動経路に沿って間隔を存して
複数基設けると共にその夫々に同一材料のスパッタリン
グターゲットを設けたので、シャドウイング効果を防い
で立体基板の形状に沿った薄膜を形成でき、特に刃物や
針など先鋭な立体基板に均一な厚さで成膜を行える等の
効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の立体基板への成膜状態の説明図
【図2】本発明の実施の形態の説明図
【図3】立体基板の1例の斜視図
【図4】本発明による立体基板への成膜状態の説明図
【図5】本発明のスパッタリング成膜装置の具体例の切
断平面図
【図6】図5の正面図
【図7】図6の7−7線断面図
【図8】図6のホルダーの拡大図
【図9】図8の側面図
【図10】本発明による立体基板表面の成膜状態を示す
走査型電子顕微鏡写真
【図11】従来の立体基板表面の成膜状態を示す走査型
電子顕微鏡写真
【符号の説明】
1 真空成膜室、5 立体基板、6 移動経路、8 ス
パッタカソード、9 スパッタリングターゲット、
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 太田 賀文 千葉県山武郡山武町横田523 日本真空技 術株式会社千葉超材料研究所内 (72)発明者 飯島 栄一 神奈川県茅ヶ崎市萩園2500番地 日本真空 技術株式会社内 (72)発明者 中村 久三 神奈川県茅ヶ崎市萩園2500番地 日本真空 技術株式会社内 Fターム(参考) 3C046 FF20 4K029 AA21 BA34 BD00 BD05 CA05 CA13 DC05 DC16 JA01 JA06 KA01

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】真空成膜室内で刃物の刃先などの立体基板
    の先端をスパッタリングターゲットのスパッタ面へ対向
    させ、該立体基板を搬送手段により該面に沿って移動さ
    せながら該スパッタリングターゲットのスパッタ物質で
    該先端に成膜する成膜装置に於いて、該真空成膜室内の
    立体基板の移動経路に沿って同一材料のスパッタリング
    ターゲットを備えた複数のスパッタカソードを間隔を存
    して設けたことを特徴とする立体基板へのスパッタリン
    グ成膜装置。
  2. 【請求項2】上記立体基板にバイアス電圧を与えてスパ
    ッタリングすることを特徴とする請求項1に記載の立体
    基板へのスパッタリング成膜装置。
  3. 【請求項3】上記立体基板が刃物からなり、上記スパッ
    タリングターゲットにカーボンを使用したことを特徴と
    する請求項1または2に記載の立体基板へのスパッタリ
    ング成膜装置。
  4. 【請求項4】真空成膜室内で刃物の刃先などの立体基板
    の先端をスパッタリングターゲットのスパッタ面へ対向
    させ、該立体基板を搬送手段により該面に沿って移動さ
    せながら該スパッタリングターゲットのスパッタ物質で
    該先端に成膜する成膜方法に於いて、該真空成膜室内の
    立体基板の移動経路に沿って同一材料のスパッタリング
    ターゲットを備えた複数のスパッタカソードを間隔を存
    して設け、各ターゲットによりシャドウイング効果を発
    生しない厚さで該立体基板を該移動経路に沿って移動さ
    せながら成膜することを特徴とする立体基板へのスパッ
    タリング成膜方法。
  5. 【請求項5】上記立体基板を上記移動経路に沿って往復
    移動させることを特徴とする請求項5に記載の立体基板
    へのスパッタリング成膜方法。
JP2000225213A 2000-07-26 2000-07-26 立体基板へのスパッタリング成膜装置及び成膜方法 Expired - Lifetime JP4641596B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000225213A JP4641596B2 (ja) 2000-07-26 2000-07-26 立体基板へのスパッタリング成膜装置及び成膜方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000225213A JP4641596B2 (ja) 2000-07-26 2000-07-26 立体基板へのスパッタリング成膜装置及び成膜方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002038266A true JP2002038266A (ja) 2002-02-06
JP4641596B2 JP4641596B2 (ja) 2011-03-02

Family

ID=18719028

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000225213A Expired - Lifetime JP4641596B2 (ja) 2000-07-26 2000-07-26 立体基板へのスパッタリング成膜装置及び成膜方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4641596B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007108757A1 (en) * 2006-03-21 2007-09-27 Sandvik Intellectual Property Ab Edge coating in continuous deposition line
JP2008512567A (ja) * 2004-09-08 2008-04-24 ビック・バイオレクス・エス・エー 剃刀の刃先及び剃刀の刃上に所定の層を堆積する方法
US7875360B2 (en) 2003-12-05 2011-01-25 Sandvik Intellectual Property Ab Steel strip coated with zirconia

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08296043A (ja) * 1995-04-27 1996-11-12 Mitsubishi Chem Corp 通過式スパッタリング装置
WO1999035300A1 (de) * 1998-01-12 1999-07-15 Stork Veco B.V. Verfahren zum beschichten von folie aus nickel oder nickellegierung

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08296043A (ja) * 1995-04-27 1996-11-12 Mitsubishi Chem Corp 通過式スパッタリング装置
WO1999035300A1 (de) * 1998-01-12 1999-07-15 Stork Veco B.V. Verfahren zum beschichten von folie aus nickel oder nickellegierung
JP2002500278A (ja) * 1998-01-12 2002-01-08 ストルク ベコ ベー. フェー. ニッケルもしくはニッケルアロイから構成されるフォイルのコーティング方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7875360B2 (en) 2003-12-05 2011-01-25 Sandvik Intellectual Property Ab Steel strip coated with zirconia
JP2008512567A (ja) * 2004-09-08 2008-04-24 ビック・バイオレクス・エス・エー 剃刀の刃先及び剃刀の刃上に所定の層を堆積する方法
WO2007108757A1 (en) * 2006-03-21 2007-09-27 Sandvik Intellectual Property Ab Edge coating in continuous deposition line
JP2009530500A (ja) * 2006-03-21 2009-08-27 サンドビック インテレクチュアル プロパティー アクティエボラーグ 連続堆積ラインにおけるエッジ被覆
CN101405432B (zh) * 2006-03-21 2011-04-13 山特维克知识产权股份有限公司 连续沉积生产线中的边缘涂布

Also Published As

Publication number Publication date
JP4641596B2 (ja) 2011-03-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7347919B2 (en) Sputter source, sputtering device, and sputtering method
TW476803B (en) Combined RF-DC magnetron sputtering method
US20060150912A1 (en) Ion gun deposition and alignment for liquid-crystal applications
EP0729173A1 (en) Metal ion implanting apparatus
US6171659B1 (en) Process for the formation of a coating on a substrate and device for the use this process
EP0838831A3 (en) Electron emissive film and method
JP2002038266A (ja) 立体基板へのスパッタリング成膜装置及び成膜方法
KR100189218B1 (ko) Ito 투명도전막의 제작방법
US3869368A (en) Methods of sputter deposition of materials
JPS5943546B2 (ja) スパツタリング装置
JP2875892B2 (ja) 立方晶窒化ほう素膜の形成方法
CN113667949A (zh) 磁控溅射设备
US4476000A (en) Method of making a magnetic film target for sputtering
JP2694058B2 (ja) アーク蒸着装置
JP2009280863A (ja) マグネトロンスパッタリング装置及び薄膜の製造法
JP2007186772A (ja) ガスフロースパッタリング成膜方法
JPS61250166A (ja) 多成分薄膜の製造方法
JP4157621B2 (ja) スパッタリング成膜装置
JPS63458A (ja) 真空ア−ク蒸着装置
Dugdale DC glow discharge techniques for surface treatment and coating
JPS59153882A (ja) スパツタ−蒸着法
JP2603919B2 (ja) 立方晶系窒化ホウ素の結晶粒を含む窒化ホウ素膜の作製方法
WO2009142224A1 (ja) マグネトロンスパッタリング装置、薄膜の製造方法及び表示装置の製造方法
Metel et al. Angular Divergence Control of Fast Neutral Molecules Produced through Charge Exchange Collisions of Ions Accelerated with the Use of a Single Emissive Grid
JP3364692B2 (ja) 電磁波シールド用成膜方法と装置

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20070517

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20070517

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070726

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091028

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100817

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101014

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20101116

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101130

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4641596

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131210

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term