JP2002033287A - 加熱装置 - Google Patents
加熱装置Info
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Abstract
率に優れ、支持部材と反応容器との間の隙間を、シール
材を介して完全に封止することができるとともに、耐久
性に優れた加熱装置を提供する。 【解決手段】 加熱装置10は、ヒータ部11とヒータ
部11を支持する支持部材14とを具備するものであ
り、支持部材14が、ヒータ部11側の端部を含む第1
の絶縁部16と、反応容器20のシール材15に接する
部分を含む第2の絶縁部18と、第1の絶縁部16と第
2の絶縁部18との間に位置する第3の絶縁部17とを
具備するものである。また、第1の絶縁部16及び第2
の絶縁部18の熱伝導率がヒータ部11を構成する絶縁
部(基体11A及び載置板11B)の熱伝導率よりも低
く設定され、かつ、第3の絶縁部17の熱伝導率が第1
の絶縁部16及び第2の絶縁部18の熱伝導率よりも高
く設定されている。
Description
特に、プラズマCVD装置、プラズマエッチング装置等
に装着されて、被加熱基板を加熱するのに好適な加熱装
置に関するものである。
グ装置等の内部に装着されて、ウェハー、ガラス板等の
基板(以下、「被加熱基板」と称する。)を加熱するこ
とが可能な、従来の加熱装置の構造について説明する。
マCVD装置等の内部に装着した状態の概略断面構造を
示し、この加熱装置100の構造について説明する。図
4において、符号200はプラズマCVD装置等の反応
容器を示している。
加熱基板を載置して加熱するための加熱面110Sを有
する円盤状のヒータ部110と、ヒータ部110の加熱
面110S以外の面上に取り付けられ、ヒータ部110
を支持する円筒状の支持部材140とを主体として構成
されている。
イラル状の抵抗発熱体120が内蔵された構造となって
おり、ヒータ部110は、表面に、抵抗発熱体120を
装填するために、抵抗発熱体120の形状に沿って刻設
された凹部130を有する、セラミックス焼結体製の円
盤状の基体(絶縁部)110Aと、基体110Aの凹部
130に装填された抵抗発熱体120と、抵抗発熱体1
20を挟持して基体110Aと対向配置された、被加熱
基板を載置するためのセラミックス焼結体製の載置板
(絶縁部)110Bとから構成されている。
0に電力を供給するための電極と、ヒータ部110の温
度を測定するための熱電対が取り付けられているが、図
面上は簡略化のため省略している。
タ部110側と反対側の端部(図示下側の端部)がO−
リングなどからなるシール材150を介して、反応容器
200に取り付けられており、加熱装置100と反応容
器200との間の隙間を封止して反応容器200の内部
の気密性を確保した状態で、加熱装置100は反応容器
200の内部に装着されている。
熱装置100の加熱効率を向上させるとともに、支持部
材140と反応容器200との間の隙間を、シール材1
50により完全に封止するために、ヒータ部110で発
せられた熱が、少なくとも支持部材140のシール材1
50に接する部分には伝導されないように、支持部材1
40を耐熱性に優れるとともに遮熱性に優れた材質、す
なわち、耐熱性に優れるとともに、ヒータ部110を構
成する絶縁部(基体110A及び載置板110B)より
も低い80〜100W/mK程度の熱伝導率を有するセ
ラミックス焼結体等の絶縁部材から構成している。
材140を前記のような遮熱性に優れた材質で構成し、
少なくとも支持部材140のシール材150に接する部
分への熱伝導を遮断した場合、支持部材140のヒータ
部110側とシール材150側との間の温度勾配が急と
なり、その結果、支持部材140にクラックが入り、加
熱装置100の耐久性が低下するという問題点を有して
いる。
70W/mK程度の高い熱伝導率を有するセラミックス
焼結体、金属、金属化合物等の絶縁部材から構成し、支
持部材140の温度分布を緩和することによって解決す
ることができるが、この場合には、少なくとも支持部材
140のシール材150に接する部分への熱伝導を防止
するために、支持部材140を長くする必要があり、そ
の結果、反応容器200の構造が制約を受けるという問
題点を有している。
る問題点に鑑みてなされたものであって、支持部材の長
さを長くすることなく、加熱効率に優れ、支持部材と反
応容器との間の隙間を、シール材を介して完全に封止す
ることができるとともに、耐久性に優れた加熱装置を提
供することを目的とする。
行った結果、支持部材のヒータ部近傍部分とシール材近
傍部分を、ヒータ部を構成する絶縁部よりも低い熱伝導
率を有する絶縁部で構成し、ヒータ部近傍部分とシール
材近傍部分との間を、ヒータ部近傍部分とシール材近傍
部分よりも高い熱伝導率を有する絶縁部で構成すること
により、支持部材の温度勾配を緩和して、応力緩和する
ことができることを見出した。
は、ヒータ部近傍部分とシール材近傍部分とを、ヒータ
部を構成する絶縁部よりも低い熱伝導率を有する絶縁部
で構成しているため、ヒータ部から支持部材への熱伝導
を抑制することができるとともに、ヒータ部近傍部分と
シール材近傍部分との間の絶縁部よりシール材側への熱
伝導を抑制することができることを見出し、本発明の加
熱装置を発明するに到った。
て加熱するための加熱面を有する絶縁部と該絶縁部に内
蔵された発熱体とを有するヒータ部と、該ヒータ部を支
持する支持部材とを具備し、前記支持部材を、シール材
を介して反応容器に取り付けることにより、前記反応容
器の内部に装着された加熱装置であって、前記支持部材
が、前記ヒータ部側の端部を含む第1の絶縁部と、前記
シール材に接する部分を含む第2の絶縁部と、前記第1
の絶縁部と前記第2の絶縁部との間に位置する第3の絶
縁部とを具備するものであるとともに、前記第1の絶縁
部及び前記第2の絶縁部の熱伝導率が、前記ヒータ部を
構成する前記絶縁部の熱伝導率よりも低くされ、前記第
3の絶縁部の熱伝導率が、前記第1の絶縁部及び前記第
2の絶縁部の熱伝導率よりも高くされたことを特徴とす
る。
ヒータ部側の端部を含む領域を、ヒータ部を構成する絶
縁部よりも低い熱伝導率を有する第1の絶縁部で構成
し、シール材に接する部分を含む領域を、ヒータ部を構
成する絶縁部よりも低い熱伝導率を有する第2の絶縁部
で構成し、第1の絶縁部と第2の絶縁部との間に、第1
の絶縁部、第2の絶縁部の熱伝導率よりも高い熱伝導率
を有する第3の絶縁部を設ける構成としている。
持部材のヒータ部近傍部分とシール材近傍部分との間の
部分を、ヒータ部近傍部分の第1の絶縁部とシール材近
傍部分の第2の絶縁部よりも高い熱伝導率を有する第3
の絶縁部で構成することにより、支持部材の長さを長く
することなく、支持部材の温度勾配を緩和することがで
き、支持部材にクラックが入ることを防止することがで
き、耐久性の優れた加熱装置を提供することができるこ
とを見出した。
は、ヒータ部近傍部分とシール材近傍部分とを、ヒータ
部を構成する絶縁部よりも低い熱伝導率を有する第1の
絶縁部、第2の絶縁部で構成しているため、ヒータ部か
ら第1の絶縁部への熱伝導を抑制し、ヒータ部近傍部分
とシール材近傍部分との間に位置する第3の絶縁部から
シール材側(第2の絶縁部側)への熱伝導を抑制するこ
とができるので、本発明の加熱装置は、加熱効率に優れ
るとともに、支持部材と反応容器との間の隙間を、シー
ル材を介して完全に封止することができるものとなる。
1の絶縁部及び前記第2の絶縁部をアルミナ基焼結体で
構成し、前記第3の絶縁部を窒化アルミニウム基焼結体
で構成することが望ましい。第1の絶縁部、第2の絶縁
部、第3の絶縁部をこのような構成とすることにより、
支持部材を耐プラズマ性、耐腐食性等に優れたものにす
ることができる。
3の絶縁部の前記支持部材の延在方向の長さを、前記第
1の絶縁部及び前記第2の絶縁部の前記支持部材の延在
方向の長さよりも長く設定することが望ましい。
支持部材の延在方向の長さを、第1の絶縁部及び第2の
絶縁部の支持部材の延在方向の長さよりも長く設定する
ことにより、支持部材のヒータ部側とシール材側との間
の温度勾配を更に緩和し、支持部材の耐熱衝撃性を更に
向上させ、加熱装置の耐久性を飛躍的に向上させること
ができることを見出した。
いて詳細に説明する。
て、本発明に係る実施形態の加熱装置10の構造につい
て説明する。
概略斜視図、図2は半導体装置の製造等に用いられる熱
CVD装置に加熱装置10を装着した状態を示す概略断
面図、図3は図2に示す加熱装置10を拡大して示す概
略断面図である。なお、図2、図3に示す加熱装置は図
1に示す加熱装置をA−A’線に沿って切断したときの
断面図である。また、図2においては、簡略化のため後
述する電極と熱電対の図示を省略している。また、図
2、図3において、符号20は熱CVD装置の反応容器
を示している。
熱基板を載置して加熱を行うことが可能な円盤状のヒー
タ部11と、ヒータ部11の一方の面上に取り付けられ
て、ヒータ部11を支持する円筒状の支持部材14とを
主体として構成されている。ヒータ部11と支持部材1
4とは、ガラス接合法等の接合法により接合されてお
り、図示は省略している接合層を介して気密に接合され
ている。また、本実施形態において、ヒータ部11の上
側の面が、被加熱基板を載置して加熱するための加熱面
11Sとなっていて、ヒータ部11の下側の面上に支持
部材14が取り付けられている。
は、円盤状の絶縁部にスパイラル状の炭化珪素焼結体等
からなる抵抗発熱体(発熱体)12が内蔵された構造と
なっており、ヒータ部11は、表面に、抵抗発熱体12
を装填するために、抵抗発熱体12の形状に沿って刻設
された凹部13を有する円盤状の基体(絶縁部)11A
と、基体11Aの凹部13に装填されたスパイラル状の
抵抗発熱体12と、抵抗発熱体12を挟持して基体11
Aと対向配置された、被加熱基板を載置するための載置
板(絶縁部)11Bとから構成されている。
合法等の接合法により接合されており、図示は省略して
いる接合層を介して気密に接合されている。また、載置
板11Bの図示上側の面が、被加熱基板を加熱するため
の加熱面11Sとなっている。
抗発熱体12から加熱面11Sへの熱伝導を良くし、加
熱効率を高くするために、100〜170W/mK程度
の熱伝導率を有する、窒化アルミニウム等のセラミック
ス焼結体から構成されている。
張係数が異なる場合には、基体11Aと載置板11Bと
の熱膨張係数の差に起因した熱ストレスにより、基体1
1Aと載置板11Bとの間に形成された接合層の耐久性
が低下する。したがって、本実施形態において、基体1
1Aと載置板11Bとは同じ熱膨張係数を有する材質か
ら構成されている。さらに、ヒータ部11の製造工程を
簡略化することができるので、基体11Aと載置板11
Bとが同じ材質から構成されていることが望ましい。
おいて、抵抗発熱体12に電力を供給するために、抵抗
発熱体12の両端部には、一端が抵抗発熱体12に電気
的に接続された一対の電極27が設けられており、電極
27を介して抵抗発熱体12に電力が供給され、ヒータ
部11の加熱面11Sを加熱することができる構造にな
っている。
1内の温度を測定するために、一端がヒータ部11内に
挿入された熱電対28が設けられている。なお、図3に
は例として、熱電対28の図示上端部が基体11Aと載
置板11Bとの接合面に接触している場合について図示
している。
11の基体11A内に設けられた貫通孔23、24に挿
通されており、図示下側の端部は、支持部材14の内部
の空洞を通って、支持部材14の外部にまで延出形成さ
れている。
14のヒータ部11側と反対側の端部(図示下側の端
部)がO−リングなどからなるシール材15を介して、
反応容器20に取り付けられ、加熱装置10と反応容器
20との間の隙間を封止して反応容器20の内部の気密
性を確保した状態で、加熱装置10は反応容器20の内
部に装着される。
部にガス供給孔21から熱CVD用のガスが供給され、
吸引孔22から反応容器20内の空気が真空ポンプによ
り排出される構造になっている。
支持部材14は、ヒータ部11側の端部を含む第1の絶
縁部16と、シール材15に接する部分を含む第2の絶
縁部18と、第1の絶縁部16と第2の絶縁部18との
間に位置する第3の絶縁部17とを具備するものとなっ
ている。第1の絶縁部16と第3の絶縁部17、及び第
3の絶縁部17と第2の絶縁部18は、各々ガラス接合
法等の接合法により接合されており、図示は省略してい
る接合層を介して気密に接合されている。
16及び第2の絶縁部18の熱伝導率がヒータ部11を
構成する絶縁部(基体11A及び載置板11B)の熱伝
導率よりも低く設定されていて、かつ、第3の絶縁部1
7の熱伝導率が、第1の絶縁部16及び第2の絶縁部1
8の熱伝導率よりも高く設定されている。
いずれも、ヒータ部11を構成する絶縁部(基体11A
及び載置板11B)よりも低い10〜20W/mK程度
の熱伝導率を有する絶縁部材から構成されていて、第1
の絶縁部16及び第2の絶縁部18は、例えば、アルミ
ナ基焼結体(熱伝導率:10W/mK程度)から構成さ
れている。
16及び第2の絶縁部18よりも高い熱伝導率を有する
絶縁部材から構成されていて、例えば、第1の絶縁部1
6及び第2の絶縁部18が、熱伝導率が10W/mK程
度の絶縁部材から構成されている場合、第3の絶縁部1
7は窒化アルミニウム基焼結体(熱伝導率:80W/m
K程度)、アルミナ基焼結体(熱伝導率:20W/mK
程度)などから構成されている。
18をアルミナ基焼結体で構成し、第3の絶縁部17を
窒化アルミニウム基焼結体で構成することが好ましく、
第1の絶縁部16、第2の絶縁部18、第3の絶縁部1
7をこのような構成にすることにより、支持部材14を
耐プラズマ性、耐腐食性等に優れたものにすることがで
きる。
焼結体」、「窒化アルミニウム基焼結体」とは、アルミ
ナ焼結体又は窒化アルミニウム焼結体、もしくは、焼結
性や耐プラズマ性を向上させるために、アルミナ焼結体
又は窒化アルミニウム焼結体に、イットリア(Y2O
3)、カルシア(CaO)、マグネシア(MgO)、炭
化珪素(SiC)、チタニア(TiO2)等から選択さ
れた1種または2種以上の添加物を合計で0〜10重量
%程度含有したものを言う。
第2の絶縁部18、第3の絶縁部17を各々複数の絶縁
部材から構成しても良く、例えば、第3の絶縁部17に
おいて、図示上側半分を熱伝導率が10W/mK程度の
アルミナ基焼結体から構成し、図示下側半分(シール材
15に接する部分)を熱伝導率が1.8W/mK程度の
石英板等から構成してもよい。
いて、第3の絶縁部17の図示縦方向(支持部材14の
延在方向)の長さL3が、第1の絶縁部16の図示縦方
向(支持部材14の延在方向)の長さL1及び第2の絶
縁部18の図示縦方向(支持部材14の延在方向)の長
さL2よりも長く設定されていることが好ましい。
有する加熱装置10の製造方法の一例について説明す
る。
を装填するための凹部13と、電極27及び熱電対28
を挿通させるための貫通孔23、24を有するセラミッ
クス焼結体製の円盤状の基体11Aと、被加熱基板を載
置して加熱するためのセラミックス焼結体製の円盤状の
被覆板11Bとを公知の方法により作製する。
基板を載置して加熱する加熱面11Sを平滑性の高いも
のにすることが望ましい。特に、被加熱基板がヒータ部
11の加熱面11S上に直接載置される場合には、加熱
面11Sの表面粗さを500 μm以下とすることが望まし
く、このように平滑性の高い加熱面11Sを形成するこ
とにより、加熱面11S上に被加熱基板を直接載置する
場合においても、被加熱基板の裏面(被加熱基板の加熱
面11S側の面)側にデポジション用ガスが侵入して、
被加熱基板の裏面が損傷されることを防止することがで
きる。
パイラル状の炭化珪素焼結体等からなる抵抗発熱体12
を、例えば特開平4−65361号公報に記載の方法に
より作製し、作製した抵抗発熱体12を基体11Aの凹
部13内に装填する。
填した基体11Aと、被覆板11Bとをガラス接合法等
の公知の接合法を用いて、接合層を介して気密に接合す
る。次に、基体11A内に設けた貫通孔23、24に電
極27及び熱電対28を挿通させることにより、ヒータ
部11が作製される。
により、円筒状のセラミックス成形体を成形し、該セラ
ミックス成形体を常圧又は加圧焼結することにより、第
1の絶縁部16、第2の絶縁部18、第3の絶縁部17
を各々形成する。
17、第3の絶縁部17と第2の絶縁部18とをガラス
接合法等の公知の接合法を用いて、接合層を介して気密
に接合することにより、支持部材14を作製する。な
お、第1の絶縁部16と第3の絶縁部17の接合と、第
3の絶縁部17と第2の絶縁部18の接合は、いずれを
先に行っても構わない。
タ部11と支持部材14とを、ガラス接合法等の公知の
接合法を用いて、接合層を介して気密に接合し、加熱装
置10が製造される。
導率の異なる複数の絶縁部(第1の絶縁部16、第3の
絶縁部17、第2の絶縁部18)を具備する特殊な構造
で構成し、支持部材14のヒータ部11近傍部分とシー
ル材15近傍部分との間の部分を、ヒータ部11近傍部
分の第1の絶縁部16とシール材15近傍部分の第2の
絶縁部18よりも高い熱伝導率を有する第3の絶縁部1
7で構成することにより、支持部材14の長さを長くす
ることなく、支持部材14のヒータ部11側とシール材
15側との間の温度勾配を緩和することができ、支持部
材14にクラックが入ることを防止することができ、耐
久性の優れた加熱装置を提供することができる。
数の絶縁部(第1の絶縁部16、第3の絶縁部17、第
2の絶縁部18)からなる特殊な構造で構成し、支持部
材14のヒータ部11近傍部分とシール材15近傍部分
とを、ヒータ部11を構成する絶縁部よりも低い熱伝導
率を有する第1の絶縁部16、第2の絶縁部18で構成
することにより、ヒータ部11から第1の絶縁部16へ
の熱伝導を抑制し、ヒータ部11近傍部分とシール材1
5近傍部分との間に位置する第3の絶縁部17からシー
ル材15側(第2の絶縁部18)への熱伝導を抑制する
ことができるので、本実施形態の加熱装置10は、加熱
効率に優れるとともに、支持部材14と反応容器20と
の間の隙間を、シール材15を介して完全に封止するこ
とができるものとなる。
が支持部材14の内部に埋設され、反応容器20の内部
に露出されていないので、電極27の腐食、電極27か
らの被加熱基板への汚染、真空中における電極27間又
は電極27と反応容器20との間の放電や漏電の恐れが
ない。したがって、電極27を保護するための部材を設
ける必要がない。また、熱電対28についても電極27
と同様に、支持部材14の内部に埋設され、反応容器2
0の内部に露出されていないので、熱電対28を保護す
るための部材を設ける必要がない。
状の発熱体を内蔵する円盤状のヒータ部11と円筒状の
支持部材14とを具備する加熱装置についてのみ説明し
たが、本発明はこのような加熱装置に限定されるもので
はなく、被加熱基板を加熱する加熱面を有する絶縁部と
該絶縁部に内蔵された発熱体とを有するヒータ部と、ヒ
ータ部の加熱面以外の面上に取り付けられ、ヒータ部を
支持する支持部材とを具備するものであれば、いかなる
加熱装置にも適用することができる。
端部を反応容器に取り付けた場合についてのみ説明した
が、本発明はこれに限定されるものではなく、支持部材
を反応容器に取り付ける位置は、ヒータ部から離れた位
置であれば、いかなる位置であってもよい。
第1の絶縁部、第2の絶縁部、第3の絶縁部のみから構
成されている場合についてのみ説明したが、本発明はこ
れに限定されるものではなく、支持部材は、ヒータ部側
の端部を含む第1の絶縁部と、シール材に接する部分を
含む第2の絶縁部と、第1の絶縁部と第2の絶縁部との
間に位置する第3の絶縁部とを具備するものであれば良
く、例えば、支持部材を反応容器の外側にまで延出形成
させて、第3の絶縁部の下方(反応容器の外側)に第3
の絶縁部とは異なる部材を取り付ける構造としてもよ
い。
支持部材を熱伝導率の異なる複数の絶縁部からなる特殊
な構造で構成したことにより、支持部材の長さを長くす
ることなく、加熱効率に優れ、支持部材と反応容器との
間の隙間を、シール材を介して完全に封止することがで
きるとともに、耐久性に優れた加熱装置を提供すること
ができる。
構造を示す概略斜視図である。
反応容器の内部に装着した状態を示す概略断面図であ
る。
概略断面図である。
内部に装着した状態を示す概略断面図である。
Claims (3)
- 【請求項1】 被加熱基板を載置して加熱するための加
熱面を有する絶縁部と該絶縁部に内蔵された発熱体とを
有するヒータ部と、該ヒータ部を支持する支持部材とを
具備し、 前記支持部材を、シール材を介して反応容器に取り付け
ることにより、前記反応容器の内部に装着された加熱装
置であって、 前記支持部材が、 前記ヒータ部側の端部を含む第1の絶縁部と、 前記シール材に接する部分を含む第2の絶縁部と、 前記第1の絶縁部と前記第2の絶縁部との間に位置する
第3の絶縁部とを具備するものであるとともに、 前記第1の絶縁部及び前記第2の絶縁部の熱伝導率が、
前記ヒータ部を構成する前記絶縁部の熱伝導率よりも低
くされ、 前記第3の絶縁部の熱伝導率が、前記第1の絶縁部及び
前記第2の絶縁部の熱伝導率よりも高くされたことを特
徴とする加熱装置。 - 【請求項2】 前記第1の絶縁部及び前記第2の絶縁部
がアルミナ基焼結体からなり、前記第3の絶縁部が窒化
アルミニウム基焼結体からなることを特徴とする請求項
1に記載の加熱装置。 - 【請求項3】 前記第3の絶縁部の前記支持部材の延在
方向の長さが、前記第1の絶縁部及び前記第2の絶縁部
の前記支持部材の延在方向の長さよりも長くされたこと
を特徴とする請求項1又は請求項2に記載の加熱装置。
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