JP2002009105A - パターンの認識方法及びこのためのクランプ - Google Patents

パターンの認識方法及びこのためのクランプ

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JP2002009105A JP2000350076A JP2000350076A JP2002009105A JP 2002009105 A JP2002009105 A JP 2002009105A JP 2000350076 A JP2000350076 A JP 2000350076A JP 2000350076 A JP2000350076 A JP 2000350076A JP 2002009105 A JP2002009105 A JP 2002009105A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 ワイヤボンディング工程中、リードフレーム
(LF)のオリエンテーションを正確に検出し、また、
対称形のダイ(半導体チップ)のオリエンテーションも
正確に検出し得るパターン認識方法及びこのためのクラ
ンプを提供する。 【解決手段】 ヒートブロック上にLFをクランピング
する前に、クランプの観察孔41に通じるLFのゲート
16とクランプの外周縁に位置するLFの支持バー5に
て正確な方向及び位置に安着されたかを判断するLFの
オリエンテーション検出段階と、LFをクランピングし
た後、LFのゲートと支持バーにてLFが正確な位置に
安着されたかを再判断するLFインデックス段階と、L
Fの各リード位置をカメラで新しく読取ってメモリする
VLL段階と、ダイ30の角の特定パターン32にてダ
イが正確な方向に搭載されたかを判断するダイのオリエ
ンテーション検出段階とを包含してなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、パターンの認識方
法及びこのためのクランプに関するもので、より詳しく
は、ワイヤボンディング工程中、ノーマルリードフレー
ムまたはインバートリードフレーム(inverted
lead frame)のオリエンテーションを正確
に検出し、また、対称形のダイ(半導体チップ)のオリ
エンテーションも正確に検出することのできるパターン
認識方法及びこのためのクランプに関するものである。
【0002】
【従来の技術】通常、ダイのワイヤボンディングは、ダ
イの表面に形成されたボンダーパッドと回路基板(印刷
回路基板、回路テープ(circuit tape)、
回路フイルム(circuit film)、リードフ
レーム等、以下、リードフレームを一例として説明す
る)に具備されたリードとを微細な導電性ワイヤで相互
連結させることによって、ダイとリードフレームが相互
電気的に導通されるようにする工程である。
【0003】このようなワイヤボンディングのためのワ
イヤボンディング装置の構成は、図12に図示したよう
に、画像を読取るカメラと、カメラの画像を表示するモ
ニタと、最初の作業者によりリードフレーム及びダイの
各種位置が入力されると、これを記憶(貯蔵)するメモ
リ(memory)と、データの処理及び入出力等の全
般的な制御を担当する中央処理装置(CPU)と、リー
ドフレームを移送する移送部(transfer un
it)と、キャピラリー(capillary)及びカ
メラが装着されたボンダーヘッド(bond hea
d)をX、Y、Z軸の方向に移動させ、制御するワイヤ
ボンダー制御部(wire bond control
unit)等とで構成されており、このような構成は
すでに周知の事項である。
【0004】前記ワイヤボンディング装置によるワイヤ
ボンディング方法中、従来のリードフレーム及びダイの
パターンの認識方法を説明すれば、以下のとおりであ
る。まず、リードフレーム及びワイヤボンディング中に
使用されるクランプの構造を説明することにする。
【0005】図13を参照すると、通常的なノーマルリ
ードフレーム(NLF)は、中央に一定の大きさの空間
部3を有し、空間部3の両側には全体的な構造を維持及
び支持するほぼ板状のフレーム本体2が形成されてい
る。空間部3の中央には、製造工程中、ダイ30が搭載
されるほぼ四角板形状のダイパッド4が配置されてい
る。ダイパッド4は四つの角にタイバー5の一端が連結
されており、タイバー5の中、3個のタイバー5は他の
端が緩衝用連結板18に連結され、連結板18は再びフ
レーム本体2に連結されている。また、他の1個のタイ
バー5は他の端が製造工程(モールディング(mold
ing)工程)中、樹脂がダイパッド4の方へ容易に流
入されるようにするゲート16(図13で左上部の角に
図示する)に連結され、前記ゲート16は再びフレーム
本体2に連結されている。
【0006】ここで、ゲート16の一側にはデント(d
ent:くぼみ)部16aが形成されており、これはゲ
ート16の形成位置を表示すると共に、次後、説明する
インバートリードフレーム(ILF)との容易な区別の
ために形成されている。また、タイバー5は一定の領域
が所定の傾斜を有し、また、下向折曲されているから、
前記タイバー5に連結されて支持されるダイパッド4は
フレーム本体2に比べて低い領域に位置している。
【0007】一方、ダイパッド4の外周縁には、ダイパ
ッド4と一定の距離に離隔されたままで多数の内部リー
ド6がダイパッド4を中心にほぼ放射状に配列されてい
る。また、各々の内部リード6には外部リード10が連
結されており、外部リード10の終端は一体の直線形支
持バー12に全部連結されている。また、直線形支持バ
ー12は多数の折曲形支持バー14に連結されており、
折曲形支持バー14はまた、フレーム本体2に連結され
ている。
【0008】各内部リード6と外部リード10との間に
は、内部リード6または外部リード10の長さ方向とは
ほぼ垂直の方向にダムバー8が形成されており、このダ
ムバー8はモールディングの時、樹脂が外部リード10
まで流出されないようにする役割をする。
【0009】一方、図14は通常的なインバートリード
フレーム(ILF)の一例を図示した平面図であり、樹
脂注入のためのゲート16が前記ノーマルリードフレー
ム(NLF)とは対称の右側の上部の角に具備されてい
る。
【0010】図13及び図14で、未説明の符号22は
内部リード6相互間のショート(short)や曲がり
等を防止するための接着テープであり、符号1は次後、
説明するリードフレームのオリエンテーション検出や、
固定するためのインデックスホールであり、符号33は
ダイ30の表面にコーティングされたガラスを示す。
【0011】一方、図15は従来のクランプ(CL’)
を図示した斜視図である。クランプ(CL’)はダイ3
0が搭載されたリードフレーム(NLFまたはILF、
以下の説明ではNLFを基準に説明する)が移送部によ
りワイヤボンディング装置のヒートブロック(図示せ
ず)上に安着された状態で、ワイヤボンディング工程
中、リードフレーム(NLF)が動かないように固定す
る役割をする。このようなクランプ(CL’)は図示し
たように、リードフレーム(NLF)のダイパッド4、
リード6及びタイバー5の一定領域が外部にオープン
(open)されるようにほぼ四角形形状のウィンドウ
40’が形成されている。
【0012】続いて、図16の順次説明図及び図17、
図18、図19を参照して従来のワイヤボンディングの
ためのパターン認識方法を説明する。
【0013】段階1。リードフレームのオリエンテーシ
ョン検出段階(ステップS1’)であり、移送部により
ヒートブロック上にローディングされたリードフレーム
(NLF)のホール1をセンサー(sensor)で感
知して、リードフレーム(NLF)が正確な方向にロー
ディングされているかを判断する。ここで、リードフレ
ーム(NLF)が異方向等にローディングされた場合
は、ホール1の位置または数が異なるので、リードフレ
ームのローディング状態に誤謬があったのを感知し得
る。また、ここでは、リードフレーム(NLF)は完全
にクランプ(CL’)でクランピングされた状態ではな
い。
【0014】段階2。リードフレームの第1インデック
ス段階(ステップS2’)であり、カメラ及びPRS
(Pattern Recognition Syst
em、カメラで読取った画像を電気的信号(データ)で
変換するシステム(system))を用いてリードフ
レーム(NLF)のいずれか一つのタイバー5(例え
ば、クランプ(CL’)のウィンドウ(40’)内側に
位置された左側上端のタイバー5、図17のA’にて表
示)にリードアイボックス(LEB)及びアイポイント
(LEP)を設定してその画像を読取り、この画像がメ
モリに既に記憶された画像(最初にローディングされた
リードフレームのタイバー領域は作業者によりメモリに
既に記憶されている)と許容範囲内で一致するかを判断
する。前記判断の結果、カメラで読取った画像がメモリ
に既に記憶された画像と完全に一致すると、次の段階を
進行し、許容範囲内で一致すると、リードフレーム(N
LF)をX、Y軸に移動して、読取った画像がメモリの
画像と一致するようにする。また、許容範囲以上に画像
が相異した場合、進行を中止し、作業者の入力を待機す
る(図17参照)。
【0015】ここで、PRSは、現在、画像情報処理シ
ステムの中、最も最新の技術で、PRSは半導体のみな
らず、測定機器、物質分析、医学及び軍事用に広く使用
している。このようなPRSは半導体分野中、特に、ワ
イヤボンディング装置に適用され、その原理は、既に記
憶された画像とカメラを通じて読取った画像を比較し
て、その読取った画像がメモリの画像と一致するかを判
断するものである。また、判断結果、許容範囲内で一致
すると、リードフレームまたはカメラをX、Y方向に移
動して前記リードフレームの位置をメモリに既に記憶さ
れた位置に一致させるものである。
【0016】段階3。リードフレームの第2インデック
ス段階(ステップS3’)であり、クランプ(CL’)
でリードフレーム(NLF)をヒートブロック上に完全
にクランピングした状態で、再びカメラ及びPRSを利
用して、リードフレーム(NLF)のいずれか一つのタ
イバー5、(図面17のA’にて表示)に第1リードア
イボックス(LEB)及びアイポイント(LEP)を設
定してその画像を読取り、この画像がメモリに既に記憶
された画像と許容範囲内で一致するかを判断する。前記
判断結果、読取った画像とメモリ画像が完全に一致する
と、次の段階を進行し、許容範囲内で一致すると、前記
カメラをX、Y軸に移動して2個の画像が完全に一致さ
せるようにする。
【0017】次いで、リードフレーム(NLF)の他の
タイバー5、(図面17でB’にて表示)に第2リード
アイボックス(LEB)及びアイポイント(LEP)を
設定して、その画像を読取り、この画像がメモリに既に
記憶された画像と許容範囲内で一致するかを判断する。
前記判断結果、読取った画像とメモリ画像が完全に一致
すれば、次の段階を進行し、許容範囲内で一致すると、
前記カメラをX、Y軸に移動して二つの画像が完全に一
致させるようにする。
【0018】ここで、第1リードアイボックス(LE
B)及び第2リードアイボックス(LEB)の設定時、
その読取った画像がメモリ画像と許容範囲以上に相異し
た場合は、次の進行を中止し、作業者の入力を待機す
る。即ち、作業者が手動にてアイボックス及びアイポイ
ントを設定してリードフレームが正確な位置に設定され
るようにする(図17参照)。
【0019】段階4。VLL(Video Lead
Locator)段階(ステップS4’)であり、リー
ドフレーム(NLF)の個別的なリード6位置をカメラ
で全部新しく読んで、これをメモリに記憶させた。この
ように、VLL段階を実施する理由は、リードフレーム
の製造過程での公差と、内部リードの変形等により最初
にメモリに記憶されたリード位置と実際のリード位置間
に差異があるためである。
【0020】段階5。ダイのオリエンテーション検出段
階(ステップS5’)であり、ダイ30の角(図18の
C’にて表示)及びその周辺に形成された2〜3個のボ
ンダーパッド(P1、P2)を第1ダイアイボックス
(DEB)及びアイポイント(DEP)で設定して読取
り、この画像をメモリに既に記憶された画像と比較す
る。前記比較の結果、読取った画像がメモリに既に記憶
された画像と一致すると、次の段階を進行し、許容範囲
内で一致すると、カメラをX、Y軸に移動して完全に一
致するようにした後、次の段階を進行する。比較結果、
一致しないと、次の進行を中止し作業者の入力(作業者
が手動でリードアイボックス及びアイポイントを捜して
入力する作業)を待機する。
【0021】次いて、ダイ30の他の角(図18のD’
にて表示)周辺に前記のような方法により第2ダイアイ
ボックス(EB)及びダイアイポイント(DEP)を設
定し、同様に、前記のような作業を遂行して読取った画
像がメモリ画像と完全に一致すると、次の段階を進行
し、許容範囲内で一致すると、カメラをX、Y軸に移動
して完全に一致させた後、次の段階を進行し、一致しな
いと、次の進行を中止し、作業者の入力を待機する(図
18参照)。
【0022】続いて、前記2個のダイアイポイント(D
EP)の間に仮想の直線35を引き、その中心点とメモ
リに既に記憶された中心点(中心点も最初にダイがロー
ディングされた時、作業者によりメモリに記憶されてい
る)とを比較して、許容値以内で一致すると、次の段階
を進行し、一致しないと、進行を中止し、作業者の入力
を待機する。
【0023】次いで、中心点を基準に、ダイ30のすべ
てのボンダーパッド(P1、...、Pn)に対する位
置または座標を計算する。例えば、中心点から第1ボン
ダーパッドP1の位置または座標を計算すると、他のボ
ンダーパッド(P2、P3、...、Pn)の位置を全
部計算することもできる。より具体的に説明すれば、す
べてのボンダーパッドの相対的または絶対的な位置は、
既に最初にメモリに記憶されているため、第1ボンダー
パッドP1の位置だけ正確に把握されれば、他のボンダ
ーパッドの座標は自動的にわかる。
【0024】図面中、未説明の符号31はダイ30の電
気的性能テスト時にプローブ(Prove)との接触に
より形成されたプローブマーク(mark)であり、3
3はダイ30の上面を外部環境から保護するためにコー
ティング(coating)されたガラスである(図1
9参照)。
【0025】段階6。ワイヤボンディングの段階(ステ
ップS6’)であり、ダイ30及びリードフレーム(N
LF)の位置及び座標とボンダーヘッドのキャピラリー
を用いて各ダイ30のボンダーパッドとリードフレーム
(NLF)のリード6を導電性ワイヤでボンディングす
る。ボンディングの順序は通常、ダイ30の1番のボン
ダーパッド(P1)とリードフレーム(NLF)の一番
のリード6から進行される。
【0026】上述のように、リードフレーム(NLF)
またはダイ30が傾斜されるか、または位置に誤差があ
る場合でも、許容の範囲以内であれば、ダイ30のボン
ダーパッドとリードフレーム(NLF)のリードは全部
ワイヤボンディングが可能となる。しかし、このような
従来のパターン認識方法及びクランプは以下のような問
題点がある。
【0027】問題点1。リードフレームの第1、2イン
デックスのためのリードアイボックス及びアイポイント
がクランプのウィンドウ内側に位置したタイバーに設定
されているため、対称形リードフレーム(ノーマルリー
ドフレーム及びインバートリードフレーム)に対するワ
イヤボンディングの工程時、リードフレームが180°
に回転したままで投入されても、これを全然感知するこ
とができないという問題点がある。
【0028】実際に、図17及び図18に図示したよう
に、クランプのウィンドウでみられるダイパッド及びこ
れに連結されたタイバーの構造は完全な対称形に形成さ
れ、リードフレームが180°に回転されたまま投入さ
れた場合は装置がこれを全然感知することができない。
このような問題は前記ノーマルリードフレーム及びイン
バートリードフレームが混合されたまま作業する場合、
もっとも頻繁に発生する。
【0029】たとえリードフレームのオリエンテーショ
ン検出段階で、ホールをカウント(count)してそ
の方向性を検査しても、リードフレームの汚染やセンサ
ーの汚染によって、その検出が不正確であると、リード
フレームはオリエンテーション段階をそのままで通過し
て、前記のような不良が発生する可能性が非常に大き
い。
【0030】問題点2。リードアイボックス及びアイポ
イントは熱が集中されるヒットブロック(heat b
lock)の中心部に位置するため、熱によりリードフ
レームが急速に酸化し、これによって、リードフレーム
の色彩がヒットブロックの色彩とほぼ同一となって画像
が正確に読取ることができないという問題が起こる。即
ち、画像の認識率が低下されるようになる。
【0031】問題点3。ダイがダイパッド上で90°、
180°、270°に回転された状態で接着された場
合、このようなダイの位置の不良状態を全然検出するこ
とができなく、そのままワイヤボンディングを進行して
しまうようになる問題がある。
【0032】即ち、最近のダイは、ボンダーパッドが
左、右、上、下を通じて相互対称された形態が多いし、
ダイの付着工程でダイが一定の角度(例えば、90°、
180°、270°)を有し、回転された状態で付着さ
れる場合がある。このような場合、当然にダイの1番の
ボンダーパッドの位置が変更されるが、前記のようなパ
ターンの認識方法では、これを全然検出しないという欠
点がある。よって、中央処理装置はダイが正確な位置に
接着されたものと判断し、プログラム(progra
m)されたままでワイヤボンディングを遂行するように
なる。しかし、実際に1番のボンダーパッドは他の領域
に位置しているので、すべてのボンダーパッドとリード
のワイヤボンディングに誤謬が発生し、よって半導体装
置の製造完了後に遂行される電気的テストでフェイル
(Fail)される不良を惹起し、生産収率を大幅に低
下させるようになる。
【0033】問題点4。ボンダーパッドのファインピッ
チ(fine pitch)化により、ダイアイボック
ス及びアイポイントの設定時、PRSによる画像の認識
率が低下される問題点がある。即ち、ボンダーパッド相
互間の距離が狭くなり、これによって通常、その面積が
小さくなるが、ダイの電気的テストの時に形成されるプ
ローブマークの大きさは減少することなくそのままであ
る。よって、ダイアイボックス内の画像を電気的信号に
変換すれば、プローブマークの色彩(例えば、黒色)が
ボンダーパッドの色彩(例えば、白色)より占有する面
積が多いため、確率的にボンダーパッド全体が黒色に該
当する電気的信号に変換し得るので、画像の認識率が低
下してしまうようになる。よって、作業者がダイのオリ
エンテーション検出を手動で作業しなければならないと
いう問題が起こる。ここで、プローブマークはダイの電
気的性能及び不良テストの時にプローブの接触により形
成された黒色のマークである。
【0034】問題点5。通常、ダイの表面にはボンダー
パッドが形成された列の内側へ各種回路を保護するため
にガラスでカバー(cover)するが、これにより、
その表面の色彩が多様な色に見られる現象がある。この
ような現象は特に、ウェーハ(wafer)の切断工程
や各種製造工程中、提供される熱によりもっとも深化さ
れ、このような色彩の変化によりダイアイボックス内の
画像をカメラが正確に認識されず、結局、画像の認識率
が低下されるようになるものである。
【0035】
【発明が解決しようとする課題】そこで、本発明は上記
従来のパターンの認識方法及びこのためのクランプにお
ける問題点に鑑みてなされたものであって、本発明の一
番目の目的は、リードフレームが所定の角度(例えば、
180°)に回転されるか、またはノーマルリードフレ
ーム及びインバートリードフレームが混合されて作業す
る時、そのリードフレームのオリエンテーションを正確
に検出することができるパターン認識方法の提供にあ
る。
【0036】本発明の二番目の目的は、熱が集中される
リードフレームの中央部分を回避してリードアイボック
ス及びアイポイントを設定することによって、その画像
の認識率を向上することができるパターン認識方法の提
供にある。
【0037】本発明の三番目の目的は、ダイが一定の角
度即ち、90°、 180°、 270°に回転した状
態でダイパッドに接着された場合にも、これを、正確に
検出することができるパターン認識方法の提供にある。
【0038】本発明の四番目の目的は、ボンダーパッド
のファインピッチ(fine pitch)化により、
そのボンダーパッドの面積が小さくなっても、ダイのオ
リエンテーションを正確に検出することができるパター
ン認識方法の提供にある。
【0039】本発明の五番目の目的は、ダイのボンダー
パッドの列の内側に形成されたガラスによる色彩の変化
によるエラー(error)がある画像情報を提供する
心配がなく、ダイのオリエンテーションを検出し得るパ
ターン認識方法の提供にある。
【0040】本発明の六番目の目的は、本発明のパター
ン認識方法(リードフレームのオリエンテーション及び
第1、2インデックス)ができるようにリードフレーム
をクランピングするクランプの提供にある。
【0041】
【課題を解決するための手段】上記本発明の一番目及び
二番目の目的を達成するためになされた本発明のパター
ン認識方法は、ヒートブロック上に安着されたリードフ
レームをクランプでクランピングする前に、前記クラン
プの観察孔に通じる前記リードフレームのゲートとクラ
ンプの外周縁に位置するリードフレームの支持バーにカ
メラでリードアイボックス及びアイポイントを設定して
リードフレームが正確な方向及び位置に安着されたかを
判断するリードフレームのオリエンテーション検出段階
と、前記リードフレームを前記クランプでクランピング
した後、前記リードフレームのゲートと支持バーにカメ
ラでリードアイボックス及びアイポイントを設定して前
記リードフレームが正確な位置に安着されたかを再判断
するリードフレームインデックス段階と、前記リードフ
レームの各リード位置をカメラで新しく読取ってメモリ
するVLL(Video Lead Locate)段
階と、ダイ(die)の角の特定ボンダーパッドの領域
の2カ所にカメラでダイアイボックス及びアイポイント
を設定して前記ダイが正確な方向に搭載されたかを判断
するダイのオリエンテーション検出段階とを包含してな
ることを特徴とする。
【0042】ここで、前記リードフレームのオリエンテ
ーション検出段階とリードフレームのインデックス段階
の、ゲートに設定されるリードアイボックス及びアイポ
イントは、ゲートに形成された鍍金層またはデント部
中、いずれか一つであることが望ましい。
【0043】また、前記リードフレームのオリエンテー
ション検出段階は、カメラで読取ったリードアイボック
ス内の画像が既に記憶された画像と許容された範囲内で
一致する場合、前記リードフレームをX、Y軸に一定の
距離に移動させて、既に記憶された画像と完全に一致す
るようにする段階をさらに包含することが望ましい。
【0044】また、前記リードフレームのインデックス
段階は、カメラで読取ったリードアイボックス内の画像
が既に記憶された画像と許容された範囲内で一致する場
合、前記カメラをX、Y軸に一定の距離に移動させて、
既に記憶された画像と完全に一致するようにする段階を
さらに包含することが望ましい。
【0045】また、前記リードフレームのオリエンテー
ション検出段階及びリードフレームのインデックス段階
は、カメラで読取った画像が既に記憶された画像と許容
された範囲以上の差異がある場合、作業を中止し、作業
者の入力を待機する段階をさらに包含することが望まし
い。
【0046】前記本発明の三番目及び五番目の目的を達
成するためになされた本発明のパターン認識方法は、ヒ
ートブロック上に安着されたリードフレームのホール
(hole)の数をセンサーで感知して前記リードフレ
ームが正確な方向に安着されたかを判断するリードフレ
ームのオリエンテーション検出段階と、前記リードフレ
ームをクランプでクランピングする前に、前記リードフ
レームのいずれか一つのタイバーにカメラでリードアイ
ボックス及びアイポイントを設定して前記リードフレー
ムが正確な位置に安着されたかを判断するリードフレー
ムの第1インデックス段階と、前記リードフレームを前
記クランプでクランピングした後、前記リードフレーム
の二つのタイバーにカメラでリードアイボックス及びア
イポイントを設定して前記リードフレームが正確な位置
に安着されたかを再判断するリードフレームの第2イン
デックス段階と、前記リードフレームの各リードの位置
をカメラで新しく読取ってメモリするVLL(Vide
o Lead Locate)段階と、ダイの角の特定
パターンの2カ所にカメラでダイアイボックス及びアイ
ポイントを設定して前記ダイが正確な方向及び位置に搭
載されたかを判断するダイのオリエンテーション検出段
階とを包含してなることを特徴とする。
【0047】また、本発明の三番目及び五番目の目的を
達成するためになされた本発明のパターン認識方法は、
ヒートブロック上に安着されたリードフレームをクラン
プでクランピングする前に、前記クランプの観察孔に通
じる前記リードフレームのゲートとクランプの外周縁に
位置するリードフレームの支持バーにカメラでリードア
イボックス及びアイポイントを設定して前記リードフレ
ームが正確な方向及び位置に安着されたかを判断するリ
ードフレームのオリエンテーション検出段階と、前記リ
ードフレームをクランプでクランピングした後、前記リ
ードフレームのゲートと支持バーにカメラでリードアイ
ボックス及びアイポイントを設定して前記リードフレー
ムが正確な位置に安着されたかを再判断するリードフレ
ームのインデックス段階と、前記リードフレームの各リ
ード位置をカメラで新しく読取ってメモリするVLL
(Video Lead Locate)段階と、ダイ
の角の特定パターンの2カ所にカメラでダイアイボック
ス及びアイポイントを設定して前記ダイが正確な方向に
搭載されたかを判断するダイのオリエンテーション検出
段階とを包含してなることを特徴とする。
【0048】ここで、前記ダイのオリエンテーション検
出段階は、前記ダイアイボックス及びアイポイントは、
ダイのボンダーパッド外側に位置する角の周辺の特定パ
ターンに設定されるようにすることが望ましい。
【0049】また、前記特定パターンは絵、図形、文字
または数字中、いずれか一つであることが望ましい。
【0050】また、前記ダイのオリエンテーション検出
段階は、前記ダイアイボックスの内側に前記特定パター
ンが位置されていない場合、進行を中止し作業者の入力
を待機するようにすることが望ましい。
【0051】また、本発明の六番目の目的を達成するた
めになされた本発明のクランプは、リードフレームのダ
イパッドに搭載されたダイとその外周縁のリードがワイ
ヤボンディングの工程中、ヒートブロック上で上部にオ
ープン(open)されるように一定の大きさのウィン
ドウが形成され、前記ウィンドウの外周縁にはリードフ
レームのゲートがリードアイボックス及びアイポイント
として設定ができる少なくとも一つ以上の観察孔が形成
されていることを特徴とする。
【0052】ここで、前記クランプは、ノーマルリード
フレーム(normal leadframe)のみな
らず、インバートリードフレーム(inverted
lead frame)のオリエンテーションを検出す
ることもできるように、ウィンドウの外周縁である、互
いに対向する位置に観察孔が各々形成されることが望ま
しい。
【0053】上記のようになされた本発明によるパター
ン認識方法及びこのためのクランプによれば、リードフ
レームが所定の角度(例えば、180°)に回転される
か、またはノーマルリードフレーム及びインバートリー
ドフレームが混合されて作業する場合にも、対称になっ
ている部分でない特定の形状、即ち、リードフレームの
ゲートに形成されたデント部または鍍金層と支持バーに
リードアイボックス及びアイポイントを設定することに
よって、そのリードフレームのオリエンテーションを正
確に検出することができるようになる。
【0054】また、熱が集中されるリードフレームの中
央部分を回避してリードアイボックス及びアイポイント
を設定することによって、熱によりリードフレームの色
彩が変色されていない部分に対する画像を読取ってPR
Sによる画像の認識率が向上される。
【0055】また、ボンダーパッドを基本画像で設定す
ることなく、ダイの角に形成された特定パターンを基本
画像で採択することによって、対称形ダイが一定の角度
即ち、90°、180°、270°に回転した状態で接
着された場合にも、これを即時に検出することができ
る。
【0056】また、ボンダーパッドがいくらファインピ
ッチ(fine pitch)化されても、前記のよう
にダイアイボックス及びアイポイントがボンダーパッド
を基準にすることなく、その外側に形成された特定のパ
ターンを基準画像で採択することによって、正確な画像
情報と共にPRSによる画像の認識率が向上される。
【0057】また、ダイアイボックス及びアイポイント
が、ガラスが形成されない、ボンダーパッドの外周縁に
設定されることによって、色彩の変化によるエラー(e
rror)がある画像情報を提供する心配がなくなるの
で、PRSによる画像の認識率を向上することができ
る。
【0058】
【発明の実施の形態】次に、本発明にかかる、パターン
の認識方法及びこのためのクランプの実施の形態の具体
例を図面を参照しながら説明する。
【0059】図1は、本発明の第1実施例によるパター
ン認識方法を図示した順次説明図であり、これを用いて
本発明の第1実施例を説明する。
【0060】段階1。リードフレーム(NLF)オリエ
ンテーション検出段階(ステップS1−1)であり、ヒ
ートブロック上に安着されたリードフレーム(NLF)
をクランプ(CL)で完全にクランピングする前に、ク
ランプ(CL)の観察孔41aを通じて見られるリード
フレーム(NLF)のゲート16とクランプ(CL)の
外周縁に位置するリードフレーム(NLF)の支持バー
14にカメラを用いて、リードアイボックス(LEB)
及びアイポイント(LEP)を設定して、リードフレー
ム(NLF)が正確な方向及び位置に安着されたかを判
断する(図4及び図5参照)。
【0061】即ち、まず最初にリードフレーム(NL
F)のゲート16に形成されたデント部16aまたは鍍
金層16bにリードアイボックス(LEB)及びアイポ
イント(LEP)を設定して、その画像を読取り、この
読取った画像とメモリに既に記憶された画像が許容され
た範囲内で一致するかを判断する。前記2個の画像が完
全に一致すると、次の段階を進行し、許容された範囲内
で一致すると、リードフレーム(NLF)をX、Y軸に
移動して、読取った画像とメモリ画像が完全に一致する
ようにする。一方、読取った画像がメモリ画像と許容さ
れた範囲以上の差異がある場合は、作業を中止し、作業
者の入力を待機する。前記のような状態になれば、作業
者は手動でリードフレーム(NLF)のゲート16を捜
してリードアイボックス(LEB)及びアイポイント
(LEP)を設定するようにする。
【0062】ここで、鍍金層16bはアルミニウム(A
l)、金(Au)、銀(Ag)、パラジウム(Pd)、
ニッケル(Ni)、鉛(Pb)及び錫(Sn)の合金
中、少なくとも一つを用いて形成できる。
【0063】そして次に、リードフレーム(NLF)の
支持バー12にリードアイボックス(LEB)及びアイ
ポイント(LEP)を設定して、その画像を読取り、こ
の読取った画像とメモリに既に記憶された画像が許容範
囲内で一致するかを判断する。前記2個の画像が完全に
一致すると、次の段階を進行し、許容範囲内で一致する
と、リードフレーム(NLF)をX、Y軸に移動させて
読取った画像とメモリ画像が完全に一致するようにす
る。読取った画像がメモリの画像と許容された範囲以上
の差異がある場合は、作業を中止し、作業者の入力を待
機する。前記のような状態になれば、作業者は手動でリ
ードフレーム(NLF)の支持バー12を捜してリード
アイボックス(LEB)及びアイポイント(LEP)を
設定するようにする。
【0064】段階2。リードフレームのインデックス段
階(ステップS1−2)であり、リードフレーム(NL
F)をヒートブロック上にクランプ(CL)で完全にク
ランピングした後、リードフレーム(NLF)のゲート
16と支持バー12にカメラでリードアイボックス(L
EB)及びアイポイント(LEP)を再び設定して、リ
ードフレーム(NLF)が正確な位置に安着されたかを
再判断する。このような段階を遂行する理由は、リード
フレーム(NLF)をクランプでクランピングする途
中、そのリードフレーム(NLF)に若干の位置変動の
発生が生じるので、これを補償するためである。
【0065】即ち、まず最初にリードフレーム(NL
F)のゲート16に形成されたデント16aまたは鍍金
層16bにリードアイボックス(LEB)及びアイポイ
ント(LEP)を設定して、その画像を読取り、この読
取った画像とメモリに既に記憶された画像が許容された
範囲内で一致するかを判断する。前記2個の画像が完全
に一致すると、次の段階を進行し、許容された範囲内で
一致すると、カメラをX、Y軸に移動させて読取った画
像とメモリ画像が完全に一致するようにする。一方、読
取った画像がメモリ画像と許容された範囲以上の差異が
ある場合には作業を中止し、作業者の入力を待機する。
前記のような状態になれば、作業者は手動でリードフレ
ーム(NLF)のゲート16を捜してリードアイボック
ス(LEB)及びアイポイント(LEP)を設定するよ
うにする。
【0066】そして次に、リードフレーム(NLF)の
支持バー12にリードアイボックス(LEB)及びアイ
ポイント(LEP)を設定して、その画像を読取り、こ
の読取った画像とメモリに既に記憶された画像が許容さ
れた範囲内で一致するかを判断する。前記2個の画像が
完全に一致すると、次の段階を進行し、許容された範囲
内で一致すると、カメラをX、Y軸に移動させて読取っ
た画像とメモリ画像が完全に一致するようにする。読取
った画像がメモリ画像と許容された範囲以上に差異があ
る場合には作業を中止し、作業者の入力を待機する。前
記のような状態になれば、作業者は手動でリードフレー
ム(NLF)の支持バー12を捜してリードアイボック
ス(LEB)及びアイポイント(LEP)を設定するよ
うにする。
【0067】段階3。VLL(Video Lead
Locator)の段階(ステップS1−3)であり、
リードフレーム(NLF)の各リード6の位置をカメラ
で新しく読取ってメモリに記憶させる。このようなVL
L段階は従来と同一である。
【0068】段階4。ダイのオリエンテーション検出段
階(ステップS1−4)であり、リードフレーム(NL
F)のダイパッド4に搭載されたダイ30の角の特定ボ
ンダーパッド(P1、P2、...)領域の2カ所にカ
メラでダイアイボックス(DEB)及びアイポイント
(DEP)を設定してダイ30が正確な方向に搭載され
たかを判断する。ダイのオリエンテーション検出段階は
従来と同一であるので、その説明は省略することとす
る。
【0069】段階5。ワイヤボンディング段階(ステッ
プS1−5)であり、前記のように、リードフレームの
位置及び方向とダイの位置及び方向が所定の位置に設定
された状態で、通常のワイヤボンディングを遂行する。
【0070】上記のようにすることにより、本発明の第
1実施例によれば、リードフレームが所定の角度(例え
ば、180°)で回転されるか、またはノーマルリード
フレーム及びインバートリードフレームが混合されて作
業する場合にも、対称になっている部分でない特定の形
状、即ち、リードフレームのゲートに形成されたデント
部または鍍金層と支持バーにリードアイボックス及びア
イポイントを設定することによって、そのリードフレー
ムのオリエンテーションを正確に検出することができる
ようになる。
【0071】また、熱が集中されるリードフレームの中
央部分を回避してリードアイボックス及びアイポイント
を設定することによって、熱によりリードフレームの色
彩が変色されていない部分に対する画像を読取ってPR
Sによる画像の認識率が向上される。
【0072】図2は、本発明の第2実施例によるパター
ン認識方法を図示した順次説明図で、これを参照して本
発明の第2実施例を説明する。
【0073】段階1。リードフレームのオリエンテーシ
ョン検出段階(ステップS2−1)であり、ヒートブロ
ック上に安着されたリードフレーム(NLF)のホール
1の数をセンサーで感知してリードフレーム(NLF)
が正確な方向に安着されたかを判断する。リードフレー
ムのオリエンテーション検出段階は従来と同一であるの
で、詳細な説明は省略することとする。
【0074】段階2。リードフレームの第1インデック
ス段階(ステップS2−2)であり、リードフレーム
(NLF)をヒートブロック上にクランプ(CL)で完
全にクランピングする前、リードフレーム(NLF)の
いずれか一つのタイバー5にカメラでリードアイボック
ス(LEB)及びアイポイント(LEP)を設定してリ
ードフレーム(NLF)が正確な位置に安着されたかを
判断する。これも又、従来と同一であるので、詳細な説
明は省略することとする。
【0075】段階3。リードフレームの第2インデック
ス段階(ステップS2−3)であり、リードフレーム
(NLF)をヒートブロック上にクランプ(CL)で完
全にクランピングした後、リードフレーム(NLF)の
二つのタイバー5にカメラでリードアイボックス(LE
B)及びアイポイント(LEP)を設定してリードフレ
ーム(NLF)が正確な位置に安着されたかを再判断す
る。これも又、従来と同一であるので、詳細な説明は省
略することとする。
【0076】段階4。VLL段階(ステップS2−4)
であり、リードフレーム(NLF)の各リード6の位置
をカメラで新しく読取ってメモリする。これも又、従来
と同一であるので、詳細な説明は省略することとする。
【0077】段階5。ダイのオリエンテーション検出段
階(ステップS2−5)であり、ダイ30の角の特定パ
ターン32の2カ所にカメラでダイアイボックス(DE
B)及びアイポイント(DEP)を設定してダイ30が
正確な方向及び位置に搭載されたかを判断する(図6参
照)。
【0078】上記を、より詳細に説明することにする。
まず、ダイ30のいずれか一つの角(図6のAにて表
示)にカメラを用いて第1ダイアイボックス(DEB)
及びアイポイント(DEP)を設定する。
【0079】ここで、第1ダイアイボックス(DEB)
の広さ(ダイ30の角の周辺にダイアイボックスで設定
される広さ)は、従来とは他に、1×1mil〜6×6
mil以内の広さを有するように狭く設定するのが望ま
しい。即ち、従来には30×30mil〜40×40m
ilの広範囲の領域をダイアイボックス(DEB)で設
定し、ダイアイボックス(DEB)内の画像をデータ化
したが、本発明ではそれよりほぼ1/30〜6/40の
範囲に小さく設定し、その画像をデータ化するものであ
る。
【0080】上記のように、読取って変換された画像は
メモリに既に記憶された画像と一致するかを比較、判断
する。比較判断の結果、2個の画像が完全に一致する
と、次の段階を進行し、許容された範囲内で一定の誤差
を有しながら一致すると、カメラをX、Y軸に移動させ
て、2個の画像が完全に一致するようにする。前記比較
結果、読取った画像がメモリ画像と許容範囲以上に一致
しないと、作業を中止し、作業者の入力を待機する。前
記のような場合には、作業者は手動でダイ30の第1ダ
イアイボックス(DEB)及びアイポイント(DEP)
を設定するようにする。
【0081】継続して、カメラを用いてダイ30の他の
角(図6のBにて表示)の周辺に上記と同様な方法にて
第2ダイアイボックス(DEB)及びアイポイント(D
EP)を設定し、同様に、上記のような作業を遂行して
一定の画像が得られる。このようにして読取った画像は
メモリに既に記憶された画像と一致するかを比較、判断
する。
【0082】比較判断の結果、2個の画像が完全に一致
すると、次の段階を進行し、許容された範囲内で一定の
誤差を有しながら一致すると、カメラをX、Y軸に移動
させて2個の画像が完全に一致させるようにする。前記
比較の結果、読取った画像がメモリ画像と許容範囲以上
に一致しないと、作業を中止し、作業者の入力を待機す
る。上記のような場合には、作業者は手動でダイ30の
第2ダイアイボックス(DEB)及びアイポイント(D
EP)を設定するようにする。
【0083】この時、第1、2ダイアイボックス(DE
B)及びアイポイント(DEP)は従来とは他にダイ3
0のボンダーパッド(P1、...、Pn)外側に位置
する角の周辺に形成された特定のパターン32に設定す
る。即ち、ダイ30の角の周辺には通常、固有な色彩を
有する絵、図形、文字または数字等の特定パターン32
が形成されており、これは各角毎に独特な形状で形成さ
れている。換言すれば、ダイ30を中心に各角に形成さ
れたパターンは全部異なる形状で形成されている。よっ
て、ボンダーパッド(P1、...、Pn)が対称形に
なっているダイ30が一定の角度、即ち、90°、18
0°、270°に回転されたまま付着された場合、最初
のメモリに記憶された画像とカメラで新しく読取った画
像は確実に相異するので、ダイ30がまちがって搭載さ
れたものを直ちに確認することができる。
【0084】また、第1、2ダイアイボックス(DE
B)及びアイポイント(DEP)はボンダーパッド(P
1、...、Pn)がなされる列の外側に設定させるの
が望ましい。よって、従来のようにボンダーパッド(P
1、...、Pn)に形成されたプローブマーク31に
よりPRSの画像の認識率が低下されないようになる。
即ち、ボンダーパッドがいくらファインピッチ(fin
e pitch)化し、そのボンダーパッドに形成され
るプローブマーク31の面積とボンダーパッドの面積が
ほぼ同一になっても、本発明では第1、2ダイアイボッ
クス(DEB)及びアイポイント(DEP)がボンダー
パッドを基本画像に採択することなく、その外側に形成
された特定のパターン32を基本画像に採択することに
よって、PRSの画像の認識率が向上される。
【0085】ここで、第1、2ダイアイボックス(DE
B)及びアイポイント(DEP)はボンダーパッドがな
される列の内側に形成されたガラス33と重畳されない
ようにするのが望ましい。よって、従来のようにガラス
33の色彩の変化によるPRS画像の認識率は低下され
ないようになる。
【0086】継続して、第1、2ダイアイポイント(D
EP)間に仮想の直線35を引き、その中心点を基準点
にして、これをメモリに既に記憶された基準点と比較す
る。比較結果、許容範囲以内で一致すると、次の段階を
進行し、一致しないと次後の進行を中止し、作業者の入
力を待機する。勿論、この時、作業者はカメラをX、Y
軸に移動させてその中心点を手動で捜す。
【0087】次いで、中心点を中心に1番のボンダーパ
ッド(P1)の位置または座標を計算する。即ち、図7
に図示されたように、2個のダイアイポイント(DE
P)から第1ボンダーパッド(P1)の位置を計算し、
他のボンダーパッド(P2、...、Pn)の位置も全
部計算する。これをより詳細に説明すれば、すべてのボ
ンダーパッドの相対的または絶対的な位置は既にメモリ
に記憶されているため、第1ボンダーパッド(P1)の
座標だけ正確に発見されば、他のボンダーパッドの座標
は自動的に得られる。前記のような方法により実際にボ
ンディングするすべてのボンダーパッドの座標を計算す
ることができる。
【0088】図8は、ダイ30が一定の角度に回転され
たままダイパッド4に接着されるので、第1ダイアイボ
ックス(DEB)及びアイポイント(DEP)と第2ダ
イアイボックス(DEB)及びアイポイント(DEP)
に全然異なる(許容された範囲を超過する)画像が読取
られた状態を図示する。即ち、図6での第1ダイアイボ
ックス(DEB)(“A”で表示する)に設定された画
像と図8での第1ダイアイボックス(DEB)(図8で
“C”で表示する)に設定された画像は全然相異するの
が分かる。また、図6での第2ダイアイボックス(DE
B)(図6の“B”にて表示する)と図8での第2ダイ
アイボックス(DEB)(図8の“D”にて表示する)
に対する画像も全然相異する。よって、リードフレーム
(NLF)に対称形ダイ30が一定の角度即ち、90
°、180°、270°中、いずれか一つの角度に回転
されたまま付着されており、この場合には、即時、作業
を中止するようになる。
【0089】段階6。ワイヤボンディング段階(ステッ
プS2−6)であり、上記のようにリードフレームの位
置及び方向とダイの位置及び方向が所定の位置に設定さ
れた状態で通常のワイヤボンディングを遂行する。
【0090】上記のようにすることにより、本発明の第
2実施例によれば、ボンダーパッドを基本画像で設定す
ることなく、ダイの角に形成された特定パターンを基本
画像で採択することによって、対称形ダイが一定の角度
即ち、90°、180°、270°に回転した状態で接
着された場合にも、これを、即時に検出することができ
る。
【0091】また、ボンダーパッドがいくらファインピ
ッチ(fine pitch)化されても、上記のよう
にダイアイボックス及びアイポイントがボンダーパッド
を基準にすることなく、その外側に形成された特定のパ
ターンを基準画像で採択することによって、正確な画像
情報と共にPRSによる画像の認識率が向上され、ま
た、ダイアイボックス及びアイポイントが、ガラスが形
成されない、ボンダーパッドの外周縁に設定されること
によって、色彩の変化によるエラー(error)があ
る画像情報を提供する心配がなくなる。
【0092】図3は、本発明の第3実施例によるパター
ン認識方法を図示した順次説明図であり、これを用いて
本発明の第3実施例を説明する。
【0093】段階1。リードフレーム(NLF)オリエ
ンテーション検出段階(ステップS3−1)であり、ヒ
ートブロック上に安着されたリードフレーム(NLF)
をクランプ(CL)で完全にクランピングする前、クラ
ンプ(CL)の観察孔41aを通じてみられるリードフ
レーム(NLF)のゲート16とクランプCLの外周縁
に位置するリードフレーム(NLF)の支持バー14に
カメラを利用してリードアイボックス(LEB)及びア
イポイント(LEP)を設定して、リードフレーム(N
LF)が正確な方向及び位置に安着されたかを判断する
(図4及び図5参照)。
【0094】まず最初に、リードフレーム(NLF)の
ゲート16に形成されたデント16aまたは鍍金層16
bにリードアイボックス(LEB)及びアイポイント
(LEP)を設定してその画像を読取り、この読取った
画像とメモリに既に記憶された画像が許容された範囲内
で一致するかを判断する。前記2個の画像が完全に一致
すると、次の段階を進行し、許容された範囲内で一致す
ると、リードフレーム(NLF)をX、Y軸に移動させ
て読取った画像とメモリ画像が完全に一致するようにす
る。一方、読取った画像がメモリ画像と許容された範囲
以上に差異がある場合は作業を中止し、作業者の入力を
待機する。前記のような状態になれば、作業者は手動で
リードフレーム(NLF)のゲート16を捜してリード
アイボックス(LEB)及びアイポイント(LEP)を
設定するようにする。
【0095】ここで、鍍金層16bはアルミニウム(A
l)、金(Au)、銀(Ag)、パラジウム(Pd)、
ニッケル(Ni)、鉛(Pb)及び錫(Sn)の合金
中、少なくとも一つを用いて形成することができる。
【0096】そして次に、リードフレーム(NLF)の
支持バー12にリードアイボックス(LEB)及びアイ
ポイント(LEP)を設定してその画像を読取り、この
読取った画像とメモリに既に記憶された画像が許容され
た範囲内で一致するかを判断する。前記2個の画像が完
全に一致すると、次の段階を進行し、許容された範囲内
で一致すると、リードフレーム(NLF)をX、Y軸に
移動させて読取った画像とメモリ画像が完全に一致する
ようにする。読取った画像がメモリ画像と許容された範
囲以上に差異がある場合は、作業を中止し、作業者の入
力を待機する。前記のような状態になれば、作業者は手
動でリードフレーム(NLF)の支持バー12を捜して
リードアイボックス(LEB)及びアイポイント(LE
P)を設定するようにする。
【0097】段階2。リードフレームのインデックス段
階(ステップS3−2)であり、リードフレーム(NL
F)をヒートブロック上にクランプ(CL)で完全にク
ランピングした後、リードフレーム(NLF)のゲート
16と支持バー12にカメラでリードアイボックス(L
EB)及びアイポイント(LEP)を再設定して、リー
ドフレーム(NLF)が正確な位置に安着されたかを再
判断する。このような段階を遂行する理由はリードフレ
ーム(NLF)をクランプでクランピングする途中、そ
のリードフレーム(NLF)に若干の位置変動の発生が
生じるので、これを補償するためである。
【0098】まず最初に、リードフレーム(NLF)の
ゲート16に形成されたデント部16aまたは鍍金層1
6bにリードアイボックス(LEB)及びアイポイント
(LEP)を設定して、その画像を読取り、この読取っ
た画像とメモリに既に記憶された画像が許容された範囲
内で一致するかを判断する。前記2個の画像が完全に一
致すると、次の段階を進行し、許容された範囲内で一致
すると、カメラをX、Y軸に移動させて読取った画像と
メモリ画像が完全に一致するようにする。一方、読取っ
た画像がメモリ画像と許容された範囲以上に差異がある
場合は、作業を中止し、作業者の入力を待機する。前記
のような状態になれば、作業者は手動でリードフレーム
(NLF)のゲート16を捜してリードアイボックス
(LEB)及びアイポイント(LEP)を設定するよう
にする。
【0099】そして次に、リードフレーム(NLF)の
支持バー12にリードアイボックス(LEB)及びアイ
ポイント(LEP)を設定して、その画像を読取り、こ
の読取った画像とメモリに既に記憶された画像が許容さ
れた範囲内で一致するかを判断する。前記2個の画像が
完全に一致すると、次の段階を進行し、許容された範囲
内で一致すると、カメラをX、Y軸に移動させて読取っ
た画像とメモリ画像が完全に一致するようにする。読取
った画像がメモリ画像と許容された範囲以上に差異があ
る場合は、作業を中止し、作業者の入力を待機する。前
記のような状態になれば、作業者は手動でリードフレー
ム(NLF)の支持バー12を捜してリードアイボック
ス(LEB)及びアイポイント(LEP)を設定するよ
うにする。
【0100】段階3。VLL段階(ステップS3−3)
であり、リードフレーム(NLF)の各リード6の位置
をカメラに新しく読取ってメモリに記憶させる。このよ
うなVLL段階は従来と同一である。
【0101】段階4。ダイのオリエンテーション検出段
階(ステップS3−4)であり、ダイ30の角の特定パ
ターン32領域の2カ所にカメラでダイアイボックス
(DEB)及びアイポイント(DEP)を設定してダイ
30が正確な方向及び位置に搭載されたかを判断する
(図6参照)。
【0102】上記を、より詳細に説明することにする。
まず、ダイ30のいずれか一つの角(図6のAにて表
示)にカメラを利用して第1ダイアイボックス(DE
B)及びアイポイント(DEP)を設定する。
【0103】ここで、第1ダイアイボックス(DEB)
の広さ(ダイ30の角の周辺にダイアイボックスで設定
される広さ)は、従来とは他に、1×1mil〜6×6
mil以内の広さを有するように狭く設定するのが望ま
しい。即ち、従来には30×30mil〜40×40m
ilの広範囲の領域をダイアイボックス(DEB)で設
定し、前記ダイアイボックス(DEB)内の画像をデー
タ化したが、本発明ではそれよりほぼ1/30〜6/4
0倍の範囲に小さく設定し、その画像をデータ化するも
のである。
【0104】上記のように、読取って変換された画像は
メモリに既に記憶された画像と一致するかを比較、判断
する。比較判断の結果、2個の画像が完全に一致する
と、次の段階を進行し、許容された範囲内で一定の誤差
を有しながら一致すると、カメラをX、Y軸に移動させ
て、2個の画像が完全に一致するようにする。前記比較
結果、読取った画像がメモリ画像と許容範囲以上に一致
しないと、作業を中止し、作業者の入力を待機する。前
記のような場合には、作業者は手動でダイ30の第1ダ
イアイボックス(DEB)及びアイポイント(DEP)
を設定するようにする。
【0105】継続して、カメラを用いてダイ30の他の
角(図6のBにて表示)の周辺に前記と同様な方法にて
第2ダイアイボックス(DEB)及びアイポイント(D
EP)を設定し、同様に、上記のような作業を遂行して
一定の画像が得られる。このようにして読取った画像は
メモリに既に記憶された画像と一致するかを比較、判断
する。
【0106】比較判断の結果、2個の画像が完全に一致
すると、次の段階を進行し、許容された範囲内で一定の
誤差を有しながら一致すると、カメラをX、Y軸に移動
させて2個の画像が完全に一致させるようにする。前記
比較の結果、読取った画像がメモリ画像と許容範囲以上
に一致しないと、作業を中止し、作業者の入力を待機す
る。上記のような場合には、作業者は手動でダイ30の
第2ダイアイボックス(DEB)及びアイポイント(D
EP)を設定するようにする。
【0107】この時、第1、2ダイアイボックス(DE
B)及びアイポイント(DEP)は従来とは他にダイ3
0のボンダーパッド(P1、...、Pn)外側に位置
する角の周辺に形成された特定のパターン32に設定す
る。即ち、ダイ30の角の周辺には通常、固有な色彩を
有する絵、図形、文字または数字等の特定パターン32
が形成されており、これは各角毎に独特な形状で形成さ
れている。換言すれば、ダイ30を中心に各角に形成さ
れたパターンは全部異なる形状で形成されている。よっ
て、ボンダーパッド(P1、...、Pn)が対称形に
なっているダイ30が一定の角度、即ち、90°、18
0°、270°に回転されたまま付着された場合、最初
のメモリに記憶された画像とカメラで新しく読取った画
像は確実に相異するので、ダイ30がまちがって搭載さ
れたものを直ちに確認することができる。
【0108】また、第1、2ダイアイボックス(DE
B)及びアイポイント(DEP)はボンダーパッド(P
1、...、Pn)がなされる列の外側に設定させるの
が望ましい。よって、従来のようにボンダーパッド(P
1、...、Pn)に形成されたプローブマーク31に
よりPRSの画像の認識率が低下されないようになる、
即ち、ボンダーパッドがいくらファインピッチ(fin
e pitch)化し、そのボンダーパッドに形成され
るプローブマーク31の面積とボンダーパッドの面積が
ほぼ同一になったとしても、本発明では第1、2ダイア
イボックス(DEB)及びアイポイント(DEP)がボ
ンダーパッドを基本画像に採択されなく、その外側に形
成された特定のパターン32を基本画像に採択すること
によって、PRSの画像の認識率が向上される。
【0109】ここで、第1、2ダイアイボックス(DE
B)及びアイポイント(DEP)はボンダーパッドがな
される列の内側に形成されたガラス33と重畳されない
ようにするのが望ましい。よって、従来のようにガラス
33の色彩の変化によるPRS画像の認識率は低下され
ないようになる。
【0110】継続して、第1、2ダイアイポイント(D
EP)間に仮想の直線35を引き、その中心点を基準点
にして、これをメモリに既に記憶された基準点と比較す
る。比較結果、許容範囲以内で一致すると、次の段階を
進行し、一致しないと次後の進行を中止し、作業者の入
力を待機する。勿論、この時、作業者はカメラをX、Y
軸に移動させてその中心点を手動で捜す。
【0111】次いで、前記中心点を中心に1番のボンダ
ーパッド(P1)の位置または座標を計算する。即ち、
図7に図示されたように、2個のダイアイポイント(D
EP)から第1ボンダーパッド(P1)の位置を計算
し、他のボンダーパッド(P2、...、Pn)の位置
も全部計算する。これをより詳細に説明すれば、前記す
べてのボンダーパッドの相対的または絶対的な位置は既
にメモリに記憶されているため、第1ボンダーパッド
(P1)の座標だけ正確に発見されれば、他のボンダー
パッドの座標は自動的に得られる。前記のような方法に
より実際にボンディングするすべてのボンダーパッドの
座標を計算することができる。
【0112】段階5。ワイヤボンディング段階(ステッ
プS3−5)であり、上記のように、リードフレームの
位置及び方向とダイの位置及び方向が所定の位置に設定
された状態で、通常のワイヤボンディングを遂行する。
【0113】上記のようにすることにより、本発明の第
3実施例によれば、リードフレームが所定の角度(例え
ば、180°)で回転されるか、またはノーマルリード
フレーム及びインバートリードフレームが混合されて作
業する場合にも、対称になっている部分でない特定の形
状、即ち、リードフレームのゲートに形成されたデント
部または鍍金層と支持バーにリードアイボックス及びア
イポイントを設定することによって、そのリードフレー
ムのオリエンテーションを正確に検出することができる
ようになる。
【0114】また、熱が集中されるリードフレームの中
央部分を回避してリードアイボックス及びアイポイント
を設定することによって、熱によりリードフレームの色
彩が変色されていない部分に対する画像を読取ってPR
Sによる画像の認識率が向上される。
【0115】また、ボンダーパッドを基本画像で設定す
ることなく、ダイの角に形成された特定パターンを基本
画像で採択することによって、対称形ダイが一定の角度
即ち、90°、180°、270°に回転した状態で接
着された場合にも、これを、即時に検出することができ
る。
【0116】また、ボンダーパッドがいくらファインピ
ッチ(fine pitch)化されても、前記のよう
にダイアイボックス及びアイポイントがボンダーパッド
を基準にすることなく、その外側に形成された特定のパ
ターンを基準画像で採択することによって、正確な画像
情報と共にPRSによる画像の認識率が向上される。
【0117】また、ダイアイボックス及びアイポイント
が、ガラスが形成されない、ボンダーパッドの外周縁に
設定されることによって、色彩の変化によるエラー(e
rror)がある画像情報を提供する心配がなくなる。
【0118】図9乃至図11は本発明によるクランプ
(CL)を図示した斜視図である。図に示されたよう
に、ダイ30及びこれと隣接したリード6の終端が上部
に露出されるように中央にウィンドウ40が形成され、
ウィンドウ40の外周縁にはリードフレーム(NLF)
中、ゲート16(鍍金層16bまたはデント部16a)
が外部にオープン(open)されるように少なくとも
一つ以上の観察孔41a、41bが形成されている。図
面では、2個の観察孔41a、41bが形成されている
が、これは1個を形成することができるし、その数を限
定することではない。
【0119】観察孔が2個で形成された場合は、一方の
観察孔41aはノーマルリードフレーム(NLF)のゲ
ート16を読取るためであり、他の方の観察孔41bは
インバートリードフレーム(ILF)のゲート16を読
取るために形成されたものである。よって、クランプ
(CL)を用いてノーマルリードフレーム(NLF)及
びインバートリードフレーム(ILF)すべてに対する
オリエンテーション検出及びインデックスを遂行するこ
とができるようになる。
【0120】また、観察孔41a、41bは図9に図示
したように、2個の円形の貫通孔に形成するか、または
図10に図示したように2個のスリット(slit)の
形態に形成することができる。また、図11に図示した
ように一つの長孔の形態に観察孔41を形成することも
できる。図8cに図示した観察孔41はノーマルリード
フレーム(NLF)及びインバートリードフレーム(I
LF)の各ゲート16を全部観察し得る長さになされる
ようにする。
【0121】尚、本発明は、本実施例に限られるもので
はない。本発明の趣旨から逸脱しない範囲内で多様に変
更実施することが可能である。即ち、本発明は半導体チ
ップが搭載されたリードフレームを中心に説明したが、
本発明は半導体チップが搭載された印刷回路基板、回路
テープ(circuit tape)、回路フイルム
(circuit film)等にも適用可能である。
【0122】
【発明の効果】上述のように本発明によるパターン認識
方法及びこのためのクランプによれば、リードフレーム
が所定の角度(例えば、180°)に回転されるか、ま
たはノーマルリードフレーム及びインバートリードフレ
ームが混合されて作業する場合にも、対称になっている
部分でない特定の形状、即ち、リードフレームのゲート
に形成されたデント部または鍍金層と支持バーにリード
アイボックス及びアイポイントを設定することによっ
て、そのリードフレームのオリエンテーションを正確に
検出し得る効果がある。
【0123】また、熱が集中されるリードフレームの中
央部分を回避してリードアイボックス及びアイポイント
を設定することによって、熱によりリードフレームの色
彩が変色されていない部分に対する画像を読取ってPR
Sによる画像の認識率が向上される効果がある。
【0124】また、ダイがリードフレーム上で一定の角
度即ち、90°、180°、270°に回転された状態
で接着された場合にも、これを即時に検出することがで
きるので、その以上の附加的な作業を行う必要がなく、
よって全体的な半導体装置の生産収率が向上されると共
に、ダイが正確な位置に付着されていないリードフレー
ムに諸般工程を附加的に遂行しなくてもよいので、生産
費も節減する効果がある。
【0125】また、ボンダーパッドがいくらファインピ
ッチ(fine pitch)化されても、前記のよう
にダイアイボックス及びアイポイントがボンダーパッド
を基準にすることなく、その外側に形成された特定のパ
ターンを基準画像で採択することによって、正確な画像
情報と共にPRSによる画像の認識率が向上され、よっ
て、ダイのオリエンテーションを正確に検出し得る効果
がある。
【0126】また、ダイアイボックス及びアイポイント
が、ガラスが形成されない、ボンダーパッドの外周縁に
設定されることによって、色彩の変化によるエラー(e
rror)がある画像情報を提供する憂いがなくなるの
で、PRSによる画像の認識率がもっとも向上され、よ
って、ダイのオリエンテーションを正確に検出し得る効
果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例によるパターン認識方法を
図示した順次説明図である。
【図2】本発明の第2実施例によるパターン認識方法を
図示した順次説明図である。
【図3】本発明の第3実施例によるパターン認識方法を
図示した順次説明図である。
【図4】本発明によるパターン認識方法中、リードフレ
ームのオリエンテーション及びインデックス方法を図示
したものである。
【図5】本発明によるパターン認識方法中、リードフレ
ームのオリエンテーション及びインデックス方法を図示
したものである。
【図6】本発明によるパターン認識方法中、ダイのオリ
エンテーション方法を図示したものである。
【図7】本発明によるパターン認識方法中、ダイに形成
された各ボンダーパッドの位置を計算する一例を図示し
たものである。
【図8】本発明によるパターン認識方法中、ダイが一定
の角度に回転された状態を検出する一例を図示したもの
である。
【図9】本発明によるクランプを図示した斜視図であ
る。
【図10】本発明によるクランプを図示した斜視図であ
る。
【図11】本発明によるクランプを図示した斜視図であ
る。
【図12】通常的なワイヤボンディング装置の構成を図
示したブロック図である。
【図13】通常的なノーマルリードフレーム及びインバ
ートリードフレームにダイが搭載された状態を図示した
平面図である。
【図14】通常的なノーマルリードフレーム及びインバ
ートリードフレームにダイが搭載された状態を図示した
平面図である。
【図15】従来のクランプを図示した斜視図である。
【図16】従来のパターン認識方法を図示した順次説明
図である。
【図17】通常的なリードフレームのオリエンテーショ
ン及びインデックス方法を図示したものである。
【図18】通常的なダイのオリエンテーション及びイン
デックス方法を図示した平面図である。
【図19】従来のパターン認識方法中、ダイに形成され
た各ボンダーパッドの位置を計算する例を図示したもの
である。
【符号の説明】
NLF ノーマルリードフレーム(normal le
ad frame) ILF インバートリードフレーム(inverted
lead frame) LEB リードアイボックス LEP リードアイポイント DEB ダイアイボックス DEP ダイアイポイント CL クランプ 1 ホール 2 フレーム本体 3 空間部 4 ダイパッド 5 タイバー 6 内部リード 8 ダムバー 10 外部リード 12 直線形支持バー 14 折曲形支持バー 16 ゲート(gate) 16a デント(dent)部 16b 鍍金層 18 連結板 30 ダイ P1、...、Pn 1番のボンダーパッド、...、
n番のボンダーパッド 31 プローブマーク 32 特定パターン 33 ガラス 40 ウィンドウ 41、41a、41b 観察孔
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5F044 BB21 DD04 DD06 DD10 DD11 DD17 DD18 GG01

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ヒートブロック上に安着されたリードフ
    レームをクランプでクランピングする前に、前記クラン
    プの観察孔に通じる前記リードフレームのゲートとクラ
    ンプの外周縁に位置するリードフレームの支持バーにカ
    メラでリードアイボックス及びアイポイントを設定して
    リードフレームが正確な方向及び位置に安着されたかを
    判断するリードフレームのオリエンテーション検出段階
    と、 前記リードフレームを前記クランプでクランピングした
    後、前記リードフレームのゲートと支持バーにカメラで
    リードアイボックス及びアイポイントを設定して前記リ
    ードフレームが正確な位置に安着されたかを再判断する
    リードフレームインデックス段階と、 前記リードフレームの各リード位置をカメラで新しく読
    取ってメモリするVLL(Video Lead Lo
    cate)段階と、 ダイ(die)の角の特定ボンダーパッドの領域の2カ
    所にカメラでダイアイボックス及びアイポイントを設定
    して前記ダイが正確な方向に搭載されたかを判断するダ
    イのオリエンテーション検出段階とを包含してなること
    を特徴とするパターンの認識方法。
  2. 【請求項2】 ヒートブロック上に安着されたリードフ
    レームのホール(hole)の数をセンサーで感知して
    前記リードフレームが正確な方向に安着されたかを判断
    するリードフレームのオリエンテーション検出段階と、 前記リードフレームをクランプでクランピングする前
    に、前記リードフレームのいずれか一つのタイバーにカ
    メラでリードアイボックス及びアイポイントを設定して
    前記リードフレームが正確な位置に安着されたかを判断
    するリードフレームの第1インデックス段階と、 前記リードフレームを前記クランプでクランピングした
    後、前記リードフレームの二つのタイバーにカメラでリ
    ードアイボックス及びアイポイントを設定して前記リー
    ドフレームが正確な位置に安着されたかを再判断するリ
    ードフレームの第2インデックス段階と、 前記リードフレームの各リードの位置をカメラで新しく
    読取ってメモリするVLL(Video Lead L
    ocate)段階と、 ダイの角の特定パターンの2カ所にカメラでダイアイボ
    ックス及びアイポイントを設定して前記ダイが正確な方
    向及び位置に搭載されたかを判断するダイのオリエンテ
    ーション検出段階とを包含してなることを特徴とするパ
    ターンの認識方法。
  3. 【請求項3】 ヒートブロック上に安着されたリードフ
    レームをクランプでクランピングする前に、前記クラン
    プの観察孔に通じる前記リードフレームのゲートとクラ
    ンプの外周縁に位置するリードフレームの支持バーにカ
    メラでリードアイボックス及びアイポイントを設定して
    前記リードフレームが正確な方向及び位置に安着された
    かを判断するリードフレームのオリエンテーション検出
    段階と、 前記リードフレームをクランプでクランピングした後、
    前記リードフレームのゲートと支持バーにカメラでリー
    ドアイボックス及びアイポイントを設定して前記リード
    フレームが正確な位置に安着されたかを再判断するリー
    ドフレームのインデックス段階と、 前記リードフレームの各リード位置をカメラで新しく読
    取ってメモリするVLL(Video Lead Lo
    cate)段階と、 ダイの角の特定パターンの2カ所にカメラでダイアイボ
    ックス及びアイポイントを設定して前記ダイが正確な方
    向に搭載されたかを判断するダイのオリエンテーション
    検出段階とを包含してなることを特徴とするパターンの
    認識方法。
  4. 【請求項4】 前記リードフレームのオリエンテーショ
    ン検出段階とリードフレームのインデックス段階の、ゲ
    ートに設定されるリードアイボックス及びアイポイント
    は、ゲートに形成された鍍金層またはデント部中、いず
    れか一つであることを特徴とする請求項1乃至3のいず
    れか一項に記載のパターンの認識方法。
  5. 【請求項5】 前記リードフレームのオリエンテーショ
    ン検出段階は、カメラで読取ったリードアイボックス内
    の画像が既に記憶された画像と許容された範囲内で一致
    する場合、前記リードフレームをX、Y軸に一定の距離
    に移動させて、既に記憶された画像と完全に一致するよ
    うにする段階をさらに包含することを特徴とする請求項
    1乃至3のいずれか一項に記載のパターンの認識方法。
  6. 【請求項6】 前記リードフレームのインデックス段階
    は、カメラで読取ったリードアイボックス内の画像が既
    に記憶された画像と許容された範囲内で一致する場合、
    前記カメラをX、Y軸に一定の距離に移動させて、既に
    記憶された画像と完全に一致するようにする段階をさら
    に包含することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか
    一項に記載のパターンの認識方法。
  7. 【請求項7】 前記リードフレームのオリエンテーショ
    ン検出段階及びリードフレームのインデックス段階は、
    カメラで読取った画像が既に記憶された画像と許容され
    た範囲以上の差異がある場合、作業を中止し、作業者の
    入力を待機する段階をさらに包含することを特徴とする
    請求項1記載のパターンの認識方法。
  8. 【請求項8】 前記ダイのオリエンテーション検出段階
    は、前記ダイアイボックス及びアイポイントは、ダイの
    ボンダーパッド外側に位置する角の周辺の特定パターン
    に設定されるようにすることを特徴とする請求項2また
    は3記載のパターン認識方法。
  9. 【請求項9】 前記特定パターンは絵、図形、文字また
    は数字中、いずれか一つであることを特徴とする請求項
    2、3または8記載のパターン認識方法。
  10. 【請求項10】 前記ダイのオリエンテーション検出段
    階は、前記ダイアイボックスの内側に前記特定パターン
    が位置されていない場合、進行を中止し作業者の入力を
    待機するようにすることを特徴とする請求項2、3また
    は8記載のパターン認識方法。
  11. 【請求項11】 リードフレームのダイパッドに搭載さ
    れたダイとその外周縁のリードがワイヤボンディングの
    工程中、ヒートブロック上で上部にオープン(ope
    n)されるように一定の大きさのウィンドウが形成さ
    れ、前記ウィンドウの外周縁にはリードフレームのゲー
    トがリードアイボックス及びアイポイントとして設定が
    できる少なくとも一つ以上の観察孔が形成されているこ
    とを特徴とするクランプ。
  12. 【請求項12】 前記クランプは、ノーマルリードフレ
    ーム(normallead frame)のみなら
    ず、インバートリードフレーム(inverted l
    ead frame)のオリエンテーションを検出する
    こともできるように、ウィンドウの外周縁である、互い
    に対向する位置に観察孔が各々形成されることを特徴と
    する請求項11記載のクランプ。
JP2000350076A 2000-06-10 2000-11-16 パターンの認識方法及びこのためのクランプ Pending JP2002009105A (ja)

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